CN112710684B - 一种传感器灰度校正方法、装置及异物检测机 - Google Patents

一种传感器灰度校正方法、装置及异物检测机 Download PDF

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Abstract

本发明提供的一种传感器灰度校正方法、装置及异物检测机，其中，方法包括：获取待校正传感器的当前温度；获取待校正传感器输出的待校正的第一灰度值；根据当前温度和预存的第一映射关系，确定目标暗电平灰度值；根据目标暗电平灰度值对第一灰度值进行暗电平校正。在X光成像***的使用过程中，根据传感器工作温度的变化，选择相应温度下的传感器的暗电平灰度值，使得传感器的暗电平校正过程更加准确，从而可以减少甚至消除各传感器拼接形成的图像出现条纹的现象。

Description

一种传感器灰度校正方法、装置及异物检测机
技术领域
本发明涉及X光成像技术领域，具体涉及一种传感器灰度校正方法、装置及异物检测机。
背景技术
相关技术中，X光成像***包括X射线源、背景和多个X光传感器，各X光传感器内部均包括闪烁体、感光单元、转换电路和采集电路。闪烁体用于将X光转换为可见光，感光单元用于将可见光转换为电荷，转换电路用于将电荷转换为电压，采集电路用于将模拟信号转为数字信号。
由于闪烁体、感光单元及电路的加工工艺限制，各X光传感器会存在一些暗电平差异。为了消除传感器间差异导致的成像问题，以往的成像***在使用过程中，会对X光传感器灰度值进行暗电平校正，即传感器输出的灰度值都需要减去一个固定的暗电平校正值。
然而，X光成像***经常被应用在流水线式在线检测场合，这些应用场合通常会进行较长时间的连续工作，X光成像***被使用一段时间后，设备的温度会上升，将导致传感器的暗电平校正值发生变化，从而导致使用传统方法对传感器灰度进行校正后，物料图像仍然会存在一些条纹。如图1所示，图1是多个传感器对背景、第一物料和第二物料进行成像并拼接形成的图像，从左至右依次为背景、第一物料和第二物料，图像自上而下区分明显的多个区域是对应多个传感器所成的像，多个传感器所成的像之间形成了条纹，具体的，物料部分相对于背景部分条纹现象更加明显。
发明内容
本发明的目的在于提供一种X光传感器灰度校正方法及装置，用于减少各X光传感器拼接形成的图像出现条纹的现象。
第一方面，本发明实施例提供了一种传感器灰度校正方法，用于对X光成像***的每个传感器灰度进行校正，所述方法包括：
获取待校正传感器的当前温度；
获取所述待校正传感器输出的待校正的第一灰度值；
根据所述当前温度和预存的第一映射关系，确定目标暗电平灰度值，其中，所述第一映射关系为多个暗电平灰度值与多个温度的对应关系；
根据所述目标暗电平灰度值对所述第一灰度值进行暗电平校正。
可选的，所述第一映射关系是按照以下方式获得的：
确定所述待校正传感器的工作温度范围；
在所述工作温度范围内，利用恒温箱模拟所述待校正传感器的工作温度；
在预设背景，且无光照的情况下，针对不同工作温度所述待校正传感器输出的灰度值为相应温度对应的暗电平灰度值；
将获得的温度与暗电平灰度值的对应关系作为所述第一映射关系。
可选的，所述根据所述当前温度和预存的第一映射关系，确定目标暗电平灰度值的步骤，包括：
从所述第一映射关系的多个温度中确定与所述当前温度最接近的温度；
将所述第一映射关系中所确定的温度对应的暗电平灰度值作为目标暗电平灰度值。
可选的，所述方法还包括：
对第二灰度值进行白平衡校正，其中，所述第二灰度值为根据所确定的暗电平灰度值对所述第一灰度值进行暗电平校正获得的。
可选的，所述对第二灰度值进行白平衡校正的步骤，包括：
根据所述第二灰度值和预存的第二映射关系，确定目标白平衡校正系数，其中，所述第二映射关系为多个灰度值与多个白平衡校正系数的对应关系，所述多个灰度值是在预设背景且不同X光照强度下所述待校正传感器输出的灰度值；
根据所述目标白平衡校正系数，对所述第二灰度值进行白平衡校正。
可选的，所述方法还包括：
获取相邻传感器的成像接缝处两侧的灰度值差；
判断所述灰度值差是否大于预设阈值，
如果是，更新预存的所述第二映射关系。
可选的，所述更新预存的所述第二映射关系的步骤，包括：
在预设的光照强度范围内，调整X射线源的光照强度；
在预设背景，以及所调整的光照强度下获取所述待校正传感器输出的第三灰度值；
根据预存的光照强度与目标校正值的第三映射关系，确定所调整的光照强度对应的目标校正值；
根据所调整的光照强度对应的第三灰度值与目标校正值，以及所述目标暗电平灰度值，计算白平衡校正系数；
返回执行在预设的光照强度范围内，调整X射线源的光照强度的步骤，直至获取多个第三灰度值,以及对应的多个目标校正值；
利用所述多个第三灰度值与所述多个目标校正值的对应关系更新预存的第二映射关系。
可选的，所述根据所调整的光照强度对应的第三灰度值与目标校正值，以及所述目标暗电平灰度值，计算白平衡校正系数的步骤，包括：
按照以下公式计算白平衡校正系数F：
F＝Dn/(Cn-A)
其中，Cn为所调整的光照强度对应的第三灰度值，Dn为所调整的光照强度对应的目标校正值，A为目标暗电平灰度值。
可选的，所述光照强度与目标校正值的第三映射关系为线性关系。
可选的，所述在预设的光照强度范围内，调整X射线源的光照强度，包括：
将X射线源的光照强度从预设的光照强度范围的最小值依次间隔调整至最大值，或将X射线源的光照强度从预设的光照强度范围的最大值依次间隔调整至最小值。
可选的，所述根据所述第二灰度值和第二映射关系，确定目标白平衡校正系数，包括：
从所述第二映射关系中的多个灰度值中确定与所述第二灰度值最接近的灰度值；
将所述第二映射关系中所述确定的灰度值对应的白平衡校正系数作为目标白平衡校正系数。
第二方面，本发明实施例提供了一种传感器灰度校正装置，用于对X光成像***的每个传感器灰度进行校正，所述装置包括：
第一获取模块，用于获取待校正传感器的当前温度；
第二获取模块，用于获取所述待校正传感器输出的待校正的第一灰度值；
确定模块，用于根据所述当前温度和预存的第一映射关系，确定目标暗电平灰度值，其中，所述第一映射关系为多个暗电平灰度值与多个温度的对应关系；
暗电平校正模块，用于根据所述目标暗电平灰度值对所述第一灰度值进行暗电平校正。
第三方面，本发明实施例提供了一种异物检测机，包括X光成像***和图像处理单元；
所述图像处理单元包括：存储器和处理器；
所述存储器用于存放程序；所述处理器用于执行所述存储器所存储的程序，以实现上述任一项所述的方法步骤，对X光成像***的每个传感器灰度进行校正。
本发明实施例提供的一种传感器灰度校正方法，用于对X光成像***的每个传感器灰度进行校正，所述方法包括：获取待校正传感器的当前温度；获取所述待校正传感器输出的待校正的第一灰度值；根据所述当前温度和预存的第一映射关系，确定目标暗电平灰度值，其中，所述第一映射关系为多个暗电平灰度值与多个温度的对应关系；根据所述目标暗电平灰度值对所述第一灰度值进行暗电平校正。在X光成像***的使用过程中，根据传感器工作温度的变化，选择相应温度下的传感器的暗电平灰度值，使得传感器的暗电平校正过程更加准确，从而可以减少甚至消除各传感器拼接形成的图像出现条纹的现象。
附图说明
本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1为相关技术中对传感器灰度进行校正时获得的图像；
图2为本发明实施例提供的一种传感器灰度校正方法的流程示意图；
图3为利用本发明实施例所提供的传感器灰度校正方法对传感器灰度进行校正时获得的图像；
图4为本发明实施例提供的一种传感器灰度校正装置的结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
相关技术介绍：对传感器灰度值进行暗电平校正可以为将该灰度值减去暗电平灰度值，暗电平灰度值是在没有任何X光照射的情况下，获取的各传感器输出的灰度值。X光成像***对待成像物进行成像，获得的是灰白的透视图，可以应用于异物检测领域，以基于该透视图对待成像物中的异物进行检测。具体的，可以应用到安检领域、食品检测领域、轮胎检测领域、矿石检测领域等，例如，安检机、杂粮检测机、坚果检测机、鱼肉检测机等。当然，本发明实施例对X光成像***的应用领域不做具体限定。
参照图2，本发明实施例提供的一种传感器灰度校正方法，用于对X光成像***的每个传感器灰度进行校正，需要说明的是，对X光成像***的每个传感器灰度进行校正，可以是指对X光成像***中每个需要校正的传感器灰度进行校正，例如，X光成像***包括10个传感器，但实际应用中，这10个传感器可以全部开启使用，也可以部分开启使用，而需要校正的传感器就可以是所开启的传感器。对不同的传感器灰度进行校正的过程，可以同步执行也可以异步执行，例如异步校正可以依次按照传感器的位置顺序来执行。
以下实施例中，将以X光检测设备的图像处理单元作为执行主体，对各个X光传感器的灰度进行校正为例对本发明进行详细说明，图像处理单元可以为上位机或下位机。本文所涉及的预设背景和X射线源可以分别与X光成像***在成像时所采用的背景和光源相同。
参照图2，本发明实施例提供了一种传感器灰度校正方法，用于对X光成像***的每个X光传感器灰度进行校正，该方法包括：
S101、获取待校正传感器的当前温度。
在靠近X光成像***的X光传感器的位置设置温度传感器，用于检测X光成像***的传感器的环境温度也即工作温度。温度传感器可以实时检测X光传感器的环境温度，也可以隔预设的时间段，间歇性的检测传感器的环境温度。
S102、获取待校正传感器输出的待校正的第一灰度值。
第一灰度值是X光成像***在使用过程中输出的需要校正的灰度值，具体的，可以是对预设背景进行成像时所输出的灰度值，也可以是对待成像物进行成像时所输出的灰度值。
S103、根据当前温度和预存的第一映射关系，确定目标暗电平灰度值，其中，第一映射关系为多个暗电平灰度值与多个温度的对应关系。
本步骤可以通过以下方式实现：
(1)、从第一映射关系的多个温度中确定与当前温度最接近的温度。
(2)、将第一映射关系中所确定的温度对应的暗电平灰度值作为目标暗电平灰度值。
第一映射关系表中的多个温度可以是离散的，第一映射关系表中多个温度中存在一个与当前温度最接近的温度，所存在的这个温度对应的暗电平校正值即为目标暗电平校正值。
第一映射关系是预先存储在本地的，所述第一映射关系是按照以下方式获得的：
(1)、确定所述待校正传感器的工作温度范围。
待校正传感器的工作温度范围可以是由传感器本身的极限工作温度确定，也可以由该传感器应用在某一地域实际工作中可能处于的最小工作温度和最大工作温度确定。
(2)、在所述工作温度范围内，利用恒温箱模拟所述待校正传感器的工作温度。
本发明的一种实施方式中，所要调整到的每个工作温度可以根据传感器输出的灰度值确定，如果两个相邻工作温度对应的传感器输出的温度值相差较大，则可以在该两个工作温度之间在设置一个工作温度。
(3)、在预设背景，且无光照的情况下，针对不同工作温度所述待校正传感器输出的灰度值为相应温度对应的暗电平灰度值。在不同温度下，可以获取多个传感器的暗电平灰度值。
(4)、将获得的温度与暗电平灰度值的对应关系作为所述第一映射关系。
具体的，可以将X光成像***置于恒温箱中，用于模拟X光成像***的工作温度，实际工作中，X光成像***的工作温度是指在X光传感器本身产生的热量，以及相应设备中其他部件产生的热量影响下的温度。根据X光成像***所使用的环境，确定X光成像***的工作温度的最小值和最大值，在该最小值和最大值之间调整X光成像***的工作温度，关闭X射线源，X光传感器输出的灰度值即为相应传感器的暗电平灰度值。在不同温度下，获取多个传感器的暗电平灰度值，将多个温度与多个暗电平灰度值的对应关系作为第一映射关系。
S104、根据目标暗电平灰度值对第一灰度值进行暗电平校正。
在X光成像***的使用过程中，根据传感器工作温度的变化，选择相应温度下的传感器的暗电平灰度值，使得传感器的暗电平校正过程更加准确，从而可以减少甚至消除各传感器拼接形成的图像出现条纹的现象。
本发明实施例的一种实施方式中，该传感器灰度校正方法还可以包括：对第二灰度值进行白平衡校正，其中，第二灰度值为根据所确定的暗电平灰度值对第一灰度值进行暗电平校正获得的。
先对该传感器输出的灰度值进行暗电平校正，再对暗电平校正后的结果进行白平衡校正，即将待校正的传感器灰度值减去暗电平灰度值之后，再乘以白平衡校正系数。对第一灰度值先进行暗电平校正获得第二灰度值，再对第二灰度值进行白平衡校正，即先将传感器的灰度值减去该传感器的暗电平灰度值的得到第二灰度值，再将该第二灰度值乘以白平衡校正系数。本步骤中可以采用固定的白平衡校正系数对第二灰度值进行白平衡校正，当然，还可以采用根据不同光照强度设置的不同白平衡校正系数进行自适应调整白平衡校正系数，以实现动态的对第二灰度值进行校正。
本发明实施例的一种实施方式中，白平衡校正系数是可以按照以下方式获取的：先获取预设背景下即固定均匀背景情况下的传感器灰度值，再用预设的校正目标值除以该均匀背景下传感器灰度值减去暗电平灰度值，即可得到各传感器白平衡校正系数。假设，没有任何X光照射的情况下传感器的灰度值即暗电平灰度值是A，固定均匀背景下传感器灰度值为C，校正目标值是D，那么D/(C-A)就是该传感器的白平衡校正系数。
由于X光传感器灵敏度曲线并非是理论上的线性，且各传感器灵敏度的非线性差异也不相同，这就导致X光传感器在经过上述暗电平校正和白平衡校正后，物料图像可能还会存在一些条纹。为了进一步减少各传感器拼接形成的图像出现条纹的现象，本发明实施例的一种实施方式中，可以采用以下方式对第二灰度值进行白平衡校正的步骤，包括：
(1)、根据第二灰度值和预存的第二映射关系，确定目标白平衡校正系数，其中，第二映射关系为多个灰度值与多个白平衡校正系数的对应关系，多个灰度值是在预设背景且不同X光照强度下待校正传感器输出的灰度值；具体的，从第二映射关系中的多个灰度值中确定与第二灰度值最接近的灰度值；将第二映射关系中确定的灰度值对应的白平衡校正系数作为目标白平衡校正系数。
(2)根据目标白平衡校正系数，对第二灰度值进行白平衡校正。
通过待校正的灰度值，以及第一映射关系，自适应的选择适宜的白平衡校正系数，第一映射关系是根据传感器对不同光照的响应所确定的，相对于固定光照下的白平衡校正系数，更具有针对性和准确性，因此，通过在对第一灰度值进行暗电平之后，再动态的进行白平衡校正的方式实现对传感器灰度的校正，结果更加准确，可以大幅度减少甚至消除成像中的条纹现象。
本发明实施例的一种实施方式中，该传感器灰度校正方法还可以包括：
(1)、获取相邻传感器的成像接缝处两侧的灰度值差。
这里的灰度值差可以在一定程度上反映成像中出现条纹的明显程度，反映了成像的质量。本发明的一种实施方式中，这个灰度值差可以为两侧靠近接缝处的第一像素行中对应位置的像素点的灰度值差中的以下任意一种：最小值、平均值或最大值。例如，相邻的两个第一像素行中，上一行从左到右的像素点为A1、A2、A3，下一行从左到右的像素点为B1、B2、B3，则A1和B1的灰度值差、A2和B3的灰度值差，以及A3和B3的灰度值差三者平均值可以作为本步骤中的灰度值差。当然，在其他实施方式中，计算这个灰度值差时，还可以考虑靠近接缝处的更多的像素点，如更多像素点的灰度值差的平均值、最大值或最小值，或者更多像素点的平均灰度值的差，具体可以根据实际对图像的质量要求来设置，在此不做具体限定。
(2)、判断灰度值差是否大于预设阈值。
这里的预设阈值主要是根据对于图像质量的实际需求设置的，如果对质量要求较高，则可以将该阈值设置为较小值，反之，则可以设置为较大值。
(3)、如果是，更新预存的第二映射关系。
当检测到接缝处两侧的灰度值存在较大差异时，可以重新获取第二映射关系以更新原先预存的第二映射关系，这样可以大幅减少甚至消除传感器老化对校正结果的影响。
其中，更新预存的第二映射关系的步骤，包括：
(1)、在预设的光照强度范围内，调整X射线源的光照强度；具体的，将X射线源的光照强度从预设的光照强度范围的最小值依次间隔调整至最大值，或将X射线源的光照强度从预设的光照强度范围的最大值依次间隔调整至最小值，按照一定的顺序来调整光照强度，可以提高效率，并且还可以降低对光源的损伤，提高光源的使用寿命。预设的光照强度范围为0-B，预先设置在这个范围内调整到哪些光照强度上，例如，从0开始，每隔预定的数值设置一个待调整的光照强度，当然，还可以随机设定。
(2)、在预设背景，以及所调整的光照强度下获取待校正传感器输出的第三灰度值。这种情况下没有待成像物，有预设背景，光照强度为当前X射源被调整到的值。
(3)、根据预存的光照强度与目标校正值的第三映射关系，确定所调整的光照强度对应的目标校正值；其中，光照强度与目标校正值的第三映射关系为线性关系。光照强度与目标校正值的第二映射关系为线性关系。例如，光照强度的范围为0-B,目标校正值的范围为0-D，当光照强度为0时，对应的目标校正值为0，当光照强度为B时，目标校正值为D，当光照强度为Bn时，目标校正值为
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也即第三映射关系。
(4)、根据所调整的光照强度对应的第三灰度值与目标校正值，以及目标暗电平灰度值，计算白平衡校正系数。
(5)、返回执行在预设的光照强度范围内，调整X射线源的光照强度的步骤，直至获取多个第三灰度值,以及对应的多个目标校正值。
(6)、利用多个第三灰度值与多个目标校正值的对应关系更新预存的第二映射关系。
本发明实施例的一种实施方式中，根据所调整的光照强度对应的第三灰度值与目标校正值，以及目标暗电平灰度值，计算白平衡校正系数的步骤，包括：
按照以下公式计算白平衡校正系数F：
F＝Dn/(Cn-A)
其中，Cn为所调整的光照强度对应的第三灰度值，Dn为所调整的光照强度对应的目标校正值，A为目标暗电平灰度值。
参照图3，利用本发明对传感器灰度进行校正获取的图像相比于图1所示的图像，明显减少了条纹现象，在一定程度上消除了条纹现象。
基于与上述方法实施例相同的发明构思，本发明实施例提供了一种传感器灰度校正装置，用于对X光成像***的每个传感器灰度进行校正，参照图4，该装置包括：
第一获取模块61，用于获取待校正传感器的当前温度；
第二获取模块62，用于获取待校正传感器输出的待校正的第一灰度值；
确定模块63，用于根据当前温度和预存的第一映射关系，确定目标暗电平灰度值，其中，第一映射关系为多个暗电平灰度值与多个温度的对应关系；
暗电平校正模块64，用于根据目标暗电平灰度值对第一灰度值进行暗电平校正。
根据X光成像***所使用的环境，确定X光成像***的工作温度的最小值和最大值，在该最小值和最大值之间调整X光成像***的工作温度，关闭X射线源，X光传感器输出的灰度值即为相应传感器的暗电平灰度值。
所述第一映射关系是按照以下方式获得的：
确定所述待校正传感器的工作温度范围；
在所述工作温度范围内，利用恒温箱模拟所述待校正传感器的工作温度；
在预设背景，且无光照的情况下，针对不同工作温度所述待校正传感器输出的灰度值为相应温度对应的暗电平灰度值；
将获得的温度与暗电平灰度值的对应关系作为所述第一映射关系。
所述确定模块63具体用于：
从所述第一映射关系的多个温度中确定与所述当前温度最接近的温度；
将所述第一映射关系中所确定的温度对应的暗电平灰度值作为目标暗电平灰度值。
该装置还包括：
白平衡校正模块，用于对第二灰度值进行白平衡校正，其中，所述第二灰度值为根据所确定的暗电平灰度值对所述第一灰度值进行暗电平校正获得的。
所述白平衡校正模块具体用于：
根据所述第二灰度值和预存的第二映射关系，确定目标白平衡校正系数，其中，所述第二映射关系为多个灰度值与多个白平衡校正系数的对应关系，所述多个灰度值是在预设背景且不同X光照强度下所述待校正传感器输出的灰度值；
根据所述目标白平衡校正系数，对所述第二灰度值进行白平衡校正。
该装置还包括：
灰度值差获取模块，用于获取相邻传感器的成像接缝处两侧的灰度值差；
判断模块，用于判断所述灰度值差是否大于预设阈值，
更新模块，用于当判断模块的判断结果为是时，更新预存的所述第二映射关系。
更新模块具体用于：
在预设的光照强度范围内，调整X射线源的光照强度；
在预设背景，以及所调整的光照强度下获取所述待校正传感器输出的第三灰度值；
根据预存的光照强度与目标校正值的第三映射关系，确定所调整的光照强度对应的目标校正值；其中，所述光照强度与目标校正值的第三映射关系为线性关系。
根据所调整的光照强度对应的第三灰度值与目标校正值，以及所述目标暗电平灰度值，计算白平衡校正系数；
返回执行在预设的光照强度范围内，调整X射线源的光照强度的步骤，直至获取多个第三灰度值,以及对应的多个目标校正值；
利用所述多个第三灰度值与所述多个目标校正值的对应关系更新预存的第二映射关系。
更新模块根据所调整的光照强度对应的第三灰度值与目标校正值，以及所述目标暗电平灰度值，计算白平衡校正系数，包括：
按照以下公式计算白平衡校正系数F：
F＝Dn/(Cn-A)
其中，Cn为所调整的光照强度对应的第三灰度值，Dn为所调整的光照强度对应的目标校正值，A为目标暗电平灰度值。
所述白平衡校正模块根据所述第二灰度值和第二映射关系，确定目标白平衡校正系数，包括：从所述第二映射关系中的多个灰度值中确定与所述第二灰度值最接近的灰度值；将所述第二映射关系中所述确定的灰度值对应的白平衡校正系数作为目标白平衡校正系数。
基于与上述方法实施例相同的发明构思，本发明实施例提供了一种异物检测机，包括X光成像***和图像处理单元；
图像处理单元包括：存储器和处理器；
存储器用于存放程序；处理器用于执行存储器所存储的程序，以实现以实现以下步骤，对X光成像***的每个传感器灰度进行校正：
获取待校正传感器的当前温度；
获取待校正传感器输出的待校正的第一灰度值；
根据当前温度和预存的第一映射关系，确定目标暗电平灰度值，其中，第一映射关系为多个暗电平灰度值与多个温度的对应关系；
根据目标暗电平灰度值对第一灰度值进行暗电平校正。
根据X光成像***所使用的环境，确定X光成像***的工作温度的最小值和最大值，在该最小值和最大值之间调整X光成像***的工作温度，关闭X射线源，X光传感器输出的灰度值即为相应传感器的暗电平灰度值。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

Claims (10)

1.一种传感器灰度校正方法，用于对X光成像***的每个传感器灰度进行校正，其特征在于，所述方法包括：
获取待校正传感器的当前温度；
获取所述待校正传感器输出的待校正的第一灰度值；
根据所述当前温度和预存的第一映射关系，确定目标暗电平灰度值，其中，所述第一映射关系为多个暗电平灰度值与多个温度的对应关系；在预设背景，且无光照的情况下，针对不同工作温度所述待校正传感器输出的灰度值为相应温度对应的暗电平灰度值；
根据所述目标暗电平灰度值对所述第一灰度值进行暗电平校正；所述方法还包括：
对第二灰度值进行白平衡校正，其中，所述第二灰度值为根据所确定的暗电平灰度值对所述第一灰度值进行暗电平校正获得的；
所述对第二灰度值进行白平衡校正的步骤，包括：
根据所述第二灰度值和预存的第二映射关系，确定目标白平衡校正系数，其中，所述第二映射关系为多个灰度值与多个白平衡校正系数的对应关系，所述多个灰度值是在预设背景且不同X光照强度下所述待校正传感器输出的灰度值；
根据所述目标白平衡校正系数，对所述第二灰度值进行白平衡校正；
第二映射关系可以按照以下方式进行获取：
(1)、在预设的光照强度范围内，调整X射线源的光照强度；
(2)、在预设背景，以及所调整的光照强度下获取待校正传感器输出的第三灰度值；
(3)、根据预存的光照强度与目标校正值的第三映射关系
Figure FDA0003695200710000011
确定所调整的光照强度对应的目标校正值，其中，Dn为目标校正值，Bn为光照强度，B为预设最大光照强度，D为预设最大目标校正值；
(4)、根据所调整的光照强度对应的第三灰度值与目标校正值，以及目标暗电平灰度值，计算白平衡校正系数；按照以下公式计算白平衡校正系数F：
F＝Dn/(Cn-A)
其中，Cn为所调整的光照强度对应的第三灰度值，Dn为所调整的光照强度对应的目标校正值，A为目标暗电平灰度值；
(5)、返回执行在预设的光照强度范围内，调整X射线源的光照强度的步骤，直至获取多个第三灰度值,以及对应的多个白平衡校正系数；
(6)、利用多个第三灰度值与多个白平衡校正系数的对应关系作为预存的第二映射关系。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一映射关系是按照以下方式获得的：
确定所述待校正传感器的工作温度范围；
在所述工作温度范围内，利用恒温箱模拟所述待校正传感器的工作温度；
在预设背景，且无光照的情况下，针对不同工作温度所述待校正传感器输出的灰度值为相应温度对应的暗电平灰度值；
将获得的温度与暗电平灰度值的对应关系作为所述第一映射关系。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述当前温度和预存的第一映射关系，确定目标暗电平灰度值的步骤，包括：
从所述第一映射关系的多个温度中确定与所述当前温度最接近的温度；
将所述第一映射关系中所确定的温度对应的暗电平灰度值作为目标暗电平灰度值。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
获取相邻传感器的成像接缝处两侧的灰度值差；
判断所述灰度值差是否大于预设阈值，
如果是，更新预存的所述第二映射关系。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述更新预存的所述第二映射关系的步骤，包括：
在预设的光照强度范围内，调整X射线源的光照强度；
在预设背景，以及所调整的光照强度下获取所述待校正传感器输出的第三灰度值；
根据预存的光照强度与目标校正值的第三映射关系，确定所调整的光照强度对应的目标校正值；
根据所调整的光照强度对应的第三灰度值与目标校正值，以及所述目标暗电平灰度值，计算白平衡校正系数；
返回执行在预设的光照强度范围内，调整X射线源的光照强度的步骤，直至获取多个第三灰度值,以及对应的多个白平衡校正系数；
利用所述多个第三灰度值与所述多个白平衡校正系数的对应关系更新预存的第二映射关系。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所调整的光照强度对应的第三灰度值与目标校正值，以及所述目标暗电平灰度值，计算白平衡校正系数的步骤，包括：
按照以下公式计算白平衡校正系数F：
F＝Dn/(Cn-A)
其中，Cn为所调整的光照强度对应的第三灰度值，Dn为所调整的光照强度对应的目标校正值，A为目标暗电平灰度值。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述光照强度与目标校正值的第三映射关系为线性关系。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二灰度值和第二映射关系，确定目标白平衡校正系数，包括：
从所述第二映射关系中的多个灰度值中确定与所述第二灰度值最接近的灰度值；
将所述第二映射关系中所述确定的灰度值对应的白平衡校正系数作为目标白平衡校正系数。
9.一种传感器灰度校正装置，用于对X光成像***的每个传感器灰度进行校正，其特征在于，所述装置包括：
第一获取模块，用于获取待校正传感器的当前温度；
第二获取模块，用于获取所述待校正传感器输出的待校正的第一灰度值；
确定模块，用于根据所述当前温度和预存的第一映射关系，确定目标暗电平灰度值，其中，所述第一映射关系为多个暗电平灰度值与多个温度的对应关系；在预设背景，且无光照的情况下，针对不同工作温度所述待校正传感器输出的灰度值为相应温度对应的暗电平灰度值；
暗电平校正模块，用于根据所述目标暗电平灰度值对所述第一灰度值进行暗电平校正；
该装置还包括：
白平衡校正模块，用于对第二灰度值进行白平衡校正，其中，所述第二灰度值为根据所确定的暗电平灰度值对所述第一灰度值进行暗电平校正获得的；
所述白平衡校正模块具体用于：
根据所述第二灰度值和预存的第二映射关系，确定目标白平衡校正系数，其中，所述第二映射关系为多个灰度值与多个白平衡校正系数的对应关系，所述多个灰度值是在预设背景且不同X光照强度下所述待校正传感器输出的灰度值；根据所述目标白平衡校正系数，对所述第二灰度值进行白平衡校正；
第二映射关系可以按照以下方式进行获取：
(1)、在预设的光照强度范围内，调整X射线源的光照强度；
(2)、在预设背景，以及所调整的光照强度下获取待校正传感器输出的第三灰度值；
(3)、根据预存的光照强度与目标校正值的第三映射关系
Figure FDA0003695200710000041
确定所调整的光照强度对应的目标校正值，其中，Dn为目标校正值，Bn为光照强度，B为预设最大光照强度，D为预设最大目标校正值；
(4)、根据所调整的光照强度对应的第三灰度值与目标校正值，以及目标暗电平灰度值，计算白平衡校正系数；按照以下公式计算白平衡校正系数F：
F＝Dn/(Cn-A)
其中，Cn为所调整的光照强度对应的第三灰度值，Dn为所调整的光照强度对应的目标校正值，A为目标暗电平灰度值；
(5)、返回执行在预设的光照强度范围内，调整X射线源的光照强度的步骤，直至获取多个第三灰度值,以及对应的多个白平衡校正系数；
(6)、利用多个第三灰度值与多个白平衡校正系数的对应关系作为预存的第二映射关系。
10.一种异物检测机，其特征在于，包括X光成像***和图像处理单元；
所述图像处理单元包括：存储器和处理器；
所述存储器用于存放程序；所述处理器用于执行所述存储器所存储的程序，以实现如权利要求1-8任一项所述的方法步骤，对所述X光成像***的每个传感器灰度进行校正。
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