CN112378322A - 基板的弧度检测方法及其*** - Google Patents

基板的弧度检测方法及其*** Download PDF

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Abstract

本发明公开了基板的弧度检测方法和***,包括以下步骤:在定位板上固定多个千分表感应器,在定位板上设置载物台,载物台上设有多个通槽,千分表感应器的表头穿过通槽向上伸出;对基板表面进行清洗和擦拭,去除掉基板表面的污物;将待检测的基板置于载物台上,并且两侧的限位块对其有效的限位,基板的底面与多个千分表感应器的感应表头充分接触;基板向下压千分表感应器的千分表头,千分表头受力往回收缩,千分表感应器感应到收缩量,并将该数据传输给计算机。本发明能够同时检测出基板表面的对应点的数值,并且显示出基板表面上不同方向的变形弧度情况。

Description

基板的弧度检测方法及其***
技术领域
本发明涉及金属板检测技术领域,特别是基板的弧度检测方法和***。
背景技术
基板是制造PCB的基本材料,一般情况下,基板就是覆铜箔层压板,单、双面印制板在制造中是在基板材料-覆铜箔层压板上,有选择地进行孔加工、化学镀铜、电镀铜、蚀刻等加工,得到所需电路图形。另一类多层印制板的制造,也是以内芯薄型覆铜箔板为底基,将导电图形层与半固化片交替地经一次性层压黏合在一起,形成3层以上导电图形层间互连。在电子元器件领域,基板是十分重要的一个部件,其质量的好坏可能会影响整个装置的使用,因此需要对加工完的基板的表面进行检测,看其是否符合标准,现今对于基板的检测主要是采用千分表,在基板表面选取多个点,读出数值,判断是否落入公差范围内。采用这种人工的手段的弊端在于,人工检测在操作上会存在较大的偏差,不能保证数据的准确度。
发明内容
本发明的目的在于,提供基板的弧度检测方法和***。本发明能够同时检测出基板表面的对应点的数值,并且显示出基板表面上不同方向的变形弧度情况。
本发明的技术方案:基板的弧度检测方法,包括以下步骤:
S1:在定位板上固定多个千分表感应器,在定位板上设置载物台,载物台上设有多个通槽,千分表感应器的表头穿过通槽向上伸出;
S2:对基板表面进行清洗和擦拭,去除掉基板表面的污物;
S3:将待检测的基板置于载物台上,并且两侧的限位块对其有效的限位,基板的底面与多个千分表感应器的感应表头充分接触;
S4:基板向下压千分表感应器的千分表头,千分表头受力往回收缩,千分表感应器感应到收缩量,并将该数据传输给计算机;
S5:计算机收集到基板表面不同位置处的收缩量数据,通过算法对检测到收缩量数据进行处理,计算机通过设定的公式计算出基板表面多个方向上指定三点的高度差,计算机将所得处的高度差值与标准范围进行比较,如在标准范围内,其数值则显示为淡绿色,大于标准上限显示淡紫色,小于标准范围显示淡红色,最终得到基板的变形弧度检测结果,***根据检测结构提示基板合格或者不合格。
上述的基板的弧度检测方法中,在定位板上固定九个千分表感应器,九个千分表感应器呈3X3阵列设置;基板的底面与九个千分表感应器的感应表头充分接触,每3个千分表感应器呈一列且检测到该列上的收缩量数据,再将这些收缩量数据传输至计算机,通过算法得到基板的弧度检测结果。
本发明还提供一种基板的弧度检测***,包括支撑柱,支撑柱上设有定位板,定位板上设有多个连接柱,连接柱上设有载物台;所述的定位板下侧部设有多个千分表感应器,千分表感应器上设有千分表头,千分表头穿过定位板设置在定位板的上侧面上;所述的载物台上设有多个通槽,千分表头穿设在通槽内,载物台的上部两侧设有定位块,支撑柱的一侧设有计算机,计算机与千分表感应器相连接。
前述的基板的弧度检测***中,所述的千分表头共有9个。
前述的基板的弧度检测***中,所述的千分表头由固定套筒和千分表探头组成。
前述的基板的弧度检测***中,所述的计算机包括对数据的处理模块和图像成形的模块。
前述的基板的弧度检测***中,所述的通槽共有9组,且呈3X3方阵布置。
与现有技术相比,本发明具有以下的有益效果:
1、本发明设置有多个千分表头,可以对基板表面不同列的点进行同时测量,基板放置在千分表头上时,千分表探头往回收缩,千分表感应器感应其收缩量,得出各点的数值,通过计算机的处理,得出每列的变形弧度情况,从而得出整个基板表面的不同方向的弧度状况,判断基板表面弧度是否在合理的公差范围内。
2、通过千分表感应器和千分表头相连接,通过感应装置来对基板表面进行检测,相比于人工检测,大大降低了人为操作的不确定性。
3、载物台的上部两侧设有定位块,定位块能够有效限制基板的位置,防止在检测过程中意外碰触到基板发生位移,影响检测结果。
附图说明
图1为本发明的***装置示意图;
图2为千分表头的示意图;
附图中的标记说明:1-支撑柱,2-定位板,3-连接柱,4-载物台,5-千分表感应器,6-千分表头,7-通槽,8-定位块,9-计算机,601-固定套筒,602-千分表探头。
实施例:基板的弧度检测方法,包括以下步骤:
S1:在定位板上固定多个千分表感应器,在定位板上设置载物台,载物台上设有多个通槽,千分表感应器的表头穿过通槽向上伸出;
S2:对基板表面进行清洗和擦拭,去除掉基板表面的污物;
S3:将待检测的基板置于载物台上,并且两侧的限位块对其有效的限位,基板的底面与多个千分表感应器的感应表头充分接触;
S4:基板向下压千分表感应器的千分表头,千分表头受力往回收缩,千分表感应器感应到收缩量,并将该数据传输给计算机;
S5:在定位板上固定九个千分表感应器,九个千分表感应器呈3X3阵列设置;基板的底面与九个千分表感应器的感应表头充分接触,每3个千分表感应器呈一列且检测到该列上的收缩量数据,计算机收集到基板表面不同位置处的收缩量数据,通过算法对检测到的收缩量数据进行处理,计算机通过设定的公式计算出基板表面多个方向上指定三点的高度差,计算机将所得处的高度差值与标准范围进行比较,如在标准范围内,其数值则显示为淡绿色,大于标准上限显示淡紫色,小于标准范围显示淡红色,一块基板至少计算6组以上的高度差数值,通过对整块基板多个方向上3个点位的高度差数值,综合所有数据得出基板表面的弧度状况。
基板的弧度检测***,如图1所示,包括支撑柱1,支撑柱1上设有定位板2,定位板2上设有多个连接柱3,连接柱3上设有载物台4;所述的定位板2下侧部设有多个千分表感应器5,所述的千分表感应器5共有9个,千分表感应器5上设有千分表头6,如图2所示,所述的千分表头6由固定套筒601和千分表探头602组成,当基板放在千分表头上时,千分表探头会往固定套筒内收缩位移,千分表头6穿过定位板2设置在定位板2的上侧面上;所述的载物台4上设有多个通槽7,所述的通槽7共有9组,且呈3X3方阵布置,9个千分表头对应的设置在通槽内,千分表头6穿设在通槽7内,千分表头穿过通槽且向上伸出一段距离,载物台4的上部两侧设有定位块8,定位块能够有效限制基板的位置,防止在检测过程中意外碰触到基板发生位移,影响检测结果;支撑柱1的一侧设有计算机9,所述的计算机9包括对数据的处理模块和图像成形的模块,计算机9与千分表感应器5相连接。人工采用带有表架的千分表对基板进行检测,主要会产生一些问题,首先对测量人员的要求较高,需要不断的移动基板进行多次测量,这样会导致测量精度较低,并且测量人员无法实时记录下测得的数据。而本发明装置采用固定的测量平台对基板的一整面进行检测,准确定位基板的位置,提高测量的效率,测得的数据清楚明了。

Claims (7)

1.基板的弧度检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:在定位板上固定多个千分表感应器,在定位板上设置载物台,载物台上设有多个通槽,千分表感应器的表头穿过通槽向上伸出;
S2:对基板表面进行清洗和擦拭,去除掉基板表面的污物;
S3:将待检测的基板置于载物台上,并且两侧的限位块对其有效的限位,基板的底面与多个千分表感应器的感应表头充分接触;
S4:基板向下压千分表感应器的千分表头,千分表头受力往回收缩,千分表感应器感应到收缩量,并将该数据传输给计算机;
S5:计算机收集到基板表面不同位置处的收缩量数据,通过算法对检测到的收缩量数据进行处理,计算机通过设定的公式计算出基板表面多个方向上指定三点的高度差,计算机将所得处的高度差值与标准范围进行比较,如在标准范围内,其数值则显示为淡绿色,大于标准上限显示淡紫色,小于标准范围显示淡红色,最终得到基板的变形弧度检测结果,***根据检测结构提示基板合格或者不合格。
2.根据权利要求1所述的基板的弧度检测方法,其特征在于:在定位板上固定九个千分表感应器,九个千分表感应器呈3X3阵列设置;基板的底面与九个千分表感应器的感应表头充分接触,每3个千分表感应器呈一列且检测到该列上的收缩量数据,再将这些收缩量数据传输至计算机,通过算法得到基板的弧度检测结果。
3.基板的弧度检测***,其特征在于:包括支撑柱(1),支撑柱(1)上设有定位板(2),定位板(2)上设有多个连接柱(3),连接柱(3)上设有载物台(4);所述的定位板(2)下侧部设有多个千分表感应器(5),千分表感应器(5)上设有千分表头(6),千分表头(6)穿过定位板(2)设置在定位板(2)的上侧面上;所述的载物台(4)上设有多个通槽(7),千分表头(6)穿设在通槽(7)内,载物台(4)的上部两侧设有定位块(8),支撑柱(1)的一侧设有计算机(9),计算机(9)与千分表感应器(5)相连接。
4.根据权利要求3所述的基板的弧度检测***,其特征在于:所述的千分表感应器(5)共有9个。
5.根据权利要求3所述的基板的弧度检测***,其特征在于:所述的千分表头(6)由固定套筒(601)和千分表探头(602)组成。
6.根据权利要求3所述的基板的弧度检测***,其特征在于:所述的计算机(9)包括对数据的处理模块和图像成形的模块。
7.根据权利要求3所述的基板的弧度检测***,其特征在于:所述的通槽(7)共有9组,且呈3X3方阵布置。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101055172A (zh) * 2006-04-14 2007-10-17 深圳富泰宏精密工业有限公司 平面度及平行度测试***及测试方法
CN204739987U (zh) * 2015-04-24 2015-11-04 梅州市恒晖电子有限公司 铝基板v槽深度及平整度测试台
CN107560523A (zh) * 2017-09-22 2018-01-09 江门市力泰科技有限公司 一种高度综合检具
CN208282713U (zh) * 2018-05-23 2018-12-25 宇龙计算机通信科技(深圳)有限公司 测量治具
CN110793417A (zh) * 2019-10-09 2020-02-14 苏州市吴江东南建筑检测有限公司 一种瓷砖平面度检测装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101055172A (zh) * 2006-04-14 2007-10-17 深圳富泰宏精密工业有限公司 平面度及平行度测试***及测试方法
CN204739987U (zh) * 2015-04-24 2015-11-04 梅州市恒晖电子有限公司 铝基板v槽深度及平整度测试台
CN107560523A (zh) * 2017-09-22 2018-01-09 江门市力泰科技有限公司 一种高度综合检具
CN208282713U (zh) * 2018-05-23 2018-12-25 宇龙计算机通信科技(深圳)有限公司 测量治具
CN110793417A (zh) * 2019-10-09 2020-02-14 苏州市吴江东南建筑检测有限公司 一种瓷砖平面度检测装置

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