CN112362614B - 电流注入式dfb激光器阵列连续扫频驱动方法及测量光路 - Google Patents

电流注入式dfb激光器阵列连续扫频驱动方法及测量光路 Download PDF

Info

Publication number
CN112362614B
CN112362614B CN202011163368.1A CN202011163368A CN112362614B CN 112362614 B CN112362614 B CN 112362614B CN 202011163368 A CN202011163368 A CN 202011163368A CN 112362614 B CN112362614 B CN 112362614B
Authority
CN
China
Prior art keywords
laser
light
dfb
sweep frequency
coupler
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202011163368.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN112362614A (zh
Inventor
于泽浩
刘国栋
甘雨
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Harbin Institute of Technology
Original Assignee
Harbin Institute of Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Harbin Institute of Technology filed Critical Harbin Institute of Technology
Priority to CN202011163368.1A priority Critical patent/CN112362614B/zh
Publication of CN112362614A publication Critical patent/CN112362614A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112362614B publication Critical patent/CN112362614B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/39—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using tunable lasers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/88—Lidar systems specially adapted for specific applications
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/04—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
    • H01S5/042—Electrical excitation ; Circuits therefor
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

一种电流注入式DFB激光器阵列连续扫频驱动方法及测量光路，属于扫频光源技术领域。本发明针对现有阵列式DFB激光器采用大电流注入方式实现大范围扫频，影响激光器使用寿命的问题。方法包括：采用两只DFB激光器作为扫频光源，使其内部温度分别稳定于相应的温度预设值，并且两个温度预设值相差设定温差；所述设定温差使两只DFB激光器中对应的一对激光二极管的扫频波长差值为每只DFB激光器中相邻两激光二极管初始波长的一半；依次对两只DFB激光器内对应波长的一对激光二极管按时间先后顺序注入相同大小的电流，使其输出光频相差1.5nm；并使所有激光二极管的扫频范围达到1.5nm，实现对36nm范围内的连续无缝扫频。本发明使激光二级管注入的电流有效值显著降低。

Description

电流注入式DFB激光器阵列连续扫频驱动方法及测量光路
技术领域
本发明涉及电流注入式DFB激光器阵列连续扫频驱动方法及测量光路，属于扫频光源技术领域。
背景技术
在FMCW(调频连续波)激光雷达以及光学相干断层扫描(OCT)***中，扫频激光光源的性能指标在整个***中起着举足轻重的作用。为适应高精密、高效率、低成本测量技术的需求，多种多样的扫频光源应运而生，主要包括DFB激光器(Distributed FeedbackLaser激光器，即分布式反馈激光器)、环形光纤激光器、外腔激光器、垂直腔面反射激光器等。其中环形光纤激光器与垂直腔面反射激光器由于技术原因而无法具有足够高的相干长度；而外腔激光器扫频速度低，价格昂贵，无法满足高效率、低成本应用的需求；单个DFB激光器由于具有良好的相干性并且成本低而更加令人容易接受，但其扫频范围相对较小，导致测量结果的分辨力相对较小，无法实现高精度测量。
DFB激光器的输出光频主要有两种调谐方式，即电流注入式与温度调谐式。其中，电流注入式实现难度低，速度快，但是对于同一激光器而言调谐范围相对调谐温度方法小；通过对激光二极管注入更高的电流可以获得更大的扫频范围。温度调谐式与电流注入式相反，其调谐范围大；但是由于热惯性的影响其调谐速度较慢，因而无法满足测量***的扫频速度需求。
基于此现状，某些研究机构采用阵列式DFB激光器作为新型扫频光源，该阵列式DFB激光器包含12个不同波段的激光二极管。根据所需波段波长，可以对某个特定激光二极管注入电流，并通过内部集成的TEC闭环控制其温度，从而实现输出特定波段内的任意光频值，因此可作为激光通信中不同信道的光源。有研究机构在将阵列式DFB激光器用作扫频时，采用了如下方式：首先，使用内部集成的TEC闭环温度控制器，将激光器的内部温度稳定在某一固定值，再对激光器中的每个二极管依次注入数倍于额定电流的脉冲大电流，从而单纯利用电流注入方式实现大范围扫频：其单个激光管扫频范围可超过3nm，整个激光器的扫频范围可达36nm。
然而，在实际应用中，这种扫频光源的实现方式还存在如下问题：由于每个激光二极管在使用过程中承受了数倍于自身额定电流的过热冲击，激光器的寿命将会大幅降低。为了降低对寿命的负面影响，可以减少电流注入的持续时间；但是这同时意味着在测量过程中产生的拍频信号频率的大幅提升，对后期的采集与处理带来压力。因此，所述扫频光源的实现方式中激光器寿命与测量信号采集、处理难度形成难以调和的矛盾。
因此，迫切需要设计一种在不影响激光器寿命的情况下可以产生理想测量信号的扫频光源。
发明内容
针对现有阵列式DFB激光器作为扫频光源时，采用大电流注入方式实现大范围扫频，对激光器的使用寿命会造成负面影响的问题，本发明提供一种电流注入式DFB激光器阵列连续扫频驱动方法及测量光路。
本发明的一种电流注入式DFB激光器阵列连续扫频驱动方法，包括，
采用两只DFB激光器作为扫频光源，使两只DFB激光器的内部温度分别稳定于相应的温度预设值，并且两只DFB激光器的温度预设值相差设定温差；所述设定温差使两只DFB激光器中对应的一对激光二极管的扫频波长差值为每只DFB激光器中相邻两激光二极管初始波长的一半；
依次对两只DFB激光器内对应波长的一对激光二极管按时间先后顺序注入相同大小的电流，使其输出光频相差1.5nm；并使所有激光二极管的扫频范围达到1.5nm，实现对36nm范围内的连续无缝扫频。
根据本发明的电流注入式DFB激光器阵列连续扫频驱动方法，所述设定温差包括20℃。
根据本发明的电流注入式DFB激光器阵列连续扫频驱动方法，其中一只DFB激光器的温度预设值为15℃；另一只DFB激光器的温度预设值为35℃。
本发明还提供了一种测量光路，扫频光源采用所述的电流注入式DFB激光器阵列连续扫频驱动方法，所述测量光路包括1号耦合器、2号耦合器、3号耦合器、PBS、聚焦***、辅助干涉仪、1号探测器、2号探测器、采集模块和处理模块；
扫频光源内两只DFB激光器依次输出的光经1号耦合器分束后，一束光入射至2号耦合器，另一束光入射至辅助干涉仪；
2号耦合器对入射光进行分束，获得两束光；其中，一束光作为探测光经PBS处理后入射至聚焦***，聚焦***对输入光束聚焦后打在目标上，经目标反射后的光再经过聚焦***聚焦和PBS处理后，入射至3号耦合器；另一束光作为本振光入射至3号耦合器；
3号耦合器对接收的两束光进行合束并传输至1号探测器进行光电探测，获得1号电信号发送至采集模块；
辅助干涉仪对入射光束进行处理后，产生拍频信号发送至2号探测器进行光电探测，2号探测器获得的2号电信号发送至采集模块；
采集模块将接收的两个电信号发送至处理模块，处理模块用于对两个电信号进行谱分析处理，获得目标距离。
根据本发明的测量光路，获得目标距离的方法包括：
处理模块将接收的2号电信号作为已知的正交基，与1号电信号进行卷积运算实现频谱分析，基于1号电信号与2号电信号中含有相同的跳模，在卷积运算的过程中2号电信号与1号电信号中的跳模相互抵消，从而获得携带有目标信息的距离谱，根据距离谱获得目标距离。
本发明的有益效果：本发明采用对两只稳定于不同温度的DFB阵列激光器轮流依次注入电流的方式。基于此方式，每只激光二级管注入的电流有效值可以显著降低，从而减少对激光器使用寿命的负面影响；扫频速度也可以随之降低，使FMCW激光雷达在采集带宽不变的情况下测量更远的距离；同时价格远低于外腔式激光器。相比于现有的其他扫频光源方案，本发明在各项重要指标中均可表现出更为明显的优势，可以满足FMCW激光雷达以及光学相干断层扫描***更精密、更稳定的测量要求。
附图说明
图1是FM/CW激光雷达的调频示意图；图中纵坐标f为拍频频率；
图2是FM/CW激光雷达的拍频信号时域波形图；
图3是本发明所述测量光路的原理示意图；
图4是现有采用阵列式DFB激光器作为扫频光源的测量光路原理示意图；
图5是采用本发明所述扫频驱动方法时，每只二极管承受的电流示意图；
图6是采用现有扫频驱动方法时，每只二极管承受的电流示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。
具体实施方式一、结合图1至图4所示，本发明的第一方面提供了一种电流注入式DFB激光器阵列连续扫频驱动方法，包括，
采用两只DFB激光器作为扫频光源，使两只DFB激光器的内部温度分别稳定于相应的温度预设值，并且两只DFB激光器的温度预设值相差设定温差；所述设定温差使两只DFB激光器中对应的一对激光二极管的扫频波长差值为每只DFB激光器中相邻两激光二极管初始波长的一半；
依次对两只DFB激光器内对应波长的一对激光二极管按时间先后顺序注入相同大小的电流，使其输出光频相差1.5nm；并使所有激光二极管的扫频范围达到1.5nm，实现对36nm范围内的连续无缝扫频。
本实施方式中，可以根据需要设置两只激光器的内部温度，作为示例，设定温差可以为20℃，此时，两只激光器中对应激光管的扫频波长差值为，每只激光器中相邻两激光管初始波长的一半。由于激光管发光时的波长受温度及电流同时控制，本发明方法利用稳定温度产生特定波长差，然后利用电流扫频方式使得两只激光器无缝扫描过整个波段。
作为示例，对两只DFB激光器注入电流的形式可以为：对两只DFB激光器中对应的二级管对一、二级管对二依次进行控制，先对二级管对一中的一只二极管注入目标电流，待此扫频周期结束后，再对另一只二极管注入相同电流；然后再对二级管对二中的一只二极管注入相同的驱动电流，依此类推。
本实施方式为FMCW激光雷达以及光学相干断层扫描(OCT)***提供高精度、大范围、低成本的扫频光源解决方案。FM/CW激光雷达采用锯齿波调频方式对可调谐激光器进行调频，调频及拍频信号示意图如图1和图2所示，被测距离RT的计算公式为：
其中，fIF为拍频频率，Tm为调频周期，c为光速，Ω为调频范围；
扫频干涉绝对距离测量的距离极限分辨率ΔR为：
式中B为激光器的扫频带宽。
由公式(2)可知，提高扫频光源的扫频带宽，可以提高测距精度。
为设计出拍频信号易被探测的、带宽满足高精度测量要求的、寿命长且稳定可靠的扫频光源，本实施方式采用对两只稳定于不同温度的DFB阵列激光器轮流依次注入电流的方式。基于此方式，每只激光二级管注入的电流有效值可以显著降低；扫频速度也可以随之降低，使FMCW激光雷达在采集带宽不变的情况下测量更远的距离；同时价格远低于外腔式激光器。相比于现有的其他扫频光源方案，本发明在各项重要指标中均可表现出更为明显的优势，可以满足FMCW激光雷达以及光学相干断层扫描(OCT)***更精密、更稳定的测量要求。
进一步，其中一只DFB激光器的温度预设值为15℃；另一只DFB激光器的温度预设值为35℃。
本实施方式中，两只激光器可以分别使用各自的TEC与热敏元件配合***电路构成温控***，使其内部温度稳定于15℃与35℃。由于两只激光器的一致性相对较好，此时对两只激光器内对应波长的激光二极管注入相同大小的电流，则两者对应的输出光频会相差1.5nm。此时，只要保证两只激光器内的24只二极管依次扫过达到1.5nm的范围就可以实现在36nm总扫频范围内连续无缝覆盖。在实际操作中，可以使每只激光二极管的扫描范围略大于1.5nm，确保在扫频范围内可以连续无缝覆盖。
相比于现有技术，本发明中每只激光二极管的扫频长度可由3nm降低至一半，由图5及图6可知，本发明方法注入电流的幅度与时间均可得到有效降低。
经验表明，激光二极管的使用寿命与其PN结上产生的热积累紧密相关，即产生的热积累越低，使用寿命越长。将激光二极管视为纯电阻结构，由电热的计算公式Q＝I2Rt可知，随着电流I与注入时间t的减少，激光器工作过程中产生的热量Q将明显降低，从而大幅度提升其使用寿命。其中R为激光二极管的电阻。
在本发明所述驱动方法的基础上，可以通过适当加长电流的注入时间t来降低激光器的扫频速度，由公式(1)可知，扫频速度的降低意味着FMCW激光雷达测距***对一定距离被测目标拍频信号的降低，这使得***在不改变探测与采集带宽的情况下扩大了测量范围。
具体实施方式二、结合图3至图6所示，本发明的另一方面还提供了一种测量光路，扫频光源采用具体实施方式一所述的电流注入式DFB激光器阵列连续扫频驱动方法，所述测量光路包括1号耦合器、2号耦合器、3号耦合器、PBS、聚焦***、辅助干涉仪、1号探测器、2号探测器、采集模块和处理模块；
扫频光源内两只DFB激光器依次输出的光经1号耦合器分束后，一束光入射至2号耦合器，另一束光入射至辅助干涉仪；
2号耦合器对入射光进行分束，获得两束光；其中，一束光作为探测光经PBS处理后入射至聚焦***，聚焦***对输入光束聚焦后打在目标上，经目标反射后的光再经过聚焦***聚焦和PBS处理后，入射至3号耦合器；另一束光作为本振光入射至3号耦合器；
3号耦合器对接收的两束光进行合束并传输至1号探测器进行光电探测，获得1号电信号发送至采集模块；
辅助干涉仪对入射光束进行处理后，产生拍频信号发送至2号探测器进行光电探测，2号探测器获得的2号电信号发送至采集模块；
采集模块将接收的两个电信号发送至处理模块，处理模块用于对两个电信号进行谱分析处理，获得目标距离。
进一步，获得目标距离的方法包括：
处理模块将接收的2号电信号作为已知的正交基，与1号电信号进行卷积运算实现频谱分析，基于1号电信号与2号电信号中含有相同的跳模，在卷积运算的过程中2号电信号与1号电信号中的跳模相互抵消，从而获得携带有目标信息的距离谱，根据距离谱获得目标距离。
本发明方法使得阵列式DFB激光器可以以相对较低的热积累长时间稳定工作。
虽然在本文中参照了特定的实施方式来描述本发明，但是应该理解的是，这些实施例仅仅是本发明的原理和应用的示例。因此应该理解的是，可以对示例性的实施例进行许多修改，并且可以设计出其他的布置，只要不偏离所附权利要求所限定的本发明的精神和范围。应该理解的是，可以通过不同于原始权利要求所描述的方式来结合不同的从属权利要求和本文中所述的特征。还可以理解的是，结合单独实施例所描述的特征可以使用在其它所述实施例中。

Claims (5)

1.一种电流注入式DFB激光器阵列连续扫频驱动方法，其特征在于包括，
采用两只DFB激光器作为扫频光源，使两只DFB激光器的内部温度分别稳定于相应的温度预设值，并且两只DFB激光器的温度预设值相差设定温差；所述设定温差使两只DFB激光器中对应的一对激光二极管的扫频波长差值为每只DFB激光器中相邻两激光二极管初始波长的一半；
依次对两只DFB激光器内对应波长的一对激光二极管按时间先后顺序注入相同大小的电流，使其输出光频相差1.5nm；并使所有激光二极管的扫频范围达到1.5nm，实现对36nm范围内的连续无缝扫频。
2.根据权利要求1所述的电流注入式DFB激光器阵列连续扫频驱动方法，其特征在于，所述设定温差包括20℃。
3.根据权利要求2所述的电流注入式DFB激光器阵列连续扫频驱动方法，其特征在于，其中一只DFB激光器的温度预设值为15℃；另一只DFB激光器的温度预设值为35℃。
4.一种测量光路，其特征在于，扫频光源采用权利要求3所述的电流注入式DFB激光器阵列连续扫频驱动方法，所述测量光路包括1号耦合器、2号耦合器、3号耦合器、PBS、聚焦***、辅助干涉仪、1号探测器、2号探测器、采集模块和处理模块；
扫频光源内两只DFB激光器依次输出的光经1号耦合器分束后，一束光入射至2号耦合器，另一束光入射至辅助干涉仪；
2号耦合器对入射光进行分束，获得两束光；其中，一束光作为探测光经PBS处理后入射至聚焦***，聚焦***对输入光束聚焦后打在目标上，经目标反射后的光再经过聚焦***聚焦和PBS处理后，入射至3号耦合器；另一束光作为本振光入射至3号耦合器；
3号耦合器对接收的两束光进行合束并传输至1号探测器进行光电探测，获得1号电信号发送至采集模块；
辅助干涉仪对入射光束进行处理后，产生拍频信号发送至2号探测器进行光电探测，2号探测器获得的2号电信号发送至采集模块；
采集模块将接收的两个电信号发送至处理模块，处理模块用于对两个电信号进行谱分析处理，获得目标距离。
5.根据权利要求4所述的测量光路，其特征在于，获得目标距离的方法包括：处理模块将接收的2号电信号作为已知的正交基，与1号电信号进行卷积运算实现频谱分析，基于1号电信号与2号电信号中含有相同的跳模，在卷积运算的过程中2号电信号与1号电信号中的跳模相互抵消，从而获得携带有目标信息的距离谱，根据距离谱获得目标距离。
CN202011163368.1A 2020-10-27 2020-10-27 电流注入式dfb激光器阵列连续扫频驱动方法及测量光路 Active CN112362614B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011163368.1A CN112362614B (zh) 2020-10-27 2020-10-27 电流注入式dfb激光器阵列连续扫频驱动方法及测量光路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011163368.1A CN112362614B (zh) 2020-10-27 2020-10-27 电流注入式dfb激光器阵列连续扫频驱动方法及测量光路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112362614A CN112362614A (zh) 2021-02-12
CN112362614B true CN112362614B (zh) 2023-09-08

Family

ID=74510654

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011163368.1A Active CN112362614B (zh) 2020-10-27 2020-10-27 电流注入式dfb激光器阵列连续扫频驱动方法及测量光路

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112362614B (zh)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06125138A (ja) * 1992-10-10 1994-05-06 Anritsu Corp レーザ装置
CN101841128A (zh) * 2009-12-30 2010-09-22 天津大学 激光二极管快速温度调谐的动态波长辨识方法与装置
CN106099638A (zh) * 2016-08-02 2016-11-09 北京航空航天大学 一种基于电流控制的dfb激光器稳频方法
CN107069424A (zh) * 2017-06-15 2017-08-18 上海理工大学 高功率低功耗可调谐dfb激光器驱动装置
CN109638636A (zh) * 2017-10-09 2019-04-16 科大国盾量子技术股份有限公司 一种用于半导体激光器控制和状态监测装置
CN110148878A (zh) * 2019-06-20 2019-08-20 山东大学 一种可调谐激光器的控制电路及控制方法
CN110620331A (zh) * 2019-09-26 2019-12-27 哈尔滨工业大学 Dfb阵列高速大范围连续可调谐方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8089995B2 (en) * 2006-07-12 2012-01-03 Oracle America, Inc. Structures and methods for adjusting the wavelengths of lasers via temperature control

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06125138A (ja) * 1992-10-10 1994-05-06 Anritsu Corp レーザ装置
CN101841128A (zh) * 2009-12-30 2010-09-22 天津大学 激光二极管快速温度调谐的动态波长辨识方法与装置
CN106099638A (zh) * 2016-08-02 2016-11-09 北京航空航天大学 一种基于电流控制的dfb激光器稳频方法
CN107069424A (zh) * 2017-06-15 2017-08-18 上海理工大学 高功率低功耗可调谐dfb激光器驱动装置
CN109638636A (zh) * 2017-10-09 2019-04-16 科大国盾量子技术股份有限公司 一种用于半导体激光器控制和状态监测装置
CN110148878A (zh) * 2019-06-20 2019-08-20 山东大学 一种可调谐激光器的控制电路及控制方法
CN110620331A (zh) * 2019-09-26 2019-12-27 哈尔滨工业大学 Dfb阵列高速大范围连续可调谐方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
基于温度和PZT 协同控制的 激光器频率锁定技术研究;雷明等;《光电工程》;第1-7页 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN112362614A (zh) 2021-02-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3356854B1 (en) Spatial profiling system and method
AU2007302314B2 (en) Method and device for generating a synthetic wavelength
US11520023B2 (en) High-speed time-of-interference light detection and ranging apparatus
US11294040B1 (en) Time-of-interference light detection and ranging apparatus
CN103855599A (zh) 利用扫描共焦腔f-p干涉仪实现激光偏频锁定的方法
WO2023273565A1 (zh) 一种频率可调谐的半导体激光器
CN112526538A (zh) 基于fdml的调频连续波激光雷达捕获***及方法
CN111983628A (zh) 一种基于单片集成线性调频双频dfb激光器的测速与测距***
Han et al. High-speed two-dimensional spectral-scanning coherent LiDAR system based on tunable VCSEL
CN109884655B (zh) 基于光注入半导体激光器的光载调频连续波激光测距***
Wang et al. Frequency-modulated continuous-wave dual-frequency LIDAR based on a monolithic integrated two-section DFB laser
KR20230170078A (ko) Fmcw 라이다 장치용 광원
CN112362614B (zh) 电流注入式dfb激光器阵列连续扫频驱动方法及测量光路
EP4293384A1 (en) High-speed time-of-interference light detection and ranging apparatus
US20230113820A1 (en) Wavelength bandwidth expansion for tuning or chirping with a silicon photonic external cavity tunable laser
CN114660622A (zh) 一种波分复用激光雷达集成方法及***
Hanto et al. Study on the time of flight optical ranging by using direct modulation of the laser diode
CN113594859B (zh) 注入锁定校正方法及其装置
US5081710A (en) Laser transmitter
Liu et al. High-precision FMCW ranging with a hybrid-integrated external cavity laser
Irie et al. High repetition FMCW measurement using direct modulation of a hybrid wavelength tunable laser diode
US20220368098A1 (en) Dual spectral variable-based optical frequency scanning laser light source and measurement device using the same and object angle-dependent distance measurement device using propagation angle switching for each optical frequency
US11892566B1 (en) Multiplexed light detection and ranging apparatus
Kita et al. FMCW Measurement by the Hybrid Tunable Laser Diode
Kang et al. Comb-based optical frequency transfer in free space

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB03 Change of inventor or designer information

Inventor after: Yu Zehao

Inventor after: Liu Guodong

Inventor after: Gan Yu

Inventor before: Gan Yu

Inventor before: Liu Guodong

Inventor before: Yu Zehao

CB03 Change of inventor or designer information
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant