CN112994809B - 数字预失真性能检测方法、装置、计算机设备和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种数字预失真性能检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述的方法通过获取基带信号；根据所述基带信号确定第一包络驻点时刻和第一包络驻点样点值；对所述基带信号进行预失真处理，得到预失真信号；对所述预失真信号进行数模转换处理，得到转换信号，并将所述转换信号发送至发射机；接收经过所述发射机处理的信号，得到发射信号；对所述发射信号进行耦合转换处理，得到复反馈信号；根据所述复反馈信号得到第二包络驻点时刻和第二包络驻点样点值；根据所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值确定失真量；根据所述失真量进行预失真性能检测。本申请提供的数字预失真性能检测方法复杂度较低。
Description
技术领域
本申请涉及预失真技术领域，特别是涉及一种数字预失真性能检测方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术
数字预失真技术是提高发射机线性度的有效方法。在实施数字预失真技术时，首先发射一个训练信号估计发射机的非线性特性，然后在发射机前构造一个预失真电路，此失真电路的非线性特性和发射机的非线性特性互逆，此时，预失真电路串联发射机的整体等价为一个理想的发射机。但是，在实际电路中，以温度和电压为代表的物理参数的变化会导致发射机的非线性特性发生漂移变化。当发射机的非线性漂移达到一定的程度时，数字预失真技术的预失真性能将会显著的降低，从而恶化发射波形的质量。
传统技术中，要么通过实时观测电压和温度等物理参数的漂移变化，当其漂移变化量超出阈值时，重新测量发射机的非线性特性，并更新预失真参数，这种方法监测精度差。要么通常采用特定信号作为观测量来观测电压和温度等物理参数的变化，从而实现对预失真性能的检测，然而，这种数字预失真性能检测方法存在计算复杂的问题。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种数字预失真性能检测方法、装置、计算机设备和存储介质。
为了实现上述目的，一方面，本申请实施例提供了一种数字预失真性能检测方法、装置计算机设备和存储介质，所述方法包括：
获取基带信号，其中，所述基带信号通过过采样得到；
确定所述基带信号的包络驻点，得到第一包络驻点时刻；
确定所述第一包络驻点时刻对应的样点值，得到第一包络驻点样点值；
对所述基带信号进行预失真处理，得到预失真信号；
对所述预失真信号进行数模转换处理，得到转换信号，并将所述转换信号发送至发射机；
接收经过所述发射机处理的信号，得到发射信号；
对所述发射信号进行耦合转换处理，得到复反馈信号；
确定所述复反馈信号的包络驻点，得到第二包络驻点时刻；
确定所述第二包络驻点时刻对应的样点值，得到第二包络驻点样点值；
根据所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值确定失真量；
根据所述失真量进行预失真性能检测。
在其中一个实施例中，所述确定所述基带信号的包络驻点，得到第一包络驻点时刻，包括：
获取所述基带信号的多个第一数字采样点；
基于多项式内插法，根据所述多个第一数字采样点的模值，确定所述第一包络驻点时刻。
在其中一个实施例中，所述确定所述复反馈信号的包络驻点，得到第二包络驻点时刻，包括：
获取所述复反馈信号的多个第二数字采样点；
基于多项式内插法，根据所述多个第二数字采样点的模值，确定所述第二包络驻点时刻。
在其中一个实施例中，当所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值分别为多项时，所述根据所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值确定失真量，包括：
根据多项所述第二包络驻点样点值和多项所述第一包络驻点样点值的比值，确定多项非线性观测量；
基于多项式拟合方法，根据所述多项非线性观测量确定所述失真量。
在其中一个实施例中，所述根据所述多项非线性观测量确定所述失真量，包括：
利用公式(1)确定所述失真量：
其中，
为所述多项非线性观测量，g为所述失真量，k为非线性阶数，N为最高非线性阶数，x为所述第一包络驻点样点值。
在其中一个实施例中，所述根据所述失真量进行预失真性能检测，包括：
根据所述失真量对所述预失真性能进行判断；
若所述预失真性能不满足预设条件，则根据所述失真量更新预失真参数，得到更新预失真参数；
利用所述更新预失真参数对所述基带信号进行预失真处理。
在其中一个实施例中，所述对所述发射信号进行耦合转换处理，得到复反馈信号，包括：
对所述发射信号进行耦合处理，得到耦合信号；
对所述耦合信号进行下变频处理，得到变频信号；
将所述变频信号进行模数转换处理，得到复反馈信号。
另一方面，本申请实施例还提供了一种数字预失真性能检测装置，所述装置包括：
基带信号获取模块，用于获取基带信号，其中，所述基带信号通过过采样得到；
第一包络驻点时刻确定模块，用于确定所述基带信号的包络驻点，得到第一包络驻点时刻；
第一包络驻点样点值确定模块，用于确定所述第一包络驻点时刻对应的样点值，得到第一包络驻点样点值；
预失真信号确定模块，用于对所述基带信号进行预失真处理，得到预失真信号；
转换信号确定模块，用于对所述预失真信号进行数模转换处理，得到转换信号，并将所述转换信号发送至发射机；
发射信号确定模块，用于接收经过所述发射机处理的信号，得到发射信号；
反馈信号确定模块，用于对所述反射信号进行耦合转换处理，得到复反馈信号；
第二包络驻点时刻确定模块，用于确定所述复反馈信号的包络驻点，得到第二包络驻点时刻；
第二包络驻点样点值确定模块，用于确定所述第二包络驻点时刻对应的样点值，得到第二包络驻点样点值；
失真量确定模块，用于根据所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值确定失真量；
预失真性能检测模块，用于根据所述失真量进行预失真性能检测。
一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上所述的方法的步骤。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的方法的步骤。
本申请实施例提供的数字预失真性能检测方法、装置、计算机设备和存储介质，通过获取基带信号，确定所述基带信号的包络驻点，得到第一包络驻点时刻。根据所述第一包络驻点时刻对应的样点值，得到第一包络驻点样点值。对所述基带信号进行预失真处理和数模转换处理后发送至发射机。对所述发射机发送的发射信号进行耦合转换处理，得到复反馈信号。确定所述复反馈信号的包络驻点，得到第二包络驻点时刻。根据所述第二包络驻点时刻确定所述第二包络驻点样点值。根据所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值确定失真量，根据所述失真量进行预失真性能检测。本实施例提供的方法，根据所述基带信号和所述复反馈信号的包络驻点样点值计算失真量，可以避免对整个所述基带信号和所述复反馈信号进行计算，这样能够降低计算复杂度。并且，本实施例提供的方法通过所述基带信号和所述复反馈信号的包络驻点样点值计算的失真量来检测预失真性能，能够保证检测期间所述发射机的非线性特性近似为常数，便于检测和估计。
附图说明
图1为本申请一个实施例提供的数字预失真性能检测方法的应用环境示意图；
图2为本申请一个实施例提供的数字预失真性能检测方法步骤流程示意图；
图3为本申请一个实施例提供的数字预失真性能检测方法步骤流程示意图；
图4为本申请一个实施例提供的数字预失真性能检测方法步骤流程示意图；
图5为本申请一个实施例提供的第一包络驻点样点值和第二包络驻点样点值的关系示意图；
图6为本申请一个实施例提供的数字预失真性能检测方法步骤流程示意图；
图7为本申请一个实施例提供的数字预失真性能检测方法步骤流程示意图；
图8为本申请一个实施例提供的数字预失真性能检测方法步骤流程示意图；
图9为本申请一个实施例提供的理想线性发射机特性结构示意图；
图10为本申请一个实施例提供的数字预失真***的非线性特性示意图；
图11为本申请一个实施例提供的数字预失真性能检测装置示意图；
图12为本申请一个实施例提供的计算机设备结构示意图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
本申请提供的数字预失真性能检测方法，可以应用于数字预失真***。所述数字预失真***可以包括预失真反馈装置和发射机。其中，如图1所示，所述预失真反馈装置可以包括预失真组件、上位机和反馈回路。所述上位机用于向所述预失真组件提供预失真参数；所述预失真组件包括预失真单元、第一驻点检测单元和数模转换器等，所述预失真组件用于对进入所述发射机的信号进行预失真处理；所述反馈回路包括耦合单元、模数转换器、变频单元、失真量量确定单元和第二驻点检测单元等，所述反馈回路用于对所述发射机发送的信号进行处理，并反馈至所述预失真装置。所述上位机可以是计算机设备，所述计算机设备可以但不限于是工业计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑和便携式可穿戴设备等。
下面以具体的实施例对本申请的技术方案以及本申请的技术方案如何解决技术问题进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。下面将结合附图，对本申请的实施例进行描述。
请参见图1，本申请一个实施例提供的数字预失真性能检测方法，本实施例以所述数字预失真性能检测方法应用于所述数字预失真***，具体的，应用于所述预失真反馈装置为例进行说明，所述方法包括：
S100，获取基带信号，其中，所述基带信号通过过采样得到。
所述基带信号是对所述发射机在正常工作时可以接收到的通信信号进行过采样得到的信号。所述基带信号可以是实基带信号，也可以是复基带信号。过采样方法是使用大于奈奎斯特采样频率的频率对信号进行采样。所述预失真组件接收所述基带信号。
S110，确定所述基带信号的包络驻点，得到第一包络驻点时刻。
所述第一包络驻点时刻是指所述基带信号中一阶导数为零的点对应的所述基带信号的数字采样点。若所述基带信号为复基带信号，则所述第一包络驻点时刻是指所述基带信号的包络的一阶导数为零的点对应的所述基带信号的数字采样点。所述包络驻点位于相邻的数字采样点之间。所述第一驻点检测单元根据所述数字采样点计算所述第一包络驻点时刻。本实施例对计算所述第一包络驻点时刻的具体方法不作任何限制。
S120，确定所述第一包络驻点时刻对应的样点值，得到第一包络驻点样点值。
所述第一包络样点值为所述基带信号在所述第一包络驻点时刻的取值。基于所述基带信号，根据所述第一包络驻点时刻可以计算得到所述第一包络驻点样点值，将所述第一包络驻点样点值表示为p1(n)。本实施例对计算所述第一包络驻点样点值的具体方法不作任何限制。
S130，对所述基带信号进行预失真处理，得到预失真信号。
所述上位机可以将所述预失真参数发送至所述预失真组件。所述预失真组件根据接收到的所述预失真参数对所述基带信号进行预失真处理，得到预失真信号。具体的，所述预失真组件可以通过预失真单元对所述基带信号进行预失真处理，所述预失真单元可以是预失真电路。
S140，对所述预失真信号进行数模转换处理，得到转换信号，并将所述转换信号发送至发射机。
由于所述发射机接收的信号为模拟信号，而所述预失真信号为数字信号，则需要对所述预失真信号进行数模转换处理。所述预失真组件可以通过所述数模转换器将所述预失真信号转换为模拟信号，得到转换信号，并将所述转换信号发送至所述发射机进行处理。
S150，接收经过所述发射机处理的信号，得到发射信号。
所述发射机通过上变频处理组件对接收到的所述转换信号进行上变频处理。所述发射机将经过上变频处理的所述转换信号放大后得到所述发射信号，并将所述发射信号发送至天线。所述反馈回路能够接收到所述发射机天线发送的所述发射信号。所述发射机可以但不限于是上变频电路、功率放大电路和滤波电路等。
S160，对所述发射信号进行耦合转换处理，得到复反馈信号。
所述反馈回路将接收到的所述发射信号输入耦合单元、变频单元和模数转换器等组件，进行耦合、变频和模数转换等处理后，得到所述复反馈信号。
S170，确定所述复反馈信号的包络驻点，得到第二包络驻点时刻。
所述第二包络驻点时刻是指所述复反馈信号的包络的一阶导数为零的点对应的所述复反馈信号的数字采样点。所述第二驻点检测单元可以根据所述复反馈信号的数字采样点计算所述第二包络驻点时刻。本实施例对计算所述第二包络驻点时刻的具体方法不作任何限制。
S180，确定所述第二包络驻点时刻对应的样点值，得到第二包络驻点样点值。
所述第二包络驻点样点值为所述复反馈信号在所述第二包络驻点时刻的取值。基于所述复反馈信号，根据所述第二包络驻点时刻可以计算得到所述第二包络驻点样点值，将所述第二包络驻点样点值表示为p2(n)。本实施例对计算所述第二包络驻点样点值的具体方法不作任何限制。
S190，根据所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值确定失真量；
所述失真量确定单元可以接收所述第一驻点检测单元的所述第一包络驻点样点值和所述第二驻点检测单元的所述第二包络驻点样点值。所述失真量确定单元根据所述第一包络驻点样点值和所述第二包络样点值计算所述失真量，并将所述失真量上传至所述上位机。所述失真量可以表示所述发射机发射的信号的残余非线性特性，即，当温度和电压等物理参数发生变化时，会引起所述发射信号的非线性特性发生失真，会产生一些残余的非线性特性。
S200，根据所述失真量进行预失真性能检测。
所述上位机可以根据接收到的所述失真量对所述数字预失真***的预失真性能进行检测，并通过判断所述失真量是否会影响所述发射机的发射信号的质量来判断所述数字预失真***的预失真性能。若所述失真量导致所述发射信号的质量恶化超出了所述数字预失真***对信号质量的需求，则说明所述数字预失真***的性能较差，若所述失真量导致所述发射信号的质量没有超出所述数字预失真***对信号质量的需求，则说明所述数字预失真***的性能仍保持在最优状态。
本申请实施例提供的数字预失真性能检测方法、装置、计算机设备和存储介质，通过获取基带信号，确定所述基带信号的包络驻点，得到第一包络驻点时刻。根据所述第一包络驻点时刻，得到第一包络驻点样点值。对所述基带信号进行预失真处理和数模转换处理后发送至发射机。对所述发射机发送的发射信号进行耦合转换处理，得到复反馈信号。确定所述复反馈信号的包络驻点，得到第二包络驻点时刻。根据所述第二包络驻点时刻确定所述第二包络驻点样点值。根据所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值确定失真量，根据所述失真量进行预失真性能检测。本实施例提供的方法根据所述基带信号和所述复反馈信号的包络驻点时刻计算失真量，可以避免对整个所述基带信号和所述复反馈信号进行计算，这样能够降低计算复杂度。并且，本实施例提供的方法通过所述基带信号和所述复反馈信号的包络驻点样点计算的失真量来检测预失真性能，能够保证检测期间所述发射机的非线性特性近似为常数，便于检测和估计。同时，本实施例提供的方法采用所述发射机接收到的通信信号而非特定的信号作为检测信号，能够避免浪费所述发射机的有效工作时间，提高工作效率。
请参见图3，本实施例涉及的是所述确定所述基带信号的包络驻点，得到第一包络驻点时刻的一种可能的实现方式，S110包括：
S111，获取所述基带信号的多个第一数字采样点。
S112，基于多项式内插法，根据所述多个第一数字采样点的模值，确定所述第一包络驻点时刻。
所述内插法，又称插值法，是根据未知函数在某区间内若干点的函数值，作出在该若干点的函数值与所述未知函数值相等的特定函数来近似所述未知函数，进而根据所述特定函数计算出该区间内其他各点的所述未知函数的近似值。所述第一数字采样点为获取所述基带信号时的采样点。所述多个第一数字采样点的模值是指所述多个采样点对应的所述基带信号的值。根据所述多个第一数字采样点能够作出与所述基带信号近似的第一特定函数，根据所述第一特定函数的一阶导对应的数字采样点，则可以得到所述第一包络驻点时刻。根据所述第一包络驻点时刻和所述多个第一数字采样点的模值可以计算出所述第一包络驻点样点值。
请参见图4，本实施例涉及的是所述确定所述复反馈信号的包络驻点，得到第二包络驻点时刻的一种可能的实现方式，S170包括：
S171，获取所述复反馈信号的多个第二数字采样点。
S172，基于多项式内插法，根据所述多个第二数字采样点的模值，确定所述第二包络驻点时刻。
对所述发射信号进行转换处理后的所述复反馈信号是数字信号，所述第二数字采样点为所述复反馈信号的数字采样点。所述多个第二数字采样点的模值是指所述多个第二数字采样点对应的所述复反馈信号的值。参考上述实施例对所述第一包络驻点时刻的计算过程，根据所述多个第二数字采样点能够作出与所述复反馈信号近似的第二特定函数，根据所述第二特定函数的一阶导对应的数字采样点，则可以得到所述第二包络驻点时刻。根据所述第二包络驻点时刻和多个第二数字采样点模值可以计算出所述第二包络驻点样点值。
所述第二包络驻点样点值可以表示为
其中，
为所述失真量对应的幅度到幅度的失真函数，
为所述失真量对应的幅度到相位的失真函数。由于所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值在邻域内的包络变化十分微小，所以所述失真量在所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值的邻域内的幅度到幅度和幅度到相位的调制的失真特性近似为常数，能够便于检测和估计。并且，所述基带信号和所述复反馈信号在所述第一包络驻点时刻的邻域内和所述第二包络驻点时刻的邻域内的取值变化相对较为缓慢，则这样会降低对所述反馈回路的带宽要求。同时，所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值的关系如图5所示，从图中可以看出，所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值不需要严格的时间对齐，只需保证一一对应即可，这样能够避免使用复杂的分数倍延时电路，从而能够降低复杂度。
请参见图6，本实施例涉及的是当所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值分别为多项时，所述根据所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值确定失真量的一种可能的实现方式，S190包括：
S191，根据多项所述第二包络驻点样点值和多项所述第一包络驻点样点值的比值，确定多项非线性观测量。
S192，基于多项式拟合方法，根据所述多项非线性观测量确定所述失真量。
所述多项式拟合方法是用一个多项式展开去拟合包含数个分析格点的一小块分析区域中的所有观测点，得到观测数据的客观分析场。展开系数由最小二乘法拟合确定。根据多项所述第二包络驻点样点值和多项所述第一包络驻点样点值的比值确定多项非线性观测量。
在一个实施例中，根据所述多项非线性观测量确定所述失真量包括：
利用公式(1)确定所述失真量：
其中，
为所述多项非线性观测量，g为所述失真量，k为非线性阶数，N为最高非线性阶数，x为所述第一包络驻点样点值。
所述多项非线性观测量的项数大于所述最高非线性阶数N。根据公式(1)可以将第k阶非线性的所述失真量定义为ηk＝20log10(||g1/gk||)，所述上位机可以根据ηk来判断当前所述数字预失真***的预失真性能。
请参见图7，本实施例涉及的是所述根据所述失真量进行预失真性能检测的一种可能的实现方式，S200包括：
S210，根据所述失真量对所述预失真性能进行判断；
所述上位机可以根据所述失真量计算得到ηk来判断当前所述数字预失真***的预失真性能。
S220，若所述预失真性能不满足预设条件，则根据所述失真量更新预失真参数，得到更新预失真参数。
预设条件为关于预失真性能的设计指标或标准协议。若所述预失真性能不满足预设条件，即，所述发射机发送的信号的质量发生恶化，则当前所述数字预失真***的预失真性能较差，所以用所述失真量更新所述上位机中的预失真参数，得到更新预失真参数。
S230，利用所述更新预失真参数对所述基带信号进行预失真处理。
所述预失真装置利用所述更新预失真参数对所述基带信号重新进行预失真处理，以使得所述数字预失真***的性能始终维持在最优状态。
S240，若所述预失真性能满足预设条件，利用所述预失真参数对所述基带信号进行预失真处理。
若所述预失真性能满足预设条件，即，所述发射机发送的信号的质量没有发生恶化，则当前所述数字预失真***的预失真性能仍保持最优，则继续利用所述预失真参对所述基带信号进行预失真处理。
请参见图8，本实施例涉及的是所述对所述发射信号进行耦合转换处理，得到反馈信号的一种可能的实现方式，S160包括：
S161，对所述发射信号进行耦合处理，得到耦合信号。
所述反馈回路可以将所述发射信号输入所述耦合单元，通过所述耦合单元对所述发射信号进行耦合处理，得到所述耦合信号。所述耦合信号包含所述发射信号除幅度以外的完整的信息。所述耦合组件可以但不限于是无源电路，并且，所述耦合组件需要具有较高的线性度。
S162，对所述耦合信号进行下变频处理，得到变频信号。
所述反馈回路可以将所述耦合信号输入所述变频单元，所述变频单元可以将所述耦合信号从载波频率下变频到中频，得到所述变频信号。所述变频单元需要具有较高的线性度。
S163，将所述变频信号进行模数转换处理，得到复反馈信号。
由于后续的处理过程需要的信号是数字信号，则需要把所述变频信号转换成数字信号。所述反馈回路可以将所述变频信号输入模数转换器，所述模数转换器将所述变频信号经过采样和量化成为数字信号，得到所述复反馈信号。
当所述数字预失真***开始工作时，所述上位机将所述预失真参数写入所述预失真单元中。此时，预失真单元和发射机整体呈现出理想性线性发射机特性。如图9所示和图10所示，其中，f(·)表示所述发射机的非线性特性，f-1(·)表示所述预失真单元的非线性特性。当温度和电压等物理参数漂移变化时，将引起所述发射机的非线性特性的漂移。
应该理解的是，虽然上述流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，上述流程图中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
请参见图11，本申请一个实施例提供一种数字预失真性能检测装置10。所述数字预失真性能检测装置包括：基带信号获取模块100、第一包络驻点时刻确定模块110、第一包络驻点样点值确定模块120、预失真信号确定模块130、转换信号确定模块140、发射信号确定模块150、复反馈信号确定模块160、第二包络驻点时刻确定模块170、第二包络驻点样点值确定模块180、失真量确定模块190和预失真性能检测模块200。其中，
所述基带信号获取模块100用于获取基带信号，其中，所述基带信号通过过采样得到；
所述第一包络驻点时刻确定模块110用于确定所述基带信号的包络驻点，得到第一包络驻点时刻；
所述第一包络驻点样点值确定模块120用于确定所述第一包络驻点时刻对应的样点值，得到第一包络驻点样点值；
所述预失真信号确定模块130用于对所述基带信号进行预失真处理，得到预失真信号；
所述转换信号确定模块140用于对所述预失真信号进行数模转换处理，得到转换信号，并将所述转换信号发送至发射机；
所述发射信号确定模块150用于接收经过所述发射机处理的信号，得到发射信号；
所述复反馈信号确定模块160用于对所述反射信号进行耦合转换处理，得到复反馈信号；
所述第二包络驻点时刻确定模块170用于确定所述复反馈信号的包络驻点，得到第二包络驻点时刻；
所述第二包络驻点样点值确定模块180用于确定所述第二包络驻点时刻对应的样点值，得到第二包络驻点样点值；
所述失真量确定模块190用于根据所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值确定失真量；
所述预失真性能检测模块200用于根据所述失真量进行预失真性能检测。
在一个实施例中，所述第一包络驻点时刻确定模块110具体用于获取所述基带信号的多个第一数字采样点；基于多项式内插法，根据所述多个第一数字采样点的模值，确定所述第一包络驻点时刻。
在一个实施例中，所述第二包络驻点时刻确定模块170具体用于获取所述复反馈信号的多个第二数字采样点；基于多项式内插法，根据所述多个第二数字采样点的模值，确定所述第二包络驻点时刻。
在一个实施例中，当所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值分别为多项时，所述失真量确定模块190具体用于根据多项所述第二包络驻点样点值和多项所述第一包络驻点样点值的比值，确定多项非线性观测量；基于多项式拟合方法，根据所述多项非线性观测量确定所述失真量。
在一个实施例中，所述失真量确定模块190具体还用于利用公式(1)确定所述失真量：
其中，
为所述多项非线性观测量，g为所述失真量，k为非线性阶数，N为最高非线性阶数，x为所述第一包络驻点样点值。
在一个实施例中，所述预失真性能检测模块200具体用于根据所述失真量对所述预失真性能进行判断；若所述预失真性能不满足预设条件，则根据所述失真量更新预失真参数，得到更新预失真参数；利用所述更新预失真参数对所述基带信号进行预失真处理。
在一个实施例中，所述复反馈信号确定模块160具体用于对所述发射信号进行耦合处理，得到耦合信号；对所述耦合信号进行下变频处理，得到变频信号；将所述变频信号进行模数转换处理，得到复反馈信号。
关于所述数字预失真性能检测装置10的具体限定可以参见上文中对于数字预失真性能检测方法的限定，在此不再赘述。上述数字预失真性能检测装置10中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
请参见图12，在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图12所示。该计算机设备包括通过***总线连接的处理器、存储器、网络接口和数据库。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作***、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作***和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储基带信号和预失真信号等。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种数字预失真性能检测方法。
本领域技术人员可以理解，图12中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，所述处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
获取基带信号，其中，所述基带信号通过过采样得到；
确定所述基带信号的包络驻点，得到第一包络驻点时刻；
确定所述第一包络驻点时刻对应的样点值，得到第一包络驻点样点值；
对所述基带信号进行预失真处理，得到预失真信号；
对所述预失真信号进行数模转换处理，得到转换信号，并将所述转换信号发送至发射机；
接收经过所述发射机处理的信号，得到发射信号；
对所述发射信号进行耦合转换处理，得到复反馈信号；
确定所述复反馈信号的包络驻点，得到第二包络驻点时刻；
确定所述第二包络驻点时刻对应的样点值，得到第二包络驻点样点值；
根据所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值确定失真量；
根据所述失真量进行预失真性能检测。
在一个实施例中，所述处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：获取所述基带信号的多个第一数字采样点；基于多项式内插法，根据所述多个第一数字采样点的模值，确定所述第一包络驻点时刻。
在一个实施例中，所述处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：获取所述复反馈信号的多个第二数字采样点；基于多项式内插法，根据所述多个第二数字采样点的模值，确定所述第二包络驻点时刻。
在一个实施例中，所述处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据多项所述第二包络驻点样点值和多项所述第一包络驻点样点值的比值，确定多项非线性观测量；基于多项式拟合方法，根据所述多项非线性观测量确定所述失真量。
在一个实施例中，所述处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：利用公式(1)确定所述失真量：
其中，
为所述多项非线性观测量，g为所述失真量，k为非线性阶数，N为最高非线性阶数，x为第一包络驻点样点值。
在一个实施例中，所述处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据所述失真量对所述预失真性能进行判断；若所述预失真性能不满足预设条件，则根据所述失真量更新预失真参数，得到更新预失真参数；利用所述更新预失真参数对所述基带信号进行预失真处理。
在一个实施例中，所述处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：对所述发射信号进行耦合处理，得到耦合信号；对所述耦合信号进行下变频处理，得到变频信号；将所述变频信号进行模数转换处理，得到复反馈信号。
以上实施例提供的计算机设备处理器执行计算机程序实现如上方法步骤的具体过程和有益效果与其对应的方法实施例类似，在此不再赘述。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
获取基带信号，其中，所述基带信号通过过采样得到；
确定所述基带信号的包络驻点，得到第一包络驻点时刻；
确定所述第一包络驻点时刻对应的样点值，得到第一包络驻点样点值；
对所述基带信号进行预失真处理，得到预失真信号；
对所述预失真信号进行数模转换处理，得到转换信号，并将所述转换信号发送至发射机；
接收经过所述发射机处理的信号，得到发射信号；
对所述发射信号进行耦合转换处理，得到复反馈信号；
确定所述复反馈信号的包络驻点，得到第二包络驻点时刻；
确定所述第二包络驻点时刻对应的样点值，得到第二包络驻点样点值；
根据所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值确定失真量；
根据所述失真量进行预失真性能检测。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：获取所述基带信号的多个第一数字采样点；基于多项式内插法，根据所述多个第一数字采样点的模值，确定所述第一包络驻点时刻。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：获取所述复反馈信号的多个第二数字采样点；基于多项式内插法，根据所述多个第二数字采样点的模值，确定所述第二包络驻点时刻。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据多项所述第二包络驻点样点值和多项所述第一包络驻点样点值的比值，确定多项非线性观测量；基于多项式拟合方法，根据所述多项非线性观测量确定所述失真量。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：利用公式(1)确定所述失真量：
其中，
为所述多项非线性观测量，g为所述失真量，k为非线性阶数，N为最高非线性阶数，x所述第一包络驻点样点值。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据所述失真量对所述预失真性能进行判断；若所述预失真性能不满足预设条件，则根据所述失真量更新预失真参数，得到更新预失真参数；利用所述更新预失真参数对所述基带信号进行预失真处理。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：对所述发射信号进行耦合处理，得到耦合信号；对所述耦合信号进行下变频处理，得到变频信号；将所述变频信号进行模数转换处理，得到复反馈信号。
以上实施例提供的计算机可读存储介质实现如上方法步骤的具体过程和有益效果与其对应的方法实施例类似，在此不再赘述。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种数字预失真性能检测方法，其特征在于，所述方法包括：
获取基带信号，其中，所述基带信号通过过采样得到；
确定所述基带信号的包络驻点，得到第一包络驻点时刻；
确定所述第一包络驻点时刻对应的样点值，得到第一包络驻点样点值；
对所述基带信号进行预失真处理，得到预失真信号；
对所述预失真信号进行数模转换处理，得到转换信号，并将所述转换信号发送至发射机；
接收经过所述发射机处理的信号，得到发射信号；
对所述发射信号进行耦合转换处理，得到负反馈信号；
确定所述负反馈信号的包络驻点，得到第二包络驻点时刻；
确定所述第二包络驻点时刻对应的样点值，得到第二包络驻点样点值；
根据所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值确定失真量；
根据所述失真量进行预失真性能检测。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述基带信号的包络驻点，得到第一包络驻点时刻，包括：
获取所述基带信号的多个第一数字采样点；
基于多项式内插法，根据所述多个第一数字采样点的模值，确定所述第一包络驻点时刻。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述负反馈信号的包络驻点，得到第二包络驻点时刻，包括：
获取所述负反馈信号的多个第二数字采样点；
基于多项式内插法，根据所述多个第二数字采样点的模值，确定所述第二包络驻点时刻。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值分别为多项时，所述根据所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值确定失真量，包括：
根据多项所述第二包络驻点样点值和多项所述第一包络驻点样点值的比值，确定多项非线性观测量；
基于多项式拟合方法，根据所述多项非线性观测量确定所述失真量。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述多项非线性观测量确定所述失真量，包括：
利用公式(1)确定所述失真量：
其中，
为所述多项非线性观测量，g为所述失真量，k为非线性阶数，N为最高非线性阶数，x为所述第一包络驻点样点值。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述失真量进行预失真性能检测，包括：
根据所述失真量对所述预失真性能进行判断；
若所述预失真性能不满足预设条件，则根据所述失真量更新预失真参数，得到更新预失真参数；
利用所述更新预失真参数对所述基带信号进行预失真处理。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述发射信号进行耦合转换处理，得到负反馈信号，包括：
对所述发射信号进行耦合处理，得到耦合信号；
对所述耦合信号进行下变频处理，得到变频信号；
将所述变频信号进行模数转换处理，得到所述负反馈信号。
8.一种数字预失真性能检测装置，其特征在于，所述装置包括：
基带信号获取模块，用于获取基带信号，其中，所述基带信号通过过采样得到；
第一包络驻点时刻确定模块，用于确定所述基带信号的包络驻点，得到第一包络驻点时刻；
第一包络驻点样点值确定模块，用于确定所述第一包络驻点时刻对应的样点值，得到第一包络驻点样点值；
预失真信号确定模块，用于对所述基带信号进行预失真处理，得到预失真信号；
转换信号确定模块，用于对所述预失真信号进行数模转换处理，得到转换信号，并将所述转换信号发送至发射机；
发射信号确定模块，用于接收经过所述发射机处理的信号，得到发射信号；
负反馈信号确定模块，用于对所述发射信号进行耦合转换处理，得到负反馈信号；
第二包络驻点时刻确定模块，用于确定所述负反馈信号的包络驻点，得到第二包络驻点时刻；
第二包络驻点样点值确定模块，用于确定所述第二包络驻点时刻对应的样点值，得到第二包络驻点样点值；
失真量确定模块，用于根据所述第一包络驻点样点值和所述第二包络驻点样点值确定失真量；
预失真性能检测模块，用于根据所述失真量进行预失真性能检测。
9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。
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