CN112697187A - 一种实现并联传感器测量的装置和方法 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种实现并联传感器测量的装置及方法，本申请先排查并联传感器组是否有问题，然后再对并联传感器组中的传感器轮询检测，逐一排查以找出发生损坏的传感器，自动定位出了损坏的传感器，保证了电路的正常使用。
Description
技术领域
本申请涉及但不限于电子电路技术，尤指一种实现并联传感器测量的装置和方法。
背景技术
在实际应用场景中，存在多个传感器并联使用的方案。如果并联的传感器中有传感器损坏，那么，需要定位出损坏的传感器以便于更换和维护，从而保证并联的多个传感器的所在电路的正常使用。
发明内容
本申请提供一种实现并联传感器测量的装置和方法，能够自动定位出损坏的传感器，保证电路的正常使用。
本申请提供了一种实现并联传感器测量的装置，包括：第一测量电路、第二测量电路、采样控制电路、包括n个并联的传感器的并联传感器组；其中，
第一测量电路，用于在采样控制电路的控制下，检测并联传感器组；
第二测量电路，用于在采样控制电路的控制下，轮询检测并联传感器组中的任一个传感器；
采样控制电路，用于控制第一测量电路对并联传感器组进行检测，对第一测量电路的输出进行采样，并根据第一采样结果确定并联传感器组中是否存在损坏的传感器；在并联传感器组中存在损坏的传感器时，控制第二测量电路对并联传感器组中的单个传感器进行检测，对第二测量电路的输出进行采样，并根据第二采样结果确定并联传感器组中发生损坏的传感器。
在一种示例性实例中，所述采样控制电路还用于：
在初始化时或所述并联传感器组中不存在损坏的传感器时，控制所述并联传感器组接入工作电路。
在一种示例性实例中，所述第一测量电路为电阻-电容RC电路；包括：
第一电阻和作为第一电容的所述并联传感器组。
在一种示例性实例中，所述第二测量电路为RC电路；包括：
第二电阻、作为第二电容的所述并联传感器组中的任一个传感器，以及切换开关；
切换开关，用于在所述采样控制电路的控制下将所述并联传感器组中的一个传感器作为第二电容。
在一种示例性实例中，如果所述并联传感器组包括两组或两组以上，所述采样控制电路采用切换电路逐一将每个并联传感器组接入所述第一测量电路，以分别对每个所述并联传感器组进行是否存在传感器损坏的检测。
在一种示例性实例中，组成同一个所述并联传感器组的传感器的容值存在下限值。
在一种示例性实例中，所述第一测量电路的激励信号给定时，所述采样控制电路中的根据第一采样结果确定并联传感器组中是否存在损坏的传感器，包括：
如果所述第一采样结果显示的第一测量信号幅值A11小于信号幅值阈值Ath1，确定出所述并联传感器组中存在损坏的传感器；
记录信号幅值阈值Ath1与第一测量信号幅值A11，并计算二者的信号幅值差值H；
其中，当激励信号给定时，如果所述并联传感器中的传感器都正常工作，第一采样结果显示的第一测量信号幅值A11为信号幅值阈值Ath1。
在一种示例性实例中，所述第二测量电路的激励信号给定时，所述采样控制电路中的根据第二采样结果确定并联传感器组中发生损坏的传感器，包括：
对所述并联传感器组中的传感器逐个检测，直到每次检测出的幅值差值的总和等于所述信号幅值差值H为止，确定检测出有信号幅值差值的传感器为发生损坏的传感器。
在一种示例性实例中，所述确定并联传感器组中发生损坏的传感器，具体包括：
对传感器q进行检测，如果所述第二采样结果显示的第二测量信号幅值A2q小于信号幅值阈值Ath2，检测出传感器q为损坏的传感器，所述采样控制电路记录信号幅值阈值Ath2与第二测量信号幅值A2q，并计算二者的信号幅值差值H2q，如果H2q等于H，则确定出所述并联传感器组中发生损坏的传感器为传感器q，结束；否则，
如果H2q小于H，对传感器p进行检测，所述第二采样结果显示的第二测量信号幅值A2p小于信号幅值阈值Ath2，检测出传感器p为损坏的传感器，所述采样控制电路记录信号幅值阈值Ath2与第二测量信号幅值A2p，并计算二者的信号幅值差值H2p，如果(H2p+H2q)等于H，则确定出所述并联传感器组中发生损坏的传感器为传感器q和传感器p，结束；否则；
如果(H2p+H2q)小于H，那么继续对并联传感器组中的传感器进行轮询检测，直到检测出的各信号幅值差值之和等于H为止，并确定检测出有信号幅值差值对应的传感器为发生损坏的传感器；
其中，当激励信号给定时，如果并联传感器中的各传感器i正常工作，那么，第二采样结果显示的第二测量信号幅值A2i为信号幅值阈值Ath2；其中，i为1～n，n为并联传感器组中的传感器的个数，p、q为n各传感器中任一个传感器。
本申请还提供了一种实现并联传感器测量的方法，包括：
控制第一测量电路对并联传感器组进行检测，对第一测量电路的输出进行采样，并根据第一采样结果确定并联传感器组中是否存在损坏的传感器；
在并联传感器组中存在损坏的传感器时，控制第二测量电路对并联传感器组中的单个传感器进行检测，对第二测量电路的输出进行采样，并根据第二采样结果确定并联传感器组中发生损坏的传感器。
在一种示例性实例中，所述第一测量电路为第一电阻-电容RC电路；所述第二测量电路为第二电阻-电容RC电路；
所述控制第一测量电路对并联传感器组进行检测，包括：将所述并联传感器组作为第一RC电路中的第一电容，对第一RC电路的输出进行采样，并根据第一采样结果检测并所述联传感器组中是否存在损坏的传感器；
所述控制第二测量电路对并联传感器组中的单个传感器进行检测，包括：将所述并联传感器组中的传感器作为第二RC电路中的第二电容对所述并联传感器组中的传感器进行轮询检测，分别对第二RC电路的输出进行采样，并根据第二采样结果确定损坏的传感器。
在一种示例性实例中，所述检测并联传感器组中是否存在损坏的传感器，包括：
当激励信号给定时，如果所述第一采样结果显示的第一测量信号幅值A11小于信号幅值阈值Ath1，那么，检测出所述并联传感器组中存在损坏的传感器；记录信号幅值阈值Ath1与第一测量信号幅值A11，并计算二者的信号幅值差值H；
其中，当激励信号给定时，如果所述并联传感器中的传感器都正常工作，所述第一采样结果显示的第一测量信号幅值A11为信号幅值阈值Ath1。
在一种示例性实例中，所述确定损坏的传感器包括：
对所述并联传感器组中的传感器逐个检测，直到每次检测出的幅值差值的总和等于所述信号幅值差值H为止，确定检测出有信号幅值差值对应的传感器为发生损坏的传感器。
在一种示例性实例中，所述确定检测出有信号幅值差值对应的传感器为发生损坏的传感器，包括：
对传感器q进行检测，如果所述第二采样结果显示的第二测量信号幅值A2q小于信号幅值阈值Ath2，检测出传感器q为损坏的传感器，所述采样控制电路记录信号幅值阈值Ath2与第二测量信号幅值A2q，并计算二者的信号幅值差值H2q，如果H2q等于H，则确定出所述并联传感器组中发生损坏的传感器为传感器q，结束；否则，
如果H2q小于H，对传感器p进行检测，所述第二采样结果显示的第二测量信号幅值A2p小于信号幅值阈值Ath2，检测出传感器p为损坏的传感器，所述采样控制电路记录信号幅值阈值Ath2与第二测量信号幅值A2p，并计算二者的信号幅值差值H2p，如果(H2p+H2q)等于H，则确定出所述并联传感器组中发生损坏的传感器为传感器q和传感器p，结束；否则；
如果(H2p+H2q)小于H，那么继续对并联传感器组中的传感器进行轮询检测，直到检测出的各信号幅值差值之和等于H为止，并确定检测出有信号幅值差值对应的传感器为发生损坏的传感器；
其中，当激励信号给定时，如果并联传感器中的各传感器i正常工作，那么，第二采样结果显示的第二测量信号幅值A2i为信号幅值阈值Ath2；其中，i为1～n，n为并联传感器组中的传感器的个数，p、q为n各传感器中任一个传感器。
在一种示例性实例中，所述方法还包括：
在初始化时或检测出所述并联传感器组中不存在损坏的传感器时，控制所述并联传感器组接入工作电路。
在一种示例性实例中，如果所述并联传感器组包括两组或两组以上，则按照所述方法对不同并联传感器组进行轮询检测，逐一将每个并联传感器组接入所述第一RC电路，以分别对每个并联传感器组进行是否存在传感器损坏的检测。
本申请本申请先排查并联传感器组是否有问题，然后再对并联传感器组中的传感器轮询检测，逐一排查以找出发生损坏的传感器，自动定位出了损坏的传感器，保证了电路的正常使用。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本申请技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案，并不构成对本申请技术方案的限制。
图1为本申请实现并联传感器测量的装置的组成结构示意图；
图2为本申请第一测量电路与工作电路间切换的实施例的电路示意图；
图3为本申请第二测量电路工作原理的实施例的电路示意图；
图4为本申请第一测量电路和第二测量电路为RC串联电路的实施例的电路示意图；
图5为本申请利用RC电路实现并联传感器测量的实施例的流程示意图。
具体实施方式
在本申请一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。
内存可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。内存是计算机可读介质的示例。
计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括非暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本申请的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
图1为本申请实现并联传感器测量的装置的组成结构示意图，如图1所示，至少包括：第一测量电路、第二测量电路、采样控制电路、包括n个并联的传感器的并联传感器组；其中，
第一测量电路，用于在采样控制电路的控制下，检测并联传感器组；在一种示例性实例中，第一测量电路为电阻-电容电路(RC，Resistor-Capacitance circuit)即RC电路，包括第一电阻和作为第一电容的并联传感器组；第一测量电路在采样控制电路的控制下对并联传感器组进行检测；
第二测量电路，用于在采样控制电路的控制下，轮询检测并联传感器组中的任一个传感器；在一种示例性实例中，第二测量电路为RC电路，包括第二电阻、作为第二电容的并联传感器组中的任一个传感器以及切换开关，切换开关，用于在所述采样控制电路的控制下将所述并联传感器组中的一个传感器作为第二电容；第二测量电路在采样控制电路的控制下分别对并联传感器组中的每一个传感器进行检测；
采样控制电路，用于在采样控制电路所属装置的***上电运行时或按照预设周期或接收到检测指令时，控制第一测量电路对并联传感器组进行检测，对第一测量电路的输出进行采样，并根据第一采样结果确定并联传感器组中是否存在损坏的传感器；在并联传感器组中存在损坏的传感器时，控制第二测量电路对并联传感器组中的单个传感器进行检测，对第二测量电路的输出进行采样，并根据第二采样结果确定并联传感器组中发生损坏的传感器。
传感器为弹性波传感器。具体地，弹性波传感器包括但不限于压电传感器、应变传感器等，压电传感器可以包括压电陶瓷传感器、压电薄膜传感器、压电晶体传感器或者其它具有压电效应的传感器等。
在一种示例性实例中，采样控制电路还用于：在初始化时或并联传感器组中不存在损坏的传感器时，控制并联传感器组接入工作电路。
在一种示例性实例中，组成同一个并联传感器组的传感器的容值存在下限值CL，通过滤波电路的换算当容值小于下限值时进行硬件替换或其他处理。
本申请先排查并联传感器组是否有问题，然后再对并联传感器组中的传感器轮询检测，逐一排查以找出发生损坏的传感器，自动定位出了损坏的传感器，保证了电路的正常使用。
在一种示例性实例中，采样控制电路可以通过切换电路如开关来实现对第一测量电路、第二测量电路、工作电路的选择。
在一种示例性实例中，如果并联传感器组包括两组或两组以上，则对不同并联传感器组的检测可以采用切换电路来实现轮询，即采样控制电路采用切换电路逐一将每个并联传感器组接入第一测量电路，以分别对每个并联传感器组进行是否存在传感器损坏的检测。
图2为本申请第一测量电路与工作电路间切换的实施例的电路示意图，如图2所示，通过对切换开关的控制，将并联传感器组接入工作电路或第一测量电路。如图2所示实施例，通过对切换开关的控制，如果将并联传感器组接入工作电路，那么，并联传感器组的端口A与工作电路的一端(Work_+)连接，并联传感器组的端口B与工作电路的另一端(Work_-)连接；通过对切换开关的控制，如果将并联传感器组接入第一测量电路，那么，并联传感器组的端口A作为第一测量电路中第一电容的一端(Check1_+)，并联传感器组的端口B作为第一测量电路中第一电容的另一端(Check_-)。
图3为本申请第二测量电路工作原理的实施例的电路示意图，如图3所示，本实施例中，假设并联传感器组中包括n个传感器，切换开关包括n个可以独立控制的开关，图3中所示的切换开关可以是并联传感器组的内部开关。通过对切换开关的控制，将并联传感器组中的某一传感器接入第二测量电路，此时，并联传感器组的端口A作为第二测量电路中第二电容的一端(Check2_+)，并联传感器组的端口B作为第二测量电路中第二电容的另一端(Check_-)。
以第一测量电路和第二测量电路为RC串联电路为例，如图4所示，在采集控制电路的控制下，并联传感器组作为电容接入并成为第一测量电路或第二测量电路的一部分。本实施例中显示的RC电路中，由于有电容存在不能流过直流电流，电阻和电容都对电流存在阻碍作用，总阻抗由电阻和容抗确定，总阻抗随频率变化而变化。RC串联电路有一个转折频率f0：f0＝1/(2π×R×C)，当输入信号频率大于f0时，整个RC串联电路总的阻抗基本不变了，其大小等于电阻值。
对于控制并联传感器组使其接入并成为第一测量电路的一部分的情况，此时转折频率f01＝1/(2π×R1×C1)，其中，电阻R1的取值为一给定值，并且误差精度要求小于1％，电容C1为并联传感器组中各传感器的容值之和。当激励信号给定时，如果并联传感器中的传感器都正常工作，那么，采样控制电路获得的通过第一测量电路后输出的信号幅值是一定的(假设为信号幅值阈值Ath1)，如果并联传感器组中有传感器发生损坏，并联传感器组的总容值会减小即C1减小，也就意味着转折频率f01变大，那么，采样控制电路获得的通过第一测量电路后输出的信号幅值会降低(假设为第一测量信号幅值A11)，采样控制电路记录信号幅值阈值Ath1与第一测量信号幅值A11，并计算二者的信号幅值差值H。这里，信号幅值阈值Ath1可以是一个值或一个范围。
对于控制并联传感器组使其接入并成为第二测量电路的一部分的情况，此时转折频率f02＝1/(2π×R2×C2)，其中，电阻R2的取值为一给定值并且误差精度要求小于1％，电容C2为并联传感器组中当前接入第二测量电路的传感器的容值。通过图3所示的并联传感器组中的切换开关，一个一个地对并联传感器组中的传感器逐个检测，直到每次检测出的幅值差值的总和等于信号幅值差值H为止。
具体来讲，当激励信号给定时，如果当前切换至的并联传感器中的某个传感器q(假设其容值为C2q)正常工作，那么，采样控制电路获得的通过第二测量电路后输出的信号幅值是一定的(假设为信号幅值阈值Ath2)，如果该传感器发生损坏，其容值会减小即C2q减小，也就意味着转折频率f02变大，那么，采样控制电路获得的通过第二测量电路后输出的信号幅值会降低(假设为第二测量信号幅值A2q)，采样控制电路对应记录信号幅值阈值Ath2与第二测量信号幅值A2q，并计算二者的信号幅值差值H2q，如果H2q等于H，则停止采用第二测量电路的轮询检测，并确定出并联传感器组中发生损坏的传感器为传感器q；
如果H2q小于H，那么继续对并联传感器组中的传感器进行轮询检测，如果当前切换至的并联传感器中的某个传感器p(假设其容值为C2p)正常工作，那么，采样控制电路获得的通过第二测量电路后输出的信号幅值是一定的(假设为信号幅值阈值Ath2)，如果该传感器发生损坏，其容值会减小即C2p减小，也就意味着转折频率f02变大，那么，采样控制电路获得的通过第二测量电路后输出的信号幅值会降低(假设为第二测量信号幅值A2p)，采样控制电路对应记录信号幅值阈值Ath2与第二测量信号幅值A2p，并计算二者的信号幅值差值H2p，如果(H2p+H2q)等于H，则停止采用第二测量电路的轮询检测，并确定出并联传感器组中发生损坏的传感器为传感器q和传感器p；这里，信号幅值阈值Ath2可以是一个值或一个范围。
如果(H2p+H2q)小于H，那么继续对并联传感器组中的传感器进行轮询检测，直到检测出的各信号幅值差值之和等于H为止，并确定检测出有信号幅值差值对应的传感器为发生损坏的传感器。
需要说明的时，激励信号给定意味着在整个测量过程中，激励信号保持不变。
本申请还提供一种实现并联传感器测量的方法，包括：
控制第一测量电路对并联传感器组进行检测，对第一测量电路的输出进行采样，并根据第一采样结果确定并联传感器组中是否存在损坏的传感器；
在并联传感器组中存在损坏的传感器时，控制第二测量电路对并联传感器组中的单个传感器进行检测，对第二测量电路的输出进行采样，并根据第二采样结果确定并联传感器组中发生损坏的传感器。
在一种示例性实例中，第一测量电路为第一电阻-电容RC电路；第二测量电路为第二电阻-电容RC电路；
控制第一测量电路对并联传感器组进行检测，包括：将并联传感器组作为第一RC电路中的第一电容，对第一RC电路的输出进行采样，并根据第一采样结果检测并联传感器组中是否存在损坏的传感器；
控制第二测量电路对并联传感器组中的单个传感器进行检测，包括：将并联传感器组中的传感器作为第二RC电路中的第二电容对并联传感器组中的传感器进行轮询检测，分别对第二RC电路的输出进行采样，并根据第二采样结果确定损坏的传感器。
图5为本申请利用RC电路实现并联传感器测量的实施例的流程示意图，如图5所示，在本实施例中，包括：
步骤500：将并联传感器组作为第一RC电路中的第一电容，对第一测量电路的输出进行采样，并根据第一采样结果检测并联传感器组中是否存在损坏的传感器。
在一种示例性实例中，本步骤中的检测并联传感器组中是否存在损坏的传感器，包括：
当激励信号给定时，如果相对于信号幅值阈值Ath1，第一采样结果显示的第一测量信号幅值A11降低，也就是说，第一测量信号幅值A11小于信号幅值阈值Ath1，那么，检测出并联传感器组中存在损坏的传感器；记录信号幅值阈值Ath1与第一测量信号幅值A11，并计算二者的信号幅值差值H；这里，信号幅值阈值Ath1可以是一个值或一个范围；
其中，当激励信号给定时，如果并联传感器中的传感器都正常工作，那么，第一采样结果显示的第一测量信号幅值A11是一定的，即为信号幅值阈值Ath1。
步骤501：当并联传感器组中存在损坏的传感器时，将并联传感器组中的传感器作为第二RC电路中的第二电容对并联传感器组中的传感器进行轮询检测，分别对第二测量电路的输出进行采样，并根据第二采样结果确定损坏的传感器。
在一种示例性实例中，确定损坏的传感器，包括：
当激励信号给定时，对并联传感器组中的传感器逐个检测，直到每次检测出的幅值差值的总和等于信号幅值差值H为止，确定检测出有信号幅值差值对应的传感器为发生损坏的传感器。
在一种示例性实例中，确定检测出有信号幅值差值对应的传感器为发生损坏的传感器，具体包括：
当激励信号给定时，对传感器q进行检测，相对于信号幅值阈值Ath2，第二采样结果显示的第二测量信号幅值A2q降低，也就是说，如果第二采样结果显示的第二测量信号幅值A2q小于信号幅值阈值Ath2，那么，检测出传感器q为损坏的传感器，采样控制电路记录信号幅值阈值Ath2与第二测量信号幅值A2q，并计算二者的信号幅值差值H2q，如果H2q等于H，则确定出并联传感器组中发生损坏的传感器为传感器q；这里，信号幅值阈值Ath1可以是一个值或一个范围；
如果H2q小于H，那么继续对并联传感器组中的传感器进行轮询检测，对传感器p进行检测，相对于信号幅值阈值Ath2，第二采样结果显示的第二测量信号幅值A2p降低，也就是说，如果第二采样结果显示的第二测量信号幅值A2p小于信号幅值阈值Ath2，那么，检测出传感器p为损坏的传感器，采样控制电路记录信号幅值阈值Ath2与第二测量信号幅值A2p，并计算二者的信号幅值差值H2p，如果(H2p+H2q)等于H，则确定出并联传感器组中发生损坏的传感器为传感器q和传感器p；
如果(H2p+H2q)小于H，那么继续对并联传感器组中的传感器进行轮询检测，直到检测出的各信号幅值差值之和等于H为止，并确定检测出有信号幅值差值对应的传感器为发生损坏的传感器；
其中，当激励信号给定时，如果并联传感器中的各传感器i正常工作，那么，第二采样结果显示的第二测量信号幅值A2i是一定的，即为信号幅值阈值Ath2。其中，i为1～n，n为并联传感器组中的传感器的个数，p、q为n各传感器中任一个。
在一种示例性实例中，在初始化时或检测出并联传感器组中不存在损坏的传感器时，控制并联传感器组接入工作电路。
在一种示例性实例中，如果并联传感器组包括两组或两组以上，则按照步骤500～步骤501的方式，对不同并联传感器组进行轮询检测，即逐一将每个并联传感器组接入第一RC电路，以分别对每个并联传感器组进行是否存在传感器损坏的检测。
以上所述，仅为本发明的较佳实例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (16)
1.一种实现并联传感器测量的装置，包括：第一测量电路、第二测量电路、采样控制电路、包括n个并联的传感器的并联传感器组；其中，
第一测量电路，用于在采样控制电路的控制下，检测并联传感器组；
第二测量电路，用于在采样控制电路的控制下，轮询检测并联传感器组中的任一个传感器；
采样控制电路，用于控制第一测量电路对并联传感器组进行检测，对第一测量电路的输出进行采样，并根据第一采样结果确定并联传感器组中是否存在损坏的传感器；在并联传感器组中存在损坏的传感器时，控制第二测量电路对并联传感器组中的单个传感器进行检测，对第二测量电路的输出进行采样，并根据第二采样结果确定并联传感器组中发生损坏的传感器。
2.根据权利要求1所述的装置，所述采样控制电路还用于：
在初始化时或所述并联传感器组中不存在损坏的传感器时，控制所述并联传感器组接入工作电路。
3.根据权利要求1或2所述的装置，其中，所述第一测量电路为电阻-电容RC电路；包括：
第一电阻和作为第一电容的所述并联传感器组。
4.根据权利要求1或2所述的装置，其中，所述第二测量电路为RC电路；包括：
第二电阻、作为第二电容的所述并联传感器组中的任一个传感器，以及切换开关；
切换开关，用于在所述采样控制电路的控制下将所述并联传感器组中的一个传感器作为第二电容。
5.根据权利要求1或2所述的装置，其中，如果所述并联传感器组包括两组或两组以上，所述采样控制电路采用切换电路逐一将每个并联传感器组接入所述第一测量电路，以分别对每个所述并联传感器组进行是否存在传感器损坏的检测。
6.根据权利要求5所述的装置，其中，组成同一个所述并联传感器组的传感器的容值存在下限值。
7.根据权利要求1或2所述的装置，其中，所述第一测量电路的激励信号给定时，所述采样控制电路中的根据第一采样结果确定并联传感器组中是否存在损坏的传感器，包括：
如果所述第一采样结果显示的第一测量信号幅值A11小于信号幅值阈值Ath1，确定出所述并联传感器组中存在损坏的传感器；
记录信号幅值阈值Ath1与第一测量信号幅值A11，并计算二者的信号幅值差值H；
其中，当激励信号给定时，如果所述并联传感器中的传感器都正常工作，第一采样结果显示的第一测量信号幅值A11为信号幅值阈值Ath1。
8.根据权利要求7所述的装置，其中，所述第二测量电路的激励信号给定时，所述采样控制电路中的根据第二采样结果确定并联传感器组中发生损坏的传感器，包括：
对所述并联传感器组中的传感器逐个检测，直到每次检测出的幅值差值的总和等于所述信号幅值差值H为止，确定检测出有信号幅值差值的传感器为发生损坏的传感器。
9.根据权利要求8所述的装置，其中，所述确定并联传感器组中发生损坏的传感器，具体包括：
对传感器q进行检测，如果所述第二采样结果显示的第二测量信号幅值A2q小于信号幅值阈值Ath2，检测出传感器q为损坏的传感器，所述采样控制电路记录信号幅值阈值Ath2与第二测量信号幅值A2q，并计算二者的信号幅值差值H2q，如果H2q等于H，则确定出所述并联传感器组中发生损坏的传感器为传感器q，结束；否则，
如果H2q小于H，对传感器p进行检测，所述第二采样结果显示的第二测量信号幅值A2p小于信号幅值阈值Ath2，检测出传感器p为损坏的传感器，所述采样控制电路记录信号幅值阈值Ath2与第二测量信号幅值A2p，并计算二者的信号幅值差值H2p，如果(H2p+H2q)等于H，则确定出所述并联传感器组中发生损坏的传感器为传感器q和传感器p，结束；否则；
如果(H2p+H2q)小于H，那么继续对并联传感器组中的传感器进行轮询检测，直到检测出的各信号幅值差值之和等于H为止，并确定检测出有信号幅值差值对应的传感器为发生损坏的传感器；
其中，当激励信号给定时，如果并联传感器中的各传感器i正常工作，那么，第二采样结果显示的第二测量信号幅值A2i为信号幅值阈值Ath2；其中，i为1～n，n为并联传感器组中的传感器的个数，p、q为n各传感器中任一个传感器。
10.一种实现并联传感器测量的方法，包括：
控制第一测量电路对并联传感器组进行检测，对第一测量电路的输出进行采样，并根据第一采样结果确定并联传感器组中是否存在损坏的传感器；
在并联传感器组中存在损坏的传感器时，控制第二测量电路对并联传感器组中的单个传感器进行检测，对第二测量电路的输出进行采样，并根据第二采样结果确定并联传感器组中发生损坏的传感器。
11.根据权利要求10所述的方法，其中，所述第一测量电路为第一电阻-电容RC电路；所述第二测量电路为第二电阻-电容RC电路；
所述控制第一测量电路对并联传感器组进行检测，包括：将所述并联传感器组作为第一RC电路中的第一电容，对第一RC电路的输出进行采样，并根据第一采样结果检测并所述联传感器组中是否存在损坏的传感器；
所述控制第二测量电路对并联传感器组中的单个传感器进行检测，包括：将所述并联传感器组中的传感器作为第二RC电路中的第二电容对所述并联传感器组中的传感器进行轮询检测，分别对第二RC电路的输出进行采样，并根据第二采样结果确定损坏的传感器。
12.根据权利要求11所述的方法，其中，所述检测并联传感器组中是否存在损坏的传感器，包括：
当激励信号给定时，如果所述第一采样结果显示的第一测量信号幅值A11小于信号幅值阈值Ath1，那么，检测出所述并联传感器组中存在损坏的传感器；记录信号幅值阈值Ath1与第一测量信号幅值A11，并计算二者的信号幅值差值H；
其中，当激励信号给定时，如果所述并联传感器中的传感器都正常工作，所述第一采样结果显示的第一测量信号幅值A11为信号幅值阈值Ath1。
13.根据权利要求11所述的方法，其中，所述确定损坏的传感器包括：
对所述并联传感器组中的传感器逐个检测，直到每次检测出的幅值差值的总和等于所述信号幅值差值H为止，确定检测出有信号幅值差值对应的传感器为发生损坏的传感器。
14.根据权利要求12所述的方法，其中，所述确定检测出有信号幅值差值对应的传感器为发生损坏的传感器，包括：
对传感器q进行检测，如果所述第二采样结果显示的第二测量信号幅值A2q小于信号幅值阈值Ath2，检测出传感器q为损坏的传感器，所述采样控制电路记录信号幅值阈值Ath2与第二测量信号幅值A2q，并计算二者的信号幅值差值H2q，如果H2q等于H，则确定出所述并联传感器组中发生损坏的传感器为传感器q，结束；否则，
如果H2q小于H，对传感器p进行检测，所述第二采样结果显示的第二测量信号幅值A2p小于信号幅值阈值Ath2，检测出传感器p为损坏的传感器，所述采样控制电路记录信号幅值阈值Ath2与第二测量信号幅值A2p，并计算二者的信号幅值差值H2p，如果(H2p+H2q)等于H，则确定出所述并联传感器组中发生损坏的传感器为传感器q和传感器p，结束；否则；
如果(H2p+H2q)小于H，那么继续对并联传感器组中的传感器进行轮询检测，直到检测出的各信号幅值差值之和等于H为止，并确定检测出有信号幅值差值对应的传感器为发生损坏的传感器；
其中，当激励信号给定时，如果并联传感器中的各传感器i正常工作，那么，第二采样结果显示的第二测量信号幅值A2i为信号幅值阈值Ath2；其中，i为1～n，n为并联传感器组中的传感器的个数，p、q为n各传感器中任一个传感器。
15.根据权利要求10～14所述的方法，所述方法还包括：
在初始化时或检测出所述并联传感器组中不存在损坏的传感器时，控制所述并联传感器组接入工作电路。
16.根据权利要求11所述的方法，其中，如果所述并联传感器组包括两组或两组以上，则按照所述方法对不同并联传感器组进行轮询检测，逐一将每个并联传感器组接入所述第一RC电路，以分别对每个并联传感器组进行是否存在传感器损坏的检测。
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