CN113176074B - 非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量***及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及非接触式Demura‑Gamma‑Flicker三合一测量***，包括模块：相机工作模式选择与切换模块：根据模式选择指令将彩色相机切换到对应的工作模式；图像采集模块：根据对应图像采集模式，获得采集的图像；数据处理模块：根据对应工作模式和采集的图像进行数据处理，获得数据处理结果。本发明还涉及测量方法，包括步骤：Flicker测量和校正，获得并保存Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据；或Demura测量和校正，获得并保存Demura工作模式下的补偿数据；或Gamma测量和校正，获得并保存Gamma工作模式下的补偿数据；进行数据烧录。本发明使相机同时具备高帧率、高分辨率工作模式，无需多个设备；无需设备切换；无需多次拆装设备；LED参数一次性烧录进LED。

Description

非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量***及方法
技术领域
本发明涉及LED检测技术领域，具体地涉及非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量***及方法。
背景技术
随着显示技术的快速发展，当前人们对显示设备的显示质量和性能要求也越来越高。显示器出场必须经过3个方面的检测和校正：Flicker、Demura和Gamma曲线。具体来说：
目前市面上生产的液晶面板因其生产工艺原因，总会存在一定程度的Flicker闪烁现象，当闪烁度越高，人眼越不适应，导致观看舒适度下降，所以在出厂前必须对每块液晶模组的闪烁度进行测量，并根据测量值调节相关参数，使Flicker闪烁度降到最小值。
Mura是显示器出现的人眼可识别的亮度和色度显示不均匀缺陷。目前由于LCD制程工艺的缺陷，材料、元器件、工艺的不稳定性差异导致面板像素在输出同样灰度的画面时亮度差异，造成mura；为提高面板显示效果，提升面板的品质和价格，所以需要对面板进行Demura校正，以减轻和消除mura。
Gamma曲线是液晶显示器的电光响应的曲线。对常人来说，人眼对光线的感应是一条非线性的光电曲线，并且对液晶显示器上的显示出的光线会感应出不一样的曲线，因此在设计LCD时，设计出专门的gamma曲线，以满足对人的眼睛的感光细胞，达到心理上良好的视觉效果。
现有技术对于Flicker、Demura和Gamma曲线的检测和校正采用的技术手段为：在Flicker的检测和校正流程、Demura的检测和校正流程和Gamma曲线的检测和校正流程中，分别使用不同的相机对LED进行拍摄。具体来说为：
Demura的检测和校正流程要求相机具有高分辨率，而另一方面，Flicker的检测和校正流程以及Gamma曲线的检测和校正流程则要求相机具有高帧率。尤其是进行Flick测量时，相机刷新频率达到显示屏刷新频率的3-4倍。
现有技术中，Flicker的检测和校正流程以及Gamma曲线的检测和校正流程常使用Konica Minolta公司的探头如CA310进行测量。
现有技术的缺陷如下：
1.由于相机的高分辨率往往使帧率受限，无法达到高帧率，从而导致3个检验和校正流程需要使用3个不同的设备，且要将LED在3个设备间进行设备切换，操作繁琐，工作效率低下；
2.由于Flicker的检测和校正流程以及Gamma曲线的检测和校正流程中大量使用的CA310探头为接触测量方式，且单次只能采集一个点的信息，从而导致设备拆装不便，且采集效率低下；
3.由于3个检验和校正流程所用设备相互独立，因此只能将每个流程最终校正好后的LED参数分别烧录进LED的BIOS，从而导致烧录过程要进行3次，非常费时。
发明内容
本发明针对上述问题，提供非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量***及方法，其目的在于使一台彩色相机同时具备高帧率和高分辨率工作模式，无需多个设备，也无需进行设备切换，无需多次拆装设备；将每个流程最终校正好后的LED参数一次性烧录进LED的BIOS。
为解决上述问题，本发明提供的技术方案为：
非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量***，包括以下模块：
相机工作模式选择与切换模块：用于根据模式选择指令将彩色相机切换到对应的工作模式，所述工作模式包括Demura工作模式、Gamma工作模式、Flicker工作模式；
图像采集模块：所述图像采集模块同时具有2种图像采集模式，分别为：高帧率图像采集模式和高分辨图像采集模式；所述图像采集模块根据彩色相机所对应的工作模式选择对应的所述图像采集模式，获得采集的图像；
数据处理模块：用于根据所述彩色相机对应的所述工作模式和所述采集的图像进行数据处理，获得数据处理结果；所述数据处理结果包括Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据、Gamma工作模式下的补偿数据和Demura工作模式下的补偿数据中的至少一种。
优选地，当彩色相机所对应的工作模式为Flicker工作模式或者Gamma工作模式时，所述图像采集模块工作在所述高帧率图像采集模式，所述数据处理模块根据所述彩色相机在高帧率图像采集模式下采集的图像获得Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据或者Gamma工作模式下的补偿数据。
优选地，所述图像采集模块工作在高帧率图像采集模式时，所述图像采集模块的感光芯片采用下采样方式读取数据。
优选地，所述下采样方式包括subsampling或binning方式。
优选地，当彩色相机所对应的工作模式为Demura工作模式时，所述图像采集模块工作在高分辨图像采集模式，所述数据处理模块根据所述彩色相机在高分辨率图像采集模式下采集的图像获得Demura工作模式下的补偿数据。
优选地，还包括存储模块和烧录模块，所述存储模块用于存储Demura工作模式输出的Demura工作模式下的补偿数据，或Gamma工作模式输出的Gamma工作模式下的补偿数据，或Flicker工作模式输出的Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据；所述烧录模块用于将所述Demura工作模式下的补偿数据，或所述Gamma工作模式下的补偿数据，或所述Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据进行烧录。
一种利用上述测量***的非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量方法，包括以下步骤：
S100.利用所述测量***对LED(2)进行Flicker测量和修复，获得并保存Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据；
或利用所述测量***对LED(2)进行Demura测量和修复，获得并保存Demura工作模式下的补偿数据；
或利用所述测量***对LED(2)进行Gamma测量和修复，获得并保存Gamma工作模式下的补偿数据；
S200.利用所述烧录模块(7)将所述Demura工作模式下的补偿数据，或所述Gamma工作模式下的补偿数据，或所述Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据进行烧录。
优选地，S100中所述利用所述测量***对LED(2)进行Flicker测量和修复，获得并保存Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据，具体包括以下步骤：
Sa110.利用所述相机工作模式选择与切换模块(3)向所述彩色相机(1)发出模式选择指令，将彩色相机(1)所对应的工作模式切换所述Flicker工作模式；
Sa120.利用所述彩色相机(1)在高帧率图像采集模式下对LED(2)进行图像采集，获得高帧率图像采集模式下采集的图像；
Sa130.利用数据处理模块(5)根据高帧率图像采集模式下采集的图像进行数据处理，获得所述Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据；
Sa140.根据所述Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据判断LED(2)的Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据是否低于人工预设的Flicker合格上限阈值，并根据判断结果作出如下操作：
如果LED(2)的Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据不低于所述Flicker合格上限阈值，则根据所述Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据对LED(2)进行Flicker参数调整操作，然后返回并重新执行Sa110；
否则，执行Sa150；
Sa150.利用所述存储模块(6)存储所述Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据。
优选地，S100中所述利用所述测量***对LED(2)进行Demura测量和修复，获得并保存Demura工作模式下的补偿数据，具体包括以下步骤：
Sb110.利用所述相机工作模式选择与切换模块(3)向所述彩色相机(1)发出模式选择指令，将彩色相机(1)所对应的工作模式切换所述Demura工作模式；
Sb120.利用所述彩色相机(1)在高分辨图像采集模式下对LED(2)进行图像采集，获得高分辨图像采集模式下采集的图像；
Sb130.利用数据处理模块(5)根据高分辨图像采集模式下采集的图像进行数据处理，获得所述Demura工作模式下的补偿数据；
Sb140.根据所述Demura工作模式下的补偿数据判断LED(2)的mura值是否低于人工预设的mura合格上限阈值，并根据判断结果作出如下操作：
如果LED(2)的mura值不低于所述mura合格上限阈值，则根据所述Demura工作模式下的补偿数据对LED(2)进行Demura修复操作，然后返回并重新执行Sb110；
否则，执行Sb150；
Sb150.利用所述存储模块(6)存储所述Demura工作模式下的补偿数据。
优选地，S100中所述利用所述测量***对LED(2)进行Gamma测量和修复，获得并保存Gamma工作模式下的补偿数据，具体包括以下步骤：
Sc110.利用所述相机工作模式选择与切换模块(3)向所述彩色相机(1)发出模式选择指令，将彩色相机(1)所对应的工作模式切换所述Gamma工作模式；
Sc120.利用所述彩色相机(1)在高帧率图像采集模式下对LED(2)进行图像采集，获得高帧率图像采集模式下采集的图像；
Sc130.利用数据处理模块(5)根据高帧率图像采集模式下采集的图像进行数据处理，获得所述Gamma工作模式下的补偿数据；
Sc140.根据所述Gamma工作模式下的补偿数据判断LED(2)的Gamma曲线与人工预设的标准Gamma曲线之间的拟合度是否高于人工预设的Gamma曲线拟合度下限阈值，并根据判断结果作出如下操作：
LED(2)的Gamma曲线与人工预设的标准Gamma曲线之间的不高于人工预设的Gamma曲线拟合度下限阈值，则根据所述Gamma工作模式下的补偿数据对LED(2)进行Gamma修复操作，然后返回并重新执行Sc110；
否则，执行Sc150；
Sc150.利用所述存储模块(6)存储所述Gamma工作模式下的补偿数据。
本发明与现有技术对比，具有以下优点：
1.由于本发明的检测方法在高帧率图像采集模式时，图像采集模块的感光芯片采用下采样方式读取数据，从而能使一台彩色相机同时具备高帧率和高分辨率工作模式，无需多个设备；
2.由于本发明的测量***在3个检验和校正流程中都使用同一个同时具备高帧率和高分辨率工作模式的彩色相机，共用工位，分时采集，从而无需进行设备切换，极大简化了操作繁琐程度，极大提高了工作效率；
3.由于本发明的检测***3个检验和校正流程中都采用非接触式测量方式，且单次可采集多个点的信息，从而无需多次拆装设备，且采集效率大增；
4.由于3个检验和校正流程采用同一套设备，因此可以将每个流程最终校正好后的LED参数一次性烧录进LED的BIOS，从而导致烧录过程只需要要进行1次，非常省时，在LED检测技术领域意义十分重大。
附图说明
图1为本发明具体实施例的测量***的结构示意图；
图2为本发明具体实施例的测量方法的流程示意图。
其中：1.彩色相机，2.LED，3.相机工作模式选择与切换模块，4.图像采集模块，5.数据处理模块，6.存储模块，7.烧录模块。
具体实施方式
下面结合具体实施例，进一步阐明本发明，应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围，在阅读了本发明之后，本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。
如图1所示，一种非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量***，包括以下模块：
相机工作模式选择与切换模块3：用于根据模式选择指令将彩色相机1切换到对应的工作模式，工作模式包括Demura工作模式、Gamma工作模式、Flicker工作模式。
本具体实施例中，采用同时具备高帧率和高分辨率工作模式的彩色相机1芯片的彩色相机1，然后只用在相机工作模式选择与切换模块3的控制下即可切换工作模式，无需切换检测设备；这样做的目的在于节省现有技术中由于彩色相机1只有单一工作模式，从而必须不停切换检测设备才能完成3种工作模式的检测的问题。
本具体实施例中，芯片可使用同时支持高帧率模式558.55帧，高分辨模式9568*6380的cmos芯片。
图像采集模块4：图像采集模块4同时具有2种图像采集模式，分别为：高帧率图像采集模式和高分辨图像采集模式；图像采集模块4根据彩色相机1所对应的工作模式选择对应的图像采集模式，获得采集的图像。
数据处理模块5：用于根据彩色相机1对应的工作模式和采集的图像进行数据处理，获得数据处理结果；数据处理结果包括Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据、Gamma工作模式下的补偿数据和Demura工作模式下的补偿数据中的至少一种。
本具体实施例中，数据处理模块5还根据数据处理结果生成相机校正数据和面板校正数据，并将面板校正数据实时发送给LED2，将相机校正数据发送给彩色相机1，以此实现自动检测和校正。
具体来说：
当彩色相机1所对应的工作模式为Flicker工作模式或者Gamma工作模式时，图像采集模块4工作在高帧率图像采集模式。这是因为Flicker检测和Gamma检测需要的是高帧频数据；其中：
图像采集模块4工作在高帧率图像采集模式时，图像采集模块4的感光芯片采用下采样方式读取数据。下采样方式有两种，包括subsampling或binning方式；无论是subsampling还是binning方式，都是通过采用间隔采样提高速度，降低分辨率以实现高帧率采集。此外，彩色相机1通过成像方式进行采集，是非接触式采集，单次可采集多个点的信息，提高工作效率。
现有技术的Flicker测量和Gamma测量，都是采用接触测量方式，且单次只能采集一个点的信息。相比较而言，本发明的非接触式采集和单次多点采集都能非常显著的提高采集效率，减少工作复杂程度。
数据处理模块5根据彩色相机1在高帧率图像采集模式下采集的图像获得Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据或者Gamma工作模式下的补偿数据。
当彩色相机1所对应的工作模式为Demura工作模式时，图像采集模块4工作在高分辨图像采集模式。
数据处理模块5根据彩色相机1在高分辨率图像采集模式下采集的图像获得Demura工作模式下的补偿数据。
本测量***还包括存储模块6和烧录模块7，其中：
存储模块6用于存储Demura工作模式输出的Demura工作模式下的补偿数据、Gamma工作模式输出的Gamma工作模式下的补偿数据、Flicker工作模式输出的Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据。
烧录模块7用于将Demura工作模式下的补偿数据，或Gamma工作模式下的补偿数据，或Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据进行烧录。
如图2所示，本发明还涉及一种利用上述测量***的非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量方法，包括以下步骤：
S100.利用测量***对LED2进行Flicker测量和修复，获得并保存Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据；
或利用测量***对LED2进行Demura测量和修复，获得并保存Demura工作模式下的补偿数据；
或利用测量***对LED2进行Gamma测量和修复，获得并保存Gamma工作模式下的补偿数据；
S200.利用烧录模块7将Demura工作模式下的补偿数据，或Gamma工作模式下的补偿数据，或Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据进行烧录。
具体来说，如果是利用测量***对LED2进行Flicker测量和修复，获得并保存Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据，则具体包括以下步骤：
Sa110.利用相机工作模式选择与切换模块3向彩色相机1发出模式选择指令，将彩色相机1所对应的工作模式切换Flicker工作模式；
Sa120.利用彩色相机1在高帧率图像采集模式下对LED2进行图像采集，获得高帧率图像采集模式下采集的图像；
Sa130.利用数据处理模块5根据高帧率图像采集模式下采集的图像进行数据处理，获得Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据；
Sa140.根据Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据判断LED2的Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据是否低于人工预设的Flicker合格上限阈值，并根据判断结果作出如下操作：
如果LED2的Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据不低于Flicker合格上限阈值，则根据Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据对LED2进行Flicker参数调整操作，然后返回并重新执行Sa110；
否则，执行Sa150；
Sa150.利用存储模块6存储Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据。
如果是利用测量***对LED2进行Demura测量和修复，获得并保存Demura工作模式下的补偿数据，则具体包括以下步骤：
Sb110.利用相机工作模式选择与切换模块3向彩色相机1发出模式选择指令，将彩色相机1所对应的工作模式切换Demura工作模式；
Sb120.利用彩色相机1在高分辨图像采集模式下对LED2进行图像采集，获得高分辨图像采集模式下采集的图像；
Sb130.利用数据处理模块5根据高分辨图像采集模式下采集的图像进行数据处理，获得Demura工作模式下的补偿数据；
Sb140.根据Demura工作模式下的补偿数据判断LED2的mura值是否低于人工预设的mura合格上限阈值，并根据判断结果作出如下操作：
如果LED2的mura值不低于mura合格上限阈值，则根据Demura工作模式下的补偿数据对LED2进行Demura修复操作，然后返回并重新执行Sb110；
否则，执行Sb150；
Sb150.利用存储模块6存储Demura工作模式下的补偿数据。
如果是利用测量***对LED2进行Gamma测量和修复，获得并保存Gamma工作模式下的补偿数据，则具体包括以下步骤：
Sc110.利用相机工作模式选择与切换模块3向彩色相机1发出模式选择指令，将彩色相机1所对应的工作模式切换Gamma工作模式；
Sc120.利用彩色相机1在高帧率图像采集模式下对LED2进行图像采集，获得高帧率图像采集模式下采集的图像；
Sc130.利用数据处理模块5根据高帧率图像采集模式下采集的图像进行数据处理，获得Gamma工作模式下的补偿数据；
Sc140.根据Gamma工作模式下的补偿数据判断LED2的Gamma曲线与人工预设的标准Gamma曲线之间的拟合度是否高于人工预设的Gamma曲线拟合度下限阈值，并根据判断结果作出如下操作：
LED2的Gamma曲线与人工预设的标准Gamma曲线之间的不高于人工预设的Gamma曲线拟合度下限阈值，则根据Gamma工作模式下的补偿数据对LED2进行Gamma修复操作，然后返回并重新执行Sc110；
否则，执行Sc150；
Sc150.利用存储模块6存储Gamma工作模式下的补偿数据。
在上述的详细描述中，各种特征一起组合在单个的实施方案中，以简化本公开。不应该将这种公开方法解释为反映了这样的意图，即，所要求保护的主题的实施方案需要比清楚地在每个权利要求中所陈述的特征更多的特征。相反，如所附的权利要求书所反映的那样，本发明处于比所公开的单个实施方案的全部特征少的状态。因此，所附的权利要求书特此清楚地被并入详细描述中，其中每项权利要求独自作为本发明单独的优选实施方案。
为使本领域内的任何技术人员能够实现或者使用本发明，上面对所公开实施例进行了描述。对于本领域技术人员来说；这些实施例的各种修改方式都是显而易见的，并且本文定义的一般原理也可以在不脱离本公开的精神和保护范围的基础上适用于其它实施例。因此，本公开并不限于本文给出的实施例，而是与本申请公开的原理和新颖性特征的最广范围相一致。
上文的描述包括一个或多个实施例的举例。当然，为了描述上述实施例而描述部件或方法的所有可能的结合是不可能的，但是本领域普通技术人员应该认识到，各个实施例可以做进一步的组合和排列。因此，本文中描述的实施例旨在涵盖落入所附权利要求书的保护范围内的所有这样的改变、修改和变型。此外，就说明书或权利要求书中使用的术语“包含”，该词的涵盖方式类似于术语“包括”，就如同“包括，”在权利要求中用作衔接词所解释的那样。此外，使用在权利要求书的说明书中的任何一个术语“或”是要表示“非排它性的或者”。
以上所述的具体实施方式，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施方式而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量***，其特征在于：包括以下模块：
相机工作模式选择与切换模块(3)：用于根据模式选择指令将彩色相机(1)切换到对应的工作模式，所述工作模式包括Demura工作模式、Gamma工作模式、Flicker工作模式；
图像采集模块(4)：所述图像采集模块(4)同时具有2种图像采集模式，分别为：高帧率图像采集模式和高分辨图像采集模式；所述图像采集模块(4)根据彩色相机(1)所对应的工作模式选择对应的所述图像采集模式，获得采集的图像；
数据处理模块(5)：用于根据所述彩色相机(1)对应的所述工作模式和所述采集的图像进行数据处理，获得数据处理结果；所述数据处理结果包括Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据、Gamma工作模式下的补偿数据和Demura工作模式下的补偿数据中的至少一种。
2.根据权利要求1所述的非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量***，其特征在于：当彩色相机(1)所对应的工作模式为Flicker工作模式或者Gamma工作模式时，所述图像采集模块(4)工作在所述高帧率图像采集模式，所述数据处理模块(5)根据所述彩色相机(1)在高帧率图像采集模式下采集的图像获得Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据或者Gamma工作模式下的补偿数据。
3.根据权利要求2所述的非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量***，其特征在于：所述图像采集模块(4)工作在高帧率图像采集模式时，所述图像采集模块(4)的感光芯片采用下采样方式读取数据。
4.根据权利要求3所述的非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量***，其特征在于：所述下采样方式包括subsampling或binning方式。
5.根据权利要求1所述的非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量***，其特征在于：当彩色相机(1)所对应的工作模式为Demura工作模式时，所述图像采集模块(4)工作在高分辨图像采集模式，所述数据处理模块(5)根据所述彩色相机(1)在高分辨率图像采集模式下采集的图像获得Demura工作模式下的补偿数据。
6.根据权利要求1所述的非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量***，其特征在于：还包括存储模块(6)和烧录模块(7)，所述存储模块(6)用于存储Demura工作模式输出的Demura工作模式下的补偿数据，或Gamma工作模式输出的Gamma工作模式下的补偿数据，或Flicker工作模式输出的Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据；所述烧录模块(7)用于将所述Demura工作模式下的补偿数据，或所述Gamma工作模式下的补偿数据，或所述Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据同时进行烧录。
7.一种利用权利要求1～6任一所述的测量***的非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量方法，其特征在于：包括以下步骤：
S100.利用所述测量***对LED(2)进行Flicker测量和修复，获得并保存Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据；
或利用所述测量***对LED(2)进行Demura测量和修复，获得并保存Demura工作模式下的补偿数据；
或利用所述测量***对LED(2)进行Gamma测量和修复，获得并保存Gamma工作模式下的补偿数据；
S200.利用烧录模块(7)将所述Demura工作模式下的补偿数据，或所述Gamma工作模式下的补偿数据，或所述Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据进行烧录。
8.一种根据权利要求7所述的测量***的非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量方法，其特征在于：S100中所述利用所述测量***对LED(2)进行Flicker测量和修复，获得并保存Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据，具体包括以下步骤：
Sa110.利用所述相机工作模式选择与切换模块(3)向所述彩色相机(1)发出模式选择指令，将彩色相机(1)所对应的工作模式切换所述Flicker工作模式；
Sa120.利用所述彩色相机(1)在高帧率图像采集模式下对LED(2)进行图像采集，获得高帧率图像采集模式下采集的图像；
Sa130.利用数据处理模块(5)根据高帧率图像采集模式下采集的图像进行数据处理，获得所述Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据；
Sa140.根据所述Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据判断LED(2)的Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据是否低于人工预设的Flicker合格上限阈值，并根据判断结果作出如下操作：
如果LED(2)的Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据不低于所述Flicker合格上限阈值，则根据所述Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据对LED(2)进行Flicker参数调整操作，然后返回并重新执行Sa110；
否则，执行Sa150；
Sa150.利用存储模块(6)存储所述Flicker工作模式下的显示器亮度抖动数据。
9.一种根据权利要求8所述的测量***的非接触式Demura-Gamma-Flicker三合一测量方法，其特征在于：S100中所述利用所述测量***对LED(2)进行Demura测量和修复，获得并保存Demura工作模式下的补偿数据，具体包括以下步骤：
Sb110.利用所述相机工作模式选择与切换模块(3)向所述彩色相机(1)发出模式选择指令，将彩色相机(1)所对应的工作模式切换所述Demura工作模式；
Sb120.利用所述彩色相机(1)在高分辨图像采集模式下对LED(2)进行图像采集，获得高分辨图像采集模式下采集的图像；
Sb130.利用数据处理模块(5)根据高分辨图像采集模式下采集的图像进行数据处理，获得所述Demura工作模式下的补偿数据；
Sb140.根据所述Demura工作模式下的补偿数据判断LED(2)的mura值是否低于人工预设的mura合格上限阈值，并根据判断结果作出如下操作：
如果LED(2)的mura值不低于所述mura合格上限阈值，则根据所述Demura工作模式下的补偿数据对LED(2)进行Demura修复操作，然后返回并重新执行Sb110；
否则，执行Sb150；
Sb150.利用所述存储模块(6)存储所述Demura工作模式下的补偿数据。
10.一种根据权利要求9所述的测量***的非接触式
Demura-Gamma-Flicker三合一测量方法，其特征在于：S100中所述利用所述测量***对LED(2)进行Gamma测量和修复，获得并保存Gamma工作模式下的补偿数据，具体包括以下步骤：
Sc110.利用所述相机工作模式选择与切换模块(3)向所述彩色相机(1)发出模式选择指令，将彩色相机(1)所对应的工作模式切换所述Gamma工作模式；
Sc120.利用所述彩色相机(1)在高帧率图像采集模式下对LED(2)进行图像采集，获得高帧率图像采集模式下采集的图像；
Sc130.利用数据处理模块(5)根据高帧率图像采集模式下采集的图像进行数据处理，获得所述Gamma工作模式下的补偿数据；
Sc140.根据所述Gamma工作模式下的补偿数据判断LED(2)的Gamma曲线与人工预设的标准Gamma曲线之间的拟合度是否高于人工预设的Gamma曲线拟合度下限阈值，并根据判断结果作出如下操作：
LED(2)的Gamma曲线与人工预设的标准Gamma曲线之间的不高于人工预设的Gamma曲线拟合度下限阈值，则根据所述Gamma工作模式下的补偿数据对LED(2)进行Gamma修复操作，然后返回并重新执行Sc110；
否则，执行Sc150；
Sc150.利用所述存储模块(6)存储所述Gamma工作模式下的补偿数据。
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