CN112804708B

CN112804708B - 一种测试向量生成方法、装置、芯片和电子设备

Info

Publication number: CN112804708B
Application number: CN202110101593.0A
Authority: CN
Inventors: 茆晓军
Original assignee: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd
Current assignee: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd
Priority date: 2021-01-26
Filing date: 2021-01-26
Publication date: 2022-12-02
Anticipated expiration: 2041-01-26
Also published as: CN112804708A

Abstract

本申请实施例提供一种测试向量生成方法、装置、芯片和电子设备。方法包括：针对频点相差为采样率整数倍的多个测试频点，获取所述多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量；以所述多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量为所述多个测试频点的测试向量。根据本申请一实施例的方法，可以大大减少生成多个测试向量时单独计算单个测试向量的计算次数，从而降低生成测试向量时所要消耗的数据处理资源。

Description

一种测试向量生成方法、装置、芯片和电子设备

技术领域

本申请涉及通信技术领域，特别涉及一种测试向量生成方法、装置、芯片和电子设备。

背景技术

在5G(新空口New Radio,NR)应用场景中，存在NR测试需求。在某些NR测试中，需要针对测试频点生成测试向量。当存在多个测试频点时，需要针对每个测试频点分别生成测试向量。例如，在测试不同带(band)的时候，每个band的测试频点是不同的，这时候就需要对每个band单独生成一个测试向量。

一般的，测试向量的生成需要经历复杂的计算过程，因此，测试频点数越多，需要生成的测试向量也就越多，所经历的计算过程也越复杂，生成测试向量时所要消耗的数据处理资源也就越多。

发明内容

针对现有技术下测试向量的生成过程对处理资源占用过高的问题，本申请提供了一种测试向量生成方法、装置、芯片和电子设备，本申请还提供一种计算机可读存储介质。

本申请实施例采用下述技术方案：

第一方面，本申请提供一种测试向量生成方法，包括：

针对频点相差为采样率整数倍的多个测试频点，获取所述多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量；

以所述多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量为所述多个测试频点的测试向量。

在上述第一方面的一种可行的实现方式中，所述方法包括：

确定第一测试频点，获取所述第一测试频点的测试向量；

当需要增加测试频点时，增加第二测试频点，所述第二测试频点与所述第一测试频点的频点相差为采样率整数倍；

以所述第一测试频点的测试向量为所述第二测试频点的测试向量。

在上述第一方面的一种可行的实现方式中，所述方法包括：

根据测试需求确定测试频点集合，其中，所述测试频点集合中不同测试频点间的频点相差为采样率整数倍；

获取所述测试频点集合中任意一个测试频点的测试向量；

以所述测试频点集合中任意一个测试频点的测试向量为所述测试频点集合的测试向量。

在上述第一方面的一种可行的实现方式中，所述方法还包括：

获取测试频点集合；

将所述测试频点集合中频点相差为采样率整数倍的测试频点，划分为一个测试频点子集；

获取所述测试频点子集中任意一个测试频点的测试向量；

以所述测试频点子集中任意一个测试频点的测试向量为所述测试频点子集的测试向量。

第二方面，本申请提供了一种测试向量生成装置，包括：

测试向量获取模块，其用于：

在上述第二方面的一种可行的实现方式中，所述装置还包括：

测试频点确认模块，其用于确定第一测试频点，以及，当需要增加测试频点时，增加第二测试频点，所述第二测试频点与所述第一测试频点的频点相差为采样率整数倍；

所述测试向量获取模块用于：

获取所述第一测试频点的测试向量；

测试频点集合生成模块，其用于根据测试需求确定测试频点集合，其中，所述测试频点集合中不同测试频点间的频点相差为采样率整数倍；

所述测试向量获取模块用于：

获取所述测试频点集合中任意一个测试频点的测试向量；

测试频点集合获取模块，其用于获取测试频点集合；

测试频点子集分割模块，其用于将所述测试频点集合中频点相差为采样率整数倍的测试频点，划分为一个测试频点子集；

所述测试向量获取模块用于：

获取所述测试频点子集中任意一个测试频点的测试向量；

第三方面，本申请提供了一种电子芯片，所述电子芯片包括：

处理器，其用于执行存储器中存储的计算机程序指令，其中，当该计算机程序指令被该处理器执行时，触发所述任务处理芯片执行如上述第一方面所述的方法流程。

第四方面，本申请提供了一种电子设备，所述电子设备包括用于存储计算机程序指令的存储器和用于执行程序指令的处理器，其中，当该计算机程序指令被该处理器执行时，触发所述终端设备执行如上述第一方面所述的方法步骤。

第五方面，本申请提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，当其在计算机上运行时，使得计算机执行如上述第一方面所述的方法。

根据本申请实施例所提出的上述技术方案，至少可以实现下述技术效果：

根据本申请一实施例的方法，可以大大减少生成多个测试向量时单独计算单个测试向量的计算次数，从而降低生成测试向量时所要消耗的数据处理资源。

附图说明

图1所示为根据本申请一实施例的方法执行流程图；

图2所示为根据本申请一实施例的方法执行流程图；

图3所示为根据本申请一实施例的方法执行流程图。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请具体实施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请的实施方式部分使用的术语仅用于对本申请的具体实施例进行解释，而非旨在限定本申请。

在现有技术下，测试向量的生成过程对处理资源占用过高，其主要原因是在但一应用场景中，通常并不仅仅只需要一个生成测试向量。

NR协议规定一个时隙(slot)包含14/12个符号(symbol)，每个symbol在载波调制的时候需要进行相位补偿，补偿的相位可以一般地表示为：

其中：

f为载波频率；

k为和符号位置相关的整数；

T_s为测试向量的采样间隔，T_s＝1/f_s，f_s为测试向量的采样率，例如，100M带宽信号的采样率为122.88Mbps，则T_s＝1/122880000s。

测试向量生成一般方法是，先生成基带多进多出(multiple-in multipleout，MIMO)时域波形s(t)，然后按照上述的相位补偿方法，对slot内每个符号进行相位补偿：

因为相位补偿和载频频点f有关，所以不同频点的测试向量是不相同的，意味着每个频点需要单独生成对应的测试向量，例如在测试不同band的时候，每个band的测试频点是不同的，这时候就需要对每个band单独生成一个测试向量。

例如，对不同的频点f₀、f₁的进行相位补偿，生成的基带信号测试向量分别为：

补偿相位的差值为：

如果式(5)中(f₀-f₁)kT_S为整数，则

为2π的整数倍，则有：

这意味着虽然f₀≠f₁，但是f₀和f₁的测试向量是相同的。

再看

的构成项，其中k是整数，所以只要f₀、f₁满足：

或者是：

|f₀-f₁|＝Nf_s； (8)

其中N∈[123…]的整数，则可以满足条件

为2π的整数倍。

所以，在需要对多个频点生成测试向量时候(例如不同band的测试)，对选择的频点进行这样的限制，即选择那些频点相差是采样率整倍数的频点，这时用其中的一个频点生成基带测试向量，其他的频点都可以使用这个测试向量，不需要单独对每个频点再生成测试向量，从而降低测试向量生成和使用的复杂度。

因此，针对现有技术下测试向量的生成过程对处理资源占用过高的问题，本申请一实施例中提出了一种测试向量生成方法：针对频点相差为采样率整数倍的多个测试频点，获取多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量；以多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量为多个测试频点的测试向量。这样，就可以大大减少生成多个测试向量时单独计算单个测试向量的计算次数，从而降低生成测试向量时所要消耗的数据处理资源。

进一步的，本申请实施例提出了一种确定测试频点并获取对应的测试向量的方法。例如，图1所示为根据本申请一实施例的方法执行流程图，如图1所示，在生成测试频点的测试向量的过程中：

步骤110，确定第一测试频点；

步骤120，获取第一测试频点的测试向量；

步骤130，当需要增加测试频点时，增加第二测试频点，第二测试频点与第一测试频点的频点相差为采样率整数倍；

步骤140，以第一测试频点的测试向量为第二测试频点的测试向量。

又例如，图2所示为根据本申请一实施例的方法执行流程图，如图2所示，在生成测试频点的测试向量的过程中：

步骤210，根据测试需求确定测试频点集合，其中，测试频点集合中不同测试频点间的频点相差为采样率整数倍；

步骤220，获取测试频点集合中任意一个测试频点的测试向量；

步骤230，以测试频点集合中任意一个测试频点的测试向量为测试频点集合的测试向量。

进一步的，在实际应用场景中，根据测试需求确定测试频点集合，测试频点集合中的测试频点间的频点相差可能并不都是采样率整数倍。因此，在本申请一实施例中，在生成测试频点的测试向量的过程中，首先将测试频点集合中频点相差为采样率整数倍的测试频点划分为一个测试频点子集，然后针对整个测试频点子集获取测试向量。

图3所示为根据本申请一实施例的方法执行流程图，如图3所示，在生成测试频点的测试向量的过程中：

步骤310，获取测试频点集合；

步骤320，将测试频点集合中频点相差为采样率整数倍的测试频点，划分为一个测试频点子集；

步骤330，获取测试频点子集中任意一个测试频点的测试向量；

步骤340，以测试频点子集中任意一个测试频点的测试向量为测试频点子集的测试向量。

可以理解的是，上述实施例中的部分或全部步骤或操作仅是示例，本申请实施例还可以执行其它操作或者各种操作的变形。此外，各个步骤可以按照上述实施例呈现的不同的顺序来执行，并且有可能并非要执行上述实施例中的全部操作。

进一步的，在20世纪90年代，对于一个技术的改进可以很明显地区分是硬件上的改进(例如，对二极管、晶体管、开关等电路结构的改进)还是软件上的改进(对于方法流程的改进)。然而，随着技术的发展，当今的很多方法流程的改进已经可以视为硬件电路结构的直接改进。设计人员几乎都通过将改进的方法流程编程到硬件电路中来得到相应的硬件电路结构。因此，不能说一个方法流程的改进就不能用硬件实体模块来实现。例如，可编程逻辑器件(Programmable Logic Device,PLD)(例如现场可编程门阵列(FieldProgrammable Gate Array，FPGA))就是这样一种集成电路，其逻辑功能由访问方对器件编程来确定。由设计人员自行编程来把一个数字装置“集成”在一片PLD上，而不需要请芯片制造厂商来设计和制作专用的集成电路芯片。而且，如今，取代手工地制作集成电路芯片，这种编程也多半改用“逻辑编译器(logic compiler)”软件来实现，它与程序开发撰写时所用的软件编译器相类似，而要编译之前的原始代码也得用特定的编程语言来撰写，此称之为硬件描述语言(Hardware Description Language，HDL)，而HDL也并非仅有一种，而是有许多种，如ABEL(Advanced Boolean Expression Language)、AHDL(Altera HardwareDescription Language)、Confluence、CUPL(Cornell University ProgrammingLanguage)、HDCal、JHDL(Java Hardware Description Language)、Lava、Lola、MyHDL、PALASM、RHDL(Ruby Hardware Description Language)等，目前最普遍使用的是VHDL(Very-High-Speed Integrated Circuit Hardware Description Language)与Verilog。本领域技术人员也应该清楚，只需要将方法流程用上述几种硬件描述语言稍作逻辑编程并编程到集成电路中，就可以很容易得到实现该逻辑方法流程的硬件电路。

因此，根据本申请的方法，本申请还提出了一种测试向量生成装置，该装置包括：

测试向量获取模块，其用于：

针对频点相差为采样率整数倍的多个测试频点，获取多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量；

以多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量为多个测试频点的测试向量。

进一步的，在一实施例中，测试向量生成装置还包括：

测试频点确认模块，其用于确定第一测试频点，以及，当需要增加测试频点时，增加第二测试频点，第二测试频点与第一测试频点的频点相差为采样率整数倍；

测试向量生成装置的测试向量获取模块用于：

获取第一测试频点的测试向量；

以第一测试频点的测试向量为第二测试频点的测试向量。

进一步的，在一实施例中，测试向量生成装置还包括：

测试频点集合生成模块，其用于根据测试需求确定测试频点集合，其中，测试频点集合中不同测试频点间的频点相差为采样率整数倍；

测试向量生成装置的测试向量获取模块用于：

获取测试频点集合中任意一个测试频点的测试向量；

以测试频点集合中任意一个测试频点的测试向量为测试频点集合的测试向量。

进一步的，在一实施例中，测试向量生成装置还包括：

测试频点集合获取模块，其用于获取测试频点集合；

测试频点子集分割模块，其用于将测试频点集合中频点相差为采样率整数倍的测试频点，划分为一个测试频点子集；

测试向量生成装置的测试向量获取模块用于：

获取测试频点子集中任意一个测试频点的测试向量；

以测试频点子集中任意一个测试频点的测试向量为测试频点子集的测试向量。

具体的，本申请实施例所提出的装置在实际实现时可以全部或部分集成到一个物理实体上，也可以物理上分开。且这些模块可以全部以软件通过处理元件调用的形式实现；也可以全部以硬件的形式实现；还可以部分模块以软件通过处理元件调用的形式实现，部分模块通过硬件的形式实现。例如，检测模块可以为单独设立的处理元件，也可以集成在电子设备的某一个芯片中实现。其它模块的实现与之类似。此外这些模块全部或部分可以集成在一起，也可以独立实现。在实现过程中，上述方法的各步骤或以上各个模块可以通过处理器元件中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。

例如，以上这些模块可以是被配置成实施以上方法的一个或多个集成电路，例如：一个或多个特定集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)，或，一个或多个数字信号处理器(Digital Singnal Processor，DSP)，或，一个或者多个现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA)等。再如，这些模块可以集成在一起，以片上装置(System-On-a-Chip，SOC)的形式实现。

本申请一实施例还提出了一种电子芯片，电子芯片包括：

处理器，其用于执行存储器中存储的计算机程序指令，其中，当该计算机程序指令被该处理器执行时，触发电子芯片执行本申请实施例所述的测试向量生成流程。

本申请一实施例还提出了一种电子设备，电子设备包括用于存储计算机程序指令的存储器和用于执行程序指令的处理器，其中，当该计算机程序指令被该处理器执行时，触发电子设备执行本申请实施例所述的测试向量生成流程。

具体的，在本申请一实施例中，上述一个或多个计算机程序被存储在上述存储器中，上述一个或多个计算机程序包括指令，当上述指令被上述设备执行时，使得上述设备执行本申请实施例所述的方法步骤。

具体的，在本申请一实施例中，电子设备的处理器可以是片上装置SOC，该处理器中可以包括中央处理器(Central Processing Unit，CPU)，还可以进一步包括其他类型的处理器。具体的，在本申请一实施例中，电子设备的处理器可以是PWM控制芯片。

具体的，在本申请一实施例中，涉及的处理器可以例如包括CPU、DSP、微控制器或数字信号处理器，还可包括GPU、嵌入式神经网络处理器(Neural-network Process Units，NPU)和图像信号处理器(Image Signal Processing，ISP)，该处理器还可包括必要的硬件加速器或逻辑处理硬件电路，如ASIC，或一个或多个用于控制本申请技术方案程序执行的集成电路等。此外，处理器可以具有操作一个或多个软件程序的功能，软件程序可以存储在存储介质中。

具体的，在本申请一实施例中，电子设备的存储器可以是只读存储器(read-onlymemory，ROM)、可存储静态信息和指令的其它类型的静态存储设备、随机存取存储器(random access memory，RAM)或可存储信息和指令的其它类型的动态存储设备，也可以是电可擦可编程只读存储器(electrically erasable programmable read-only memory，EEPROM)、只读光盘(compact disc read-only memory，CD-ROM)或其他光盘存储、光碟存储(包括压缩光碟、激光碟、光碟、数字通用光碟、蓝光光碟等)、磁盘存储介质或者其它磁存储设备，或者还可以是能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何计算机可读介质。

具体的，在本申请一实施例中，处理器可以和存储器可以合成一个处理装置，更常见的是彼此独立的部件，处理器用于执行存储器中存储的程序代码来实现本申请实施例所述方法。具体实现时，该存储器也可以集成在处理器中，或者，独立于处理器。

进一步的，本申请实施例阐明的设备、装置、模块，具体可以由计算机芯片或实体实现，或者由具有某种功能的产品来实现。

本领域内的技术人员应明白，本申请实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质上实施的计算机程序产品的形式。

在本申请所提供的几个实施例中，任一功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。

具体的，本申请一实施例中还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质中存储有计算机程序，当其在计算机上运行时，使得计算机执行本申请实施例提供的方法。

本申请一实施例还提供一种计算机程序产品，该计算机程序产品包括计算机程序，当其在计算机上运行时，使得计算机执行本申请实施例提供的方法。

本申请中的实施例描述是参照根据本申请实施例的方法、设备(装置)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

还需要说明的是，本申请实施例中，“至少一个”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示单独存在A、同时存在A和B、单独存在B的情况。其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项”及其类似表达，是指的这些项中的任意组合，包括单项或复数项的任意组合。例如，a，b和c中的至少一项可以表示：a，b，c，a和b，a和c，b和c或a和b和c，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。

本申请实施例中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

本申请可以在由计算机执行的计算机可执行指令的一般上下文中描述，例如程序模块。一般地，程序模块包括执行特定任务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、组件、数据结构等等。也可以在分布式计算环境中实践本申请，在这些分布式计算环境中，由通过通信网络而被连接的远程处理设备来执行任务。在分布式计算环境中，程序模块可以位于包括存储设备在内的本地和远程计算机存储介质中。

本申请中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于装置实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

本领域普通技术人员可以意识到，本申请实施例中描述的各单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的装置、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims

1.一种测试向量生成方法，其特征在于，包括：

针对频点相差为测试向量采样率整数倍的多个测试频点，获取所述多个测试频点中任意一个测试频点的测试向量，其中，所述多个测试频点的测试向量采样率相同；

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括：

确定第一测试频点，获取所述第一测试频点的测试向量；

当需要增加测试频点时，增加第二测试频点，所述第二测试频点与所述第一测试频点的频点相差为第一测试频点的测试向量采样率整数倍；

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括：

根据测试需求确定测试频点集合，其中，所述测试频点集合中不同测试频点的测试向量采样率相同，所述测试频点集合中不同测试频点间的频点相差为所述测试向量采样率整数倍；

获取所述测试频点集合中任意一个测试频点的测试向量；

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取测试频点集合；

将所述测试频点集合中频点的测试向量采样率相同，且频点相差为所述测试向量采样率整数倍的测试频点，划分为一个测试频点子集；

获取所述测试频点子集中任意一个测试频点的测试向量；

5.一种测试向量生成装置，其特征在于，包括：

测试向量获取模块，其用于：

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

测试频点确认模块，其用于确定第一测试频点，以及，当需要增加测试频点时，增加第二测试频点，所述第二测试频点与所述第一测试频点的频点相差为第一测试频点的测试向量采样率整数倍；

所述测试向量获取模块用于：

获取所述第一测试频点的测试向量；

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

测试频点集合生成模块，其用于根据测试需求确定测试频点集合，其中，所述测试频点集合中不同测试频点的测试向量采样率相同，所述测试频点集合中不同测试频点间的频点相差为所述测试向量采样率整数倍；

所述测试向量获取模块用于：

获取所述测试频点集合中任意一个测试频点的测试向量；

8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

测试频点集合获取模块，其用于获取测试频点集合；

测试频点子集分割模块，其用于将所述测试频点集合中频点的测试向量采样率相同，且频点相差为所述测试向量采样率整数倍的测试频点，划分为一个测试频点子集；

所述测试向量获取模块用于：

获取所述测试频点子集中任意一个测试频点的测试向量；

9.一种电子芯片，其特征在于，所述电子芯片包括：

处理器，其用于执行存储器中存储的计算机程序指令，其中，当该计算机程序指令被该处理器执行时，触发所述电子芯片执行如权利要求1～4中任一项所述的方法流程。

10.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括用于存储计算机程序指令的存储器和用于执行程序指令的处理器，其中，当该计算机程序指令被该处理器执行时，触发所述电子设备执行如权利要求1～4中任一项所述的方法步骤。

11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，当其在计算机上运行时，使得计算机执行如权利要求1-4中任一项所述的方法。