CN112666733B - Lcd灰阶画面下线型缺陷检测方法、电子设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请是关于一种LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法。该方法包括：在灰阶画面下根据待测LCD图像得到目标检测图像；分别对目标检测图像进行根据N个检测角度的线型干扰滤波处理，得到N个空间滤波结果图，N为大于1的整数；分别对N个空间滤波结果图进行线型缺陷突显处理，得到N个第一滤波响应图；根据N个第一滤波响应图确定线型缺陷的位置。本申请提供的方案，能够提高LCD线型缺陷响应度，对于线型缺陷的适用性高，提升线型缺陷检测结果的准确性，提升LCD生产质量和生产效率。

Description

LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法、电子设备及存储介质

技术领域

本申请涉及屏幕检测技术领域，尤其涉及LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法、电子设备及存储介质。

背景技术

随着时代的发展，液晶显示屏在人们生活中的参与程度越来越高，作为人机交互的关键部件，液晶显示屏的显示质量直接影响着用户的体验感，为了提升液晶显示屏的质量，液晶显示屏的缺陷检测应运而生。传统的人眼检测方法是基于人眼视觉特性对屏幕的缺陷进行检测，此方法受人自身的主观感受以及所处的检测环境影响很大，难以客观地评判缺陷的存在与否，因此，需要研发一种具有客观评判标准的，符合应用实际的液晶显示屏自动检测***，来满足产品质量以及生产效率的要求。

在现有技术中，在公开号为CN103792699A的专利（基于B样条曲面拟合的TFT-LCDMura缺陷机器视觉检测方法）中，提出了一种LCD屏幕检测方法，通过CCD相机采集被点亮的待测LCD灰度图像，对原始图像滤波后提取感兴趣区域，采用双三次B样条曲面拟合的方法拟合出图像背景，用原始图像减去背景图像后得到消除亮度不均匀背景后的图像，利用Canny算子检测出Mura缺陷。

上述现有技术方案具有以下缺点：

使用原始图像减去拟合背景图像得出响应图的方法对原有图像质量要求高，线型缺陷响应度不高。因此需要研发一种无需拟合图像背景且针对线型缺陷响应度高的LCD高效检测方法。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本申请提供一种LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法，该LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法，能够提高LCD线型缺陷响应度，对于线型缺陷的适用性高，提升线型缺陷检测结果的准确性，提升LCD生产质量和生产效率。

本申请第一方面提供一种LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法，包括：

在灰阶画面下根据待测LCD图像得到目标检测图像；

分别对目标检测图像进行根据N个检测角度的线型干扰滤波处理，得到N个空间滤波结果图，N为大于1的整数；

分别对N个空间滤波结果图进行线型缺陷突显处理，得到N个第一滤波响应图；

线型缺陷突显处理，包括：控制第一线型滤波核与第二线型滤波核分别对空间滤波结果图进行线型空间滤波，得到第二滤波响应图与第三滤波响应图，将第三滤波响应图减去第二滤波响应图；

第一线型滤波核与第二线型滤波核为正方形滤波核，滤波参数的排布方向相同且垂直于空间滤波结果图的检测角度方向，第一线型滤波核的尺寸小于第二线型滤波核的尺寸，第一线型滤波核的第一滤波参数大于第二线型滤波核的第二滤波参数；

根据N个第一滤波响应图确定线型缺陷的位置。

在一种实施方式中，分别对目标检测图像进行根据N个检测角度的线型干扰滤波处理，包括：

当对目标检测图像进行第i个检测角度的检测时，控制与其余N-1个检测角度方向相同的线型滤波核对目标检测图像进行线型空间滤波，i为大于0的整数。

在一种实施方式中，根据N个第一滤波响应图确定线型缺陷位置，包括：

分别对N个第一滤波响应图进行根据N个检测角度的线型干扰滤波处理，得到N个目标响应图；

分别对N个目标响应图进行灰尘过滤。

在一种实施方式中，分别对N个目标响应图进行灰尘过滤，包括：

获取待测LCD实体图，通过阈值分割提取待测LCD实体图的灰尘信息，得到灰尘响应图；

将灰尘响应图分别与N个目标响应图对比，确定各个目标响应图的灰尘位置；

分别剔除各个目标响应图的灰尘位置，得到N个待分割响应图，待分割响应图为二值图。

在一种实施方式中，得到N个待分割响应图之后，包括：

获取N个待分割响应图中的响应区域轮廓的最小旋转外接矩形；

计算最小旋转外接矩形的响应区域宽高值以及最小旋转外接矩形的响应区域面积；

将响应区域宽高值以及响应区域面积与线型缺陷标准映射表对比，线型缺陷标准映射表为在各个目标检测图像的尺寸大小下，判定响应区域轮廓为线型缺陷的对应的响应区域宽高阈值以及响应区域面积阈值的集合；

根据对比结果确定线型缺陷的位置。

在一种实施方式中，在灰阶画面下根据待测LCD图像得到目标检测图像，包括：

若待测LCD图像为LCD主视图，则对待测LCD图像进行阈值分割，得到LCD区域；

若待测LCD图像为LCD斜视图，则将待测LCD图像仿射变换为LCD主视图之后，对待测LCD图像进行阈值分割，得到LCD区域。

在一种实施方式中，得到LCD区域之后，包括：

对LCD区域进行高斯金字塔降采样，得到M层降采样结果图，M为大于1的整数；

分别对M层降采样结果图计算海森矩阵，得到M个降采样响应图；

分别计算M个降采样响应图中的最大响应范围的面积，得到M个最大响应范围面积；

分别计算各个最大响应范围面积与LCD区域的面积的比值，选取比值最大的降采样响应图对应的降采样结果图为目标检测图像。

在一种实施方式中，选取比值最大的降采样响应图对应的降采样结果图为目标检测图像之后，包括：

通过闭操作将目标检测图像中的非目标检测对象进行连接之后，通过阈值分割将非目标检测对象剔除。

本申请第二方面提供一种电子设备，包括：

处理器；以及

存储器，其上存储有可执行代码，当可执行代码被处理器执行时，使处理器执行如上所述的方法。

本申请第三方面提供一种非暂时性机器可读存储介质，其上存储有可执行代码，当可执行代码被电子设备的处理器执行时，使处理器执行如上所述的方法。

本申请提供的技术方案可以包括以下有益效果：

通过在灰阶画面下根据待测LCD图像获取目标检测图像，分别根据多个检测角度对目标检测图像进行线型空间滤波，达到在当前检测角度下去除其他线型干扰的目的，根据所获得的与检测角度数量相同的空间滤波结果图，通过线型缺陷突显处理之后获得与空间滤波结果图数量相同的第一滤波响应图，线型缺陷突显处理即通过控制尺寸一大一小的滤波参数排布方向相同的与空间滤波结果图检测角度方向垂直的两个线型滤波核对空间滤波结果图进行进一步的空间滤波之后作差，请参阅图11，经过线型缺陷突显处理之后获得的滤波响应图中，线型缺陷所在位置的像素值明显高于周边区域，线型缺陷所在位置得到突显，因此能够根据获取的第一滤波响应图确定线型缺陷的位置。相对于现有技术，本申请技术方案在检测当前角度方向下的线型滤波时通过空间滤波排除其他角度方向的线型干扰，避免当前检测角度下的线型缺陷的检测受到干扰，通过线型缺陷突显处理提高线型缺陷的响应度，使线型缺陷所在位置在响应图中得到更明显的显示，提高线型缺陷的检测准确度，提升线型缺陷的检测效率，提升LCD生产质量和生产效率。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。

附图说明

通过结合附图对本申请示例性实施方式进行更详细的描述，本申请的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显，其中，在本申请示例性实施方式中，相同的参考标号通常代表相同部件。

图1是本申请实施例示出的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法实施例一的流程示意图；

图2是本申请实施例示出的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法实施例二的流程示意图；

图3是本申请实施例示出的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法实施例三的流程示意图；

图4是本申请实施例示出的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法实施例四的流程示意图；

图5为本申请实施例示出的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法中得到的空间滤波结果图中线型缺陷位置的像素值结果示例图；

图6为本申请实施例示出的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法中得到的空间滤波结果图的全局示例图；

图7为本申请实施例示出的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法中构建的第一线型滤波核示例图；

图8为本申请实施例示出的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法中构建的第二线型滤波核示例图；

图9为本申请实施例示出的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法中第二滤波响应图的示例图；

图10为本申请实施例示出的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法中第三滤波响应图的示例图；

图11为本申请实施例示出的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法中第一滤波响应图的示例图；

图12是本申请实施例示出的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本申请的优选实施方式。虽然附图中显示了本申请的优选实施方式，然而应该理解，可以以各种形式实现本申请而不应被这里阐述的实施方式所限制。相反，提供这些实施方式是为了使本申请更加透彻和完整，并且能够将本申请的范围完整地传达给本领域的技术人员。

在本申请使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本申请。在本申请和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

应当理解，尽管在本申请可能采用术语“第一”、“第二”、“第三”等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本申请范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

实施例一

随着时代的发展，液晶显示屏在人们生活中的参与程度越来越高，作为人机交互的关键部件，液晶显示屏的显示质量直接影响着用户的体验感，为了提升液晶显示屏的质量，液晶显示屏的缺陷检测应运而生。传统的人眼检测方法是基于人眼视觉特性对屏幕的缺陷进行检测，此方法受人自身的主观感受以及所处的检测环境影响很大，难以客观地评判缺陷的存在与否，因此，需要研发一种具有客观评判标准的，符合应用实际的液晶显示屏自动检测***，来满足产品质量以及生产效率的要求。在现有技术中，提出了一种LCD屏幕检测方法，通过CCD相机采集被点亮的待测LCD灰度图像，对原始图像滤波后提取感兴趣区域，采用双三次B样条曲面拟合的方法拟合出图像背景，用原始图像减去背景图像后得到消除亮度不均匀背景后的图像，利用Canny算子检测出Mura缺陷。但上述现有技术方案具有缺点，使用原始图像减去拟合背景图像得出响应图的方法对原有图像质量要求高，线型缺陷响应度不高。因此需要研发一种无需拟合图像背景且针对线型缺陷响应度高的LCD高效检测方法。

针对上述问题，本申请实施例提供一种LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法，能够提高LCD线型缺陷响应度，对于线型缺陷的适用性高，提升线型缺陷检测结果的准确性，提升LCD生产质量和生产效率。

以下结合附图详细描述本申请实施例的技术方案。

图1是本申请实施例示出的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法实施例一的流程示意图。

请参阅图1，本申请实施例中LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法实施例一包括：

101、在灰阶画面下根据待测LCD图像得到目标检测图像；

灰阶是指将最亮与最暗之间的亮度变化区分为若干份，以便于进行信号输入相对应的屏幕亮度管控。数字影像由若干像素组合而成，一个像素之所以可以呈现出许多不同的颜色，是因为像素是由红、绿和蓝三个子像素组成的，子像素背后的光源可以显现出不同的亮度级别，而灰阶则代表了由最暗到最亮之间不同亮度的层次级别。

灰阶画面是指单通道像素值范围为0-255的灰色图像，通常显示为从最暗黑色到最亮的白色的灰度变化。

在本申请实施例中，待测LCD图像采用工业相机进行拍摄，可以理解的是，在实际应用中，待测LCD图像的获取方式是多样的，采用工业相机拍摄获取仅为示例性的，不作为待测LCD图像获取方式的唯一限定。

目标检测图像是指根据获取到的待测LCD图像提取得到的用于线型缺陷检测的图像。

102、分别对目标检测图像进行根据N个检测角度的线型干扰滤波处理；

检测角度是指线型缺陷的检测角度，示例性的，假如检测角度为45度，则对角度方向为45度的线型缺陷进行检测。

示例性的，检测角度可以取4个，分别为45度、90度、135度以及180度，此时N的取值为4，可以理解的是，检测角度的取值方式是多样的，在实际应用中需根据实际应用情况进行取值，上述检测角度的取值方式仅为示例性的，不作唯一限定，N的取值根据检测角度的取值个数而定，取值范围为大于1的整数。

线型干扰滤波处理是指对目标检测图像进行线型空间滤波，线型空间滤波是指由一个线型邻域，即线型滤波核，对该线型邻域包围的图像像素执行滤波操作，其响应为该线型邻域的滤波系数与该线型邻域包围的图像像素的乘积之和，滤波操作之后产生一个新像素，新像素的坐标等于线型邻域中心的坐标，像素的值为响应的结果。

线型干扰滤波处理之后获得N个空间滤波结果图。

请参阅图5和图6，经过线型干扰滤波处理之后从图6的右下角可以看出一条白色的疑似线型缺陷，虽然其他线型干扰已被滤除，但此时的疑似线型缺陷并不明显。从图5也能看出与该疑似线型缺陷位置的对应地方，像素值大约为140左右，比其余背景位置的像素值（大约为135左右）要高，但差距也是不大，因此需要将所有的疑似线型缺陷做突显化处理。

103、分别对N个空间滤波结果图进行线型缺陷突显处理；

分别对N个空间滤波结果图再进行线型缺陷突显处理之后获得N个第一滤波响应图。

线型缺陷突显处理之前需要构建一大一小两个线型滤波核，第一线型滤波核与第二线型滤波核均为正方形滤波核，滤波参数的排布方向相同且垂直于空间滤波结果图的检测角度方向，第一线型滤波核的尺寸小于第二线型滤波核的尺寸，第一线型滤波核的第一滤波参数大于第二线型滤波核的第二滤波参数。

示例性的，请参阅图6、图7和图8，从图6中可以发现该疑似线型缺陷的角度方向基于水平面顺时针方向大约为135度，因此所构建的第一线型滤波核与第二线型滤波核的滤波参数的排布方向角度与疑似线型缺陷的角度方向垂直，即排布方向角度为基于水平线顺时针方向的45度。滤波参数的大小一般为大于0小于1的实数，可基于线型滤波核的尺寸数据确定，如图7所示的7×7线型滤波核，其滤波参数设置为边长像素数量的倒数，即1/7，如图8所示的21×21线型滤波核，其滤波参数设置为1/21，可以理解的是，在实际应用中，滤波参数需根据实际应用需求进行设置，滤波参数设置为边长像素数量的倒数仅为示例性的，不作唯一限定，但需要满足尺寸大的滤波核的滤波参数比尺寸小的滤波核的滤波参数小的要求。

线型缺陷突显处理是指控制第一线型滤波核与第二线型滤波核分别对空间滤波结果图进行线型空间滤波，得到第二滤波响应图与第三滤波响应图，将第三滤波响应图减去第二滤波响应图。

示例性的，请参阅图9、图10和图11，在图9和图10中，第二滤波响应图的疑似线型缺陷位置以外的背景像素值与第三滤波响应图的疑似线型缺陷位置以外的背景像素值非常接近，两响应图的背景像素值的差距绝对值绝大多数在1以内，而在疑似线型缺陷位置中的像素值的差距基本都在1以上，因此将第三滤波响应图减去第二滤波响应图可将背景像素值变更为接近0的值，在图像显示中，像素值为0或小于0即视为黑，因此图11的第一滤波响应图中，由于只有疑似线型缺陷的位置中的像素值不接近0且绝大多数大于1，因此只有疑似线型缺陷的位置有图像显示。

综上所述，经过线型缺陷突显处理能排除背景的干扰，疑似线型缺陷位置的响应得到强化，清晰显示疑似线型缺陷的位置。

104、根据N个第一滤波响应图确定线型缺陷的位置；

第一滤波响应图中虽能清晰显示疑似线型缺陷的位置，但当中可能会存在不足以视为线型缺陷的线型响应，或者由于获取待测LCD图像时，LCD表面存在灰尘，而这些灰尘也有可能被误认为线型缺陷而被检测出来，因此需要在N个第一滤波响应图中筛选确定出真正的线型缺陷。

从上述实施例一可以看出以下有益效果：

通过在灰阶画面下根据待测LCD图像获取目标检测图像，分别根据多个检测角度对目标检测图像进行线型空间滤波，达到在当前检测角度下去除其他线型干扰的目的，根据所获得的与检测角度数量相同的空间滤波结果图，通过线型缺陷突显处理之后获得与空间滤波结果图数量相同的第一滤波响应图，线型缺陷突显处理即通过控制尺寸一大一小的滤波参数排布方向相同的与空间滤波结果图检测角度方向垂直的两个线型滤波核对空间滤波结果图进行进一步的空间滤波之后作差，请参阅图11，经过线型缺陷突显处理之后获得的滤波响应图中，线型缺陷所在位置的像素值明显高于周边区域，线型缺陷所在位置得到突显，因此能够根据获取的第一滤波响应图确定线型缺陷的位置。相对于现有技术，本申请技术方案在检测当前角度方向下的线型滤波时通过空间滤波排除其他角度方向的线型干扰，避免当前检测角度下的线型缺陷的检测受到干扰，通过线型缺陷突显处理提高线型缺陷的响应度，使线型缺陷所在位置在响应图中得到更明显的显示，提高线型缺陷的检测准确度，提升线型缺陷的检测效率，提升LCD生产质量和生产效率。

实施例二

为了便于理解，以下提供了LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法的一个实施例进行说明，在实际应用中，线型干扰滤波处理时会避免将当前检测角度下的线型缺陷被滤除的情况，因此需要利用除当前检测角度以外的检测角度去构建线型滤波核，利用这些滤波核排除其他角度的线型干扰，避免其他角度的线型干扰对当前检测角度的线型缺陷的检测结果产生干扰而导致检测准确率降低的情况。

图2是本申请实施例示出的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法实施例二的流程示意图。

请参阅图2，本申请实施例中LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法实施例二包括：

201、确定当前检测角度，根据其余N-1个检测角度构建线型滤波核；

假设检测角度为45度、90度、135度以及180度，若确定当前的第i个检测角度为135度，则分别根据其余三个角度，即45度、90度和180度构建三个线型滤波核，使构建的线型滤波核的滤波参数的排布方向基于水平面顺时针方向与上述三个角度相等。可以理解的是，上述具体的角度数值均为示例性的，不作为唯一限定。

用于去除线型干扰的线型滤波核可选用尺寸小的线型滤波核，形状为正方形，达到更好的干扰去除效果，可以理解的是，可以设置为与上述第一线型滤波核相同的尺寸，也可以根据实际应用情况设置合适的尺寸，此处不作限定。

202、控制构建的线型滤波核进行线型空间滤波；

由于线型空间滤波的响应为该线型邻域的滤波系数与该线型邻域包围的图像像素的乘积之和，当线型干扰的角度方向与线型滤波核的滤波参数排布方向相同时，且当前线型滤波核尺寸较小，线型干扰处的各个像素值与滤波系数相乘后相加，所得响应的像素值会比原目标像素值要小，而且当线型滤波核经过线型干扰位置时，覆盖线型干扰的面积更多，因此可以说明当线型干扰的角度方向与线型滤波核的滤波参数排布方向相同时，对线型干扰处的像素值影响程度相较于当前检测角度下的线型缺陷处的像素值影响程度要大，因此能够利用与线型干扰相同角度的线型滤波核来滤除线型干扰。

从上述实施例二可以看出以下有益效果：

通过控制其余N-1个检测角度方向的线型滤波核对目标检测图像进行线型空间滤波，达到去除其他角度的线型干扰的效果。相对于现有技术，通过对其他角度线型干扰的排除，能够提升当前检测角度下的线型缺陷的检测准确度，利用线型滤波核对线型干扰更有针对性，滤波效果得到提升。

实施例三

为了便于理解，以下提供了LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法的一个实施例进行说明，在实际应用中，会对N个第一滤波响应图中的所有检测出来的线型缺陷进行进一步的筛选，排除待测LCD上的灰尘被误认为线型缺陷而被检测出来的情况以及剔除不符合线型缺陷标准的线型响应，达到提高线型缺陷检测精度的效果。

图3是本申请实施例示出的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法实施例三的流程示意图。

请参阅图3，本申请实施例中LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法实施例三包括：

301、分别对N个第一滤波响应图进行根据N个检测角度的线型干扰滤波处理；

对得到的第一滤波响应图执行步骤201至步骤202的操作，进一步滤除响应图中的线型干扰，得到N个目标响应图。

302、分别对N个目标响应图进行灰尘过滤；

获取待测LCD实体图，获取方式可以与待测LCD图像相同，实用工业相机进行拍摄，也可以根据实际应用情况选择适当的获取方式，此处不作限定。

通过阈值分割提取待测LCD实体图的灰尘信息，阈值分割是指按照灰度级选取一个或多个阈值来对像素集合进行一个划分，将图像像素点分为若干类。根据灰尘的像素点所在的阈值提取灰尘信息，得到灰尘响应图。

将灰尘响应图分别与N个目标响应图对比，根据对比结果确定各个目标响应图的灰尘位置。

分别剔除各个目标响应图的灰尘位置后得到N个待分割响应图，待分割响应图为二值图，此时待分割响应图上的每一个像素只有两种可能的取值或灰度等级状态，一种取值为图像的背景部分，一种取值为包含了达到线型缺陷标准以及未达到线型缺陷标准的线型响应。

303、确定线型缺陷的位置；

获取N个待分割响应图中的响应区域轮廓的最小旋转外接矩形，计算最小旋转外接矩形的响应区域宽高值以及最小旋转外接矩形的响应区域面积。

将响应区域宽高值以及响应区域面积与线型缺陷标准映射表对比，缺陷标准映射表为在各个目标检测图像的尺寸大小下，判定响应区域轮廓为线型缺陷的对应的响应区域宽高阈值以及响应区域面积阈值的集合，示例性的，线型缺陷标准映射表如以下表格所示：

可以理解的是，以上线型缺陷标准映射表中的尺寸以及阈值为示例性的，在实际应用中，尺寸数据以及尺寸类别数量可根据实际应用情况进行设置，同样的对应目标检测图像尺寸的响应区域宽高阈值以及响应区域面积阈值也可根据实际应用情况进行设置，此处不作限定。

根据对比结果判断各个疑似线型缺陷是否达到能够判断为线型缺陷的标准，排除达不到标准的疑似线型缺陷，将疑似线型缺陷确定为线型缺陷。

从上述实施例三可以看出以下有益效果：

通过对N个第一滤波响应图分别进行线型干扰滤波处理、灰尘过滤处理以及线型缺陷标准判定处理，最终确定线型缺陷。相对于现有技术，对N个第一滤波响应图分别进行线型干扰滤波处理进一步滤除获得第一滤波响应图时产生的与线型缺陷同方向的线型干扰，灰尘过滤处理去除客观存在于待检LCD屏幕上的灰尘干扰，线型缺陷标准判定处理去除不足以判断为线型缺陷的线性响应，三种处理的结合提升了线型缺陷检测精度，降低线型缺陷的检测错误率，避免需要重复检验的情况发生，提高线型缺陷检测效率。

实施例四

为了便于理解，以下提供了LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法的一个实施例进行说明，在实际应用中，根据待测LCD图像得到目标检测图像需在灰阶画面下进行阈值分割及高斯金字塔降采样等处理，以保证目标检测图像的质量。

图4是本申请实施例示出的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法实施例四的流程示意图。

请参阅图4，本申请实施例中LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法实施例四包括：

401、获取LCD区域；

获取待测LCD图像，默认读取单通道像素值范围为0-255的灰色图像，若待测LCD图像为LCD主视图，则对待测LCD图像进行阈值分割，得到LCD区域；若待测LCD图像为LCD斜视图，则将待测LCD图像仿射变换为LCD主视图之后，对待测LCD图像进行阈值分割，得到LCD区域。仿射变换是指在几何中，一个向量空间进行一次线性变换并进行一次平移后变换为另一个向量空间。

402、对LCD区域进行高斯金字塔降采样；

高斯金字塔降采样是一种多速率数字信号处理的技术或是降低信号采样率的过程，通常用于降低数据传输速率或者数据大小。

对LCD区域进行高斯金字塔降采样之后得到M层降采样结果图，M为大于1的整数。

403、获取降采样响应图；

分别对M层降采样结果图计算海森矩阵，得到M个降采样响应图。

海森矩阵是一个多元函数的二阶偏导数构成的方阵，描述了函数的局部曲率，常用于牛顿法解决优化问题，利用海森矩阵可判定多元函数的极值问题。在工程实际问题的优化设计中，所列的目标函数往往很复杂，为了使问题简化，常常将目标函数在某点邻域展开成泰勒多项式来逼近原函数，此时函数在某点泰勒展开式的矩阵形式中会涉及到海森矩阵。

404、确定目标检测图像；

分别计算M个降采样响应图中的最大响应范围的面积，得到M个最大响应范围面积，分别计算各个最大响应范围面积与LCD区域的面积的比值，选取比值最大的降采样响应图对应的降采样结果图为目标检测图像。

405、剔除目标检测图像中的非目标检测对象；

通过闭操作将目标检测图像中的非目标检测对象进行连接之后，通过阈值分割将非目标检测对象剔除。

从上述实施例四可以看出以下有益效果：

通过在灰阶画面下对待测LCD图像进行阈值分割及高斯金字塔降采样等预处理操作，提取出目标检测图像，用于后续的线型缺陷检测。相对于现有技术，本申请实施例采用高斯金字塔降采样的方法选取合适的目标检测图像，对于目标检测图像的选用要求更高，保障目标检测图像的质量，为提升线型缺陷检测准确度打好基础。

实施例五

与前述应用功能实现方法实施例相对应，本申请还提供了一种执行LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法的电子设备及相应的实施例。

图12是本申请实施例示出的电子设备的结构示意图。

参见图12，电子设备1000包括存储器1010和处理器1020。

处理器1020可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器 (Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列 (Field-Programmable Gate Array，FPGA) 或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。

存储器1010可以包括各种类型的存储单元，例如***内存、只读存储器（ROM），和永久存储装置。其中，ROM可以存储处理器1020或者计算机的其他模块需要的静态数据或者指令。永久存储装置可以是可读写的存储装置。永久存储装置可以是即使计算机断电后也不会失去存储的指令和数据的非易失性存储设备。在一些实施方式中，永久性存储装置采用大容量存储装置（例如磁或光盘、闪存）作为永久存储装置。另外一些实施方式中，永久性存储装置可以是可移除的存储设备（例如软盘、光驱）。***内存可以是可读写存储设备或者易失性可读写存储设备，例如动态随机访问内存。***内存可以存储一些或者所有处理器在运行时需要的指令和数据。此外，存储器1010可以包括任意计算机可读存储媒介的组合，包括各种类型的半导体存储芯片（DRAM，SRAM，SDRAM，闪存，可编程只读存储器），磁盘和/或光盘也可以采用。在一些实施方式中，存储器1010可以包括可读和/或写的可移除的存储设备，例如激光唱片（CD）、只读数字多功能光盘（例如DVD-ROM，双层DVD-ROM）、只读蓝光光盘、超密度光盘、闪存卡（例如SD卡、min SD卡、Micro-SD卡等等）、磁性软盘等等。计算机可读存储媒介不包含载波和通过无线或有线传输的瞬间电子信号。

存储器1010上存储有可执行代码，当可执行代码被处理器1020处理时，可以使处理器1020执行上文述及的方法中的部分或全部。

上文中已经参考附图详细描述了本申请的方案。在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详细描述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。本领域技术人员也应该知悉，说明书中所涉及的动作和模块并不一定是本申请所必须的。另外，可以理解，本申请实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减， 本申请实施例装置中的模块可以根据实际需要进行合并、划分和删减。

此外，根据本申请的方法还可以实现为一种计算机程序或计算机程序产品，该计算机程序或计算机程序产品包括用于执行本申请的上述方法中部分或全部步骤的计算机程序代码指令。

或者，本申请还可以实施为一种非暂时性机器可读存储介质（或计算机可读存储介质、或机器可读存储介质），其上存储有可执行代码（或计算机程序、或计算机指令代码），当所述可执行代码（或计算机程序、或计算机指令代码）被电子设备（或电子设备、服务器等）的处理器执行时，使所述处理器执行根据本申请的上述方法的各个步骤的部分或全部。

本领域技术人员还将明白的是，结合这里的申请所描述的各种示例性逻辑块、模块、电路和算法步骤可以被实现为电子硬件、计算机软件或两者的组合。

附图中的流程图和框图显示了根据本申请的多个实施例的***和方法的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标记的功能也可以以不同于附图中所标记的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的***来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

以上已经描述了本申请的各实施例，上述说明是示例性的，并非穷尽性的，并且也不限于所披露的各实施例。在不偏离所说明的各实施例的范围和精神的情况下，对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。本文中所用术语的选择，旨在最好地解释各实施例的原理、实际应用或对市场中的技术的改进，或者使本技术领域的其它普通技术人员能理解本文披露的各实施例。

Claims (8)

1.一种LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法，其特征在于，包括：

在灰阶画面下根据待测LCD图像得到目标检测图像；

分别对所述目标检测图像进行根据N个检测角度的线型干扰滤波处理，得到N个空间滤波结果图，所述N为大于1的整数；

分别对所述N个空间滤波结果图进行线型缺陷突显处理，得到N个第一滤波响应图；

所述线型缺陷突显处理，包括：控制第一线型滤波核与第二线型滤波核分别对所述空间滤波结果图进行线型空间滤波，得到第二滤波响应图与第三滤波响应图，将所述第三滤波响应图减去所述第二滤波响应图；

所述第一线型滤波核与所述第二线型滤波核为正方形滤波核，滤波参数的排布方向相同且垂直于所述空间滤波结果图的检测角度方向，所述第一线型滤波核的尺寸小于所述第二线型滤波核的尺寸，所述第一线型滤波核的第一滤波参数大于所述第二线型滤波核的第二滤波参数；

根据所述N个第一滤波响应图确定线型缺陷的位置；

所述根据所述N个第一滤波响应图确定线型缺陷的位置，包括：

分别对所述N个第一滤波响应图进行根据N个检测角度的所述线型干扰滤波处理，得到N个目标响应图；

分别对所述N个目标响应图进行灰尘过滤；

所述分别对所述N个目标响应图进行灰尘过滤，包括：

获取待测LCD实体图，通过阈值分割提取所述待测LCD实体图的灰尘信息，得到灰尘响应图；

将所述灰尘响应图分别与所述N个目标响应图对比，确定各个目标响应图的灰尘位置；

分别剔除所述各个目标响应图的所述灰尘位置，得到N个待分割响应图，所述待分割响应图为二值图。

2.根据权利要求1所述的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法，其特征在于，

所述分别对所述目标检测图像进行根据N个检测角度的线型干扰滤波处理，包括：

当对所述目标检测图像进行第i个检测角度的检测时，控制与其余N-1个检测角度方向相同的线型滤波核对所述目标检测图像进行所述线型空间滤波，所述i为大于0的整数。

3.根据权利要求1所述的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法，其特征在于，

所述得到N个待分割响应图之后，包括：

获取所述N个待分割响应图中的响应区域轮廓的最小旋转外接矩形；

计算所述最小旋转外接矩形的响应区域宽高值以及所述最小旋转外接矩形的响应区域面积；

将所述响应区域宽高值以及所述响应区域面积与线型缺陷标准映射表对比，所述线型缺陷标准映射表为在各个所述目标检测图像的尺寸大小下，判定所述响应区域轮廓为所述线型缺陷的对应的响应区域宽高阈值以及响应区域面积阈值的集合；

根据对比结果确定所述线型缺陷的位置。

4.根据权利要求1所述的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法，其特征在于，

所述在灰阶画面下根据待测LCD图像得到目标检测图像，包括：

若所述待测LCD图像为LCD主视图，则对所述待测LCD图像进行阈值分割，得到LCD区域；

若所述待测LCD图像为LCD斜视图，则将所述待测LCD图像仿射变换为所述LCD主视图之后，对所述待测LCD图像进行阈值分割，得到所述LCD区域。

5.根据权利要求4所述的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法，其特征在于，

所述得到LCD区域之后，包括：

对所述LCD区域进行高斯金字塔降采样，得到M层降采样结果图，所述M为大于1的整数；

分别对所述M层降采样结果图计算海森矩阵，得到M个降采样响应图；

分别计算所述M个降采样响应图中的最大响应范围的面积，得到M个最大响应范围面积；

分别计算各个最大响应范围面积与所述LCD区域的面积的比值，选取比值最大的降采样响应图对应的降采样结果图为所述目标检测图像。

6.根据权利要求5所述的LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法，其特征在于，

所述选取比值最大的降采样响应图对应的降采样结果图为所述目标检测图像之后，包括：

通过闭操作将所述目标检测图像中的非目标检测对象进行连接之后，通过阈值分割将所述非目标检测对象剔除。

7.一种电子设备，其特征在于，包括：

处理器；以及

存储器，其上存储有可执行代码，当所述可执行代码被所述处理器执行时，使所述处理器执行如权利要求1-6中任一项所述的方法。

8.一种非暂时性机器可读存储介质，其上存储有可执行代码，当所述可执行代码被电子设备的处理器执行时，使所述处理器执行如权利要求1-6中任一项所述的方法。

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