CN113029221A - 一种编码器的测试设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种编码器的测试设备，包括测试电机、和测试电机相的转轴相连接的参照编码器；和测试电机以及参照编码器相连接的控制器；测试电机的转轴用于和电机装置的转轴固定连接，其中，电机装置的转轴和待测编码器的码盘固定连接；控制器分别和测试电机、参照编码器以及待测编码器相连接，用于对待测编码器进行通讯功能测试和测量功能测试。本申请中所提供的测试设备集成了对编码器的测量和通讯均能够进行测试的功能，能够通过该测试设备简单快速的实现对组装的编码器的性能测试，进而保证编码器组装完成后工作性能的稳定性和可靠性。

Description

一种编码器的测试设备

技术领域

本发明涉及编码器性能测试技术领域，特别是涉及一种编码器的测试设备。

背景技术

编码器是工控领域中广泛应用的器件之一。而目前大部分生产工控产品的厂家并不具有研发编码器的能力，而是直接采购现成的编码器。目前直接采购的编码器主要包括两种一种是整体式编码器，也即是在出厂时已经组装成一个整体，具有装配难度低的优点，但同样也具有价格昂贵、体积大，对适应安装空间的灵活度低的缺点；另一种是分体式编码器，也即是出厂时各个主要部件并没有进行组装，而是在客户实际使用时根据安装空间自行组装，优点是价格低，能够根据安装空间灵活安装，缺点是安装难度大。

发明内容

本发明的目的是提供一种编码器的测试设备，为编码器的性能测试提供便利性，保证了编码器测量应用的测量结果准确可靠。

为解决上述技术问题，本发明提供一种编码器的测试设备，包括测试电机、和所述测试电机相的转轴相连接的参照编码器；和所述测试电机以及所述参照编码器相连接的控制器；

所述测试电机的转轴用于和电机装置的转轴固定连接，其中，所述电机装置的转轴和待测编码器的码盘固定连接；

所述控制器用于所述待测编码器相连接，并向所述待测编码器发送通讯测试信号，并接收所述待测编码器的反馈信号，若是所述反馈信号符合预设通讯协议，则所述待测编码器通过通讯功能测试；还用于控制所述测试电机带动所述参照编码器和所述待测编码器的码盘同步旋转，采集并对比所述参照编码器输出的参照绝对位置和所述待测编码器输出的绝对位置，若参照绝对位置和所述绝对位置之间差异在预设误差范围内，则所述待测编码器通过测量功能测试。

可选地，所述控制器用于控制所述测试电机带动所述参照编码器和所述待测编码器的码盘同步旋转至多个特定角度位置，采集所述参照编码器输出的第一参照绝对位置和所述待测编码器输出的第一绝对位置；对比获得每个特定角度位置对应的第一参照绝对位置和和第一绝对位置之间的第一位置差值，若所述第一位置差值在第一预设误差范围内，则所述待测编码器通过基本测量功能测试。

可选地，所述控制器用于控制所述测试电机带动所述参照编码器和所述待测编码器的码盘同步旋转最多一圈；且采集所述参照编码器实时输出的第二参照绝对位置和所述待测编码器实时输出的第二绝对位置；获得同一时刻测得的所述第二参照绝对位置和所述第二绝对位置之间的第二位置差值；根据各个所述第二位置差值获得所述第二位置差值的偏差数据，若所述偏差数据在预设偏差范围内，则所述待测编码器通过测量精度测试。

可选地，所述控制器还用于控制所述测试电机带动所述待测编码器的码盘匀速旋转，并采集所述待测编码器旋转至少一圈输出的绝对位置数据；检测间隔预设时长的任意两个时间点采集的绝对位置数据的数据差值是否均在预设数据差值范围内，若是，则所述待测编码器通过采集数据频率稳定性测试。

可选地，还包括和所述控制器相连接的温度传感器，用于检测所述待测编码器随所述测试电机旋转过程中的参照温度数据；

所述控制器用于采集所述待测编码器输出的温度数据，并对比并确定所述温度数据和所述参照温度数据之间温度差值是否在预设温度范围内，若是，则所述待测编码器的温度检测功能测试通过。

可选地，还包括和所述控制器相连接的电压检测器，用于监测所述待测编码器中供电电源的参照供电电压；

所述控制器用于采集所述待测编码器输出的供电电压，并对比并确定所述供电电压和所述参照供电电压之间电压差值是否在预设电压范围内，若是，则所述待测编码器的电压检测功能测试通过。

可选地，还包括和所述控制器相连接的显示屏，用于显示所述通讯功能测试和所述测量功能测试的结果。

可选地，还包括和所述控制器相连接的PC主机；所述PC主机用于对所述控制器中的测试程序进行更新。

可选地，所述PC主机还用于对所述控制器的测试程序参数进行修改。

可选地，还包括可充电的蓄电池，用于为所述控制器和所述测试电机供电。

本发明所提供的编码器的测试设备，包括测试电机、和测试电机相的转轴相连接的参照编码器；和测试电机以及参照编码器相连接的控制器；测试电机的转轴用于和电机装置的转轴固定连接，其中，电机装置的转轴和待测编码器的码盘固定连接；控制器分别和测试电机、参照编码器以及待测编码器相连接，用于向待测编码器发送通讯测试信号，并接收待测编码器的反馈信号，若是反馈信号符合预设通讯协议，则待测编码器通过通讯功能测试；还用于控制测试电机带动参照编码器和待测编码器的码盘同步旋转，采集并对比参照编码器输出的参照绝对位置和待测编码器输出的绝对位置，若参照绝对位置和绝对位置之间差异在预设误差范围内，则待测编码器通过测量功能测试。

本申请中考虑到在分体式编码器在组装过程中因为需要将编码器的各个部件安装应用于类似于伺服电机等设备上时，各个部件安装位置之间的配合精度难以保证。为此本申请中提供一种能够对组装完成之后的编码器进行性能检测的测试设备，该测试设备通过测试电机带动待测编码器所连接的电机装置同步旋转，进而实现待测编码器工作过程的模拟，从而基于待测编码器输出的绝对位置相关数据实现待测编码器的测量功能测试；在此基础上还通过向待测编码器发送通讯测试信号，基于该通讯测试信号实现待测编码器的通讯功能测试。由此可见本申请中所提供的测试设备集成了对编码器的测量和通讯均能够进行测试的功能使得编码器在组装完成后，能够通过该测试设备简单快速的实现对编码器进行性能测试，进而保证编码器在实际测量过程中测量数据的准确性和可靠性。

附图说明

为了更清楚的说明本发明实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的编码器的测试设备的结构框架示意图。

具体实施方式

目前常规编码器用于测量旋转角度的绝对位置信息的部件主要包括和需要测量旋转角度的电机轴固定连接的转轴、设置在转轴上且带***道的码盘、用于感应监测码盘旋转角度的感应部件、以及根据感应部件输出的感应信号解码获得绝对位置的MCU芯片；以光电编码器为例，该感应部件即为包括光源和光电传感器的读数头。在实际安装过程中，转轴和码盘需要固定连接，且转轴的中心轴应当和码盘的中心轴重合，感应部件和码盘之间的相对位置也满足一定的安装需求。

而在分体式的编码器实际安装过程中，为了尽可能的提高空间的利用率，会基于安装环境为各个部件选择合适的安装位置进行组装。组装完成后的编码器的安装精度往往难以保证。

为此，本申请中提供了一种能够快速简单的实现对组装完成的编码器的各方面性能进行检测的集成设备，以保证组装编码器的测量结果的可靠性。

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1所示，图1为本申请实施例提供的编码器的测试设备的结构框架示意图，该测试设备可以包括：

测试电机11、和测试电机11的转轴相连接的参照编码器12；和测试电机11以及参照编码器12相连接的控制器10；

测试电机11的转轴用于和电机装置3的转轴固定连接，其中，电机装置3的转轴和待测编码器2的码盘固定连接；

控制器10用于待测编码器2相连接，并向待测编码器2发送通讯测试信号，并接收待测编码器2的反馈信号，若是反馈信号符合预设通讯协议，则待测编码器2通过通讯功能测试；

该控制器10还可以用于控制测试电机11带动参照编码器12和待测编码器2的码盘同步旋转，采集并对比参照编码器12输出的参照绝对位置和待测编码器2输出的绝对位置，若参照绝对位置和绝对位置之间差异在预设误差范围内，则待测编码器2通过测量功能测试。

本申请中所测试的待测编码器是一种旋转角度测量器件。在编码器实际工作工程中，一方面需要保证编码器对旋转角度精准测量，另一方面还要保证编码器能够正常接收各种通讯信号，并对相应地通讯信号进行正确响应。

为此，本实施例中在对待测编码2器进行测试时，可以通过控制器10连接待测编码器2的通讯接口，并通过通讯接口向待测编码器2中的MCU芯片发送各种通讯测试信号；该通讯测试信号是基于待测编码器2正常工作过程中可接收到的各种通讯信号而设定的；在MCU芯片接收到通讯测试信号之后，即可输出响应该通讯测试信号的反馈信号；因为该反馈信号主要是对待测编码器2的通讯功能进行测试，因此，在接收到反馈信号之后，可以对反馈信号的数据格式满足的通讯协议进行检测，若是该反馈信号的数据格式满足正常的通讯协议传输的数据格式，即可证明该MCU芯片能够进行正常通讯，通讯功能测试通过。

当然在实际测试过程中，为了保证测试结果的准确性，对于每种通讯测试信号可以进行多次测试，例如针对每种通讯测试信号均测试20次甚至更多，如果每次均测试通过，则说明通讯功能良好。对于实际的测量次数可以根据对待测编码器的精度要求不同而调整设定；例如可以在测试设备上设置可以进行参数输入或调节的界面，使得测试设备在实际应用中，用户可以根据实际需求设定通讯测试信号的测试次数。

在实际应用过程中，编码器通常设置在电机轴后端且编码器的转轴和电机轴固定连接，用于检测电机轴的旋转角度，因此，在对分体式编码器安装完成之后，编码器的转轴应当是和电机轴固定连接的。该电机装置可以是驱动电机、伺服电机等等，对此本申请中不做具体限制。

为了对量编码器的测量功能进行测试，本实施例中的测试设备中进一步包括可以和待测编码器2相连接的电机装置3的转轴固定连接的测试电机11。该测试电机11的转轴和电机装置3的转轴可以通过类似于联动轴等类似的中间件固定连接。当测试电机11的转轴旋转时，显然电机装置3会带动待测编码器2的码盘与测量电机11的转轴同步旋转，与此同时待测编码器2会输出测量获得的绝对位置，显然，要确定待测编码器2的测量精度，就需要确定绝对位置的准确性。

为此，本实施例中进一步设置和测试电机11的转轴相连接的参照编码器，显然该参照编码器12是一个标准编码器，该参照编码器12和测试电机11的转轴相连接，当测试电机11受控制器10控制通过电机装置3驱动待测编码器2旋转的同时，也能够驱动参照编码器12旋转，且能够保证参照编码器12和待测编码器2的旋转同步。因此正常情况下，该参照编码器12测得的参照绝对位置和待测编码器2测得的绝对位置应当是一致的，由此即可以此为依据，确定参照绝对位置和待测编码器2的绝对位置之间的差异是否在允许误差范围内，若是，则显然，该待测编码器2的测量精度符合要求。

综上所述，本申请中提供了一种集成有对编码器的通讯功能和测量功能两种功能进程测试的功能为一体的测试设备，在编码器尤其是分体式编码器组装完成之后，能够简单快速的完成对编码器工作性能进行测试，以便用户根据测试结果对编码器的组装进行调整，保证了组装完成后的编码器具有更好的工作性能，有利于分体式编码器的广泛应用。

在本申请的一种可选地实施例中，测试设备中的控制器10在实际测试过程中，还可以进一步地用于：

控制测试电机11带动参照编码器12和待测编码器2的码盘同步旋转至多个特定角度位置，采集参照编码器12输出的第一参照绝对位置和待测编码器2输出的第一绝对位置；对比获得每个特定角度位置对应的第一参照绝对位置和和第一绝对位置之间的第一位置差值，若第一位置差值在第一预设误差范围内，则待测编码器2通过基本测量功能测试。

在实际测量过程中，可以预先选取几个特定角度位置，例如，可以是0度、90度、180度以及270度等特殊位置点，控制器10控制测试电机11带动参照编码器12和待测编码器2的转轴带动码盘旋转至上述特定角度位置之后，对比在每个特定位置点参照编码器12输出的参照绝对位置和待测编码器输出的绝对位置之间的位置差值是否均在第一预设误差范围内，若是，则待测编码器2通过基本测量功能测试。

需要说明的是，参照编码器12和待测编码器2的码道零点并不一定一致，即开始同步旋转的起始位置，两个编码器输出的绝对位置并不相同。为此，在实际测试过程中，控制器10可以控制测试电机11基于当前角度位置，分别旋转90度、180度、270度以及360度，并将测试电机11旋转每个至各个特定角度之后，基于对比参照编码器12输出的参照绝对位置和待测编码器2输出的绝对位置相对于初始绝对位置的增量是否相同，以此判断待测编码器2的基本测量功能是否良好。

基于上述论述，在待测编码器2通过基本测量功能测试之后，控制器10还可以进一步地用于：

控制测试电机11带动参照编码器12和待测编码器2的码盘同步旋转至多一圈；且采集参照编码器12实时输出的第二参照绝对位置和待测编码器2实时输出的第二绝对位置；获得同一时刻测得的第二参照绝对位置和第二绝对位置之间的第二位置差值；根据各个第二位置差值获得第二位置差值的偏差数据，若偏差数据在预设偏差范围内，则待测编码器2通过测量精度测试。

对于上述实施例中对待测编码器2的基本测量功能测试的测试结果具有一定的参考意义。但是显然单次测试过程存在一定的偶然性，测试结果的可靠性并不高。为此，在本实施例中，控制器10可以控制测试电机11带动参照编码器12和待测编码器2同步旋转，并且，在采集绝对位置数据时，是采集参照编码器12和待测编码器2实时输出的绝对位置数据。

以参照编码器12在某一时刻输出的绝对位置数据为第二参照绝对位置，待测编码器2输出的绝对位置数据为第二绝对位置，显然，在正常情况下，同一时刻对应的第二参照绝对位置和第二绝对位置应当一致。但是在两个编码器实际测量过程中，不可避免的因为读数误差等等各方面的原因导致第二绝对位置相对于第二参照绝对位置存在偏差。而若是第二绝对位置在第二参照绝对位置附近小范围的波动显然可以认为待测编码器的测量结果是在误差允许范围内的。为此，本实施例中针针对每个测量时刻对应的第二参照绝对位置和第二绝对位置之间的位置差值进行利用偏差计算公式：

获得第二参照绝对位置和第二绝对位置之间的偏差数据S，其中，x_i为第i次测得的第二参照绝对位置，y_i为第i次测得的第二绝对位置，i∈[1,N]。该偏差数据在一定程度上反映了第二绝对位置相对于第二参照绝对位置波动幅度的大小；偏差数据越小，则说明第二绝对位置越接近第二参照位置，待测编码器的测量精准度越高。另外，考虑到待测编码器2和参照编码器12的码道零点不同，第二绝对位置和第二参照位置均可以是相对于测试初始时刻的起点绝对位置的绝对位置数据，对此本申请中不再详细赘述。

另外，对于待测编码器2的测量精度测试时，控制器10可以控制测试电机11带动待测编码器2和参照编码器12旋转多圈，在能够采集更多的单圈绝对位置数据的基础上，也能够采集多圈绝对位置数据，同时对绝对位置数据中的单圈数据和多圈数据进行对照检测，从而使得某些多圈累加而显示的错误能够再多圈测量中体现，进而提高测试的准确性。对于具体的测试圈数，可以根据实际需要进行调整。

基于上述论述可知，对待测编码器2的测量精度测试过程相对于基本测量功能测试的测量过程更为复杂，需要耗费的时间更长；且过程存在一定的重复性。而之所以需要先进行基本测量功能测试，是为了对待测编码器2的功能进行初步判断。先简单的对待测编码器2的基本测量功能进行测试，若是待测编码器2的基本测量功能测试都无法通过，显然，待测编码器2的测量精度测试也不能通过，因此，基本测量功能测试能够对待测编码器2是否需要进行下一步的测量精度测试进行一个初步的筛选，对基本测量功能测试不通过的待测编码器2则无需进行下一步的测量精度测试，从而在一定程度上减少测试时间。

当然，在实际应用过程中，也并不必然在测量精度测试之前一定先做基本测量功能测试，控制器10可以选择直接对待测编码器2进行测量精度测试，也并不影响本申请技术方案的实现。例如，在实际应用中，可以根据用户的选择指令确定测试过程中是先进行基本测量功能测试，测试通过之后再进行测量精度测试，用户也可以通过操作界面直接选择仅仅进行测量精度测试，对此，本申请中不做具体限制。

基于上述论述，在本申请的一种可选地实施例中，控制器10还可以进一步地用于：

控制测试电机11带动待测编码器2的码盘匀速旋转，并采集待测编码器2旋转至少一圈输出的绝对位置数据；检测间隔预设时长的任意两个时间点采集的绝对位置数据的数据差值是否均在预设数据差值范围内，若是，则待测编码器2通过采集数据频率稳定性测试。

需要说明的是，编码器最重要功能就是实时绝对位置数据读取，绝对位置数据读数的稳定性也是编码器的重要性能之一。正常情况下，尽管编码器中读数头等感应部件对码道旋转位置的绝对位置数据读取是实时采集的，但每次采集数据之间也存在短暂的间隔时长。如果编码器的数据读取稳定性良好，则说明任意相邻两次采集绝对位置数据的时间间隔应当相同。

为此，本申请中为了对待测编码器2的读取数据的稳定性进行测试，控制器10可以控制测试电机11带动待测编码器2匀速旋转，与此同时获取待测编码器2在转轴旋转过程中输出的各个绝对位置，显然，当待测编码器2的数据读取性能稳定性良好的情况下，相邻两次读取的绝对位置数据之间的差值应当恒定且等于参照编码器12相邻两次输出的参照绝对位置数据。为此，即可通过对待测编码器2输出的各个绝对位置数据和相邻的绝对位置数据进行差值运算，显然，若是差值运算获得的数据差值均在相邻参照绝对位置数据差值附近小范围波动，显然，该待测编码器2的数据读取稳定性良好。也即是采集数据频率稳定性测试通过。

基于上述论述，在对待测编码器2的测量功能、通讯功能等方面进行测试以外，在本申请的另一可选地实施例中，测试设备还可以进一步地包括：

和控制器10相连接的温度传感器13，用于检测待测编码器2随测试电机旋转过程中的参照温度数据；

控制器10用于采集待测编码器2输出的温度数据，并对比并确定温度数据和参照温度数据之间温度差值是否在预设温度范围内，若是，则待测编码器2的温度检测功能测试通过。

正常情况下，编码器的线路板上会设置有温度检测部件，以便实时的对线路板上的温度数据进行监测，并将采集获得的温度数据传输值MCU芯片，并通过MCU芯片输出。

为此，本实施例中进一步地设置有温度传感器13，对待测编码器2的温度检测功能进行测试，通过该温度传感器13测得的参照温度数据和待测编码器2中的MCU芯片输出的温度数据进行对比，若是两组同一时刻检测的温度数据基本相同，显然，待测编码器2的温度检测功能良好。

在本申请的另一可选地实施例中，测试设备中还可以进一步地包括：

和控制器10相连接的电压检测器14，用于监测待测编码器2中供电电源的参照供电电压；

控制器10用于采集待测编码器2输出的供电电压，并对比并确定供电电压和参照供电电压之间电压差值是否在预设电压范围内，若是，则待测编码器2的电压检测功能测试通过。

在编码器中需要配置电源设备为编码器的正常工作提供电能，正常情况下，MCU芯片需要对电源设备输出的供电电压进行实时检测。为了对编码器的电压检测功能进行测试。本实施例中可以通过电压检测器14对供电电压进行检测，和温度检测测试过程类似，若是电压检测器14检测获得待测编码器2的电源设备输出的供电电压和MCU芯片输出的供电电压基本相同，则说明待测编码器2的电压检测功能测试通过。

如前所述，本申请中所提供的编码器测试设备分别可以实现对待测编码器2的通讯功能测试、对测量功能测试、对采集数据频率稳定性测试、对温度检测功能测试以及对电压检测功能测试等等，在实际进行测试过程中，用户可以有选择性的选择其中某一项或几项测试功能或全部的测试功能进行测试，对此本申请中并不做具体限制。

为了使得用户可以更直观的获得测试结果，还可以进一步地在测试设备上设置显示屏15，将实际测试中的测试结果进行显示。

在本申请的另一可选地实施例中，还可以进一步地包括和控制器10相连接的PC主机4。

需要说明的是，编码器在实际工作过程中，往往需要将编码器中的MCU芯片和PC主机4相连接，通过MCU芯片和PC主机4之间的通讯连接向PC主机4传输编码器测量获得的各种测量数据。因此，本实施例中的PC主机4可以和测试设备中的控制器10相连接，可以通过该PC主机4获得MCU芯片在测试过程中输出的各种测试所需的数据。并且还可以通过PC主机4对测试设备的测试程序进行更新，甚至还可以通过PC主机4对测试设备的测试程序中各种测试参数进行修改调整等等。当然，本实施例中的PC主机4也并不必然是和待测编码器2相连接的主机设备，也可以是专门为测试设备配置的主机设备，或者是测试环境中任意一个可使用的主机设备。

为了提高测试设备测试过程中使用的便利性，还可以进一步低为该测试设备配置蓄电池16，使得测试设备在测试待测编码器2过程中，不需要连接环境中的电源而直接由蓄电池16为控制器10以及测试电机11等器件供电，在测试设备不工作时，在对蓄电池16进行充电即可。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。另外，本申请实施例提供的上述技术方案中与现有技术中对应技术方案实现原理一致的部分并未详细说明，以免过多赘述。

本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。

Claims (10)

1.一种编码器的测试设备，其特征在于，包括测试电机、和所述测试电机的转轴相连接的参照编码器、和所述测试电机以及所述参照编码器相连接的控制器；

所述测试电机的转轴用于和电机装置的转轴固定连接，其中，所述电机装置的转轴和待测编码器的码盘固定连接；

所述控制器用于和所述待测编码器相连接，向所述待测编码器发送通讯测试信号，并接收所述待测编码器的反馈信号，若是所述反馈信号符合预设通讯协议，则所述待测编码器通过通讯功能测试；还用于控制所述测试电机带动所述参照编码器和所述待测编码器的码盘同步旋转，采集并对比所述参照编码器输出的参照绝对位置和所述待测编码器输出的绝对位置，若所述参照绝对位置和所述绝对位置之间差异在预设误差范围内，则所述待测编码器通过测量功能测试。

2.如权利要求1所述的编码器的测试设备，其特征在于，所述控制器用于控制所述测试电机带动所述参照编码器和所述待测编码器的码盘同步旋转至多个特定角度位置，采集所述参照编码器输出的第一参照绝对位置和所述待测编码器输出的第一绝对位置；对比获得每个特定角度位置对应的第一参照绝对位置和和第一绝对位置之间的第一位置差值，若所述第一位置差值在第一预设误差范围内，则所述待测编码器通过基本测量功能测试。

3.如权利要求1所述的编码器的测试设备，其特征在于，所述控制器用于控制所述测试电机带动所述参照编码器和所述待测编码器的码盘同步旋转最多一圈；且采集所述参照编码器实时输出的第二参照绝对位置和所述待测编码器实时输出的第二绝对位置；获得同一时刻测得的所述第二参照绝对位置和所述第二绝对位置之间的第二位置差值；根据各个所述第二位置差值获得所述第二位置差值的偏差数据，若所述偏差数据在预设偏差范围内，则所述待测编码器通过测量精度测试。

4.如权利要求1至3任一项所述的编码器的测试设备，其特征在于，所述控制器还用于控制所述测试电机带动所述待测编码器的码盘匀速旋转，并采集所述待测编码器旋转至少一圈输出的绝对位置数据；检测间隔预设时长的任意两个时间点采集的绝对位置数据的数据差值是否均在预设数据差值范围内，若是，则所述待测编码器通过采集数据频率稳定性测试。

5.如权利要求1所述的编码器的测试设备，其特征在于，还包括和所述控制器相连接的温度传感器，用于检测所述待测编码器随所述测试电机旋转过程中的参照温度数据；

所述控制器用于采集所述待测编码器输出的温度数据，对比并确定所述温度数据和所述参照温度数据之间温度差值是否在预设温度范围内，若是，则所述待测编码器的温度检测功能测试通过。

6.如权利要求1所述的编码器的测试设备，其特征在于，还包括和所述控制器相连接的电压检测器，用于监测所述待测编码器中供电电源的参照供电电压；

所述控制器用于采集所述待测编码器输出的供电电压，对比并确定所述供电电压和所述参照供电电压之间电压差值是否在预设电压范围内，若是，则所述待测编码器的电压检测功能测试通过。

7.如权利要求1所述的编码器的测试设备，其特征在于，还包括和所述控制器相连接的显示屏，用于显示所述通讯功能测试和所述测量功能测试的结果。

8.如权利要求1所述的编码器的测试设备，其特征在于，还包括和所述控制器相连接的PC主机；所述PC主机用于对所述控制器中的测试程序进行更新。

9.如权利要求1所述的编码器的测试设备，其特征在于，所述PC主机还用于对所述控制器的测试程序参数进行修改。

10.如权利要求1所述的编码器的测试设备，其特征在于，还包括可充电的蓄电池，用于为所述控制器和所述测试电机供电。

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