CN113219327A - 一种基于环形器的上下行衰减移相测试*** - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于环形器的上下行衰减移相测试***,包括衰减移相单元,用于对电磁信号进行振幅衰减处理和相位移相处理,其特征在于:还包括与衰减移相单元的输入端和输出端分别连接的第一功分器单元和第二功分器单元,第一功分器单元的另一端连接有第一环形器单元,第二功分器单元的另一端连接有第二环形器单元,第一环形器单元和第二环形器单元内分别设有若干个环形器,若干所述环形器内设有上行通路和下行通路。本发明提供了一种基于环形器的上下行衰减移相测试***,通过设置环形器和上下行单独的功分器以及相应的衰减模块和移相模块,将上下行衰减模块和移相模块相分开,上行信道和下行信道可同时工作,实现了全双工通信。
Description
技术领域
本发明涉及测试***技术领域,具体为一种基于环形器的上下行衰减移相测试***。
背景技术
现有的衰减移相测试***一般用于TDD模式,上下行只能分时复用,上下行共用衰减模块和移相模块。M*N衰减移相矩阵将基站发出的M路信号通过衰减和移相处理转换为N路信号到终端;同样的终端发出N路信号通过衰减和移相处理转换为M路信号到基站,此时用到的衰减模块和移相模块是共用的,所有的值需要重新设置,且不能同时进行。
发明内容
本发明的目的在于提供了一种基于环形器的上下行衰减移相测试***,通过建立质量不同的分层视频信息以及同步操作命令的控制方式,解决了过片时的***延迟和画质不稳定的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种基于环形器的上下行衰减移相测试***,包括衰减移相单元,用于对电磁信号进行振幅衰减处理和相位移相处理,还包括与所述衰减移相单元的输入端和输出端分别连接的第一功分器单元和第二功分器单元,所述第一功分器单元的另一端连接有第一环形器单元,所述第二功分器单元的另一端连接有第二环形器单元,所述第一环形器单元和所述第二环形器单元内分别设有若干个环形器,若干所述环形器内设有上行通路和下行通路。
优选的,所述第一功分器单元和第二功分器单元分别包含若干功分器,若干所述环形器的上行通路和所述下行通路分别连接不同的功分器。
优选的,所述第一功分器单元内包含若干第一上行功分器和相同数量的若干第一下行功分器,第二功分器单元内包含若干第二上行功分器和相同数量的若干第二下行功分器。
优选的,定义第一环形器单元为信号接收端,第二环形器单元为信号发送端,所述第一环形器单元内的上行通路和第一上行功分器相连接形成第一上行通路;所述第一环形器单元内的下行通路和第一下行功分器相连接形成第一下行通路;所述第二环形器单元内的上行通路和第二上行功分器相连接形成第二上行通路;所述第二环形器单元内的下行通路和第二下行功分器相连接形成第二下行通路。
优选的,所述衰减移相单元内包括若干并行连接的衰减移相回路,所述衰减移相回路包括串联连接的衰减模块和移相模块,所述衰减模块和所述移相模块的数量相同且为偶数。
优选的,所述衰减移相单元与控制单元相连接,所述控制单元用于调节所述衰减移相单元的衰减参数或移相参数。
优选的,所述第一环形器单元内环形器的数量为M个,所述第二环形器单元内环形器的数量为N个,且所述环形器均为三端口器件,所述衰减移相单元内的衰减移相回路的路数为M*N。
优选的,所述第一上行功分器的数量和所述第一下行功分器的数量相同,且均为M个,所述第一上行功分器和所述第一下行功分器均为1/N类型的功分器。
优选的,所述第二上行功分器的数量和所述第二下行功分器的数量相同,且均为N个,所述第二上行功分器和所述第二下行功分器均为1/M类型的功分器。
优选的,M个所述第一上行功分器均连接有N条衰减移相回路,N条所述衰减移相回路的另一端分别与N个所述第二上行功分器的第一接收端相连接;M个所述第一下行功分器均连接有N条衰减移相回路,N条所述衰减移相回路的另一端分别与N个所述第二下行功分器的第一接收端相连接。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
本发明的测试***包括环形器、功分器、衰减模块和移相模块,将上下行衰减模块和移相模块分开,通过控制器进行单独控制,上行信道和下行信道同时工作,用于FDD模式,并采用3端口器件环形器实现了上下行信号的隔离。
附图说明
图1为本发明一种基于环形器的上下行衰减移相测试***的连接示意图;
图2为本发明一种基于环形器的上下行衰减移相测试***内各单元连接框图;
图3为本发明一种基于环形器的上下行衰减移相测试***的拓扑图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
如图1和图2所示,为本发明的衰减移相测试***的连接示意图,图中左侧为信号基站,用于向位于中间的该衰减移相测试***提供初始信号,将该衰减移相测试***与信号基站的连接端定义为信号接收端,图中最右侧为待测量装置,该衰减移相测试***的输出端与该测量装置相连接,将衰减移相测试***与测量装置的连接端定义为信号发送端。该衰减移相测试***用于将信号基站的初始信号进行衰减移相处理(即幅度和相位上的变化)并将相应的信号输送至带测量装置进行***测试,同时将测量装置的反馈信号利用反向通道传送至信号基站进行信号分析和处理。本发明的测试***通过设置环形器和上下行相对应的单独的功分器,以及相应的衰减模块和移相模块,将上下行衰减模块和移相模块相分开,上行信道和下行信道可同时工作,实现了全双工通信。
如图3所示,本发明提供的第一种实施例,一种基于环形器的上下行衰减移相测试***,一种基于环形器的上下行衰减移相测试***,包括衰减移相单元,用于对电磁信号进行振幅衰减处理和相位移相处理,还包括与所述衰减移相单元的输入端和输出端分别连接的第一功分器单元和第二功分器单元,所述第一功分器单元的另一端连接有第一环形器单元,所述第二功分器单元的另一端连接有第二环形器单元,所述第一环形器单元和所述第二环形器单元内分别设有若干个环形器,若干所述环形器内设有上行通路和下行通路。第一功分器单元和第二功分器单元分别包含若干功分器,若干所述环形器的上行通路和所述下行通路分别连接不同的功分器;且所述第一功分器单元内包含若干第一上行功分器和相同数量的若干第一下行功分器,第二功分器单元内包含若干第二上行功分器和相同数量的若干第二下行功分器;通过设置上行功分器和下行功分器,并采用3端口器件环形器实现了上下行信号的隔离,将上下行衰减模块和移相模块分开,并通过控制器进行单独控制,上行信道和下行信道同时工作,可工作于FDD模式(全双工通信)。
优选的,定义第一环形器单元为信号接收端,第二环形器单元为信号发送端,所述第一环形器单元内的上行通路和第一上行功分器相连接形成第一上行通路;所述第一环形器单元内的下行通路和第一下行功分器相连接形成第一下行通路;所述第二环形器单元内的上行通路和第二上行功分器相连接形成第二上行通路;所述第二环形器单元内的下行通路和第二下行功分器相连接形成第二下行通路。
优选的,所述衰减移相单元内包括若干并行连接的衰减移相回路,所述衰减移相回路包括串联连接的衰减模块和移相模块,所述衰减模块和所述移相模块的数量相同且为偶数。
优选的,所述衰减移相单元与控制单元相连接,所述控制单元用于调节所述衰减移相单元的衰减参数或移相参数,由此实现对幅度和相位的参数的调节。
本发明提供的第二种实施例,与第一种实施例的不同之处在于,所述第一环形器单元内环形器的数量为M个,所述第二环形器单元内环形器的数量为N个,且所述环形器均为三端口器件,所述衰减移相单元内的衰减移相回路的路数为M*N;所述第一上行功分器的数量和所述第一下行功分器的数量相同,且均为M个,所述第一上行功分器和所述第一下行功分器均为1/N类型的功分器;所述第二上行功分器的数量和所述第二下行功分器的数量相同,且均为N个,所述第二上行功分器和所述第二下行功分器均为1/M类型的功分器;M个所述第一上行功分器均连接有N条衰减移相回路,N条所述衰减移相回路的另一端分别与N个所述第二上行功分器的第一接收端相连接;M个所述第一下行功分器均连接有N条衰减移相回路,N条所述衰减移相回路的另一端分别与N个所述第二下行功分器的第一接收端相连接。
如图2所示,按照一定的排列次序,排在第一位的第一上行功分器连接的N条衰减移相回路的另一端分别与N个所述第二上行功分器的第一个接收端相连接;排在第二位的第一上行功分器连接的N条衰减移相回路的另一端分别与N个所述第二上行功分器的第二个接收端相连接;直至,排在第M位的第一上行功分器连接的N条衰减移相回路的另一端分别与N个所述第二上行功分器的第M个接收端相连接。
工作原理:本发明并采用三端口器件环形器实现了上下行信号的隔离,将上下行衰减模块和移相模块分开,通过控制器进行单独控制,可用于FDD工作模式。
工作时,该衰减移相测试***接收信号基站的初始信号,并对其进行衰减移相处理,然后将相应的信号输送至带测量装置进行***测试,同时将测量装置的反馈信号利用反向通道传送至信号基站进行信号分析和处理,通过设置环形器和上下行相对应的单独的功分器,以及相应的衰减模块和移相模块,将上下行衰减模块和移相模块相分开,上行信道和下行信道可同时工作,实现了全双工通信。
对于本领域技术人员而言,显然本发明不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本发明。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
Claims (10)
1.一种基于环形器的上下行衰减移相测试***,包括衰减移相单元,用于对电磁信号进行振幅衰减处理和相位移相处理,其特征在于:还包括与所述衰减移相单元的输入端和输出端分别连接的第一功分器单元和第二功分器单元,所述第一功分器单元的另一端连接有第一环形器单元,所述第二功分器单元的另一端连接有第二环形器单元,所述第一环形器单元和所述第二环形器单元内分别设有若干个环形器,若干所述环形器内设有上行通路和下行通路。
2.根据权利要求1所述的一种基于环形器的上下行衰减移相测试***,其特征在于:所述第一功分器单元和第二功分器单元分别包含若干功分器,若干所述环形器的上行通路和所述下行通路分别连接不同的功分器。
3.根据权利要求2所述的一种基于环形器的上下行衰减移相测试***,其特征在于:所述第一功分器单元内包含若干第一上行功分器和相同数量的若干第一下行功分器,第二功分器单元内包含若干第二上行功分器和相同数量的若干第二下行功分器。
4.根据权利要求3所述的一种基于环形器的上下行衰减移相测试***,其特征在于:定义第一环形器单元为信号接收端,第二环形器单元为信号发送端,所述第一环形器单元内的上行通路和第一上行功分器相连接形成第一上行通路;所述第一环形器单元内的下行通路和第一下行功分器相连接形成第一下行通路;所述第二环形器单元内的上行通路和第二上行功分器相连接形成第二上行通路;所述第二环形器单元内的下行通路和第二下行功分器相连接形成第二下行通路。
5.根据权利要求1-4中任一项权利要求所述的一种基于环形器的上下行衰减移相测试***,其特征在于:所述衰减移相单元内包括若干并行连接的衰减移相回路,所述衰减移相回路包括串联连接的衰减模块和移相模块,所述衰减模块和所述移相模块的数量相同且为偶数。
6.根据权利要求5所述的一种基于环形器的上下行衰减移相测试***,其特征在于:所述衰减移相单元与控制单元相连接,所述控制单元用于调节所述衰减移相单元的衰减参数或移相参数。
7.根据权利要求6所述的一种基于环形器的上下行衰减移相测试***,其特征在于:所述第一环形器单元内环形器的数量为M个,所述第二环形器单元内环形器的数量为N个,且所述环形器均为三端口器件,所述衰减移相单元内的衰减移相回路的路数为M*N。
8.根据权利要求7所述的一种基于环形器的上下行衰减移相测试***,其特征在于:所述第一上行功分器的数量和所述第一下行功分器的数量相同,且均为M个,所述第一上行功分器和所述第一下行功分器均为1/N类型的功分器。
9.根据权利要求8所述的一种基于环形器的上下行衰减移相测试***,其特征在于:所述第二上行功分器的数量和所述第二下行功分器的数量相同,且均为N个,所述第二上行功分器和所述第二下行功分器均为1/M类型的功分器。
10.根据权利要求9所述的一种基于环形器的上下行衰减移相测试***,其特征在于:M个所述第一上行功分器均连接有N条衰减移相回路,N条所述衰减移相回路的另一端分别与N个所述第二上行功分器的第一接收端相连接;M个所述第一下行功分器均连接有N条衰减移相回路,N条所述衰减移相回路的另一端分别与N个所述第二下行功分器的第一接收端相连接。
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