CN113088659A - 一种测试探针热处理用防变形装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种测试探针热处理用防变形装置，包括：底座，所述底座上设置有多个第一限位槽；上压板，所述上压板设置在所述底座上，上压板将多个所述第一限位槽覆盖；第一侧压板，所述第一侧压板放置在所述底座上，并且第一侧压板位于所述上压板的一侧，第一侧压板的下侧设置有多个第二限位槽；所述第一侧压板和上压板可拆卸地固定在一起。该测试探针热处理用防变形装置，解决了测试探针在热处理的过程中，存在容易产生较大形变的问题。
Description
技术领域
本发明属于探针加工设备技术领域，具体涉及一种测试探针热处理用防变形装置。
背景技术
测试探针又称半导体探针，由针管、弹簧和针头组成。测试探针组装完毕后，需要对其进行热处理。热处理是指金属材料在固态下，通过加热、保温和冷却的手段，改变材料表面或内部的化学成分与组织，获得所需性能的一种金属热加工工艺。具体是指将测试探针放在热处理炉中加热保温一段时间后进行冷却。
但是，测试探针的尺寸较小，相对于大型钢结构等设备来说，其材质较为柔软，在热处理的过程中容易发生形变，变形较小时不影响使用，变形较大时容易造成产品不合格。因此，继续改进测试探针的热处理方法，避免热处理过程中带来的较大形变问题
发明内容
本发明的目的是提供一种测试探针热处理用防变形装置，解决测试探针在热处理的过程中，存在容易产生较大形变的问题。
为了达到上述目的，本发明所采用的技术方案是：一种测试探针热处理用防变形装置，包括：
底座，所述底座上设置有多个第一限位槽；
上压板，所述上压板设置在所述底座上，上压板将多个所述第一限位槽覆盖；
第一侧压板，所述第一侧压板放置在所述底座上，并且第一侧压板位于所述上压板的一侧，第一侧压板的下侧设置有多个第二限位槽；
所述第一侧压板和上压板可拆卸地固定在一起。
作为本发明的一种优选的技术方案，还包括第二侧压板，所述第二侧压板放置在所述底座上，并且第二侧压板位于所述上压板的另一侧，第二侧压板的下侧设置有多个第三限位槽；所述第一侧压板、上压板和第二侧压板可拆卸地固定在一起。
作为本发明的一种优选的技术方案，所述底座的两端以及中部均设置有螺孔，所述上压板的两端和中部也对应的设置有螺孔，底座和上压板通过三个螺栓伸入三对螺孔中固定连接。
作为本发明的一种优选的技术方案，所述第一侧压板、第二侧压板和上压板的侧部均设置有多个螺孔，第一侧压板、第二侧压板和上压板通过多个螺栓伸入对应的螺孔中固定连接。
作为本发明的一种优选的技术方案，所述底座的上设置有两台阶，两所述台阶位于多个所述第一限位槽的两侧。
本发明的有益效果是：(1)本发明的一种测试探针热处理用防变形装置，使用底座、上压板和第一侧压板可以完成对测试探针的装夹，测试探针在热处理的过程中位于第一限位槽和第二限位槽中，通过第一限位槽和第二限位槽的限制能够确保测试探针不会发生较大变形；(2)本发明的一种测试探针热处理用防变形装置，其上设计有多个第一限位槽和第二限位槽，可以一次完成多个测试探针的热处理加工，大大提高了生产效率；(3)本发明的一种测试探针热处理用防变形装置，结构简单，操作方便，制造成本较低，具有较好的市场推广使用前景。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1为本发明的一种测试探针热处理用防变形装置的分解图；
图2为本发明的一种测试探针热处理用防变形装置中的结构示意图。
图中：1.底座，2.第二侧压板，3.上压板，4.第一侧压板，5.台阶，6.第一限位槽，7.第三限位槽，8.第三限位槽。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。
如图1所示，本发明的一种测试探针热处理用防变形装置，包括底座1、上压板3、第一侧压板4。结合图2，其中：底座1上设置有多个第一限位槽6；上压板3设置在底座1上，上压板3将多个第一限位槽6覆盖；第一侧压板4放置在底座1上，并且第一侧压板4位于上压板3的一侧，第一侧压板4的下侧设置有多个第二限位槽8；第一侧板4和上压板3可拆卸地固定在一起。
针对单探头的测试探针来说，热处理前先将测试探针的针管放置在底座1上的第一限位槽6中，然后再将上压板3压在底座1上，之后再将第一侧压板4靠近底座1，确保测试探针的针头位于第一侧压板4上的第二限位槽8中，最后将上压板3固定在底座1上，将第一侧压板4与上压板3固定在一起，方可放入热处理炉中进行热处理。
显而易见，本发明的一种测试探针热处理用防变形装置，使用底座1、上压板3和第一侧压板4可以完成对测试探针的装夹，测试探针在热处理的过程中位于第一限位槽6和第二限位槽8中，通过第一限位槽6和第二限位槽8的限制能够确保测试探针不会发生较大变形。另外，本发明的一种测试探针热处理用防变形装置，其上设计有多个第一限位槽6和第二限位槽8，可以一次完成多个测试探针的热处理加工，大大提高了生产效率。
另外，本发明的一种测试探针热处理用防变形装置，结构简单，操作方便，制造成本较低，具有较好的市场推广使用前景。
如图1所示，在本发明的一种测试探针热处理用防变形装置中，还包括第二侧压板2，第二侧压板2放置在底座1上，并且第二侧压板2位于上压板3的另一侧，第二侧压板2的下侧设置有多个第三限位槽7；第一侧压板8、上压板3和第二侧压板2可拆卸地固定在一起。
添加第二侧压板2主要是针对具有双探头的测试探针来设计的，针对单探头的测试探针来说，热处理前先将测试探针的针管放置在底座1上的第一限位槽6中，然后再将上压板3压在底座1上，之后再将第一侧压板4和第二侧压板2靠近底座1，确保测试探针的两个针头分别位于第一侧压板4上的第二限位槽8中和第二侧压板2上的第三限位槽7中，最后将上压板3固定在底座1上，将第一侧压板4、第二侧压板2与上压板3固定在一起，方可放入热处理炉中进行热处理。
如图1所示，在本发明的一种测试探针热处理用防变形装置中，底座3的两端以及中部均设置有螺孔，上压板3的两端和中部也对应的设置有螺孔，底座3和上压板3通过三个螺栓伸入三对螺孔中固定连接。
装配时，三个螺栓分别从底座3和上压板3的两端和中间装入固定，一方面拆装方便，另一方便可以确保固定时受力较为平局，局部不会发生松动。
如图1所示，在本发明的一种测试探针热处理用防变形装置中，第一侧压板4、第二侧压板2和上压板3的侧部均设置有多个螺孔，第一侧压板4、第二侧压板2和上压板3通过多个螺栓伸入对应的螺孔中固定连接。
第一侧压板4、第二侧压板2和上压板3之间通过多个螺栓固定，主要作用在于拆装较为方便。
如图1所示，在本发明的一种测试探针热处理用防变形装置中，底座3的上设置有两台阶5，两台阶5位于多个第一限位槽6的两侧。
第一侧压板4和第二侧压板2分别搭设在对应的台阶5上，其主要作用在于便于精准定位第一侧压板4、第二侧压板2靠近上压板3的位置，方便第一限位槽6、第二限位槽8和第三限位槽7对齐，以便对测试探针的针管和针头实施预装定位。
上述说明示出并描述了发明的若干优选实施例，但如前所述，应当理解发明并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述发明构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离发明的精神和范围，则都应在发明所附权利要求的保护范围内。
Claims (5)
1.一种测试探针热处理用防变形装置，其特征在于，包括：
底座(1)，所述底座(1)上设置有多个第一限位槽(6)；
上压板(3)，所述上压板(3)设置在所述底座(1)上，上压板(3)将多个所述第一限位槽(6)覆盖；
第一侧压板(4)，所述第一侧压板(4)放置在所述底座(1)上，并且第一侧压板(4)位于所述上压板(3)的一侧，第一侧压板(4)的下侧设置有多个第二限位槽(8)；
所述第一侧板(4)和所述上压板(3)可拆卸地固定在一起。
2.根据权利要求1所述的测试探针热处理用防变形装置，其特征在于，还包括第二侧压板(2)，所述第二侧压板(2)放置在所述底座(1)上，并且第二侧压板(2)位于所述上压板(3)的另一侧，第二侧压板(2)的下侧设置有多个第三限位槽(7)；所述第一侧压板(8)、上压板(3)和第二侧压板(2)可拆卸地固定在一起。
3.根据权利要求2所述的测试探针热处理用防变形装置，其特征在于，所述底座(3)的两端以及中部均设置有螺孔，所述上压板(3)的两端和中部也对应的设置有螺孔，底座(3)和上压板(3)通过三个螺栓伸入三对螺孔中固定连接。
4.根据权利要求3所述的测试探针热处理用防变形装置，其特征在于，所述第一侧压板(4)、第二侧压板(2)和上压板(3)的侧部均设置有多个螺孔，第一侧压板(4)、第二侧压板(2)和上压板(3)通过多个螺栓伸入对应的螺孔中固定连接。
5.根据权利要求4所述的测试探针热处理用防变形装置，其特征在于，所述底座(3)的上设置有两台阶(5)，两所述台阶(5)位于多个所述第一限位槽(6)的两侧。
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