CN112966093A - 一种对电子产品进行改进的方法、装置、设备和介质 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了一种对电子产品进行改进的方法、装置、设备和介质，该方法包括：获取每一种电子产品的评论文本；基于每一种电子产品的评论文本，统计所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间；针对每一种电子产品，根据统计得到的所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间，计算所述电子产品的使用寿命；根据不同电子产品的使用寿命之间的比较结果，确定目标电子产品；对所述目标电子产品进行技术改进。
Description
技术领域
本发明涉及数据分析技术领域，具体而言，涉及一种对电子产品进行改进的方法、装置、设备和介质。
背景技术
随着工业设计、生产技术的发展，电子产品成了我们生活中不可或缺的一部分。电子产品可以应用在我们生活的各个方面，因此，用户对电子产品的可靠性的要求也越来越高。
现有的电子产品的可靠性分析方法大多基于实验室试验或仿真实现，但是电子产品的实际工作剖面极为复杂，是各类环境应力和使用条件在时间和程度上的叠加，因此，传统的基于实验室试验的可靠性分析方法只能在一定程度上模拟电子产品的使用环境，不能完全代表电子产品在实际使用中的情况，进而对电子产品的改进方向并不准确。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提供一种对电子产品进行改进的方法、装置、设备和介质，以提高现有技术中确定对电子产品改进方向的准确度。
第一方面，本申请实施例提供了一种对电子产品进行改进的方法，该方法包括：
获取每一种电子产品的评论文本；
基于每一种电子产品的评论文本，统计所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间；
针对每一种电子产品，根据统计得到的所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间，计算所述电子产品的使用寿命；
根据不同电子产品的使用寿命之间的比较结果，确定目标电子产品；
对所述目标电子产品进行技术改进。
可选的，所述评论文本中包括至少一个故障文本；所述对所述目标电子产品进行技术改进，包括：
在所述目标电子产品的评论文本中筛选出故障文本；
根据所述目标电子产品的故障文本，确定所述目标电子产品中每个产品部件的故障率；
根据每个产品部件的故障率，确定待进行改进的目标产品部件；
对所述目标产品的目标产品部件进行技术改进。
可选的，所述在所述目标电子产品的评论文本中筛选出故障文本，包括：
针对目标电子产品的评论文本，通过预设故障词在所述目标电子产品的评论文本中筛选出故障文本。
可选的，所述针对每一种电子产品，根据统计得到的所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间计算所述电子产品的使用寿命，包括：
针对每一种电子产品，根据第一寿命分布模型和所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间，计算得到所述电子产品的第一寿命区间；
针对每一种电子产品，根据第二寿命分布模型和所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间，计算得到所述电子产品的第二寿命区间；其中，所述第一寿命分布模型和所述第二寿命分布模型是不同的寿命分布模型；
针对每一种电子产品，根据所述电子产品的第一寿命区间和第二寿命区间之间的区间范围的比较结果，确定出所述电子产品的使用寿命。
可选的，所述评论文本包括购买时间和评论时间；所述实际故障时间的确定过程包括：
针对每一种所述电子产品，根据该电子产品的每一个评论文本中的购买时间和评论时间，计算该电子产品的候选故障时间；
针对每一种所述电子产品，根据所述候选故障时间和电子产品的非工作时间，计算该电子产品的实际故障时间；其中，所述非工作时间是基于所述候选故障时间确定的。
第二方面，本申请实施例提供了一种对电子产品进行改进的装置，该装置包括：
获取模块：用于获取每一种电子产品的评论文本；
统计模块：用于基于每一种电子产品的评论文本，统计所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间；
分析模块：用于针对每一种电子产品，根据统计得到的所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间计算所述电子产品的使用寿命；
确定模块：用于根据不同电子产品的使用寿命之间的比较结果，确定目标电子产品；
改进模块：用于对所述目标电子产品进行技术改进。
可选的，所述改进模块，包括：
第一单元：用于在所述目标电子产品的评论文本中筛选出故障文本；
第二单元：用于根据所述目标电子产品的故障文本，确定所述目标电子产品中每个产品部件的故障率；
第三单元：用于根据每个产品部件的故障率，确定待进行改进的目标产品部件；
第四单元：用于对所述目标产品的目标产品部件进行技术改进。
可选的，所述第一单元，包括：
筛选子单元：用于针对目标电子产品的评论文本，通过预设故障词在所述目标电子产品的评论文本中筛选出故障文本。
第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括：处理器、存储介质和总线，所述存储介质存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储介质之间通过总线通信，所述处理器执行所述机器可读指令，以执行如所述方法的步骤。
第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行如所述方法的步骤。
本申请实施例提出的一种对电子产品进行改进的方法，首先获取每一种电子产品的评论文本；然后基于每一种电子产品的评论文本，统计电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间，根据统计得到的电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间，计算电子产品的使用寿命，通过比较不同电子产品之间的使用寿命就可以准确地确定出产品质量需要提高的目标电子产品，基于确定的目标电子产品可以针对性地确定出该电子产品需要技术改进的方向，通过改进方向对目标电子产品进行工艺优化，有效提高了目标电子产品的产品质量。
为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1示出了本发明实施例所提供的一种对电子产品进行改进的方法的流程示意图；
图2示出了本发明实施例所提供的一种对目标产品部件进行改进的方法的流程示意图；
图3示出了本发明实施例所提供的一种对电子产品进行改进的装置的结构示意图；
图4示出了本发明实施例所提供的一种计算机400的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在现有技术中，针对电子产品的可靠性分析主要基于实验室试验或仿真实现，但是电子产品的实际工作剖面极为复杂，是各类环境应力和使用条件在时间和程度上的叠加，因此，基于实验室试验的可靠性分析方法只能在一定程度上模拟电子产品的使用环境，不能完全代表电子产品在实际使用中的情况，进而确定的对电子产品的改进方向并不准确。
基于上述缺陷，本申请实施例提供了一种对电子产品进行改进的方法，可以提高现有技术中确定电子产品技术改进方向的准确度，如图1所示，该方法包括：
S101,获取每一种电子产品的评论文本；
S102,基于每一种电子产品的评论文本，统计所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间；
S103,针对每一种电子产品，根据统计得到的所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间，计算所述电子产品的使用寿命；
S104,根据不同电子产品的使用寿命之间的比较结果，确定目标电子产品；
S105,对所述目标电子产品进行技术改进。
在上述步骤S101中，电子产品是指可以通过更换或修理部件达到修复的以电能为工作基础的相关产品，例如：智能手机、电脑等。评论文本是用户基于对电子产品使用情况进行反馈的以数字化手段进行的存储数据。
在具体实施时，如表1所示，在获取了每一种电子产品的评论文本后可以将评论文本以数组的形式进行存储：
表1，评论文本存储示意图
在上述步骤S102中，电子产品的产品销量可以通过统计所有针对该电子产品的评论文本的条数而确定。电子产品的故障个数可以通过统计该电子产品的评论文本中所包含的针对该电子产品的故障进行评论的文本的条数而确定。电子产品的实际故障时间是指电子产品从被用户实际投入使用到产品发生故障的时间。电子产品的实际故障时间可以基于该电子产品的评论文本数据中的针对该电子产品各个故障进行评论的时间和该电子产品的购买时间进行确定，电子产品的实际故障时间可以是一个时间也可以是一个时间序列。
在上述步骤S103中,电子产品的使用寿命可以综合反映产品的质量。电子产品使用寿命的确定可以将该电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间输入到寿命分布模型下采用极大似然估计方法进行寿命估计。其中，寿命分布模型反映的是电子产品寿命这一随机变量的分布情况，常用的寿命分布模型有指数分布、威布尔分布、对数正态分布、伽玛分布。
在上述步骤S104中,目标电子产品是需要进行技术改进或部件需要进行修复的电子产品，目标电子产品可以通过比较不同电子产品的使用寿命的寿命区间而确定。当比较对象是两个电子产品时，选取其中使用寿命小的一个电子产品作为目标电子产品；当比较对象是多个电子产品时，将多个电子产品的使用寿命从大到小进行排序，可以选取排序较后的一个或两个电子产品共同作为目标电子产品。
例如，若计算得到电子产品A的使用寿命的寿命区间为[400,420]，电子产品B的使用寿命的寿命区间为[300,320]；通过比较电子产品A和电子产品B的使用寿命区间可以确定电子产品B的寿命区间较小，则确定电子产品B为需要进行技术改进的目标电子产品。若当前需要比较的电子产品为多个时，可以按照电子产品的使用寿命从大到小进行排序，针对性地选择排序较后的一个或两个电子产品共同作为目标电子产品进行技术改进。
在上述步骤S105中,在确定目标电子产品后，可以根据电子产品出现的缺陷确定改进方向。例如，若电子产品的一个缺陷为“黑屏”，则可以确定电子产品的一个改进方向是优化电子产品的屏幕封装工艺。针对性地对目标电子产品的缺陷不断进行工艺优化，目标电子产品的综合质量会不断提高。
通过上述五个步骤，采用电子产品在实际使用环境中用户反馈的评论文本数据，该数据能够反映产品的真实情况，基于此数据可以更加准确地计算电子产品的使用寿命，通过比较不同电子产品之间的使用寿命就可以准确地确定出产品质量需要提高的目标电子产品，基于确定的目标电子产品可以针对性地确定出该电子产品需要技术改进的方向，通过改进方向对目标电子产品进行工艺优化，有效提高了电子产品的产品质量。
在确定目标电子产品后，可以根据目标电子的评论文本中存在的故障文本针对性地确定出目标电子产品中故障率最高的目标产品部件进行技术改进，以提高目标产品整体的可靠性能。具体地，如图2所示，根据评论文本中包括的至少一个故障文本确定需要带进行改进的目标产品部件可以包括以下步骤：
S201，在所述目标电子产品的评论文本中筛选出故障文本；
S202，根据所述目标电子产品的故障文本，确定所述目标电子产品中每个产品部件的故障率；
S203，根据每个产品部件的故障率，确定待进行改进的目标产品部件；
S204，对所述目标产品的目标产品部件进行技术改进。
在上述步骤S201中，故障文本是指包含有描述电子产品故障关键词的评论文本，例如电子产品的故障关键词可以为“黑屏”、“按键不灵”等。故障文本的确定是首先将预先存储好的电子产品的故障词与目标电子产品的每一个评论文本一起输入到词嵌入模型中进行匹配，将评论文本中所包含的与产品故障词词语和词性完全相同的词语所在的文本确定为一个故障文本。其中，所述词嵌入模型可以为word2vec模型。
在上述步骤S202中，故障率是指目标电子产品的各个部件发生故障的概率。目标电子产品各个部件故障率的确定可以首先将该电子产品的产品销量、各个部件的故障个数、各个部件的实际故障时间输入到寿命分布模型下采用极大似然估计方法进行寿命估计，然后根据寿命估计结果中的分布参数通过故障率计算函数的计算可以得到各个部件的故障率。其中，故障率计算函数根据输入的寿命分布模型的不同而采用不同的故障率计算函数。
在具体实施中，根据寿命分布模型的不同，计算目标电子产品部件的故障率需要采用不同的故障率计算函数进行计算。例如，若当前寿命分布模型是指数分布模型，则可以确定故障率计算函数为：
其中，上述公式为指数分布模型下的故障率计算函数，λ为目标电子产品部件的故障率，θ为指数分布模型的分布参数。
若当前寿命分布模型是威布尔分布模型，则可以确定故障率计算函数为：
其中，上述公式为威布尔分布模型下的故障率计算函数，λ为目标电子产品部件的故障率，MTBF为目标电子产品部件的平均无故障时间，m是威布尔分布模型的形状参数，η是第威布尔分布模型的尺度参数；
为
的Γ分布值。
在上述步骤S203中，目标产品部件是指目标电子产品中需要进行技术改进或需要进行修复的电子部件，例如：扬声器、屏幕等。目标产品部件的确定需要通过当前目标电子产品寿命分布模型下的故障率计算函数进行计算，选取故障率最高的部件作为目标电子产品的目标产品部件，针对目标产品部件的出现的故障进行技术改进，可以不断提高目标电子产品整体的产品质量。
在上述步骤S204中，针对目标电子产品，在确定出目标产品部件后，可以根据目标产品部件的缺陷在纠正措施表查找对应的纠正措施进行技术改进。例如，若确定目标产品部件“屏幕”出现缺陷，则根据纠正措施表查找对应的纠正措施可以为：采用cop(chip onplastic)封装技术对目标电子产品的目标产品部件进行封装。
通过上述四个步骤，在确定目标电子产品需要技术改进时，可以针对性地通过目标电子产品的评论文本中的故障文本计算每个部件的故障率，选取故障率最高的部件作为目标产品部件进行技术改进和工艺优化，通过对目标产品部件的性能的优化有效提高了目标电子产品整体性能的提高。具体地，可以通过预设故障词在目标电子产品的评论文本中筛选出故障文本。预设关键词是指在日常交流或电子产品专业领域常用的，用于表达和描述电子产品故障的词语，通过预设关键词在目标电子产品的评论文本中筛选出故障文本可以包括以下步骤：
步骤2011：根据预设故障词，如表2所示，建立故障词表：
表2，故障词表示意图
| 序号 | 故障词 | 故障模式 |
| 1 | 黑线 | 屏幕损坏 |
| 2 | 电池不耐用 | 电池损坏 |
| 3 | 运行很卡 | 芯片损坏 |
| 4 | 按键不灵 | 按键损坏 |
步骤2012：针对目标电子产品的每一个评论文本，通过CRF(条件随机场)方法进行分词处理。
步骤2013：将分词处理得到的目标电子产品的评论文本中的每一个词和故障词表中的故障词进行对比，当评论文本中出现了词语和词性与故障词表中的词语和词性完全相同的故障词时，即判定该评论文本描述了一次产品故障，就可以将该评论文本作为一个故障文本，并以数组的形式进行存储。如表3所示，故障文本的存储形式可以如下：
表3，故障文本存储示意图
通过上述步骤2011至步骤2013，就可以在目标电子的评论文本中筛选出故障文本，所述故障文本是用户在实际使用环境中使用电子产品的现有数据，无需通过额外试验得到，降低了电子产品的可靠性评估的成本。
通过用户反馈的评论文本数据代替传统的实验室试验，将用户使用的实际条件作为计算电子产品使用寿命的条件，可以更加准确地计算电子产品的使用寿命，具体地，在获得用户反馈的评论文本数据后，可以通过第一寿命分布模型和第二寿命分布模型计算电子产品的使用寿命，通过比较不同电子产品的使用寿命就可以确定出目标电子产品，根据改进方向针对性地对电子产品进行工艺优化，提升目标电子产品的产品质量。其中，通过第一寿命分布模型和第二寿命分布模型计算电子产品的使用寿命可以包括以下步骤：
步骤1031,针对每一种电子产品，根据第一寿命分布模型和所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间，计算得到所述电子产品的第一寿命区间；
步骤1032,针对每一种电子产品，根据第二寿命分布模型和所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间，计算得到所述电子产品的第二寿命区间；其中，所述第一寿命分布模型和所述第二寿命分布模型是不同的寿命分布模型；
步骤1033，针对每一种电子产品，根据所述电子产品的第一寿命区间和第二寿命区间之间的区间范围的比较结果，确定出所述电子产品的使用寿命。
在上述步骤1031中,第一寿命分布模型可以为指数分布模型。第一寿命区间是指电子产品在指数分布模型下，计算得到的寿命区间。
在具体实施时，确定电子产品的第一寿命区间需要将评论文本中的故障文本按照实际故障时间从小到大排列，然后按照排列顺序将电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间代入参数估计公式中进行计算，根据计算值就可以确定出电子产品的第一寿命区间，其中，如下所示参数估计公式包括点估计公式和区间估计公式：
其中，上述公式为电子产品在第一寿命分布模型下的点估计计算公式；θ代表分布参数，是电子产品平均无故障时间的估计值；r代表电子产品的故障个数；i代表电子产品的实际故障时间，第i个实际故障时间为ti；n代表电子产品的产品销量。
其中，上述公式为电子产品在第一寿命分布模型下的区间估计计算公式；
为分布参数θ的单侧置信上限；
为分布参数θ的单侧置信下限；χ为电子产品的故障文本；T为电子产品的实际故障时间；r为电子产品的故障个数；α代表电子产品的生产方风险。
在上述步骤1032中,第二寿命分布模型可以为威布尔分布模型。第二寿命区间是指电子产品在威布尔模型下，计算得到的寿命区间。
在具体实施时，确定电子产品的第二寿命区间需要将评论文本中的故障文本按照实际故障时间从小到大排列，然后按照排列顺序将电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间代入参数估计公式中进行计算，根据计算值就可以确定出电子产品的第二寿命区间，其中，如下所示参数估计公式包括点估计公式和区间估计公式：
其中，上述公式为电子产品在第二寿命分布模型下的点估计计算公式；m是第二寿命分布模型的形状参数，η是第二寿命分布模型的尺度参数；r代表电子产品的故障个数；i代表电子产品的时间故障时间，第i个故障时间为ti；n代表电子产品的产品销量。
其中，上述公式为超越方程组，无法求出解析解，故使用二分法进行求解，即可在定义域{m∈(0,1)；n>0}内找到适合方程的数值解，如下：
其中α取0.05，且有：
其中，上述数值解中α代表电子产品的生产方风险，m是第二寿命分布模型的形状参数，η是第二寿命分布模型的尺度参数，
为电子产品的实际故障时间的方差。
针对电子产品，分别在第一寿命分布模型和第二寿命分布模型下通过点估计计算得到电子产品的使用寿命的点估计值，然后基于得到的点估计值，通过构造函数，利用区间估计计算得到电子产品的寿命区间，通过电子产品的寿命区间就可以确定电子产品的使用寿命，进而可以通过比较不同电子产品的使用寿命可以更加准确地确定出目标电子产品，根据目标电子产品确定技术改进的方向，不断优化电子产品的综合质量。
在上述步骤1033中，针对每一种电子产品，根据所述电子产品的第一寿命区间和第二寿命区间之间的区间范围的比较结果，确定出所述电子产品的使用寿命。例如，若电子产品用第一寿命分布模型计算出的第一寿命区间是[450,457]，用第二寿命分布模型计算出的第二寿命区间是[455,458]，通过比较可以确定电子产品的第二寿命区间的区间范围更小，那么就取第二寿命区间作为电子产品的使用寿命。
通过上述三个步骤，利用第一寿命分布模型和第二寿命分布模型计算得到的电子产品的第一寿命区间和第二寿命区间，从第一寿命区间和第二寿命区间中选取区间范围更小的作为电子产品最终的使用寿命有效提高了电子产品使用寿命估计的准确度。
在通过电子产品的评论文本数据对电子产品的可靠性进行评估时，具体地，需要通过评论文本中的用户的评论时间减去电子产品的购买时间计算得到获取候选故障时间，通过对候选故障时间进行修正才能获得电子产品的实际故障时间，进而通过实际故障时间可以更加准确地对电子产品的使用寿命进行计算。其中，所述实际故障时间的确定过程可以包括以下步骤：
步骤1021，针对每一种所述电子产品，根据该电子产品的每一个评论文本中的购买时间和评论时间，计算该电子产品的候选故障时间；
步骤1022，针对每一种所述电子产品，根据所述候选故障时间和电子产品的非工作时间，计算该电子产品的实际故障时间；其中，所述非工作时间是基于所述候选故障时间确定的。
在上述步骤1021中，候选故障时间是通过每一种电子产品评论文本针对该电子产品故障进行评论的时间减去该电子产品的购买时间确定的。候选故障时间包含有用户购买电子产品到电子产品未被用户投入使用的时间和电子产品实际被用户投入使用的时间以及电子产品出现故障到用户基于此故障进行反馈评论文本的时间。在候选故障时间内不同用户购买电子产品到电子产品未被投入使用的时间是不同的，因此，将用户购买电子产品到电子产品未被投入使用的时间固定为12小时；在候选故障时间内不同用户的电子产品出现故障到用户基于此故障进行反馈评论的时间符合正态分布，其均值为12小时，方差为2。
在上述步骤1022中，非工作时间是指电子产品没有被用户实际投入使用的时间。其中，非工作时间可以包含有用户购买电子产品到电子产品未被投入使用的时间，如用户从网购平台购买电子产品需要等待的邮寄时间；非工作时间也可以包含有电子产品出现故障到用户基于此故障进行反馈评论文本的时间，如电子产品发生黑屏故障后不能正常工作到用户基于此故障在网购平台上进行反馈的时间。实际故障时间代表电子产品实际被用户投入使用的工作时间。
在具体实施时，每个电子产品的实际故障时间可以通过该电子产品的候选故障时间减掉该电子产品的非工作时间，即减掉该电子产品从发生故障到用户反馈评论文本数据之间的时间和从该电子产品的购买到实际投入的时间。
例如：从上述步骤1021中可知电子产品从发生故障到用户反馈评论文本数据之间的时间服从正态分布，均值为12小时，方差为2；电子产品的购买时间到实际投入使用时间设为了12小时，所以在确定电子产品的每一个实际故障时间时，需要减掉该电子产品从发生故障到用户反馈评论文本数据之间的时间和该电子产品的购买到实际投入的时间。因此，电子产品的实际故障时间的确定过程可以首先通过***产生一个均值24，方差为2的随机数，然后利用候选故障时间减去此随机数，即减掉了上述电子产品从发生故障到用户反馈评论文本数据之间的时间和电子产品的购买到实际投入的时间，得到修正后的实际故障时间。通过确定出的电子产品的实际故障时间，就可以对电子产品的使用寿命进行准确计算。
本申请实施例提出的一种对电子产品进行改进的方法，首先获取每一种电子产品的评论文本；然后基于每一种电子产品的评论文本，统计电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间，根据统计得到的电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间，计算电子产品的使用寿命，通过比较不同电子产品之间的使用寿命就可以准确地确定出产品质量需要提高的目标电子产品，基于确定的目标电子产品可以根据目标电子产品中故障率最高的部件进行技术改进，有效提高了电子产品的产品质量。
第二方面，如图3所示，本申请提供了一种对电子产品进行改进的装置，该装置包括：
获取模块301：用于获取每一种电子产品的评论文本；
统计模块302：用于基于每一种电子产品的评论文本，统计所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间；
分析模块303：用于针对每一种电子产品，根据统计得到的所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间计算所述电子产品的使用寿命；
确定模块304：用于根据不同电子产品的使用寿命之间的比较结果，确定目标电子产品；
改进模块305：用于对所述目标电子产品进行技术改进。
可选的，所述改进模块305，包括：
第一单元：用于在所述目标电子产品的评论文本中筛选出故障文本；
第二单元：用于根据所述目标电子产品的故障文本，确定所述目标电子产品中每个产品部件的故障率；
第三单元：用于根据每个产品部件的故障率，确定待进行改进的目标产品部件；
第四单元：用于对所述目标产品的目标产品部件进行技术改进。
可选的，所述第一单元，包括：
筛选子单元：用于针对目标电子产品的评论文本，通过预设故障词在所述目标电子产品的评论文本中筛选出故障文本。
可选的，所述分析模块303，包括：
第五单元：用于针对每一种电子产品，根据第一寿命分布模型和所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间，计算得到所述电子产品的第一寿命区间；
第六单元：用于针对每一种电子产品，根据第二寿命分布模型和所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间，计算得到所述电子产品的第二寿命区间；其中，所述第一寿命分布模型和所述第二寿命分布模型是不同的寿命分布模型；
第七单元：用于针对每一种电子产品，根据所述电子产品的第一寿命区间和第二寿命区间之间的区间范围的比较结果，确定出所述电子产品的使用寿命。
可选的，所述评论文本包括购买时间和评论时间。
可选的，所述统计模块302，包括：
第八单元：用于针对每一种所述电子产品，根据该电子产品的每一个评论文本中的购买时间和评论时间，计算该电子产品的候选故障时间；
第九单元：针对每一种所述电子产品，根据所述候选故障时间和电子产品的非工作时间，计算该电子产品的实际故障时间；其中，所述非工作时间是基于所述候选故障时间确定的。
对应于图1中的一种对电子产品进行改进的方法，本申请实施例还提供了一种计算机设备400，如图4所示，该设备包括存储器401、处理器402及存储在该存储器401上并可在该处理器402上运行的计算机程序，其中，上述处理器402执行上述计算机程序时实现上述对电子产品进行改进的方法。
具体地，上述存储器401和处理器402能够为通用的存储器和处理器，这里不做具体限定，当处理器402运行存储器401存储的计算机程序时，能够执行上述方法，提高了现有技术中确定电子产品改进方向的准确度。
对应于图1中的一种对电子产品进行改进的方法，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行上述方法的步骤。
具体地，该存储介质能够为通用的存储介质，如移动磁盘、硬盘等，该存储介质上的计算机程序被运行时，能够执行上述对电子产品进行改进的方法，提高了现有技术中确定电子产品改进方向的准确度，本申请通过采用现有的反应电子产品实际使用情况的评论文本计算电子产品的使用寿命，通过比较不同电子产品的使用寿命可以准确确定出需要待改进的目标电子产品，根据目标电子产品的故障率最高的目标产品部件针对性地进行工艺优化，有效提高了目标电子产品的质量。
在本发明所提供的实施例中，应该理解到，所揭露装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明提供的实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释，此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
最后应说明的是：以上所述实施例，仅为本发明的具体实施方式，用以说明本发明的技术方案，而非对其限制，本发明的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改、变化或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例技术方案的精神和范围。都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种对电子产品进行改进的方法，其特征在于，包括：
获取每一种电子产品的评论文本；
基于每一种电子产品的评论文本，统计所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间；
针对每一种电子产品，根据统计得到的所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间，计算所述电子产品的使用寿命；
根据不同电子产品的使用寿命之间的比较结果，确定目标电子产品；
对所述目标电子产品进行技术改进。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述评论文本中包括至少一个故障文本；所述对所述目标电子产品进行技术改进，包括：
在所述目标电子产品的评论文本中筛选出故障文本；
根据所述目标电子产品的故障文本，确定所述目标电子产品中每个产品部件的故障率；
根据每个产品部件的故障率，确定待进行改进的目标产品部件；
对所述目标产品的目标产品部件进行技术改进。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在所述目标电子产品的评论文本中筛选出故障文本，包括：
针对目标电子产品的评论文本，通过预设故障词在所述目标电子产品的评论文本中筛选出故障文本。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述针对每一种电子产品，根据统计得到的所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间计算所述电子产品的使用寿命，包括：
针对每一种电子产品，根据第一寿命分布模型和所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间，计算得到所述电子产品的第一寿命区间；
针对每一种电子产品，根据第二寿命分布模型和所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间，计算得到所述电子产品的第二寿命区间；其中，所述第一寿命分布模型和所述第二寿命分布模型是不同的寿命分布模型；
针对每一种电子产品，根据所述电子产品的第一寿命区间和第二寿命区间之间的区间范围的比较结果，确定出所述电子产品的使用寿命。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述评论文本包括购买时间和评论时间；所述实际故障时间的确定过程包括：
针对每一种所述电子产品，根据该电子产品的每一个评论文本中的购买时间和评论时间，计算该电子产品的候选故障时间；
针对每一种所述电子产品，根据所述候选故障时间和电子产品的非工作时间，计算该电子产品的实际故障时间；其中，所述非工作时间是基于所述候选故障时间确定的。
6.一种对电子产品进行改进的装置，其特征在于，包括：
获取模块：用于获取每一种电子产品的评论文本；
统计模块：用于基于每一种电子产品的评论文本，统计所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间；
分析模块：用于针对每一种电子产品，根据统计得到的所述电子产品的产品销量、故障个数、实际故障时间计算所述电子产品的使用寿命；
确定模块：用于根据不同电子产品的使用寿命之间的比较结果，确定目标电子产品；
改进模块：用于对所述目标电子产品进行技术改进。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述改进模块，包括：
第一单元：用于在所述目标电子产品的评论文本中筛选出故障文本；
第二单元：用于根据所述目标电子产品的故障文本，确定所述目标电子产品中每个产品部件的故障率；
第三单元：用于根据每个产品部件的故障率，确定待进行改进的目标产品部件；
第四单元：用于对所述目标产品的目标产品部件进行技术改进。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一单元，包括：
筛选子单元：用于针对目标电子产品的评论文本，通过预设故障词在所述目标电子产品的评论文本中筛选出故障文本。
9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述权利要求1-5中任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器运行是执行上述权利要求1-5中任一项所述的方法的步骤。
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