CN113242062A

CN113242062A - 一种多入多出性能测试方法、装置、设备及介质

Info

Publication number: CN113242062A
Application number: CN202010073964.4A
Authority: CN
Inventors: 曹宝华
Original assignee: NANJING JIEXI TECHNOLOGY CO LTD
Current assignee: NANJING JIEXI TECHNOLOGY CO LTD
Priority date: 2020-01-22
Filing date: 2020-01-22
Publication date: 2021-08-10

Abstract

本申请公开一种多入多出性能测试方法、装置、设备及介质，通过接收基站发出的原始信号；对原始信号中的每路射频信号进行分路，得到每路射频信号的多路第一分路信号；基于每路射频信号的每路第一分路信号的水平移相信息和垂直移相信息确定所述每路第一分路信号的移相信息；根据每路射频信号的多路第一分路信号的移相信息对多路第一分路信号进行调整，得到每路射频信号的多路第二分路信号；对每路射频信号的多路第二分路信号分别进行合路得到多个目标射频信号；将多个目标射频信号发送给所述多个目标对象，以使多个目标对象基于多个目标射频信号实现性能测试，能够解决多入多出性能测试时需要人工计算的参数多，导致的工作量大、效率低的问题。

Description

一种多入多出性能测试方法、装置、设备及介质

技术领域

本申请涉及信号测试技术领域，具体为一种多入多出性能测试方法、装置、设备及介质。

背景技术

MIMO(Multi Input Multi Output，多入多出技术)，是指在发送端和接收端之间建立多个信道，可以在不增加新频谱资源的情况下，利用空间复用技术极大地提升容量。此技术为LTE(Long Term Evolution,通用移动通信技术的长期演进)、LTE+和5GNR(5G NewRadio，全球性5G标准)提供了基础。但在研发测试过程中，进行多入多出的性能测试对测试环境的依赖高，现场测试易受很多因素干扰，因此需要利用测试设备目标基站与终端之间的外场传输环境。

现有的测试设备需要工程师对测试设备内部多个信道的参数进行大量计算和设置，通过设置的信道对基站信号进行调整，才能模拟不同的外场传输环境，但现有技术需要人工计算和设置的参数较多，造成测试工作量大，效率低的问题。

发明内容

为了克服现有技术存在的缺点与不足，本申请公开一种多入多出性能测试方法、装置、设备及介质，能够解决多入多出性能测试时需要人工计算的参数多，导致的工作量大、效率低的问题。

为了达到上述申请的目的，本申请提供了一种多入多出性能测试方法，所述方法包括：

接收基站发出的原始信号；

对所述原始信号中的每路射频信号进行分路，得到所述每路射频信号的多路第一分路信号；

基于所述每路射频信号的每路第一分路信号的水平移相信息和垂直移相信息确定所述每路第一分路信号的移相信息；

根据所述每路射频信号的多路第一分路信号的移相信息对所述多路第一分路信号进行调整，得到每路射频信号的多路第二分路信号；

对所述每路射频信号的多路第二分路信号分别进行合路得到多个目标射频信号；

将所述多个目标射频信号发送给所述多个目标对象，以使所述多个目标对象基于所述多个目标射频信号实现性能测试。

另一方面，本申请还提供一种多入多出性能测试装置，所述装置包括：

接收模块，用于接收基站发出的原始信号，所述基站包括多个基站天线振源；

分路模块，用于对所述原始信号中的每路射频信号进行分路，得到所述每路射频信号的多路第一分路信号；

移相模块，用于基于所述每路射频信号的每路第一分路信号的水平移相信息和对应的垂直移相信息确定每路射频信号的每路第一分路信号的移相信息；

信号调整模块，用于根据所述每路射频信号的多路第一分路信号的移相信息对所述多路第一分路信号进行调整得到每路射频信号的多路第二分路信号；

合路模块，用于对所述每路射频信号的多路第二分路信号分别进行合路得到多个目标射频信号；

发送模块，用于将所述多个目标射频信号发送给所述多个目标对象，以使所述多个目标对象基于所述多个目标射频信号实现性能测试。

另一方面，本申请还提供一种多入多出性能测试设备，所述设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条指令或者至少一段程序，所述至少一条指令或者至少一段程序由所述处理器加载并执行以实现上述的多入多出性能测试方法。

另一方面，本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述存储介质中存储有至少一条指令或者至少一段程序，所述至少一条指令或者至少一段程序由处理器加载并执行以实现上述的多入多出性能测试方法。

实施本申请，具有如下有益效果：

本申请通过接收基站发出的原始信号，对原始信号中的每路射频信号进行分路，得到每路射频信号的多路第一分路信号；基于每路射频信号的每路第一分路信号的水平移相信息和垂直移相信息确定所述每路第一分路信号的移相信息；根据每路射频信号的多路第一分路信号的移相信息对多路第一分路信号进行调整，得到每路射频信号的多路第二分路信号；对每路射频信号的多路第二分路信号分别进行合路得到多个目标射频信号；将多个目标射频信号发送给所述多个目标对象，以使多个目标对象基于多个目标射频信号实现性能测试，能够解决多入多出性能测试时需要人工计算的参数多，导致的工作量大、效率低的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本申请的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它附图。

图1为现有技术的一种应用场景示意图；

图2为本申请实施例提供的一种应用场景示意图；

图3为本申请实施例提供的一种多入多出性能测试方法的实现流程图；

图4为本申请另一实施例提供的一种多入多出性能测试方法的实现流程图；

图5为本申请另一实施例提供的一种多入多出性能测试方法的实现流程图；

图6为本申请实施例提供的一种M×N射频矩阵的应用示意图；

图7为本申请实施例提供的一种M×N射频矩阵的电路示意图；

图8为本申请实施例提供的另一种M×N射频矩阵的电路示意图；

图9为本申请实施例提供的另一种M×N射频矩阵的电路示意图；

图10为本申请实施例提供的一种多入多出性能测试装置的结构示意图；

图11为本申请实施例提供的另一种多入多出性能测试装置的结构示意图；

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请中的技术方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、***、产品或服务器不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

为了实现申请的技术方案，让更多的工程技术工作者容易了解和应用本申请，将结合具体的实施例，进一步阐述本申请的工作原理。

本申请可以应用于基站和目标对象之间的信号传输测试，可以模拟目标对象相对于基站不同的角度，不同的距离的场景；通过目标对象侧信号的吞吐率、信噪比、SSB(Single Side Band，单边带)、误码率以及MCS(Modulation and Coding Scheme，调制与编码策略)值等参数的变化，实现该场景下的多入多出性能的测试。目标对象可以包括移动终端、虚拟移动终端、台式电子设备等具有收发器的电子设备。如图1所示，目标对象100接收基站200发出的射频信号，可以进行多入多出的性能测试，但需要使移动终端在不同位置进行测试才能达到测试的全面性。本申请中的方法可以应用在图2的设备1中，模拟外场环境，进行基站200和目标对象100之间的连接。

在上述的应用场景中，首先介绍本申请一种多入多出性能测试方法的实施例，如图3所示，该方法包括：

S101：接收基站发出的原始信号。

具体的，基站可以包括多个基站天线振源，该多个基站天线振源可以产生多个射频信号。当基站发出包括一定数量射频信号的原始信号时，可以利用相应数量(与射频信号的数量一致)的端口接收该原始信号。

进一步的，原始信号的数量可以包括2、4、8、16、32、64、128或者256等。

S103：对原始信号这种的每路射频信号进行分路，得到每路射频信号的多路第一分路信号。

具体的，当原始信号为多个射频信号时，相应个数的端口接收多个射频信号，每个端口处设置一个射频功分器，利用多个射频功分器可以将多个射频信号分成多路。其中，每个射频功分器的分路数量根据目标对象的数量确定。例如，基站侧的测试设备为64天线端口基站设备，目标对象侧的测试设备为4个测试终端，并且每个测试终端具有4个天线接收器。利用64个接收端口接收基站发出的原始信号，每个接收端口侧有一个射频功分器，每个射频功分器将该端口的原始信号分成16路射频信号，得到64*16路第一分路信号。

S105：基于每路射频信号的每路第一分路信号的水平移相信息和对应的垂直移相信息确定每路射频信号的每路第一分路信号的移相信息。

具体的，每路射频信号的每路第一分路信号的水平移相信息表征该信号的相位在水平方向的分量，该信号的垂直移相信息表征该信号的相位在垂直方向的分量。例如，在一个多入多出性能测试实施例中，基站侧的测试设备为64天线端口基站设备，目标对象的测试设备为4个测试终端，并且每个测试终端具有4个天线接收器，那么需要利用64×16射频矩阵模拟基站与终端之间的外场传输环境，64×16射频矩阵的接收端口为64个，发送端口为16个。首先接收64路的原始信号，可以对每路原始信号进行分路，将每路原始信号分为16路，得到64路×16路的第一分路信号。接收端口的64个原始信号发送给每个测试终端的每个天线过程中，为便于说明，称16个发送端口中有端口B，64个接收端口中有端口A，每路射频信号的每路第一分路信号的水平移相信息模拟的是基站发出原始信号的一个端口到测试终端的一个天线接收器的射频信号的水平移相信息，可以用64×16射频矩阵中的接收端口到发送端口的信号的水平移相信息进行表示，具体的例如端口B至端口A发出波束的移相信息可以通过端口B至端口A发出波束的水平移相信息和垂直移相信息确定。

在一些实施例中，基站包括多个基站天线振源，相应的，如图4所示，基于所述每路射频信号的每路第一分路信号的水平移相信息和对应的垂直移相信息确定所述每路第一分路信号的移相信息具体可以包括：

S1051：基于多个基站天线振源生成振源面阵信息。

具体的，振源面阵信息包括阵子所在振源面阵的行间距、列坐标、列间距和行坐标，基站天线振源可以包括I×J的面阵，其中I为振源面阵横向的振源数量，J为振源面阵纵向的振源数量。振源面阵信息可以包括多个基站天线振源组成的振源面阵在横向的振源数量、在纵向的振源数量、振源面阵纵向相邻振源的间距以及振源面阵横向相邻振源的间距。

S1053：根据预设的目标射频信号的水平方向的波束角度信息、阵子所在振源面阵的行间距和列坐标确定每路射频信号的第一分路信号的水平移相信息。

进一步的，S1053步骤可以采用下述公式得到每路射频信号的第一分路信号的水平移相信息：

PS₁＝(j-1)*2π*D_i/λ*sin(θ)

其中，PS₁表示第二分路信号的水平移相信息，该第二分路信号的水平移相信息为第二分路信号待设置的水平移相值，j表示振源面阵上第j列，D_i表示振源面阵行间距，λ表示第二分路信号的波长，θ表示第二分路信号在水平方向的波束角度。例如，在一个多入多出性能测试实施例中，基站侧的测试设备为64天线端口基站设备，该64线端口基站设备为8×8的振源面阵，振源面阵有8行8列，目标对象的测试设备为4个测试终端，并且每个测试终端具有4个天线接收器，稳幅稳相线缆80根。利用64×16射频矩阵模拟基站与终端之间的外场传输环境，其中64根稳幅稳相线缆与64×16射频矩阵的接收端和8×8的振源面阵连接，16根稳幅稳相线缆与4个测试终端连接，当j＝2时，PS₁＝(2-1)*2π*D_i/λ*sin(θ)表示振源面阵第2列振源产生的信号到测试终端的水平移相信息。

S1055：根据预设的目标射频信号的垂直方向的波束角度信息、阵子所在振源面阵的列间距和行坐标确定每路射频信号的第一分路信号的垂直移相信息。

进一步的，根据预设的目标射频信号的垂直方向的波束角度信息、阵子所在振源面阵的列间距和行坐标确定每路射频信号的第一分路信号的垂直移相信息可以采用下述公式得到每路射频信号的第一分路信号的垂直移相信息：

其中，PS₂表示第二分路信号的垂直移相信息，i表示振源面阵上第i行，D_j表示振源面阵列间距，λ表示第二分路信号的波长，

表示第二分路信号在垂直方向的波束角度。

S1057：将每路射频信号的第一分路信号的水平移相信息和对应的垂直移相信息进行矢量和求解得到每路射频信号的第一分路信号的移相信息。

具体的，将S1053步骤和S1055步骤中的PS₁和PS₂进行矢量和求解可以得到每路射频信号的第一分路信号的移相信息。

在另外一些实施例中，采用公式

可以直接求解每路射频信号的第一分路信号的移相信息，其中，PS表示第二分路信号的移相信息，该第二分路信号的移相信息为第二分路信号待设置的移相值，j表示振源面阵上第j列，D_j表示振源面阵列间距，i表示振源面阵上第i行，D_i表示振源面阵行间距，λ表示第二分路信号的波长，θ表示第二分路信号在水平方向的波束角度，

表示第二分路信号在垂直方向的波束角度。

S107：根据每路射频信号的多路第一分路信号的移相信息对多路第一分路信号进行调整，得到每路射频信号的多路第二分路信号。

具体的，移相信息可以通过上述步骤中的PS值获得。

S109：对每路射频信号的多路第二分路信号分别进行合路得到多个目标射频信号。

S111：将多个目标射频信号发送给多个目标对象，以使多个目标对象基于所述多个目标射频信号实现性能测试。

其中，多个目标对象基于所述多个目标射频信号实现性能测试包括对目标对象上报的吞吐率、信噪比、SSB、误码率以及MCS值等参数的测试。

在另外一些实施例中，如图5所示，该方法还包括：

S1061：确定多个目标对象与基站间的多个距离信息。

具体的，在模拟基站与目标对象之间的外场传输环境时，为使测试更加全面，可以模拟目标对象与基站不同距离下的性能测试。目标对象与基站间距离不同，将对目标对象接收到的信号性能产生不同影响。

S1062：根据多个距离信息确定每路射频信号的多路第一分路信号对应通道的衰减信息。

具体的，目标对象与基站间的距离受衰减信息影响。通过调整通信的衰减值，模拟基站和目标对象的距离关系。例如，目标对象为模拟移动终端，当模拟移动终端距离目标对象的距离从300米减小到100米的过程中，设置的衰减值逐渐减小。

相应的，S107为根据每路射频信号的多路第一分路信号的移相信息和衰减信息对多路第一分路信号进行调整，得到每路射频信号的多路第二分路信号。

具体的，移相信息可以通过上述步骤中的PS值获得，衰减信息可以利用增益进行调节，设置增益的反馈机制自动调节衰减值。

该实施例通过对原始信号进行分路，基于每路第一分路信号的水平移相信息和对应的垂直移相信息确定移相信息，根据多个目标对象与基站之间的多个距离信息确定多路第一分路信号对应通道的衰减信息，根据每路射频信号的多路第一分路信号的移相信息和对应的衰减信息对所述多路第一分路信号进行调整，得到每路射频信号的多路第二分路信号，可以实现对基站发出射频信号的快速设置，对每路射频信号的多路第二分路信号分别进行合路得到多个目标射频信号，将多个目标射频信号发送给多个目标对象，以使不同距离的多个目标对象基于多个目标射频信号实现性能测试。

在另外一些实施例中，对原始信号中的每路射频信号进行分路，得到每路射频信号的多路第一分路信号可以包括：

将原始信号中的每路射频信号分为第一数量路的第一分路信号，第一数量为大于等于2的自然数，原始信号可以包括第二数量路射频信号，第二数量为大于等于2的自然数，具体的，第一数量可以包括2、4、8、16、32、64、128或者256。

进一步的，对每路射频信号的多路第二分路信号分别进行合路得到多个目标射频信号可以包括：

从原始信号的每路射频信号对应的第一数量路的第二分路信号中分别选取一路第二分路信号，并将选取的第二分路信号进行合路，得到多个目标射频信号。具体的，目标射频信号的数量可以包括2、4、8、16、32、64、128或者256。

具体的，例如，利用M×N射频矩阵模拟基站与终端之间的外场传输环境，如图6所示，该M×N射频矩阵包括M个输入(接收)端口和N各输出(发送)端口，每个输入端口均设有一个1/N射频功分器(图中的1/N splitter)，用于将一路原始信号分为N路信号。每个输出端口均设有一个1/M射频合路器(图中的1/M splitter)，用于从每路原始信号中的N路射频信号中选取一路，并将选取的M路信号合为一路射频信号。图7为该M×N射频矩阵的电路示意图，分路后的信号经过移相模块进行移相，再经过合路输出多个目标射频信号；也可以如图8所示，分路后的信号经过移相模块进行移相，合路后的信号经过衰减模块进行衰减，输出多个目标射频信号。还可以如图9中所示，分路后的信号经移相和衰减模块进行移相和衰减，再进行合路输出目标射频信号。

本申请通过接收基站发出的原始信号，对原始信号进行分路得到多路第一分路信号，基于每路第一分路信号的水平移相信息和对应的垂直移相信息确定移相信息，根据多个目标对象与基站之间的多个距离信息确定多路第一分路信号对应通道的衰减信息，根据每路射频信号的多路第一分路信号的移相信息和对应的衰减信息对所述多路第一分路信号进行调整，得到每路射频信号的多路第二分路信号，可以实现对基站发出射频信号的快速设置。对所述每路射频信号的多路第二分路信号分别进行合路得到多个目标射频信号，将所述多个目标射频信号发送给所述多个目标对象，以使所述多个目标对象基于所述多个目标射频信号实现性能测试，能够解决多入多出性能测试时需要手动计算的参数多导致的工作量大、效率低的问题。

本申请另一方面还提供一种多入多出性能测试装置的实施例，如图10所示，该装置包括：

接收模块401，用于接收基站发出的原始信号，所述基站包括多个基站天线振源；

分路模块403，用于对所述原始信号中的每路射频信号进行分路，得到所述每路射频信号的多路第一分路信号；

移相模块405，用于基于每路射频信号的每路第一分路信号的水平移相信息和对应的垂直移相信息确定每路射频信号的每路第一分路信号的移相信息；

信号调整模块407，用于根据所述每路射频信号的多路第一分路信号的移相信息和对应的衰减信息对所述多路第一分路信号进行调整得到每路射频信号的多路第二分路信号；

合路模块409，用于对所述每路射频信号的多路第二分路信号分别进行合路得到多个目标射频信号；

发送模块411，用于将所述多个目标射频信号发送给所述多个目标对象，以使所述多个目标对象基于所述多个目标射频信号实现性能测试。

在另外的实施例中，如图11所示，该装置还可以包括：

距离信息获取模块4061，用于确定多个目标对象与所述基站间的多个距离信息；

衰减模块4062，用于根据所述多个距离信息确定所述每路射频信号的多路第一分路信号对应通道的衰减信息；

本申请另一方面还提供一种多入多出性能测试设备，该设备包括处理器和存储器，该存储器中存储有至少一条指令或者至少一段程序，该至少一条指令或者至少一段程序由处理器加载并执行以实现上述的多入多出性能测试方法。

本申请另一方面还提供一种计算机可读存储介质，存储介质中存储有至少一条指令或者至少一段程序，该至少一条指令或者至少一段程序由处理器加载并执行以实现上述的多入多出性能测试方法。

由上述说明书提供的多入多出性能测试方法、装置、设备及介质的实施例可知，本申请通过接收基站发出的原始信号，对原始信号进行分路得到多路第一分路信号，基于每路第一分路信号的水平移相信息和对应的垂直移相信息确定移相信息，根据多个目标对象与基站之间的多个距离信息确定多路第一分路信号对应通道的衰减信息，根据每路射频信号的多路第一分路信号的移相信息和对应的衰减信息对所述多路第一分路信号进行调整，得到每路射频信号的多路第二分路信号，可以实现对基站发出射频信号的快速设置。对所述每路射频信号的多路第二分路信号分别进行合路得到多个目标射频信号，将所述多个目标射频信号发送给所述多个目标对象，以使所述多个目标对象基于所述多个目标射频信号实现性能测试，能够解决多入多出性能测试时需要手动计算的参数多导致的工作量大、效率低的问题。

上述说明已经充分揭露了本申请的具体实施方式。需要指出的是，熟悉该领域的技术人员对本申请的具体实施方式所做的任何改动均不脱离本申请的权利要求书的范围。相应地，本申请的权利要求的范围也并不仅仅局限于前述具体实施方式。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于装置、***和服务器实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims

1.一种多入多出性能测试方法，其特征在于，所述方法包括：

接收基站发出的原始信号；

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基站包括多个基站天线振源；

所述基于每路射频信号的第一分路信号的水平移相信息和对应的垂直移相信息确定每路射频信号的第一分路信号的移相信息包括：

基于所述多个基站天线振源生成振源面阵信息，所述振源面阵信息包括阵子所在振源面阵的行间距、列坐标、列间距和行坐标；

根据预设的目标射频信号的水平方向的波束角度信息、所述阵子所在振源面阵的行间距和列坐标确定所述每路射频信号的第一分路信号的水平移相信息；

根据预设的目标射频信号的垂直方向的波束角度信息、所述阵子所在振源面阵的列间距和行坐标确定所述每路射频信号的第一分路信号的垂直移相信息；

将所述每路射频信号的第一分路信号的水平移相信息和对应的垂直移相信息进行矢量和求解得到所述每路射频信号的第一分路信号的移相信息。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述振源面阵包括I×J的面阵，其中I为所述振源面阵横向的振源数量，J为所述振源面阵纵向的振源数量，所述I×J为大于等于2的自然数；

相应的，所述根据预设的目标射频信号的水平方向的波束角度信息和所述阵子所在振源面阵的行间距和列坐标确定所述每路射频信号的第一分路信号的水平移相信息包括采用下述公式得到所述每路射频信号的第一分路信号的水平移相信息：

PS₁＝(j-1)*2π*D_i/λ*sin(θ)

其中，PS₁表示所述第二分路信号的水平移相信息，j表示所述振源面阵上第j列，D_i表示所述振源面阵行间距，λ表示所述第二分路信号的波长，θ表示所述第二分路信号在水平方向的波束角度。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述振源面阵包括I×J的面阵，其中I为所述振源面阵横向的振源数量，J为所述振源面阵纵向的振源数量，所述I×J为大于等于2的自然数；

相应的，所述根据预设的目标射频信号的垂直方向的波束角度信息和所述阵子所在振源面阵的列间距和行坐标确定所述每路射频信号的第一分路信号的垂直移相信息包括采用下述公式得到所述每路射频信号的第一分路信号的垂直移相信息：

其中，PS₂表示所述第二分路信号的垂直移相信息，i表示所述振源面阵上第i行，D_j表示所述振源面阵列间距，λ表示所述第二分路信号的波长，

表示所述第二分路信号在垂直方向的波束角度。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

确定多个目标对象与所述基站间的多个距离信息；

根据所述多个距离信息确定所述每路射频信号的多路第一分路信号对应通道的衰减信息；

相应的，所述根据所述每路射频信号的多路第一分路信号的移相信息对所述多路第一分路信号进行调整，得到每路射频信号的多路第二分路信号还包括：

所述根据所述每路射频信号的多路第一分路信号的移相信息和对应的衰减信息对所述多路第一分路信号进行调整，得到每路射频信号的多路第二分路信号。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述原始信号的数量包括2、4、8、16、32、64、128或者256。

7.一种多入多出性能测试装置，其特征在于，所述装置包括：

移相模块，用于基于所述每路射频信号的每路第一分路信号的水平移相信息和垂直移相信息确定每路射频信号的每路第一分路信号的移相信息；

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

距离信息获取模块，用于确定多个目标对象与所述基站间的多个距离信息；

衰减模块，用于根据所述多个距离信息确定所述每路射频信号的多路第一分路信号对应通道的衰减信息；

相应的：

信号调整模块，还用于根据所述每路射频信号的多路第一分路信号的移相信息和衰减信息对所述多路第一分路信号进行调整得到每路射频信号的多路第二分路信号。

9.一种多入多出性能测试设备，其特征在于，所述设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条指令或者至少一段程序，所述至少一条指令或者至少一段程序由所述处理器加载并执行以实现如权利要求1-6任一所述的多入多出性能测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有至少一条指令或者至少一段程序，所述至少一条指令或者至少一段程序由处理器加载并执行以实现如权利要求1-6任一所述的多入多出性能测试方法。