CN112505067A - 一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法。这种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法实现了使得在检测过程中不再需要进行镀膜层的去除处理，减少了不必要的步骤，节约了实施该方法的时间，同时消除了测试数据的固有误差，能够真实反映镀膜工序镀膜层的质量，便于对镀膜工序的镀膜加工质量进行监控，利于提高光伏玻璃产品的品质。
Description
技术领域
本发明涉及玻璃镀膜的技术领域，具体涉及一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法。
背景技术
在镀膜透明材料(如平板玻璃、无机玻璃、有机玻璃、亚克力等)生产过程中，质量控制 是一个重要环节。目前，很多生产工艺没有自动化检测设备，靠人工检测控制质量。但人工检测缺陷的方法存在如下问题：如漏检，误检等，对玻璃产出质量控制标准不一致，主观因素多；不能实时得到所需质量数据，不便于质量数据的统计、查询；检出的效率低，自动化程 度低，成本高。
现有技术中亦存在一些镀膜透明材料自动检测设备，虽然检测设备可检测到镀膜透明材料的缺陷，但无法在线识别出缺陷所在镀膜透明材料内的三维相对位置，无法适用于表面粗糙、凹 凸不平等异形镀膜透明材料，使用者无法获得缺陷在镀膜透明材料的直观分布，无法对非平板透明 材料进行检测。然而，缺陷在材料中的三维相对位置是指导分析缺陷成因、指导材料生产工 艺的调整和材料成品分等分级的重要指标。为了对产品进行上述相关分析，往往需要离线 取样缺陷，然而离线分析镀膜透明材料的缺陷的三维相对位置导致其实时性差、反应速度慢，且大大影响生产作业效率及产品成品率。
玻璃镀膜后，其透光率比镀膜前的原片玻璃是有变化的，镀膜的目的是增加玻璃整体的透光率，镀膜玻璃的光学性能检测就是将镀膜层增加的那部分透光率量化出来，用来判断镀膜工序的质量、判断镀膜层的优劣、评价镀膜层的质量好坏，因此，镀膜玻璃透光率的检测变为尤为重要。
以前的对镀膜光伏玻璃镀膜层增加的那部分透光率的检测方法大多为整体测量法，主要有：非在线测试法和在线测试法，非在线测试法和在线测试法均无法克服不同玻璃或者不同测试仪器导致的固有误差，无法准确地将镀膜层增加的那部分透光率量化，也就无法很好的判断镀膜工序的质量、镀膜层的优劣及评价镀膜层的质量。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种解决上述背景技术中提出的问题，对镀膜透明材料中的光线强度信息值做出判断的透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法。
为达到以上目的，本发明采用的技术方案为：
一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法,包括以下步骤：
步骤A，检测***移动并控制成像装置在镀膜透明材料被照明时对其进行连续扫描，不断检测镀膜透明材料的光线强度；
步骤B，将检测到的光线强度信息值进行比较，得出最大光线强度信息值M；
步骤C，则判断检测环境的实时光线强度信息值是否大于或等于最大光线强度信息值M的预定条件值或实时检测到的光线强度信息值大于或等于第一光线亮度绝对阈值N；
步骤D，当实时光线强度信息值大于或等于最大光线强度信息值M时或光线强度信息值大于或等于第一光线亮度绝对阈值N，则检测***停止移动，并获得缺陷的实像信息、自身镜面反射面中成像的缺陷虚像信息，对于表面粗糙、凹凸不平的异形镀膜透明材料，获得缺陷的实像信息；
步骤E，判断该异形镀膜透明材料不合格时，检测控制***发出剔除该不合格的异形镀膜透明材料的指令。
上述的透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法，所述步骤A还包括步骤A1,控制组合光源照射所述镀膜透明材料，通过组合光源间的不同组合分时切换提供不同的照明模式。
上述的透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法，所述步骤D还包括步骤D1, 当实时光线强度信息值小于最大光线强度信息值M时或光线强度信息值小于第一光线亮度绝对阈值N时，则智能设备继续移动。
上述的透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法，所述步骤C中所述最大光线强度信息值M的预定条件值是指实时光线强度信息值为最大光线强度信息值M的60-80%。
上述的透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法，所述实时光线强度信息值为最大光线强度信息值M 的70%。
上述的透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法，所述组合光源包括反射亮光源、反射暗光源、透射亮光源、透射暗光源及远射暗光源中的一种或者多种。
上述的透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法，所述成像装置包括用于收集光信号并将光信号转换为电信号的成像组件，所述成像组件为CCD线阵成像组件或者CMOS线阵成像组件或者其他线阵成像组件；所述面镜成像组件为低透光率镀膜反光镜。
上述的透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法，所述成像装置的数量为多个，多个所述成像装置设置于所述镀膜透明材料的上方和/或下方。
本发明的优点在于：这种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法实现了使得在检测过程中不再需要进行镀膜层的去除处理，减少了不必要的步骤，节约了实施该方法的时间，同时消除了测试数据的固有误差，能够真实反映镀膜工序镀膜层的质量，便于对镀膜工序的镀膜加工质量进行监控，利于提高光伏玻璃产品的品质。
具体实施方式
以下描述用于揭露本发明以使本领域技术人员能够实现本发明。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。
本发明提供一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法,包括以下步骤：
步骤A，检测***移动并控制成像装置在所述镀膜透明材料被照明时对其进行连续扫描，不断检测镀膜透明材料的光线强度；
步骤B，将检测到的光线强度信息值进行比较，得出最大光线强度信息值M；
步骤C，则判断检测环境的实时光线强度信息值是否大于或等于最大光线强度信息值M的预定条件值或实时检测到的光线强度信息值大于或等于第一光线亮度绝对阈值N；
步骤D，当实时光线强度信息值大于或等于最大光线强度信息值M时或光线强度信息值大于或等于第一光线亮度绝对阈值N，则检测***停止移动，并获得缺陷的实像信息、自身镜面反射面中成像的缺陷虚像信息，对于表面粗糙、凹凸不平的异形镀膜透明材料，获得缺陷的实像信息；
步骤E，判断该异形镀膜透明材料不合格时，检测控制***发出剔除该不合格的异形镀膜透明材料的指令。
进一步地，本发明一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法的较佳实施例中，所述步骤A还包括步骤A1,控制组合光源照射所述镀膜透明材料，通过组合光源间的不同组合分时切换提供不同的照明模式。
进一步地，本发明一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法的较佳实施例中，所述步骤D还包括步骤D1, 当实时光线强度信息值小于最大光线强度信息值M时或光线强度信息值小于第一光线亮度绝对阈值N时，则智能设备继续移动。
进一步地，本发明一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法的较佳实施例中，所述步骤C中所述最大光线强度信息值M的预定条件值是指实时光线强度信息值为最大光线强度信息值M的60-80%。
进一步地，本发明一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法的较佳实施例中，所述实时光线强度信息值为最大光线强度信息值M 的70%。所述第一光线亮度绝对阈值N在光亮为300~350lux 时取得。
包含移动模块、驱动模块、电源模块和控制模块，所述移动模块设置在检测***的顶部，所述控制模块与所述驱动模块连接，在所述控制模块的作用下，所述驱动模块驱动所述移动模块移动，还包括光敏传感器，设置在智能设备底部，用于检测光线强度，将光线强度信息值传送给所述控制模块。
所述控制模块包括：信息存储子模块，用于预设第一光线亮度绝对阈值N；信息处理子模块，用于根据所述光敏传感器检测的光线强度信息值得出最大光线强度信息值M。
光敏传感器实时检测到的光线强度信息值大于或等于第一光线亮度绝对阈值N，或者所述光敏传感器实时检测到的光线强度信息值大于或等于最大光线强度信息值M 的60%~80%，当光亮不低于最大光线强度信息值M的60%~80%的时候，检测***处于镀膜透明材料的外沿。
进一步地，本发明一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法的较佳实施例中， 所述组合光源包括反射亮光源、反射暗光源、透射亮光源、透射暗光源及远射暗光源中的一种或者多种。
进一步地，本发明一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法的较佳实施例中， 所述成像装置包括用于收集光信号并将光信号转换为电信号的成像组件，所述成像组件为CCD线阵成像组件或者CMOS线阵成像组件或者其他线阵成像组件；所述面镜成像组件为低透光率镀膜反光镜。
进一步地，本发明一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法的较佳实施例中，所述成像装置的数量为多个，多个所述成像装置设置于所述镀膜透明材料的上方和/或下方。
通过引入至少一个面镜成像组件，使得成像装置在控制器的控 制下具有独立成像模式及联合成像模式，且配合组合光源的提供的多种照明模式，可以实 现对镀膜透明材料缺陷的多通道图像采集，能捕获镀膜透明材料表面和/或内部缺陷在不同照明模式、成像模式下的多通道图像数据，并且通过控制成像模式的变化，抓拍镀膜透明材料表面和/或内部缺陷在面镜成像组件中的缺陷影像，从而克服了现有技术中仅适于平板镀膜透明材料的局限。相较于现有的缺陷检测***，极大地丰富了图像采集的信息量，提高了缺陷信息的准度和精度，提高了镀膜透明材料缺陷的检出率和识别率，便于后续对产品缺陷的具体三维位置的分析及产品的缺陷种类分析，利于提高镀膜透明材料的在线加工质量，具有广泛的应用价值。
本发明这种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法实现了使得在检测过程中不再需要进行镀膜层的去除处理，减少了不必要的步骤，节约了实施该方法的时间，同时消除了测试数据的固有误差，能够真实反映镀膜工序镀膜层的质量，便于对镀膜工序的镀膜加工质量进行监控，利于提高光伏玻璃产品的品质。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明的范围内。本发明要求的保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。
Claims (8)
1.一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法,其特征在于, 包括以下步骤：
步骤A，检测***移动并控制成像装置在所述镀膜透明材料被照明时对其进行连续扫描，不断检测镀膜透明材料的光线强度；
步骤B，将检测到的光线强度信息值进行比较，得出最大光线强度信息值M；
步骤C，则判断检测环境的实时光线强度信息值是否大于或等于最大光线强度信息值M的预定条件值或实时检测到的光线强度信息值大于或等于第一光线亮度绝对阈值N；
步骤D，当实时光线强度信息值大于或等于最大光线强度信息值M时或光线强度信息值大于或等于第一光线亮度绝对阈值N，则检测***停止移动，并获得缺陷的实像信息、自身镜面反射面中成像的缺陷虚像信息，对于表面粗糙、凹凸不平的异形镀膜透明材料，获得缺陷的实像信息；
步骤E，判断该异形镀膜透明材料不合格时，检测控制***发出剔除该不合格的异形镀膜透明材料的指令。
2.如权利要求1所述的一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法，其特征在于,所述步骤A还包括步骤A1,控制组合光源照射所述镀膜透明材料，通过组合光源间的不同组合分时切换提供不同的照明模式。
3.如权利要求1所述的一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法，其特征在于,所述步骤D还包括步骤D1, 当实时光线强度信息值小于最大光线强度信息值M时或光线强度信息值小于第一光线亮度绝对阈值N时，则智能设备继续移动。
4.如权利要求1所述的一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法，其特征在于,所述步骤C中所述最大光线强度信息值M的预定条件值是指实时光线强度信息值为最大光线强度信息值M的60-80%。
5.如权利要求4所述的一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法，其特征在于,所述实时光线强度信息值为最大光线强度信息值M 的70%。
6.如权利要求1所述的一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法，其特征在于, 所述组合光源包括反射亮光源、反射暗光源、透射亮光源、透射暗光源及远射暗光源中的一种或者多种。
7.如权利要求1所述的一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法，其特征在于,所述成像装置包括用于收集光信号并将光信号转换为电信号的成像组件，所述成像组件为CCD线阵成像组件或者CMOS线阵成像组件或者其他线阵成像组件；所述面镜成像组件为低透光率镀膜反光镜。
8.如权利要求1所述的一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法，其特征在于,所述成像装置的数量为多个，多个所述成像装置设置于所述镀膜透明材料的上方和/或下方。
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