CN112957004A - 一种基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取方法与*** - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取方法与***，所述***用于执行如下方法：获取角膜前表面曲率半径与晶状体厚度值、对应的晶状体形态图片；获取角膜前表面像素、晶状体前表面像素、晶状体后表面像素；输出晶状体前表面曲率半径值及晶状体后表面曲率半径值，其中，所述角膜前表面曲率半径与晶状体前表面曲率半径值之比等于角膜前表面像素与晶状体前表面像素之比、所述角膜前表面曲率半径与晶状体后表面曲率半径之比等于角膜前表面像素与晶状体后表面像素之比；输出晶状体前、后表面屈光力、晶状体总屈光力；其能基于IOLMaster图像直观获取晶状体参数，极大的提升了相应研究的高效性。
Description
技术领域
本发明涉及一种基于IOLMaster图像的晶状体参数计算方法与***以及被构造用于实施该方法的计算机程序产品。
背景技术
晶状体为一个双凸面透明组织，被悬韧带固定悬挂在虹膜之后玻璃体之前，是眼球中重要的屈光间质之一，其最重要的作用是通过睫状肌的收缩或松弛改变屈光度，使看远或看近时眼球聚光的焦点都能准确地落在视网膜上。其屈光度的变化对于分析眼的屈光变化以及发展趋势是有价值的，特别在近视发生发展中，晶状体形态的变化对近视的影响也是值得研究的课题。但目前没有仪器能够直接测出晶状体的弧度和屈光度的变化，所以利用现有检测技术、结合计算机运算技术以及光学原理，寻求晶状体弧度及屈光度测量和计算和测量方法。
IOLMaster眼生物测量仪是一种使用非接触技术的光学生物测量仪器，精确测量病人的眼轴长度、角膜曲率及前房深度；创新性地解决了精确测量眼生物参数和白内障手术前对拟植入人工晶体(IOL)进行准确预测的难题，是一种高精度仪器；IOLMaster 700是基于光学相干断层扫描的测量原理，中心波长为1055mm,并可从6个角度进行扫描，能清晰显示角膜前后表面形态曲线、厚度、晶状体前后表面形态曲线、厚度等参数；IOLMaster 700能对全晶状体进行成像，且已经能够直接测量得出有关角膜的曲率的数值以及晶状体厚度，但是无法获得晶状体前后表面曲率半径；晶状体前后表面曲率的测量目前还是一个难题。
综上所述，亟需一种能基于IOLMaster图像直观获取晶状体参数的晶状体曲率和屈光度获取方法。
发明内容
本发明的目的是，提供一种能基于IOLMaster图像直观获取晶状体参数的晶状体曲率和屈光度获取方法。
为实现上述目的，本发明采取的技术方案是：
一种基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取方法，包括：获取角膜前表面曲率半径与晶状体厚度值、对应的晶状体形态图片；获取角膜前表面像素、晶状体前表面像素、晶状体后表面像素，其中，所述晶状体前表面像素、晶状体后表面像素与角膜前表面像素通过分析晶状体形态图片获得；
输出晶状体前表面曲率半径值及晶状体后表面曲率半径值，其中，所述角膜前表面曲率半径与晶状体前表面曲率半径值之比等于角膜前表面像素与晶状体前表面像素之比、所述角膜前表面曲率半径与晶状体后表面曲率半径之比等于角膜前表面像素与晶状体后表面像素之比；输出晶状体前表面屈光力与晶状体后表面屈光力；输出晶状体总屈光力。
作为一种优选的技术方案，所述角膜前表面曲率半径与晶状体厚度值由IOLMaster 700测得；所述晶状体形态图片由IOLMaster 700生成。
作为一种优选的技术方案，通过matlab分析所述晶状体形态图片，获取角膜前表面像素、晶状体前表面像素、晶状体后表面像素。
作为一种优选的技术方案，晶状体前表面屈光力由房水屈光指数、晶状体屈光指数、玻璃体屈光指数及晶状体前表面曲率半径、晶状体后表面曲率半径计算获得：晶状体前表面屈光力：Fa＝(n2–n1)/Ca；晶状体后表面屈光力：Fb＝(n3–n2)/Cp；其中，房水屈光指数为n1，晶状体的屈光指数为n2，玻璃体的屈光指数为n3，晶状体前表面曲率半径值Ca和晶状体后表面曲率半径值Cp，均以米为单位。
作为一种优选的技术方案，晶状体总屈光力由晶状体前表面屈光力、晶状体后表面屈光力、晶状体厚度、晶状体屈光指数计算获得：晶状体总屈光力：Ft＝Fa+Fb–LT×Fa×Fb/n2；其中，晶状体厚度为LT，以米为单位。
本发明的另一目的是，提供一种能基于IOLMaster图像直观获取晶状体参数的晶状体曲率和屈光度获取***。
为实现上述目的，本发明采取的技术方案是：
一种基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取***，包括：获取模块：用于获取角膜前表面曲率半径与晶状体厚度值、对应的晶状体形态图片以及角膜前表面像素、晶状体前表面像素、晶状体后表面像素的参数信息；输出模块：用于输出晶状体前表面曲率半径值及晶状体后表面曲率半径值、晶状体前表面屈光力与晶状体后表面屈光力、晶状体总屈光力；所述基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取***执行权利要求1至5中任一项权利要求所述的基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取方法。
本发明还提供一种存储介质，所述存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述存储介质所在设备执行所述基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取方法。
本发明还提供一种处理器，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行所述基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取方法。
本发明优点在于：
本发明所述基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取方法与***，实现了基于IOLMaster图像直观获取晶状体参数的应用，其可直接反馈晶状体测量结果，直接输出晶状体前表面曲率半径值及晶状体后表面曲率半径值，进一步的其可以直接输出晶状体前表面屈光力与晶状体后表面屈光力，输出晶状体总屈光力。
附图说明
附图1是本发明一种基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取方法流程示意图。
附图2是本发明一种基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取***模块示意图。
具体实施方式
下面结合具体实施方式，进一步阐述本发明。应理解，这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。此外应理解，在阅读了本发明记载的内容之后，本领域技术人员可以对本发明作各种改动或修改，这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。
附图中涉及的附图标记和组成部分如下所示：
22.获取模块 24.输出模块
实施例1
请参看附图1，附图1是本发明一种基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取方法流程示意图。一种基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取方法，该方法至少包括以下步骤：
步骤S100：获取角膜前表面曲率半径与晶状体厚度值、对应的晶状体形态图片；
在本申请的一些实施例中，上述角膜前表面曲率半径与晶状体厚度值由IOLMaster 700测得；晶状体形态图片亦由IOLMaster 700生成；
步骤S102：获取角膜前表面像素、晶状体前表面像素、晶状体后表面像素，其中，所述晶状体前表面像素、晶状体后表面像素与角膜前表面像素通过分析晶状体形态图片获得；
在本申请的一些实施例中，将晶状体形态图片导入matlab软件，通过matlab软件进行分析分别获取角膜前表面像素、晶状体前表面像素、晶状体后表面像素；
步骤S104：输出晶状体前表面曲率半径值及晶状体后表面曲率半径值，其中，所述角膜前表面曲率半径与晶状体前表面曲率半径值之比等于角膜前表面像素与晶状体前表面像素之比、所述角膜前表面曲率半径与晶状体后表面曲率半径之比等于角膜前表面像素与晶状体后表面像素之比；
步骤S106：输出晶状体前表面屈光力与晶状体后表面屈光力；
在本申请的一些实施例中，根据房水屈光指数、晶状体屈光指数、玻璃体屈光指数及晶状体前表面曲率半径、晶状体后表面曲率半径，并通过matlab软件获取晶状体前、后表面屈光力：
晶状体前表面屈光力：Fa＝(n2–n1)/Ca；
晶状体后表面屈光力：Fb＝(n3–n2)/Cp；
其中，房水屈光指数为n1，晶状体的屈光指数为n2，玻璃体的屈光指数为n3，晶状体前表面曲率半径值Ca和晶状体后表面曲率半径值Cp，均以米为单位；
步骤S108：输出晶状体总屈光力；
在本申请的一些实施例中，输入晶状体前表面屈光力、晶状体后表面屈光力、晶状体厚度、晶状体屈光指数，通过matlab软件获取：
晶状体总屈光力：Ft＝Fa+Fb–LT×Fa×Fb/n2
其中，晶状体厚度为LT，以米为单位。
需要说明的是：本发明所述基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取方法其通过像素比对获得晶状体前表面曲率半径值Ca和晶状体后表面曲率半径值Cp，使其可利用IOLMaster图像直接获取晶状体前表面曲率半径值及晶状体后表面曲率半径值，快捷、高效，对应的，其还可直接获取晶状体前、后表面屈光力及晶状体总屈光力，以实现对晶状体形态和屈光度的直接测量，加强对晶状体的研究和相关应用研究。
请参看附图2，附图2是本发明一种基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取***模块示意图。一种基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取***，包括：
获取模块22：用于获取获取角膜前表面曲率半径与晶状体厚度值、对应的晶状体形态图片以及角膜前表面像素、晶状体前表面像素、晶状体后表面像素的参数信息；
输出模块24：用于输出晶状体前表面曲率半径值及晶状体后表面曲率半径值、晶状体前表面屈光力与晶状体后表面屈光力、晶状体总屈光力；所述基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取***可以执行上述基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取方法，可以实现仪器对于晶状体测量结果的直接读数。
需要说明的是：本发明的保护范围还应包括执行所述的基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取方法其运行程序的处理器及存储其运行程序的存储介质。
实施例2
本实施例将结合具体数据进行说明：
通过IOLMaster 700获取被测的晶状体形态图片，并获取测得的角膜前表面曲率半径为7.80mm，像素为252；而晶状体前表面像素为410，晶状体后表面像素为240；根据像素比对：角膜前表面曲率半径/晶状体前表面曲率半径＝252/410，获得晶状体前表面曲率半径值Ca：12.69mm；角膜前表面曲率半径/晶状体后表面曲率半径＝252/240，获得晶状体后表面曲率半径值Cp：7.43mm。
根据房水屈光指数为n1＝1.3333，晶状体的屈光指数为n2＝1.4160，玻璃体的屈光指数为n3＝1.3333，晶状体厚度为LT为3.34mm。
晶状体前表面屈光力：Fa＝(n2–n1)/Ca(其中Ca以米为单位)；
输出：晶状体前表面屈光力：Fa＝6.52D
晶状体后表面屈光力：Fb＝(n3–n2)/Cp(其中Cp以米为单位)；
输出：晶状体后表面屈光力：Fb＝-11.13D
晶状体总屈光力：Ft＝Fa+Fb–LT×Fa×Fb/n2(其中LT以米为单位)；
输出：晶状体总屈光力：Ft＝17.82D
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和补充，这些改进和补充也应视为本发明的保护范围。
Claims (8)
1.一种基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取方法，其特征在于，包括：
获取角膜前表面曲率半径与晶状体厚度值、对应的晶状体形态图片；
获取角膜前表面像素、晶状体前表面像素、晶状体后表面像素，其中，所述晶状体前表面像素、晶状体后表面像素与角膜前表面像素通过分析晶状体形态图片获得；
输出晶状体前表面曲率半径值及晶状体后表面曲率半径值，其中，所述角膜前表面曲率半径与晶状体前表面曲率半径值之比等于角膜前表面像素与晶状体前表面像素之比、所述角膜前表面曲率半径与晶状体后表面曲率半径之比等于角膜前表面像素与晶状体后表面像素之比；
输出晶状体前表面屈光力与晶状体后表面屈光力；
输出晶状体总屈光力。
2.根据权利要求1所述的基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度测算方法，其特征在于，所述角膜前表面曲率半径与晶状体厚度值由IOLMaster 700测得；所述晶状体形态图片由IOLMaster 700生成。
3.根据权利要求1所述的基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度测算方法，其特征在于，通过matlab分析所述晶状体形态图片，获取角膜前表面像素、晶状体前表面像素、晶状体后表面像素。
4.根据权利要求1所述的基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度测算方法，其特征在于，晶状体前表面屈光力由房水屈光指数、晶状体屈光指数、玻璃体屈光指数及晶状体前表面曲率半径、晶状体后表面曲率半径计算获得：
晶状体前表面屈光力：Fa＝(n2–n1)/Ca；
晶状体后表面屈光力：Fb＝(n3–n2)/Cp；
其中，房水屈光指数为n1，晶状体的屈光指数为n2，玻璃体的屈光指数为n3，晶状体前表面曲率半径值Ca和晶状体后表面曲率半径值Cp。
5.根据权利要求4所述的基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度测算方法，其特征在于，晶状体总屈光力由晶状体前表面屈光力、晶状体后表面屈光力、晶状体厚度、晶状体屈光指数计算获得：
晶状体总屈光力：Ft＝Fa+Fb–LT×Fa×Fb/n2
其中，晶状体厚度为LT。
6.一种基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取***，其特征在于，包括：
获取模块：用于获取角膜前表面曲率半径与晶状体厚度值、对应的晶状体形态图片以及角膜前表面像素、晶状体前表面像素、晶状体后表面像素的参数信息；
输出模块：用于输出晶状体前表面曲率半径值及晶状体后表面曲率半径值、晶状体前表面屈光力与晶状体后表面屈光力、晶状体总屈光力；
所述基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取***执行权利要求1至5中任一项权利要求所述的基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取方法。
7.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述存储介质所在设备执行权利要求1至5中任一项权利要求所述的基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取方法。
8.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至5中任一项权利要求所述的基于IOLMaster图像的晶状体曲率和屈光度获取方法。
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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