CN113125921A - 一种新型光电器件参数检测设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种新型光电器件参数检测设备，包括基座，基座上转动安装有转盘，转盘上设有若干用于放置待测光电器件的放置槽，转盘的一侧设有检测箱，检测箱朝向转盘的一侧设有开口，检测箱中安装有对光电器件进行参数采集和检测的参数检测组件，待检测的光电器件依次放置在转盘上的放置槽上，随转盘的转动作用将待测光电器件输送至检测箱中，将检测箱中的参数检测组件进行各项数据采集和检测后，转动离开检测箱，稳定连续的进行光电器件的参数检测工作，极大的提升相关参数检测工作的效率；通过光电器件转动组件使放置在放置槽中的光电组件进行转动，便于在检测箱中接受参数检测组件的参数采集和检测，提高检测精准性。

Description

一种新型光电器件参数检测设备

技术领域

本发明涉及光电器件领域，尤其是一种新型光电器件参数检测设备。

背景技术

光电器件，包括发光二极管、半导体激光器等器件，在工作中需要固定成阵列形式，组成整齐的排列来实现照明等功能。在光电器件的加工生产时，对其相关参数的检测是必不可少的环节之一。

公告号为CN201107374Y的申请公开了一种光电器件参数监测设备，其将待测光电器件置于器件架上，并通过移动的数据采集设备来对各个参数进行采集和检测，提高了光电器件的检测效率。然而，在该装置的使用过程中，需要频繁的开关壳体来批量更换器件架上的光电器元件，导致光电器元件检测工作连续性差，工作效率存在提升的空间。因此，需要一种新型的光电器件参数检测设备。

发明内容

本发明的目的在于提供一种新型光电器件参数检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种新型光电器件参数检测设备，包括基座，所述基座上转动安装有转盘，转盘上设有若干用于放置待测光电器件的放置槽，所述转盘的一侧设有检测箱，检测箱朝向转盘的一侧设有开口，检测箱中安装有对光电器件进行参数采集和检测的参数检测组件。

在进一步的实施例中，所述检测箱通过安装柱固定安装在转盘一侧的基座上。

在进一步的实施例中，所述转盘的圆心处固定连接竖直设置的主转轴，主转轴的下端转动安装在基座中，主转轴上设有一号从动齿轮，一号从动齿轮的一侧设有与其相互啮合的一号主动齿轮，一号主动齿轮安装在一号电机输出端的转轴上。

在进一步的实施例中，所述转盘上的放置槽不少于三个。

在进一步的实施例中，所述放置槽中还设有光电器件固定组件。

在进一步的实施例中，所述放置槽中设有光电器件转动组件，所述光电器件转动组件包括转动座、二号从动齿轮、副转轴和二号电机，所述放置槽中均转动安装有转动座，转动座的下端圆心处固定连接连接轴，连接轴的下端设有位于转盘中的二号从动齿轮，转盘的截面圆心处转动安装有与二号从动齿轮相互啮合的二号主动齿轮，二号主动齿轮通过副转轴连接转盘上端的二号电机的输出端。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：待检测的光电器件依次放置在转盘上的放置槽上，随转盘的转动作用将待测光电器件输送至检测箱中，将检测箱中的参数检测组件进行各项数据采集和检测后，转动离开检测箱，依靠人工或者机械手进行连续的待测光电器件的放入和取出，稳定连续的进行光电器件的参数检测工作，便于大批量光电器件的连续检测，极大的提升相关参数检测工作的效率；通过光电器件转动组件使放置在放置槽中的光电组件进行转动，便于在检测箱中接受参数检测组件的参数采集和检测，提高检测精准性。

附图说明

图1为光电器件参数检测设备的结构示意图。

图2为光电器件参数检测设备的内部结构示意图。

图3为光电器件参数检测设备中光电器件转动组件的结构示意图。

其中：基座1、转盘2、检测箱3、参数检测组件4、安装柱5、主转轴6、放置槽7、一号从动齿轮8、一号电机9、一号主动齿轮10、转动座11、连接轴12、二号电机13、二号主动齿轮14、副转轴15、二号从动齿轮16。

具体实施方式

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例1

请参阅图1-2，本发明实施例中，一种新型光电器件参数检测设备，包括基座1，所述基座1上转动安装有转盘2，转盘2上设有若干用于放置待测光电器件的放置槽7，所述转盘2的一侧设有检测箱3，检测箱3朝向转盘2的一侧设有开口，检测箱3中安装有对光电器件进行参数采集和检测的参数检测组件4；在具体的工作时，待检测的光电器件依次放置在转盘2上的放置槽7上，随转盘2的转动作用将待测光电器件输送至检测箱3中，将检测箱3中的参数检测组件4进行各项数据采集和检测后，转动离开检测箱3，依靠人工或者机械手进行连续的待测光电器件的放入和取出，稳定连续的进行光电器件的参数检测工作，便于大批量光电器件的连续检测，极大的提升相关参数检测工作的效率。

具体的，安装在检测箱3中的参数检测组件4包括光功率计、能量计、光谱仪和其他相关检测装置，根据需要使用一种或多种对转动至检测箱3处的光电器件进行参数采集和检测。

具体的，所述检测箱3通过安装柱5固定安装在转盘2一侧的基座1上，便于检测箱3稳定的开展参数采集检测工作。

具体的，所述转盘2的圆心处固定连接竖直设置的主转轴6，主转轴6的下端转动安装在基座1中，主转轴6上设有一号从动齿轮8，一号从动齿轮8的一侧设有与其相互啮合的一号主动齿轮10，一号主动齿轮10安装在一号电机9输出端的转轴上，在一号电机9工作时，通过一号主动齿轮10与一号从动齿轮8的啮合作用，带动主转轴6转动，从而使转盘2进行转动，开展连续的进行光电器件的检测。

具体的，为了保证光电器件参数检测设备工作的连续性，所述转盘2上的放置槽7不少于三个，除了进行检测的放置槽外，还需要至少预留前后各一个，保证连续的检测进行。此外，所述放置槽中还设有光电器件固定组件，可为弹性夹具等，保证光电器件的稳定。

实施例2

请参阅图3，本发明实施例在实施例1的基础上，对一种新型光电器件参数检测设备进行功能升级，具体为，所述放置槽7中设有光电器件转动组件，通过光电器件转动组件使放置在放置槽7中的光电组件进行转动，便于在检测箱3中接受参数检测组件4的参数采集和检测，提高检测精准性。

所述光电器件转动组件包括转动座11、二号从动齿轮16、副转轴15和二号电机13，所述放置槽7中均转动安装有转动座11，转动座11的下端圆心处固定连接连接轴12，连接轴12的下端设有位于转盘2中的二号从动齿轮16，转盘2的截面圆心处转动安装有与二号从动齿轮16相互啮合的二号主动齿轮14，二号主动齿轮14通过副转轴15连接转盘2上端的二号电机13的输出端，在二号电机13工作时，通过二号主动齿轮14和二号从动齿轮16的啮合作用，带动转盘2上所有放置槽7中的转动座11转动，从而使光电器件随之转动，转动的接受参数检测组件4的参数采集和检测，提高精确性。

本发明的工作原理是：所述基座1上转动安装有转盘2，转盘2上设有若干用于放置待测光电器件的放置槽7，所述转盘2的一侧设有检测箱3，检测箱3朝向转盘2的一侧设有开口，检测箱3中安装有对光电器件进行参数采集和检测的参数检测组件4，在具体的工作时，待检测的光电器件依次放置在转盘2上的放置槽7上，随转盘2的转动作用将待测光电器件输送至检测箱3中，将检测箱3中的参数检测组件4进行各项数据采集和检测后，转动离开检测箱3，依靠人工或者机械手进行连续的待测光电器件的放入和取出，稳定连续的进行光电器件的参数检测工作，便于大批量光电器件的连续检测，极大的提升相关参数检测工作的效率。

对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (6)

1.一种新型光电器件参数检测设备，包括基座(1)，其特征在于，所述基座(1)上转动安装有转盘(2)，转盘(2)上设有若干用于放置待测光电器件的放置槽(7)，所述转盘(2)的一侧设有检测箱(3)，检测箱(3)朝向转盘(2)的一侧设有开口，检测箱(3)中安装有对光电器件进行参数采集和检测的参数检测组件(4)。

2.根据权利要求1所述的光电器件参数检测设备，其特征在于，所述检测箱(3)通过安装柱(5)固定安装在转盘(2)一侧的基座(1)上。

3.根据权利要求1所述的光电器件参数检测设备，其特征在于，所述转盘(2)的圆心处固定连接竖直设置的主转轴(6)，主转轴(6)的下端转动安装在基座(1)中，主转轴(6)上设有一号从动齿轮(8)，一号从动齿轮(8)的一侧设有与其相互啮合的一号主动齿轮(10)，一号主动齿轮(10)安装在一号电机(9)输出端的转轴上。

4.根据权利要求1所述的光电器件参数检测设备，其特征在于，所述转盘(2)上的放置槽(7)不少于三个。

5.根据权利要求4所述的光电器件参数检测设备，其特征在于，所述放置槽(7)中还设有光电器件固定组件。

6.根据权利要求5所述的光电器件参数检测设备，其特征在于，所述放置槽(7)中设有光电器件转动组件，所述光电器件转动组件包括转动座(11)、二号从动齿轮(16)、副转轴(15)和二号电机(13)，所述放置槽(7)中均转动安装有转动座(11)，转动座(11)的下端圆心处固定连接连接轴(12)，连接轴(12)的下端设有位于转盘(2)中的二号从动齿轮(16)，转盘(2)的截面圆心处转动安装有与二号从动齿轮(16)相互啮合的二号主动齿轮(14)，二号主动齿轮(14)通过副转轴(15)连接转盘(2)上端的二号电机(13)的输出端。

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