CN112665827A - 一种mt-fa产品的测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种MT‑FA产品的测试方法,包括以下步骤:1)将将PD探头与功率计连接,光源、摇偏仪和光开关依次连接,MT‑FA产品的装夹夹具设置在PD探头前方;2)将MT测试头置入到PD探头的测试位置内,利用PD探头对MT测试头做归零处理;3)取出MT测试头,将MT测试头对接待测试MT‑FA产品中MT接头;4)将待测试MT‑FA产品置入装夹夹具中,待测试MT‑FA产品中FA光纤阵列朝向PD探头;5)移动夹具,使得夹具带动待测试产品MT‑FA产品中FA光纤阵列置入到PD探头的测试位置;6)打开光开关,PD探头接受光信号,然后测试MT‑FA产品损耗。与现有技术相比,该检测方法将MT‑FA产品装夹在夹具上,再由夹具带动MT‑FA产品移动至PD探头测试位置进行检测,提高测试效率,测试后产品外观没有损伤。
Description
技术领域
本发明涉及光学模块线缆产品领域,特别是一种MT-FA产品的测试方法。
背景技术
MT-FA是并行光模块最核心的光器件,通过将光纤阵列研磨成45°反射镜实现光信号的90°转角,因体积小,可靠性高,可实现高密度大通道,并能在宽温度环境下稳定工作等特点,被应用于各种并行光传输领域,如:QSFP、AOC、HDMI等多种产品。MT是指多芯插芯连接头,FA是指光纤阵列的光器件。
现有对MT-FA产品的测试方法是把MT-FA产品中的FA插到PD探头的插头上,插头是塑胶材质,***和取出不方便,容易造成光纤阵列(FA)表面划伤。PD是指光功率计测试探头。
发明内容
针对上述问题,本发明提供了一种MT-FA产品的测试方法,对MT-FA产品进行测试,效率提高,并且避免MT-FA产品外观出现损伤。
本发明采用的技术方案为:
一种MT-FA产品的测试方法,包括以下步骤:
1)将PD探头与功率计连接,光源、摇偏仪和光开关依次连接, MT-FA产品的装夹夹具设置在PD探头前方;
2)将MT测试头置入到PD探头的测试位置内,利用PD探头对MT测试头做归零处理;
3)取出MT测试头,将MT测试头对接待测试MT-FA产品中MT接头;
4)将待测试MT-FA产品置入装夹夹具中,待测试MT-FA产品中FA光纤阵列朝向PD探头;
5)移动夹具,使得夹具带动待测试产品MT-FA产品中FA光纤阵列置入到PD探头的测试位置;
6)打开光开关,PD探头接受光信号,然后测试MT-FA产品损耗。
优选地,步骤1)中装夹夹具包括基座以及在基座上滑动的滑块,基座上设有用于供滑块滑动的滑轨,滑块上设有用于安放MT-FA产品的安放槽,基座设置在PD探头的表面,PD探头上设有***槽。
优选地,步骤5)中沿滑轨移动滑块,滑块移动至滑轨一端时,滑块上待测试产品MT-FA产品中FA光纤阵列置入PD探头的***槽内。
优选地,步骤5)中所述滑块铰接有用于固定安放槽内MT-FA产品的定位板。
与现有技术相比,本发明的有益效果在于:本发明提供一种MT-FA产品检测方法,将MT-FA产品装夹在夹具上,再由夹具带动MT-FA产品移动至PD探头测试位置进行检测,可以提高测试效率,并且测试后的产品FA光纤阵列的外观没有损伤。
附图说明
图1,为本发明提供的一种MT-FA产品的测试方法中MT-FA产品进行测试的示意图;
图2,为本发明提供的一种MT-FA产品的测试方法中对MT测试头归零的原理示意图;
图3,为本发明提供的一种MT-FA产品的测试方法中对MT-FA产品测试的原理示意图。
具体实施方式
根据附图对本发明提供的优选实施方式做具体说明。
图1,为本发明提供的一种MT-FA产品的测试方法中MT-FA产品进行测试的示意图。该MT-FA产品的测试方法,具体包括以下步骤:
1)将PD探头10与功率计60连接,光源30、摇偏仪50和光开关40依次连接,装夹夹具20设置在PD探头前方;
2)将MT测试头200置入到PD探头10的测试位置内,利用PD探头10对MT测试头做归零处理,如图2所示;
3)取出MT测试头200,将MT测试头200对接待测试MT-FA产品100中MT接头101;
4)将待测试MT-FA产品100置入装夹夹具20中,待测试MT-FA产品100中FA光纤阵列102朝向PD探头;
5)移动装夹夹具20,使得夹具上待测试产品MT-FA产品100中FA光纤阵列102置入到PD探头10的测试位置,如图3所示;
6)打开光开关,PD探头10接受光信号,然后测试MT-FA产品损耗。
步骤1)中装夹夹具20包括基座21以及在基座上滑动的滑块22,基座21上设有用于供滑块滑动的滑轨211,滑块22上设有用于安放MT-FA产品的安放槽221,基座21设置在PD探头10的表面,PD探头10上设有***槽。
步骤5)中沿滑轨移动滑块,滑块移动至滑轨一端时,滑块带动待测试产品MT-FA产品中FA光纤阵列置入PD探头的***槽内。
步骤5)中所述滑块22铰接有用于固定安放槽内MT-FA产品的定位板222,由于MT-FA产品形状的不规则形,可利用定位板222对安放槽221内MT-FA产品进行定位,避免在进行检测过程中出现移位现象。
综上所述,本发明的技术方案可以充分有效的实现上述发明目的,且本发明的结构及功能原理都已经在实施例中得到充分的验证,能达到预期的功效及目的,在不背离本发明的原理和实质的前提下,可以对发明的实施例做出多种变更或修改。因此,本发明包括一切在专利申请范围中所提到范围内的所有替换内容,任何在本发明申请专利范围内所作的等效变化,皆属本案申请的专利范围之内。
Claims (4)
1.一种MT-FA产品的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)将PD探头与功率计连接,光源、摇偏仪和光开关依次连接, MT-FA产品的装夹夹具设置在PD探头前方;
2)将MT测试头置入到PD探头的测试位置内,利用PD探头对MT测试头做归零处理;
3)取出MT测试头,将MT测试头对接待测试MT-FA产品中MT接头;
4)将待测试MT-FA产品置入装夹夹具中,待测试MT-FA产品中FA光纤阵列朝向PD探头;
5)移动夹具,使得夹具带动待测试产品MT-FA产品中FA光纤阵列置入到PD探头的测试位置;
6)打开光开关,PD探头接受光信号,然后测试MT-FA产品损耗。
2.根据权利要求1所述的MT-FA产品的测试方法,其特征在于:步骤1)中装夹夹具包括基座以及在基座上滑动的滑块,基座上设有用于供滑块滑动的滑轨,滑块上设有用于安放MT-FA产品的安放槽,基座设置在PD探头的表面,PD探头上设有***槽。
3.根据权利要求2所述的MT-FA产品的测试方法,其特征在于:步骤5)中沿滑轨移动滑块,滑块移动至滑轨一端时,滑块带动待测试产品MT-FA产品中FA光纤阵列置入PD探头的***槽内。
4.根据权利要求2所述的MT-FA产品的测试方法,其特征在于:步骤5)中所述滑块铰接有用于固定安放槽内MT-FA产品的定位板。
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