CN112313516A - 自动分析仪 - Google Patents

Abstract

公开了一种用于使用一次性零件来分析样品的自动分析仪（100）。自动分析仪（100）包括升降机（102）、零件取出站（108）和架回收站（110）。架回收站（110）布置在零件取出站（108）上方。升降机（102）被构造成在将多个堆叠的零件架（104）保持在一起的同时使这些零件架（104）上升和下降到零件取出站（108）以及在将零件架（104）保持在一起的同时使这些零件架（104）上升和下降到架回收站（110）。零件取出站（108）包括第一架分离器（112），该第一架分离器被构造成当所述升降机（102）下降时阻止所述堆叠的零件架（104）中的最上面的零件架下降，同时允许其他零件架（104）下降，使得最上面的架（104）与其他零件架（104）分离以便保留在零件取出站（108）中。架回收站（110）包括第二架分离器（144），该第二架分离器被构造成当所述升降机（102）下降时阻止所述堆叠的零件架（104）中的最上面的零件架下降，同时允许其他零件架（104）下降，使得最上面的架（104）与其他零件架（104）分离以便保留在架回收站（110）中。

Description

自动分析仪

技术领域

本发明涉及一种使用用于与样品接触的一次性零件的自动分析仪。

背景技术

体外诊断测试对临床决策具有重大影响，从而为医生提供关键信息。特别地，非常重视在重症监护环境中提供快速且准确的测试结果。体外诊断测试通常使用可操作以对一种或多种生物样品和/或一种或多种试剂执行一个或多个处理步骤/工作流程步骤的仪器来执行，诸如分析前仪器、分析后仪器以及还有分析仪器。

分析仪器/分析仪被构造成获得测量值。分析仪可操作以经由各种化学、生物、物理、光学或其他技术程序来确定样品或其组分的参数值。分析仪可以是可操作的，以测量样品或至少一种分析物的所述参数并返回所获得的测量值。由分析仪返回的可能分析结果的列表包括但不限于样品中分析物的浓度、指示样品中分析物存在的数字（是或否）结果（对应于高于检测水平的浓度）、光学参数、DNA或RNA序列、从蛋白质或代谢物的质谱分析获得的数据以及各种类型的物理或化学参数。分析仪器可包括辅助移液、定量给料和混合样品和/或试剂的单元。分析仪可包括用于保持试剂以进行测定的试剂保持单元。试剂可布置成例如含有单独的试剂或试剂组的容器或盒的形式、被放置在存储隔室或输送器内的适当接受器或位置中。其可包括消耗品馈送单元。分析仪可包括过程和检测***，该过程和检测***的工作流程针对某些类型的分析进行优化。这种分析仪的示例是用于检测化学或生物反应的结果或监测化学或生物反应的进展的临床化学分析仪、凝血化学分析仪、免疫化学分析仪、尿液分析仪、核酸分析仪。

通过使用各种试剂处理和测量活样品（诸如，血浆、血清或尿液），获得了测量的信息，该信息对于各种类型的分析项目（诸如，生化、免疫或遗传分析项目）是有益的。然后，如果同免疫或遗传分析项目的情况一样必须严格防止样品之间的污染，则使用一次性喷嘴尖端。进一步地，出于相同的原因，可使用一次性反应容器来将样品和试剂混合在一起或稀释样品。通过使用一次性零件作为喷嘴尖端和反应容器（喷嘴尖端和反应容器与样品接触），减少了样品之间的污染或残留（carryover）带来的不适当的检验数据。

EP 1 275 966 A1描述了一种自动分析仪，其包括用于样品分析检验的一次性零件，诸如大量的喷嘴尖端和反应容器。保持未使用零件的零件架通过升降机（lift）从最低位置上升到架分离站以进行供应并且被分离，使得只有最上面堆叠的零件架才可以保留在架分离站上。将所分离的零件架移动到紧邻架分离站的零件取出站，在该零件取出站处，从可移动保持零件一个接一个地取出零件架上的零件，并在零件消耗之后通过打开零件取出架的底（floor）部分，允许使用过的零件架掉落并在回收升降器（lifter）的升降机上回收。

US 2008/028835 A1描述了一种供应微板的设备。在用于分离逐片安装成堆叠状态的微板以进行供应的微板供应设备中，通过插置微板取出收入机构来沿上下方向串联布置第一库存部分、用于含有处于堆叠状态的微板的第二库存部分，这些微板在处于堆叠状态的同时从第一库存部分移动到第二库存部分，所述多个微板中的处于最上阶层处的微板安置在微板实施高度L处，并且通过微板实施机构将该微板取出以供应到工作设备。

US 2016/297612 A1描述了一种零件供应设备，其包含：供应托盘堆叠部分，其中堆叠了含有零件的供应托盘；托盘上升/下降单元，其用于将供应托盘中的一者与供应托盘堆叠部分分离；托盘保持单元，托盘上升/下降单元设置有该托盘保持单元；以及空托盘堆叠部分，其中堆叠有空托盘，空托盘是在供应零件之后被清空的供应托盘。空托盘堆叠部分沿竖直方向安置在供应托盘堆叠部分上方。

发明内容

所公开的自动分析仪的实施例旨在减小对未使用和使用过的零件架的堆叠所必要的空间、减少用于驱动零件架的堆叠的驱动器的数量、以及减小升降机的可以被拉出以更换零件架的抽屉组件的体积。

所公开的自动分析仪的实施例具有独立权利要求的特征。在从属权利要求中公开了可以以隔离的方式或以任何任意组合实现的本发明的另外的实施例。

如下文中所使用的，术语“具有”、“包括”或“包含”或其任何语法变体以非排他的方式使用。因此，这些术语可既指代除了由这些术语引入的特征之外在该上下文中描述的实体中不存在另外特征的情况，又指代存在一个或多个另外特征的情况。作为示例，表达“A具有B”、“A包括B”和“A包含B”可既指代除了B之外A中不存在其他元件的情况（即，A唯一并且排他性地由B组成）的情况，又指代除了B之外在实体A中存在一个或多个另外元件（诸如，元件C、元件C和D或甚至另外元件）的情况。

进一步地，应注意，指示特征或元件可存在一次或多于一次的术语“至少一个”、“一个或多个”或类似表达通常将仅在引入相应特征或元件时使用一次。在下文中，在大多数情况下，当提及相应特征或元件时，表达“至少一个”或“一个或多个”将不进行重复，不承受相应特征或元件可存在一次或多于一次的事实。

进一步地，如下文中所使用的，术语“特别地”、“更特别地”、“具体地”、“更具体地”或类似术语与附加/替代特征结合使用，而不限制替代可能性。因此，由这些术语引入的特征为附加/替代特征，且并不旨在以任何方式限制权利要求的范围。如技术人员将认识到的，本发明可通过使用替代特征来执行。类似地，由“在本发明的实施例中”或类似表达引入的特征旨在为附加/替代特征，关于本发明的替代实施例没有任何限制，关于本发明的范围没有任何限制，并且关于将以这种方式引入的特征与本发明的其他附加/替代或非附加/替代特征进行组合的可能性没有任何限制。

根据所公开的自动分析仪，用于使用一次性零件来分析样品的自动分析仪包括升降机、零件取出站和架回收站。架回收站布置在零件取出站上方。升降机被构造成在将多个堆叠的零件架保持在一起的同时使这些零件架上升到零件取出站和从零件取出站下降。升降机被构造成在将多个堆叠的零件架保持在一起的同时使这些零件架上升到架回收站和从架回收站下降。零件取出站包括第一架分离器，该第一架分离器被构造成当所述升降机下降时阻止所述堆叠的零件架中的最上面的零件架下降，同时允许其他零件架下降，使得最上面的架与其他零件架分离以便保留在零件取出站中。架回收站包括第二架分离器，该第二架分离器被构造成当所述升降机下降时阻止所述堆叠的零件架中的最上面的零件架下降，同时允许其他零件架下降，使得最上面的架与其他零件架分离以便保留在架回收站中。因此，与EP 1 275 966 A1的构造相反，使用过的零件架未被提供作为紧邻未使用的零件架的堆叠的堆叠，而是被运送到未使用的零件架的堆叠上方的位置。当利用升降机（该升降机也运送未使用的零件架）运送使用过的零件架时，可以省略用于侧向运送使用过的零件架的驱动器。进一步地，可以省略紧邻用于上升和下降未使用的架的升降机的用于上升和下降使用过的架的附加升降机。此外，可以避免对紧邻未使用的架来侧向地存储使用过的零件架所必要的空间。特别地，仅需要用于移动升降机的单个驱动器，使得将驱动器的数量减少到最低限度。

如本文中所使用的术语“自动分析仪”是广义的术语，并且其将被给予对于本领域普通技术人员来说的普通和习惯意义且将不限于特殊或定制的含义。该术语具体地可指代但不限于可操作以对一种或多种生物样品和/或试剂执行一个或多个处理步骤/工作流程步骤的任何设备或设备部件。术语“处理步骤”由此指代物理地执行的处理步骤，诸如离心分离、等分、样品分析等。术语“分析仪”涵盖分析前样品工作单元（work-cell）、分析后样品工作单元以及还有分析工作单元。

如本文中所使用的术语“一次性零件”是广义的术语，并且其将被给予对于本领域普通技术人员来说的普通和习惯意义且将不限于特殊或定制的含义。该术语具体地可指代但不限于一次性喷嘴尖端和/或反应容器。

如本文中所使用的术语“零件架”是广义的术语，并且其将被给予对于本领域普通技术人员来说的普通和习惯意义且将不限于特殊或定制的含义。该术语具体地可指代但不限于其中一次性零件二维地布置的任何容器。例如，零件架具有二维地布置在其中的大量喷嘴尖端，或者具有二维地布置在其中的大量反应容器。这些零件架因此被构造成简单地放置在架场地（field）中，并且运送装置以随后的顺序从对应的架取出喷嘴尖端或反应容器。

第一架分离器可包括一对相对的阻止构件，所述一对相对的阻止构件被构造成当所述升降机下降时阻止所述堆叠的零件架中的最上面的零件架下降。因此，从中将取出零件的零件架可以与其余的零件架分离。不用说，第一架分离器被构造成将阻止构件移动到某个位置，在该位置处，当所述升降机下降时不阻止所述堆叠的零件架中的最上面的零件架下降，而是允许零件架的堆叠穿过阻止构件。对于不同的目的，诸如为了借助于扫描仪等识别零件架，这种操作可能是令人感兴趣的。

阻止构件可能够沿垂直于升降机能够移动的方向的方向移动。因此，避免了升降机和阻止构件的运动冲突。进一步地，可简化用于阻止构件的驱动器。

零件架可包括至少两个相对的侧壁，其中，阻止构件被构造成接合两个相对的侧壁的下边沿。由此，阻止构件可将零件架与零件架的堆叠可靠地分离。

所述至少两个相对的侧壁的下边沿可包括突起，其中，阻止构件被构造成接合所述突起。由此，阻止构件可与零件架可靠地接合。

自动分析仪可进一步包括被构造成一致地移动阻止构件的驱动机构。因此，阻止构件的运动被同步，使得阻止构件可使零件架在其间居中。

阻止构件可以是能够线性地移动的。因此，简化了阻止构件的驱动和运动。

阻止构件可以是板。因此，减小了阻止构件的尺寸。

替代地，阻止构件可以是能够枢转地移动的。因此，降低了阻止构件成为分析仪的其他零件的运动障碍的风险。

阻止构件可能够围绕位于升降机的最低位置下方的枢转轴线枢转地移动。因此，将阻止构件成为分析仪的其他零件的运动障碍的风险降低到最小程度。

升降机可包括被构造成使零件架居中或定位在升降机上的预定位置处的结构。这种结构允许零件架被正确地堆叠而没有任何障碍。

自动分析仪可进一步包括架定位装置，该架定位装置被构造成在零件取出站处取出一次性零件期间定位零件架。因此，零件架被居中并且零件架可被可靠地定向在其目标位置处以用于取出零件。

零件架可具有形成在其一对相对边缘处的定位凹部，其中，架定位装置包括被构造成接合所述定位凹部的定位构件。因此，零件架可由定位构件可靠地接合。

架定位装置可布置在第一架分离器上。因此，减小了对提供架定位装置所必要的空间。

第二架分离器可具有被构造成阻碍最上面的零件架下降的一对阻碍构件，并且所述阻碍构件被构造成操作以使得其间的间隔在最上面的零件架上升到架回收站时增大并且在最上面的零件架已经过所述一对阻碍构件的位置之后且在自顶部起的第二零件架经过所述一对阻碍构件的位置之前减小。因此，可将使用过的零件架可靠地存储在未使用的零件架的堆叠上方。

第二架分离器可进一步包括弹簧，所述弹簧被构造成对阻碍构件沿朝向彼此的方向进行偏压。因此，可省略用于操作阻碍构件的另外的驱动器。

升降机可被构造成提供力以使零件架上升，其中，力被调节为使得当在阻碍构件之间穿过时，零件架克服弹簧的偏压力使阻碍构件沿远离彼此的方向打开。因此，升降机操作阻碍构件并克服弹簧的偏压力而作用。

替代地，第二架分离器具有被构造成阻碍最上面的零件架下降的一对阻碍构件，所述一对阻碍构件能够沿垂直于升降机能够移动的方向的方向移动。因此，可提供类似于第一架分离器的构造。

自动分析仪包括被构造成一致地移动阻碍构件的移动机构。因此，阻碍构件的运动被同步，使得阻碍构件可使零件架在其间居中。

阻碍构件可以是能够线性地移动的。因此，简化了阻碍构件的驱动和运动。

阻碍构件可以是板。因此，减小了阻止构件的尺寸。

替代地，第二架分离器具有：两个阻碍构件，其被构造成阻碍最上面的零件架下降；以及弹簧，其被构造成对阻碍构件中的一者沿朝向彼此的方向进行偏压，其中，第二架分离器进一步包括联接机构，该联接机构被构造成联接阻碍构件使得由弹簧偏压的阻碍构件的运动引起另一阻碍构件一致地朝向和/或远离由弹簧偏压的阻碍构件移动。因此，提供了用于第二架分离器的操作的另一个简化构造。

自动分析仪可进一步包括被构造成从零件架取出一次性零件的零件取出装置，其中，该零件取出装置位于零件取出站处。因此，可利用空间减小的构造来可靠地取出一次性零件。

取出装置被构造成以随后的顺序从零件架取出一次性零件。因此，可以以连续的顺序取出一次性零件。取出装置可同时从零件架取出一次性零件一个或不止一个，诸如两个或三个一次性零件。

取出装置被构造成在垂直于升降机能够移动的方向的平面内移动。在这种情况下，简化了驱动器，因为取出装置不需要在三维空间中移动，而是仅以二维方式移动。仅取出装置的用于从零件轨道抓取一个或多个一次性零件的抓取元件才可垂直于该平面移出和移入取出装置。不用说，替代地，取出装置可被构造成在三维空间内沿所有方向移动。

自动分析仪可进一步包括被构造成引导升降机的框架，其中，该框架包括：下框架部分，其被构造成支撑零件取出站和架回收站的第二架分离器；以及上框架部分，其连接到下框架部分。因此，升降机可以以可移动的方式很好地被支撑。

上框架部分可被可移除地安装到下框架部分上。由此，可移除上框架部分以便暴露下框架部分，使得设置在下框架部分处的构造构件可是可接近的（accessible），诸如以达到服务、维护、清洁和调节的目的。

上框架部分可枢转地连接到下框架部分。因此，设置在下框架部分处的构造构件借助于上框架部分的简单的枢转运动是可接近的，诸如以达到服务、维护、清洁和调节的目的。

框架可包括：前端，零件架能够从该前端装载到升降机上；以及后端，其与前端相对，其中，框架包括用于引导升降机的至少一个升降机引导杆，所述升降机引导杆布置在前端或后端处位于升降机的拐角处，其中，框架包括在后端处位于由零件取出站限定的位置处的中断部。框架的中断部设置在与设置有升降机引导杆的一侧相对的一侧上。例如，如果从前端朝向后端看的情况下升降机引导杆设置在框架的左侧处，则中断部设置在后端处位于框架的右侧处。因此，用于取出一次性零件的取出装置不受框架和升降机引导杆的阻碍，并且可接近（has access to）位于框架内部处的零件架中的每个一次性零件。可选地，附加中断部可设置在前端处位于由零件取出站限定的位置处，其中，框架的所述附加中断部设置在与设置有升降机引导杆的一侧相对的一侧上。替代地，可提供升降机引导杆和至少一个线性轴承的组合，该升降机引导杆从零件取出站下方的位置向下延伸。

第一架分离器可至少部分地安装到下框架部分。因此，减小了分析仪的构造的尺寸。

框架可包括：前端，零件架能够从该前端装载到升降机上；以及后端，其与前端相对，其中，框架在后端处且位于升降机的拐角处是自支撑的。因此，用于从零件架取出一次性零件的取出装置在其运动中没有受到阻碍。

框架可在前端处包括两个引导杆，其中，在前端处的引导杆中的一者相对于在前端处的另一引导杆而沿远离后端的方向移位。因此，用于从零件架取出一次性零件的取出装置在其运动中没有受到阻碍。

引导杆被构造成在向上和向下移动时引导零件架。为此目的，引导杆也可设置在后端处。

升降机可包括零件架能够安置在其上的平台，其中，自动分析仪进一步包括抽屉装置，该抽屉装置被构造成在升降机的最低位置中在***位置和抽出位置之间线性地移动平台，在该***位置中，平台位于框架内，且在该抽出位置中，平台位于框架外部。因此，平台被构建成类似于抽屉并在抽出位置中装载有未使用的零件架。

抽屉装置可以是能够手动操作的。因此，可省略用于移动抽屉装置的驱动器。

自动分析仪可进一步包括至少一个闭合弹簧，所述闭合弹簧被构造成将平台保持在其***位置中以及将平台移动到其抽出装置。因此，简化了到抽出位置的运动，同时平台仍可在需要时可靠地保持在***位置中。

替代地，自动分析仪可进一步包括被构造成线性地移动平台的马达。因此，避免了平台的手动操作。

自动分析仪可进一步包括被构造成在***位置中将平台搁置的第一搁置装置。因此，确保了平台处于其正确的***位置中。

自动分析仪可进一步包括被构造成检测平台是否处于其***位置中的位置检测装置。因此，避免了升降机的错误操作。

位置检测装置可包括被构造成检测平台的一部分的光屏障。因此，可可靠地检测平台是否处于其正确的位置中。

位置检测装置可安装到升降机或框架。因此，减小了提供位置检测装置所需的空间。

自动分析仪可进一步包括被构造成在抽出位置中将平台搁置的第二搁置装置。因此，确保了平台是可接近的并且可装载有未使用的零件架。

自动分析仪可进一步包括被构造成检测零件架的标识件（identity）的扫描仪。因此，确保了分析仪仅处理正确的或原始的零件架。

扫描仪可位于由堆叠到其最大程度的多个零件架中的最上面的零件架的位置限定的位置处，其中升降机处于其最低位置或者相对从最上面的零件架朝向架回收站移位的位置中。因此，扫描仪可检测堆叠的零件架中的每一者的标识件。

扫描仪可以是被构造成检测零件架的标识件的单个扫描仪。因此，需要单个扫描仪来检测堆叠的零件架中的每一者的标识件。

扫描仪可以是固定的。因此，省略了用于移动扫描仪的驱动器。

扫描仪可被构造成通过将堆叠到升降机上的多个零件架移动到扫描仪的检测位置来检测堆叠到升降机上的所述多个零件架中的每个零件架的标识件。因此，扫描仪是固定的，零件架相对于扫描仪移动，其中，每个零件架移动到扫描仪的检测位置，在该检测位置处，可以借助于扫描仪来检测零件架的标识件。例如，零件架以随后的顺序上升到在扫描仪前面的位置。

升降机可被构造成将堆叠到升降机上的所述多个零件架向上并且随后向下移动，以便穿过扫描仪。因此，检测操作与升降机的运动相耦合，且因此可避免用于检测零件架的标识件的单独运动。

所述多个零件架包括3至10个且优选地4至7个零件架。因此，可利用分析仪来处理足够数量的零件架。

扫描仪被构造成验证零件架的真实性。由此，避免了将欺诈性（fraud）的零件架***到分析仪的操作中，这可能引起故障。

扫描仪可以是RFID读取器，其被构造成借助于附接到零件架的RFID标签来检测零件架的标识件。因此，可用非常确实的手段（well established means）来可靠地检测标识件。

扫描仪可以是条形码读取器，其被构造成借助于位于零件架处的条形码来检测零件架的标识件。因此，可用非常确实的手段来可靠地检测标识件。

条形码可与零件架集成在一起。因此，可避免对条形码的操纵。

条形码可借助于激光安置在零件架的外表面中。因此，可可靠地避免对条形码的操纵。

条形码可以是一维或二维条形码。因此，增加了可用条形码的范围。

扫描仪可被构造成检测被集成到零件架的材料中的标记。因此，可可靠地检测真正的零件架。

扫描仪被构造成光学地检测标记。因此，可用相当简单的手段来可靠地检测真正的零件架。

升降机可被构造成将堆叠的零件架上升到架回收站。例如，在零件架的全部或至少一些一次性零件已在零件取出站中被取出之后，升降机可将堆叠的零件架上升到架回收站。不用说，即使一些一次性零件保留在零件架中，升降机也可将堆叠的零件架上升到架回收站。因此，使用过的零件架可被运送到其存储或处置（disposal）位置。

总结所公开的分析仪的发现，公开了以下实施例：

实施例1： 一种用于使用一次性零件来分析样品的自动分析仪，所述自动分析仪包括升降机、零件取出站和架回收站，其中，所述架回收站布置在所述零件取出站上方，其中，所述升降机被构造成在将多个堆叠的零件架保持在一起的同时使所述零件架上升和下降到所述零件取出站以及在将多个堆叠的零件架保持在一起的同时使所述零件架上升和下降到所述架回收站，其中，所述零件取出站包括第一架分离器，所述第一架分离器被构造成当所述升降机下降时阻止所述堆叠的零件架中的最上面的零件架下降，同时允许其他零件架下降，使得最上面的架与其他零件架分离以便保留在所述零件取出站中，其中，所述架回收站包括第二架分离器，所述第二架分离器被构造成当所述升降机下降时阻止所述堆叠的零件架中的最上面的零件架下降，同时允许所述其他零件架下降，使得最上面的架与其他零件架分离以便保留在所述架回收站中。

实施例2：根据实施例1所述的自动分析仪，其中，所述第一架分离器包括一对相对的阻止构件，所述一对相对的阻止构件被构造成当所述升降机下降时阻止所述堆叠的零件架中的所述最上面的零件架下降。

实施例3：根据实施例2所述的自动分析仪，其中，所述阻止构件能够沿垂直于所述升降机能够移动的方向的方向移动。

实施例4：根据实施例2或3所述的自动分析仪，其中，所述零件架包括至少两个相对的侧壁，其中，所述阻止构件被构造成接合所述两个相对的侧壁的下边沿。

实施例5：根据实施例4所述的自动分析仪，其中，所述至少两个相对的侧壁的所述下边沿包括突起，其中，所述阻止构件被构造成接合所述突起。

实施例6：根据实施例2至5中任一项所述的自动分析仪，其进一步包括被构造成一致地移动所述阻止构件的驱动机构。

实施例7：根据实施例2至6中任一项所述的自动分析仪，其中，所述阻止构件能够线性地移动。

实施例8：根据实施例2至7中任一项所述的自动分析仪，其中，所述阻止构件是板。

实施例9：根据实施例2至6中任一项所述的自动分析仪，其中，所述阻止构件是能够枢转地移动的。

实施例10：根据实施例9所述的自动分析仪，其中，所述阻止构件能够围绕位于所述升降机的最低位置下方的枢转轴线枢转地移动。

实施例11：根据实施例1至10中任一项所述的自动分析仪，其进一步包括架定位装置，所述架定位装置被构造成在所述零件取出站处取出一次性零件期间定位所述零件架。

实施例12：根据实施例11所述的自动分析仪，其中，所述零件架具有形成在其一对相对边缘处的定位凹部，其中，所述架定位装置包括被构造成接合所述定位凹部的定位构件。

实施例13：根据实施例11或12所述的自动分析仪，其中，所述架定位装置布置在所述第一架分离器上。

实施例14：根据实施例1至13中任一项所述的自动分析仪，其中，所述第二架分离器具有被构造成阻碍所述最上面的零件架下降的一对阻碍构件，并且所述阻碍构件被构造成操作以使得其间的间隔在所述最上面的零件架上升到所述架回收站时增大并且在所述最上面的零件架已经过所述一对阻碍构件的位置之后且在自顶部起的第二零件架经过所述一对阻碍构件的位置之前减小。

实施例15：根据实施例14所述的自动分析仪，其中，所述第二架分离器进一步包括弹簧，所述弹簧被构造成对所述阻碍构件沿朝向彼此的方向进行偏压。

实施例16：根据实施例15所述的自动分析仪，其中，所述升降机被构造成提供力以使所述零件架上升，其中，所述力被调节为使得当在所述阻碍构件之间穿过时，所述零件架克服所述弹簧的所述偏压力使所述阻碍构件沿远离彼此的方向打开。

实施例17：根据实施例1至13中任一项所述的自动分析仪，其中，所述第二架分离器具有被构造成阻碍所述最上面的零件架下降的一对阻碍构件，所述一对阻碍构件能够沿垂直于所述升降机能够移动的方向的方向移动。

实施例18：根据实施例17所述的自动分析仪，其中，所述自动分析仪包括被构造成一致地移动所述阻碍构件的移动机构。

实施例19：根据实施例17或18所述的自动分析仪，其中，所述阻碍构件是能够线性地移动的。

实施例20：根据实施例17至19中任一项所述的自动分析仪，其中，所述阻碍构件是板。

实施例21：根据实施例1至13中任一项所述的自动分析仪，其中，所述第二架分离器具有：两个阻碍构件，其被构造成阻碍所述最上面的零件架下降；以及弹簧，其被构造成对所述阻碍构件中的一者沿朝向彼此的方向进行偏压，其中，所述第二架分离器进一步包括联接机构，所述联接机构被构造成联接所述阻碍构件使得由所述弹簧偏压的所述阻碍构件的运动引起所述另一阻碍构件一致地朝向和/或远离由所述弹簧偏压的所述阻碍构件移动。

实施例22：根据实施例1至21中任一项所述的自动分析仪，其进一步包括被构造成从零件架取出一次性零件的零件取出装置，其中，所述零件取出装置位于所述零件取出站处。

实施例23：根据实施例22所述的自动分析仪，其中，所述取出装置被构造成以随后的顺序从零件架取出所述一次性零件。

实施例24：根据实施例22或23所述的自动分析仪，其中，所述取出装置被构造成在垂直于所述升降机能够移动的方向的平面内移动。

实施例25：根据实施例1至24中任一项所述的自动分析仪，其进一步包括被构造成引导所述升降机的框架，其中，所述框架包括：下框架部分，其被构造成支撑所述零件取出站和所述架回收站的所述第二架分离器；以及上框架部分，其连接到所述下框架部分。

实施例26：根据实施例25所述的自动分析仪，其中，所述上框架部分被移除地安装到所述下框架部分上。

实施例27：根据实施例25所述的自动分析仪，其中，所述上框架部分枢转地连接到所述下框架部分。

实施例28：根据实施例25至27中任一项所述的自动分析仪，其中，所述框架包括：前端，零件架能够从所述前端装载到所述升降机上；以及后端，其与所述前端相对，其中，所述框架包括用于引导所述升降机的至少一个升降机引导杆，所述升降机引导杆布置在所述前端或所述后端处位于所述升降机的拐角处，其中，所述框架包括在所述后端处位于由所述零件取出站限定的位置处的中断部，所述中断部位于与所述升降机引导杆相对的一侧处。

实施例29：根据实施例27所述的自动分析仪，其中，所述第一架分离器至少部分地安装到所述下框架部分。

实施例30：根据实施例25至29中任一项所述的自动分析仪，其中，所述框架包括：前端，零件架能够从所述前端装载到所述升降机上；以及后端，其与所述前端相对，其中，所述框架在所述后端处位于所述升降机的拐角处是自支撑的。

实施例31：根据实施例25至30中任一项所述的自动分析仪，其中，所述框架在所述前端处包括两个引导杆，其中，在所述前端处的所述引导杆中的一者相对于在所述前端处的所述另一引导杆而沿远离所述后端的方向移位。

实施例32：根据实施例25至31中任一项所述的自动分析仪，其中，所述升降机包括所述零件架能够安置在其上的平台，其中，所述自动分析仪进一步包括抽屉装置，所述抽屉装置被构造成在所述升降机的所述最低位置中在***位置和抽出位置之间线性地移动所述平台，在所述***位置中，所述平台位于所述框架内，且在所述抽出位置中，所述平台位于所述框架外部。

实施例33：根据实施例32所述的自动分析仪，其中，所述抽屉装置是能够手动操作的。

实施例34：根据实施例32或33所述的自动分析仪，其进一步包括至少一个闭合弹簧，所述闭合弹簧被构造成将平台保持在其***位置中以及将所述平台移动到其抽出装置。

实施例35：根据实施例32所述的自动分析仪，其进一步包括被构造成线性地移动所述平台的马达。

实施例36：根据实施例32至35中任一项所述的自动分析仪，其进一步包括被构造成在所述***位置中将所述平台搁置的第一搁置装置。

实施例37：根据实施例32至36中任一项所述的自动分析仪，其进一步包括被构造成检测所述平台是否处于其***位置中的位置检测装置。

实施例38：根据实施例37所述的自动分析仪，其中，所述位置检测装置包括被构造成检测所述平台的一部分的光屏障。

实施例39：根据实施例37或38所述的自动分析仪，其中，所述位置检测装置安装到所述升降机或所述框架。

实施例40：根据实施例32至39中任一项所述的自动分析仪，其进一步包括被构造成在所述抽出位置中将所述平台搁置的第二搁置装置。

实施例41：根据实施例1至40中任一项所述的自动分析仪，其进一步包括被构造成检测零件架的标识件的扫描仪。

实施例42：根据实施例41所述的自动分析仪，其中，所述扫描仪位于由堆叠到其最大程度的多个零件架中的所述最上面的零件架的位置限定的位置处，其中所述升降机处于其最低位置或者从所述最上面的零件架朝向所述架回收站移位的位置中。

实施例43：根据实施例41或42所述的自动分析仪，其中，所述扫描仪以是被构造成检测所述零件架的所述标识件的单个扫描仪。

实施例44：根据实施例41至43中任一项所述的自动分析仪，其中，所述扫描仪是固定的。

实施例45：根据实施例41至44中任一项所述的自动分析仪，其中，所述扫描仪被构造成通过将堆叠到所述升降机上的多个零件架移动到所述扫描仪的检测位置来检测堆叠到所述升降机上的所述多个零件架中的每个零件架的所述标识件。

实施例46：根据实施例45所述的自动分析仪，其中，所述升降机被构造成将堆叠到所述升降机上的所述多个零件架向上并且随后向下移动，以便穿过所述扫描仪。

实施例47：根据实施例45或46所述的自动分析仪，其中，所述多个零件架包括3至10个且优选地4至7个零件架。

实施例48：根据实施例41至47中任一项所述的自动分析仪，其中，所述扫描仪被构造成验证零件架的真实性。

实施例49：根据实施例41至48中任一项所述的自动分析仪，其中，所述扫描仪是RFID读取器，其被构造成借助于附接到所述零件架的RFID标签来检测所述零件架的所述标识件。

实施例50：根据实施例41至48中任一项所述的自动分析仪，其中，所述扫描仪是条形码读取器，其被构造成借助于位于所述零件架处的条形码来检测所述零件架的所述标识件。

实施例51：根据实施例50所述的自动分析仪，其中，所述条形码与所述零件架集成在一起。

实施例52：根据实施例50或51所述的自动分析仪，其中，所述条形码借助于激光安置在所述零件架的外表面中。

实施例53：根据实施例50至41中任一项所述的自动分析仪，其中，所述条形码是一维或二维条形码。

实施例54：根据实施例41所述的自动分析仪，其中，所述扫描仪被构造成检测被集成到零件架的材料中的标记。

实施例56：根据实施例54所述的自动分析仪，其中，所述扫描仪被构造成光学地检测所述标记。

实施例56：根据实施例1至55中任一项所述的自动分析仪，其中，所述升降机被构造成在零件架的所述一次性零件已在所述零件取出站中被取出之后使所述堆叠的零件架上升到所述架回收站。

附图说明

特别地结合从属权利要求，另外的可选特征和实施例将在实施例的随后描述中更详细地公开。其中，如技术人员将认识到的，相应的可选特征可以以隔离的方式以及以任何任意可行的组合来实现。本发明的范围不受优选实施例的限制。在图中示意性地描绘了实施例。其中，这些图中相同的附图标记指代相同或功能上可比较的元件。

在图中：

图1示出了自动分析仪的前视图；

图2示出了自动分析仪的透视图，其中升降机处于最低位置中；

图3示出了自动分析仪的透视图，其中升降机处于上升位置中；

图4示出了零件架的透视图；

图5示出了零件架的简化的透视图；

图6示出了图5中所示的零件架的横截面图；

图7示出了自动分析仪的透视图，其中升降机上升到架回收站中；

图8示出了自动分析仪的另一个透视图，其中升降架上升到架回收站中；

图9示出了自动分析仪的另一个透视图，其中升降架从架回收站下降；

图10示出了自动分析仪的另一个透视图，其中升降架从零件取出站下降；

图11示出了自动分析仪的透视图，其中平台处于抽出位置中；

图12示出了自动分析仪100的透视图，其中平台处于抽出位置中；

图13示出了自动分析仪的透视图，其中平台处于***位置中并且零件架的堆叠安置在平台上；

图14示出了自动分析仪的透视图；以及

图15示出了第一或第二架分离器的两个连杆机构的透视图。

具体实施方式

图1示出了用于使用一次性零件（诸如，喷嘴尖端或试剂器皿）来分析样品的自动分析仪100的透视图。自动分析仪包括被构造成装载有多个零件架104的升降机102。所述多个零件架包括3至10个且优选地4至7个零件架，诸如五个零件架104。升降机102包括平台106，零件架104能够安置在该平台上。自动分析仪100进一步包括零件取出站108和架回收站110。架回收站110相对于重力方向布置在零件取出站108上方。如将进一步详细解释的，升降机102被构造成在将多个堆叠的零件架104保持在一起的同时使这些零件架104上升和下降到零件取出站108以及在将零件架104保持在一起的同时使这些零件架104上升和下降到架回收站110。架回收站110可包括用于引导存储在其中的零件架104的引导器件，诸如借助于接合下边沿132的成角度的构件。

零件取出站108包括第一架分离器112，该第一架分离器被构造成当所述升降机102下降时阻止所述堆叠的零件架104中的最上面的零件架下降，同时允许其他零件架104下降，使得最上面的零件架104与其他零件架104分离以便保留在零件取出站108中。

图2示出了自动分析仪100的透视图，其中升降机102处于最低位置中。图3示出了自动分析仪100的透视图，其中升降机102处于上升位置中。第一架分离器112包括一对相对的阻止构件114，所述一对相对的阻止构件被构造成当所述升降机102下降时阻止所述堆叠的零件架104中的最上面的零件架下降。在本实施例中，阻止构件114是板。阻止构件114能够沿垂直于升降机102能够移动的方向的方向移动。特别地，阻止构件114能够线性地移动。阻止构件114可借助于驱动机构116来移动。例如，驱动机构116包括马达118，该马达具有可旋转的驱动轴120和安装到驱动轴120的盘122。销124偏心地位于盘122上。销124接合阻止构件114的槽126。因此，当盘122旋转时，销124在槽126内移动，并由此使阻止构件114朝向彼此或远离彼此移动。图2示出了阻止构件114移动到彼此远离的位置中，并且图3示出了阻止构件114移动到朝向彼此的位置中。因此，驱动机构116可与阻止构件114中的相应一者相关联。驱动机构116可被构造成一致地移动阻止构件114。例如，阻止构件114可借助于连杆组件而彼此连接。因此，替代地，单个驱动器或马达足以用于同时移动两个阻止构件114。借助于传感器（未详细示出）来控制阻止构件114的运动。

图4示出了零件架104的透视图。零件架104包括多个隔室，每个隔室被构造成接收一次性零件。图5示出了零件架104的简化透视图。图6示出了图5中所示的零件架的横截面图。如图5中所示，零件架104包括至少两个相对的侧壁130。阻止构件114被构造成接合两个相对的侧壁130的下边沿132，如图3中所示。更特别地，所述至少两个相对的侧壁130的下边沿132包括突起134，并且阻止构件114被构造成接合突起134，如图3中所示。

自动分析仪100进一步包括被构造成在零件取出站108处取出一次性零件期间定位零件架104的架定位装置136。架定位装置136布置在第一架分离器112上。如图6中所示，零件架104具有形成在其一对相对边缘140处的定位凹部138。例如，零件架104包括在边缘140中的一者上的两个凹部138以及在相对边缘140处的一个凹部138。架定位装置136包括被构造成接合定位凹部138的定位构件142，如图6中所示。例如，定位构件142是可邻接抵靠零件架104并接合凹部138的轴承。定位构件142可安置在阻止构件114上或连接到阻止构件114，以便在阻止构件114移动时移动。由此，阻止构件114可移动到三个位置中，即允许零件架104穿过其的打开位置、允许将最上面的零件架104与零件架104的堆叠分离的分离位置、以及允许借助于定位零件142使零件架104居中的居中位置。

图7示出了自动分析仪100的透视图，其中升降机102上升到架回收站110中。图8示出了自动分析仪100的另一个透视图，其中升降机102上升到架回收站110中。图9示出了自动分析仪100的另一个透视图，其中升降机102从架回收站110下降。图10示出了自动分析仪100的另一个透视图，其中升降机102从零件取出站108下降。架回收站110包括第二架分离器144，该第二架分离器被构造成当所述升降机102下降时阻止所述堆叠的零件架104中的最上面的零件架下降，同时允许其他零件架104下降，使得最上面的架104与其他零件架104分离以便保留在架回收站110中。第二架分离器144具有被构造成阻碍最上面的零件架104下降的一对阻碍构件146。阻碍构件146被构造成操作以使得其间的间隔在最上面的零件架104上升到架回收站110时增大（如图7中所示）并且在最上面的零件架已经过所述一对阻碍构件146的位置之后且在自顶部起的第二零件架104经过所述一对阻碍构件146的位置之前减小（如图8和图9中所示）。因此，阻碍构件146能够移动到两个位置中，即，允许零件架104穿过其的打开位置和允许将最上面的零件架104与零件架104的堆叠分离的分离位置。为此目的，第二架分离器144进一步包括弹簧147，所述弹簧被构造成对阻碍构件146沿朝向彼此的方向进行偏压。升降机102被构造成提供力以使零件架104上升，其中，力被调节为使得当在阻碍构件146之间穿过时，零件架104克服弹簧147的偏压力使阻碍构件146沿远离彼此的方向打开，如图7中所示。图8示出了最上面的零件架104与零件架104的堆叠分离，并且图9示出了最上面的零件架104与零件架104的堆叠分离并且升降机102从架回收站110下降且其余的零件架104堆叠在其上。图10示出了最上面的零件架104与零件架104的堆叠分离，自顶部起的第二零件架104通过第一架分离器112而分离，并且升降机102下降到其最低位置且其余的零件架104堆叠在其上。替代地，阻碍构件146被设计成类似于第一架分离器112的阻止构件114。例如，阻碍构件146可以是能够沿垂直于升降机102能够移动的方向的方向线性地移动的板。进一步地，自动分析仪100可包括被构造成一致地移动阻碍构件146的移动机构。作为另外的替代方案，第二架分离器144具有：两个阻碍构件，其被构造成阻碍最上面的零件架104下降；以及弹簧，其被构造成对阻碍构件中的一者沿朝向彼此的方向进行偏压。在该示例的情况下，第二架分离器144进一步包括联接机构，该联接机构被构造成联接阻碍构件使得由弹簧偏压的阻碍构件的运动引起另一阻碍构件一致地朝向和/或远离由弹簧偏压的阻碍构件移动。

自动分析仪100进一步包括被构造成从零件架104取出一次性零件的零件取出装置148。零件取出装置148位于零件取出站108处。取出装置148被构造成以随后的顺序从零件架104取出一次性零件。升降机102被构造成在零件架104的全部或至少一些一次性零件已在零件取出站110中被取出之后使堆叠的零件架104上升到架回收站110。取出装置148被构造成在垂直于升降机102能够移动的方向的平面内移动。例如，取出装置148可被设计为可移动的抓取器头或保持零件，如EP 1 275 966 A1中所描述的，其设计通过引用并入本文中。

如图2中所示，自动分析仪100进一步包括被构造成引导升降机102的框架150。框架150包括：下框架部分152，其被构造成支撑零件取出站108和架回收站110的第二架分离器144；以及上框架部分154，其连接到下框架152。可选地，上框架部分154被可移除地安装到下框架部分152上。替代地，上框架部分154可枢转地连接到下框架部分152。框架150包括：前端156，零件架104能够从该前端装载到升降机102上；以及后端158，其与前端156相对。框架150包括用于引导升降机102的至少一个升降机引导杆160，所述升降机引导杆布置在框架150的前端156处位于升降机102的拐角处。在图2中所示的实施例中，升降机引导杆160布置在前端156处位于框架150的左侧处。因此，升降机仅被引导到一个位置处，这减小了对移动升降机102所必要的空间。框架150包括在后端158处位于由零件取出站108限定的位置处的中断部162。在图2中所示的实施例中，中断部162布置在后端158处位于框架150的右侧处。第一架分离器112至少部分地安装到下框架部分152。替代地，框架150在后端158处位于升降机102的拐角处是自支撑的。框架150在前端156处包括用于引导零件架104的两个引导杆164。在前端156处的引导杆164中的一者可相对于在前端156处的另一引导杆164而沿远离后端158的方向移位。引导杆164中的一者可与升降机引导杆160相同。不用说，框架150可在后端158处包括一个或两个引导杆164。

图11示出了自动分析仪100的透视图，其中平台处于抽出位置中。图12示出了自动分析仪100的透视图，其中平台处于抽出位置中并且零件架104的堆叠安置在平台106上。图13示出了自动分析仪100的透视图，其中平台处于***位置中并且零件架104的堆叠安置在平台106上。自动分析仪100进一步包括抽屉装置166，该抽屉装置被构造成在升降机102的最低位置中在***位置和抽出位置之间移动平台106，在该***位置中，平台106位于框架150内，且在该抽出位置中，平台106位于框架150外部。例如，抽屉装置166可包括连接到平台106的伸缩臂等。因此，当升降机处于最低位置中并且平台106处于抽出位置中时，可将未使用的零件架104装载在平台106上。抽屉装置166是能够手动操作的。例如，手柄可设置在平台处以用于拉出平台106。替代地，自动分析仪100可进一步包括被构造成线性地移动平台106的马达。自动分析仪100进一步包括至少一个闭合弹簧（未详细示出），所述闭合弹簧被构造成将平台106保持在其***位置中以及将平台106移动到其抽出位置。因此，借助于推动或按压平台106，平台106可借助于闭合弹簧的恢复力而固定在其***位置中或向外移动到其抽出位置中。自动分析仪100可进一步包括被构造成在***位置中将平台106搁置的第一搁置装置（未详细示出）。自动分析仪可进一步包括被构造成在抽出位置中将平台106搁置的第二搁置装置（未详细示出）。

自动分析仪100进一步包括被构造成检测零件架104的标识件的扫描仪168。扫描仪168位于由堆叠到其最大程度的多个零件架104中的最上面的零件架104的位置限定的位置处，其中升降机102处于其最低位置或者从最上面的零件架104朝向架回收站110移位的位置中。换句话说，当升降机102处于其最低位置中时，扫描仪168的位置由零件架104的完整堆叠中的顶部零件架限定。扫描仪168是被构造成检测零件架104的标识件的单个扫描仪。换句话说，单个扫描仪足以用于检测被提供作为升降机102上的堆叠的所有零件架104的标识件。扫描仪168是固定的。例如，扫描仪168固定到框架150。扫描仪168被构造成通过将堆叠到升降机104上的多个零件架104移动成以便穿过扫描仪168来检测堆叠到升降机102上的所述多个零件架104中的每个零件架104的标识件。升降机102被构造成将堆叠到升降机102上的所述多个零件架104随后向上和/或随后向下移动成以便穿过扫描仪168。

替代地或另外，扫描仪168可被构造成验证零件架104的真实性。例如，扫描仪168是条形码读取器，其被构造成借助于位于零件架104处的条形码170来检测零件架104的标识件。条形码170与零件架104集成在一起。条形码170可借助于激光安置在零件架104的外表面中。条形码170邻近零件架104的下边沿132安置。即使另外的零件架104被堆叠到另一个零件架104上，条形码170的这个位置也允许借助扫描仪168来检测该条形码，因为条形码170未被上零件架104覆盖。条形码170可安置在零件架104的外侧表面和/或外后表面上，如图4中所示，其示出了条形码170在零件价104上的可能的位置。基本地，条形码170可以是一维或二维条形码。替代地，扫描仪168可以是RFID读取器，其被构造成借助于附接到零件架104的RFID标签来检测零件架的标识件。替代地，扫描仪168被构造成检测被集成到零件架104的材料中的标记。例如，扫描仪168被构造成光学地检测标记。

如图11中所示，自动分析仪100可进一步包括被构造成检测平台106是否处于其***位置中的位置检测装置172。位置检测装置172包括光屏障174，该光屏障被构造成检测平台106的一部分，诸如安置在平台106的后端处的突起、标记或标志176。位置检测装置172安装到升降机或框架。

下文中，进一步详细描述用于自动分析仪100的操作的示例。在初始状态下，升降机102处于其最低位置中，并且借助于抽屉装置166将平台106移动到抽出位置，如图11中所示。然后，将未使用的零件架104的堆叠装载到平台106上，该平台仍然处于抽出位置中，如图12中所示。随后，借助于抽屉装置166将承载未使用的零件架104的堆叠的平台106移动到***位置，如图13中所示。当平台106的后端处的标志176进入光屏障174时，位置检测装置172检测到平台106处于其***位置中。基本地，可使用光屏障174以在升降机102处于其最低位置中且平台106处于抽出位置中时阻止升降机102的运动、以及在平台106处于***位置中时允许升降机102的运动。如果平台106处于抽出位置和***位置之间的位置中，则光屏障174可操作警报，以便就该中间位置来通知用户。

然后，升降机102上升，使得零件架104中的每一者的条形码170以随后的顺序穿过扫描仪168。因此，检测零件架104的标识件和/或本真性（authentity）。必须注意的是，第一架分离器112的阻止构件114远离彼此定位或移动，使得允许零件架104的堆叠穿过其。在已检测到零件架104中的每一者的标识件和/或本真性之后，将升降机102上升到去往零件取出站108的位置，在该位置处，最上面的零件104穿过阻止构件114。然后，阻止构件114朝向彼此移动，使得阻止构件114接合最上面的零件架104的下边沿132处的突起134。随后，在阻止构件114仍然朝向彼此变窄并接合最上面的零件架104的下边沿132处的突起134的同时，升降机102下降。因此，最上面的零件架104与位于平台106上的其余的零件架104分离，如图3中所示。此后，取出装置148在零件取出站108中以随后的顺序从最上面的零件架104取出一次性零件。为此目的，取出装置148在垂直于升降机102移动的方向的平面内移动。

在已借助于取出装置148从最上面的零件架104取出所有一次性零件之后，升降机102再次上升并且第一架分离器112的阻止构件114远离彼此移动。不用说，升降机102可上升，其中一些一次性零件仍存在于最上面的零件架104中，诸如当取出装置148不能取出所有的一次性零件时。因此，最上面的零件架104再次安置在零件架104的堆叠上。升降机102进一步上升到架回收站110。当最上面的零件架104上升到架回收站110时，升降机102的力足以使得第二架分离器144的阻碍构件146克服弹簧147的偏压力而增加其间的间隔，如图7中所示。特别地，当在阻碍构件146之间穿过时，零件架104克服弹簧147的偏压力使阻碍构件146沿彼此远离的方向打开。在零件架104已在阻碍构件146之间穿过之后，阻碍构件146之间的间隔由于弹簧147的偏压力所致而减小，并且阻碍构件146接合最上面的零件架104的下边沿132，如图8中所示。升降机102下降，借此最上面的零件架104与平台106上的其余的零件架104分离，如图9中所示。因此，阻碍构件146阻碍了最上面的零件架104下降，所述阻碍构件能够沿垂直于升降机102能够移动的方向的方向移动。

降机102下降到零件取出站108，在该零件取出站处，第一架分离器112移动阻止构件114以使其朝向彼此移动，以便接合自顶部起的第二零件架102的下边沿132处的突起134，如图10中所示。随后，升降机102进一步下降。因此，自顶部起的第二零件架104与平台104上的其余的零件架104分离。如图10中进一步所示的，最上面的零件架104存储在架回收站110中。此后，取出装置148在零件取出站108中以随后的顺序从自顶部起的第二零件架104取出一次性零件。为此目的，取出装置148在垂直于升降机102移动的方向的平面内移动。

在已借助于取出装置148从自顶部起的第二零件架104取出所有一次性零件之后，升降机102再次上升并且第一架分离器112的阻止构件114远离彼此移动。不用说，升降机102可上升，其中一些一次性零件仍存在于最上面的零件架104中，诸如当取出装置148不能取出所有的一次性零件时。因此，自顶部起的第二零件架104再次安置在零件架104的堆叠上。升降机102进一步上升到架回收站110。当第二零件架104上升到架回收站110时，升降机102的力足以使得第二架分离器144的阻碍构件146克服弹簧147的偏压力而增加其间的间隔。特别地，当在阻碍构件146之间穿过时，零件架104克服弹簧147的偏压力使阻碍构件146沿彼此远离的方向打开。在第二零件架104已在阻碍构件146之间穿过之后，阻碍构件146之间的间隔由于弹簧147的偏压力所致而减小，并且阻碍构件146接合自顶部起的第二零件架104的下边沿132。升降机102下降，借此自顶部起的第二零件架104与平台106上的其余的零件架104分离。因此，阻碍构件146阻碍了最上面的零件架104下降，所述阻碍构件能够沿垂直于升降机102能够移动的方向的方向移动。

图14示出了自动分析仪100的透视图。如图14中所示，最上面的零件架104在架回收站110内安置在自顶部起的第二零件架104上。然后，重复以上操作，直到所有零件架104都如前所述那样进行处理并存储在架回收站110中。在架回收站110填充有使用过的零件架104之后或者在此之前，可在上框架部分154允许接近使用过的零件架104的堆叠时移除使用过的零件架104的堆叠。例如，操作员移除覆盖上框架部分154的盖子（未详细示出），以便可接近使用过的零件架104的堆叠。然后，升降机102移动到其最低位置，抽屉装置166将平台106移动到抽出位置，并且平台106可再次装载有未使用的零件架104。基本地，升降机102在已使零件架104分别安置在零件取出站108和架回收站110处之后下降，以便分别离开零件取出站108和架回收站110。替代地，升降机102可在已使零件架104分别安置在零件取出站108和架回收站110处之后下降到最低位置，以便分别离开零件取出站108和架回收站110。

图15示出了第一架分离器112或第二架分离器144的两个连杆机构178、180的透视图。两个连杆机构178、180可与第一架分离器112和/或第二架分离器144一起使用。

图15的上部分中所示的第一连杆机构178包括两个齿轮架182以及接合齿轮架182的齿轮184。齿轮架182中的每一者连接到阻止构件114和/或阻碍构件146中的一者。齿轮184连接到单个驱动器，诸如驱动机构116。随着驱动器使齿轮184旋转，这继而使齿轮架184相对于彼此移动。当齿轮架182连接到阻止构件114和/或阻碍构件146时，这些由于齿轮架182的运动所致而移动。因此，单个驱动器足以使阻止构件114和/或阻碍构件146两者移动。

在图15的中间部分中示出的第二连杆机构180包括杆件（lever）186，诸如枢转地彼此连接的三个杆件186。进一步地，外杆件186中的每一者连接到阻止构件114和/或阻碍构件146中的一者。阻止构件114和/或阻碍构件146中的一者连接到单个驱动器，诸如驱动机构116。当驱动器使该阻止构件114和/或阻碍构件146移动时，杆件186相对于彼此枢转并且使未连接到驱动器的阻止构件114和/或阻碍构件146移动。因此，单个驱动器足以使阻止构件114和/或阻碍构件146两者移动。

附图标记列表

100	自动分析仪
		102	升降机
104	零件架
		106	平台
108	零件取出站
		110	架回收站
112	第一架分离器
		114	阻止构件
116	驱动机构
		118	马达
120	驱动轴
		122	盘
124	销
		126	槽
130	侧壁
		132	下边沿
134	突起
		136	架定位装置
138	定位凹部
		140	边缘
142	定位构件
		144	第二架分离器
146	阻碍构件
		147	弹簧
148	取出装置
		150	框架
152	下框架部分
		154	上框架部分
156	前端
		158	后端
160	升降机引导杆
		162	中断部
164	引导杆
		166	抽屉装置
168	扫描仪
		170	条形码
172	位置检测装置
		174	光屏障
176	标志
		178	第一连杆机构
180	第二连杆机构
		182	齿轮架
184	齿轮
		186	杆件

Claims (15)

1.一种用于使用一次性零件来分析样品的自动分析仪（100），所述自动分析仪包括：

升降机（102）、零件取出站（108）和架回收站（110），其中，所述架回收站（110）布置在所述零件取出站（108）上方，其中，所述升降机（102）被构造成在将多个堆叠的零件架（104）保持在一起的同时使所述零件架（104）上升和下降到所述零件取出站（108）以及在将多个堆叠的零件架（104）保持在一起的同时使所述零件架（104）上升和下降到所述架回收站（110），其中，所述零件取出站（108）包括第一架分离器（112），所述第一架分离器被构造成当所述升降机（102）下降时阻止所述堆叠的零件架（104）中的最上面的零件架下降，同时允许其他零件架（104）下降，使得最上面的架（104）与其他零件架（104）分离以便保留在所述零件取出站（108）中，其中，所述架回收站（110）包括第二架分离器（144），所述第二架分离器被构造成当所述升降机（102）下降时阻止所述堆叠的零件架（104）中的最上面的零件架下降，同时允许所述其他零件架（104）下降，使得最上面的架（104）与其他零件架（104）分离以便保留在所述架回收站（110）中。

2.根据权利要求1所述的自动分析仪（100），其中，所述第一架分离器（112）包括一对相对的阻止构件（114），所述一对相对的阻止构件被构造成当所述升降机（102）下降时阻止所述堆叠的零件架（104）中的最上面的零件架下降。

3.根据权利要求2所述的自动分析仪（100），其进一步包括被构造成一致地移动所述阻止构件（114）的驱动机构（116）。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的自动分析仪（100），其进一步包括架定位装置（136），所述架定位装置被构造成在所述零件取出站（108）处取出一次性零件期间定位所述零件架（104）。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的自动分析仪（100），其中，所述第二架分离器（144）具有被构造成阻碍所述最上面的零件架（104）下降的一对阻碍构件（146），并且所述阻碍构件（146）被构造成操作以使得其间的间隔在所述最上面的零件架（104）上升到所述架回收站（110）时增大并且在所述最上面的零件架（104）已经过所述一对阻碍构件（146）的位置之后且在自顶部起的第二零件架（104）经过所述一对阻碍构件（146）的位置之前减小。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的自动分析仪（100），其中，所述第二架分离器（144）具有被构造成阻碍所述最上面的零件架（104）下降的一对阻碍构件(146)，所述一对阻碍构件能够沿垂直于所述升降机（102）能够移动的方向的方向移动。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的自动分析仪（100），其中，所述第二架分离器（144）具有：两个阻碍构件（146），其被构造成阻碍所述最上面的零件架（104）下降；以及弹簧（147），其被构造成对所述阻碍构件（146）中的一者沿朝向彼此的方向进行偏压，其中，所述第二架分离器（144）进一步包括联接机构，所述联接机构被构造成联接所述阻碍构件（146）使得由所述弹簧（147）偏压的所述阻碍构件（146）的运动引起另一阻碍构件（146）一致地朝向和/或远离由所述弹簧（147）偏压的所述阻碍构件（146）移动。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的自动分析仪（100），其进一步包括被构造成从零件架（104）取出一次性零件的零件取出装置（148），其中，所述零件取出装置（148）位于所述零件取出站（108）处。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的自动分析仪（100），其进一步包括被构造成引导所述升降机（102）的框架（150），其中，所述框架（150）包括：下框架部分（152），其被构造成支撑所述零件取出站（108）和所述架回收站（110）的所述第二架分离器（144）；以及上框架部分（154），其连接到所述下框架部分（152）。

10.根据权利要求9所述的自动分析仪（100），其中，所述框架（150）包括：前端（156），零件架（104）能够从所述前端装载到所述升降机（102）上；以及后端（158），其与所述前端（156）相对，其中，所述框架（150）包括用于引导所述升降机（102）的至少一个引导杆（160），所述引导杆布置在所述前端（156）或所述后端（158）处位于所述升降机（102）的拐角处，其中，所述框架（150）包括在所述后端（158）处位于由所述零件取出站（108）限定的位置处的中断部（162）。

11.根据权利要求9至10中任一项所述的自动分析仪（100），其中，所述升降机（102）包括所述零件架（104）能够安置在其上的平台（106），其中，所述自动分析仪进一步包括抽屉装置（166），所述抽屉装置被构造成在所述升降机（102）的最低位置中在***位置和抽出位置之间线性地移动所述平台（106），在所述***位置中，所述平台（106）位于所述框架（150）内，且在所述抽出位置中，所述平台（106）位于所述框架（150）外部。

12.根据权利要求1至11中任一项所述的自动分析仪（100），其进一步包括被构造成检测零件架（104）的标识件的扫描仪（168）。

13.根据权利要求12所述的自动分析仪（100），其中，所述扫描仪（168）是RFID读取器，其被构造成借助于附接到所述零件架（104）的RFID标签来检测所述零件架（104）的标识件。

14.根据权利要求13所述的自动分析仪（100），其中，所述扫描仪（168）是条形码读取器，其被构造成借助于位于所述零件架（104）处的条形码（170）来检测所述零件架（104）的所述标识件。

15.根据权利要求1至14中任一项所述的自动分析仪（100），其中，所述升降机（102）被构造成在零件架（104）的所述一次性零件中的至少一些已在所述零件取出站（108）中被取出之后使所述堆叠的零件架（104）上升到所述架回收站（110）。

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