CN112599058A - 一种显示面板、显示装置和显示面板的修护方法 - Google Patents
一种显示面板、显示装置和显示面板的修护方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN112599058A CN112599058A CN202011525696.1A CN202011525696A CN112599058A CN 112599058 A CN112599058 A CN 112599058A CN 202011525696 A CN202011525696 A CN 202011525696A CN 112599058 A CN112599058 A CN 112599058A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- fan
- metal layer
- line
- display panel
- node
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
Abstract
本发明公开了一种显示面板、显示装置和显示面板的修护方法,扇出区设置有多条第一扇出线;第一扇出线的第一端与显示区的至少一条信号线电连接;第一扇出线的第二端与绑定区的绑定焊盘电连接;扇出区还设置有检测电路;检测电路的输出端与第一扇出线电连接;检测电路用于在显示面板绑定驱动芯片前,通过第一扇出线向显示区的子像素输入测试信号;扇出区还包括多条第二扇出线;第二扇出线与第一扇出线并联连接;第二扇出线的第一端与第一扇出线的连接点为第一节点;第二扇出线的第二端与第一扇出线的连接点为第二节点;第一节点位于检测电路与显示区之间;第二节点位于绑定区与显示区之间,提高显示面板的良品率。
Description
技术领域
本发明涉及显示面板技术领域,尤其涉及一种显示面板、显示装置和显示面板的修护方法。
背景技术
在现有的显示面板中,为提高显示面板的良品率,防止不良产品流入客户端,一般在显示面板绑定驱动芯片之前对显示面板进行点灯检查,通过输入各种模拟信号,检查显示面板显示方面的功能缺陷。为提升检测速率,一般采用检测电路对显示面板进行点灯测试。其中,显示面板中的检测电路通过扇出线向显示区的子像素输入测试信号。
当检测电路的信号端口或者驱动芯片的信号端口处于裸露状态时,处于裸露状态的信号端口容易引入静电至检测电路,信号端口引入的静电会造成检测电路的击伤,进而使得与检测电路电连接的信号线短路,当显示面板的信号线与驱动芯片进行绑定进行显示驱动时,影响显示面板的显示。
发明内容
本发明实施例提供一种显示面板、显示装置和显示面板的修护方法,以降低检测电路发生静电击穿造成信号线短路的风险,保证显示面板的显示效果。
第一方面,本发明实施例提供了一种显示面板,包括:包括显示区和非显示区;所述非显示区包括扇出区和绑定区;所述扇出区位于所述显示区与所述绑定区之间;
所述扇出区设置有多条第一扇出线;所述第一扇出线的第一端与显示区的至少一条信号线电连接;所述第一扇出线的第二端与所述绑定区的绑定焊盘电连接;
所述扇出区还设置有检测电路;所述检测电路的输出端与所述第一扇出线电连接;所述检测电路用于在所述显示面板绑定驱动芯片前,通过所述第一扇出线向所述显示区的子像素输入测试信号;
所述扇出区还包括多条第二扇出线;所述第二扇出线与所述第一扇出线并联连接;所述第二扇出线的第一端与所述第一扇出线的连接点为第一节点;所述第二扇出线的第二端与所述第一扇出线的连接点为第二节点;所述第一节点位于所述检测电路与所述显示区之间;所述第二节点位于所述绑定区与所述显示区之间。
第二方面,本发明实施例提供一种显示装置,包括第一方面任一项所述的显示面板。
第三方面,本发明实施例提供一种显示面板的修护方法,应用于第一方面任一项所述的显示面板,该方法包括:
根据显示画面确定检测电路故障位置处的输出端对应连接的第一扇出线,其中所述检测电路故障位置处的输出端对应连接的第一扇出线为待切断扇出线;
将第一节点和第三节点之间的待切断扇出线断开以及将第二节点和第三节点之间的待切断扇出线断开;其中,所述第一节点为所述待切断扇出线与第二扇出线的连接点,所述第二节点为所述待切割扇出线与第二扇出线的连接点,所述第三节点为所述检测电路故障位置处的输出端与所述待切断扇出线的连接点;
通过与待切断扇出线对应连接的所述第二扇出线向所述显示区的子像素输入显示信号。
本发明实施例的提供的显示面板、显示装置和显示面板的修护方法,通过在显示面板的扇出区设置多条第一扇出线和多条第二扇出线,且第一扇出线与第二扇出线并联连接,其中第二扇出线的第一端与第一扇出线的连接点第一节点位于检测电路与显示区之间,第二扇出线的第二端与第一扇出线的连接点第二节点位于绑定区与显示区之间,当显示面板中裸露的信号端子引入静电信号造成检测电路静电击穿进而使得与检测电路输出端电连接的第一扇出线发生短路时,通过将第一扇出线与检测电路之间的通路切断,采用第二扇出线向显示区的子像素传输信号,降低因检测电路发生静电击穿使得与检测电路电连接的第一扇出线因发生短路而无法向显示区的子像素传递信号,进而影响显示面板的显示效果,保证了显示面板的良品率。
附图说明
图1是本发明实施例提供的现有技术中显示面板的结构示意图;
图2是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图;
图3是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图;
图4是图3提供的显示面板沿AA’的剖面结构示意图;
图5是本发明实施例提供的另一种显示面板的剖面结构示意图;
图6是本发明实施例提供的又一种显示面板的剖面结构示意图;
图7是本发明实施例提供的又一种显示面板的剖面结构示意图;
图8是本发明实施例提供的一种显示面板的局部结构示意图;
图9是本发明实施例提供的一种显示面板的局部结构示意图;
图10是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图;
图11是本发明实施例提供的一种显示面板的修护方法的流程示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明,而非对本发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
图1是本发明实施例提供的现有技术中显示面板的结构示意图,如图1所示,显示面板包括显示区100'和非显示区200',非显示区200'包括扇出区10'和绑定区20',扇出区10'位于显示区100'与绑定区20'之间。扇出区10'设置有多条扇出线30',扇出线30'的第一端与显示区100'的至少一条信号线40'电连接,扇出线30'的第二端与绑定区20'的绑定焊盘50'电连接。扇出区10'还设置有检测电路60',检测电路60'的输出端与扇出线30'电连接,检测电路60'用于在显示面板绑定驱动芯片70'前,通过扇出线30'向显示区100'的子像素输入测试信号。如图1所示,在显示面板绑定驱动芯片70'之前,检测电路60'根据接收的模拟信号通过扇出线30'向显示区100'的子像素输入测试信号,进而实现显示面板的点灯测试。一方面,显示面板中的测试信号输入端子外露,当通过测试信号输入端子将测试信号输入至检测电路60'进行显示面板的点灯测试时,容易将静电导入检测电路60',使得检测电路60'发生静电击穿进而造成连接检测电路的扇出线发生短路,在后续显示面板与驱动芯片绑定进行显示时,影响信号线向显示区的子像素传输信号。另一方面,在驱动芯片未与显示面板的信号线绑定之前,驱动芯片的信号输出端处于裸露状态,处于裸露状态的信号输出端口容易引入静电,当显示面板的信号线与驱动芯片进行绑定后,驱动芯片的信号输出端口引入的静电也会造成检测电路的击伤,进而造成信号线的短路,影响显示面板的显示效果。
为解决上述问题,图2是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图,如图2所示,显示面板包括显示区100和非显示区200,非显示区200包括扇出区10和绑定区20,扇出区10位于显示区100与绑定区20之间,扇出区10设置有多条第一扇出线30,第一扇出线30的第一端与显示区100的至少一条信号线40电连接,第一扇出线30的第二端与绑定区20的绑定焊盘50电连接。扇出区10还设置有检测电路60,检测电路60的输出端与第一扇出线30电连接,检测电路60用于在显示面板绑定驱动芯片70前,通过第一扇出线30向显示区100的子像素101输入测试信号。扇出区10还包括多条第二扇出线80(图2示例性以加粗实线表示),第二扇出线80与第一扇出线30并联连接,第二扇出线80的第一端与第一扇出线30的连接点为第一节点A1,第二扇出线80的第二端与第一扇出线30的连接点为第二节点A2,第一节点A1位于检测电路60与显示区100之间,第二节点A2位于绑定区20与显示区100之间。
示例性的,如图2所示,通过在显示面板的扇出区10设置多条第一扇出线30和多条第二扇出线80,第一扇出线30的第一端与显示区100的至少一条信号线40电连接,第一扇出线30的第二端与绑定区20的绑定焊盘50电连接,第一扇出线30与第二扇出线80并联连接,当显示面板中裸露的信号端子引入静电信号造成检测电路60静电击穿进而使得与检测电路60的输出端电连接的第一扇出线30发生短路故障时,通过第二扇出线80向显示区100的子像素101传输信号,避免因检测电路60发生静电击穿造成第一扇出线30短路进而使得第一扇出线30无法向显示区100的子像素101传输信号影响显示面板的显示,保证了显示面板的良品率。
结合图2,设置第二扇出线80与第一扇出线30并联连接,当显示面板通过检测电路60完成显示面板与驱动芯片70绑定前的点灯测试后,根据点灯测试的测试结果可以确定发生静电击穿位置处的检测电路60所连接的第一扇出线30,通过将第一扇出线30与检测电路60之间的通路切断,采用第二扇出线80进行向显示区100的子像素101传输信号,保证了显示面板的显示效果,提高了显示面板的良品率。而设置第二扇出线80的第一端与第一扇出线30的连接点第一节点A1位于检测电路60与显示区100之间,第二扇出线80的第二端与第一扇出线30的连接点第二节点A2位于绑定区20与显示区100之间,保证当切断第一扇出线30与检测电路之60间的通路时,驱动芯片70输出的信号通过第二扇出线80传输至显示区100的子像素101,实现显示面板的显示。
示例性的,图2中第一扇出线30和第二扇出线80为绑定区20与显示区100之间的线段,且以检测电路60为界,部分扇出线位于检测电路60与显示区100之间,部分扇出线位于检测电路60与绑定区20之间,在检测电路60绑定驱动芯片70之前,检测电路60通过检测电路与显示区之间的扇出线30向显示区100的子像素101输入测试信号。当显示面板完成显示测试后,通过绑定区与显示区之间扇出线传输信号实现显示面板的显示。
需要说明的是,图2示例性表示扇出区10设置的多条第一扇出线30和多条第二扇出线80与显示区100的至少一条信号线40电连接,在其他可实施例方式中,可以通过在显示面板的扇出区10和显示区100设置数据选择电路,此时扇出区10设置的多条第一扇出线30和多条第二扇出线80通过与数据选择电路的信号输入端电连接,进而通过数据选择电路输出信号至显示区的子像素。
进一步的,图2中示例性表示第二扇出线80的第二端与通过与第一扇出线30电连接后与绑定焊盘50电连接,在其它可实施方式中,也可以将第二扇出线80的第二端直接与绑定焊盘50电连接,本发明实施例不对第二扇出线80的具体连接方式进行限定。
本发明实施例的提供的显示面板,通过在显示面板的扇出区设置多条第一扇出线和多条第二扇出线,且第一扇出线与第二扇出线并联连接,其中第二扇出线的第一端与第一扇出线的连接点第一节点位于检测电路与显示区之间,第二扇出线的第二端与第一扇出线的连接点第二节点位于绑定区与显示区之间,当显示面板中裸露的信号端子引入静电信号造成检测电路静电击穿进而使得与检测电路的输出端电连接的第一扇出线发生短路时,通过将第一扇出线与检测电路之间的通路切断,采用第二扇出线向显示区的子像素传输信号,降低因检测电路发生静电击穿使得与检测电路电连接的第一扇出线因发生短路而无法向显示区的子像素传递信号,进而影响显示面板的显示效果,保证了显示面板的良品率。
可选的,在上述实施例的基础上,图3是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图,图4是图3提供的显示面板沿AA’的剖面结构示意图,如图3和图4所示,显示面板至少包括栅极金属层12、位于栅极金属层12背离衬底基板11一侧的源漏极金属层13、以及位于源漏极金属层13背离衬底基板11一侧的第一金属层14。检测电路60包括多个开关晶体管T1,开关晶体管T1的栅极21位于栅极金属层12,开关晶体管T1的源极22和漏极23位于源漏极金属层13,第一扇出线30与开关晶体管T1的漏极23电连接,第一扇出30线位于栅极金属层12,第二扇出线80位于第一金属层14。
如图3和图4所示,检测电路60包括开关晶体管T1,在显示面板绑定驱动芯片70之前通过向检测电路60中开关晶体管T1的源极22输入模拟信号,向开关晶体管T1的栅极21输入控制信号,开关晶体管T1在控制信号的作用下导通进而将开关晶体管T1的源极22接收的模拟信号通过与开关晶体管T1的漏极23电连接的第一扇出线30输出至显示区100的子像素101实现显示面板显示画面的测试。示例性的,开关晶体管T1的栅极21在接收到检测电路中检测控制端子SW输出的控制信号后导通,检测电路60中开关晶体管T1的源极22根据接收的检测信号端子(图3中检测信号端子包括RGB)输出的模拟信号,将模拟信号通过开关晶体管T1的漏极23以及与开关晶体管T1的漏极电连接的第一扇出线30输出至显示区100的子像素101实现显示面板显示画面的测试,当检测电路中开关晶体管的源极均与R检测信号端子电连接时,此时显示面板的画面均为红色画面,根据显示面板的测试画面可以确定发生短路的第一扇出线30所电连接的开关晶体管T1。当对应不同列开关晶体管的源极分别与R检测信号端子、G检测信号端子和B检测信号端子电连接时,此时显示面板根据不同列所对应的开关晶体管的源极接收的模拟信号实现显示面板的显示测试。当显示面板中裸露的信号端子引入静电信号使得检测电路60中开关晶体管T1发生静电击穿时,此时开关晶体管T1的漏极23与栅极21电连接,由于开关晶体管T1的漏极23与第一扇出线30电连接,发生静电击穿的开关晶体管T1容易使得与开关晶体管T1电连接的第一扇出线30发生短路,即第一扇出线30与开关晶体管T1的栅极21电连接。当显示面板在完成显示测试后将显示面板与驱动芯片70绑定进行显示时,由于需要向检测电路60的开关晶体管T1的栅极21提供一电位信号保证检测电路60的开关晶体管T1处于关断状态,此时与开关晶体管T1的栅极21电连接的第一扇出线30一直接收开关晶体管T1栅极21的固定电位信号,无法将驱动芯片70输出的信号写入到显示区100的子像素101,影响显示面板的显示。通过设置第二扇出线80与第一扇出线30并联且第二扇出线80位于第一金属层14,当与开关晶体管T1电连接的第一扇出线30发生短路时,由于第一金属层14远离源漏极金属层13,位于第一金属层14的第二扇出线80可以进行信号传输,保证了显示面板的显示效果。
设置第一扇出线30位于栅极金属层12,第二扇出线80位于第一金属层14,即第一扇出线30与开关晶体管T1的栅极21可以在同一工艺中制备形成,降低显示面板的制备复杂度。此外,由于第二扇出线80位于第一金属层14,因此显示面板外需额外增加一层金属膜层。
可选的,在上述实施例的基础上,图5是本发明实施例提供的另一种显示面板的剖面结构示意图,图6是本发明实施例提供的又一种显示面板的剖面结构示意图,如图5和图6所示,显示面板至少包括栅极金属层12、位于栅极金属层12背离衬底基板11一侧的第一电容金属层15、位于第一电容金属层15背离衬底基板11一侧的源漏极金属层13、以及位于源漏极金属层13背离衬底基板11一侧的第一金属层14。检测电路60包括多个开关晶体管T1,开关晶体管T1的栅极21位于栅极金属层12,开关晶体管T1的源极22和漏极23位于源漏极金属层13。显示区100包括像素驱动电路,像素驱动电路至少包括驱动晶体管T2和第一电容C,第一电容C的第一极板C1位于第一电容金属层15。第一扇出线30与开关晶体管T1的漏极23电连接,部分第一扇出线30位于栅极金属层12,如图5所示,部分第一扇出线30位于第一电容金属层15,如图6所示,第二扇出线80位于第一金属层14。
现有的显示面板中为了保证显示面板的屏占比,通常设置扇出区的空间较小,而设置在扇出区的扇出线较多,为了避免相邻第一扇出线30之间耦合,可以设置部分第一扇出线30位于栅极金属层12,部分第一扇出线30位于第一电容金属层15,在保证显示面板通过第一扇出线30向显示区100的子像素101传输信号的同时提高显示面板的显示效果。
示例性的,可以设置位于奇数列的第一扇出线30位于栅极金属层12、位于偶数列的第一扇出线30位于第一电容金属层15或者,设置位于奇数列的第一扇出线30位于第一电容金属层15,位于偶数列的第一扇出线30位于栅极金属层12,本发明实施例不对第一扇出线30具体的设置方式进行限定,本领域技术人员可以根据显示面板的具体应用场景进行限定。
可选的,在上述实施例的基础上,图7是本发明实施例提供的又一种显示面板的剖面结构示意图,如图7所示,显示面板至少包括栅极金属层12、位于栅极金属层12背离衬底基板10一侧的第一电容金属层15、以及位于第一电容金属层15背离衬底基板10一侧的源漏极金属层13。检测电路60包括多个开关晶体管T1,开关晶体管T1的栅极21位于栅极金属层12,开关晶体管T1的源极22和漏极23位于源漏极金属层13。显示区100包括像素驱动电路,像素驱动电路至少包括驱动晶体管T2和第一电容C,第一电容C的第一极板C1位于第一电容金属层15。第一扇出线30与开关晶体管T1的漏极23电连接,第一扇出线30位于栅极金属层12,第二扇出线80位于第一电容金属层15。
示例性的,如图7所示,也可以设置第一扇出线30位于栅极金属层21,第二扇出线80位于第一电容金属层15,即第一扇出线30与开关晶体管T1的栅极21可以在同一工艺中制备形成,第二扇出线80与第一电容C的第一极板C1在同一道工艺中制备,降低显示面板制备工艺的复杂度。
可选的,在上述实施例的基础上,图8是本发明实施例提供的一种显示面板的局部结构示意图,结合图2和图8,沿垂直于衬底基板所在平面方向上,在第一节点A1与第二节点A2之间,第一扇出线30与第二扇出线80在衬底基板的垂直投影无交叠。
在显示面板绑定驱动芯片70之前通过检测电路60以及与检测电路60的输出端电连接的第一扇出线30向显示区100的子像素101输出测试信号,根据显示面板的测试画面确定发生静电击穿位置处检测电路60所对应电连接的第一扇出线30的位置,利用激光切割的方式将第一扇出线30与检测电路60之间的通路切断,由于采用激光切割切断第一扇出线30与检测电路60之间的通路,设置第一扇出线30与第二扇出线80在衬底基板的垂直投影无交叠,可以有效避免切割第一扇出线30与检测电路60之间的通路时切断第二扇出线80,保证显示面板可通过第二扇出线80传输信号。
示例性的,结合图3和图8,当显示面板在完成显示测试后将显示面板与驱动芯片70绑定进行显示时,驱动芯片70通过向检测电路60提供一固定电位信号保证检测电路60处于关断状态,由于检测电路60的输出端与第一扇出线30电连接,当切断检测电路60的输出端与第一扇出线30连接点第三节点A3与第一节点A1之间的通路后,此时切断检测电路60的输出端与第一扇出线30连接点第三节点A3仍存在一固定电位,且该固定电位通过第一扇出线30将第二扇出线80的第二端与第一扇出线30的连接点第二节点A2设置成固定电位,影响第二扇出线80向显示区100的子像素101传输信号,因此,也需要将检测电路60与第二节点A2之间的通路切断。
可选的,在上述实施例的基础上,图9是本发明实施例提供的一种显示面板的局部结构示意图,如图9所示,沿垂直于衬底基板所在平面方向上,在第一节点A1与第二节点A2之间,第一扇出线30与第二扇出线80在衬底基板的垂直投影部分交叠。
示例性的,如图9所示,也可以设置在第一节点A1与第二节点A2之间的第一扇出线30与第二扇出线80在衬底基板的垂直投影部分交叠,即只要保证在激光切割位置处的第一扇出线30和第二扇出线80不交叠即可。设置第一扇出线30和第二扇出线80在衬底基板的垂直投影部分交叠可以减少扇出区信号走线的占用面积。
可选的,第一扇出线30与第二扇出线80交叠区域为第一区域AA1,第一扇出线30与第二扇出线80未交叠区域为第二区域AA2,第一区域AA1在衬底基板的垂直投影位于第三节点A3和第二节点A2之间,第三节点A3为检测电路60的输出端与第一扇出线30的连接点。
示例性的,继续参见图9,设置第一扇出线30与第二扇出线80交叠区域位于第三节点A3和第二节点A2之间,保证了对第一扇出线30切割的同时第二扇出线80不被切割。
可选的,在上述实施例的基础上,本发明实施例还提供一种显示装置,如图10所示,该显示装置包括本发明实施例提供的显示面板01,因此该显示装置也具有本发明实施例提供的显示面板01所具有的有益效果,相同之处可参照上文理解,下文中不再赘述。
需要说明的是,本发明实施例提供的显示装置可以为手机、平板电脑、智能可穿戴设备(例如,智能手表)以及本领域技术人员可知的其他具有指纹识别功能的显示装置,本发明实施例对此不作限定。
可选的,在上述实施例的基础上,图11是本发明实施例提供的一种显示面板的修护方法的流程示意图,该修护方法应用于上述任一实施例所述的显示面板,如图11所示,方法包括:
S110、根据显示画面确定检测电路故障位置处的输出端对应连接的第一扇出线,其中检测电路故障位置处的输出端对应连接的第一扇出线为待切断扇出线。
在显示面板绑定驱动芯片之前通过检测电路以及与检测电路的输出端电连接的第一扇出线向显示区的子像素输出测试信号,当显示面板中裸露的信号端子引入静电信号造成检测电路静电击穿进而使得与检测电路的输出端电连接的第一扇出线发生短路故障时,此时可以根据显示面板的显示画面确定电路故障位置处的输出端对应连接的第一扇出线,此时将检测电路故障位置处的输出端对应连接的第一扇出线为待切断扇出线。
S120、将第一节点和第三节点之间的待切断扇出线断开以及将第二节点和第三节点之间的待切断扇出线断开。
其中,第一节点为待切断扇出线与第二扇出线的连接点,第二节点为待切割扇出线与第二扇出线的连接点第三节点为检测电路故障位置处的输出端与待切断扇出线的连接点。
当显示面板在完成显示测试后将显示面板与驱动芯片绑定进行显示时,驱动芯片通过向检测电路提供一固定电位信号保证检测电路处于关断状态,由于检测电路的输出端与第一扇出线电连接,当切断检测电路的输出端与第一扇出线连接点第三节点与第一节点之间的通路后,此时切断检测电路的输出端与第一扇出线连接点第三节点仍存在一固定电位,且该固定电位通过第一扇出线将第二扇出线的第二端与第一扇出线的第二节点设置成固定电位,影响第二扇出线向显示区的子像素传输信号,因此,也需要将检测电路与第二节点之间的通路切断。
S130、通过与待切断扇出线对应连接的第二扇出线向显示区的子像素输入显示信号。
通过将第一扇出线与检测电路之间的通路切断,采用第二扇出线向显示区的子像素传输信号,降低因检测电路发生静电击穿使得与检测电路电连接的第一扇出线因发生短路而无法向显示区的子像素传递信号,进而影响显示面板的显示效果,保证了显示面板的良品率。
可选的,根据显示画面确定检测电路故障位置处的输出端对应连接的第一扇出线包括:
根据显示画面与预设画面的灰度信息确定检测电路故障位置处的输出端对应连接的第一扇出线。
在根据显示面板的显示画面确定电路故障位置处的输出端对应连接的第一扇出线时,可以将显示画面与预设画面的灰度信息确定检测电路故障位置处的输出端对应连接的第一扇出线。
注意,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。
Claims (10)
1.一种显示面板,其特征在于,包括显示区和非显示区;所述非显示区包括扇出区和绑定区;所述扇出区位于所述显示区与所述绑定区之间;
所述扇出区设置有多条第一扇出线;所述第一扇出线的第一端与显示区的至少一条信号线电连接;所述第一扇出线的第二端与所述绑定区的绑定焊盘电连接;
所述扇出区还设置有检测电路;所述检测电路的输出端与所述第一扇出线电连接;所述检测电路用于在所述显示面板绑定驱动芯片前,通过所述第一扇出线向所述显示区的子像素输入测试信号;
所述扇出区还包括多条第二扇出线;所述第二扇出线与所述第一扇出线并联连接;所述第二扇出线的第一端与所述第一扇出线的连接点为第一节点;所述第二扇出线的第二端与所述第一扇出线的连接点为第二节点;所述第一节点位于所述检测电路与所述显示区之间;所述第二节点位于所述绑定区与所述显示区之间。
2.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述显示面板至少包括栅极金属层、位于所述栅极金属层背离衬底基板一侧的源漏极金属层、以及位于所述源漏极金属层背离所述衬底基板一侧的第一金属层;
所述检测电路包括多个开关晶体管,所述开关晶体管的栅极位于所述栅极金属层,所述开关晶体管的源极和漏极位于所述源漏极金属层;
所述第一扇出线与所述开关晶体管的漏极电连接,所述第一扇出线位于所述栅极金属层;
所述第二扇出线位于所述第一金属层。
3.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述显示面板至少包括栅极金属层、位于所述栅极金属层背离衬底基板一侧的第一电容金属层、位于所述第一电容金属层背离所述衬底基板一侧的源漏极金属层、以及位于所述源漏极金属层背离所述衬底基板一侧的第一金属层;
所述检测电路包括多个开关晶体管,所述开关晶体管的栅极位于所述栅极金属层,所述开关晶体管的源极和漏极位于所述源漏极金属层;所述显示区包括像素驱动电路,所述像素驱动电路至少包括驱动晶体管和第一电容,所述第一电容的第一极板位于所述第一电容金属层;
所述第一扇出线与所述开关晶体管的漏极电连接,部分所述第一扇出线位于所述栅极金属层,部分所述第一扇出线位于所述第一电容金属层;
所述第二扇出线位于所述第一金属层。
4.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述显示面板至少包括栅极金属层、位于所述栅极金属层背离衬底基板一侧的第一电容金属层、以及位于所述第一电容金属层背离所述衬底基板一侧的源漏极金属层;
所述检测电路包括多个开关晶体管,所述开关晶体管的栅极位于所述栅极金属层,所述开关晶体管的源极和漏极位于所述源漏极金属层;所述显示区包括像素驱动电路,所述像素驱动电路至少包括驱动晶体管和第一电容,所述第一电容的第一极板位于所述第一电容金属层;
所述第一扇出线与所述开关晶体管的漏极电连接,所述第一扇出线位于所述栅极金属层;
所述第二扇出线位于所述第一电容金属层。
5.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,沿垂直于衬底基板所在平面方向上,在所述第一节点与所述第二节点之间,所述第一扇出线与所述第二扇出线在衬底基板的垂直投影无交叠。
6.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,沿垂直于衬底基板所在平面方向上,在所述第一节点与第二节点之间,所述第一扇出线与所述第二扇出线在衬底基板的垂直投影部分交叠。
7.根据权利要求6所述的显示面板,其特征在于,所述第一扇出线与所述第二扇出线交叠区域为第一区域,所述第一扇出线与所述第二扇出线未交叠区域为第二区域,所述第一区域在所述衬底基板的垂直投影位于第三节点和所述第二节点之间,所述第三节点为所述检测电路的输出端与所述第一扇出线的连接点。
8.一种显示装置,其特征在于,包括权利要求1-7任一项所述的显示面板。
9.一种显示面板的修护方法,其特征在于,应用于权利要求1-7任一项所述的显示面板,所述方法包括:
根据显示画面确定检测电路故障位置处的输出端对应连接的第一扇出线,其中所述检测电路故障位置处的输出端对应连接的第一扇出线为待切断扇出线;
将第一节点和第三节点之间的待切断扇出线断开以及将第二节点和第三节点之间的待切断扇出线断开;其中,所述第一节点为所述待切断扇出线与第二扇出线的连接点,所述第二节点为所述待切割扇出线与第二扇出线的连接点,所述第三节点为所述检测电路故障位置处的输出端与所述待切断扇出线的连接点;
通过与待切断扇出线对应连接的所述第二扇出线向所述显示区的子像素输入显示信号。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述根据显示画面确定检测电路故障位置处的输出端对应连接的第一扇出线,包括:
根据显示画面与预设画面的灰度信息确定检测电路故障位置处的输出端对应连接的第一扇出线。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202011525696.1A CN112599058B (zh) | 2020-12-22 | 2020-12-22 | 一种显示面板、显示装置和显示面板的修护方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202011525696.1A CN112599058B (zh) | 2020-12-22 | 2020-12-22 | 一种显示面板、显示装置和显示面板的修护方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN112599058A true CN112599058A (zh) | 2021-04-02 |
CN112599058B CN112599058B (zh) | 2022-06-03 |
Family
ID=75200043
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202011525696.1A Active CN112599058B (zh) | 2020-12-22 | 2020-12-22 | 一种显示面板、显示装置和显示面板的修护方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN112599058B (zh) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113421896A (zh) * | 2021-06-03 | 2021-09-21 | 武汉天马微电子有限公司 | 显示面板及显示装置 |
CN113448114A (zh) * | 2021-06-28 | 2021-09-28 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板及显示装置 |
CN114779505A (zh) * | 2022-03-30 | 2022-07-22 | 绵阳惠科光电科技有限公司 | 显示面板、显示装置及绑定检测方法 |
CN115207073A (zh) * | 2022-04-25 | 2022-10-18 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板及显示装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107180594A (zh) * | 2017-06-30 | 2017-09-19 | 厦门天马微电子有限公司 | 一种显示面板和显示装置 |
CN108400101A (zh) * | 2018-03-12 | 2018-08-14 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 一种阵列基板及oled显示面板 |
CN108878444A (zh) * | 2018-06-07 | 2018-11-23 | 武汉天马微电子有限公司 | 显示面板及显示装置 |
CN109459875A (zh) * | 2018-12-12 | 2019-03-12 | 惠科股份有限公司 | 一种显示面板的修复方法和显示面板 |
CN110109303A (zh) * | 2019-04-04 | 2019-08-09 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种阵列基板及其缺陷修补方法 |
CN112086049A (zh) * | 2020-09-16 | 2020-12-15 | 武汉华星光电技术有限公司 | 显示面板以及电子设备 |
-
2020
- 2020-12-22 CN CN202011525696.1A patent/CN112599058B/zh active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107180594A (zh) * | 2017-06-30 | 2017-09-19 | 厦门天马微电子有限公司 | 一种显示面板和显示装置 |
CN108400101A (zh) * | 2018-03-12 | 2018-08-14 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 一种阵列基板及oled显示面板 |
CN108878444A (zh) * | 2018-06-07 | 2018-11-23 | 武汉天马微电子有限公司 | 显示面板及显示装置 |
CN109459875A (zh) * | 2018-12-12 | 2019-03-12 | 惠科股份有限公司 | 一种显示面板的修复方法和显示面板 |
CN110109303A (zh) * | 2019-04-04 | 2019-08-09 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种阵列基板及其缺陷修补方法 |
CN112086049A (zh) * | 2020-09-16 | 2020-12-15 | 武汉华星光电技术有限公司 | 显示面板以及电子设备 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113421896A (zh) * | 2021-06-03 | 2021-09-21 | 武汉天马微电子有限公司 | 显示面板及显示装置 |
CN113448114A (zh) * | 2021-06-28 | 2021-09-28 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板及显示装置 |
CN113448114B (zh) * | 2021-06-28 | 2022-11-18 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板及显示装置 |
CN114779505A (zh) * | 2022-03-30 | 2022-07-22 | 绵阳惠科光电科技有限公司 | 显示面板、显示装置及绑定检测方法 |
CN115207073A (zh) * | 2022-04-25 | 2022-10-18 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板及显示装置 |
CN115207073B (zh) * | 2022-04-25 | 2023-10-24 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板及显示装置 |
WO2023207291A1 (zh) * | 2022-04-25 | 2023-11-02 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板及显示装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN112599058B (zh) | 2022-06-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN112599058B (zh) | 一种显示面板、显示装置和显示面板的修护方法 | |
CN108874194B (zh) | 内嵌式触控显示装置及其测试方法和制作方法 | |
US8330691B2 (en) | Display panel including dummy pixels and display device having the panel | |
CN107861658B (zh) | 显示面板和显示装置 | |
US9483969B2 (en) | Liquid crystal panel, and testing circuit and testing method thereof | |
US7675600B2 (en) | Liquid crystal display panel and liquid crystal display apparatus having the same | |
JP5285119B2 (ja) | アクティブマトリクス基板、表示装置、アクティブマトリクス基板の検査方法、および表示装置の検査方法 | |
US11309309B2 (en) | Mother substrate and display panel | |
US8159443B2 (en) | Display panels | |
US9298055B2 (en) | Array substrate, method of disconnection inspecting gate lead wire and source lead wire in the array substrate, method of inspecting the array substrate, and liquid crystal display device | |
US9588387B2 (en) | Fast testing switch device and the corresponding TFT-LCD array substrate | |
KR20030036052A (ko) | 표시장치 및 그의 구동방법 | |
US9983450B2 (en) | GOA circuit module, method for testing the same, display panel and display apparatus | |
US20180180959A1 (en) | Panel inspection circuit and liquid crystal display panel | |
US11636787B2 (en) | Display panel and electronic apparatus | |
CN110850651A (zh) | 显示面板和测试*** | |
US20110164013A1 (en) | Display panel and display panel inspection method | |
WO2018192335A1 (zh) | 显示面板及显示装置 | |
JP6806933B2 (ja) | インセル型タッチパネル用試験回路 | |
KR100576629B1 (ko) | 액정표시장치의 tft어레이 기판 및 그 검사방법 | |
US20060139290A1 (en) | Dual single-ended driven liquid crystal display and driving method thereof | |
KR102347412B1 (ko) | 표시장치용 표시패널 및 표시패널 검사 방법 | |
CN111429796A (zh) | 一种显示面板、显示模组及其制作方法以及电子装置 | |
KR20080044073A (ko) | 박막 트랜지스터 표시판 | |
JP2003228298A (ja) | 画像表示パネル部材、画像表示パネル、画像表示パネルの製造方法、画像表示装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |