CN113063977B - 模拟测试方法、装置及计算机可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本公开实施例提供一种模拟测试方法、装置和计算机可读存储介质，所述方法包括：接收前眼图，获得所述前眼图的眼高数据和眼宽数据，对所述前眼图的眼高数据和眼宽数据进行眼图均衡(EQ)处理，得到模拟的后眼图眼高数据和眼宽数据；获取测试温度值，根据所述测试温度值和预先获得的温度补偿函数计算得到温度补偿值；用所述温度补偿值对所述模拟的后眼图眼高数据和眼宽数据进行补偿处理，获得补偿后的模拟眼高数据和模拟眼宽数据。通过对模拟的后眼图眼高和眼宽数据进行温度补偿，可以避免因环境温度导致的眼图传输信号衰减，使测试结果更加准确。

Description

模拟测试方法、装置及计算机可读存储介质

技术领域

本公开实施例涉及显示技术领域，具体涉及一种模拟测试方法、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

眼图是一系列数字信号在示波器上累积而显示的图形，它包含了丰富的信息，从眼图上可以观察出码间串扰和噪声的影响，体现了数字信号整体的特征，从而估计***优劣程度，因而眼图分析是高速互连***信号完整性分析的核心。

在测试源极驱动器(Source IC，S-IC)时，SOC(Sstem On a Chip，片上***)传输到S-IC(Source IC，源极驱动器)前的眼图为前眼图，经过S-IC处理后的眼图为后眼图，在实际测试时，可通过眼图均衡(EQ，Equalizer)算法来模拟S-IC接收到的数据，实现对产品的测试评价。

发明内容

本公开实施例提供一种模拟测试方法、装置及计算机可读存储介质，可以得到更为准确的测试结果。

一方面，本公开实施例提供了一种模拟测试方法，包括：

接收前眼图，获得所述前眼图的眼高数据和眼宽数据，对所述前眼图的眼高数据和眼宽数据进行眼图均衡(EQ)处理，得到模拟的后眼图眼高数据和眼宽数据；

获取测试温度值，根据所述测试温度值和预先获得的温度补偿函数计算得到温度补偿值；

用所述温度补偿值对所述模拟的后眼图眼高数据和眼宽数据进行补偿处理，获得补偿后的模拟眼高数据和模拟眼宽数据。

在示例性实施方式中，所述获取测试温度值包括：

采集测试现场的温度值，或者获取测试者设置的要模拟的环境温度值。

在示例性实施方式中，所述模拟测试方法用于模拟源极驱动电路接收到的数据。

在示例性实施方式中，所述温度补偿函数为：

其中：t为温度，单位为摄氏度，k₁、k₂为S-IC参数。

在示例性实施方式中，所述用所述温度补偿值对所述模拟的后眼图眼高数据和眼宽数据进行补偿处理，获得补偿后的模拟眼高数据和模拟眼宽数据，包括：采用以下算式获得补偿后的模拟眼高数据和模拟眼宽数据：

V_eye(后)’＝T(t)*V_eye(后)，PE_eye(后)’＝T(t)*PE_eye(后)，

其中，T(t)为温度补偿值，V_eye(后)’为补偿后的模拟眼高数据，V_eye(后)为模拟的后眼图眼高数据，PE_eye(后)’为补偿后的模拟眼宽数据，PE_eye(后)为模拟的后眼图眼宽数据。

在示例性实施方式中，所述方法还包括：根据所述补偿后的模拟眼高数据和模拟眼宽数据，还原后眼图图像。

在示例性实施方式中，所述模拟测试方法用于对满足以下任意一种或多种条件的显示面板进行模拟测试：

条件一，尺寸大于或等于65寸或75寸；

条件二，水平分辨率大于或等于4k或8k；

条件三，刷新频率大于或等于120hz。

另一方面，本公开实施例还提供了一种模拟测试装置，包括处理器以及存储有可在处理器上运行的计算机程序的存储器，其中，所述处理器执行所述程序时实现上述模拟测试方法的步骤。

在示例性实施方式中，所述模拟测试装置还包括温度采集单元。

再一方面，本公开实施例还提供了一种计算机可读存储介质，存储有可在处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时用于实现上述模拟测试方法。

本公开实施例提供的模拟测试方法和装置，通过对模拟的后眼图眼高和眼宽数据进行温度补偿，可以避免因环境温度导致的眼图信号衰减，使测试结果更加准确。

当然，实施本公开的任一产品或方法并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。本公开的其它特征和优点将在随后的说明书实施例中阐述，并且，部分地从说明书实施例中变得显而易见，或者通过实施本公开而了解。本公开实施例的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本公开技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本公开的实施例一起用于解释本公开的技术方案，并不构成对本公开技术方案的限制。附图中各部件的形状和大小不反映真实比例，目的只是示意说明本公开内容。

图1为本公开实施例一种模拟测试方法流程图；

图2为本公开实施例模拟测试流程；

图3为本公开实施例模拟测试装置的结构示意图。

具体实施方式

本公开描述了多个实施例，但是该描述是示例性的，而不是限制性的，并且对于本领域的普通技术人员来说显而易见的是，在本公开所描述的实施例包含的范围内可以有更多的实施例和实现方案。尽管在附图中示出了许多可能的特征组合，并在实施方式中进行了讨论，但是所公开的特征的许多其它组合方式也是可能的。除非特意加以限制的情况以外，任何实施例的任何特征或元件可以与任何其它实施例中的任何其他特征或元件结合使用，或可以替代任何其它实施例中的任何其他特征或元件。

本公开包括并设想了与本领域普通技术人员已知的特征和元件的组合。本公开已经公开的实施例、特征和元件也可以与任何常规特征或元件组合，以形成由权利要求限定的独特的发明方案。任何实施例的任何特征或元件也可以与来自其它发明方案的特征或元件组合，以形成另一个由权利要求限定的独特的发明方案。因此，应当理解，在本公开中示出和/或讨论的任何特征可以单独地或以任何适当的组合来实现。因此，除了根据所附权利要求及其等同替换所做的限制以外，实施例不受其它限制。此外，可以在所附权利要求的保护范围内进行各种修改和改变。

此外，在描述具有代表性的实施例时，说明书可能已经将方法和/或过程呈现为特定的步骤序列。然而，在该方法或过程不依赖于本文所述步骤的特定顺序的程度上，该方法或过程不应限于所述的特定顺序的步骤。如本领域普通技术人员将理解的，其它的步骤顺序也是可能的。因此，说明书中阐述的步骤的特定顺序不应被解释为对权利要求的限制。此外，针对该方法和/或过程的权利要求不应限于按照所写顺序执行它们的步骤，本领域技术人员可以容易地理解，这些顺序可以变化，并且仍然保持在本公开实施例的精神和范围内。

除非另外定义，本公开使用的技术术语或科学术语为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。本公开中，“多个”可以表示两个或两个以上的数目。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。

为了保持本公开实施例的以下说明清楚且简明，本公开省略了部分已知功能和已知部件的详细说明。本公开实施例附图只涉及到与本公开实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计。

本申请发明人发现，测试画面分别为非重载画面和重载画面时，前眼图质量相同，理论上经过相同的EQ处理后，后眼图也应该相同，但在实际试验中眼图失效情况不同，非重载画面下未出现眼图失效不良，而重载画面下出现了眼图失效不良，即实际测试结果与理论不符。重载画面一般指的是显示面板在某些极端情况下的显示测试。比如，在某些特定的像素电压翻转模式以及相应的特殊测试画面下，显示面板的共电极会受到来自像素充电资料线的电容耦合效应，从而导致共极电压出现不稳态，严重的时候会使得画面出现显示不良。这些特殊的显示测试画面就称为重载画面，可以理解为显示屏在各种"负重"情况下，显示性能的一种极限测试。通过对不同的S-IC的大量试验和分析发现，模拟结果与实际测试结果不符是由于在重载条件下时，S_IC内部薄膜晶体管(TFT)会受温度影响，由此导致了实际测试结果不同于理论上的模拟结果。因此发明人考虑需要对模拟测试方法进行修正，在EQ算法中增加环境温度因素，以修正测试结果，排除温度因素对测试结果的影响。

本公开实施例提供了一种模拟测试方法，可用于模拟源极驱动电路接收到的数据，即模拟源极驱动器的后眼图，如图1所示，包括以下步骤：

步骤10，接收前眼图，获得所述前眼图的眼高数据和眼宽数据，对所述前眼图的眼高数据和眼宽数据进行眼图均衡(EQ)处理，得到模拟的后眼图眼高数据和眼宽数据；

在示例性实施例中，所述前眼图可以理解为是前眼图数据，所述前眼图数据可以为一对差分信号数据，包括前眼图的所有数据，可以通过相关技术中成熟的算法函数获得前眼图中的眼高数据和眼宽数据。如图2所示，图中输入的CEDSA和CEDSB即为一对差分信号数据，通过函数F(t)的处理后可以获得眼图中的眼高数据和眼宽数据。

在示例性实施例中，模拟的后眼图的眼高数据和眼宽数据分别为：

V_eye(后)＝H(V_eye(前))；PE_eye(后)＝L(PE_eye(前))；

其中，V_eye(后)为模拟的后眼图眼高数据，H()为计算眼高的模拟算法，V_eye(前)为前眼图眼高数据，PE_eye(后)为模拟的后眼图眼宽数据，L()为计算眼宽的模拟算法，PE_eye(前)为前眼图眼宽数据。

H()和L()可以采用相关技术中成熟的眼图均衡(EQ)算法实现，EQ算法又称为眼图增强算法，可用于模拟后眼图。

步骤20，获取测试温度值，根据所述测试温度值和预先获得的温度补偿函数计算得到温度补偿值；

在示例性实施例中，温度补偿函数可通过以下方式预先获得，在不同温度下，对不同的S-IC进行测试，获得不同温度下不同S-IC的前眼图数据和对应的实际测得的后眼图数据，分别对眼图数据中的眼高和眼宽数据进行比对，包括比对相同温度下同一块S-IC的前眼图数据与后眼图数据中的眼高，以及前眼图数据和后眼图数据中的眼宽，通过对大量的比对结果进行拟合，可以获得以下温度补偿函数：

其中：t为温度，单位为摄氏度，k₁、k₂为S-IC参数，取决于S-IC的设计方法，不同厂家S-IC的设计不同，k₁和k₂也会有所不同，可根据产品设计阶段高温眼图测试结果得到。

在示例性实施例中，获取测试温度值的方式有多种，例如可以通过温度采集单元(例如温度传感器)采集测试现场的温度值作为测试温度值，或者测试温度值可以是测试者设置的想要模拟的环境温度值。

步骤30，用所述温度补偿值对所述模拟的后眼图眼高数据和眼宽数据进行补偿处理，获得补偿后的模拟眼高数据和模拟眼宽数据；

在示例性实施例中，可以采用以下算式获得补偿后的模拟眼高数据和模拟眼宽数据：

V_eye(后)’＝T(t)*V_eye(后)＝T(t)*H(V_eye(前))；

PE_eye(后)’＝T(t)*PE_eye(后)＝T(t)*L(PE_eye(前))；

其中，T(t)为温度补偿值，V_eye(后)’为补偿后的模拟眼高数据，即补偿后的模拟的后眼图眼高数据，H()为计算眼高的模拟算法，PE_eye(后)’为补偿后的模拟眼宽数据，即补偿后的模拟的后眼图眼宽数据，L()为计算眼宽的模拟算法。

在示例性实施例中，步骤30后，所述方法还可包括，根据补偿后的模拟眼高数据和模拟眼宽数据，还原后眼图图像。如图2中通过函数F’(t)的处理可以还原出后眼图，F’(t)处理是与F(t)处理相反的处理。在示例性实施例中可以采用相关技术中成熟的算法根据眼高数据和眼宽数据还原后眼图。

采用本公开实施例的模拟测试方法和装置，通过对模拟的后眼图眼高和眼宽数据进行温度补偿，可以避免因环境温度导致的眼图传输信号衰减，使测试结果更加准确。采用上述方法对不同的多款S-IC进行测试，模拟结果均满足预期。

虽然本公开实施例以对源极驱动器的后眼图模拟为例进行说明，但本领域技术人员可以知道的是，在需要对其他设备后眼图模拟时，如果存在温度影响，均可采用本公开实施例的方法对后眼图的眼高数据和眼宽数据进行温度补偿。

本公开实施例方法和装置尤其适用于大尺寸显示面板的测试，例如可以对满足以下任意一种或多种条件的显示面板进行模拟测试：

条件一，尺寸大于或等于65寸或75寸；

条件二，水平分辨率大于或等于4k或8k；

水平分辨率4k是指水平方向每行像素值达到或者接近4096个像素的图像，例如4096*2160或3840*2160，均可认为是4k分辨率。水平分辨率8k是指水平方向每行像素值达到或者接近8192个像素的图像，例如7680×4320。

条件三，刷新频率大于或等于120hz。

在一种示例性实施例中，本公开还提供了一种模拟测试装置，可以包括处理器和存储器，所述存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，其中，处理器执行计算机程序时实现本公开上述任一实施方式中的模拟测试方法的步骤。

在示例性实施例中，所述模拟测试装置还可包括温度采集单元，例如温度传感器。

在一种示例性实施例中，图3为本公开实施例中的模拟测试装置的结构示意图。如图3所示，该装置50包括：至少一个处理器501；以及与处理器501连接的至少一个存储器502、总线503；其中，处理器501、存储器502通过总线503完成相互间的通信；处理器501用于调用存储器502中的程序指令，以执行上述任一实施例中的模拟测试方法的步骤。

处理器可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)、微处理器(MicroProcessor Unit，MPU)、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(ASIC)、现成可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA)、晶体管逻辑器件等，本公开对此不做限定。

存储器可以包括只读存储器(Read Only Memory，ROM)和随机存取存储器(RandomAccess Memory，RAM)，并向处理器提供指令和数据。存储器的一部分还可以包括非易失性随机存取存储器。例如，存储器还可以存储设备类型的信息。

总线除包括数据总线之外，还可以包括电源总线、控制总线和状态信号总线等。但是为了清楚说明起见，在图3中将各种总线都标为总线。

在实现过程中，处理设备所执行的处理可以通过处理器中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。即本公开实施例的方法步骤可以体现为硬件处理器执行完成，或者用处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等存储介质中。该存储介质位于存储器，处理器读取存储器中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。为避免重复，这里不再详细描述。

在一示例性实施例中，本公开实施例还提供了一种非易失性计算机可读存储介质，其上存储有可在处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现前述模拟测试方法的步骤。

本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、***、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器，如数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。

虽然本公开所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本公开而采用的实施方式，并非用以限定本公开。任何本公开所属领域内的技术人员，在不脱离本公开所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本公开的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (7)

1.一种模拟测试方法，其特征在于，包括：

接收前眼图，获得所述前眼图的眼高数据和眼宽数据，对所述前眼图的眼高数据和眼宽数据进行眼图均衡(EQ)处理，得到模拟的后眼图眼高数据和眼宽数据；

获取测试温度值，根据所述测试温度值和预先获得的温度补偿函数计算得到温度补偿值；所述温度补偿函数为：

其中：t为温度，单位为摄氏度，k₁、k₂为源极驱动器参数；

用所述温度补偿值对所述模拟的后眼图眼高数据和眼宽数据进行补偿处理，获得补偿后的模拟眼高数据和模拟眼宽数据，以避免因环境温度导致的后眼图传输信号衰减，其中，采用以下算式获得补偿后的模拟眼高数据和模拟眼宽数据：

V_eye(后)’＝T(t)*V_eye(后)

PE_eye(后)’＝T(t)*PE_eye(后)

其中，T(t)为温度补偿值，V_eye(后)’为补偿后的模拟眼高数据，V_eye(后)为模拟的后眼图眼高数据，PE_eye(后)’为补偿后的模拟眼宽数据，PE_eye(后)为模拟的后眼图眼宽数据；

根据所述补偿后的模拟眼高数据和模拟眼宽数据，还原后眼图图像。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取测试温度值包括：

采集测试现场的温度值，或者获取测试者设置的要模拟的环境温度值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述模拟测试方法用于模拟源极驱动电路接收到的数据。

4.根据权利要求1或3所述的方法，其特征在于，所述模拟测试方法用于对满足以下任意一种或多种条件的显示面板进行模拟测试：

条件一，尺寸大于或等于65寸或75寸；

条件二，水平分辨率大于或等于4k或8k；

条件三，刷新频率大于或等于120hz。

5.一种模拟测试装置，包括处理器以及存储有可在处理器上运行的计算机程序的存储器，其中，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至4中任一项所述模拟测试方法的步骤。

6.根据权利要求5所述的模拟测试装置，其特征在于，还包括温度采集单元。

7.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有可在处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至4中任一项所述模拟测试方法的步骤。