CN113227812A - 触点连接性 - Google Patents

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CN113227812A CN201980088046.4A CN201980088046A CN113227812A CN 113227812 A CN113227812 A CN 113227812A CN 201980088046 A CN201980088046 A CN 201980088046A CN 113227812 A CN113227812 A CN 113227812A
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Abstract

描述了一种电子设备的示例。在一些示例中,该电子设备包括:具有分别连接到多个集成电路的多个第一触点的第一共享线路、具有分别连接到多个集成电路的相应第二触点的多个第二线路、以及具有分别连接到多个集成电路的多个第三触点的第三共享线路。在一些示例中,该电子设备包括电路,该电路用于基于第一共享线路的状态、以及与第三触点中的一个相关联的第二线路中的一个的状态来确定第三触点中的一个是否连接到集成电路。

Description

触点连接性
背景技术
电子设备包括电子电路,该电子电路基于电路的电气特性而运行。例如,电子电路可能依赖于遍及电子电路的(一个或多个)电压和/或(一个或多个)电流的流动。电子电路可以包括诸如电阻器、电容器、晶体管、电感器等的组件。电子电路的组件可以用于建立电路的电气特性、以及电路中的电压和/或电流如何表现。
附图说明
图1是图示了具有与共享线路的触点(contact)的电子设备的示例的框图;
图2是图示了用于触点连接性检测的方法的示例的流程图;
图3是图示了用于触点连接性检测的方法的另一个示例的流程图;
图4A是图示了电子设备和拉式电路(pull circuit)的示例的框图;
图4B是图示了电子设备和拉式电路的示例的框图;以及
图5是图示了打印机的示例的框图。
具体实施方式
一些电子设备可以与其他电子设备对接。例如,一些电子设备可以包括用于与其他电子设备对接的电触点。当被连接时,这些触点可以用于在设备之间提供功率、和/或在设备之间通信。
电子设备可以包括用于连接到另外一个或多个电子设备的连接接口。连接接口可以包括触点,用于连接到另一个电子设备上的触垫。(一个或多个)触点可以是电触点(例如,电气结构、板、尖头等),以用于与另一个电子设备上的(一个或多个)配对触垫(contactpad)对接(例如,接触)。例如,触点可以是能够传送电信号或电子信号的金属触点。例如,触点可以向另外一个或多个电子设备上的对应触垫提供功率和/或信号(例如,数据)。
电子设备的一些示例是打印机。打印机可以用作根据本文中描述的一些技术和结构而实现的电子设备的示例。虽然可以根据打印机和/或打印墨盒来描述一些示例,但是应当注意,本文中描述的一些示例可以在其他电子设备中实现。例如,本文中描述的一些技术和/或结构可以在与其他电子设备对接的各种各样的电子设备中实现。例如,具有对接的可移除电子组件、连接接口、端口等的电子设备可以根据本文中描述的一些示例来实现。
打印墨盒是向一个或多个打印头提供材料(例如,墨水、墨粉、三维(3D)打印介质等)的设备。例如,打印墨盒可以包括存储材料以向一个或多个打印头进行供应的储存器(reservoir)。打印墨盒可以包括一个或多个打印头。打印头是分配材料(例如,墨水、墨粉、三维(3D)打印介质等)的设备。打印头可以包括用于分配材料的一个或多个集成电路。例如,打印头可以在包括一个或多个集成电路的硅中实现。在一些示例中,打印头可以包括用于分配材料的一个或多个管芯(例如,流体管芯)。例如,打印头可以以硅管芯(也可以被称为条片(sliver))和塑料实现。打印头可以包括或可以耦合到触垫。
一些打印头和/或打印墨盒包括暴露的触垫,该触垫在正确操作时形成与打印机的电气连接。触垫(例如,凹痕柔性连接)可能容易受到污染或损坏。在某些情况下,不正确的用户处理或***可能导致对一个或多个触垫的损坏和/或对打印机上的一个或多个触点的损坏。
确定和/或核实每个个体触点(例如,对应于一个或多个打印墨盒(诸如黑色和彩色墨盒)上的触垫)的电气连接性可能是有益的。例如,这可以改进问题检测(例如,故障诊断)、更好的打印头安全性和可靠性、和/或降低的用户退货率和服务呼叫率。
在一些示例中,触点可以共享一个线路(line)。线路是导线或电气耦合。共享线路是耦合到多个触点的导线或电气耦合。例如,共享线路上的电信号或电子信号可以被提供给共享线路的所有触点。可能难以确定和/或核实共享一个线路的个体触点的连接性。本文中描述的结构和/或技术的一些示例可以使得能够实现针对共享一个线路的个体触点的连接性确定和/或核实。例如,可以针对一个或多个打印头来核实个体触点连接性,其中多个触点共享一个线路。术语“连接性(connectivity)”和“连接(connection)”可以指代一个或多个触点与一个或多个触垫之间的电气连接和/或电子连接。当触点和配对触垫没有物理接触时、当没有电气连接时、或者当没有可靠的电气连接时(例如,当存在对于传输功率和/或传送信号来说不可靠的间歇性或衰减连接时),发生“开路”。
遍及附图,相同的附图标记标明相似但不一定相同的元件。附图不一定是按比例绘制的,并且一些部分的大小可能被放大以更清楚地说明所示的示例。此外,附图提供了与本描述一致的示例和/或实现方式;然而,本描述不限于附图中提供的示例和/或实现方式。
图1是图示了具有与共享线路的触点的电子设备102的示例的框图。在图1的示例中,电子设备102包括:具有多个第一触点114的第一共享线路104、具有相应第二触点116的多个第二线路106、以及具有多个第三触点118的第三共享线路108。虽然图1图示了第一触点114、第二触点和第三触点118,但是其他示例可以包括具有共享线路的一个或多个附加触点集合,和/或具有相应线路的一个或多个附加触点集合。如上所述,共享线路可以与该共享线路的所有触点共享信号。相应线路彼此分离或独立。例如,相应线路可以携带单独或独立的信号。
在一些示例中,每个触点集合(例如,第一触点114、第二触点116、第三触点118等)可以被实现成连接到多个集成电路。例如,第一触点114中的一个、第二触点116中的一个、以及第三触点118中的一个可以被实现成连接到第一集成电路,并且第一触点114中的另一个、第二触点116中的另一个、以及第三触点118中的另一个可以被实现成连接到第二集成电路。虽然每个触点集合(第一触点114、第二触点116、第三触点118)在图1中被图示为包括两个个体触点,但是在一些示例中,每个触点集合可以包括更多的触点。在一些示例中,不同的触点集合可以包括彼此相同或不同数量的触点。电子设备102包括连接接口112。连接接口112是包括多个触点集合(例如,第一触点114、第二触点116和第三触点118等)的接口。
电子设备102的一些示例包括打印机。例如,打印机可以被实现成连接到一个或多个打印墨盒、一个或多个打印头、一个或多个集成电路和/或一个或多个管芯。例如,第一触点114、第二触点116和第三触点118中的每个触点可以被实现成连接到一个或多个打印墨盒、一个或多个打印头、一个或多个集成电路、和/或一个或多个管芯(例如,条片)的配对触垫。
在一些示例中,第一共享线路104可以是复位线路。例如,第一共享线路104可以将复位信号携带到第一触点114。在一些示例中,复位信号可以使得所连接的一个或多个集成电路复位。在一些示例中,第二线路106中的每一个可以是相应的数据线路。例如,第二线路106中的每一个可以将单独的数据信号携带到相应第二触点116。在一些示例中,数据信号可以被供应给所连接的一个或多个集成电路。
在一些示例中,第三共享线路108可以是时钟线路、感测线路或模式线路。例如,第三共享线路108可以为第三触点118携带时钟信号、感测信号或模式信号。在一些示例中,时钟信号可以被供应给所连接的一个或多个集成电路(例如,用于操作定时)。在一些示例中,可以从所连接的一个或多个集成电路接收感测信号(例如,用于感测诸如温度之类的条件)。在一些示例中,模式信号可以被供应给所连接的一个或多个集成电路(例如,以指示和/或命令操作的模式)。
电子设备102可以包括电路110。电路110的示例包括:集成电路、专用集成电路(ASIC)、处理器、微控制器、现场可编程门阵列(FPGA)、数字逻辑电路和/或模拟电路等。在一些示例中,电路110可以包括和/或可以耦合到存储器。例如,电路110可以包括处理器,该处理器可以是中央处理单元(CPU)、基于半导体的微处理器、图形处理单元(GPU)、FPGA、ASIC、和/或适合于检索和执行存储在存储器中的指令的其他硬件设备中的任一个。该处理器可以取指、解码和/或执行存储在存储器中的指令(例如,触点连接性确定指令)。附加地或替代地,该处理器可以包括一个或多个电子电路,该电子电路包括用于实行指令的一个或多个功能的电子组件。在一些示例中,该处理器可以实行结合图1-4B中的一个、一些或全部所描述的功能、操作、元件、方法等中的一个、一些或全部。在一些示例中,该存储器可以包括用于结合图1-4B中的一个、一些或全部所描述的功能、操作、元件、方法等中的一个、一些或全部的可执行指令。
在一些示例中,该存储器可以是包含或存储电子信息(例如,指令和/或数据)的任何电子、磁性、光学或其他物理存储设备。该存储器可以是例如随机存取存储器(RAM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、存储设备、光盘等等。在一些示例中,该存储器可以是易失性和/或非易失性存储器,诸如动态随机存取存储器(DRAM)、EEPROM、磁阻随机存取存储器(MRAM)、相变RAM(PCRAM)、忆阻器、闪速存储器等等。在一些实现方式中,该存储器可以是非暂时性有形机器可读存储介质,其中术语“非暂时性”不涵盖暂时性传播信号。在一些示例中,存储器可以包括多个设备(例如,RAM卡和固态驱动器(SSD))。
电路110可以耦合到触点(例如,第一触点114、第二触点116和第三触点118)。例如,电路110可以利用第一共享线路104耦合到第一触点114,利用相应第二线路106耦合到第二触点116,并且利用第三共享线路耦合到第三触点118。在一些示例中,电路110可以利用一个或多个共享线路和/或利用相应线路耦合到另外一个或多个触点。
电路110可以确定一个或多个触点的连接性。例如,电路110可以确定第一触点114中的每一个是否连接到一个或多个集成电路,第二触点116中的每一个是否连接到一个或多个集成电路,和/或第三触点118中的每一个是否连接到一个或多个集成电路。在一些示例中,电路110可以确定附加或替代的触点(图1中未示出)是否连接到一个或多个集成电路。
电路110可以使用线路(例如,第一共享线路104和第二线路106)上的状态的组合来确定一个或多个触点(例如,第三触点118)的连接性。状态是电气或电子状态。例如,状态可以是线路和/或触点上的特定电压或逻辑电平。状态可以由电路110控制。例如,电路110可以驱动线路和/或触点上的电压或逻辑电平。状态的一些示例可以指示或对应于逻辑0和逻辑1。
在一些示例中,对应于共享线路上的触点的测量结果(例如,电压测量结果、电压水平等)可以基于另一个共享线路上的状态和个体线路上的状态而变化。该测量结果可以用于确定触点是否被连接。在一些示例中,电路110可以基于第一共享线路104的状态、以及与第三触点中的一个相关联的第二线路106中的一个的状态来确定第三触点118中的一个是否连接到集成电路。例如,第二线路106中的一个可以与第三触点118中的一个相关联。触点之间的关联可以基于它们是否被实现为连接到相同的集成电路。例如,第三触点118中的一个可以与第二触点116中的一个和/或对应的第二线路相关联,因为第三触点118中的一个和第二触点116中的一个被实现成连接到相同的集成电路(例如,管芯)。
在一些示例中,电路110可以在每个集成电路(例如,管芯)的基础上使用触点状态的组合来启用和禁用拉式电路(例如,下拉或上拉)。下拉是在被连接时修改输入电压(例如,将输入电压下拉)的电路。上拉是在被连接时修改输入电压(例如,将输入电压上拉)的电路。拉式电路可以在要连接到连接接口112的集成电路中实现。本文中的一些示例是关于下拉来描述的。可以替代地在其他示例中实现上拉。在一些示例中,可以基于相关联的触点(例如,来自要连接到相同集成电路的其他线路的触点)的状态来激活或停用对应于触垫和对应于触点的拉式电路(例如,下拉或上拉)。例如,当第一共享线路104(例如,复位线路)的状态是第一状态(例如,逻辑0)并且第二线路106(例如,数据线路)中的一个的状态是第一状态(例如,逻辑0)时,可以启用对应于第三触点118中的一个的下拉,但是当第二线路106(例如,数据线路)中的一个的状态是第二状态(例如,逻辑1)时,可以禁用该下拉。
因为第二线路106(和第二触点116)相对于不同的集成电路是独立的,所以可以针对连接性来个别地验证第二触点116中的每一个。在一些示例中,验证第二触点116中的每一个的连接性可以在确定第三触点118中的每一个的连接性之前实行。第二触点116可以用于启用一个集成电路的拉式电路,并且禁用其余集成电路或管芯的其他拉式电路(例如,在某个时刻)。例如,可以确定(例如,测量)至具有启用的一个或多个拉式电路的集成电路的一个或多个连接。例如,当第一共享线路104的状态是第一状态(例如,逻辑0)并且多个第二线路106中的一个的状态是第一状态(例如,逻辑0),而多个第二线路106中的每个其他线路的状态是第二状态(例如,逻辑1)时,电路110可以确定第三触点118中的一个的连接性。在一些示例中,电路110可以通过将第二线路106中的每一个的状态顺序地设置为第一状态来确定第三触点118中的每一个的连接性。例如,可以在对应数据线路为低并且下拉激活的情况下测量对应于集成电路(例如,管芯)的触点。
在本文中描述的技术的一些示例中,即使在具有共享线路的多个触点(和集成电路、管芯、条片等)的情况下,也可以个别地测量每个触点,并且将其确定为具有预期连接电阻。可以检测到一个或多个开路。在检测到一个或多个开路的情况下,电路110可以提供检测到一个或多个开路的一个或多个指示符,和/或未连接的一个或多个触点的指示符。例如,电路110可以提供要在显示器上呈现的、要在消息(例如,分组、文本、电子邮件等)中传输的一个或多个指示符。例如,打印机可以包括呈现消息的显示器,和/或可以将消息传输到另一个设备(例如,计算机、膝上型计算机、智能电话、平板设备等)以用于呈现。
在一些示例中,电子设备102可以包括附加的共享线路,每个共享线路具有多个触点。例如,电子设备102可以包括:具有多个第四触点的第四共享线路,该多个第四触点分别连接到多个集成电路(图1中未示出)。电路110可以基于第一共享线路104的状态、以及与第四触点中的一个相关联的第二线路106中的一个的状态来确定第四触点中的一个是否连接到集成电路。在一些示例中,电子设备102可以包括具有多个第五触点的第五共享线路,该多个第五触点分别连接到多个集成电路(图1中未示出)。电路110要基于第一共享线路104的状态、以及与第五触点中的一个相关联的第二线路106中的一个的状态来确定第五触点中的一个是否连接到集成电路。
在一些示例中,连接接口112可以包括多个第一触点114。第一信号(例如,状态、逻辑值、电压等)可以由所有多个第一触点114共享。连接接口112可以包括多个第二触点116。多个第二信号(例如,状态、逻辑值、电压等)中的每一个对于多个第二触点中的每一个可以是独立的。连接接口112可以包括多个第三触点118。第三信号可以由所有多个第三触点118共享。多个第三触点118中的一个的连接性要基于第一信号、以及多个第二信号中的一个来检测。例如,第一信号、以及多个第二信号中的一个可以激活第一下拉电路,并且第一信号、以及多个第二信号中的另一个可以禁用第二下拉电路。
图2是图示了用于触点连接性检测的方法200的示例的流程图。方法200可以由结合图1所描述的电子设备102来实行。
电子设备102(例如,电路110)可以将具有第一触点114的第一共享线路104的状态设置202为第一值。值可以是逻辑值或对应于逻辑值的信号(例如,电压)。在一些示例中,第一值可以是0、“低”逻辑值和/或低于阈值的电压。例如,电子设备102可以将第一共享线路104的状态驱动到第一值。
电子设备102(例如,电路110)可以将具有第二触点116的多个第二线路106中的一个的状态设置204为第一值(例如,0)。例如,电子设备102可以将第二线路106的状态驱动到第一值。
电子设备102(例如,电路110)可以将具有第二触点116的多个第二线路106中的另一个的状态设置206为第二值(例如,1)。例如,电子设备102可以将另外一个或多个第二线路的(一个或多个)状态驱动到第二值。在一些示例中,第二值可以是1、“高”逻辑值和/或高于阈值的电压。例如,电子设备102可以将第二线路106中的一个的状态驱动到第二值。在一些示例中,电子设备102可以驱动第二线路106的集合的状态,该集合与被驱动到第一值的第二线路106中的一个互补。
电子设备102(例如,电路110)可以基于第一共享线路104的状态和多个第二线路106的状态来检测208多个第三触点118中的一个是否连接到集成电路。这可以如上面结合图1所描述的那样来实现。例如,电子设备102(例如,电路110)可以测量第三触点118中的一个上的电压。该电压可以指示拉式电路(并且因此是集成电路)是否连接到第三触点中的一个。例如,检测208多个第三触点118中的一个是否被连接可以包括:当第一共享线路104的状态被设置为0、多个第二线路106中的一个的状态被设置为0、并且多个第二线路106中的另一个的状态被设置为1时,测量多个第三触点118中的一个的电压。参照图4A和图4B给出了用于确定或检测触点是否被连接的技术的示例。
表(1)是真值表,其说明了对应于线路的拉式电路活动的线路状态的示例。在表(1)中,术语“激活”表示激活或启用的拉式电路,“禁用”表示非激活或禁用的拉式电路,并且“X”指示“不关心”术语(是其中拉式电路活动不取决于状态的情况)。
线路 第一共享线路状态=0 && 第二线路状态=0 第一共享线路状态=0 && 第二线路状态=1 第一共享线路状态=1 && 第二线路状态=X
第一共享线路 激活 激活 禁用
第二线路 激活 激活 禁用
第三共享线路 激活 禁用 禁用
表(1)。
如在表(1)的示例中可以观察到的,当第一共享线路状态为0并且第二线路状态为0时,对应于第三共享线路的拉式电路可以是激活的。在此示例中,当第一共享线路状态为0并且第二线路状态为1时,可以禁用对应于第三共享线路的拉式电路。因此,第二线路状态或值中的一个可以被设置为0,而剩余的第二线路状态或值可以被设置为1。在这种情况下,可以测量与被设置为0的第二线路中的一个相关联的第三触点,以确定第三触点是否被连接(例如,对应的拉式电路是否是激活的)。
在一些示例中,方法200可以包括:检测一个或多个附加触点是否被连接。例如,方法200可以包括:响应于检测到多个第三触点118中的一个被连接,基于第一共享线路104的状态和多个第二线路106的状态来检测多个第四触点中的一个是否连接到集成电路。
图3是图示了用于触点连接性检测的方法300的另一个示例的流程图。方法300可以由结合图1所描述的电子设备102来实行。
电子设备102(例如,电路110)可以确定302第一触点是否被连接。复位触点可以是结合图1所描述的第一触点114的示例。例如,第一线路可以在要连接到多个集成电路(例如,管芯或条片等)的多个触点之间共享。在一些示例中,电子设备102可以测量一个或多个第一触点处的电压,以确定拉式电路是被连接,还是拉式电路被连接到一个或多个第一触点。在一些示例中,该第一连接性检查可以指示一个第一触点被连接,尽管该第一连接性检查可以不必指示所有第一触点都被连接。在一些示例中,可以结合第二触点连接性检查来检查(例如,附加地检查)个体第一触点连接性。
在第一触点未连接的情况下,电子设备102可以指示304第一触点故障(例如,复位触点故障)。例如,电子设备102可以在存储器中存储指示一个或多个第一触点未连接的指示符。附加地或替代地,电子设备102可以在显示器上呈现指示第一触点故障的指示符。附加地或替代地,电子设备102可以发送指示第一触点故障的消息(例如,分组、文本消息、电子邮件、聊天消息等)。
在第一触点被连接的情况下,电子设备102(例如,电路110)可以确定306第二触点是否被连接。数据触点可以是结合图1所描述的第二触点116的示例。例如,多个第二线路可以分别耦合到多个触点,这些触点要连接到多个集成电路(例如,管芯或条片等)。在一些示例中,电子设备102可以测量每个第二触点处的电压,以确定拉式电路是否连接到每个第二触点。在一些示例中,第二触点连接性检查可以包括两个阶段。在第一阶段中,当第一线路处于第一逻辑状态(例如,0)时,可以检查每个第二触点以验证拉式电路的存在(例如,激活的下拉电路)。在第二阶段中,当第一线路处于第二逻辑状态(例如,1)时,可以检查每个第二触点以验证拉式电路不存在(例如,禁用的下拉)。该两阶段检查可以用于间接验证所有共享第一触点上的第一连接性,并且核实第二触点中的每一个的第二线路(例如,控制线路)连接性。
在一个或多个第二触点未连接的情况下,电子设备102可以指示308第二触点故障。例如,电子设备102可以在存储器中存储指示一个或多个第二触点未连接的指示符。附加地或替代地,电子设备102可以在显示器上呈现指示第二触点故障的指示符。附加地或替代地,电子设备102可以发送指示第二触点故障的消息(例如,分组、文本消息、电子邮件、聊天消息等)。
在第二触点被连接的情况下,电子设备102可以将第一(例如,复位)触点设置310或驱动到0。例如,电子设备102可以将第一线路的状态设置为0(例如,设置为表示逻辑0的电压)。
电子设备102可以将i初始化。在该示例中,i是索引或变量。例如,i的值可以对应于集成电路。例如,假设打印墨盒包括四个集成电路(例如,管芯),则i=1可以对应于第一集成电路,i=2可以对应于第二集成电路,i=3可以对应于第三集成电路,并且i=4可以对应于第四集成电路。将i初始化312可以包括将i设置为用于通过集成电路进行迭代的值。例如,i可以初始地被设置为0。在一些示例中,可以针对i使用其他范围和/或编号方案。
电子设备102可以使i步进314。例如,电子设备102可以使i的值递增(例如,添加到i的值、增大i的值)。例如,电子设备102可以设置i = i+1。在其他示例中,电子设备102可以将i初始化为高值(例如,5),并且使i的值递减(例如,从i的值中减去、减小i的值)以逐步通过集成电路。
电子设备102可以将第二触点和/或线路(例如,数据(i))设置316或驱动到0。在该示例中,数据(i)表示第i个数据触点和/或数据线路。例如,电子设备102可以将第i个数据线路的状态设置为0(例如,设置为表示逻辑0的电压)。
电子设备102可以将其他第二触点和/或线路(例如,数据(n≠i))设置318或驱动到1。在该示例中,数据(n≠i)表示不是第i个数据触点和/或数据线路的一个或多个第n个数据触点和/或一个或多个第n个数据线路。例如,电子设备102可以将不是第i个第二触点或线路的所有第二触点或线路的状态设置为1(例如,设置为表示逻辑1的电压)。将第二触点(例如,数据(i))驱动316到0并且将其他第二触点(例如,数据(n≠i))驱动318到1可以准备对应于第i个第二触点的共享线路上的触点,以用于连接性确定或检测。在图3的示例中,共享线路上存在针对每个集成电路的连接性而被测试的三个触点(除了第一触点之外):第三触点(例如,时钟触点)、第四触点(例如,模式触点)和第五触点(例如,感测触点)。时钟触点、模式触点和/或感测触点可以是结合图1所描述的第三触点118的示例。
电子设备102可以确定320或检测第三(例如,时钟(i))触点是否被连接。在该示例中,时钟(i)表示要连接到第i个集成电路的共享时钟线路上的第i个触点。例如,电子设备102可以测量第三触点中的一个(例如,时钟(i)触点)上的电压。电压可以指示第三(例如,时钟(i))触点是否连接到第i个集成电路。例如,第i个集成电路可以包括拉式电路,在激活时,该拉式电路改变当被连接时的第三(例如,时钟(i))触点上的电压。
在第三(例如,时钟(i))触点未连接的情况下(例如,在所测量的电压指示开路的情况下),电子设备102可以指示322第三触点故障。例如,电子设备102可以在存储器中存储指示第三(例如,时钟(i))触点未连接的指示符。附加地或替代地,电子设备102可以在显示器上呈现指示第三(例如,时钟(i))触点未连接的指示符。附加地或替代地,电子设备102可以发送指示第三触点未连接的消息(例如,分组、文本消息、电子邮件、聊天消息等)。
在第三(例如,时钟(i))触点被连接的情况下(例如,所测量的电压指示激活的拉式电路),电子设备102可以确定324或检测第四(例如,模式(i))触点是否被连接。在该示例中,模式(i)表示共享模式线路上的要连接到第i个集成电路的第i个触点。例如,电子设备102可以测量第四(例如,模式(i))触点上的电压。该电压可以指示第四(例如,模式(i))触点是否连接到第i个集成电路。例如,第i个集成电路可以包括拉式电路,在激活时,该拉式电路改变当被连接时的第四触点上的电压。
在第四(例如,模式(i))触点未连接的情况下(例如,在所测量的电压指示开路的情况下),电子设备102可以指示326第四(例如,模式(i))触点故障。例如,电子设备102可以在存储器中存储指示第四触点未连接的指示符。附加地或替代地,电子设备102可以在显示器上呈现指示第四(例如,模式(i))触点未连接的指示符。附加地或替代地,电子设备102可以发送指示第四触点未连接的消息(例如,分组、文本消息、电子邮件、聊天消息等)。
在第四(例如,模式(i))触点被连接的情况下(例如,所测量的电压指示激活的拉式电路),电子设备102可以确定328第五(例如,感测(i))触点是否被连接。在该示例中,感测(i)表示共享感测线路上的要连接到第i个集成电路的第i个触点。例如,电子设备102可以测量第五(例如,感测(i))触点上的电压。该电压可以指示第五触点是否连接到第i个集成电路。例如,第i个集成电路可以包括拉式电路,在激活时,该拉式电路改变当被连接时的第五(例如,感测(i))触点上的电压。
在第五(例如,感测(i))触点未连接的情况下(例如,在所测量的电压指示开路的情况下),电子设备102可以指示330第五触点故障。例如,电子设备102可以在存储器中存储指示第五(例如,感测(i))触点未连接的指示符。附加地或替代地,电子设备102可以在显示器上呈现指示第五触点未连接的指示符。附加地或替代地,电子设备102可以发送指示第五触点未连接的消息(例如,分组、文本消息、电子邮件、聊天消息等)。
在第五(例如,感测(i))触点被连接的情况下(例如,所测量的电压指示激活的拉式电路),电子设备102可以确定332 i是否等于集成电路的数量。如果i等于集成电路的数量,则电子设备102可以指示334连接性检测已经通过。例如,如果i已经逐步通过要测试的所有集成电路,则电子设备102可以指示334连接性检测已经通过。指示334连接性检测已经通过可以包括:在存储器中存储指示连接性检测(例如,针对所有触点)已经通过的指示符。附加地或替代地,电子设备102可以在显示器上呈现指示连接性检测已经通过的指示符。附加地或替代地,电子设备102可以发送指示连接性检测已经通过的消息(例如,分组、文本消息、电子邮件、聊天消息等)。在其他示例中,电子设备102可以确定是否达到另一个结束条件(例如,已经针对连接性测试了所有触点),并且可以在达到该结束条件时指示334连接性检测已经通过。
从结合图3所描述的示例中可以观察到的是,第一线路和第二线路可以用于控制共享线路(例如,第四共享线路、第五共享线路和第三共享线路)上的拉式电路(例如,下拉)状态。如可以观察到的,在一些示例中,控制线路(例如,第一线路和第二线路)的连接性可以在核实了其他共享线路的连接性之前被验证。
在一些示例中,可以修改线路验证的顺序。例如,可以实行第三线路、第四线路和第五线路验证的顺序。在其他示例中,可以实行其他顺序或次序。在一些示例中,可以修改控制线路(例如,第一线路和第二线路)验证的顺序。例如,可以在第一触点的连接性之前验证第二触点的连接性,随后是验证其他共享线路。
图4A是图示了电子设备430和拉式电路420a-b的示例的框图。特别地,图4A图示了用于检测或确定触点428a-b(例如,共享线路的触点)是否连接到集成电路(例如,触垫456a-b)的技术的示例。结合图4A所描述的电子设备430可以是结合图1所描述的电子设备102的示例,并且触点428a-b可以是结合图1所描述的第三触点118的示例。在一些示例中,电子设备430可以是打印机。
在图4A的示例中,电子设备430包括:电流数模转换器(IDAC)432、模数转换器(ADC)434(例如,10位ADC)、比较器436、参考电压(Vref)438、触点428a-b和数字电路440。在一些示例中,电子设备430的一个或多个组件(例如,IDAC 432、ADC 434、比较器436和/或数字电路440)可以被包括在结合图1所描述的电路110中。
在一些示例中,拉式电路420a-b可以是本文中描述的拉式电路的示例,和/或可以是本文中描述的一些集成电路(例如,管芯、条片等)的一部分和/或可以耦合到这些集成电路。在一些示例中,拉式电路420a-b可以分别是一个或多个打印墨盒的一个或多个打印头的相应管芯的一部分和/或可以耦合到这些相应管芯。拉式电路420a-b中的每一个分别包括下拉电阻器(Rpulldown)422a-b、寄生电容(cparalitic)424a-b和触垫426a-b。虽然在图4A中图示了两个拉式电路420a-b和触点428a-b,但是其他示例可以包括多于两个拉式电路420a-b和/或触点428a-b。
触点428a-b和/或拉式电路420a-b的连接性可以使用各种技术来检测。触点428a-b连接检测的一个示例被描述如下。根据本文中描述的技术,可以利用其他检测技术。
参照图4A所描述的示例可以被称为模拟方法。这种模拟方法可以利用电流源和ADC 434和/或模拟比较器436。数字电路440可以包括电流源IDAC 432和/或提供针对电流源IDAC 432的控制。当确定第一触点428a是否被连接时,第一拉式电路420a可以被启用或激活,而第二拉式电路420b基于其他线路的状态而被禁止或不激活,如本文中所描述的那样。因此,电流源可以被施加到第一触点428a(例如,输入/输出(I/O)触点),这可以使得第一电流442a(被表示为Icurrent_source)流动到第一拉式电路420a中。当第一拉式电路420a连接到第一触点428a时,第一触点428a和/或第一拉式电路420a上的电压可以表述为Icurrent_source * Rpulldown。
数字电路440可以经由ADC 434和/或经由模拟比较器436来测量第一触点428a上的电压。例如,模拟比较器436可以指示第一触点428a上的电压是高于还是低于阈值(例如,Vref 438)。电压测量结果可以指示第一触点428a是被连接(例如,电压是处于预期电平、在阈值范围内还是满足阈值)还是开路。数字电路440可以基于电压测量结果来指示第一触点428a是被连接还是开路。当正在测试第二触点428b时,可以根据本文中描述的技术来禁用第一拉式电路420a并且启用第二拉式电路420b,从而允许电流442b流动到第二拉式电路420b中,并且实行对第二触点428b的测量。
要注意的是,在一些示例中,下拉电阻的阈值可以改变。例如,可以修改电流源(例如,IDAC 432)、比较器436(例如,Vref 438)和/或ADC目标。
图4B是图示了电子设备460和拉式电路450a-b的示例的框图。特别地,图4B图示了用于检测或确定触点458a-b(例如,共享线路的触点)是否连接到集成电路(例如,触垫456a-b)的技术的示例。结合图4B所描述的电子设备460可以是结合图1所描述的电子设备102的示例,并且触点458a-b可以是结合图1所描述的第三触点118的示例。在一些示例中,电子设备460可以是打印机。
在图4B的示例中,电子设备460包括:数字输出驱动器464、施密特触发器466、触点458a-b和数字电路470。在一些示例中,电子设备460的一个或多个组件(例如,数字输出驱动器464、施密特触发器466和/或数字电路470)可以被包括在结合图1所描述的电路110中。
在一些示例中,拉式电路450a-b可以是本文中描述的拉式电路的示例,和/或可以是本文中描述的一些集成电路(例如,管芯、条片等)的一部分和/或可以耦合到这些集成电路。在一些示例中,拉式电路450a-b可以分别是一个或多个打印墨盒的一个或多个打印头的相应管芯的一部分和/或可以耦合到这些相应管芯。拉式电路450a-b中的每一个分别包括下拉电阻器(Rpulldown)452a-b、寄生电容(Cparasitic)454a-b和触垫456a-b。虽然图4B中图示了两个拉式电路450a-b和触点458a-b,但是其他示例可以包括多于两个拉式电路450a-b和/或触点458a-b。
触点458a-b和/或拉式电路450a-b的连接性可以使用各种技术来检测。触点458a-b连接检测的一个示例被描述如下。根据本文中描述的技术,可以利用其他检测技术。
参照图4B所描述的示例可以被称为数字方法。这种数字方法可以利用数字输出驱动器464和/或施密特触发器466。数字电路470可以向数字输出驱动器464提供输出启用信号462(例如,三态控制信号)。数字输出驱动器464可以从数字电路470接收输出值468。施密特触发器466可以向数字电路470提供输入值472(例如,数字输入)。例如,施密特触发器可以测量触点的量(例如,电压)。数字电路470可以利用输出启用信号462(例如,垫控制)、数字定时器和锁存输入值472来实行数字下拉检测。
当确定第一触点458a是否被连接时,基于本文中描述的其他线路的状态,第一拉式电路450a可以被启用或激活,而第二拉式电路450b被禁用或不激活。数字电路470可以利用数字输出驱动器464来将第一触点458a(例如,输入/输出(I/O)触点)驱动为高(例如,驱动到高逻辑值、驱动到1、驱动到对应于高逻辑值的电压)。数字电路470可以等待整定时间(settling time)(例如,被表示为tsettle)。数字电路470可以利用输出启用信号462(三态控制)以将第一触点458a设置为高阻抗。数字电路470可以启动定时器,并且确定该定时器何时达到目标时间。当达到目标时间时,数字电路470可以利用施密特触发器466来读取第一触点458a。如果输入值472指示逻辑1值,则数字电路470可以确定第一触点458a未连接(例如,不存在下拉)。如果输入值472指示逻辑0值,则数字电路470可以确定第一触点458a被连接(例如,存在下拉)。当正在测试第二触点458b时,可以根据本文中描述的技术来禁用第一拉式电路450a并且可以启用第二拉式电路450b,从而允许在第二触点458b的情况下执行类似过程。要注意的是,在一些示例中,可以通过修改数字定时器目标来改变下拉电阻器(Rpulldown)的灵敏度。
图5是图示了打印机502的示例的框图。打印机502可以是结合图1所描述的电子设备102的示例。在图5的示例中,打印机502包括:多个第一触点514a-b、多个第二触点516a-b和多个第三触点518a-b。第一触点514a-b、第二触点516a-b和第三触点518a-b可以是结合图1所描述的对应触点的示例。虽然图5图示了第一触点514a-b、第二触点516a-b和第三触点518a-b,但是其他示例可以包括具有共享线路的一个或多个附加触点集合,和/或具有相应线路的一个或多个附加触点集合。如上所述,共享线路可以与共享线路的所有触点共享信号。例如,第一信号574可以由所有多个第一触点514a-b共享,并且第三信号578可以由所有多个第三触点518a-b共享。相应线路彼此分离或独立,其中相应线路可以携带单独或独立的信号。例如,多个第二信号576a-b中的每一个对于多个第二触点516a-b中的每一个可以是独立的。
打印机502可以被实现成连接到多个集成电路580a-b。结合图5所描述的集成电路580a-b可以是结合图1所描述的集成电路的示例。尽管图5中图示了集成电路580a-b,但在一些示例中,可以实现附加的集成电路。在一些示例中,集成电路580a-b是多个打印墨盒管芯。例如,打印机502可以被实现成连接到包括多个打印墨盒管芯的打印墨盒。
每一个集成电路580a-b可以包括下拉电路582a-b。下拉电路582a-b可以是本文中描述的拉式电路(例如,拉式电路420a-b、450a-b)的示例。
可以基于第一信号574和第二信号A 576a来检测多个第三触点518a-b中的一个的连接性。例如,第一信号574和第二信号A 576a可以激活下拉电路A 582a,并且第一信号574和第二信号B 576b可以禁用下拉电路B 582b。如本文中描述的,电路510可以基于第一信号574(例如,当第一信号574为逻辑状态=0时)、第二信号A 576a(例如,当第二信号A 576a为逻辑状态=0时)和第二信号B 576b(例如,当第二信号B 576b为逻辑状态=1时)来检测第三触点A 518a是否被连接。
本文中描述的一些技术可以提供如下各种益处。一些示例使得能够对电子设备上的所有触点(和/或另一个电子设备上的配对触点)进行电气连接性核实。一些示例在***中同时存在多个打印墨盒(例如,彩色墨盒和黑色墨盒两者)时使得能够对多个打印墨盒进行电气连接性核实。一些示例提供了按每个触点的开路检测(例如,当触点耦合到共享线路时)。一些示例在发生电气故障时提供关于哪个打印头具有一个或多个开路连接的检测。一些示例在发生电气连接故障时提供改进的故障诊断经验。一些示例允许打印机***使用低成本方法(例如,充电/渗出(charge/bleed))来验证正确的电气连接,包括墨水短路和可靠性风险。
应当注意的是,虽然本文中描述了***和方法的各种示例,但是本公开不应当限于这些示例。本文中描述的示例的变型可以在本公开的范围内实现。例如,本文中描述的示例的功能、方面或元素可以被省略或组合。

Claims (15)

1.一种电子设备,包括:
具有多个第一触点的第一共享线路,所述多个第一触点分别连接到多个集成电路;
具有相应第二触点的多个第二线路,所述相应第二触点分别连接到所述多个集成电路;
具有多个第三触点的第三共享线路,所述多个第三触点分别连接到所述多个集成电路;以及
电路,用于基于第一共享线路的状态、以及与第三触点中的一个相关联的多个第二线路中的一个的状态来确定第三触点中的一个是否连接到集成电路。
2.根据权利要求1所述的电子设备,其中,所述电路用于当第一共享线路的状态是第一状态并且多个第二线路中的一个的状态是第一状态、而多个第二线路中的每个其他线路的状态是第二状态时,确定第三触点中的一个的连接性。
3.根据权利要求2所述的电子设备,其中,所述电路用于通过将多个第二线路中的每一个的状态顺序地设置为第一状态来确定第三触点中的每一个的连接性。
4.根据权利要求1所述的电子设备,其中,第一共享线路是复位线路,并且多个第二线路中的每一个是相应的数据线路。
5.根据权利要求1所述的电子设备,其中,第三共享线路是时钟线路、感测线路或模式线路。
6.根据权利要求1所述的电子设备,其中,所述电子设备是打印机。
7.根据权利要求1所述的电子设备,进一步包括:具有多个第四触点的第四共享线路,所述多个第四触点分别连接到多个集成电路,其中,所述电路用于基于第一共享线路的状态、以及与第四触点中的一个相关联的多个第二线路中的一个的状态来确定第四触点中的一个是否连接到集成电路。
8.根据权利要求7所述的电子设备,进一步包括:具有多个第五触点的第五共享线路,所述多个第五触点分别连接到多个集成电路,其中,所述电路用于基于第一共享线路的状态、以及与第五触点中的一个相关联的多个第二线路中的一个的状态来确定第五触点中的一个是否连接到集成电路。
9.根据权利要求1所述的电子设备,其中,所述电路用于在确定第三触点中的一个是否被连接之前验证多个第二线路中的每一个的连接性。
10.根据权利要求1所述的电子设备,其中,多个集成电路是多个打印墨盒管芯。
11.一种方法,包括:
将具有第一触点的第一共享线路的状态设置为第一值;
将具有第二触点的多个第二线路中的一个的状态设置为第一值;
将具有第二触点的多个第二线路中的另一个的状态设置为第二值;以及
基于第一共享线路的状态和多个第二线路的状态来检测多个第三触点中的一个是否连接到集成电路。
12.根据权利要求11所述的方法,进一步包括:响应于检测到多个第三触点中的一个被连接,基于第一共享线路的状态和多个第二线路的状态来检测多个第四触点中的一个是否连接到集成电路。
13.根据权利要求11所述的方法,其中,检测多个第三触点中的一个是否被连接包括:当第一共享线路的状态被设置为0、多个第二线路中的一个的状态被设置为0,并且多个第二线路中的另一个的状态被设置为1时,测量多个第三触点中的一个的电压。
14.一种打印机,包括:
多个第一触点,其中,第一信号要由所有多个第一触点共享;
多个第二触点,其中,多个第二信号中的每一个对于多个第二触点中的每一个是独立的;以及
多个第三触点,其中,第三信号要由所有多个第三触点共享,并且其中,多个第三触点中的一个的连接性将基于第一信号、以及多个第二信号中的一个来检测。
15.根据权利要求14所述的打印机,其中,第一信号、以及多个第二信号中的一个用于激活第一下拉电路,并且第一信号、以及多个第二信号中的另一个用于禁用第二下拉电路。
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1332412A (zh) * 2000-06-30 2002-01-23 精工爱普生株式会社 打印材料容器的存取
CN1395526A (zh) * 2000-11-20 2003-02-05 精工爱普生株式会社 打印记录材料容器的识别
US20050093568A1 (en) * 2003-10-17 2005-05-05 Nec Electronics Corporation Semiconductor logic circuit device having pull-up/pull-down circuit for input buffer pad and wafer-probing testing method therefor
CN101034127A (zh) * 2006-02-16 2007-09-12 奇梦达股份公司 使用共用的测试器通道检验各探针接触
US20110276726A1 (en) * 2010-02-22 2011-11-10 Seiko Epson Corporation Storage device, board, liquid container and system
CN103324067A (zh) * 2012-03-23 2013-09-25 富士施乐株式会社 检测设备和方法以及图像形成设备
CN103493142A (zh) * 2011-03-02 2014-01-01 桑迪士克科技股份有限公司 用于接合的配置垫连续性检查的***和方法
US20140063090A1 (en) * 2012-08-31 2014-03-06 Seiko Epson Corporation Printing Apparatus and Ink Pack Set

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5363134A (en) 1992-05-20 1994-11-08 Hewlett-Packard Corporation Integrated circuit printhead for an ink jet printer including an integrated identification circuit
US5870408A (en) 1996-04-30 1999-02-09 Sun Microsystems, Inc. Method and apparatus for on die testing
US6551844B1 (en) 1997-01-15 2003-04-22 Formfactor, Inc. Test assembly including a test die for testing a semiconductor product die
US6986085B2 (en) 2002-03-08 2006-01-10 Agilent Technologies, Inc. Systems and methods for facilitating testing of pad drivers of integrated circuits
US7026646B2 (en) 2002-06-20 2006-04-11 Micron Technology, Inc. Isolation circuit
US6963212B2 (en) 2004-03-23 2005-11-08 Agilent Technologies, Inc. Self-testing input/output pad

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1332412A (zh) * 2000-06-30 2002-01-23 精工爱普生株式会社 打印材料容器的存取
CN1395526A (zh) * 2000-11-20 2003-02-05 精工爱普生株式会社 打印记录材料容器的识别
US20050093568A1 (en) * 2003-10-17 2005-05-05 Nec Electronics Corporation Semiconductor logic circuit device having pull-up/pull-down circuit for input buffer pad and wafer-probing testing method therefor
CN101034127A (zh) * 2006-02-16 2007-09-12 奇梦达股份公司 使用共用的测试器通道检验各探针接触
US20110276726A1 (en) * 2010-02-22 2011-11-10 Seiko Epson Corporation Storage device, board, liquid container and system
CN103493142A (zh) * 2011-03-02 2014-01-01 桑迪士克科技股份有限公司 用于接合的配置垫连续性检查的***和方法
CN103324067A (zh) * 2012-03-23 2013-09-25 富士施乐株式会社 检测设备和方法以及图像形成设备
US20140063090A1 (en) * 2012-08-31 2014-03-06 Seiko Epson Corporation Printing Apparatus and Ink Pack Set

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