CN112595905A - 用于实时检测故障电容器的电路和方法 - Google Patents

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Abstract

本公开题为“用于实时检测故障电容器的电路和方法。”本文档描述了一种检测电路，所述检测电路用于检测飞跨电容器的状况，所述飞跨电容器在充电阶段期间充电并且在后续放电阶段期间放电。所述检测电路具有：定时电路，所述定时电路在所述飞跨电容器的充电阶段期间设置检测触发；以及测量电路，所述测量电路用于提供一个或多个差分测量信号，所述一个或多个差分测量信号取决于和/或指示在所述检测触发时在所述飞跨电容器上的电压。此外，所述检测电路具有比较器电路，所述比较器电路用于基于所述一个或多个差分测量信号提供数字输出信号，其中所述数字输出信号指示所述飞跨电容器是否发生故障。

Description

用于实时检测故障电容器的电路和方法
技术领域
本文档涉及实时检测电源转换器内的故障电容器、特别是无电感器的DC/DC电源转换器内的故障电容器。
背景技术
DC/DC电源转换器(诸如开关型电源转换器和/或电荷泵)可包括位于印刷电路板上的一个或多个飞跨电容器，该一个或多个飞跨电容器可能发生故障，特别是短路。
发明内容
本文档涉及提供用于检测印刷电路板上和/或IC封装件内的故障电容器的高效且可靠的装置的技术问题(特别是不需要万用表测试仪)。
根据一个方面，描述了一种检测电路，所述检测电路被配置为检测飞跨电容器的状况，所述飞跨电容器(周期性地和/或重复地)在充电阶段期间充电并且在后续放电阶段期间放电。所述检测电路包括：定时电路，所述定时电路被配置为在所述飞跨电容器的充电阶段期间设置检测触发；以及测量电路，所述测量电路被配置为提供一个或多个差分测量信号，所述一个或多个差分测量信号取决于和/或指示在所述检测触发(的时间)时在所述飞跨电容器上的电压。此外，所述检测电路包括比较器电路，所述比较器电路被配置为基于所述一个或多个差分测量信号提供数字输出信号，其中所述数字输出信号(其可以被缓冲和/或反相)指示所述飞跨电容器是否发生故障(特别是短路)。
根据另一方面，描述了一种用于检测飞跨电容器的状况的方法，所述飞跨电容器(周期性地和/或重复地)在充电阶段期间充电并且在后续放电阶段期间放电。所述方法包括在所述飞跨电容器的充电阶段期间设置检测触发。此外，所述方法包括提供一个或多个差分测量信号，所述一个或多个差分测量信号取决于和/或指示在所述检测触发时和/或之后在所述飞跨电容器上的电压。此外，所述方法包括基于所述一个或多个差分测量信号提供数字输出信号，其中所述数字输出信号指示所述飞跨电容器是否发生故障。
应当指出的是，包括如本文档所概述的其优选实施方案的方法和***可独立使用或与本文档所公开的其他方法和***结合使用。此外，在***的上下文中概述的特征也适用于对应的方法。此外，本文档中概述的方法和***的所有方面可任意组合。具体地讲，权利要求的特征可以任意方式彼此组合。
在本文档中，术语“耦接”或“被耦接”是指元件彼此电连通，无论是例如经由电线直接连接还是以某种其他方式连接。
附图说明
下面参考附图以示例性方式解释本发明，其中
图1示出了包括飞跨电容器的电源转换器的示例性摘录；
图2A示出了包括检测电路的图1的控制电路；
图2B示出了示例性检测电路的框图；
图3示出了示例性测量电路的电路图；
图4A和图4B示出了示例性比较器电路的电路图；
图5示出了示例性时序图；并且
图6示出了用于检测故障电容器的示例性方法的流程图。
具体实施方式
如上所述，本文档涉及以有效且可靠的方式来检测电源转换器的故障电容器、特别是无电感器DC/DC电源转换器的故障电容器。具体地讲，本文档涉及一种基于数字寄存器信息的方法，该方法用于标记完全集成的无电感器的DC-DC电源转换器内的故障和可能的不利状况，该完全集成的无电感器的DC-DC电源转换器可集成在引脚/焊盘有限封装件内。该故障检测方法应允许在不需要暴露的焊盘或引脚进行万用表测试的情况下执行该基于数字寄存器信息的方法。换句话讲，本文档涉及检测集成开关型电容器DC-DC转换器内的短路电容器状况，该集成开关型电容器DC-DC转换器包括集成电容器或封装电容器，而不需要暴露在外的板和/或端子。这在受限于具有相对较小PCB(印刷电路板)占有面积的有限引脚封装件或用于完全集成稳压器(IVR)的应用中是特别有益的。此外，本文档涉及使用安装有一个或多个印刷电路板(PCB)的电容器来检测转换器中的短路电容器故障状况，而不明确或首要需要万用表测试。
通常，无电感器的DC-DC转换器(诸如开关型电容器转换器或电荷泵)的该一个或多个飞跨电容器主要由于该一个或多个电容器的相对较大的电容值而被放置在PCB上。电容器的集成通常导致相对较大的管芯面积和相对较高的成本。如果使用双管芯方法，则成本进一步增加，其中粘结管芯可专用于集成电容器以便实现相对较大的电容值。
使用板载(PCB)电容器的固有缺点涉及***测试成本和下述缺点，这些缺点包括：
·安装电容器的印刷电路板(PCB)基板面消耗。
·引脚测试所需的万用表测试设备。
·不能够简单或容易地用于引脚有限的小尺寸外型封装件。
·使用暴露焊盘用于电容器端子接入。
·外部万用表测试要求。
通常，在测试期间，待测设备(DUT)在实验室中经受万用表测试以确定：短路电容器故障状况；可能由于具有退化电介质的电容器而出现的状况；在设备寿命工作期间或在焊接过程期间的电路净短路或电容器端子焊接短路。
便携式计算电源管理中新兴的趋势是朝着完全集成或***级封装(SiP)稳压器和/或转换器发展，以便降低***PCB面积和***材料清单(BOM)成本，并且以便响应于CPU/GPU(中央处理单元/图形处理单元)功率节省需求而建立相对快速的动态电压缩放(DVS)性能。
此类完全集成的电源模块可采用多级转换器，该多级转换器可包括基于电感器或无电感器的第一级转换器后接基于电感器的多相第二级DC-DC转换器的组合，该组合可在高达数十兆赫(MHz)至数百兆赫(MHz)范围内的开关频率下工作。
电源转换器的负载电流能力是重要因素，使得对于相对较低负载电流功率递送，无电感器的第一级后接基于电感器的第二级的组合可能是足够的，而对于相对较高负载电流功率递送，可使用串联工作的基于电感器的第一级和基于电感器的第二级的组合。
在该上下文中，期望用于检测完全集成的或封装件内的无电感器的DC-DC转换器(特别是在开关型电容器转换器或电荷泵内)中的短路电容器的装置，其不具有用于电容器端子的暴露焊盘或具有有限引脚数目和小尺寸外型封装件。
图1示出了在半比率开关型电容器降压转换器内使用的示例性电路100。电路100包括飞跨电容器102，在第一阶段PH1中该飞跨电容器可通过闭合第一开关111(并且通过打开第二开关112)而耦接在Vbat(即，电池电压)和Vout(即，输出电压)之间。因此，在第一阶段PH1(即，充电阶段)期间，飞跨电容器102的顶部端子处的电压Vtop为Vtop＝～Vbat(导致开关111处的可能电压降)，并且飞跨电容器102的底部端子处的电压Vbot为Vbot＝～Vout。在第二阶段PH2(即，放电阶段)中，第一开关111打开并且第二开关112闭合，从而将飞跨电容器102耦接在输出电压Vout(使得Vtop＝～Vout)和接地(使得Vbot＝～GND)之间。
使用第一控制信号PH1_CLK控制第一开关111，并且使用第二控制信号PH2_CLK控制第二开关。使用顶部比较器103和底部比较器104来确定第一控制信号和第二控制信号，其中顶部比较器103被配置为将Vtop与顶部参考电压Vrefh进行比较，并且其中底部比较器104被配置为将Vbot与底部参考电压Vrefl进行比较。比较器103、104的输出在控制单元101内用于生成第一控制信号和第二控制信号(在考虑时钟信号CLK和启用信号EN的情况下)。
图2A示出了具有附加检测电路200的图1的电路100，该附加检测电路被配置为确定飞跨电容器102的状况。检测电路200接收(仅)飞跨电容器102的顶部端子处的顶部电压Vtop和飞跨电容器102的底部端子处的底部电压Vbot作为输入。如上所述，在非故障快速电容器102的情况下，应满足以下条件：
·在第一阶段期间，Vtop＝～Vbat，并且Vbot＝～Vout；并且
·在第二阶段期间，Vtop＝～Vout，并且Vbot＝～GND；
其中飞跨电容器102在第一阶段期间利用电荷充电，并且在第二阶段期间放电。在电源转换器工作期间，在图2A所示的特定转换器配置中，输出电压通常被设定为电池电压的一半，即Vout＝Vbat/2。
图2B示出了示例性检测电路200的框图。检测电路200包括N级计数器(即，定时电路)230，该计数器被配置为根据启用信号EN和时钟信号CLK生成检测触发231。在第一阶段开始之后，可以将检测触发231设置为N个时钟周期(例如，N＝8或更大)。N可以足够高以允许飞跨电容器102利用电荷ΔQ充电(使得飞跨电容器102上的电压处于或高于最小电容器电压)。
一旦电荷ΔQ已经在飞跨电容器102上积聚，就可以设置检测触发231，以便启动测量电路210的工作，该测量电路被配置为提供多个差分测量信号211。可在比较器电路220内分析和/或比较测量信号211，以便提供指示飞跨电容器102是否发生故障的输出信号221。
图3示出了示例性测量电路210的电路图。测量电路210包括被配置为提供差分测量信号Vop1和Vop2的第一(上)差分对301。第一差分对301相对于电池电压Vbat工作。此外，测量电路210包括被配置为提供差分测量信号Von1和Von2的第二(下)差分对302。第二差分对302相对于接地GND工作。
每个差分对301、302包括第一分支和第二分支，该第一分支具有被配置为在第一分支上提供电流Itail/2的第一电流源311、313，该第二分支具有被配置为在第二分支上提供电流Itail/2的第二电流源321、323。第一分支上的电流提供给第一晶体管Mp1 312或Mn1314，并且第二分支上的电流提供给第二晶体管Mp2 322或Mn2 324，其中该晶体管使用顶部电压Vtop(在第一分支的情况下)或底部电压Vbot(在第二分支的情况下)来控制。差分对301、302的第一分支和第二分支经由偏移电阻或退化电阻Rg303耦接。
如果飞跨电容器102正确地工作，则经过时间段Δt积聚电荷ΔQ之后，Vtop应高于Vbot，即Vtop>Vbot。此外，例如在正常充电阶段，差值电压(Vbat-Vtop)应小于差值电压(Vbot-GND)。因此，对于第一差分对301，Vop2>Vop1，对于第二差分对302，Von2<Von1。
另一方面，飞跨电容器102可以短路，使得Vtop＝Vbot＝Vbat。在这种情况下，第一差分对301关闭(使得Vop2～Vop1)，而对于第二差分对302，Von2>Von1。
图4A和图4B示出了示例性比较器电路220，该示例性比较器电路被配置为分析差分测量信号211以便提供(二进制)输出信号221，该(二进制)输出信号指示飞跨电容器102是否发生故障或者飞跨电容器102是否正确工作。
因此，描述了偏斜电压比较器210、220和数字存储器101，它们可容易地集成为无电感器的DC-DC转换器中的电容器短路故障状况的检测器。通过这样做，可减少暴露引脚和焊盘数目，以便允许小尺寸外型封装件应用。
将具有偏斜互补差分对输入的轨到轨电压比较器跨无电感器的DC-DC转换器(诸如开关型电容器降压转换器或电荷泵)内的嵌入式电容器板放置。
图2B示出了短路故障检测器200的代表性功能框图。N级计数器230(诸如纹波计数器或另一个数字计数器变体)感测转换器时钟CLK的起始，并且允许从转换器时钟CLK的初始起始时间t1到检测触发时间t2(其可根据飞跨电容器102的典型电容值而先验地确定)的相对较小的时间延迟Δt。将时间延迟Δt选择为足够长以将差分对过驱动到高于由Itail/2(差分对尾电流)和Rg(标称退化电阻值)的乘积得出的电压。
Δt时间段用于确保(在飞跨电容器102的充电阶段期间)可靠地检测故障电容器。具体地讲，Δt时间段用于积聚一定量的电荷ΔQ(等于电容C和ΔV经时间Δt积聚的乘积)，以从电容器102的初始充电状况Q0(其可能为零)存储在该电容器上。
因此，如果电容器102未发生故障或短路，则电荷量ΔQ存储在电容器102上，其中电荷ΔQ足够高以允许差分对301、302的退化侧克服固有***偏移(Vgs不平衡)和退化电阻器Rg 303上的电压降(因为电容器102上的电压差值ΔV＝ΔQ/C＝Ic*Δt/C足够高，即，大于0.5*Itail*Rg)，使得一旦计数器230触发检测，在不存在短路的情况下缓冲和/或反相数字输出221就保持在低(LOW)数字状态。
然而，如果电容器102发生故障或短路，则即使在经过时间段Δt之后，电容器102上也不存储电荷或仅存储少量电荷，这导致电容器板上的电压差值ΔV＝Vtop-Vbot不足以克服固有的***偏移的情况，因为电压差值接近零，即ΔV＝Vtop–Vbot＝ΔQ/C<<0.5*Itail*Rg。因此，短路电容器故障检测向存储寄存器或数字存储器或控制单元101发信号通知高(HIGH)数字输出信号221。然后，控制单元101可根据数字输出信号221的状态来控制电路100。以举例的方式，如果数字输出信号221指示故障电容器102，则可停止开关111、112的工作。
在图3所示的测量电路210中，可使用源极退化概念有意地使每个互补差分对301、302中的输入对设备中的一个输入对设备的跨导与其自身对失配，其中在图中，“n”可大于或等于1。每个输入差分对301、302的一侧的源极退化可用于确保在相同共模电压水平(即，电容器102上的电压ΔV＝0或接近0V)下，非退化输入设备总是在共尾电流节点处赢得模拟竞争。
图4A和图4B所示的信号组合器和比较器电路220中的正反馈400固有地引入相对较大的增益以进一步增强差分对负载设备中的电流流动不平衡，从而导致在比较器输出221可改变方向之前必须由来自差分对设备的差分测量信号211克服的固有偏移(在mV范围内)。这固有地确保比较器电路220可生成可靠的模拟差值信号，一旦该比较器电路感测到输入共模电压接近零(这是在转换器电容器端子短路的情况下)，就将该模拟差值信号放大到数字电平输出标记221。
然后，可使用一个或多个机构(包括开环模拟增益级和/或再生锁存器级)来放大互补差分对301、302的信号输出211，以便产生CMOS数字电平信号221，该CMOS数字电平信号可存储在数字寄存器中并且在应用中根据需要经常读出，以便监测转换器电容器102的健康状况。
图5示出了示例性时序图。可以看出，在激活启用信号EN之后，时钟在时间点t1处开始，并且N位计数器230对与时间段Δt对应的2N个时钟周期进行计数，其中该时间段引起电容器102上的电荷ΔQ(如果电容器102正在正确工作)。在时间段Δt之后设置检测触发231，从而在时间点t2开始测量。检测电路200需要一定的时间来收敛并且提供指示电容器102的状况的输出信号221。在例示的示例中，电容器102发生故障，从而将检测标记设置为HIGH。
因此，本文档描述了一种检测电路200，该检测电路被配置为检测飞跨电容器102的状况，该飞跨电容器(周期性地和/或重复地)在充电阶段期间充电并且在后续放电阶段期间放电。该充电阶段和放电阶段可以由时钟信号CLK控制的特定速率重复。飞跨电容器102可以是无电感器的DC/DC电源转换器100的一部分，该无电感器的DC/DC电源转换器被配置为将电力从供电(或电池)电压Vbat转换为输出电压Vout。在充电阶段期间，飞跨电容器102可(直接)布置在包括飞跨电容器102的电路100(例如，电源转换器)的供电电压Vbat和输出电压Vout之间。供电电压Vbat可高于输出电压Vout，例如Vout＝Vbat/2(至少平均)。
检测电路200可包括定时电路230，该定时电路被配置为在飞跨电容器102的充电阶段期间(特别是在每个或每第k个充电阶段期间，其中k＝1、2、3、4、5、10或更大)设置检测触发231。因此，可以在每第k个充电阶段期间确定飞跨电容器102的状况。检测触发213可使用时钟信号CLK来确定。具体地讲，检测触发213可以是时钟周期的持续时间的N倍。
此外，检测电路200包括测量电路210，该测量电路被配置为提供一个或多个差分测量信号211，该一个或多个差分测量信号取决于和/或指示在检测触发231时或之后(即，在检测触发213的时间点)在飞跨电容器102上的电压。定时电路230可被配置为设置检测触发231，使得在非故障飞跨电容器102的情况下，飞跨电容器102上的电压处于最小电容器电压或更高。因此，检测触发213可取决于飞跨电容器102的电容值。最小电容器电压优选地足够高，以使得测量电路210提供足够高的差分测量信号211，以指示非故障飞跨电容器102。
此外，检测电路200包括比较器电路220，该比较器电路被配置为基于该一个或多个差分测量信号211来提供数字输出信号221。(缓冲和/或反相)数字输出信号221可指示飞跨电容器102是否发生故障(例如，短路)。检测电路200可包括寄存器和/或存储器，该寄存器和/或存储器被配置为存储数字输出信号221。
因此，可提供精确且可靠的检测电路200，该检测电路可集成在焊接到飞跨电容器102的PCB上的芯片内部，而不需要提供附加引脚，从而实现检测电路200的有成本效益的集成。
飞跨电容器102可在飞跨电容器102的顶部端子处表现出顶部电压Vtop并且在底部端子处表现出底部电压Vbot。在非故障飞跨电容器102的情况下，在充电阶段期间，顶部电压Vtop可高于底部电压Vbot。因此，飞跨电容器102上的电压可以是正的。测量电路210可被配置为提供一个或多个差分测量信号211，该一个或多个差分测量信号指示顶部电压Vtop是否高于底部电压Vbot，或者顶部电压Vtop和底部电压Vbot是否基本上相等。因此，可以可靠的方式来确定飞跨电容器102的状况。
测量电路210可包括至少一个差分对301、302，该至少一个差分对包括位于使用顶部电压Vtop控制的分支上的第一(MOS，金属氧化物半导体)晶体管312、314，以及位于使用底部电压Vbot控制的分支上的第二晶体管322、324。由测量电路210提供的差分测量信号211可包括指示由顶部电压Vtop控制的分支上的输出电压的分量Vop1、Von2，以及指示由该至少一个差分对301、302的底部电压Vbot控制的分支上的输出电压的分量Vop2、Von1。可基于第一分量Vop1、Von1并且基于第二分量Vop2、Von2以可靠的方式来确定数字输出信号221。
该至少一个差分对301、302可包括(直接)布置在第一晶体管312、314的源极与第二晶体管322、323的源极之间的退化电阻器303。检测触发231可被设置成使得在非故障飞跨电容器102的情况下，飞跨电容器102上的电压等于或大于退化电阻器303上的电压(在检测触发213的时间点)。
该至少一个差分对301、302通常包括电流源311、321、313、323，该电流源被配置为在由顶部电压Vtop控制的分支上并且在由底部电压Vbot控制的分支上提供分支电流Itail/2(例如差分对301、302的偏置电流Itail的一半)。检测触发231可被设置成使得在非故障飞跨电容器102的情况下，飞跨电容器102上的电压等于或大于分支电流乘以退化电阻器303的电阻值。此外，检测触发231可被设置成使得在故障飞跨电容器102的情况下，飞跨电容器102上的电压小于分支电流乘以退化电阻器303的电阻值。
通过利用退化电阻器，可以特别可靠的方式来检测“故障”和“非故障”飞跨电容器102这两种状况。
测量电路210可包括上差分对301，特别是PMOS差分对，该上差分对相对于用于使飞跨电容器102工作的电池电压Vbat布置，并被配置为提供上差分测量信号211。此外，测量电路210可包括下差分对302，特别是NMOS差分对，该下差分对相对于用于使飞跨电容器102工作的接地GND布置，并且被配置为提供下差分测量信号211。可基于上差分测量信号211并且基于下差分测量信号211以特别可靠的方式来确定数字输出信号221。
上差分对301可包括电流源311、321，该电流源在电池电压Vbat下从供电轨提供偏置电流Itail。此外，上差分对301可包括位于使用顶部电压Vtop控制的分支上的第一PMOS晶体管312，以及位于使用底部电压Vbot控制的分支上的第二PMOS晶体管322。此外，上差分对301可包括(直接)布置在第一PMOS晶体管312的源极和第二PMOS晶体管322的源极之间的退化电阻器303。上差分测量信号211的第一分量Vop1可(直接)设置在第一PMOS晶体管312的漏极处，并且上差分测量信号211的第二分量Vop2可(直接)设置在第二PMOS晶体管322的漏极处。
以互补方式，下差分对302可包括电流源313、323，该电流源在接地GND处提供来自接地轨的偏置电流Itail。此外，下差分对302可包括位于使用顶部电压Vtop控制的分支上的第一NMOS晶体管314，以及位于使用底部电压Vbot控制的分支上的第二NMOS晶体管324。此外，下差分对302可包括(直接)布置在第一NMOS晶体管314的源极和第二NMOS晶体管324的源极之间的退化电阻器303。下差分测量信号211的第一分量Von1可(直接)设置在第二NMOS晶体管324的漏极处，并且/或者下差分测量信号211的第二分量Von2可(直接)设置在第一NMOS晶体管314的漏极处。
比较器电路220可包括第一组合器电路，该第一组合器电路被配置为将上差分测量信号211的第一分量Vop1与下差分测量信号211的第一分量Von1组合，以提供第一组合分量。此外，比较器电路220可包括第二组合器电路，该第二组合器电路被配置为将上差分测量信号211的第二分量Vop2与下差分测量信号211的第二分量Von2组合，以提供第二组合分量。第一组合器电路和/或第二组合器电路可各自包括一个或多个电流镜。
比较器电路可被配置为基于第一组合分量并基于第二组合分量、特别是通过比较第一组合分量和第二组合分量来确定数字输出信号221。通过这样做，可以特别可靠的方式来确定数字输出信号。
如上所述，由测量电路210提供的差分测量信号211可包括第一分量Vop1、Von1和第二分量Vop2、Von2。测量电路210可被配置为生成差分测量信号211，使得
·如果飞跨电容器102上的电压大于电压阈值，则第一分量Vop1、Von1小于第二分量Vop2、Von2；或者
·如果飞跨电容器102上的电压大于电压阈值，则第一分量Vop1、Von1大于第二分量Vop2、Von2；并且/或者
·如果飞跨电容器102上的电压小于电压阈值，则第一分量Vop1、Von1大于第二分量Vop2、Von2；或者
·如果飞跨电容器102上的电压小于电压阈值，则第一分量Vop1、Von1小于第二分量Vop2、Von2。
具体地讲，测量电路210的上差分对301可被配置为生成差分测量信号211，使得如果飞跨电容器102上的电压大于电压阈值，则第一分量Vop1小于第二分量Vop2。
另选地或附加地，测量电路210的下差分对302可被配置为生成差分测量信号211，使得
·如果飞跨电容器102上的电压大于电压阈值，则第一分量Von1大于第二分量Von2；并且/或者
·如果飞跨电容器102上的电压小于电压阈值，则第一分量Von1小于第二分量Von2。
比较器电路220可被配置为将第一分量Vop1、Von1与第二分量Vop2、Von2(或从其导出的信号)进行比较，以便确定数字输出信号221。通过这样做，可以可靠的方式来确定飞跨电容器102的状况。
比较器电路220可包括第一放大器，该第一放大器被配置为放大差分测量信号211的第一分量Vop1、Von1(或从其导出的信号)，以提供第一放大分量。此外，比较器电路220可包括第二放大器，该第二放大器被配置为放大差分测量信号211的第二分量Vop2、Von2，以提供第二放大分量。第一放大器和/或第二放大器可各自包括一个或多个NMOS或PMOS电流镜。
此外，比较器电路220可被配置为将第一放大分量与第二放大分量进行比较，以便确定数字输出信号221。通过这样做，可以进一步增加确定飞跨电容器102的状况的可靠性。
比较器电路220可包括正反馈电路200，该正反馈电路被配置为将从第一分量Vop1、Von1导出的信号反馈到第二放大器；并且/或者将从第二分量Vop2、Von2导出的信号反馈到第一放大器，从而进一步增加检测电路200的灵敏度。
此外，描述了用于使飞跨电容器102工作的控制电路100。控制电路100包括一个或多个开关111、112，该一个或多个开关被配置为使飞跨电容器102在充电阶段和放电阶段重复地工作。此外，控制电路包括检测电路200，该检测电路在本文档中描述并且被配置为在充电阶段期间确定数字输出信号211，其中数字输出信号211指示飞跨电容器102是否发生故障(例如，短路)。此外，控制电路100包括控制单元101，该控制单元被配置为根据数字输出信号211来控制该一个或多个开关111、112。
图6示出了用于检测飞跨电容器102的状况的示例性方法600的流程图，该飞跨电容器(周期性地和/或重复地)在充电阶段期间充电并且在后续放电阶段期间放电。方法600包括在飞跨电容器102的充电阶段期间设置601检测触发231。此外，方法600包括提供602一个或多个差分测量信号211，该一个或多个差分测量信号取决于和/或指示在检测触发231时在飞跨电容器102上的电压。此外，方法600包括基于该一个或多个差分测量信号211提供603数字输出信号221，其中数字输出信号221指示飞跨电容器102是否发生故障。
应当指出的是，说明书和附图仅示出所提出的方法和***的原理。虽然本文未明确描述或示出，但本领域的技术人员将能够实现体现本发明的原理以及包括在本发明精神和范围内的各种布置。此外，本文档中概述的所有示例和实施方案明确地主要旨在仅出于说明性目的，以帮助读者理解所提出的方法和***的原理。此外，本文提供本发明的原理、方面和实施方案的所有陈述以及其具体示例旨在涵盖其等同物。

Claims (20)

1.一种检测电路，所述检测电路被配置为检测飞跨电容器的状况，所述飞跨电容器在充电阶段期间充电并且在后续放电阶段期间放电；其中所述检测电路包括：
-定时电路，所述定时电路被配置为在所述飞跨电容器的充电阶段期间设置检测触发；
-测量电路，所述测量电路被配置为提供一个或多个差分测量信号，所述一个或多个差分测量信号取决于和/或指示在所述检测触发时在所述飞跨电容器上的电压；以及
-比较器电路，所述比较器电路被配置为基于所述一个或多个差分测量信号提供数字输出信号；其中所述数字输出信号指示所述飞跨电容器是否发生故障。
2.根据权利要求1所述的检测电路，其中
-所述飞跨电容器在所述飞跨电容器的顶部端子处表现出顶部电压并且在所述飞跨电容器的底部端子处表现出底部电压；
-在非故障飞跨电容器的情况下，在所述充电阶段期间，所述顶部电压高于所述底部电压；并且
-所述测量电路被配置为提供一个或多个差分测量信号，所述一个或多个差分测量信号指示所述顶部电压是否高于所述底部电压。
3.根据权利要求2所述的检测电路，其中
-所述测量电路包括至少一个差分对，所述至少一个差分对包括位于使用所述顶部电压控制的分支上的第一晶体管以及位于使用所述底部电压控制的分支上的第二晶体管；并且
-差分测量信号包括所述至少一个差分对的指示使用所述顶部电压控制的所述分支上的输出电压的分量以及指示使用所述底部电压控制的所述分支上的输出电压的分量。
4.根据权利要求3所述的检测电路，其中所述至少一个差分对包括退化电阻器，所述退化电阻器布置在所述第一晶体管的源极和所述第二晶体管的源极之间。
5.根据权利要求4所述的检测电路，其中
-所述至少一个差分对包括电流源，所述电流源被配置为提供使用所述顶部电压控制的所述分支上的分支电流以及使用所述底部电压控制的所述分支上的分支电流；并且
-所述检测触发使得在非故障飞跨电容器的情况下，所述飞跨电容器上的所述电压等于或大于所述退化电阻器上的所述电压；并且/或者
-所述检测触发使得在故障飞跨电容器的情况下，所述飞跨电容器上的所述电压小于所述分支电流乘以所述退化电阻器的电阻值。
6.根据权利要求3所述的检测电路，其中所述测量电路包括：
-上差分对，特别是PMOS差分对，所述上差分对相对于用于使所述飞跨电容器工作的电池电压布置并被配置为提供上差分测量信号；以及
-下差分对，特别是NMOS差分对，所述下差分对相对于用于使所述飞跨电容器工作的接地布置并被配置为提供下差分测量信号。
7.根据权利要求6所述的检测电路，其中
-所述上差分对包括电流源，所述电流源在所述电池电压下从供电轨提供偏置电流；
-所述上差分对包括位于使用所述顶部电压控制的所述分支上的第一PMOS晶体管；
-所述上差分对包括位于使用所述底部电压控制的所述分支上的第二PMOS晶体管；
-所述上差分对包括布置在所述第一PMOS晶体管的源极和所述第二PMOS晶体管的源极之间的退化电阻器；
-在所述第一PMOS晶体管的漏极处提供所述上差分测量信号的第一分量；并且
-在所述第二PMOS晶体管的漏极处提供所述上差分测量信号的第二分量。
8.根据权利要求6所述的检测电路，其中
-所述下差分对包括电流源，所述电流源在接地处从接地轨提供偏置电流；
-所述下差分对包括位于使用所述顶部电压控制的所述分支上的第一NMOS晶体管；
-所述下差分对包括位于使用所述底部电压控制的所述分支上的第二NMOS晶体管；
-所述下差分对包括布置在所述第一NMOS晶体管的源极和所述第二NMOS晶体管的源极之间的退化电阻器；
-在所述第一NMOS晶体管的漏极处提供所述下差分测量信号的第二分量；并且
-在所述第二NMOS晶体管的漏极处提供所述下差分测量信号的第一分量。
9.根据权利要求6所述的检测电路，其中
-所述比较器电路包括第一组合器电路，所述第一组合器电路被配置为将所述上差分测量信号的第一分量与所述下差分测量信号的第一分量组合，以提供第一组合分量；
-所述比较器电路包括第二组合器电路，所述第二组合器电路被配置为将所述上差分测量信号的第二分量与所述下差分测量信号的第二分量组合，以提供第二组合分量；
-所述比较器电路被配置为基于所述第一组合分量并基于所述第二组合分量来确定所述数字输出信号。
10.根据权利要求9所述的检测电路，其中所述第一组合器电路和/或所述第二组合器电路各自包括电流镜。
11.根据权利要求1所述的检测电路，其中
-由所述测量电路提供的差分测量信号包括第一分量和第二分量；
-所述测量电路被配置为生成所述差分测量信号，使得
-如果所述飞跨电容器上的所述电压大于电压阈值，则所述第一分量小于所述第二分量；或者
-如果所述飞跨电容器上的所述电压大于所述电压阈值，则所述第一分量大于所述第二分量；并且/或者
-如果所述飞跨电容器上的所述电压小于所述电压阈值，则所述第一分量大于所述第二分量；或者
-如果所述飞跨电容器上的所述电压小于所述电压阈值，则所述第一分量小于所述第二分量；并且
-所述比较器电路被配置为将所述第一分量与所述第二分量进行比较，以便确定所述数字输出信号。
12.根据权利要求11所述的检测电路，其中所述比较器电路包括：
-第一放大器，所述第一放大器被配置为放大所述差分测量信号的所述第一分量，以提供第一放大分量；
-第二放大器，所述第二放大器被配置为放大所述差分测量信号的所述第二分量，以提供第二放大分量；并且
-所述比较器电路被配置为将所述第一放大分量与所述第二放大分量进行比较，以便确定所述数字输出信号。
13.根据权利要求12所述的检测电路，其中所述比较器电路包括正反馈电路，所述正反馈电路被配置为-将从所述第一分量导出的信号反馈到所述第二放大器；并且/或者
-将从所述第二分量导出的信号反馈到所述第一放大器。
14.根据权利要求12所述的检测电路，其中所述第一放大器和/或所述第二放大器各自包括一个或多个NMOS或PMOS电流镜。
15.根据权利要求1所述的检测电路，其中
-所述定时电路被配置为设置所述检测触发，使得在非故障飞跨电容器的情况下，所述飞跨电容器上的所述电压处于最小电容器电压或更高；并且
-所述最小电容器电压足够高以使所述测量电路提供足够高的差分测量信号以指示非故障飞跨电容器。
16.根据权利要求1所述的检测电路，其中所述检测电路包括寄存器和/或存储器，所述寄存器和/或存储器被配置为存储所述数字输出信号。
17.根据权利要求1所述的检测电路，其中
-在所述充电阶段期间，所述飞跨电容器被布置在包括所述飞跨电容器的电路的供电电压和输出电压之间；并且
-所述供电电压高于所述输出电压。
18.根据权利要求1所述的检测电路，其中所述飞跨电容器是无电感器的DC/DC电源转换器的一部分，所述无电感器的DC/DC电源转换器被配置为将电力从供电电压转换为输出电压。
19.一种用于使飞跨电容器工作的控制电路；其中所述控制电路包括：
-一个或多个开关，所述一个或多个开关被配置为使所述飞跨电容器在充电阶段和放电阶段重复地工作；
-根据权利要求1所述的检测电路，所述检测电路被配置为在充电阶段期间确定数字输出信号，所述数字输出信号指示所述飞跨电容器是否发生故障；以及
-控制单元，所述控制单元被配置为根据所述数字输出信号来控制所述一个或多个开关。
20.一种用于检测飞跨电容器的状况的方法，所述飞跨电容器在充电阶段期间充电并且在后续放电阶段期间放电；其中所述方法包括：
-在所述飞跨电容器的充电阶段期间设置检测触发；
-提供一个或多个差分测量信号，所述一个或多个差分测量信号取决于和/或指示在所述检测触发时在所述飞跨电容器上的电压；以及
-基于所述一个或多个差分测量信号提供数字输出信号；其中所述数字输出信号指示所述飞跨电容器是否发生故障。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114337225A (zh) * 2021-12-30 2022-04-12 湖南大学 一种基于健康状态监测提升变换器可靠性的方法
CN114527407A (zh) * 2022-04-22 2022-05-24 深圳英集芯科技股份有限公司 电容检测电路、装置及设备

Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5608352A (en) * 1993-12-22 1997-03-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Differential input circuit capable of broadening operation range of input common mode potential
JP2002291167A (ja) * 2001-03-27 2002-10-04 Denso Corp フライングキャパシタ式組電池電圧検出装置
JP2002315212A (ja) * 2001-04-13 2002-10-25 Denso Corp フライングキャパシタ式組電池電圧検出装置
US6642787B1 (en) * 1999-03-16 2003-11-04 Mitel Semiconductor Limited Differential amplifier with two long-tailed pairs of transistors
US20040160229A1 (en) * 2003-02-19 2004-08-19 Denso Corpoation Voltage detecting apparatus applicable to a combination battery
JP2006078323A (ja) * 2004-09-09 2006-03-23 Denso Corp フライングキャパシタ式電池電圧検出装置
US20070013434A1 (en) * 2005-07-18 2007-01-18 Dialog Semiconductor Gmbh Voltage regulated charge pump with regulated charge current into the flying capacitor
CN201373909Y (zh) * 2009-02-17 2009-12-30 朱灿 电池组单体电池电压检测装置
US20120153966A1 (en) * 2010-12-20 2012-06-21 Yoshihiro Kawamura Apparatus for detecting fault of flying capacitor of insulated condition detecting unit
KR20120071318A (ko) * 2010-12-22 2012-07-02 미쓰미덴기가부시기가이샤 플라잉 캐패시터식 전압 검출 회로 및 전지 보호용 집적 회로
JP2012220470A (ja) * 2011-04-14 2012-11-12 Yazaki Corp 絶縁状態検出ユニットの故障検出装置
CN103227621A (zh) * 2012-01-30 2013-07-31 辉达公司 用于差分信令的数字驱动的电荷泵发射器
US20140043032A1 (en) * 2011-04-21 2014-02-13 Renesas Electronics Corporation Switch circuit, selection circuit, and voltage measurement device
CN104977510A (zh) * 2014-04-03 2015-10-14 矢崎总业株式会社 绝缘检测装置
US20170299658A1 (en) * 2014-12-24 2017-10-19 Primearth Ev Energy Co., Ltd. Battery voltage measurement circuit
US10090763B1 (en) * 2017-06-19 2018-10-02 Dialog Semiconductor (Uk) Limited Multi-level buck converter having a regulated flying capacitor voltage used for high-side drive
CN208158430U (zh) * 2016-12-15 2018-11-27 德州仪器公司 用于使飞跨电容器在多电平转换器中达到平衡的设备

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006053120A (ja) * 2004-07-12 2006-02-23 Denso Corp 組電池電圧検出装置
US11307256B2 (en) * 2018-04-02 2022-04-19 Marelli Corporation Diagnostic apparatus and diagnostic method

Patent Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5608352A (en) * 1993-12-22 1997-03-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Differential input circuit capable of broadening operation range of input common mode potential
US6642787B1 (en) * 1999-03-16 2003-11-04 Mitel Semiconductor Limited Differential amplifier with two long-tailed pairs of transistors
JP2002291167A (ja) * 2001-03-27 2002-10-04 Denso Corp フライングキャパシタ式組電池電圧検出装置
JP2002315212A (ja) * 2001-04-13 2002-10-25 Denso Corp フライングキャパシタ式組電池電圧検出装置
US20040160229A1 (en) * 2003-02-19 2004-08-19 Denso Corpoation Voltage detecting apparatus applicable to a combination battery
JP2006078323A (ja) * 2004-09-09 2006-03-23 Denso Corp フライングキャパシタ式電池電圧検出装置
US20070013434A1 (en) * 2005-07-18 2007-01-18 Dialog Semiconductor Gmbh Voltage regulated charge pump with regulated charge current into the flying capacitor
CN201373909Y (zh) * 2009-02-17 2009-12-30 朱灿 电池组单体电池电压检测装置
US20120153966A1 (en) * 2010-12-20 2012-06-21 Yoshihiro Kawamura Apparatus for detecting fault of flying capacitor of insulated condition detecting unit
KR20120071318A (ko) * 2010-12-22 2012-07-02 미쓰미덴기가부시기가이샤 플라잉 캐패시터식 전압 검출 회로 및 전지 보호용 집적 회로
JP2012220470A (ja) * 2011-04-14 2012-11-12 Yazaki Corp 絶縁状態検出ユニットの故障検出装置
US20140043032A1 (en) * 2011-04-21 2014-02-13 Renesas Electronics Corporation Switch circuit, selection circuit, and voltage measurement device
CN103227621A (zh) * 2012-01-30 2013-07-31 辉达公司 用于差分信令的数字驱动的电荷泵发射器
CN104977510A (zh) * 2014-04-03 2015-10-14 矢崎总业株式会社 绝缘检测装置
US20170299658A1 (en) * 2014-12-24 2017-10-19 Primearth Ev Energy Co., Ltd. Battery voltage measurement circuit
CN208158430U (zh) * 2016-12-15 2018-11-27 德州仪器公司 用于使飞跨电容器在多电平转换器中达到平衡的设备
US10090763B1 (en) * 2017-06-19 2018-10-02 Dialog Semiconductor (Uk) Limited Multi-level buck converter having a regulated flying capacitor voltage used for high-side drive

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114337225A (zh) * 2021-12-30 2022-04-12 湖南大学 一种基于健康状态监测提升变换器可靠性的方法
CN114527407A (zh) * 2022-04-22 2022-05-24 深圳英集芯科技股份有限公司 电容检测电路、装置及设备
CN114527407B (zh) * 2022-04-22 2022-07-08 深圳英集芯科技股份有限公司 电容检测电路、装置及设备
WO2023202690A1 (zh) * 2022-04-22 2023-10-26 深圳英集芯科技股份有限公司 电容检测电路、装置及设备

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