CN112881428A - 一种基于激光测距的曲面屏幕边缘外弧缺陷检测的方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 23
- 238000003491 array Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 8
- 230000008034 disappearance Effects 0.000 claims description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 4
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000005304 optical glass Substances 0.000 description 1
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Abstract
本发明提供一种基于激光测距的曲面屏幕边缘外弧缺陷检测的方法,涉及曲面OLED屏幕边缘外弧的缺陷检测领域,包括以下步骤:步骤一:曲面屏幕产品置于高度可调平台之上,平台微宽于屏幕;步骤二:平台两侧装有激光阵列,激光阵列仰角可实现高精度调整,平台上方安装激光感受器;步骤三:调整平台高度。本发明中,利用屏幕弧面部分的光学性质,使用激光阵列发射激光,保持激光与屏幕外弧边缘相切,径向移动屏幕,如若产品外弧含有瑕疵,导致外模具不平整,则会改变激光发射角度,利用感受器捕捉激光发射角度变化即缺陷位置,能够实现高精度的曲面屏幕外弧部分建模,避免了使用结构光导致的测量误差。
Description
技术领域
本发明涉及曲面OLED屏幕边缘外弧的缺陷检测领域,尤其涉及一种基于激光测距的曲面屏幕边缘外弧缺陷检测的方法。
背景技术
为实现针对曲面电子显示屏幕玻璃面板的高精度全自动检测。在中国使用新型专利说明书CN201611207618.0中开发了一种利用周期条纹结构光对带弧边的玻璃面板曲率较大的部分进行高精度检测。该方法将两组周期性条纹结构光投射在弧形玻璃表面,与屏幕短边平行。通过检测周期性条纹结构光的梯度数据,使用均值以及标准差确定阈值,对含有却显得高频信息进行提取。最终整合不同区域的缺陷分布情况,完成检测。
但是由于曲面屏幕产品边缘材质为光学玻璃面板,截面形状为弧面。传统方法基于反射光或透射光光强检测原理,容易受到屏幕边缘材质的光学性质多影响,使用传统平面光学感受器拍摄曲面屏幕边缘,需要矫正畸变后再对图像进行检测,畸变矫正过程需要使用插值填充空出的像素,插值计算通过相邻像素值产生,容易削弱缺陷特征并产生误差。若采用新型专利说明书CN201611207618.0的方案,结构光分布容易被屏幕外边缘透镜反射、折射,最终导致测量出现偏差。
针对上述不足,本发明使用激光阵列发射激光,保持激光与屏幕外弧边缘相切,径向移动屏幕。如若产品外弧含有瑕疵,导致外模具不平整,则会改变激光发射角度,利用感受器捕捉激光发射角度变化即缺陷位置
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于激光测距的曲面屏幕边缘外弧缺陷检测的方法,以解决上述技术问题。
本发明为解决上述技术问题,采用以下技术方案来实现:一种基于激光测距的曲面屏幕边缘外弧缺陷检测的方法,包括以下步骤:
步骤一:曲面屏幕产品置于高度可调平台之上,平台微宽于屏幕;
步骤二:平台两侧装有激光阵列,激光阵列仰角可实现高精度调整,平台上方安装激光感受器;
步骤三:调整平台高度;
步骤四:调整激光阵列角度,使两侧激光阵列与屏幕边缘相切,固定一侧激光阵列角度不动,另一侧在检测时不断上下微调角度,检测切点位置,记录仰角,计算切点位置;
步骤五:径向移动屏幕,记录导致激光角度变化、消失时的突变点,为缺陷点;
步骤六:重复步骤三至步骤四,直到屏幕外弧部分建模完毕。
优选的,所述激光阵列在平台两侧,高度远低于平台,向上抬起角度为仰角,上方接收器接收激光信号。
优选的,所述相切的条件是向下调整激光角度,当激光被屏幕边缘遮挡,恢复至前一刻被遮挡的位置。
优选的,所述径向移动是指平行于激光阵列移动,移动过程中始终保持激光阵列射出的激光与屏幕弧线相切。
本发明的有益效果是:
本发明中,利用屏幕弧面部分的光学性质,使用激光阵列发射激光,保持激光与屏幕外弧边缘相切,径向移动屏幕,如若产品外弧含有瑕疵,导致外模具不平整,则会改变激光发射角度,利用感受器捕捉激光发射角度变化即缺陷位置,能够实现高精度的曲面屏幕外弧部分建模,避免了使用结构光导致的测量误差。
附图说明
图1为本发明一种基于激光测距的曲面屏幕边缘外弧缺陷检测的方法的工作示意图;
具体实施方式
为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施例和附图,进一步阐述本发明,但下述实施例仅仅为本发明的优选实施例,并非全部。基于实施方式中的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得其它实施例,都属于本发明的保护范围。
下面结合附图描述本发明的具体实施例。
如图1所示,一种基于激光测距的曲面屏幕边缘外弧缺陷检测的方法,包括以下步骤:
步骤一:曲面屏幕产品置于高度可调平台之上,平台微宽于屏幕;
步骤二:平台两侧装有激光阵列,高度远低于平台,向上抬起角度为仰角,激光阵列仰角可实现高精度调整,平台上方安装激光感受器,激光感受器与平台两侧装有激光阵列相互配合;
步骤三:调整平台高度,调节平台高度和激光仰角是为了不断变化切点,通过变化切点的位置完成整个外边缘的建模;
步骤四:调整激光阵列角度,使两侧激光阵列与屏幕边缘相切,相切的条件是向下调整激光角度,当激光被屏幕边缘遮挡,恢复至前一刻被遮挡的位置,固定一侧激光阵列角度不动,另一侧在检测时不断上下微调角度,检测切点位置,记录仰角,计算切点位置;
步骤五:径向移动屏幕,平行于激光阵列移动,移动过程中始终保持激光阵列射出的激光与屏幕弧线,记录导致激光角度变化、消失时的突变点,为缺陷点;
步骤六:重复步骤三至步骤四,直到屏幕外弧部分建模完毕。
具体的,步骤四中,径向移动屏幕,平行于激光阵列移动,移动过程中始终保持激光阵列射出的激光与屏幕弧线相切,移动过程中激光角度未发生变化则曲面屏幕合格。
具体的,步骤四中,径向移动屏幕,平行于激光阵列移动,移动过程中始终保持激光阵列射出的激光与屏幕弧线,移动过程中激光角度出现变化,则曲面屏幕不合格,存在缺陷。
根据上述方法能够实现高精度的曲面屏幕外弧部分建模,利用屏幕弧面部分的光学性质,避免了使用结构光导致的测量误差。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触,也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的仅为本发明的优选例,并不用来限制本发明,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (4)
1.一种基于激光测距的曲面屏幕边缘外弧缺陷检测的方法,包括以下步骤:
步骤一:曲面屏幕产品置于高度可调平台之上,平台微宽于屏幕;
步骤二:平台两侧装有激光阵列,激光阵列仰角可实现高精度调整,平台上方安装激光感受器;
步骤三:调整平台高度;
步骤四:调整激光阵列角度,使两侧激光阵列与屏幕边缘相切,固定一侧激光阵列角度不动,另一侧在检测时不断上下微调角度,检测切点位置,记录仰角,计算切点位置;
步骤五:径向移动屏幕,记录导致激光角度变化、消失时的突变点,为缺陷点;
步骤六:重复步骤三至步骤四,直到屏幕外弧部分建模完毕。
2.根据权利要求1所述的一种基于激光测距的曲面屏幕边缘外弧缺陷检测的方法,其特征在于:所述激光阵列在平台两侧,高度远低于平台,向上抬起角度为仰角,上方接收器接收激光信号。
3.根据权利要求1所述的一种基于激光测距的曲面屏幕边缘外弧缺陷检测的方法,其特征在于:所述相切的条件是向下调整激光角度,当激光被屏幕边缘遮挡,恢复至前一刻被遮挡的位置。
4.根据权利要求1所述的一种基于激光测距的曲面屏幕边缘外弧缺陷检测的方法,其特征在于:所述径向移动是指平行于激光阵列移动,移动过程中始终保持激光阵列射出的激光与屏幕弧线相切。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN202110072254.4A CN112881428B (zh) | 2021-01-20 | 2021-01-20 | 一种基于激光测距的曲面屏幕边缘外弧缺陷检测的方法 |
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CN202110072254.4A CN112881428B (zh) | 2021-01-20 | 2021-01-20 | 一种基于激光测距的曲面屏幕边缘外弧缺陷检测的方法 |
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CN112881428B CN112881428B (zh) | 2024-08-09 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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CN202110072254.4A Active CN112881428B (zh) | 2021-01-20 | 2021-01-20 | 一种基于激光测距的曲面屏幕边缘外弧缺陷检测的方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN112881428B (zh) |
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