CN1131514C - 光拾取装置 - Google Patents

Abstract

光拾取装置包括：光源；光路改变装置；物镜，用于将记录介质反射的入射光聚焦，记录介质包括记录表面和保护层，光从保护层一侧输入；主光电探测器，接收从记录表面反射，并通过物镜和光通路检测装置的光，检测信息信号和/或错误信号；倾角检测单元，通过接收从光源发出的，并由记录介质的保护层表面或记录表面反射的光，检测记录介质的倾角。该装置不使用附加的倾角传感器，零件的数量减少，装置的结构简化。

Description

光拾取装置

技术领域

本发明涉及一种光拾取装置，特别是，一种可以检测物镜与记录介质之间相对倾角的光学装置。

背景技术

一般地，当光拾取装置在如安装在旋转台上旋转的光盘等记录介质上移动时，它能够记录/再现信息信号。当光盘的重量分布不均时，旋转的光盘会发生倾斜，记录/再现信号会恶化。

特别是，当光拾取装置采用的发光光源产生相对短的波长，且物镜采用较大数值孔径时，为了增加记录密度，主要由于光盘的倾角会产生彗形像差，记录/再现信号恶化更严重。

如图1所示的一种探测和修正光盘与相应透镜倾角的装置被用来防止记录/再现信号的恶化。

参考图1，支持物镜3的支架10可动地安装在主体20上。第一倾角传感器安装在主体20的顶端部22的外表面，面对光盘1；而第二倾角传感器安装在顶端部22的内表面。反射盘17安装在支架10的上端面，面对第二倾角传感器。这里，绕组部件(未画出)环绕物镜3安装，而物镜3固定安装在支架10上，使物镜3能被安装在主体20侧壁的永磁铁21交感驱动。尽管图中所示的顶端部22与主体20成一体，一般还是要使用覆盖元件(未画出)代替顶端部22。

第一倾角传感器包括一发光二极管11和一对光敏二极管12、13，它们安装在发光二极管11的两侧，在径向上对齐。发光二极管11发出的光由光盘1反射后，被光敏二极管12和13接收。当光盘1相对于主体20不发生倾斜时，光敏二极管12和13接收的光量是相等的。当光盘1倾斜时，由光敏二极管12和13接收的光量彼此不相等。

类似地，第二倾角传感器包括一个发光二极管14和一对光敏二极管15、16，它们安装在发光二极管的两侧，在径向上对齐。发光二极管14发出的光，由安装在支架10上表面的反射盘17反射后，被光敏二极管15和16接收。当支架10相对于主体20不发生倾斜时，光敏二极管15和16接收的光量是相等的。当支架10倾斜时，由光敏二极管15和16接收的光量彼此不相等。

在上述的第一和第二倾角传感器中，由光敏二极管13和15与光敏二极管12和16探测到的信号分别输入差动放大器18的(+)和(-)输入端，信号在那里进行处理。

这样，如图2A所示，当光盘1与物镜3不发生倾斜时，由于光敏二极管12和13的信号一致；光敏二极管15和16的信号一致，差动放大器18的输出信号是零。亦即光盘1与物镜3没有相对倾斜。

如图2B所示，当光盘1与主体20发生倾斜而支架10不与主体20发生倾斜时，由光敏二极管12探测到的光量增加，而由光敏二极管13探测到的光量减少。这里，由光敏二极管15和16探测到的光量相等。在此情况下，由于两个光敏二极管12和13的探测信号不同，而使差动放大器18的差动信号为正值。

为修正光盘1的倾角，应使支架10与光盘1沿同方向保持在相同的倾斜程度，如图2C所示。于是，第一倾角传感器的光敏二极管12和13接收的光量彼此不一致，同时第二倾角传感器的光敏二极管15和16接收的光量彼此也不一致。但是差动放大器18的差动信号是零，这表示光盘1的倾角被修正，光盘1与物镜3没有相对倾角。

如上所述，在传统的光盘倾角检测装置中，光盘1和支架10的倾角被探测，使安装在支架10上的物镜3相对于主体20倾斜，倾斜量与光盘1的倾斜量相同，这样，光盘1与物镜3的相对倾角被修正。

然而，上述光盘倾角检测装置中，由于附加使用了两个或两个以上的倾角传感器，零件的数量多，加工的成本高。同时，由于反射盘17安装在支架10上，使驱动机械装置的载荷增加，使光拾取装置的驱动性能降低。

发明内容

为了解决以上问题，本发明的目标是，提供一种光拾取器，在没有附加传感器的情况下，其可检测物镜与记录介质的相对倾角。

因此，为实现上述目标，本发明提供一种光拾取装置，用来向记录介质记录和从记录介质再现信息，记录介质具有记录信息信号的记录表面，和位于记录表面外的使光由此入射的用于保护记录表面的保护层，光拾取装置包括：一个光源，产生并发出光；光路改变装置，用来改变入射光的行进路线；一个物镜，用于将入射光聚焦到记录介质上，记录介质具有记录信息的记录表面和保护记录表面的保护层，光从保护层侧进入；一个主光电探测器，通过接收从记录介质的记录表面反射，并通过物镜和光路改变装置的光，检测信息信号和/或错误信号；一个倾角检测装置，通过接收从光源发出的，并从记录介质的保护层表面或记录表面反射的光，用于检测记录介质的倾角；倾角检测装置包括：一个全息透镜，安装在光源和光路改变装置之间的光路上，用于衍射和传播从光源发出的入射光；一个倾角光电探测器，安装在主光电探测器的一侧，接收从保护层表面反射，并通过物镜和光路改变装置的入射光，它由一组剖分盘组成，每一个独立进行光电转换，被安装排列在记录介质轨迹的切向和径向上。

并且，本发明优选的全息透镜包括：第一传播区，用来传播光源发出光的近轴区内部分，这部分光用来记录和再现信息信号；第二传播区，环绕第一传播区，用来传播入射光远轴区内的部分；其中，第一和第二传播区之一使入射光直线通过，另一部分使入射光衍射，并传播成第+1或第-1级。

并且，本发明优选的倾角检测装置包括至少一个倾角光电探测器，包括一组四剖分盘，至少安装在主光电探测器的一侧，沿记录介质上的轨迹的切向和/或径向排列，用来检测反射表面的反射光。

并且，本发明优选的倾角检测装置还包括一个全息透镜，安装在光路改变装置和物镜间的光路上，包含第一传播区，传播的光主要是由记录介质的记录表面反射回的光；第二传播区环绕第一传播区，传播的光是由记录介质保护层表面反射回的光，其中，第一和第二传播区之一使从记录介质反射的光直线通过，另一部分使从记录介质反射的光衍射并传播成第+1或第-1级。

并且，本发明优选的光拾取装置还包括一个准直透镜，安装在全息透镜和物镜间的光路上，用来准直光源发出的光，将其直线通过第一传播区，使光，不包括入射光的从记录介质反射的外圆周部分，能够通过准直透镜。

并且，本发明优选的倾角光电探测器安装在主光电探测器的两侧，沿轨迹的切向和/或径向排列。

附图说明

参考附图，通过对优选实施例的具体描述，本发明的上述目标和优点更加明显，附图包括：

图1是现有技术的光盘倾角检测装置的结构透视图。

图2A至图2C是现有技术的光盘倾角检测装置，检测和修正光盘倾角动作的剖面图。

图3是依据本发明的一个优选实施例的图，画出了光拾取装置的构造。

图4是图3中光检测器的平面图。

图5是图3中全息透镜构造的平面图。

图6是图3中倾角光电检测器接收到光斑的图。

图7A和图7B是当记录介质倾斜并且倾角被相对修正时，图4中倾角光电探测器接收到光斑的图。

图8和图9是本发明的另一项优选实施例中全息透镜的平面图。

图10是本发明的另一项优选实施例中光拾取装置结构的视图。

图11是图10中光检测装置的平面图。

图12A和图12B分别是当记录介质不发生倾斜和记录介质相对倾斜时的图11中倾角光电探测器接收到光斑的图。

具体实施方式

如图3和图10所示，依据本发明的光拾取装置中：信息信号向记录介质30记录和从记录介质30再现，记录介质30包括用于记录信息信号的记录表面31和保护记录表面31的保护层33；保护层33在记录表面31上，光从中入射，同时记录介质30的倾角可以被检测到。

参考图3，根据本发明，一项优选实施例中的光拾取装置包括：光源35，产生并发出光；光路改变装置50，用来改变入射光的行进路线；物镜70，将入射光聚焦在记录介质30上；主光电探测器81，检测信息信号和/或错误信号；倾角检测装置，检测记录介质30的倾斜角度。

光源35，例如可以是一种半导体激光器，产生并发出具有某种光强分布，如高斯分布的激光束。由光源35发出的光，光强主要集中在近轴区域。因而，分布在近轴区光(由虚线表示)被用来将信息信号向记录介质30记录/从记录介质30读取。根据本发明，分布在远轴区光(由实线表示)环绕近轴区，用来检测记录介质30的倾角。远轴区光不被用在典型的光拾取装置中，因为其强度远比近轴区光弱而丢失。这里，近轴区与远轴区的区域是相对规定的。

光路改变装置50安装在光源35和物镜70之间的光路上，使光源35输出光的大部分通过，并向前传播到记录介质30，并且将从记录介质30反射并通过物镜70的光束反射，向前传播到光检测装置80。光路改变装置50包括，例如图3所示：偏振束分光器51，用来根据入射光的偏振性，选择性地使其通过和反射；波盘53用来改变入射光的偏振性。这里，波盘53根据光源发出的光的波长优先使用一个四分之一的波盘。

这样，从光源53中发出的光中只有线性偏振光可以从偏振束分光器51中通过，当光通过波盘53时产生圆偏振。圆偏振光由记录介质30反射，使圆偏振的方向逆转，再次入射到波盘53上。当通过波盘53时又变成线性偏振光，但具有其它的线性偏振向量，并最终由偏振束分光器51全部反射，传播给主光电探测器81。

进一步，将入射光聚焦的准直透镜60安装在光路改变装置50和物镜70之间的光路上。而且，物镜70与准直透镜60的焦距与安装最好进行优化，使近轴区光在记录介质30的记录表面31上形成一个光斑。这样，准直透镜60将光源35发出的近轴区的发散光改变成平行光。物镜70将平行光聚焦在记录介质30的记录表面31上，形成一个光斑。

进一步，如图4所示，主光电探测器81包括一组剖分盘A、B、C和D，用来接收入射光，并将接收到的光各自独立地转换成电信号，检测记录表面31的信息信号和错误信号。

回到图3，倾角检测装置包括：全息透镜40，用来衍射入射光；倾角光电探测器83，用来接收从记录介质表面反射的光，特别是，从保护层33的表面33a的反射光，并且检测记录介质30的倾角。

在本实施例中，全息透镜40安装在光源35和偏振束分光器51之间。如图5所示，全息透镜40包括：使光源35发出光的近轴区部分通过其中的第一传播区41；环绕第一传播区41，使入射光远轴区部分通过其中的第二传播区43。

第一传播区41传播近轴区入射光时不改变光的方向。第一传播区41由一个透明部件或通孔(未画出)构成，或由一个使入射光衍射成第零级的全息光栅(未画出)构成，使入射光如此从中通过。通过第一传播区41的近轴区光，由准直透镜60和物镜70聚焦在记录介质30的记录表面31上，用来记录/再现信息信号。

构成第二传播区43的全息光栅，衍射、传播并折射入射光成第+1或第-1级。这里，如图3所示，第二传播区43最好使远轴区光的焦点处在物镜70和记录介质30之间，这样通过第二传播区43的衍射光由准直透镜60和物镜70聚焦，然后入射到保护层33的表面33a。上述焦点位置可以通过适当设计全息光栅的栅距，使入射光以适当的衍射角衍射。这里，远轴区光的焦点位置可以被安置在保护层33的表面33a和记录表面31之间。

当具有上述焦点位置的第二传播区43确定后，近轴区光平行地入射物镜70，远轴区光倾斜地入射物镜70。这样，相对于没有安装全息光栅40的情况，此时由保护层33的表面33a反射的光量更大。

而且，由于在焦点位置不同时，由保护层33的表面33a反射的远轴区光与由记录表面31反射的近轴区光有不同的散射角，同时由于由保护层33的表面33a反射的远轴区光通过第二传播区43时发生偏转，于是由保护层33的表面33a反射的远轴区光被偏振束分光器51反射，并被分离地附加安装在主光电探测器81上的倾角光电探测器83接收。

通过第二传播区43的远轴区光由衍射而偏转，从而传播方向改变。通过准直透镜60而汇聚的远轴区光，入射到物镜70并发生倾斜。然后，在物镜70与保护层33间的焦点聚焦的入射光发生散射，并入射到保护层33。当相对大量的光被保护层33的表面33a反射后，光再次由物镜70聚焦，并产生与入射到保护层33的入射角不同的散射角。散射角应当比入射到保护层33的入射角小。同时，相对于经记录表面31反射并由物镜70聚焦的近轴区光，由保护层33的表面33a反射并由物镜70聚焦的光有不同的散射角，其散射角应当比近轴区光的散射角大。

这样，由保护层33的表面33a反射的远轴区光由准直透镜60聚焦，它通过的光路由光路改变装置50改变，以一定的角度，例如，相对于近轴区光，入射到倾角光电探测器83。

倾角光电探测器83应由四剖分盘a、b、c和d组成，它们独立地将入射光转换成电信号，以检测记录介质30轨迹切向和径向上的倾角。这里，倾角光电探测器83中四剖分盘a、b、c和d间的分界线最好与记录介质30上的轨迹切向和径向平行，使四剖分盘形成一个2×2的矩阵。这样，当四剖分盘a、b、c和d检测到的信号以相同符号表示的时候，轨迹切向的倾斜信号是(a+d)-(b+c)，同时径向的倾斜信号是(a+b)-(c+d)。

这里，倾角光电探测器83可以由一组剖分盘沿轨迹的切向或径向安装，来检测记录介质30在切向和径向上的倾角。

参考数字65代表用来反射入射光的反射棱镜，参考数字75表示聚焦入射光使之能够被光电探测器81和83接收的检测透镜。

在上述结构的光拾取装置中，光源35发出的光的近轴区的部分从全息透镜40的第一传播区41直线通过，通过光路改变装置50入射到准直透镜60。光通过准直透镜60转变成平行光，由物镜70聚焦，在记录介质30的记录表面31上产生一个光斑。由记录表面31反射的光通过物镜70、准直透镜60和光路改变装置50，并由主光电探测器81接收。

光源35发出的光的远轴区部分，从全息透镜40的第二传播区43通过，发生衍射。然后，光路改变后的光通过光路改变装置50，入射到准直透镜60。光通过准直透镜60和物镜70，入射到记录介质30的保护层33表面33a。由保护层33的表面33a反射的光，通过物镜70，准直透镜60和光路改变装置50，由倾角光电探测器83接收。

当记录介质30与物镜70不发生相对倾斜时，倾角光电探测器83上形成的光斑相对于四剖分盘a、b、c和d的分界线对称，如图6所示，由四剖分盘a、b、c和d每一部分接收的光量近似相等。这样，在轨迹切向的倾角检测信号(a-b-c+d)和径向上的倾角检测信号(a+b-c-d)变为零。

例如，当记录介质30在切向上倾斜1°时，光斑偏向四剖分盘的a和d，如图7A所示，轨迹切向上的倾角检测信号(a+d)-(b+c)显示正值。当物镜70根据介质30的倾斜探测信号调整倾角时，光斑向四剖分盘b和c移动，并停在倾角光电探测器83的中心，如图7B所示。轨迹切向的倾角检测信号(a+b)-(b+c)变为零，这意味着记录介质30与物镜70在轨迹切向上没有相对倾角。记录介质30径向上的倾角根据同样的原理检测，根据检测信号，控制物镜70的倾角，可以修正记录介质30的倾角。

根据本发明一项优选实施例的光拾取装置，记录介质30的倾斜量被检测，记录介质30相对于物镜70的倾角，通过驱动物镜70以检测到的倾斜量得以修正。当物镜70与记录介质30被修正成彼此平行时，失真，特别是当物镜70具有相对大的数值孔径时，由记录介质30产生的彗形失真会消失，记录/再现会稳定进行。进而，当物镜70被驱动，修正记录介质30的倾角时，它保持在跟踪和调焦状态，同时，进行轨迹跟踪时的移动量可以保持在30μm以内。

根据本发明一项优选实施例的光拾取装置，在全息透镜40中，如图8所示，将入射光衍射到第+1或第-1级的全息光栅安装在第一传播区41，而第二传播区43安装有一个透明部件，或一个将入射光衍射到第0级的全息光栅(未画出)。这里，准直透镜60和物镜70的聚焦性能和安装位置，使衍射并通过第一传播区41的光在记录介质30的记录表面31上形成一个光斑。

当使用全息透镜40时，衍射光通过第一传播区41的近轴区光，在记录介质30的记录表面31上聚焦，并从那里反射，然后由主光电探测器81接收。衍射并直线通过第二传播区43的远轴区光，从记录介质30的保护层33表面33a上反射，然后由倾角光电探测器83接收。

这里，通过上、下和左、右移动全息透镜40，聚焦位置和记录介质30的记录表面31上的聚焦光斑的失真效果可以被改变。这样，通过安装在全息透镜40上的驱动元件(未画出)，根据记录介质30的倾角检测信号，上、下和左、右移动全息透镜40，使由记录介质30倾斜产生的彗形失真自动修正。在这种情况下，物镜70不必移动修正倾角。

另外，还可以如图9所示，衍射并传播入射光的全息光栅，可以安装在全息透镜40的全部表面。全息光栅应当将主要的入射光衍射交传播成第零级，将部分入射光衍射并传播成第+1或第-1级。在这种情况下，第零级的衍射光聚焦在记录介质30的记录表面31，用来记录/再现信息信号；第+1或第-1级的衍射光用来检测记录介质30的倾斜信号。

在上述叙述中，虽然假设光源35发出的光的远轴区部分，通过物镜70发射到记录介质30，并由记录介质30反射，然后通过物镜70由倾角光电探测器83接收，但是，用于检测记录介质30与物镜70的相对倾角的远轴区光，可以不通过物镜70。同样，远轴区光可以由记录介质30的记录表面31反射，像上面一样用于检测倾角。

根据本发明的光拾取装置，特点在于用于记录/再现的光源，同样可以用于检测倾角，这样，由此采取各种实施例都有可能实现。

图10显示了根据本发明另一优选实施例设计的光拾取装置的结构。这里，与图3中相同的参考数字表示具有相同功能的相同部件。在光源35发出的光用于记录/再现的情况下，正如图3所示的近轴区光，当部分光入射到记录介质30时，光由保护层33的表面33a反射。这一实施例的特点在于，通过检测反射光的一部分，检测记录介质30的倾角。

这里，从记录表面31反射的光在光检测单元180的接收区上形成光斑，由于从保护层33表面33a反射的光的散射角，大于从记录介质30的记录表面31反射的光，光会到达光斑的四周。

这样，如图11所示，像检测反射光的倾角检测装置一样，至少需要在主光电探测器81的一边，沿记录介质30轨迹的切向和径向，布置至少一个倾角光电探测器183、184、185和186，它们具有一组剖分盘a与b、c与d、e与f和g与h。这里，在图11中，为了检测记录介质30轨迹的切向和径向方向上的倾角，一组倾角光电探测器183和184沿记录介质轨迹的切向，布置在主光电探测器81的两侧，另一组倾角光电探测器185和186沿记录介质轨迹的径向布置在两侧。

而且，倾角检测装置还包括一个全息透镜140，安排在光路改变装置50和物镜70之间光路上。全息透镜140包括：传播从记录介质30的记录表面31的反射光的第一传播区141；环绕第一传播区141的传播主要从记录介质30的保护层33的保护表面33a反射光的第二传播区143。

安装第一传播区141和第二传播区143，用来选择性衍射并传播从记录介质30发出的光。例如，第一传播区141允许从记录介质30发出的光直线通过，而第二传播区143允许从记录介质30发出的光衍射成第+1和第-1级，并使之通过。第一传播区141和第二传播区143的功能可以是相反的。

而且，第一传播区141和第二传播区143最好被用来直线传播从光源35发出的光。这里，从光源35发出的光的主要部分被输入第一传播区141。

其间，用来准直从光源35发出的光，并使其通过全息透镜140的准直透镜160，也应被安装在全息透镜140和物镜70之间的光路上。准直透镜160的尺寸最好根据第一传播区141确定。

这样，由光源35发出的，通过第一传播区141的光，由准直透镜160变成平行光，最好通过物镜70到达记录介质30上。同样，从记录表面31反射的光，通过准直透镜160入射到第一传播区141。从保护层33表面33a反射的光，直接入射到第二传播区143，而不通过准直透镜160。

这里，由于第二传播区143将保护层33的表面33a反射的光衍射，并以大的散射角输入成第+1和第-1级，因而保护层33表面33a反射光，与记录表面31反射光中被分开一段预定的距离，形成环绕主光电探测器81的环形光斑190，如图12A所示。

全息透镜140和准直透镜160，使从保护层33表面33a的反射光聚焦在预定区域，使倾角光电探测器183、184、185和186接收的光量增加。这里，记录介质30的记录表面31的部分反射光，而不是保护层33表面33a的反射光，通过第二传播区143，用来检测记录介质30的倾角。而且，由记录介质30反射后，通过第二传播区143的光不会从物镜70通过。

由具有上述结构的光拾取装置，当记录介质30不倾斜时，由保护层33表面33a反射的环行光斑190，被倾角光电探测器183、184、185和186对称接收，如图12A所示。这里，在轨迹切向的倾角检测信号值(a-b)+(c-d)和在轨迹径向的倾角检测信号值(e-f)+(g-h)大约为零。当记录介质30在轨迹切向的倾角大约为1°时，环形光斑190沿轨迹切向，向倾角光检测器184移动，如图12B所示，轨迹切向的倾角检测信号值(a-b)+(c-d)为负值。这样，物镜70与记录介质30间的相对倾角，根据倾角检测信号值，通过调整物镜70的倾角修正。

这里，在上面的描述和附图图示中，依据本发明的倾角光电探测器183、184、185和186安装在主光电探测器81的每一侧，用来接收从记录介质30的保护层33表面33a反射，并通过光路改变装置50的光。然而，在不同的实施例中，例如其中一种可以将倾角光电探测器安装在物镜70的外圆周上，面对记录介质30，也是可能实现的。这就是说，本发明的技术概念在于，记录介质30的倾角通过接收保护层33表面33a，或记录介质30的记录表面31的反射光检测获得。当然，本发明不限于上述优选实施例。

如上所述，在根据本发明的光拾取装置中，由于记录介质30的倾角，通过接收保护层33表面33a，或记录介质30的记录表面31的反射光进行检测获得物镜70与记录介质30的相对倾角，甚至可以在其相对值大于等于1°这样一个相对大的值时，也可以检测到。

同时，几乎可以在不考虑记录介质30的保护层33的厚度时，检测记录介质30的倾角。这就是说，在以下情况时，即CD光盘具有1.2mm厚的保护层，DVD光盘具有0.6mm厚的保护层，同时HD-DVD光盘可能具有小于0.6mm的薄保护层，如0.1mm厚的保护层，依据本发明的光拾取装置均可以检测到物镜70与记录介质30间的相对倾角。

进一步，依据本发明，记录介质30的倾角，通过使用从光源35发出的用于记录/再现的光，经由保护层33表面33a，或由记录介质30的记录表面31的反射后，进行检测，不必附加额外的倾角传感器，零件的数量减少了，并且装置的结构简化了。

Claims (8)

1.一种光拾取装置，用来向记录介质记录和从记录介质再现信息，记录介质具有记录信息信号的记录表面，和位于记录表面外的使光由此入射的用于保护记录表面的保护层，光拾取装置包括：一个光源，产生并发出光；光路改变装置，用来改变入射光的行进路线；一个物镜，用于将入射光聚焦到记录介质上，记录介质具有记录信息的记录表面和保护记录表面的保护层，光从保护层侧进入；一个主光电探测器，通过接收从记录介质的记录表面反射，并通过物镜和光路改变装置的光，检测信息信号和/或错误信号；一个倾角检测装置，通过接收从光源发出的，并从记录介质的保护层表面或记录表面反射的光，用于检测记录介质的倾角；

倾角检测装置包括：

一个全息透镜，安装在光源和光路改变装置之间的光路上，用于衍射和传播从光源发出的入射光；

一个倾角光电探测器，安装在主光电探测器的一侧，接收从保护层表面反射，并通过物镜和光路改变装置的入射光，它由一组剖分盘组成，每一个独立进行光电转换，被安装排列在记录介质轨迹的切向和径向上。

2.根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，全息透镜包括：

一个第一传播区，传播从光源发出的光在近轴区的部分，用于记录和再现信息信号；

一个第二传播区，由环绕第一传播区的部分组成，用于传播入射光在远轴区的部分，其中第一传播区和第二传播区之一，使入射光从中直线通过，另一传播区将入射光衍射并传播成第+1和第-1级。

3.根据权利要求2所述的光拾取装置，其特征在于，由于记录介质倾斜产生的彗形失真，通过根据倾角光电探测器检测的记录介质倾角检测信号，驱动全息透镜，使其自动修正。

4.根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，倾角光电探测器由排列成2×2矩阵的四剖分盘组成，剖分盘的分界线与轨迹的切向和径向平行，于是记录介质在轨迹切向和径向的倾角可以被检测。

5.一种光拾取装置，用来向记录介质记录和从记录介质再现信息，记录介质具有记录信息信号的记录表面，和位于记录表面外的使光由此入射的用于保护记录表面的保护层，光拾取装置包括：一个光源，产生并发出光；光路改变装置，用来改变入射光的行进路线；一个物镜，用于将入射光聚焦到记录介质上，记录介质具有记录信息的记录表面和保护记录表面的保护层，光从保护层侧进入；一个主光电探测器，通过接收从记录介质的记录表面反射，并通过物镜和光路改变装置的光，检测信息信号和/或错误信号；一个倾角检测装置，通过接收从光源发出的，并从记录介质的保护层表面或记录表面反射的光，用于检测记录介质的倾角；

其特征在于，倾角检测装置包括：至少一个倾角光电探测器，带有一组四剖分盘，沿记录介质轨迹的切向和/或径向排列，安排在主光电探测器的至少一侧，检测从保护层表面反射的光。

6.根据权利要求5所述的光拾取装置，其特征在于，倾角检测装置还包括：一个全息透镜，安装在光路改变装置和物镜之间的光路上，它包括第一传播区，其传输光是记录介质的记录表面的反射光，还包括第二传播区，环绕第一传播区，其传输的光是从记录介质的保护层表面反射的光，其中，第一传播区和第二传播区之一使记录介质的反射光从中直线通过，另一传播区将入射光衍射并传播成第+1和第-1级。

7.根据权利要求6所述的光拾取装置，其特征在于，还包括一个准直透镜，安装在全息透镜与物镜间的光路上，使从光源发出的光准直，并直线通过第一传播区，使光，不包括记录介质反射光的外环部分，能够通过准直透镜。

8.根据权利要求5所述的光拾取装置，其特征在于，倾角光电探测器沿轨迹的切向和径向，被安装在主光电探测器的两侧。

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