CN112344879B - 一种胶路的检测方法、装置及设备 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种胶路的检测方法、装置及设备,所述方法包括:根据预先确定的光照方案,对待测样品的边缘轮廓进行照射,以在所述待测样品的边缘轮廓***形成轮廓投影;所述待测样品的边缘轮廓上包括点胶胶路;对所述轮廓投影进行图像采集,获得相应的待分析图像;所述待分析图像中,包括所述轮廓投影的投影形状;基于所述待分析图像中的投影形状的图像分析结果,确定并输出所述待测样品边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果;通过对待分析图像进行图像分析,实现了自动的胶路检测,避免了现有技术中人工检测耗费人力,效率低下,且准确性差的技术问题;从而提高了检测效率和准确率。

Description

一种胶路的检测方法、装置及设备
技术领域
本发明涉及机电技术领域,尤其涉及一种胶路的检测方法、装置及设备。
背景技术
目前很多电子设备上下盖的合盖,是采用点胶工艺来实现。即利用点胶机沿电子设备的轮廓进行点胶,进而使电子设备的上下盖通过胶剂紧密粘合。而为了确保电子设备合盖的稳定性和密封性,在点胶工艺中一般要求点胶胶量分布均匀适量,且点胶形成的胶路如围栏般闭合,构成所谓的“胶路围栏”。这样在粘合之后,电子设备的上下盖之间可完全密闭,不留缝隙,且不点胶不溢出。也就是说在此工艺要求下,点胶的胶路围栏必须完全闭合,不能存在断点。
因此,在实施当中还需要配合点胶工艺的检测技术,来确定胶路中是否有断点存在。在现有技术中,往往是通过工作人员人眼观察的方式,来判断点胶胶路是否连续均匀,是否存在断点。则很显然,上述方式需要耗费大量的人力,效率低下,且准确性难以保障。
发明内容
本发明提供一种胶路的检测方法、装置及设备,以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。
第一方面,本发明提供一种胶路的检测方法,所述方法包括:
根据预先确定的光照方案,对待测样品的边缘轮廓进行照射,以在所述待测样品的边缘轮廓***形成轮廓投影;所述待测样品的边缘轮廓上包括点胶胶路;
对所述轮廓投影进行图像采集,获得相应的待分析图像;所述待分析图像中,包括所述轮廓投影的投影形状;
基于所述待分析图像中的投影形状的图像分析结果,确定并输出所述待测样品边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果。
优选地,在所述根据预先确定的光照方案,对待测样品的边缘轮廓进行照射之前,所述方法还包括:
根据所述待测样品的边缘轮廓的形状,确定光照方案。
优选地,所述确定光照方案包括:
根据所述待测样品的边缘轮廓的形状,确定照明组件中各发光单元在照射过程中开启或关闭;
以及,确定各所述开启的发光单元的发光光路。
优选地,所述确定各所述开启的发光单元的发光光路包括:
利用光路控制组件,确定各所述开启的发光单元的发光光路;
所述光路控制组件包括,光圈、遮挡结构和/或光纤。
优选地,所述确定光照方案还包括:
根据所述待测样品的放置位置,确定所述照明组件的照射高度和位置。
优选地,所述对所述待分析图像中投影形状进行图像分析,以确定所述待测样品的边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果包括:
基于图像分析技术,根据所述待分析图像中投影形状,确定所述边缘轮廓的点胶胶路的断点位置。
第二方面,本发明提供一种胶路的检测装置,所述装置包括:
光照模块,用于根据预先确定的光照方案,对待测样品的边缘轮廓进行照射,以在所述待测样品的边缘轮廓***形成轮廓投影;所述待测样品的边缘轮廓上包括点胶胶路;
图像采集模块,用于对所述轮廓投影进行图像采集,获得相应的待分析图像;所述待分析图像中,包括所述轮廓投影的投影形状;
胶路检测模块,用于基于所述待分析图像中的投影形状的图像分析结果,确定并输出所述待测样品边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果。
第三方面,本发明提供一种胶路的检测设备,所述设备包括:照明组件、摄像头和处理器;
所述照明组件包括多个发光单元,各所述发光单元响应于所述处理器的控制开启或关闭,以对待测样品的边缘轮廓进行照射,形成轮廓投影;
所述摄像头响应于所述处理器的控制,以针对所述待测样品的轮廓投影进行图像采集,获得相应的待分析图像;
所述处理器用于确定照明方案,基于所述照明方案控制所述照明组件进行照射;并控制所述摄像头进行图像采集,获得所述待分析图像;对所述待分析图像进行图像分析,确定所述边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果。
优选地,还包括:光路控制组件,
所述光路控制组件用于控制各所述开启的发光单元的照射角度;
所述光路控制组件包括,光圈、遮挡结构和/或光纤。
优选地,所述照明组件还包括:调节结构;
所述调节结构用于调节所述照明组件的照射高度和位置。
与现有技术相比,本发明提供的一种胶路的检测方法、装置及设备,
通过对待分析图像进行图像分析,实现了自动的胶路检测,避免了现有技术中人工检测耗费人力,效率低下,且准确性差的技术问题;从而提高了检测效率和准确率。
附图说明
图1为本发明一实施例提供的一种胶路的检测方法的流程示意图;
图2为本发明一实施例提供的一种胶路的检测方法中待测样品的放置示意图;
图3为本发明一实施例提供的另一种胶路的检测方法的流程示意图;
图4为本发明一实施例提供的一种胶路的检测装置的结构示意图;
图5为本发明一实施例提供的一种胶路的检测设备的结构示意图;
图6为本发明一实施例提供的一种胶路的检测设备中光路控制组件的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而非全部实施例。基于本发明中的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
申请概述
为了确保电子设备合盖的稳定性和密封性,在点胶工艺中一般要求点胶胶量分布均匀适量,且点胶形成的胶路如围栏般闭合,构成所谓的“胶路围栏”。这样在粘合之后,电子设备的上下盖之间可完全密闭,不留缝隙,且不点胶不溢出。也就是说在此工艺要求下,点胶的胶路围栏必须完全闭合,不能存在断点。
在现有技术中,往往是通过工作人员人眼观察的方式,来判断点胶胶路是否连续均匀,是否存在断点。则很显然,上述方式需要耗费大量的人力,效率低下,且准确性难以保障。
示例性方法
因此,本发明实施例将提供一种胶路的检测方法,以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。如图1所示,本实施例中方法包括以下步骤:
步骤101、根据预先确定的光照方案,对待测样品的边缘轮廓进行照射,以在待测样品的边缘轮廓***形成轮廓投影。
待测样品具体可以是电子设备(如手机、平板电脑等)的上盖或下盖。在检测开始时,通常待测样品已放置于测试台上。并且待测样品的边缘轮廓上已经利用点胶工艺注成了点胶胶路。
如图2所示,示出了待测样品放置在测试台时横截面的形态。可见待测样品的边缘轮廓具有特定的高度。而点胶的厚度也将叠加到边缘轮廓的高度上。可以理解的是,如果点胶胶路存在断点,断点位置处无点胶或点胶厚度不足,会致使边缘轮廓在该处的高度相对较低,从而在该处形成一个“凹陷”的形状。本实施例中,即可以此“凹陷”形状作为判断点胶胶路断点的依据。或者,如果是针对半透明的点胶,由于部分光线可以通过,因此会在轮廓投影中形成“半透明阴影”。所以本实施例中还可基于该半透明阴影的形态,确定点胶胶路上的胶量分布是否均匀且适量。
在图2中,测试台的上方有照明组件。而根据待测样品的形状特征,可制定光照方案。光照方案的作用是确定照明组件发出光线的方向和角度,以便于在光线照射待测样品的边缘轮廓之后,可形成效果更为理想的轮廓投影。可以理解的是,该轮廓投影中体现的投影形状,即反应了边缘轮廓的高度分度。而若存在点胶胶路断点导致的边缘轮廓的“凹陷”形状,亦将反映在投影形状中。
本实施例中,将通过光照方案的设置,使照明组件发出的光线从待测样品的边缘轮廓内部进行照射,从而在边缘轮廓***形成轮廓投影。待测样品的边缘轮廓***是测试台“桌面”。测试台通常较为平整且未布置其他因素。因此相对于密布电子元件的待测样品内部,在测试台上更容易清晰的观察到投影形状。本实施例通过光照方案,实现在边缘轮廓***形成轮廓投影,更加有利于进行胶路的检测。
步骤102、对轮廓投影进行图像采集,获得相应的待分析图像;待分析图像中,包括轮廓投影的投影形状。
图2中可见,照明组件的上方还存在摄像头。在边缘轮廓***形成轮廓投影之后,可利用摄像头对轮廓投影的区域进行拍摄,得到待分析图像。则显然,待分析图像中包括了轮廓投影的投影形状。
步骤103、基于待分析图像中的投影形状的图像分析结果,确定并输出待测样品边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果。
本实施例中将基于图像分析技术,实现自动的胶路检测。具体的,可以通过特定的图像分析模型,识别待分析图像中的投影形状。即确定该投影形状中是否包括了上述的“凹陷”形状或“半透明阴影”状态。如存在“凹陷”形状,则可认为“凹陷”位置处为点胶胶路的断点,从而确定了边缘轮廓上点胶胶路的断点位置。反之如不存在“凹陷”形状,则可认为点胶胶路不存在断点,即确定该待测样本的检测合格。或者,如“半透明阴影”的厚度较为均匀,则可认为点胶胶路上的胶量分布均匀且适量,即确定该待测样本的检测合格;反之则确定为不合格。
需要说明的是,本步骤中对于涉及的“图像分析技术”不做具体限定,任何能够实现相同或类似效果的相关技术,均可结合在本实施例整体技术方案当中。一般来说,可基于神经网络构建图像分析模型,以实现本步骤所需的图像分析。例如基于卷积神经网络(Convolutional Neural Networks,简称CNN)训练获得特定的分析模型。还可进一步在CNN网络模型中结合注意力机制,由此实现针对投影形状中的“凹陷”或“半透明阴影”进行分析,从而得到图像分析结果。
还需要说明的是,上述图像分析的过程可以在现场执行胶路检测的主机上完成;也可在远端的服务器上完成,且远端服务器通过网络接收待分析图像,并返回图像分析结果。本实施例中对此亦不做限定。
通过以上技术方案可知,本实施例存在的有益效果是:通过对待分析图像进行图像分析,实现了自动的胶路检测,避免了现有技术中人工检测耗费人力,效率低下,且准确性差的技术问题;从而提高了检测效率和准确率。
图1所示仅为本发明所述方法的基础实施例,在其基础上进行一定的优化和拓展,还能够得到所述方法的其他优选实施例。
如图3所示,为本发明所述胶路的检测方法的另一个具体实施例。本实施例在前述实施例的基础上,进一步描述了确定光照方案的具体内容。本实施例中方法在根据预先确定的光照方案对待测样品的边缘轮廓进行照射之前,还包括:
步骤301、根据待测样品的边缘轮廓的形状,确定光照方案。
本实施例中,将根据边缘轮廓的形状确定光照方案。也就是说,可根据边缘轮廓的具体形状,针对性的设置光照的角度和方向,使得边缘轮廓上的各个位置都能够得到亮度均匀且角度接近垂直的光照。由此在光线照射边缘轮廓之后,可形成效果更为理想的轮廓投影;轮廓投影的投影形状能够更加清晰准确的反映出边缘轮廓的高度分布。因此,若边缘轮廓上存在点胶胶路断点导致的“凹陷”形状,那么该投影形状便能够将其较为准确的体现出来;并且该投影形状还能够准确的反映出该“凹陷”形状的位置,以便于在边缘轮廓上找到点胶胶路断点。
本实施例中照明组件可包括多个独立可控的发光单元。则确定光照方案具体可以是:根据待测样品的边缘轮廓的形状,确定照明组件中各发光单元在照射过程中开启或关闭。也就是通过选择位置适当的发光单元进行照射,从而达到设置光照的角度和方向的效果。对于各个发光单元开启或关闭具体的设置过程,可通过工作人员根据经验手动进行设置;也可根据预设的程序对边缘轮廓的形状进行分析,从而自动完成设置,本实施例中对此不做限定。
另外在本实施例中,还可以确定各开启的发光单元的发光光路。由此实现更加精确的光控,即更加精密的调节光照的角度和方向,同时避免各发光单元发出的光线相互影响。确定各开启的发光单元的发光光路包括:利用光路控制组件,确定各开启的发光单元的发光光路。光路控制组件具体可以是:光圈、遮挡结构和/或光纤。也可以是其他任何能够改变或影响光路传播的结构。本实施例中对此不做限定,任何有效的光路控制组件均可结合在本实施例整理技术方案当中。
步骤302、根据待测样品的放置位置,确定照明组件的照射高度和位置。
本实施例中,还可结合实际情况来确定照明组件的照射高度和位置。通过一定程度上降低照明组件的照射高度,可使光线对于边缘轮廓的照射角度更小,轮廓投影的面积更大。显然面积更大的轮廓投影,将更有利于进行图像分析,便于准确的实现对于点胶胶路的识别和检测。通过调整照明组件的照射位置,可使其在空间上对准测试台上摆放的待测样本,以便于充分的体现出光照方案所预期的光照效果;避免照射不到待测样品,或光照的角度和方向出现偏差等情况。
示例性装置
如图4所示,为本发明所述胶路的检测装置的一个具体实施例。本实施例所述装置,即用于执行图1~3所述方法的实体装置。其技术方案本质上与上述实施例一致,上述实施例中的相应描述同样适用于本实施例中。本实施例中所述装置包括:
光照模块401,用于根据预先确定的光照方案,对待测样品的边缘轮廓进行照射,以在所述待测样品的边缘轮廓***形成轮廓投影;所述待测样品的边缘轮廓上包括点胶胶路。
图像采集模块402,用于对所述轮廓投影进行图像采集,获得相应的待分析图像;所述待分析图像中,包括所述轮廓投影的投影形状。
胶路检测模块403,用于基于待分析图像中的投影形状的图像分析结果,确定并输出待测样品边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果。
另外在图4所示实施例的基础上,优选的,还包括:
光照方案确定模块404,用于根据所述待测样品的边缘轮廓的形状,确定光照方案。
所述光照方案确定模块404包括:
发光单元确定单元441,用于根据所述待测样品的边缘轮廓的形状,确定照明组件中各发光单元在照射过程中开启或关闭。
光路确定单元442,用于确定各所述开启的发光单元的发光光路。
所述确定各所述开启的发光单元的发光光路包括:利用光路控制组件,确定各所述开启的发光单元的发光光路;所述光路控制组件包括,光圈、遮挡结构和/或光纤。
调节单元443,用于根据所述待测样品的放置位置,确定所述照明组件的照射高度和位置。
示例性设备
如图5所示,为本发明所述胶路的检测设备的一个具体实施例。本实施例中所述设备,即图1~3所述方法中,用于完成胶路检测的硬件设备。上述实施例中的相应描述同样适用于本实施例中。本实施例中所述设备具体包括:照明组件51、摄像头52和处理器53。
其中,照明组件51包括多个发光单元511,各所述发光单元511均可独立控制,即单独响应于所述处理器53的控制开启或关闭,以对待测样品的边缘轮廓进行照射,形成轮廓投影。优选的,各发光单元511可呈圆弧形排布,或者各发光单元511也可具有独立的角度调整功能,以便于从不同角度实现照射。
优选的,所述照明组件51还包括:调节结构511。所述调节结构用于调节所述照明组件的照射高度和位置。
所述摄像头52响应于所述处理器53的控制,以针对所述待测样品的轮廓投影进行图像采集,获得相应的待分析图像。
所述处理器53用于确定照明方案,基于所述照明方案控制所述照明组件51进行照射;并控制所述摄像头52进行图像采集,获得所述待分析图像;对所述待分析图像进行图像分析,确定所述边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果。
需要说明的是,本实施例中处理器53涉及的“图像分析技术”不做具体限定,任何能够实现相同或类似效果的相关技术,均可结合在本实施例整体技术方案当中。一般来说,可基于神经网络构建图像分析模型,以实现本步骤所需的图像分析。
另外,本实施例中所述设备还包括:光路控制组件54。
所述光路控制组件54用于控制各所述开启的发光单元511的照射角度。所述光路控制组件54具体可包括,光圈、遮挡结构和/或光纤。
由于发光单元511通常是点光源,所以光线的照射方向会产生发散,无法针对性的向特定方向进行照射。在存在大量发光单元511的情况下,则可能出现光路的混乱,无法使光线准确的照射到正确的位置。光路控制组件54即用于解决上述问题,控制各开启的发光单元511的照射角度。
具体来说,光圈和遮光结构对于光路的控制原理类似。都是通过对部分光线进行遮挡,从而遮蔽掉“错误方向”上的光线,使之无法对边缘轮廓进行照射。而仅仅保留“正确方向”上的光线照射边缘轮廓,以达到控制光路的效果。光圈结构可通过控制光圈大小,实现对部分光线的遮蔽。遮光结构则可通过将其安放在特定的位置,实现对于部分光线的遮蔽。光纤则可直接连接发光单元511,利用光纤能直接完成光线的传导,控制其传播方向,使光线从正确的方向对边缘轮廓进行照射。
如图6所述为一种带有遮光结构的胶路检测设备示意图。结合图6可以看出,遮光结构60遮挡了部分光线,避免了在边缘轮廓的内部形成轮廓投影,因此避免了内部的轮廓投影对于胶路检测产生影响。当然,图6示出的仅仅为一种示例性的情况。在实际应用中,可根据具体情况设定光圈的大小,及遮光结构的形状和位置。本实施例中不做限定。
示例性计算机程序产品和计算机可读存储介质
除了上述方法和设备以外,本发明的实施例还可以是计算机程序产品,其包括计算机程序指令,所述计算机程序指令在被处理器运行时使得所述处理器执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本发明各种实施例的方法中的步骤。
所述计算机程序产品可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本发明实施例操作的程序代码,所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言,诸如Java、C++等,还包括常规的过程式程序设计语言,诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。
此外,本发明的实施例还可以是计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序指令,所述计算机程序指令在被处理器运行时使得所述处理器执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本发明各种实施例的方法中的步骤。
所述计算机可读存储介质可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以包括但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的***、装置或器件,或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括:具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。
以上结合具体实施例描述了本发明的基本原理,但是,需要指出的是,在本发明中提及的优点、优势、效果等仅是示例而非限制,不能认为这些优点、优势、效果等是本发明的各个实施例必须具备的。另外,上述公开的具体细节仅是为了示例的作用和便于理解的作用,而非限制,上述细节并不限制本发明为必须采用上述具体的细节来实现。
本发明中涉及的器件、装置、设备、***的方框图仅作为例示性的例子并且不意图要求或暗示必须按照方框图示出的方式进行连接、布置、配置。如本领域技术人员将认识到的,可以按任意方式连接、布置、配置这些器件、装置、设备、***。诸如“包括”、“包含”、“具有”等等的词语是开放性词汇,指“包括但不限于”,且可与其互换使用。这里所使用的词汇“或”和“和”指词汇“和/或”,且可与其互换使用,除非上下文明确指示不是如此。这里所使用的词汇“诸如”指词组“如但不限于”,且可与其互换使用。
还需要指出的是,在本发明的装置、设备和方法中,各部件或各步骤是可以分解和/或重新组合的。这些分解和/或重新组合应视为本发明的等效方案。
提供所公开的方面的以上描述以使本领域的任何技术人员能够做出或者使用本发明。对这些方面的各种修改对于本领域技术人员而言是非常显而易见的,并且在此定义的一般原理可以应用于其他方面而不脱离本发明的范围。因此,本发明不意图被限制到在此示出的方面,而是按照与在此公开的原理和新颖的特征一致的最宽范围。
为了例示和描述的目的已经给出了以上描述。此外,此描述不意图将本发明的实施例限制到在此公开的形式。尽管以上已经讨论了多个示例方面和实施例,但是本领域技术人员将认识到其某些变型、修改、改变、添加和子组合。

Claims (10)

1.一种胶路的检测方法,所述方法包括:
根据预先确定的光照方案,从待测样品的边缘轮廓内部进行照射,以在所述待测样品的边缘轮廓***形成轮廓投影;所述待测样品的边缘轮廓上包括点胶胶路;
对所述轮廓投影进行图像采集,获得相应的待分析图像;所述待分析图像中,包括所述轮廓投影的投影形状;
基于所述待分析图像中的投影形状的图像分析结果,确定并输出所述待测样品边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果。
2.根据权利要求1所述方法,在所述根据预先确定的光照方案,对待测样品的边缘轮廓进行照射之前,所述方法还包括:
根据所述待测样品的边缘轮廓的形状,确定光照方案。
3.根据权利要求2所述方法,所述确定光照方案包括:
根据所述待测样品的边缘轮廓的形状,确定照明组件中各发光单元在照射过程中开启或关闭;
以及,确定开启的各所述发光单元的发光光路。
4.根据权利要求3所述方法,所述确定开启的各所述发光单元的发光光路包括:
利用光路控制组件,确定开启的各所述发光单元的发光光路;
所述光路控制组件包括,光圈、遮挡结构和/或光纤。
5.根据权利要求3所述方法,所述确定光照方案还包括:
根据所述待测样品的放置位置,确定所述照明组件的照射高度和位置。
6.根据权利要求1~5任意一项所述方法,所述对所述待分析图像中投影形状进行图像分析,以确定所述待测样品的边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果包括:
基于图像分析技术,根据所述待分析图像中投影形状,确定所述边缘轮廓的点胶胶路的断点位置。
7.一种胶路的检测装置,所述装置包括:
光照模块,用于根据预先确定的光照方案,从待测样品的边缘轮廓内部进行照射,以在所述待测样品的边缘轮廓***形成轮廓投影;所述待测样品的边缘轮廓上包括点胶胶路;
图像采集模块,用于对所述轮廓投影进行图像采集,获得相应的待分析图像;所述待分析图像中,包括所述轮廓投影的投影形状;
胶路检测模块,用于基于所述待分析图像中的投影形状的图像分析结果,确定并输出所述待测样品边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果。
8.一种胶路的检测设备,所述设备包括:照明组件、摄像头和处理器;
所述照明组件包括多个发光单元,各所述发光单元响应于所述处理器的控制开启或关闭,以从待测样品的边缘轮廓内部进行照射,形成轮廓投影;
所述摄像头响应于所述处理器的控制,以针对所述待测样品的轮廓投影进行图像采集,获得相应的待分析图像;
所述处理器用于确定照明方案,基于所述照明方案控制所述照明组件进行照射;并控制所述摄像头进行图像采集,获得所述待分析图像;对所述待分析图像进行图像分析,确定所述边缘轮廓的点胶胶路对应的检测结果。
9.根据权利要求8所述设备,还包括:光路控制组件,
所述光路控制组件用于控制开启的各所述发光单元的照射角度;
所述光路控制组件包括,光圈、遮挡结构和/或光纤。
10.根据权利要求8或9所述设备,所述照明组件还包括:调节结构;
所述调节结构用于调节所述照明组件的照射高度和位置。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116740062B (zh) * 2023-08-14 2023-10-27 菲特(天津)检测技术有限公司 基于不规则胶圈的缺陷检测方法及***

Citations (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0365874A1 (en) * 1988-10-03 1990-05-02 Hughes Aircraft Company Optical inspection system for solder joints and inspection method
TW200928290A (en) * 2007-12-03 2009-07-01 Kobelco Res Inst Inc Shape measuring apparatus
WO2011002957A2 (en) * 2009-07-01 2011-01-06 Advanced Liquid Logic, Inc. Droplet actuator devices and methods
CN103453834A (zh) * 2012-07-05 2013-12-18 武汉轻工大学 用于瓷砖尺寸检测的上光源斜照式图像采集新方法
CN104748676A (zh) * 2013-12-31 2015-07-01 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 位置检测装置和传输***
CN105866136A (zh) * 2015-01-21 2016-08-17 苏州兰叶光电科技有限公司 摄像头模组滤光片涂胶检测装置和方法
CN106770343A (zh) * 2017-03-28 2017-05-31 慧眼自动化科技(广州)有限公司 涂胶产品视觉检测***及检测方法
CN107101576A (zh) * 2017-04-05 2017-08-29 广东工业大学 一种零件综合检测方法及***
CN108267431A (zh) * 2016-12-30 2018-07-10 鸿富锦精密电子(郑州)有限公司 电路板点胶检测装置及检测方法
CN108896545A (zh) * 2018-05-09 2018-11-27 歌尔股份有限公司 涂胶检测方法、装置及计算机可读存储介质
CN108956625A (zh) * 2018-07-20 2018-12-07 Oppo广东移动通信有限公司 胶路检测方法及胶路检测装置
CN108982546A (zh) * 2018-08-29 2018-12-11 燕山大学 一种智能机器人涂胶质量检测***及方法
CN109539978A (zh) * 2017-09-22 2019-03-29 沈机(上海)智能***研发设计有限公司 图像检测***、图像检测装置以及图像检测方法
CN109580642A (zh) * 2018-12-13 2019-04-05 中天光伏材料有限公司 一种膜材料涂胶面缺陷分析控制***及其方法
CN208780126U (zh) * 2018-09-12 2019-04-23 深圳市泰科检测有限公司 轮廓测量投影仪
CN209085558U (zh) * 2018-12-29 2019-07-09 深圳中科飞测科技有限公司 检测设备
CN110081832A (zh) * 2019-04-12 2019-08-02 佛山科学技术学院 逻辑投影成像测量非透明物体结构参数的方法及装置
CN110248075A (zh) * 2019-07-16 2019-09-17 北京博视智动技术有限公司 图像获取装置、方法及***和点胶质量检测方法及***
CN110596134A (zh) * 2018-05-25 2019-12-20 上海翌视信息技术有限公司 一种基于图像采集的片状玻璃边缘瑕疵检测方法
CN110632088A (zh) * 2019-08-09 2019-12-31 广州超音速自动化科技股份有限公司 电池封边涂胶检测设备以及检测方法
CN110672035A (zh) * 2019-11-07 2020-01-10 西咸新区西普智能科技有限公司 一种视觉测量方法和装置
WO2020013811A1 (en) * 2018-07-10 2020-01-16 Xinova, LLC Assessment of water quality using rainbow patterns
CN111369593A (zh) * 2020-03-16 2020-07-03 梅卡曼德(北京)机器人科技有限公司 玻璃涂胶方法、装置、电子设备和存储介质
CN111665257A (zh) * 2020-07-02 2020-09-15 北京智机科技有限公司 胶型检测扫描***及其检测方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101448749B1 (ko) * 2012-12-10 2014-10-08 현대자동차 주식회사 물체 영상 검출 시스템 및 방법

Patent Citations (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0365874A1 (en) * 1988-10-03 1990-05-02 Hughes Aircraft Company Optical inspection system for solder joints and inspection method
TW200928290A (en) * 2007-12-03 2009-07-01 Kobelco Res Inst Inc Shape measuring apparatus
WO2011002957A2 (en) * 2009-07-01 2011-01-06 Advanced Liquid Logic, Inc. Droplet actuator devices and methods
CN103453834A (zh) * 2012-07-05 2013-12-18 武汉轻工大学 用于瓷砖尺寸检测的上光源斜照式图像采集新方法
CN104748676A (zh) * 2013-12-31 2015-07-01 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 位置检测装置和传输***
CN105866136A (zh) * 2015-01-21 2016-08-17 苏州兰叶光电科技有限公司 摄像头模组滤光片涂胶检测装置和方法
CN108267431A (zh) * 2016-12-30 2018-07-10 鸿富锦精密电子(郑州)有限公司 电路板点胶检测装置及检测方法
CN106770343A (zh) * 2017-03-28 2017-05-31 慧眼自动化科技(广州)有限公司 涂胶产品视觉检测***及检测方法
CN107101576A (zh) * 2017-04-05 2017-08-29 广东工业大学 一种零件综合检测方法及***
CN109539978A (zh) * 2017-09-22 2019-03-29 沈机(上海)智能***研发设计有限公司 图像检测***、图像检测装置以及图像检测方法
CN108896545A (zh) * 2018-05-09 2018-11-27 歌尔股份有限公司 涂胶检测方法、装置及计算机可读存储介质
CN110596134A (zh) * 2018-05-25 2019-12-20 上海翌视信息技术有限公司 一种基于图像采集的片状玻璃边缘瑕疵检测方法
WO2020013811A1 (en) * 2018-07-10 2020-01-16 Xinova, LLC Assessment of water quality using rainbow patterns
CN108956625A (zh) * 2018-07-20 2018-12-07 Oppo广东移动通信有限公司 胶路检测方法及胶路检测装置
CN108982546A (zh) * 2018-08-29 2018-12-11 燕山大学 一种智能机器人涂胶质量检测***及方法
CN208780126U (zh) * 2018-09-12 2019-04-23 深圳市泰科检测有限公司 轮廓测量投影仪
CN109580642A (zh) * 2018-12-13 2019-04-05 中天光伏材料有限公司 一种膜材料涂胶面缺陷分析控制***及其方法
CN209085558U (zh) * 2018-12-29 2019-07-09 深圳中科飞测科技有限公司 检测设备
CN110081832A (zh) * 2019-04-12 2019-08-02 佛山科学技术学院 逻辑投影成像测量非透明物体结构参数的方法及装置
CN110248075A (zh) * 2019-07-16 2019-09-17 北京博视智动技术有限公司 图像获取装置、方法及***和点胶质量检测方法及***
CN110632088A (zh) * 2019-08-09 2019-12-31 广州超音速自动化科技股份有限公司 电池封边涂胶检测设备以及检测方法
CN110672035A (zh) * 2019-11-07 2020-01-10 西咸新区西普智能科技有限公司 一种视觉测量方法和装置
CN111369593A (zh) * 2020-03-16 2020-07-03 梅卡曼德(北京)机器人科技有限公司 玻璃涂胶方法、装置、电子设备和存储介质
CN111665257A (zh) * 2020-07-02 2020-09-15 北京智机科技有限公司 胶型检测扫描***及其检测方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
A novel context sensitive multilevel thresholding for image segmentation;Swarnajyoti Patra等;《Applied Soft Computing Journal》;20141231;122-127 *
基于机器视觉的机器人涂胶质量在线检测技术研究;王亚运;《中国优秀硕士学位论文全文数据库信息科技辑》;20160215;I138-1422 *

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