CN113160729B - 显示模组及其测试方法和显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种显示模组及其测试方法和显示装置。显示模组包括显示面板、驱动芯片和柔性电路板；驱动芯片和柔性电路板均绑定在显示面板的非显示区；驱动芯片的输出引脚与显示面板上的第一引脚绑定连接组成输出绑定单元；输出绑定测试结构包括主测试结构和副测试结构，主测试结构包括第一测试结构和第二测试结构，第一测试结构包括串联连接的两个输出绑定单元，第二测试结构用于在阻抗测试时向第一测试结构传递测试信号；副测试结构的阻抗和第二测试结构的阻抗相同。分别对主测试结构和副测试结构进行阻抗测试，然后比较测试结果能够得到输出引脚与显示面板绑定连接的绑定阻抗，实现对输出引脚绑定阻抗大小的准确检测。

Description

显示模组及其测试方法和显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示模组及其测试方法和显示装置。

背景技术

目前的显示技术中，驱动显示面板工作的驱动芯片需要绑定在显示面板之上，柔性电路板绑定在显示面板的一端，驱动芯片通过柔性电路板连接到主板芯片。在显示面板出厂之前，需要对驱动芯片与显示面板绑定连接的可靠性进行测试，以避免绑定连接不良的产品出厂。在对驱动芯片的输出引脚(连接到显示面板中信号线的引脚)与显示面板绑定连接可靠性测试时，通常需要在显示面板中设置较长的金属走线，而显示面板上设置的金属走线阻抗较高，引脚绑定连接的阻抗要远小于金属走线的阻抗，由此导致测试时输出引脚绑定连接的阻抗的差异不能很好的表现出来，不能准确的检测出输出引脚绑定异常的情况。

发明内容

本发明实施例提供一种显示模组及其测试方法和显示装置，以解决现有技术中驱动芯片的输出引脚与显示面板绑定连接的绑定异常情况不易检出的技术问题。

第一方面，本发明实施例提供一种显示模组，包括：包括显示面板、驱动芯片和柔性电路板；驱动芯片和柔性电路板均绑定在显示面板的非显示区，且柔性电路板绑定在驱动芯片的远离显示面板的显示区的一侧；

驱动芯片包括多个输出引脚和多个输入引脚，输出引脚位于输入引脚的靠近显示区的一侧，输入引脚和输出引脚均与显示面板绑定连接；显示面板包括多个第一引脚，输出引脚与第一引脚绑定连接组成输出绑定单元；

显示模组包括输出绑定测试结构，输出绑定测试结构用于测试输出引脚和显示面板绑定连接的绑定阻抗；其中，

输出绑定测试结构包括主测试结构和副测试结构，主测试结构包括第一测试结构和第二测试结构，第一测试结构包括串联连接的两个输出绑定单元，第二测试结构与第一测试结构电连接，第二测试结构用于在阻抗测试时向第一测试结构传递测试信号；副测试结构的阻抗和第二测试结构的阻抗相同。

第二方面，本发明实施例提供一种显示装置，包括本发明任意实施例提供的显示模组。

第三方面，本发明实施例提供一种显示模组的测试方法，显示模组包括显示面板、驱动芯片和柔性电路板；驱动芯片和柔性电路板均绑定在显示面板的非显示区，且柔性电路板绑定在驱动芯片的远离显示面板的显示区的一侧；

驱动芯片包括多个输出引脚和多个输入引脚，输出引脚位于输入引脚的靠近显示区的一侧，输入引脚和输出引脚均与显示面板绑定连接；显示面板包括多个第一引脚，输出引脚与第一引脚绑定连接组成输出绑定单元；

显示模组包括输出绑定测试结构，输出绑定测试结构包括主测试结构和副测试结构，主测试结构包括第一测试结构和第二测试结构，第一测试结构包括串联连接的两个输出绑定单元，第二测试结构与第一测试结构电连接，第二测试结构用于在阻抗测试时向第一测试结构传递测试信号；副测试结构的阻抗和第二测构的阻抗相同；测试方法包括：

对主测试结构进行阻抗测试得到第一阻抗，第一阻抗为第一测试结构的阻抗和第二测试结构的阻抗之和；

对副测试结构进行阻抗测试得到第二阻抗；

对第一阻抗和第二阻抗进行比较，得到输出绑定单元的阻抗。

本发明实施例提供的显示模组及其测试方法和显示装置，具有如下有益效果：设置显示模组包括输出绑定测试结构，输出绑定测试结构包括主测试结构和副测试结构，主测试结构包括相连接的第一测试结构和第二测试结构，第一测试结构包括串联连接的两个输出绑定单元，驱动芯片的输出引脚和位于显示面板上的第一引脚绑定连接组成输出绑定单元；副测试结构的阻抗和第二测试结构的阻抗相同。在阻抗测试时，并非直接对驱动芯片的输出引脚与显示面板绑定连接的绑定阻抗进行测试，而是通过分别对主测试结构和副测试结构进行阻抗测试，再进行比较计算来得到驱动芯片的输出引脚与显示面板绑定连接的绑定阻抗。本发明能够利用比较测量法对绑定阻抗进行测试，解决现有技术中面板上金属走线阻抗过大导致绑定阻抗异常不能准确检测的问题，实现对绑定阻抗大小的准确检测。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中一种显示模组示意图；

图2为本发明实施例提供的测试方法流程图；

图3为本发明实施例提供的一种显示模组示意图；

图4为图3中切线A-A'位置处一种截面示意图；

图5为图3中切线B-B'位置处一种截面示意图；

图6为本发明实施例提供的另一种显示模组示意图；

图7为图6中切线C-C'位置处一种截面示意图；

图8为图6中切线D-D'位置处一种截面示意图；

图9为本发明实施例提供的另一种显示模组示意图；

图10为本发明实施例提供的另一种显示模组示意图；

图11为本发明实施例提供的另一种显示模组示意图；

图12为本发明实施例提供的另一种显示模组示意图；

图13为本发明实施例提供的一种显示装置示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。

图1为现有技术中一种显示模组示意图，如图1所示，驱动芯片01绑定在显示面板02上，驱动芯片01包括输入引脚011和输出引脚012，其中，输入引脚011和输出引脚012分别与显示面板02上相应的绑定端(图中未示出)绑定连接。柔性电路板03绑定在显示面板02的一端，柔性电路板03包括连接引脚031，连接引脚031与显示面板02上相应的绑定端(图中未示出)绑定连接。图中示意出了驱动芯片01的输出绑定测试结构，由于显示面板02上的信号走线较密集，没有空间放置测试结构，因此现有设计将两个输出引脚012电连接，该两个输出引脚012与显示面板上的绑定端绑定连接后，再分别通过显示面板02上的走线041连接到柔性电路板03的连接引脚031，以用于对输出引脚012与绑定端绑定连接的阻抗进行测试，检测输出引脚012的绑定情况。由于输出引脚012一般位于输入引脚011的远离连接引脚031的一侧，则位于显示面板02上的走线041的长度较长，走线041一般与显示面板02膜层结构中的金属结构同层制作，导致走线041的阻抗较高，通常在110Ω左右。而输出引脚012与绑定端绑定连接的阻抗较低，通常小于5Ω。由此对绑定阻抗进行测试时输出引脚012绑定连接的阻抗的差异不能很好的表现出来，不能准确的检测出输出引脚012绑定异常的情况。

基于现有技术存在的问题，本发明实施例提供一种显示模组，显示模组包括输出绑定测试结构，输出绑定测试结构用于测试输出引脚和显示面板绑定连接的绑定阻抗。其中，输出绑定测试结构包括主测试结构和副测试结构，主测试结构包括第一测试结构和第二测试结构，第一测试结构包括串联连接的两个输出绑定单元，驱动芯片的输出引脚和位于显示面板上的第一引脚绑定连接组成输出绑定单元；第二测试结构与第一测试结构相连接，第二测试结构用于在阻抗测试时向第一测试结构传递测试信号，也即在对主测试结构的阻抗进行测试时，第二测试结构和第一测试结构在同一个电路结构中。并且副测试结构的阻抗和第二测试结构的阻抗相同。在阻抗测试时，并非直接对驱动芯片的输出引脚与显示面板绑定连接的绑定阻抗进行测试，而是通过分别对主测试结构和副测试结构进行阻抗测试，再进行比较计算来得到驱动芯片的输出引脚与显示面板绑定连接的绑定阻抗。利用比较测量法的方法对绑定阻抗进行测试，能够解决现有技术中面板上金属走线阻抗过大导致绑定阻抗异常不能准确检测的问题，实现对绑定阻抗大小的准确检测。

需要说明的是，本发明实施例中副测试结构的阻抗和第二测试结构的阻抗相同理解为两者阻抗大致相同，也即两者阻抗差异在一定误差范围内都可以认为阻抗相同。具体的，副测试结构的阻抗为Z1，第二测试结构的阻抗为Z2，其中，∣Z1-Z2∣≤4Ω。现有技术中通常管控单个输出引脚与显示面板绑定阻抗小于5Ω，在第一测试结构中包括串联连接的两个输出绑定单元，则主测试结构测试时需要管控绑定阻抗小于2*5Ω。设置∣Z1-Z2∣≤40％*10Ω，即副测试结构的阻抗和第二测试结构的阻抗差异小于绑定阻抗管控值的40％，确保阻抗测试时输出引脚的绑定不良能够明显的体现出来。

具体的，本发明实施例提供一种显示模组的测试方法，能够用于对本发明实施例提供的显示模组中驱动芯片的输出引脚与显示面板绑定连接的绑定阻抗进行测试。图2为本发明实施例提供的测试方法流程图，如图2所示，测试方法包括：

步骤S101：对主测试结构进行阻抗测试得到第一阻抗，其中，主测试结构包括第一测试结构和第二测试结构，则第一阻抗为第一测试结构的阻抗和第二测试结构的阻抗之和。

步骤S102：对副测试结构进行阻抗测试得到第二阻抗；本发明实施中，副测试结构的阻抗与第二测试结构的阻抗相同，也即第二测试结构的阻抗为低温阻抗。

步骤S103：对第一阻抗和第二阻抗进行比较，得到输出绑定单元的阻抗。通过对第一阻抗和第二阻抗做差值比较能够得到第一测试结构的阻抗，其中，第一测试结构包括两个串联连接的输出绑定单元，也即能够得到输出绑定单元的阻抗。

本发明实施例提供的测试方法，利用比较测量法的方法对输出绑定阻抗进行测试，能够解决现有技术中面板上金属走线阻抗过大导致绑定阻抗异常不能准确检测的问题，实现对绑定阻抗大小的准确检测。

具体的，在一种实施例中，图3为本发明实施例提供的一种显示模组示意图，图4为图3中切线A-A'位置处一种截面示意图。

如图3所示，显示模组包括显示面板10、驱动芯片20和柔性电路板30；驱动芯片20和柔性电路板30均绑定在显示面板10的非显示区BA，且柔性电路板30绑定在驱动芯片20的远离显示面板10的显示区AA的一侧。驱动芯片20包括多个输出引脚21和多个输入引脚22，输出引脚21位于输入引脚22的靠近显示区AA的一侧，输入引脚22和输出引脚21均与显示面板10绑定连接。其中，驱动芯片20的输入引脚22与柔性电路板30电连接，驱动芯片20的输出引脚21与显示面板10中的信号线电连接。

显示面板10包括多个第一引脚11、多个第二引脚和多个第一连接引脚。输出引脚21与第一引脚11绑定连接组成输出绑定单元，输入引脚22与第二引脚绑定连接组成输入绑定单元。柔性电路板30包括多个第二连接引脚，第二连接引脚与第一连接引脚绑定连接组成第三绑定单元。具体的，本发明实施例中输出绑定测试结构用于测试输出引脚和显示面板绑定连接的绑定阻抗，也即测试输出绑定单元的绑定阻抗。

具体的，如图4所示，驱动芯片20的输出引脚21和位于显示面板10上的第一引脚11绑定连接组成输出绑定单元C1。图中还示意出了异方性导电胶80，输出引脚21与第一引脚11通过异方性导电胶80绑定连接。

本发明实施例中输出测试结构包括主测试结构41和副测试结构42。其中，主测试结构41包括第一测试结构411和第二测试结构412，第一测试结构411包括串联连接的两个输出绑定单元C1，第二测试结构412与第一测试结构411电连接，第二测试结构412用于在阻抗测试时向第一测试结构411传递测试信号。副测试结构42的阻抗和第二测试结构412的阻抗相同。

如图3所示的，第二测试结构412包括位于显示面板10上的两条第一金属走线51，一条第一金属走线51电连接一个输出绑定单元C1。位于显示面板10上的第一金属走线51的一端连接到位于显示面板10上的第一引脚11，以实现第一金属走线51与输出绑定单元C1电连接。在主测试结构41中两个输出引脚21在驱动芯片20内部电连接，以实现两个输出绑定单元C1串联连接。

如图3所示，副测试结构42包括位于显示面板10上的一条第二金属走线52，第二金属走线52电阻等于两条第一金属走线51的电阻之和。需要说明的是，本发明实施例中第二金属走线52电阻等于两条第一金属走线51的电阻之和理解为第二金属走线52电阻与两条第一金属走线51的电阻之和大致相同，也即两者电阻差异在一定误差范围内都可以认为电阻相同。具体的，第二金属走线的电阻为R1，两条第一金属走线的电阻之和为R2，其中，∣R1-R2∣≤4Ω，即以使得副测试结构的阻抗和第二测试结构的阻抗差异小于绑定阻抗管控值的40％，确保阻抗测试时输出引脚的绑定不良能够明显的体现出来。

另外，本发明实施例中将第一金属线51和第二金属线52连接到柔性电路板30上的测试点上，以实现对绑定阻抗的测试。此种方式不需要在显示面板10上设置测试点，能够节省显示面板10的非显示区BA的空间。具体的，图5为图3中切线B-B'位置处一种截面示意图，如图5中示意的，显示面板10包括多个第一连接引脚13，柔性电路板30包括多个第二连接引脚31，第一连接引脚13和第二连接引脚31通过异方性导电胶绑定连接。第一金属走线51的一端连接一个输出绑定单元C1，另一端连接一个第一连接引脚13，实现输出绑定单元C1通过第一金属走线51、第一连接引脚13和第二连接引脚31能够连接到柔性电路板30上导线32，然后通过导线32连接相应的测试点(未示出)。第二金属走线52的两端分别连接一个第一连接引脚13，第二金属走线52通过第一连接引脚13、第二连接引脚31能够连接到柔性电路板30上的导线33，然后通过导线33连接相应的测试点(未示出)。具体的，导线32和导线33的长度相同，以保证绑定阻抗测试的准确性。

该实施方式提供的显示模组中，副测试结构包括位于显示面板上的第二金属走线，第二金属走线的电阻与第二测试结构中位于显示面板上的第一金属走线的电阻相同，则第二金属走线的阻抗与第一金属走线的阻抗相同。副测试结构的阻抗包括第二金属走线的阻抗、显示面板和柔性电路板绑定阻抗、以及位于柔性电路板上的电路结构的阻抗；主测试结构的阻抗包括第一金属走线的阻抗、输出绑定单元的阻抗、显示面板和柔性电路板绑定阻抗、以及位于柔性电路板上的电路结构的阻抗。在阻抗测试时对主测试结构的阻抗和副测试结构的阻抗分别进行测试，再通过比较计算能够得到输出绑定单元的阻抗，从而确定驱动芯片的输出引脚与显示面板绑定连接的绑定阻抗是否异常，通过比较测量法的方法对绑定阻抗进行测试，解决了显示面板上金属走线阻抗过大导致绑定阻抗异常不能准确检测的问题，实现对绑定阻抗大小的准确检测。

继续参考图3所示的，显示模组还包括输入绑定测试结构60，输入绑定测试结构60用于测试输入引脚22和显示面板10绑定连接的绑定阻抗。也即输入绑定测试结构60用于测试输入绑定单元的阻抗。

继续参考图3所示的，显示模组还包括第三绑定测试结构70，第三绑定测试结构70用于测试柔性电路板30和显示面板10绑定连接的绑定阻抗。也即第三绑定测试结构70用于测试第三绑定单元的阻抗，具体的，在第三绑定测试结构70中，两个第三绑定单元串联连接，其中，该两个第三绑定单元中的位于显示面板上的两个第一连接引脚电连接，以实现串联。

具体的，位于显示面板10上的第一金属走线51和第二金属走线52同层同材料制作。第一金属走线51和第二金属走线52在同一工艺制程中制作，能够更易控制第二金属走线52电阻与两条第一金属走线51电阻之和相等。

在另一种实施例中，图6为本发明实施例提供的另一种显示模组示意图，图7为图6中切线C-C'位置处一种截面示意图，图8为图6中切线D-D'位置处一种截面示意图。如图6所示，显示模组包括显示面板10、驱动芯片20和柔性电路板30。显示面板10包括多个第一引脚和多个第二引脚，如图7所示的，输出引脚21与第一引脚11绑定连接组成输出绑定单元C1。如图8所示，输入引脚22与第二引脚12绑定连接组成输入绑定单元C2。

该实施例中输出测试结构包括主测试结构41和副测试结构42。其中，

主测试结构41包括第一测试结构411和第二测试结构412，第一测试结构411包括串联连接的两个输出绑定单元C1，第二测试结构412包括两个输入绑定单元C2，且在主测试结构41中输入绑定单元C2和输出绑定单元C1均串联连接。具体的，如图7中示意的，两个输出绑定单元C1中的两个第一引脚11电连接，以实现两个输出绑定单元C1串联。

副测试结构42的阻抗和第二测试结构412的阻抗相同。副测试结构42包括串联连接的两个输入绑定单元C2。具体的，两个输入引脚22在驱动芯片20内部电连接，以实现两个输入绑定单元C2串联连接。

该实施方式提供的显示模组中，在对主测试结构的阻抗和副测试结构的阻抗分别测试之后，再通过比较计算能够得到输出绑定单元的阻抗，从而确定驱动芯片的输出引脚与显示面板绑定连接的绑定阻抗是否异常，通过比较测量法的方法对绑定阻抗进行测试，解决了显示面板上金属走线阻抗过大导致绑定阻抗异常不能准确检测的问题，实现对绑定阻抗大小的准确检测。

具体的，在主测试结构41中：一个输入绑定单元C2、一个输出绑定单元C1、另一个输入绑定单元C1、另一个输出绑定单元C2依次串联；其中，驱动芯片20包括连接导线23，连接导线23的一端与输出绑定单元C1中的输出引脚21电连接，另一端与输入绑定单元C2中的输入引脚22电连接。连接导线23位于驱动芯片20内，在主测试结构41中，连接导线23的阻抗要明显小于输出引脚21和第一引脚11绑定连接的阻抗，则在对绑定阻抗进行测试时，连接导线23的阻抗不会影响输出引脚21和第一引脚11绑定连接异常的表现。

另外，可参考上述图5中示意的，显示面板10包括多个第一连接引脚13，柔性电路板30包括多个第二连接引脚31，第一连接引脚13和第二连接引脚31绑定连接构成第三绑定单元C3。如图6中所示的，主测试结构41还包括位于显示面板10上的第三金属走线53，第三金属走线53的一端与一个输入绑定单元C2电连接，另一端与第一连接引脚13电连接。也即，在主测试结构41中输入绑定单元C2连接到第三金属走线53、通过第三金属走线53连接到第一连接引脚13、再连接到第二连接引脚31、再连接到柔性电路板30上的测试点上。副测试结构42还包括位于显示面板上的第四金属走线54，第四金属走线54的一端与输入绑定单元C2电连接，另一端与第一连接引脚11电连接；在副测试结构42中，输入绑定单元C2通过第一连接引脚11、连接到第二连接引脚22、再连接到柔性电路板30上的测试点上。具体的，第三金属走线53的电阻和第四金属走线54的电阻相等。

其中，副测试结构的阻抗包括输入绑定单元的阻抗、显示面板和柔性电路板绑定阻抗(也接第三绑定单元的阻抗)、第四金属走线的阻抗、以及位于柔性电路板上的电路结构的阻抗；主测试结构的阻抗为第一测试结构的阻抗和第二测试结构的阻抗之和，其中，第一测试结构的阻抗包括输出绑定单元的阻抗，第二测试结构的阻抗包括输入绑定单元的阻抗、第三金属走线的阻抗、显示面板和柔性电路板绑定阻抗、以及位于柔性电路板上的电路结构的阻抗。在对主测试结构的阻抗和副测试结构的阻抗分别测试之后，再通过比较计算能够得到输出绑定单元的阻抗，从而确定驱动芯片的输出引脚与显示面板绑定连接的绑定阻抗是否异常，通过比较测量法的方法对绑定阻抗进行测试，解决了显示面板上金属走线阻抗过大导致绑定阻抗异常不能准确检测的问题，实现对绑定阻抗大小的准确检测。

具体的，图6实施例提供的显示模组中，显示模组还包括输入绑定测试结构60，输入绑定测试结构60用于测试输入引脚22和显示面板10绑定连接的绑定阻抗；其中，副测试结构42复用为输入绑定测试结构60。也即输出绑定结构中的部分结构能够实现对输入引脚与显示面板绑定连接的绑定阻抗进行测试，不需要再额外设置输入绑定测试结构，能够节省输入引脚的设置个数，相应的减少显示面板中第二引脚的个数，有利于节省空间。

在另一种实施例中，图9为本发明实施例提供的另一种显示模组示意图，如图9所示，第二测试结构412中的一个输入绑定单元C2(图中未标示，可参照上述图8进行理解)复用为副测试结构42中的一个输入绑定单元C2。也即第二测试结构412和副测试结构42共用一个输入绑定单元C2，能够节省输入引脚的设置个数，相应的减少显示面板中第二引脚的个数，有利于节省空间。

具体的，本发明实施例中第二测试结构412包括第一测试点，副测试结构42包括第二测试点；在进行阻抗测试时，将测试仪表(比如万用表)连接到第一测试点对主测试结构41的阻抗进行测试，将测试仪表连接到第二测试点对副测试结构42的阻抗进行测试。其中，第一测试点和第二测试点均位于柔性电路板30上，不需要在显示面板10上设置测试点，能够节省显示面板10的非显示区BA的空间。

在一种实施例中，图10为本发明实施例提供的另一种显示模组示意图，如图10所示，第一测试点和第二测试点均位于柔性电路板30上，第一测试点包括第一漏铜81，第二测试点包括第二漏铜82；如图中示意的，第二测试结构412包括输入绑定单元、第三绑定单元、位于显示面板上的金属线、位于柔性电路板30上的导线以及第一漏铜81，在阻抗测试时通过将测试仪表连接到第一漏铜81，以对主测试结构41的阻抗进行测试。相应的，副测试结构42包括输入绑定单元、第三绑定单元、位于显示面板上的金属线、位于柔性电路板30上的导线以及第二漏铜82，在阻抗测试时通过将测试仪表连接到第二漏铜82，以对副测试结构42的阻抗进行测试。该实施方式在柔性电路板上设置漏铜作为测试点，不需要在柔性电路板上增加测试引脚。

在另一种实施例中，图11为本发明实施例提供的另一种显示模组示意图，如图11所示，第一测试点包括第一测试引脚91，第二测试点包括第二测试引脚92。图中还示意出了柔性电路板30上的第三引脚33，第三引脚33用于实现柔性电路板30与***主板芯片的连接，第一测试引脚91和第二测试引脚92可以与第三引脚33在同样工艺制程中制作。在阻抗测试时将测试仪表连接到第一测试引脚91以实现对主测试结构41的阻抗进行测试，将测试仪表连接到第二测试引脚92以实现对副测试结构42的阻抗进行测试。

在另一种实施例中，图12为本发明实施例提供的另一种显示模组示意图，如图12所示，显示模组包括显示面板10、驱动芯片20和柔性电路板30；驱动芯片20和柔性电路板30均绑定在显示面板10的非显示区BA，且柔性电路板30绑定在驱动芯片20的远离显示面板10的显示区AA的一侧。驱动芯片20包括多个输出引脚21和多个输入引脚22，输出引脚21位于输入引脚22的靠近显示区AA的一侧，输入引脚22和输出引脚21均与显示面板10绑定连接。显示面板包括多个第一引脚，输出引脚21与第一引脚绑定连接组成输出绑定单元C1；对于输出绑定单元可以参照上述实施例进行理解，在此不再附图示意。

显示模组包括输出绑定测试结构，输出绑定测试结构包括输出绑定单元C1和测试电容Ct，输出绑定测试结构用于根据测试电容Ct充放电的延时测试输出引脚21和显示面板绑定连接的绑定阻抗。具体的，输出测试绑定结构包括位于驱动芯片20的检测模块23，检测模块23用于向输出绑定单元C1和测试电容Ct所在电路中提供脉冲信号，并检测测试电容Ct充放电的延时。

具体的，检测模块23与驱动芯片20中的通信模块电连接，通过通信模块连接到柔性电路板30中的电路走线，以实现回读检测模块23的检测结果。

该实施方式中，测试电容Ct和输出绑定单元C1组成电容延时电路，在显示模组制作完成之后，电路结构中的电容基本固定，根据延时公式T＝R*C，其中T为延时，R为电容延时电路中的电阻。通过检测电容充放电的延时能够确定R，进而能够确定输出绑定单元C1的阻抗。

具体的，检测模块23包括运算放大器和积分运算电路。该实施方式在驱动芯片20中设置检测模块23以实现对输出引脚与显示面板绑定连接的阻抗进行测试。

具体的，在一种实施例中，测试电容Ct的第一极板接地，测试电容Ct的第二极板与输出绑定单元C1电连接。

具体的，在另一种实施例中，输出绑定测试结构包括两个输出测试绑定单元C1，其中，两个输出绑定单元C1中的两个第一引脚电连接形成共电极；共电极复用为第二极板。

本发明实施例还提供一种显示装置，图13为本发明实施例提供的一种显示装置示意图，如图13所示，显示装置包括本发明任意实施例提供的显示模组100。对于显示模组100的结构，在上述显示模组实施例中已经说明，在此不再赘述。本发明实施例中显示装置可以是例如手机、平板计算机、笔记本电脑、电纸书、电视机、智能穿戴产品等任何具有显示功能的设备。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (14)

1.一种显示模组，其特征在于，包括显示面板、驱动芯片和柔性电路板；所述驱动芯片和所述柔性电路板均绑定在所述显示面板的非显示区，且所述柔性电路板绑定在所述驱动芯片的远离所述显示面板的显示区的一侧；

所述驱动芯片包括多个输出引脚和多个输入引脚，所述输出引脚位于所述输入引脚的靠近所述显示区的一侧，所述输入引脚和所述输出引脚均与所述显示面板绑定连接；所述显示面板包括多个第一引脚，所述输出引脚与所述第一引脚绑定连接组成输出绑定单元；

所述显示模组包括输出绑定测试结构，所述输出绑定测试结构用于测试所述输出引脚和所述显示面板绑定连接的绑定阻抗；其中，

所述输出绑定测试结构包括主测试结构和副测试结构，所述主测试结构包括第一测试结构和第二测试结构，所述第一测试结构包括串联连接的两个所述输出绑定单元，所述第二测试结构与所述第一测试结构电连接，所述第二测试结构用于在阻抗测试时向所述第一测试结构传递测试信号；所述副测试结构的阻抗和所述第二测试结构的阻抗相同。

2.根据权利要求1所述的显示模组，其特征在于，

所述第二测试结构包括位于所述显示面板上的两条第一金属走线，一条所述第一金属走线电连接一个所述输出绑定单元；

所述副测试结构包括位于所述显示面板上的一条第二金属走线，所述第二金属走线电阻等于两条所述第一金属走线的电阻之和。

3.根据权利要求2所述的显示模组，其特征在于，

所述第一金属走线和所述第二金属走线同层同材料。

4.根据权利要求2所述的显示模组，其特征在于，

所述显示面板包括多个第一连接引脚，所述柔性电路板包括多个第二连接引脚，所述第一连接引脚和所述第二连接引脚绑定连接；

所述第一金属走线的一端连接一个所述输出绑定单元，另一端连接一个所述第一连接引脚；

所述第二金属走线的两端分别连接一个所述第一连接引脚。

5.根据权利要求1所述的显示模组，其特征在于，

所述显示面板包括多个第二引脚，所述输入引脚与所述第二引脚绑定连接组成输入绑定单元；

所述第二测试结构包括两个所述输入绑定单元，且在所述主测试结构中所述输入绑定单元和所述输出绑定单元均串联连接；

所述副测试结构包括串联连接的两个所述输入绑定单元。

6.根据权利要求5所述的显示模组，其特征在于，

所述显示模组还包括输入绑定测试结构，所述输入绑定测试结构用于测试所述输入引脚和所述显示面板绑定连接的绑定阻抗；其中，

所述副测试结构复用为所述输入绑定测试结构。

7.根据权利要求5所述的显示模组，其特征在于，

所述显示面板包括多个第一连接引脚，所述柔性电路板包括多个第二连接引脚，所述第一连接引脚和所述第二连接引脚绑定连接；

所述第二测试结构包括位于所述显示面板上的第三金属走线，所述第三金属走线的一端与所述输入绑定单元电连接，另一端与所述第一连接引脚电连接；

所述副测试结构还包括位于所述显示面板上的第四金属走线，所述第四金属走线的一端与所述输入绑定单元电连接，另一端与所述第一连接引脚电连接；其中，

所述第三金属走线的电阻和所述第四金属走线的电阻相等。

8.根据权利要求5所述的显示模组，其特征在于，

所述第二测试结构中的一个所述输入绑定单元复用为所述副测试结构中的一个输入绑定单元。

9.根据权利要求5所述的显示模组，其特征在于，

在所述主测试结构中：一个所述输入绑定单元、一个所述输出绑定单元、另一个所述输出绑定单元、另一个所述输入绑定单元依次串联；其中，

所述驱动芯片包括连接导线，所述连接导线的一端与所述输出绑定单元中的所述输出引脚电连接，另一端与所述输入绑定单元中的所述输入引脚电连接。

10.根据权利要求5所述的显示模组，其特征在于，

两个所述输出绑定单元中的两个所述第一引脚电连接。

11.根据权利要求1所述的显示模组，其特征在于，

所述第二测试结构包括第一测试点，所述副测试结构包括第二测试点；所述第一测试点和所述第二测试点均位于所述柔性电路板上。

12.根据权利要求11所述的显示模组，其特征在于，

所述第一测试点包括第一漏铜，所述第二测试点包括第二漏铜；

或，所述第一测试点包括第一测试引脚，所述第二测试点包括第二测试引脚。

13.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1至12任一项所述的显示模组。

14.一种显示模组的测试方法，其特征在于，所述显示模组包括显示面板、驱动芯片和柔性电路板；所述驱动芯片和所述柔性电路板均绑定在所述显示面板的非显示区，且所述柔性电路板绑定在所述驱动芯片的远离所述显示面板的显示区的一侧；

所述驱动芯片包括多个输出引脚和多个输入引脚，所述输出引脚位于所述输入引脚的靠近所述显示区的一侧，所述输入引脚和所述输出引脚均与所述显示面板绑定连接；所述显示面板包括多个第一引脚，所述输出引脚与所述第一引脚绑定连接组成输出绑定单元；

所述显示模组包括输出绑定测试结构，所述输出绑定测试结构包括主测试结构和副测试结构，所述主测试结构包括第一测试结构和第二测试结构，所述第一测试结构包括串联连接的两个所述输出绑定单元，所述第二测试结构与所述第一测试结构电连接，所述第二测试结构用于在阻抗测试时向所述第一测试结构传递测试信号；所述副测试结构的阻抗和所述第二测试结构的阻抗相同；所述测试方法包括：

对所述主测试结构进行阻抗测试得到第一阻抗，所述第一阻抗为所述第一测试结构的阻抗和所述第二测试结构的阻抗之和；

对所述副测试结构进行阻抗测试得到第二阻抗；

对所述第一阻抗和所述第二阻抗进行比较，得到所述输出绑定单元的阻抗。

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