CN112954306B - 一种图像处理性能测试方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供了一种图像处理性能测试方法及装置,涉及电子设备测试技术领域,其中,上述方法包括:对样本图像进行图像处理,得到当前处理结果。在对样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长的情况下,确定样本图像的当前处理结果与样本图像的历史处理结果是否相同,若不同,则调整样本图像中目标像素点的像素值,得到新的样本图像,返回对样本图像进行图像处理的步骤。在对样本图像进行图像处理的累计时长不小于预设时长的情况下,根据对样本图像进行图像处理的累计时长与累计次数,获得电子设备的图像处理性能的测试结果。应用本发明实施例提供的方案能够提高图像处理性能的测试结果的准确度。
Description
技术领域
本发明涉及电子设备测试技术领域,特别是涉及一种图像处理性能测试方法及装置。
背景技术
电子设备可以对图像进行图像处理,例如,对图像进行编码、解码等。在电子设备的屏幕上显示图像时,需要对编码后的图像进行解码,才能实现图像显示。另外,为了降低图像占用的存储空间,可以对图像进行编码,从而对图像进行压缩。不同电子设备的图像处理性能不同,这样电子设备对图像进行图像处理的效率不同。为了确定电子设备的图像处理性能,需要对电子设备的图像处理性能进行测试。
现有技术中,可以通过确定电子设备对样本图像进行图像处理的效率,对电子设备的图像处理性能进行测试。但在测试过程中,电子设备对样本图像进行图像处理时,可能会将在先输出的处理结果直接作为后续图像处理的处理结果进行输出,实际上在后续图像处理的过程中电子设备并没有真正进行图像处理。因此在上述情况下,若依据后续图像处理的处理结果测试电子设备的图像处理性能,会使得测试得到的图像处理性能的测试结果不准确。
发明内容
本发明实施例的目的在于提供一种图像处理性能测试方法及装置,以提高图像处理性能的测试结果的准确度。具体技术方案如下:
第一方面,本发明实施例提供了一种图像处理性能测试方法,所述方法包括:
对样本图像进行图像处理,得到当前处理结果;
在对所述样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长的情况下,确定所述样本图像的当前处理结果与所述样本图像的历史处理结果是否相同,若不同,则调整所述样本图像中目标像素点的像素值,得到新的样本图像,返回所述对样本图像进行图像处理的步骤;
在对所述样本图像进行图像处理的累计时长不小于预设时长的情况下,根据对所述样本图像进行图像处理的累计时长与累计次数,获得电子设备的图像处理性能的测试结果。
本发明的一个实施例中,在所述样本图像中存在多种图像格式的图像时,所述在对所述样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长的情况下,确定所述样本图像的处理结果与历史处理结果是否相同,包括:
按照以下方式,对每一图像格式的样本图像进行处理:
判断对一图像格式的样本图像进行图像处理的第一累计子时长是否小于第一预设子时长,其中,各个图像格式对应的第一预设子时长之和等于所述预设时长;
若小于,确定该图像格式的样本图像的当前处理结果与该图像格式的样本图像的历史处理结果是否相同;
若不小于,返回所述对样本图像进行图像处理的步骤,对其他图像格式的样本图像进行处理;
所述根据对所述样本图像进行图像处理的累计时长与累计次数,获得电子设备的图像处理性能的测试结果,包括:
针对每一图像格式,根据对该图像格式的样本图像进行图像处理的第一累计子时长与第一累计子次数,确定电子设备对该图像格式的图像进行图像处理的图像处理子性能的测试子结果;
根据各个测试子结果,确定电子设备的图像处理性能的测试结果。
本发明的一个实施例中,所述根据各个测试子结果,确定电子设备的图像处理性能的测试结果,包括:
按照以下公式,确定电子设备的图像处理性能的测试结果:
其中,Gn为所述测试结果,i为图像格式的标号,n表示图像格式的总数,fi为第i种图像格式对应的权重,xi为第i种图像格式对应的测试子结果。
本发明的一个实施例中,在所述样本图像的数量大于1的情况下,所述在对所述样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长的情况下,确定所述样本图像的处理结果与所述样本图像的历史处理结果是否相同,包括:
按照以下方式,对每一样本图像进行处理:
判断对一样本图像进行图像处理的第二累计子时长是否小于第二预设子时长,其中,各个样本图像对应的第二预设子时长之和等于所述预设时长;
若小于,确定该样本图像的当前处理结果与该样本图像的历史处理结果是否相同;
若不小于,返回所述对样本图像进行图像处理的步骤,对其他样本图像进行处理。
本发明的一个实施例中,在所述对样本图像进行图像处理,得到处理结果之前,还包括:
以二进制流的形式将样本图像读取至内存中;
所述调整所述样本图像中的目标像素点的像素值,包括:
调整样本图像对应的二进制流中用于表示所述目标像素点的二进制位的取值。
本发明的一个实施例中,所述图像处理为:图像解码或图像编码。
第二方面,本发明实施例提供了一种图像处理性能测试装置,所述装置包括:
图像处理模块,用于对样本图像进行图像处理,得到当前处理结果;
像素值调整模块,用于在对所述样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长的情况下,确定所述样本图像的当前处理结果与所述样本图像的历史处理结果是否相同,若不同,则调整所述样本图像中目标像素点的像素值,得到新的样本图像,返回执行所述图像处理模块;
结果获得模块,用于在对所述样本图像进行图像处理的累计时长不小于预设时长的情况下,根据对所述样本图像进行图像处理的累计时长与累计次数,获得电子设备的图像处理性能的测试结果。
本发明的一个实施例中,在所述样本图像中存在多种图像格式的图像时,所述像素值调整模块,包括:
通过以下图像处理子模块,对每一图像格式的样本图像进行处理;
所述图像处理子模块,具体用于:
判断对一图像格式的样本图像进行图像处理的第一累计子时长是否小于第一预设子时长,其中,各个图像格式对应的第一预设子时长之和等于所述预设时长;
若小于,确定该图像格式的样本图像的当前处理结果与该图像格式的样本图像的历史处理结果是否相同,若不同,则调整所述样本图像中目标像素点的像素值,得到新的样本图像,返回执行所述图像处理模块;
若不小于,返回执行所述图像处理模块,对其他图像格式的样本图像进行处理;
所述结果获得模块,包括:
子结果确定子模块,用于在对所述样本图像进行图像处理的累计时长不小于预设时长的情况下,针对每一图像格式,根据对该图像格式的样本图像进行图像处理的第一累计子时长与第一累计子次数,确定电子设备对该图像格式的图像进行图像处理的图像处理子性能的测试子结果;
结果确定子模块,用于根据各个测试子结果,确定电子设备的图像处理性能的测试结果。
本发明的一个实施例中,所述结果确定子模块,具体用于:
按照以下公式,确定电子设备的图像处理性能的测试结果:
其中,Gn为所述测试结果,i为图像格式的标号,n表示图像格式的总数,fi为第i种图像格式对应的权重,xi为第i种图像格式对应的测试子结果。
本发明的一个实施例中,在所述样本图像的数量大于1的情况下,所述像素值调整模块,具体用于:
按照以下方式,对每一样本图像进行处理:
判断对一样本图像进行图像处理的第二累计子时长是否小于第二预设子时长,其中,各个样本图像对应的第二预设子时长之和等于所述预设时长;
若小于,确定该样本图像的当前处理结果与该样本图像的历史处理结果是否相同,若不同,则调整所述样本图像中目标像素点的像素值,得到新的样本图像,返回执行所述图像处理模块;
若不小于,返回执行所述图像处理模块,对其他样本图像进行处理。
本发明的一个实施例中,所述装置还包括:
图像读取模块,用于以二进制流的形式将样本图像读取至内存中;
所述像素值调整模块,具体用于:
在对所述样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长的情况下,确定所述样本图像的当前处理结果与所述样本图像的历史处理结果是否相同,若不同,则调整样本图像对应的二进制流中用于表示所述目标像素点的二进制位的取值,返回执行所述图像处理模块。
本发明的一个实施例中,所述图像处理为:图像解码或图像编码。
第三方面,本发明实施例提供了一种电子设备,包括处理器、通信接口、存储器和通信总线,其中,处理器,通信接口,存储器通过通信总线完成相互间的通信;
存储器,用于存放计算机程序;
处理器,用于执行存储器上所存放的程序时,实现第一方面任一所述的方法步骤。
第四方面,本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质内存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现第一方面任一所述的方法步骤。
第五方面,本发明实施例还提供了一种包含指令的计算机程序产品,当其在计算机上运行时,使得计算机执行上述第一方面任一所述的方法步骤。
本发明实施例有益效果:
应用本发明实施例提供的方案测试电子设备的图像处理性能时,对样本图像进行图像处理,得到处理结果,在对样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长的情况下,确定样本图像的当前处理结果与样本图像的历史处理结果是否相同,若不同,则调整样本图像中的目标像素点的像素值,得到新的样本图像,返回对样本图像进行图像处理的步骤。在对样本图像进行图像处理的累计时长不小于预设时长的情况下,根据对样本图像进行图像处理的累计时长与累计次数,获得电子设备的图像处理性能的测试结果。
由以上可见,由于每对样本图像进行一次图像处理,样本图像中的目标像素点的像素值会发生一次变换,生成新的样本图像。因此,电子设备每一次进行图像处理的过程中样本图像均不同,因此若电子设备正常的对样本图像进行图像处理,每一次得到当前处理结果均不同。因此若能够确定样本图像的当前处理结果与历史处理结果不同,便可以认为在测试电子设备的图像处理性能的过程中,电子设备正常的进行了图像处理。否则,可以认为电子设备直接读取了在先生成的处理结果作为在后生成的处理结果,并未实质上进行图像处理,那么对图像处理进行测试的测试结果也就无效。因此本发明实施例提供的方案可以提高测试结果的准确度。另外,由于新的样本图像是通过调整原始的样本图像中目标像素点的像素值得到的,因此可以在不增大样本图像占用空间的情况下,在一张样本图像的基础上,可以得到多张不同的新的样本图像供电子设备进行图像处理性能测试,从而可以节省电子设备的存储空间。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的第一种图像处理性能测试方法的流程示意图;
图2为本发明实施例提供的第二种图像处理性能测试方法的流程示意图;
图3为本发明实施例提供的第三种图像处理性能测试方法的流程示意图;
图4为本发明实施例提供的第四种图像处理性能测试方法的流程示意图;
图5为本发明实施例提供的第一种图像处理性能测试装置的结构示意图;
图6为本发明实施例提供的第二种图像处理性能测试装置的结构示意图;
图7为本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员基于本申请所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
由于现有技术中存在图像处理性能的测试结果不准确的问题,为了提高图像处理性能的测试结果的准确度,本发明实施例提供了一种图像处理性能测试方法及装置。
本发明的一个实施例中,提供了一种图像处理性能测试方法,所述方法包括:
对样本图像进行图像处理,得到当前处理结果;
在对所述样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长的情况下,确定所述样本图像的当前处理结果与所述样本图像的历史处理结果是否相同,若不同,则调整所述样本图像中目标像素点的像素值,得到新的样本图像,返回所述对样本图像进行图像处理的步骤;
在对所述样本图像进行图像处理的累计时长不小于预设时长的情况下,根据对所述样本图像进行图像处理的累计时长与累计次数,获得电子设备的图像处理性能的测试结果。
由以上可见,由于每对样本图像进行一次图像处理,样本图像中的目标像素点的像素值会发生一次变换,生成新的样本图像。因此,电子设备每一次进行图像处理的过程中样本图像均不同,因此若电子设备正常的对样本图像进行图像处理,每一次得到当前处理结果均不同。因此若能够确定样本图像的当前处理结果与历史处理结果不同,便可以认为在测试电子设备的图像处理性能的过程中,电子设备正常的进行了图像处理。否则,可以认为电子设备直接读取了在先生成的处理结果作为在后生成的处理结果,并未实质上进行图像处理,那么对图像处理进行测试的测试结果也就无效。因此本发明实施例提供的方案可以提高测试结果的准确度。另外,由于新的样本图像是通过调整原始的样本图像中目标像素点的像素值得到的,因此可以在不增大样本图像占用空间的情况下,在一张样本图像的基础上,可以得到多张不同的新的样本图像供电子设备进行图像处理性能测试,从而可以节省电子设备的存储空间。
下面再通过具体的实施例对本发明实施例提供的图像处理性能测试方法及装置进行说明。
参见图1,本发明实施例提供了第一种图像处理性能测试方法的流程示意图,上述方法可以通过以下步骤S101-S104实现。
S101:对样本图像进行图像处理,得到当前处理结果。
具体的,可以通过电子设备中安装的CPU(Central Processing Unit,中央处理器)对上述样本图像进行图像处理,也可以通过电子设备中安装的图像处理单元,如GPU(Graphics Processing Unit,图像处理器)、DSP(Digital Signal Processor,数字信号处理器)、ISP(Image Signal Processor,图像信号处理器)、FPGA(Field-Programmable GateArray,现场可编程门阵列)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit,专用集成电路)等,对上述样本图像进行图像处理。
另外,上述样本图像可以为1张或多张,在上述样本图像为多张图像的情况下,可以依次对各个样本图像进行图像处理。上述样本图像可以是同一图像格式的图像,也可以是不同图像格式的图像。例如,JPEG格式、PNG格式、WEPB格式、HEIF格式等。上述样本图像的图像内容可以为任一内容,本发明实施例对此不进行限定,例如,图像内容可以为人、动物、植物等。
再者,上述图像处理可以为图像解码或图像编码,也可以为图像识别、图像拼接、图像特征提取等其他图像处理。在上述图像处理为图像解码的情况下,可以通过BitmapFactory方式完成上述图像解码的过程,上述图像解码之后得到的当前处理结果为位图。
S102:在对上述样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长的情况下,确定上述样本图像的当前处理结果与上述样本图像的历史处理结果是否相同。
具体的,上述历史处理结果为:在获得上述当前处理结果之前获得的、样本图像的处理结果。
上述累计时长为:对被图像处理过的所有样本图像进行图像处理的累计总时长,例如,样本图像M被图像处理的时长为2秒,样本图像N被图像处理的时长为3秒,则上述累计时长为5秒。
本发明的一个实施例中,若上述当前处理结果与历史处理结果相同,则说明电子设备可能直接读取了在先生成的历史处理结果,作为本次图像处理得到的当前处理结果,电子设备并未真正对样本图像进行图像处理,会对图像处理性能的测试结果的准确度造成影响,因此在上述当前处理结果与历史处理结果相同的情况下,可以判定当前的图像处理能力测试无效,并结束流程。
在上述当前处理结果与历史处理结果不同的情况下,可以认为到当前为止电子设备正常的进行图像处理,不会对图像处理性能的测试结果的准确度造成影响,因此可以继续进行图像处理性能测试的流程,执行步骤S103。
另外,上述确定上述样本图像的当前处理结果与上述样本图像的历史处理结果是否相同的过程所需的时长不计入上述累计时长中,可以通过执行图像处理的线程之外的其他线程确定上述当前处理结果与上述历史处理结果是否相同,以防止确定上述当前处理结果与上述历史处理结果是否相同的过程对样本图像的图像处理过程造成影响。
S103:调整上述样本图像中目标像素点的像素值,得到新的样本图像。
具体的,上述目标像素点可以为随机确定的上述样本图像中的任意像素点,也可以为预设位置处的像素点。样本图像中的目标像素点的数量可以为随机的任意数量,也可以为预设数量。
由于得到了新的样本图像,且对样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长,也就是上述图像处理性能测试的过程还未结束,因此需要继续执行图像处理性能测试的过程,返回上述步骤S101继续执行。
S104:在对上述样本图像进行图像处理的累计时长不小于预设时长的情况下,根据对上述样本图像进行图像处理的累计时长与累计次数,获得电子设备的图像处理性能的测试结果。
具体的,对上述样本图像进行图像处理的累计时长不小于预设时长,说明电子设备进行图像处理性能测试的时长已经达到预设时长。
本发明的一个实施例中,可以将累计次数除以累计时长,计算结果可以表示单位时长内电子设备能够处理的样本图像的数量,可以将计算结果作为测试结果。但由于上述计算结果的取值可能较小,直接将上述计算结果作为测试结果,会使得不同电子设备的测试结果的差值可能较小,难以体现不同电子设备的图像处理性能之间的差异,因此为了直观的表示电子设备的图像处理性能,也可以将计算结果乘以第一预设系数作为测试结果。例如,上述第一预设系数可以为100、1000等。
由以上可见,由于每对样本图像进行一次图像处理,样本图像中的目标像素点的像素值会发生一次变换,生成新的样本图像。因此,电子设备每一次进行图像处理的过程中样本图像均不同,因此若电子设备正常的对样本图像进行图像处理,每一次得到当前处理结果均不同。因此若能够确定样本图像的当前处理结果与历史处理结果不同,便可以认为在测试电子设备的图像处理性能的过程中,电子设备正常的进行了图像处理。否则,可以认为电子设备直接读取了在先生成的处理结果作为在后生成的处理结果,并未实质上进行图像处理,那么对图像处理进行测试的测试结果也就无效。因此本发明实施例提供的方案可以提高测试结果的准确度。另外,由于新的样本图像是通过调整原始的样本图像中目标像素点的像素值得到的,因此可以在不增大样本图像占用空间的情况下,在一张样本图像的基础上,可以得到多张不同的新的样本图像供电子设备进行图像处理性能测试,从而可以节省电子设备的存储空间。
参见图2,本发明实施例提供了第二种图像处理性能测试方法的流程示意图,在上述样本图像中存在多种图像格式的图像时,与前述图1所示的实施例相比,上述步骤S102可以通过以下方式实现。
按照以下S102A-S102B,对每一图像格式的样本图像进行处理:
S102A:在对上述样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长的情况下,判断对一图像格式的样本图像进行图像处理的第一累计子时长是否小于第一预设子时长。
其中,各个图像格式对应的第一预设子时长之和等于上述预设时长。
具体的,不同图像格式对应的第一预设子时长可以相同也可以不同,由于不同图像格式对应的第一预设子时长之和等于上述预设时长,因此在对每一图像格式的样本图像进行图像处理的第一累计子时长均不小于第一预设子时长的情况下,对样本图像进行图像处理的总体的累计时长大于等于上述预设时长。
另外,每一图像格式的样本图像的数量可以为1张,即样本图像存在多种不同的图像格式,每一图像格式的样本图像的数量为1张。每一图像格式的样本图像的数量可以为多张,即样本图像存在多种不同的图像格式,每一图像格式的样本图像的数量为多张。不同图像格式的样本图像的数量可以相同,也可以不同。
在第一累计子时长小于第一预设子时长的情况下,对该图像格式的样本图像进行图像处理的时长还未达到第一预设子时长,需要继续对该图像格式的样本图像进行图像处理,执行步骤S102B。
在第一累计子时长不小于第一预设子时长的情况下,对该图像格式的样本图像进行图像处理的时长达到了第一预设子时长,不需要继续对该图像格式的样本图像进行图像处理,则返回上述步骤S101,对其他图像格式的样本图像进行处理。
本发明的一个实施例中,可以优先对一图像格式的样本图像进行图像处理,在对该图像格式的样本图像进行图像处理的第一累计子时长不小于第一预设子时长的情况下,再对下一图像格式的样本图像进行图像处理。则在进行图像处理性能测试的过程中,同时仅需要对一种图像格式的样本图像进行图像处理的第一累计子时长进行计时。
也可以依次循环的对各个样本图像进行图像处理,所依照的次序可以为任意次序,即上述次序与样本图像的图像格式无关。也就是在对一图像格式的样本图像进行图像处理的第一累计子时长小于第一预设子时长的情况下,便开始对另一图像格式的样本图像进行图像处理,在对各个样本图像均完成一次图像处理之后,再开始对各个样本图像进行下一轮图像处理。则需要同时对各个图像格式的第一累计子时长分别进行计时。
S102B:确定该图像格式的样本图像的当前处理结果与该图像格式的样本图像的历史处理结果是否相同。
本发明的一个实施例中,若该图像格式的样本图像的当前处理结果与历史处理结果相同,则说明电子设备可能直接读取了在先生成的该图像格式的样本图像的历史处理结果,作为本次图像处理得到的当前处理结果,电子设备并未真正对该图像格式的样本图像进行图像处理,会对图像处理性能的测试结果的准确度造成影响,因此在该图像格式的样本图像的当前处理结果与历史处理结果相同的情况下,可以判定当前的图像处理能力测试无效,并结束流程。
在该图像格式的样本图像的当前处理结果与历史处理结果不同的情况下,可以认为到当前为止电子设备正常的对该图像格式的样本图像进行图像处理,不会对图像处理性能的测试结果的准确度造成影响,因此可以继续进行图像处理性能测试的流程,执行步骤S103。
与前述图1所示的实施例相比,步骤S104可以通过以下步骤S104A-S104B实现。
S104A:针对每一图像格式,根据对该图像格式的样本图像进行图像处理的第一累计子时长与第一累计子次数,确定电子设备对该图像格式的图像进行图像处理的图像处理子性能的测试子结果。
具体的,针对每一图像格式,可以将该图像格式的第一累计子次数除以第一累计子时长,计算结果可以表示单位时长内电子设备能够处理的该图像格式的样本图像的数量,可以将计算结果作为测试子结果。但由于上述计算结果的取值可能较小,直接将上述计算结果作为测试子结果,会使得不同电子设备的测试子结果的差值可能较小,难以体现不同电子设备的图像处理性能之间的差异,因此为了直观的表示电子设备的图像处理性能,也可以将计算结果乘以第二预设系数作为测试结果。
具体的,由于将计算结果乘以第二预设系数仅仅是为了提高计算结果的大小,不能改变不同图像格式对应的计算结果之间的大小比例关系,因此对于不同的图像格式,上述第二预设系数相同。例如,上述第二预设系数可以为100、1000等。
S104B:根据各个测试子结果,确定电子设备的图像处理性能的测试结果。
具体的,可以将各个测试子结果的和值、加权和值、平均值、加权平均值等统计结果作为上述图像处理性能的测试结果。
另外,也可以按照以下公式,确定电子设备的图像处理性能的测试结果:
其中,Gn为上述测试结果,i为图像格式的标号,n表示图像格式的总数,fi为第i种图像格式对应的权重,xi为第i种图像格式对应的测试子结果。
具体的,按照以上公式计算得到的测试结果可以被称为测试子结果的加权几何平均数。
由以上可见,由于不同图像格式的样本图像中包含的信息不同,同一电子设备对不同图像格式的样本图像进行图像处理的图像处理性能不同,因此在样本图像中包含不同图像格式的图像的情况下,先分别计算电子设备对不同图像格式的样本图像进行图像处理的测试子结果,再根据测试子结果获得上述测试结果,可以使得计算得到的测试结果能够体现电子设备对不同图像格式的样本图像进行图像处理的图像处理性能,使得确定得到的图像处理性能更准确。
参见图3,本发明实施例提供了第三种图像处理性能测试方法的流程示意图,在上述样本图像的数量大于1的情况下,与前述图1所示的实施例相比,上述步骤S102可以通过以下方式实现。
按照以下步骤S102C-S102D,对每一样本图像进行处理。
S102C:在对上述样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长的情况下,判断对一样本图像进行图像处理的第二累计子时长是否小于第二预设子时长。
其中,各个样本图像对应的第二预设子时长之和等于上述预设时长。
具体的,不同样本图像对应的第二预设子时长可以相同也可以不同,由于不同样本图像对应的第二预设子时长之和等于上述预设时长,因此在对每一样本图像进行图像处理的第二累计子时长均不小于第二预设子时长的情况下,对样本图像进行图像处理的总体的累计时长大于等于上述预设时长。
另外,不同样本图像的图像格式可以相同,即样本图像中存在一种图像格式的图像,该图像格式的样本图像的数量为多张。不同样本图像的图像格式可以不同,即样本图像存在多种不同的图像格式,每一图像格式的样本图像的数量为一张,也可以为多张。
在第二累计子时长小于第二预设子时长的情况下,对该样本图像进行图像处理的时长还未达到第二预设子时长,需要继续对该样本图像进行图像处理,执行步骤S102D。
在第二累计子时长不小于第二预设子时长的情况下,对该样本图像进行图像处理的时长达到了第二预设子时长,不需要继续对该样本图像进行图像处理,则返回上述步骤S101,对其他样本图像进行处理。
本发明的一个实施例中,可以优先对一张样本图像进行图像处理,在对该样本图像进行图像处理的第二累计子时长不小于第二预设子时长的情况下,再对下一样本图像进行图像处理。则在进行图像处理性能测试的过程中,同时仅需要对一张样本图像的第二累计子时长分别进行计时。
也可以依次循环的对各个样本图像进行图像处理,也就是在对一张样本图像进行图像处理的第二累计子时长小于第二预设子时长的情况下,便开始对下一样本图像进行图像处理,在对各个样本图像均完成一次图像处理之后,再开始对各个样本图像进行下一轮图像处理。则需要同时对各个样本图像的第二累计子时长进行计时。
S102D:确定该样本图像的当前处理结果与该样本图像的历史处理结果是否相同。
本发明的一个实施例中,若该样本图像的当前处理结果与历史处理结果相同,则说明电子设备可能直接读取了在先生成的该样本图像的历史处理结果,作为本次图像处理得到的当前处理结果,电子设备并未真正对该样本图像进行图像处理,会对图像处理性能的测试结果的准确度造成影响,因此在该样本图像的当前处理结果与历史处理结果相同的情况下,可以判定当前的图像处理能力测试无效,并结束流程。
在该样本图像的当前处理结果与历史处理结果不同的情况下,可以认为到当前为止电子设备正常的对该样本图像进行图像处理,不会对图像处理性能的测试结果的准确度造成影响,因此可以继续进行图像处理性能测试的流程。
另外,在对各样本图像进行图像处理的第二累计时长均不小于第二预设时长的情况下,各样本图像的第二累计子时长之和即为上述累计时长,对各样本图像进行图像处理的第二累计子次数之和,即为上述累计次数。
由以上可见,本发明提供的实施例中提供了多张样本图像用于进行电子设备图像处理性能的测试,由于不同样本图像的图像复杂度往往不同,电子设备对不同图像进行图像处理所需的时间不同。采用多张样本图像进行图像处理性能的测试可以使得测试得到的测试结果能够体现电子设备对不同图像复杂度的样本图像进行图像处理的图像处理性能,使得确定得到的图像处理性能更准确。
参见图4,为本发明实施例提供的第四种图像处理性能测试方法的流程示意图,与前述图1所示的实施例相比,在上述步骤S101之前,还包括以下步骤S105。
S105:以二进制流的形式将样本图像读取至内存中。
具体的,在电子设备对样本图像进行图像处理的过程中,是从内存中读取样本图像进行图像处理的。
其中,上述二进制流中包含用于表示不同样本图像的二进制数,对应同一样本图像的二进制数在二进制流中彼此相邻。样本图像中不同的像素点对应不同的二进制数。
与前述图1所示的实施例相比,上述步骤S103可以通过以下步骤S103A实现。
S103A:调整样本图像对应的二进制流中用于表示上述目标像素点的二进制位的取值。
具体的,由于二进制流中仅包含1与0两个数字,因此可以将用于表示目标像素点的二进制位的取值由1调整为0,或由0调整为1,从而调整用于表示上述目标像素点的二进制位的取值。
本发明的一个实施例中,可以调整用于表示上述目标像素点的各个二进制位,也可以随机调整用于表示上述目标像素点的部分二进制位的取值。
由以上可见,由于在对样本图像进行图像处理之前,以二进制流的形式将样本图像读取至内存中,电子设备在需要对样本图像进行图像处理时可以直接从内存中获取样本图像进行图像处理。因此统计得到的对样本图像进行图像处理的累计时长中不包含将样本图像读取至内存中所需要的时间,从而提高了统计得到的累计时长的准确度,进而提高了依据累计时长确定得到的图像处理性能的准确度。
与前述处理器性能测试方法相对应,参见图5,本发明实施例还提供了第一种图像处理性能测试装置的结构示意图,所述装置包括:
图像处理模块501,用于对样本图像进行图像处理,得到当前处理结果;
像素值调整模块502,用于在对所述样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长的情况下,确定所述样本图像的当前处理结果与所述样本图像的历史处理结果是否相同,若不同,则调整所述样本图像中目标像素点的像素值,得到新的样本图像,返回执行所述图像处理模块501;
结果获得模块503,用于在对所述样本图像进行图像处理的累计时长不小于预设时长的情况下,根据对所述样本图像进行图像处理的累计时长与累计次数,获得电子设备的图像处理性能的测试结果。
由以上可见,由于每对样本图像进行一次图像处理,样本图像中的目标像素点的像素值会发生一次变换,生成新的样本图像。因此,电子设备每一次进行图像处理的过程中样本图像均不同,因此若电子设备正常的对样本图像进行图像处理,每一次得到当前处理结果均不同。因此若能够确定样本图像的当前处理结果与历史处理结果不同,便可以认为在测试电子设备的图像处理性能的过程中,电子设备正常的进行了图像处理。否则,可以认为电子设备直接读取了在先生成的处理结果作为在后生成的处理结果,并未实质上进行图像处理,那么对图像处理进行测试的测试结果也就无效。因此本发明实施例提供的方案可以提高测试结果的准确度。另外,由于新的样本图像是通过调整原始的样本图像中目标像素点的像素值得到的,因此可以在不增大样本图像占用空间的情况下,在一张样本图像的基础上,可以得到多张不同的新的样本图像供电子设备进行图像处理性能测试,从而可以节省电子设备的存储空间。
参见图6,为本发明实施例提供的第二种图像处理性能测试装置的结构示意图,在所述样本图像中存在多种图像格式的图像时,与前述图5所示的实施例相比,所述像素值调整模块502,包括:
通过以下图像处理子模块502A,对每一图像格式的样本图像进行处理;
所述图像处理子模块502A,具体用于:
判断对一图像格式的样本图像进行图像处理的第一累计子时长是否小于第一预设子时长,其中,各个图像格式对应的第一预设子时长之和等于所述预设时长;
若小于,确定该图像格式的样本图像的当前处理结果与该图像格式的样本图像的历史处理结果是否相同,若不同,则调整所述样本图像中目标像素点的像素值,得到新的样本图像,返回执行所述图像处理模块501;
若不小于,返回执行所述图像处理模块501,对其他图像格式的样本图像进行处理;
所述结果获得模块503,包括:
子结果确定子模块503A,用于在对所述样本图像进行图像处理的累计时长不小于预设时长的情况下,针对每一图像格式,根据对该图像格式的样本图像进行图像处理的第一累计子时长与第一累计子次数,确定电子设备对该图像格式的图像进行图像处理的图像处理子性能的测试子结果;
结果确定子模块503B,用于根据各个测试子结果,确定电子设备的图像处理性能的测试结果。
由以上可见,由于不同图像格式的样本图像中包含的信息不同,同一电子设备对不同图像格式的样本图像进行图像处理的图像处理性能不同,因此在样本图像中包含不同图像格式的图像的情况下,先分别计算电子设备对不同图像格式的样本图像进行图像处理的测试子结果,再根据测试子结果获得上述测试结果,可以使得计算得到的测试结果能够体现电子设备对不同图像格式的样本图像进行图像处理的图像处理性能,使得确定得到的图像处理性能更准确。
本发明的一个实施例中,上述结果确定子模块503B,具体用于:
按照以下公式,确定电子设备的图像处理性能的测试结果:
其中,Gn为所述测试结果,i为图像格式的标号,n表示图像格式的总数,fi为第i种图像格式对应的权重,xi为第i种图像格式对应的测试子结果。
本发明的一个实施例中,在所述样本图像的数量大于1的情况下,所述像素值调整模块502,具体用于:
按照以下方式,对每一样本图像进行处理:
判断对一样本图像进行图像处理的第二累计子时长是否小于第二预设子时长,其中,各个样本图像对应的第二预设子时长之和等于所述预设时长;
若小于,确定该样本图像的当前处理结果与该样本图像的历史处理结果是否相同,若不同,则调整所述样本图像中目标像素点的像素值,得到新的样本图像,返回执行所述图像处理模块;
若不小于,返回执行所述图像处理模块501,对其他样本图像进行处理。
由以上可见,本发明提供的实施例中提供了多张样本图像用于进行电子设备图像处理性能的测试,由于不同样本图像的图像复杂度往往不同,电子设备对不同图像进行图像处理所需的时间不同。采用多张样本图像进行图像处理性能的测试可以使得测试得到的测试结果能够体现电子设备对不同图像复杂度的样本图像进行图像处理的图像处理性能,使得确定得到的图像处理性能更准确。
本发明的一个实施例中,上述装置还包括:
图像读取模块,用于以二进制流的形式将样本图像读取至内存中;
所述像素值调整模块502,具体用于:
在对所述样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长的情况下,确定所述样本图像的当前处理结果与所述样本图像的历史处理结果是否相同,若不同,则调整样本图像对应的二进制流中用于表示所述目标像素点的二进制位的取值,返回执行所述图像处理模块501。
本发明的一个实施例中,所述图像处理为:图像解码或图像编码。
由以上可见,由于在对样本图像进行图像处理之前,以二进制流的形式将样本图像读取至内存中,电子设备在需要对样本图像进行图像处理时可以直接从内存中获取样本图像进行图像处理。因此统计得到的对样本图像进行图像处理的累计时长中不包含将样本图像读取至内存中所需要的时间,从而提高了统计得到的累计时长的准确度,进而提高了依据累计时长确定得到的图像处理性能的准确度。
本发明实施例还提供了一种电子设备,如图7所示,包括处理器701、通信接口702、存储器703和通信总线704,其中,处理器701,通信接口702,存储器703通过通信总线704完成相互间的通信,
存储器703,用于存放计算机程序;
处理器701,用于执行存储器703上所存放的程序时,实现上述图像处理性能测试方法任意所述的方法步骤。
应用本发明实施例提供的电子设备测试图像处理性能时,由于每对样本图像进行一次图像处理,样本图像中的目标像素点的像素值会发生一次变换,生成新的样本图像。因此,电子设备每一次进行图像处理的过程中样本图像均不同,因此若电子设备正常的对样本图像进行图像处理,每一次得到当前处理结果均不同。因此若能够确定样本图像的当前处理结果与历史处理结果不同,便可以认为在测试电子设备的图像处理性能的过程中,电子设备正常的进行了图像处理。否则,可以认为电子设备直接读取了在先生成的处理结果作为在后生成的处理结果,并未实质上进行图像处理,那么对图像处理进行测试的测试结果也就无效。因此本发明实施例提供的方案可以提高测试结果的准确度。另外,由于新的样本图像是通过调整原始的样本图像中目标像素点的像素值得到的,因此可以在不增大样本图像占用空间的情况下,在一张样本图像的基础上,可以得到多张不同的新的样本图像供电子设备进行图像处理性能测试,从而可以节省电子设备的存储空间。
上述电子设备提到的通信总线可以是外设部件互连标准(Peripheral ComponentInterconnect,PCI)总线或扩展工业标准结构(Extended Industry StandardArchitecture,EISA)总线等。该通信总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示,图中仅用一条粗线表示,但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。
通信接口用于上述电子设备与其他设备之间的通信。
存储器可以包括随机存取存储器(Random Access Memory,RAM),也可以包括非易失性存储器(Non-Volatile Memory,NVM),例如至少一个磁盘存储器。可选的,存储器还可以是至少一个位于远离前述处理器的存储装置。
上述的处理器可以是通用处理器,包括中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、网络处理器(Network Processor,NP)等;还可以是数字信号处理器(Digital SignalProcessor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。
在本发明提供的又一实施例中,还提供了一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质内存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述图像处理性能测试方法任意所述的方法步骤。
应用本实施例提供的计算机可读存储介质中存储的计算机程序测试图像处理性能时,由于每对样本图像进行一次图像处理,样本图像中的目标像素点的像素值会发生一次变换,生成新的样本图像。因此,电子设备每一次进行图像处理的过程中样本图像均不同,因此若电子设备正常的对样本图像进行图像处理,每一次得到当前处理结果均不同。因此若能够确定样本图像的当前处理结果与历史处理结果不同,便可以认为在测试电子设备的图像处理性能的过程中,电子设备正常的进行了图像处理。否则,可以认为电子设备直接读取了在先生成的处理结果作为在后生成的处理结果,并未实质上进行图像处理,那么对图像处理进行测试的测试结果也就无效。因此本发明实施例提供的方案可以提高测试结果的准确度。另外,由于新的样本图像是通过调整原始的样本图像中目标像素点的像素值得到的,因此可以在不增大样本图像占用空间的情况下,在一张样本图像的基础上,可以得到多张不同的新的样本图像供电子设备进行图像处理性能测试,从而可以节省电子设备的存储空间。
在本发明提供的又一实施例中,还提供了一种包含指令的计算机程序产品,当其在计算机上运行时,使得计算机执行上述图像处理性能测试方法任意所述的方法步骤。
执行本实施例提供的计算机程序产品测试图像处理性能时,由于每对样本图像进行一次图像处理,样本图像中的目标像素点的像素值会发生一次变换,生成新的样本图像。因此,电子设备每一次进行图像处理的过程中样本图像均不同,因此若电子设备正常的对样本图像进行图像处理,每一次得到当前处理结果均不同。因此若能够确定样本图像的当前处理结果与历史处理结果不同,便可以认为在测试电子设备的图像处理性能的过程中,电子设备正常的进行了图像处理。否则,可以认为电子设备直接读取了在先生成的处理结果作为在后生成的处理结果,并未实质上进行图像处理,那么对图像处理进行测试的测试结果也就无效。因此本发明实施例提供的方案可以提高测试结果的准确度。另外,由于新的样本图像是通过调整原始的样本图像中目标像素点的像素值得到的,因此可以在不增大样本图像占用空间的情况下,在一张样本图像的基础上,可以得到多张不同的新的样本图像供电子设备进行图像处理性能测试,从而可以节省电子设备的存储空间。
在上述实施例中,可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时,可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序指令时,全部或部分地产生按照本发明实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中,或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输,例如,所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线(DSL))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质,(例如,软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如,DVD)、或者半导体介质(例如固态硬盘Solid State Disk(SSD))等。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均包含在本发明的保护范围内。
Claims (14)
1.一种图像处理性能测试方法,其特征在于,所述方法包括:
对样本图像进行图像处理,得到当前处理结果;
在对所述样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长的情况下,确定所述样本图像的当前处理结果与所述样本图像的历史处理结果是否相同,若不同,则调整所述样本图像中目标像素点的像素值,得到新的样本图像,返回所述对样本图像进行图像处理的步骤;
在对所述样本图像进行图像处理的累计时长不小于预设时长的情况下,根据对所述样本图像进行图像处理的累计时长与累计次数,获得电子设备的图像处理性能的测试结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述样本图像中存在多种图像格式的图像时,所述在对所述样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长的情况下,确定所述样本图像的处理结果与历史处理结果是否相同,包括:
按照以下方式,对每一图像格式的样本图像进行处理:
判断对一图像格式的样本图像进行图像处理的第一累计子时长是否小于第一预设子时长,其中,各个图像格式对应的第一预设子时长之和等于所述预设时长;
若小于,确定该图像格式的样本图像的当前处理结果与该图像格式的样本图像的历史处理结果是否相同;
若不小于,返回所述对样本图像进行图像处理的步骤,对其他图像格式的样本图像进行处理;
所述根据对所述样本图像进行图像处理的累计时长与累计次数,获得电子设备的图像处理性能的测试结果,包括:
针对每一图像格式,根据对该图像格式的样本图像进行图像处理的第一累计子时长与第一累计子次数,确定电子设备对该图像格式的图像进行图像处理的图像处理子性能的测试子结果;
根据各个测试子结果,确定电子设备的图像处理性能的测试结果。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述样本图像的数量大于1的情况下,所述在对所述样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长的情况下,确定所述样本图像的处理结果与所述样本图像的历史处理结果是否相同,包括:
按照以下方式,对每一样本图像进行处理:
判断对一样本图像进行图像处理的第二累计子时长是否小于第二预设子时长,其中,各个样本图像对应的第二预设子时长之和等于所述预设时长;
若小于,确定该样本图像的当前处理结果与该样本图像的历史处理结果是否相同;
若不小于,返回所述对样本图像进行图像处理的步骤,对其他样本图像进行处理。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述对样本图像进行图像处理,得到处理结果之前,还包括:
以二进制流的形式将样本图像读取至内存中;
所述调整所述样本图像中的目标像素点的像素值,包括:
调整样本图像对应的二进制流中用于表示所述目标像素点的二进制位的取值。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法,其特征在于,所述图像处理为:图像解码或图像编码。
7.一种图像处理性能测试装置,其特征在于,所述装置包括:
图像处理模块,用于对样本图像进行图像处理,得到当前处理结果;
像素值调整模块,用于在对所述样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长的情况下,确定所述样本图像的当前处理结果与所述样本图像的历史处理结果是否相同,若不同,则调整所述样本图像中目标像素点的像素值,得到新的样本图像,返回执行所述图像处理模块;
结果获得模块,用于在对所述样本图像进行图像处理的累计时长不小于预设时长的情况下,根据对所述样本图像进行图像处理的累计时长与累计次数,获得电子设备的图像处理性能的测试结果。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,在所述样本图像中存在多种图像格式的图像时,所述像素值调整模块,包括:
通过以下图像处理子模块,对每一图像格式的样本图像进行处理;
所述图像处理子模块,具体用于:
判断对一图像格式的样本图像进行图像处理的第一累计子时长是否小于第一预设子时长,其中,各个图像格式对应的第一预设子时长之和等于所述预设时长;
若小于,确定该图像格式的样本图像的当前处理结果与该图像格式的样本图像的历史处理结果是否相同,若不同,则调整所述样本图像中目标像素点的像素值,得到新的样本图像,返回执行所述图像处理模块;
若不小于,返回执行所述图像处理模块,对其他图像格式的样本图像进行处理;
所述结果获得模块,包括:
子结果确定子模块,用于在对所述样本图像进行图像处理的累计时长不小于预设时长的情况下,针对每一图像格式,根据对该图像格式的样本图像进行图像处理的第一累计子时长与第一累计子次数,确定电子设备对该图像格式的图像进行图像处理的图像处理子性能的测试子结果;
结果确定子模块,用于根据各个测试子结果,确定电子设备的图像处理性能的测试结果。
10.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,在所述样本图像的数量大于1的情况下,所述像素值调整模块,具体用于:
按照以下方式,对每一样本图像进行处理:
判断对一样本图像进行图像处理的第二累计子时长是否小于第二预设子时长,其中,各个样本图像对应的第二预设子时长之和等于所述预设时长;
若小于,确定该样本图像的当前处理结果与该样本图像的历史处理结果是否相同,若不同,则调整所述样本图像中目标像素点的像素值,得到新的样本图像,返回执行所述图像处理模块;
若不小于,返回执行所述图像处理模块,对其他样本图像进行处理。
11.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
图像读取模块,用于以二进制流的形式将样本图像读取至内存中;
所述像素值调整模块,具体用于:
在对所述样本图像进行图像处理的累计时长小于预设时长的情况下,确定所述样本图像的当前处理结果与所述样本图像的历史处理结果是否相同,若不同,则调整样本图像对应的二进制流中用于表示所述目标像素点的二进制位的取值,返回执行所述图像处理模块。
12.根据权利要求7-11中任一项所述的装置,其特征在于,所述图像处理为:图像解码或图像编码。
13.一种电子设备,其特征在于,包括处理器、通信接口、存储器和通信总线,其中,处理器,通信接口,存储器通过通信总线完成相互间的通信;
存储器,用于存放计算机程序;
处理器,用于执行存储器上所存放的程序时,实现权利要求1-6任一所述的方法步骤。
14.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质内存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-6任一所述的方法步骤。
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