CN112683800A - 一种均相化学发光分析仪、芯片盒及其检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及化学发光免疫技术领域，提供一种均相化学发光分析仪、芯片盒及其检测方法，包括设置在同一直线上的芯片盒扫码模块、穿刺机构、检测机构；通过在同一直线上设置，可以进一步缩小整个分析仪的体积；所述芯片盒扫码模块用于对芯片盒进行扫描，以获取用户检测项目信息；所述检测机构为光子计数装置，用于对反应杯内发出的微弱光进行光子计数，以通过计数得到待测物的浓度值。所述穿刺机构用于刺穿所述芯片盒上的密封膜，以对所述芯片盒进行加样或取样。同时提供一种芯片盒，内部封装有反应溶液，并设置反应杯，以使得可以直接在芯片盒内完成反应；同时，还包括一种均相化学发光分析仪的检测方法的步骤流程。

Description

一种均相化学发光分析仪、芯片盒及其检测方法

技术领域

本申请涉及化学发光免疫技术领域，由其涉及一种均相化学发光分析仪。

背景技术

化学发光免疫分析技术是体外诊断领域中一项高灵敏度、高特异性的检测技术，它常常用来检测在人体血液内含量极低的肿瘤标志物、激素、维生素等物质。

化学发光免疫分析技术根据反应形态不同，又分为均相化学发光与非均相化学发光。目前市面上化学发光仪器多为非均相法，非均相法的缺点在于需要对反应体系进行分离，分离掉未进行结合的抗原物质。而均相化学发光技术则无需对反应体系进行分离，所有免疫反应都在溶液环境完成，操作简单，无需洗涤，定量的准确性提高，实验重复性好。

因此，如何提供一种小型化、单人份的均相化学发光分析仪，是目前亟需解决的问题。

发明内容

为解决现有技术中存在的问题，以提供一种小型化、单人份的均相化学发光分析仪。

本发明提供一种均相化学发光分析仪，包括：

设置在同一直线上的芯片盒扫码模块、穿刺机构、检测机构；

所述芯片盒扫码模块用于对芯片盒进行扫描，以获取用户检测项目信息；

所述检测机构为光子计数装置，用于对反应杯内发出的微弱光进行光子计数，以通过计数得到待测物的浓度值。

所述穿刺机构用于刺穿所述芯片盒上的密封膜，以对所述芯片盒进行加样或取样。

具体地，进样机构，与穿刺机构所在的直线平行设置；

所述加样机构包括样本架驱动电机模块，用于驱动样本架运动到取样位置，以便于对其进行取样。

具体地，所述进样机构还包括样本扫码模块，用于对样本上的识别码进行扫描识别，并反馈识别信息到控制端。

具体地，加样结构，设置在所述穿侧机构上方，与穿刺机构所在的直线垂直，用于对所述芯片盒进行加样或取样。

具体地，所述加样结构包括液面检测模块；

所述液面检测模块控制样本针运动到试管的指定位置和进入到试管的深度，用于对样本进行吸取。

具体地，所述加样结构还包括加样臂X轴驱动电机、加样臂Z轴驱动电机，用于驱动加样臂在水平和垂直方向的运动。

具体地，温控模块，与穿刺机构设置在同一直线上，以用于对所述芯片盒对试剂进行温育。

具体地，试剂盒驱动电机模块，与穿刺机构设置在同一直线上，用于驱动芯片盒的移动。

本发明提供一种应用于均相化学发光分析仪的芯片盒，包括

试剂杯、反应杯以及驱动沟；

所述试剂杯用于装载试剂溶液；

所述反应杯用作为样本和试剂的反应器皿；

所述驱动沟，用于被驱动机构驱动，以实现芯片盒的移动。

本发明提供一种均相化学发光分析仪的检测方法，步骤包括：

确认芯片盒和样本加就位，对其进行扫描确认，并将扫码信息反馈控制端；

将所述芯片盒运送至温育穿刺位进行温育，并同时进行刺位；

样本架驱动电机将样本架运动到取样位置，用于样本针取样；

将芯片盒运送至混匀结构，先后与第一试剂、第二试剂经过加样、温育和混匀动作。

依据设定反应时间，将芯片盒运送至到光学检测位置进行检测。

本发明提供一种均相化学发光分析仪、芯片盒及其检测方法，包括设置在同一直线上的芯片盒扫码模块、穿刺机构、检测机构；通过在同一直线上设置，可以进一步缩小整个分析仪的体积；所述芯片盒扫码模块用于对芯片盒进行扫描，以获取用户检测项目信息；所述检测机构为光子计数装置，用于对反应杯内发出的微弱光进行光子计数，以通过计数得到待测物的浓度值。所述穿刺机构用于刺穿所述芯片盒上的密封膜，以对所述芯片盒进行加样或取样。同时提供一种芯片盒，内部封装有反应溶液，并设置反应杯，以使得可以直接在芯片盒内完成反应；同时，还包括一种均相化学发光分析仪的检测方法的步骤流程。

附图说明

图1为一实施例提供的一种均相化学发光分析仪的整体结构示意图；

图2为一实施例提供的一种均相化学发光分析仪的进样机构结的结构示意图；

图3为一实施例提供的一种均相化学发光分析仪的芯片盒进料通道的结构示意图；

图4为一实施例提供的一种均相化学发光分析仪的加样机构的结构示意图；

图5为一实施例提供的一种均相化学发光分析仪芯片盒的结构示意图；

图6为一实施例提供的一种均相化学发光分析仪检测方法的线框图。

具体实施方式

为了使本发明内容的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明内容进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明内容，并不用于限定本发明内容。

在本发明内容的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明内容和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明内容的限制。

此外，在本发明内容的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”等应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通，可以是无线连接，也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明内容中的具体含义。

此外，后续所描述的本发明内容不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。

为了达到上述目的，本发明内容采用以下方案：

如图1和图3所示，芯片盒进料通道01，样本架单元02，加样臂单元03，控制电路板卡04、光子计数器11、丝杆电机12、扫码器13、试剂盒检测传感器14、金属槽15、上盖板16、驱动电机17、穿刺模组18、侧板19、穿刺电机10。

本发明提供一种均相化学发光分析仪，包括：

设置在同一直线上的芯片盒扫码模块13、穿刺机构18、检测机构；

所述芯片盒扫码模块用于对芯片盒进行扫描，以获取用户检测项目信息；

所述检测机构为光子计数装置，用于对反应杯内发出的微弱光进行光子计数，以通过计数得到待测物的浓度值。

所述穿刺机构用于刺穿所述芯片盒上的密封膜，以对所述芯片盒进行加样或取样。

提供一个实施例，一种均相化学发光分析仪，包括：设置在同一直线上的扫码器13、穿刺模组18、光子计数器11。

再提供一个实施例，芯片盒进料通道的结构包括光子计数器11、丝杆电机12、扫码器13、试剂盒检测传感器14、金属槽15、上盖板16、驱动电机17、穿刺模组18、侧板19、穿刺电机10。

技术效果说明：本发明提供一种均相化学发光分析仪、芯片盒及其检测方法，包括设置在同一直线上的芯片盒扫码模块、穿刺机构、检测机构；通过在同一直线上设置，可以进一步缩小整个分析仪的体积；所述芯片盒扫码模块用于对芯片盒进行扫描，以获取用户检测项目信息；所述检测机构为光子计数装置，用于对反应杯内发出的微弱光进行光子计数，以通过计数得到待测物的浓度值。所述穿刺机构用于刺穿所述芯片盒上的密封膜，以对所述芯片盒进行加样或取样。同时提供一种芯片盒，内部封装有反应溶液，并设置反应杯，以使得可以直接在芯片盒内完成反应；同时，还包括一种均相化学发光分析仪的检测方法的步骤流程。

具体地，进样机构，与穿刺机构所在的直线平行设置；

所述加样机构包括样本架驱动电机模块，用于驱动样本架运动到取样位置，以便于对其进行取样。

提供一个实施例，进样机构2包括连接板21、样本架22、试管23、试管检测传感器24、底座25、驱动电机26。

具体地，所述进样机构还包括样本扫码模块，用于对样本上的识别码进行扫描识别，并反馈识别信息到控制端。

提供一个实施例，加样机构3包括加样针31、液面检测模块32、清洗液预加热模块33、加样针Z轴电机34、软排线35、横梁36、加样针X轴电机37、支撑座38。

具体地，加样结构，设置在所述穿侧机构上方，与穿刺机构所在的直线垂直，用于对所述芯片盒进行加样或取样。

具体地，所述加样结构包括液面检测模块；

所述液面检测模块控制样本针运动到试管的指定位置和进入到试管的深度，用于对样本进行吸取。

具体地，所述加样结构还包括加样臂X轴驱动电机、加样臂Z轴驱动电机，用于驱动加样臂在水平和垂直方向的运动。

具体地，温控模块，与穿刺机构设置在同一直线上，以用于对所述芯片盒对试剂进行温育。

具体地，试剂盒驱动电机模块，与穿刺机构设置在同一直线上，用于驱动芯片盒的移动。

本发明提供一种应用于均相化学发光分析仪的芯片盒，包括

试剂杯、反应杯以及驱动沟；

所述试剂杯用于装载试剂溶液；

所述反应杯用作为样本和试剂的反应器皿；

所述驱动沟，用于被驱动机构驱动，以实现芯片盒的移动。

提供一个实施例，芯片盒包括试剂杯51、反应杯52、驱动沟53，驱动沟53包括一横板533、一竖板532、阶梯531；遮光内环55、遮光外环56，凹口54、平板57、一体支撑板59、加固装置58。

本发明提供一种均相化学发光分析仪的检测方法，步骤包括：

S1、确认芯片盒和样本架就位，对其进行扫描确认，并将扫码信息反馈控制端；

S2、将所述芯片盒运送至温育穿刺位进行温育，并同时进行刺位；

S3、样本架驱动电机将样本架运动到取样位置，用于样本针取样；

S4、将芯片盒运送至混匀结构，先后与第一试剂、第二试剂经过加样、温育和混匀动作。

S5、依据设定反应时间，将芯片盒运送至到光学检测位置进行检测。

以上仅是本发明内容的较佳实施例而已，并不用以限制本发明内容，凡在本发明内容的精神和原则之内所做的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明内容的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种均相化学发光分析仪，其特征在于，包括：

设置在同一直线上的芯片盒扫码模块、穿刺机构、检测机构；

所述芯片盒扫码模块用于对芯片盒进行扫描，以获取用户检测项目信息；

所述检测机构为光子计数装置，用于对反应杯内发出的微弱光进行光子计数，以通过计数得到待测物的浓度值。

所述穿刺机构用于刺穿所述芯片盒上的密封膜，以对所述芯片盒进行加样或取样。

2.如权利要求1所述的分析仪，其特征在于，包括：

进样机构，与穿刺机构所在的直线平行设置；

所述加样机构包括样本架驱动电机模块，用于驱动样本架运动到取样位置，以便于对其进行取样。

3.如权利要求2所述的分析仪，其特征在于，包括：

所述进样机构还包括样本扫码模块，用于对样本上的识别码进行扫描识别，并反馈识别信息到控制端。

4.如权利要求1所述的分析仪，其特征在于，包括：

加样结构，设置在所述穿侧机构上方，与穿刺机构所在的直线垂直，用于对所述芯片盒进行加样或取样。

5.如权利要求4所述的分析仪，其特征在于，包括：

所述加样结构包括液面检测模块；

所述液面检测模块控制样本针运动到试管的指定位置和进入到试管的深度，用于对样本进行吸取。

6.如权利要求4所述的分析仪，其特征在于，包括：

所述加样结构还包括加样臂X轴驱动电机、加样臂Z轴驱动电机，用于驱动加样臂在水平和垂直方向的运动。

7.如权利要求1所述的分析仪，其特征在于，包括：

温控模块，与穿刺机构设置在同一直线上，以用于对所述芯片盒对试剂进行温育。

8.如权利要求1所述的分析仪，其特征在于，包括：

试剂盒驱动电机模块，与穿刺机构设置在同一直线上，用于驱动芯片盒的移动。

9.一种应用于均相化学发光分析仪的芯片盒，其特征在于，包括

试剂杯、反应杯以及驱动沟；

所述试剂杯用于装载试剂溶液；

所述反应杯用作为样本和试剂的反应器皿；

所述驱动沟，用于被驱动机构驱动，以实现芯片盒的移动。

10.一种均相化学发光分析仪的检测方法，其特征在于，步骤包括：

确认芯片盒和样本架就位，对其进行扫描确认，并将扫码信息反馈控制端；

将所述芯片盒运送至温育穿刺位进行温育，并同时进行刺位；

样本架驱动电机将样本架运动到取样位置，用于样本针取样；

将芯片盒运送至混匀结构，先后与第一试剂、第二试剂经过加样、温育和混匀动作。

依据设定反应时间，将芯片盒运送至到光学检测位置进行检测。

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