CN112945984A - 显示面板的检测方法及其检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例公开了一种显示面板的检测方法及其检测装置。该显示面板的检测方法包括:在显示面板与拍照设备之间设置第一偏光片;调整该第一偏光片,使由该显示面板射向该第一偏光片的光线的偏振角度与经过该第一偏光片的光线的偏振角度的差值为第一角度;利用该拍照设备对该显示面板的第一颜色画面拍摄,得到第一颜色画面照片;对该第一颜色画面照片进行核检。本发明实施例通过转动设置在显示面板与照相设备之间的第一偏光片,将正常像素点的亮度变暗,增大了异常像素点与正常像素点之间的对比度,方便观察检测显示面板,提高了生产良率。
Description
技术领域
本发明涉及显示领域,具体涉及一种显示面板的检测方法及其检测装置。
背景技术
近些年,显示面板在人民生活中的应用越发广泛。
目前,传统的自动检查利用相机拍摄显示面板显示区域,检出视觉缺陷将显示面板缺陷特征参数或/和图档集中传输至核检处,采用该拦检方法时,部分异物或配向类坏点成像对比不够明显,会导致漏放及最终显示面板良率下降的技术问题。
因此,亟需一种显示面板的检测方法及其检测装置以解决上述技术问题。
发明内容
本发明实施例提供一种显示面板的检测方法及其检测装置,可以解决目前拦检方法中,部分异物和配向类坏点成像对比不够明显,会导致漏放及最终显示面板良率下降的技术问题。
本发明实施例提供一种显示面板的检测方法,包括:
在显示面板与拍照设备之间设置第一偏光片;
调整所述第一偏光片,使由所述显示面板射向所述第一偏光片的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片的光线的偏振角度的差值为第一角度;
利用所述拍照设备对所述显示面板的第一颜色画面拍摄,得到第一颜色画面照片;
对所述第一颜色画面照片进行核检。
在一实施例中,所述第一颜色画面为白色画面。
在一实施例中,所述第一偏光片位于所述拍照设备上。
在一实施例中,所述第一偏光片连接有转动单元以及控制所述转动单元的控制单元,所述调整所述第一偏光片的步骤,包括:利用所述控制单元控制所述转动单元使所述第一偏光片转动,使由所述显示面板射向所述第一偏光片的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片的光线的偏振角度的差值为第一角度。
在一实施例中,所述调整所述第一偏光片,使由所述显示面板射向所述第一偏光片的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片的光线的偏振角度的差值为第一角度的步骤之前,还包括:利用所述拍照设备对所述显示面板的第二颜色画面进行拍摄,得到第二颜色画面照片;对所述第二颜色画面照片进行核检。
在一实施例中,所述显示面板的检测方法还包括:调整所述第一偏光片,使由所述显示面板射向所述第一偏光片的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片的光线的偏振角度的差值为第二角度;利用所述拍照设备对所述显示面板的第二颜色画面进行拍摄,得到第二颜色画面照片;对所述第二颜色画面照片进行核检。
在一实施例中,所述利用所述拍照设备对所述显示面板的第一颜色画面拍摄的曝光时间为第一曝光时间,所述利用所述拍照设备对所述显示面板的第二颜色画面拍摄的曝光时间均为第二曝光时间;其中,所述第一曝光时间大于所述第二曝光时间。
在一实施例中,所述第二颜色画面为红色画面、绿色画面、蓝色画面、黑色画面、白色画面以及灰色画面中的任一种。
在一实施例中,所述第一角度为80°~90°。
本发明实施例还提供了一种显示面板的检测装置,包括:
拍照设备;
位于所述拍照设备与显示面板之间的第一偏光片;
其中,当利用所述拍照设备对所述显示面板的第一颜色画面拍摄时,所述显示面板射向所述第一偏光片的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片的光线的偏振角度的差值为第一角度。
本发明实施例通过转动设置在显示面板与照相设备之间的第一偏光片,将正常像素点的亮度变暗,增大了异常像素点与正常像素点之间的对比度,方便观察检测显示面板,提高了生产良率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的显示面板的检测方法的步骤流程图;
图2是本发明实施例提供的显示面板的检测装置的第一种结构的结构示意图;
图3是本发明实施例提供的显示面板的检测装置的第二种结构的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。此外,应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明,并不用于限制本发明。在本发明中,在未作相反说明的情况下,使用的方位词如“上”和“下”通常是指装置实际使用或工作状态下的上和下,具体为附图中的图面方向;而“内”和“外”则是针对装置的轮廓而言的。
目前,传统的自动检查利用相机拍摄显示面板显示区域,检出视觉缺陷将显示面板缺陷特征参数或/和图档集中传输至核检处,采用该拦检方法时,部分异物和配向类坏点成像对比不够明显,会导致漏放及最终显示面板良率下降的技术问题。
请参阅图1,本发明实施例提供一种显示面板200的检测方法,包括:
S100、在显示面板200与拍照设备400之间设置第一偏光片300;
S200、调整所述第一偏光片300,使由所述显示面板200射向所述第一偏光片300的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片300的光线的偏振角度的差值为第一角度;
S300、利用所述拍照设备400对所述显示面板200的第一颜色画面拍摄,得到第一颜色画面照片;
S400、对所述第一颜色画面照片进行核检。
本发明实施例通过转动设置在显示面板200与照相设备之间的第一偏光片300,将正常像素点的亮度变暗,增大了异常像素点与正常像素点之间的对比度,方便观察检测显示面板200,提高了生产良率。
现结合具体实施例对本发明的技术方案进行描述。
所述显示面板200的检测方法,包括:
S100、在显示面板200与拍照设备400之间设置第一偏光片300,具体请参阅图2。
本实施例中,所述显示面板200可以为液晶显示面板200或自发光显示面板200。
本实施例中,所述显示面板200为液晶显示面板200时,所述显示面板200包括背光单元、位于所述背光单元上的下偏光层、位于所述下偏光层上的阵列基板、位于所述阵列基板上的液晶层、位于所述液晶层上的彩膜层以及位于所述彩膜层上的上偏光片。
本实施例中,所述显示面板200为自发光显示面板200时,所述显示面板200包括阵列基板、位于所述阵列基板上的发光器件层以及位于所述发光器件层上的偏光层。
本实施例中,所述拍照设备400可以为相机或者色度亮度捕捉器,在此不做限定。
S200、调整所述第一偏光片300,使由所述显示面板200射向所述第一偏光片300的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片300的光线的偏振角度的差值为第一角度。
本实施例中,当所述显示面板200为液晶显示面板200时,所述第一偏光片300可以为所述上偏光片。
本实施例中,所述第一偏光片300位于所述拍照设备400上。所述拍照设备400包括相机主体以及镜头,所述第一偏光片300位于所述拍照设备400的所述镜头上,所述第一偏光片300可以在所述镜头上转动,从而使从所述显示面板200射向所述第一偏光片300的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片300的光线的偏振角度的差值为第一角度,具体请参阅图3,将强光画面(白色画面)进行亮度压暗,增加异常像素点与正常像素点之间的对比度,易于观察判断核检。
本实施例中,所述第一角度为80°~90°。该角度既可以保证增强异常像素点与正常像素点之间的对比度,又可以保证一定的出光量,易于观察异常像素点的非正常显示。
本实施例中,所述第一偏光片300连接有转动单元500以及控制所述转动单元500的控制单元600,所述调整所述第一偏光片300的步骤,包括:利用所述控制单元600控制所述转动单元500使所述第一偏光片300转动,使由所述显示面板200射向所述第一偏光片300的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片300的光线的偏振角度的差值为第一角度,具体请参阅图3。所述控制单元600与所述转动单元500电连接,所述转动单元500与所述第一偏光片300连接,所述控制单元600与所述拍照设备400电连接,图2、图3中连线为电线或连接线。所述控制单元600可以包括电脑,通过电脑自动控制,使所述第一偏光片300可以转动任意角度,从而调节至不同颜色画面的不同偏差角度,进行最佳对比度对应角度的调节,易于观察判断核检。
本实施例中,所述转动单元500包括马达及连接部件,所述连接部件连接所述马达及所述第一偏光片300。
本实施例中,在步骤S200之前,所述显示面板200的检测方法还包括:
S200a、利用所述拍照设备400对所述显示面板200的第二颜色画面进行拍摄,得到第二颜色画面照片。
S200b、对所述第二颜色画面照片进行核检。
本实施例中,所述第二颜色画面为红色画面、绿色画面、蓝色画面、黑色画面、白色画面以及灰色画面中的任一种。
本实施例中,在进行S200a步骤时,所述第一偏光片300使所述显示面板200射向所述第一偏光片300的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片300的光线的偏振角度相同,测量纯色的红色画面、绿色画面、蓝色画面、黑色画面、白色画面以及灰色画面中的任一种的画面照片,以用作其他参数的获取。
本实施例中,在步骤S200之前,所述显示面板200的检测方法还包括:
S200c、调整所述第一偏光片300,使由所述显示面板200射向所述第一偏光片300的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片300的光线的偏振角度的差值为第二角度。
S200d、利用所述拍照设备400对所述显示面板200的第二颜色画面进行拍摄,得到第二颜色画面照片。
S200e、对所述第二颜色画面照片进行核检。
本实施例中,所述第二颜色画面为红色画面、绿色画面、蓝色画面、黑色画面、白色画面以及灰色画面中的任一种。
本实施例中,所述第二角度小于所述第一角度。对所述第二颜色画面进行拍摄得到所述第二颜色画面照片时,使由所述显示面板200射向所述第一偏光片300的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片300的光线的偏振角度的差值为第二角度,在测量红色画面、绿色画面、蓝色画面、黑色画面、白色画面以及灰色画面中任一种时,尤其是红色画面、绿色画面、蓝色画面、黑色画面以及灰色画面,不需要非常高的对比度,即可以实现增加异常像素点与正常像素点之间的对比度,易于观察判断核检,又可以将避免这些深色画面透光量减少过多,导致测量不准。
S300、利用所述拍照设备400对所述显示面板200的第一颜色画面拍摄,得到第一颜色画面照片。
本实施例中,所述第一颜色画面为白色画面。当没有所述第一偏光片300时,亮色点为异常像素点,暗色点为正常像素点;通过设置转动所述第一偏光片300时,将正常像素点的颜色转变为暗色,异常像素点相对于正常像素点的颜色为亮色,当有异常像素点存在时,异常像素点的亮色与正常像素点的暗色相比较,对比度较高,可以较容易分辨是否存在异常像素点,其中,白色画面更容易分辨。
本实施例中,所述利用所述拍照设备400对所述显示面板200的第一颜色画面拍摄的曝光时间为第一曝光时间,所述利用所述拍照设备400对所述显示面板200的第二颜色画面拍摄的曝光时间均为第二曝光时间;其中,所述第一曝光时间大于所述第二曝光时间。在拍摄所述第一颜色画面(白色画面)时,所述第一偏光片300形成所述第一角度,此时异常像素点与正常像素点之间的对比度可能仍不够大,即正常像素点应为黑色,异常像素点处为异常白亮点,拍摄出的所述第一颜色画面照片中,异常白亮点仍不够明显,影响核检正确率,通过增加曝光时间,即在拍摄所述第一颜色画面时,适当延长曝光时间,增加异常像素点与正常像素点之间的对比度,使所述异常白亮点的曝光更充分更明显,易于观察判断核检。
S400、对所述第一颜色画面照片进行核检。
本实施例中,在所述第一颜色画面照片中,亮色点为异常像素点,暗色点为正常像素点,在现有技术中,没有调整所述第一偏光片300,异常像素点的照片是暗色的,正常像素点的照片是亮色的,异常像素点的数量较少,会隐藏在亮色的正常像素点中,不易被发觉,本实施例通过所述第一偏光片300,将正常像素点的颜色转变为暗色,异常像素点相对于正常像素点的颜色为亮色,当有异常像素点存在时,异常像素点的亮色与正常像素点的暗色相比较,对比度较高,可以较容易分辨是否存在异常像素点。
本实施例中,当所述显示面板200包括亮点时,所述显示面板200为异常显示面板;否则所述显示面板200为正常显示面板。
本实施例中,步骤S400包括:
S410a、提取所述第一颜色画面照片中的高亮区及低亮区。
本实施例中,所述高亮区为亮度大于或等于第一亮度的区域,所述低亮区为亮度小于第一亮度的区域。所述高亮区的面积与所述低亮区的面积之和为总面积。
S420a、当所述高亮区的面积与所述总面积的比值大于或等于第一阈值时,所述显示面板200为异常显示面板;当所述高亮区的面积与所述总面积的比值小于所述第一阈值时,所述显示面板200为正常显示面板。
本实施例中,步骤S410a及步骤S420a可以通过电脑智能判断核检,省去人工判断核检步骤。
本实施例中,步骤S400包括:
S410b、提取所述第一颜色画面照片中的高亮区及低亮区。
本实施例中,所述高亮区为亮度大于或等于第一亮度的区域,所述低亮区为亮度小于第一亮度的区域。所述高亮区的面积与所述低亮区的面积之和为总面积。
S420b、提高所述高亮区的亮度。
S430b、当所述高亮区的面积与所述总面积的比值大于或等于第一阈值时,所述显示面板200为异常显示面板;当所述高亮区的面积与所述总面积的比值小于所述第一阈值时,所述显示面板200为正常显示面板。
本实施例中,通过提高所述高亮区的亮度,可以更加方便计算所述高亮区的面积,更加精准定位异常像素点,提高了核检的效率和准确率。
本发明实施例通过转动设置在显示面板200与照相设备之间的第一偏光片300,将正常像素点的亮度变暗,增大了异常像素点与正常像素点之间的对比度,方便观察检测显示面板200,提高了生产良率。
请参阅图2、图3,本发明实施例还提供了一种显示面板的检测装置100,包括:
拍照设备400;
位于所述拍照设备400与显示面板200之间的第一偏光片300;
其中,当利用所述拍照设备400对所述显示面板200的第一颜色画面拍摄时,所述显示面板200射向所述第一偏光片300的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片300的光线的偏振角度的差值为第一角度。
本发明实施例通过转动设置在显示面板200与照相设备之间的第一偏光片300,将正常像素点的亮度变暗,增大了异常像素点与正常像素点之间的对比度,方便观察检测显示面板200,提高了生产良率。
现结合具体实施例对本发明的技术方案进行描述。
所述显示面板的检测装置100包括:拍照设备400;位于所述拍照设备400与显示面板200之间的第一偏光片300;其中,当利用所述拍照设备400对所述显示面板200的第一颜色画面拍摄时,所述显示面板200射向所述第一偏光片300的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片300的光线的偏振角度的差值为第一角度,具体请参阅图2。
本实施例中,所述第一颜色画面为白色画面。当没有所述第一偏光片300时,亮色点为异常像素点,暗色点为正常像素点;通过设置转动所述第一偏光片300时,将正常像素点的颜色转变为暗色,异常像素点相对于正常像素点的颜色为亮色,当有异常像素点存在时,异常像素点的亮色与正常像素点的暗色相比较,对比度较高,可以较容易分辨是否存在异常像素点,其中,白色画面更容易分辨。
本实施例中,所述第一偏光片300位于所述拍照设备400的镜头上,所述显示面板的检测装置100还包括连接于所述第一偏光片300的转动单元500以及控制所述转动单元500的控制单元600,具体请参阅图3。所述控制单元600与所述转动单元500电连接,所述转动单元500与所述第一偏光片300连接,所述控制单元600与所述拍照设备400电连接,图2、图3中连线为电线或连接线。
本实施例中,所述转动单元500包括马达及连接部件,所述连接部件连接所述马达及所述第一偏光片300。
本实施例中,所述控制单元600可以包括电脑,通过电脑自动控制,使所述第一偏光片300可以转动任意角度,从而调节至不同颜色画面的不同偏差角度,进行最佳对比度对应角度的调节,易于观察判断核检。
本实施例中,利用所述拍照设备400对所述显示面板200的第一颜色画面拍摄,得到第一颜色画面照片;对所述第一颜色画面照片进行核检。
本实施例中,所述电脑可以提取所述第一颜色画面照片中的高亮区及低亮区。
本实施例中,所述高亮区为亮度大于或等于第一亮度的区域,所述低亮区为亮度小于第一亮度的区域。所述高亮区的面积与所述低亮区的面积之和为总面积。
本实施例中,当所述高亮区的面积与所述总面积的比值大于或等于第一阈值时,所述显示面板200为异常显示面板;当所述高亮区的面积与所述总面积的比值小于所述第一阈值时,所述显示面板200为正常显示面板。
本实施例中,可以通过电脑智能判断核检,省去人工判断核检步骤。
本实施例中,所述高亮区为亮度大于或等于第一亮度的区域,所述低亮区为亮度小于第一亮度的区域。所述高亮区的面积与所述低亮区的面积之和为总面积。
本实施例中,可以通过电脑提高所述高亮区的亮度。
本实施例中,当所述高亮区的面积与所述总面积的比值大于或等于第一阈值时,所述显示面板200为异常显示面板;当所述高亮区的面积与所述总面积的比值小于所述第一阈值时,所述显示面板200为正常显示面板。
本实施例中,通过提高所述高亮区的亮度,可以更加方便计算所述高亮区的面积,更加精准定位异常像素点,提高了核检的效率和准确率。
本发明实施例通过转动设置在显示面板与照相设备之间的第一偏光片,将正常像素点的亮度变暗,增大了异常像素点与正常像素点之间的对比度,方便观察检测显示面板,提高了生产良率。
本发明实施例公开了一种显示面板的检测方法及其检测装置。该显示面板的检测方法包括:在显示面板与拍照设备之间设置第一偏光片;调整该第一偏光片,使由该显示面板射向该第一偏光片的光线的偏振角度与经过该第一偏光片的光线的偏振角度的差值为第一角度;利用该拍照设备对该显示面板的第一颜色画面拍摄,得到第一颜色画面照片;对该第一颜色画面照片进行核检。本发明实施例通过转动设置在显示面板与照相设备之间的第一偏光片,将正常像素点的亮度变暗,增大了异常像素点与正常像素点之间的对比度,方便观察检测显示面板,提高了生产良率。
以上对本发明实施例所提供的一种显示面板的检测方法及其检测装置进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (10)
1.一种显示面板的检测方法,其特征在于,包括:
在显示面板与拍照设备之间设置第一偏光片;
调整所述第一偏光片,使由所述显示面板射向所述第一偏光片的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片的光线的偏振角度的差值为第一角度;
利用所述拍照设备对所述显示面板的第一颜色画面拍摄,得到第一颜色画面照片;
对所述第一颜色画面照片进行核检。
2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法,其特征在于,所述第一颜色画面为白色画面。
3.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法,其特征在于,所述第一偏光片位于所述拍照设备上。
4.根据权利要求3所述的显示面板的检测方法,其特征在于,所述第一偏光片连接有转动单元以及控制所述转动单元的控制单元,所述调整所述第一偏光片的步骤,包括:
利用所述控制单元控制所述转动单元使所述第一偏光片转动,使由所述显示面板射向所述第一偏光片的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片的光线的偏振角度的差值为第一角度。
5.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法,其特征在于,所述调整所述第一偏光片,使由所述显示面板射向所述第一偏光片的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片的光线的偏振角度的差值为第一角度的步骤之前,还包括:
利用所述拍照设备对所述显示面板的第二颜色画面进行拍摄,得到第二颜色画面照片;
对所述第二颜色画面照片进行核检。
6.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法,其特征在于,所述显示面板的检测方法还包括:
调整所述第一偏光片,使由所述显示面板射向所述第一偏光片的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片的光线的偏振角度的差值为第二角度;
利用所述拍照设备对所述显示面板的第二颜色画面进行拍摄,得到第二颜色画面照片;
对所述第二颜色画面照片进行核检。
7.根据权利要求5或6所述的显示面板的检测方法,其特征在于,所述利用所述拍照设备对所述显示面板的第一颜色画面拍摄的曝光时间为第一曝光时间,所述利用所述拍照设备对所述显示面板的第二颜色画面拍摄的曝光时间均为第二曝光时间;
其中,所述第一曝光时间大于所述第二曝光时间。
8.根据权利要求5或6所述的显示面板的检测方法,其特征在于,所述第二颜色画面为红色画面、绿色画面、蓝色画面、黑色画面、白色画面以及灰色画面中的任一种。
9.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法,其特征在于,所述第一角度为80°~90°。
10.一种显示面板的检测装置,其特征在于,包括:
拍照设备;
位于所述拍照设备与显示面板之间的第一偏光片;
其中,当利用所述拍照设备对所述显示面板的第一颜色画面拍摄时,所述显示面板射向所述第一偏光片的光线的偏振角度与经过所述第一偏光片的光线的偏振角度的差值为第一角度。
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Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09257641A (ja) * | 1996-03-26 | 1997-10-03 | Seiko Epson Corp | 液晶パネルの表示面検査方法及び装置 |
KR19990049936A (ko) * | 1997-12-16 | 1999-07-05 | 구자홍 | 액정 표시기의 결함 검출장치 및 방법 |
JP2001324453A (ja) * | 2000-03-08 | 2001-11-22 | Fuji Photo Film Co Ltd | フィルムの欠陥検査装置、欠陥検査システムおよび欠陥検査方法 |
JP2005055447A (ja) * | 1998-09-18 | 2005-03-03 | Hitachi Ltd | 欠陥検査方法及びその装置 |
JP2007263928A (ja) * | 2006-03-30 | 2007-10-11 | Epson Imaging Devices Corp | 基板の外観検査法及び外観検査装置 |
CN203337939U (zh) * | 2013-06-24 | 2013-12-11 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种液晶显示面板的检测装置 |
CN203705754U (zh) * | 2014-02-17 | 2014-07-09 | 北京京东方光电科技有限公司 | 一种液晶显示面板检测装置 |
CN104007116A (zh) * | 2013-02-21 | 2014-08-27 | 欧姆龙株式会社 | 缺陷检查装置及缺陷检查方法 |
CN109444151A (zh) * | 2018-11-15 | 2019-03-08 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 一种液晶面板缺陷检测方法及其*** |
CN111899231A (zh) * | 2020-07-17 | 2020-11-06 | 武汉精立电子技术有限公司 | 显示面板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 |
-
2021
- 2021-02-01 CN CN202110136234.9A patent/CN112945984A/zh active Pending
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09257641A (ja) * | 1996-03-26 | 1997-10-03 | Seiko Epson Corp | 液晶パネルの表示面検査方法及び装置 |
KR19990049936A (ko) * | 1997-12-16 | 1999-07-05 | 구자홍 | 액정 표시기의 결함 검출장치 및 방법 |
JP2005055447A (ja) * | 1998-09-18 | 2005-03-03 | Hitachi Ltd | 欠陥検査方法及びその装置 |
JP2001324453A (ja) * | 2000-03-08 | 2001-11-22 | Fuji Photo Film Co Ltd | フィルムの欠陥検査装置、欠陥検査システムおよび欠陥検査方法 |
JP2007263928A (ja) * | 2006-03-30 | 2007-10-11 | Epson Imaging Devices Corp | 基板の外観検査法及び外観検査装置 |
CN104007116A (zh) * | 2013-02-21 | 2014-08-27 | 欧姆龙株式会社 | 缺陷检查装置及缺陷检查方法 |
CN203337939U (zh) * | 2013-06-24 | 2013-12-11 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种液晶显示面板的检测装置 |
CN203705754U (zh) * | 2014-02-17 | 2014-07-09 | 北京京东方光电科技有限公司 | 一种液晶显示面板检测装置 |
CN109444151A (zh) * | 2018-11-15 | 2019-03-08 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 一种液晶面板缺陷检测方法及其*** |
CN111899231A (zh) * | 2020-07-17 | 2020-11-06 | 武汉精立电子技术有限公司 | 显示面板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
双锴: "计算机视觉", 北京邮电大学出版社, pages: 25 - 26 * |
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