CN112284533B - 一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计 - Google Patents
一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计 Download PDFInfo
- Publication number
- CN112284533B CN112284533B CN201910673417.7A CN201910673417A CN112284533B CN 112284533 B CN112284533 B CN 112284533B CN 201910673417 A CN201910673417 A CN 201910673417A CN 112284533 B CN112284533 B CN 112284533B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- detector
- radiometer
- port
- correction
- integrating sphere
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 57
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 15
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 17
- 238000009833 condensation Methods 0.000 claims description 12
- 230000005494 condensation Effects 0.000 claims description 12
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 9
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 8
- 230000001174 ascending effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims 1
- 230000008859 change Effects 0.000 abstract description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 238000000701 chemical imaging Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 239000005427 atmospheric aerosol Substances 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000007123 defense Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 239000002689 soil Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0297—Constructional arrangements for removing other types of optical noise or for performing calibration
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2823—Imaging spectrometer
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N2021/0106—General arrangement of respective parts
- G01N2021/0112—Apparatus in one mechanical, optical or electronic block
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N2021/1765—Method using an image detector and processing of image signal
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N2021/1793—Remote sensing
- G01N2021/1795—Atmospheric mapping of gases
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
本发明公开了一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计，包括积分球，积分球内表面涂覆有漫反射涂层；所述积分球设有对地聚光口、太阳光入射口和至少一个探测器接口；所述对地聚光口衔接聚光***，所述对地聚光口和聚光***之间设有第一电磁阀；所述太阳光入射口设有第二电磁阀；所述探测器接口设有准直校正模块和探测器模块；所述对地聚光口和太阳光入射口的入射光线进入积分球后经漫反射涂层多次反射，在积分球内表面形成均匀的照面，再通过探测器接口的准直校正模块后导入探测器模块。以稳定已知的太阳为参照，在原理上消除了自身衰减和变化对定标精度的影响，能够精确测量定标场上空的大气特性参数，且结构简单，稳定性好，获取的信号可靠有效。
Description
技术领域
本发明涉及光谱辐射定标的技术领域，特别涉及到一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计。
背景技术
随着国家经济和科技的发展，国家宏观决策、国防军事、国土资源调查、精准农业、环境监测、大气探测、极端灾害预报等领域急需航天遥感数据的支持。而高光谱成像技术是80年代发展起来的遥感技术，与传统的光谱仪不同的是，高光谱成像技术是集成像与光谱于一体(图谱合一)，以纳米级高光谱分辨率，在获取目标二维空间图像信息的同时，同步获取目标的连续精细光谱信息，使航天遥感的探测能力大为提高，可广泛应用于陆地、大气、海洋等观测中。
通过高光谱相机在轨获取的地面三维立方体数据，可以反演出地物的反射率曲线；然而受到地物上空大气特性的影响，其反演的反射率曲线与地物目标的真实反射率曲线存在一定的差异，由于大气中的分子和气溶胶粒子散射和吸收的贡献，目标在探测器穿过上行大气之前的辐射值和地物目标的真实辐射值存在很大的差别，且该差别随天气条件和局地大气参数(如水汽和其他吸收气体含量、大气气溶胶、温度、湿度和气压等)的不同有很大的变化。因此，要获取高质量可溯源至SI(国际基本单位制)的高光谱航天遥感数据，精确地定量化诠释地物信息就必须深入开展高光谱成像仪对地观测工作的研究，进行大气校正，扣除大气影响。
现有的大气辐射校正方法主要包括实际大气透过率的测量和根据探测的大气参数模拟计算大气透过率。但实时测量长斜程路径的大气透过率非常困难，且不易实现。而通过构建大气光谱透过率的计算模式对测量的辐射信号进行校正则主要采用的是计算机软件仿真分析法，这类方法一般利用国外的大气辐射传输软件(如MODTRAN等)采用标准大气模式计算大气透过率，这类方法的优势在于操作简单、成本低和周期短等优点。然而我国典型地区实际大气与标准大气模式存在较大差异，其在计算精度与计算效率上存在一定的局限性。因此，在实际工程应用中，仍然需要采用大气测量仪器对测量场地定标时刻的大气特性参数进行实际观测校正。但目前在实际工程应用对大气特性参数校正需要采用多台大气测量仪器，测量过程复杂，且缺乏自定标装置和仪器衰减自校正功能，难以保持长期稳定性。
发明内容
本发明提出了一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计，以稳定已知的太阳为参照，在原理上消除了自身衰减和变化对定标源标定精度的影响，能够精确测量定标场上空的大气特性参数，消除大气廓线误差，反演大气参数。
为此，本发明采用以下技术方案：
实施例一：
一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计，如图1所示，所述辐射计包括积分球1，积分球1内表面涂覆有漫反射涂层2；所述积分球1设有对地聚光口3、太阳光入射口4和一个探测器接口5；所述对地聚光口3衔接聚光***6，所述对地聚光口3和聚光***6之间设有第一电磁阀11；所述太阳光入射口4设有第二电磁阀12；所述探测器接口5设有准直校正模块和探测器模块；所述对地聚光口3和太阳光入射口4的入射光线进入积分球后经过漫反射涂层2多次反射后，在积分球内表面形成均匀的照面，再通过探测器接口5的准直校正模块后导入探测器模块。
其中，所述准直校正模块包括视场光阑7和校正准直透镜8，所述校正准直透镜8置于视场光阑7内，光线从探测器接口5入校正准直透镜8后导入探测器模块；所述探测器模块包括滤光片9和探测器单元10，光线经滤光片9后导入探测器单元10，所述探测器单元10为InGaAs探测器。
其中，所述聚光***6为反射式结构。
其中，所述InGaAs探测器为集成式探测器，集成至少1个像元。
其中，所述对地聚光口3入射通量与太阳光入射4口入射通量保持相等，因
太阳光入射口通量为
其中，为大气层外太阳辐照度，bλ为带宽，θ为太阳光入射角度，Ds为太阳光入射口口径；
对地聚光口入射通量为
其中，为上行大气透过率，/>为下行大气透过率，ρ(λ)为地面反射率，τ0(λ)为地面观测聚光***透过率，Ω为轨道高度与地面形成的立体角度，Do为对地聚光口口径；
当
则太阳光入射口口径与对地聚光口口径关系为：
实施例二
一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计，如图2所示，所述辐射计包括积分球1，积分球1内表面涂覆有漫反射涂层2；所述积分球1设有对地聚光口3、太阳光入射口4和两个探测器接口51和52；所述对地聚光口3衔接聚光***6，所述对地聚光口3和聚光***6之间设有第一电磁阀11；所述太阳光入射口4设有第二电磁阀12；所述探测器接口51和52均设有准直校正模块和探测器模块；所述对地聚光口和太阳光入射口的入射光线进入积分球后经过漫反射涂层多次反射后，在积分球内表面形成均匀的照面，再通过探测器接口51和52的准直校正模块后导入探测器模块。
其中，所述探测器接口51处的第一准直校正模块包括第一视场光阑71和第一校正准直透镜81，所述第一校正准直透镜81置于第一视场光阑71内，光线从探测器接口51入第一校正准直透镜81后导入第一探测器模块，所述第一探测器模块包括第一滤光片91和第一探测器单元101，光线经滤光片91后导入探测器单元101，所述探测器单元101为InGaAs探测器；所述探测器接口52处的第二准直校正模块包括第二视场光阑72和第二校正准直透镜82，所述第二校正准直透镜82置于第二视场光阑82内，光线从探测器接口52入第二校正准直透镜82后导入第二探测器模块，所述探测器模块包括第二滤光片92和第二探测器单元102，光线经滤光片92后导入探测器单元102，所述探测器单元102为Silicon探测器。
其中，所述InGaAs探测器为集成式探测器，集成至少1个像元。
其中所述对地聚光口3入射通量与太阳光入射口4入射通量保持相等，因太阳光入射口通量为
其中，为大气层外太阳辐照度，bλ为带宽，θ为太阳光入射角度，Ds为太阳光入射口口径；
对地聚光口入射通量为
其中，为上行大气透过率，/>为下行大气透过率，ρ(λ)为地面反射率，τ0(λ)为地面观测聚光***透过率，Ω为轨道高度与地面形成的立体角度，Do为对地聚光口口径；
当
则太阳光入射口口径与对地聚光口口径关系为：
一种基于上述的用于遥感器在轨大气校正的辐射计的测量方法，包括如下：
1)辐射计的自定标校正：采用遥感器在轨道运行中经过一定太阳高度角时辐射计对日观测探测器的输出均值与上一次遥感器在轨道运行中经过相同太阳高度角时辐射计对日观测探测器的输出均值的比值来确定辐射计自身的相对衰减；
其中，探测器输出均值为遥感器在轨道中运行从太阳高度角α至太阳高度角β的时间t内，利用第一电磁阀关闭对地聚光口，开启第二电磁阀，使太阳光入射口对日观测，入射光线进入积分球后经漫反射涂层多次反射，在积分球内表面形成均匀的照面，再通过探测器连续采集的N次数据的平均值
2)大气辐射特性测量：遥感器途经地面定标场上空时，利用第二电磁阀关闭太阳光入射口，开启第一电磁阀，使对地聚光***对准定标场中心参考区域，定标场光线经对地聚光***集光后进入积分球后经漫反射涂层多次反射，在积分球内表面形成均匀的照面，再通过探测器采集数据，取定标场中心参考区域的大气透过率。
本发明采用以上技术方案，具有如下优势：
1)本发明以稳定已知的太阳为参照，在原理上消除了自身衰减和变化对定标源标定精度的影响，能够精确测量定标场上空的大气特性参数，消除大气廓线误差，反演大气参数；
2)本发明在光线进去探测器前设置校正模块以解决光线经积分球后，折射进入探测器，由于折射角偏大，会导致波长曲线翘起变宽的问题，从而保证了探测器的光谱响应带宽，并使大气校正辐射计的定标更加准确；
3)结构简单，稳定性好。
附图说明
图1为本发明用于遥感器在轨大气校正的辐射计实施例一的结构示意图
图2为本发明用于遥感器在轨大气校正的辐射计实施例二的结构示意图
图3为本发明具体实施方式中聚光***的结构示意图
具体实施方式
为了使本发明的目的、特征和优点更加的清晰，以下结合附图及实施例，对本发明的一种具体实施方式做出更为详细的说明，在下面的描述中，阐述了很多具体的细节以便于充分的理解本发明，但是本发明能够以很多不同于描述的其它方式来实施，因此，本发明不受以下公开的具体实施例的限制。
按本发明中的结构特点和功能给出具体实施方法。用于遥感器在轨大气校正的辐射计***指标如下：
| 1 | 积分球内径 | 56.0mm |
| 2 | 积分球厚度 | 10.0mm |
| 3 | 太阳光入射口尺寸 | Ф0.17mm |
| 4 | 对地聚光口尺寸 | Ф1.54mm |
| 5 | 探测器光阑尺寸 | Si：5×Ф3.2mm；InGaAs：1×Ф8.8mm |
| 6 | 探测器光敏面尺寸 | Ф1.0mm |
所述聚光***采用反射式结构，如图3所示，透镜选用石英材料，同时考虑结构的轻小型化，光学设计结果如下图所示：
对于Si探测器采用单元独立布局5个，对于InGaAs探测器采用5元合1整体布局。探测器中心波长设置及接收的能量如下表所示：
辐射计太阳入光口和对地聚光口入射光线在积分球内进入积分球后经漫反射涂层多次反射，在积分球内表面形成均匀的照面后，到达探测器的滤光片的入射角会大于＞9°，易造成波长曲线翘起变宽，使探测器获取的数据不精确，因此在采用在光线进去探测器前设置校正准直透镜，校正准直透镜与滤光片距离为0.5mm；光线离开校正准直透镜后,到达探测器滤光片表面的入射角度控制在9°以内，从而保证探测器的光谱响应带宽，并使大气校正辐射计的定标更加准确。
用于遥感器在轨大气校正的辐射计的测量方法，包括如下：
1)辐射计的自定标校正：采用遥感器在轨道运行中经过一定太阳高度角时辐射计对日观测探测器的输出均值与上一次遥感器在轨道运行中经过相同太阳高度角时辐射计对日观测探测器的输出均值的比值来确定辐射计自身的相对衰减；
其中，探测器输出均值为遥感器在轨道中运行从太阳高度角-2°至太阳高度角+4°(北极阴影区附近)的时间2min内，利用第一电磁阀关闭对地聚光口，开启第二电磁阀，使太阳光入射口对日观测，入射光线进入积分球后经漫反射涂层多次反射，在积分球内表面形成均匀的照面，再通过探测器连续采集的10次数据的平均值
2)大气辐射特性测量：遥感器途经地面定标场上空时，利用第二电磁阀关闭太阳光入射口，开启第一电磁阀，使对地聚光***对准定标场中心参考区域，定标场光线经对地聚光***集光后进入积分球后经漫反射涂层多次反射，在积分球内表面形成均匀的照面，再通过探测器采集数据，取定标场中心参考区域的大气透过率。
按照定标场中心参考区域与轨道的相对关系，对于不同定标时间点，卫星在±10°范围内侧摆。考虑到偏流角影响，侧摆角度要求精度优于0.1°，即大气校正辐射计采集区域定位精度优于1.54km。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计，其特征在于：所述辐射计包括积分球，积分球内表面涂覆有漫反射涂层；所述积分球设有对地聚光口、太阳光入射口和至少一个探测器接口；所述对地聚光口衔接聚光***，所述对地聚光口和聚光***之间设有第一电磁阀；所述太阳光入射口设有第二电磁阀；所述探测器接口设有准直校正模块和探测器模块；所述对地聚光口和太阳光入射口的入射光线进入积分球后经漫反射涂层多次反射，在积分球内表面形成均匀的照面，再通过探测器接口的准直校正模块后导入探测器模块；
其中，所述对地聚光口入射通量与太阳光入射口入射通量保持相等，
太阳光入射口入射通量为
其中，为大气层外太阳辐照度，bλ为带宽，θ为太阳光入射角度，Ds为太阳光入射口口径；
对地聚光口入射通量为
其中，为上行大气透过率，/>为下行大气透过率，ρ(λ)为地面反射率，τ0(λ)为地面观测聚光***透过率，Ω为轨道高度与地面形成的立体角度，Do为对地聚光口口径；
太阳光入射口口径与对地聚光口口径关系为：
2.根据权利要求1所述的一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计，其特征在于：所述聚光***为反射式结构。
3.根据权利要求1所述的一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计，其特征在于：所述准直校正模块包括视场光阑和校正准直透镜，所述校正准直透镜置于视场光阑内，光线从探测器接口入校正准直透镜后导入探测器模块。
4.根据权利要求1所述的一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计，其特征在于：所述探测器模块包括滤光片和探测器单元，光线经滤光片后导入探测器单元。
5.根据权利要求4所述的一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计，其特征在于：所述探测器单元为InGaAs探测器。
6.根据权利要求5所述的一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计，其特征在于：所述InGaAs探测器为集成式探测器，集成至少1个像元。
7.根据权利要求4所述的一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计，其特征在于：所述探测器单元为Silicon探测器。
8.基于权利要求1-7任一项所述的一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计的自定标校正方法，其特征在于：包括如下：
采用遥感器在轨道运行中经过一定太阳高度角时辐射计对日观测探测器的输出均值与上一次遥感器在轨道运行中经过相同太阳高度角时辐射计对日观测探测器的输出均值的比值来确定辐射计自身的相对衰减；
其中，探测器输出均值为遥感器在轨道中运行从太阳高度角α至太阳高度角β的时间t内，利用第一电磁阀关闭对地聚光口，开启第二电磁阀，使太阳光入射口对日观测，入射光线进入积分球后经漫反射涂层多次反射，在积分球内表面形成均匀的照面，再通过探测器连续采集的N次数据的平均值
9.基于权利要求1-7任一项所述的一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计的大气辐射特性测量方法，其特征在于：包括如下：
遥感器途经地面定标场上空时，利用第二电磁阀关闭太阳光入射口，开启第一电磁阀，使对地聚光***对准定标场中心参考区域，定标场光线经对地聚光***集光后进入积分球后经漫反射涂层多次反射，在积分球内表面形成均匀的照面，再通过探测器采集数据，取定标场中心参考区域的大气透过率。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910673417.7A CN112284533B (zh) | 2019-07-24 | 2019-07-24 | 一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910673417.7A CN112284533B (zh) | 2019-07-24 | 2019-07-24 | 一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN112284533A CN112284533A (zh) | 2021-01-29 |
| CN112284533B true CN112284533B (zh) | 2024-06-21 |
Family
ID=74419085
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201910673417.7A Active CN112284533B (zh) | 2019-07-24 | 2019-07-24 | 一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN112284533B (zh) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113686819B (zh) * | 2021-08-11 | 2024-05-14 | 江苏省农业科学院 | 作物生长信息传感器的入射光路结构 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN210513419U (zh) * | 2019-07-24 | 2020-05-12 | 中国科学院上海技术物理研究所启东光电遥感中心 | 一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5835267A (en) * | 1997-07-15 | 1998-11-10 | Eastman Kodak Company | Radiometric calibration device and method |
| DE102011077290A1 (de) * | 2011-06-09 | 2012-12-13 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Messverfahren und Messvorrichtung zur Ermittlung von Transmissions- und/oder Reflektionseigenschaften |
| CN102564590B (zh) * | 2011-12-29 | 2014-01-15 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 地物模拟光谱辐射定标源装置 |
| EP3387413A1 (en) * | 2015-12-11 | 2018-10-17 | DSM IP Assets B.V. | System and method for optical measurements on a transparent sheet |
| CN105444881B (zh) * | 2015-12-14 | 2019-12-13 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 自校正大气-地表光学辐射特性观测仪 |
| CN106017680B (zh) * | 2016-08-02 | 2018-10-19 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种卤钨灯光源及成像光谱仪星上定标方法 |
-
2019
- 2019-07-24 CN CN201910673417.7A patent/CN112284533B/zh active Active
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN210513419U (zh) * | 2019-07-24 | 2020-05-12 | 中国科学院上海技术物理研究所启东光电遥感中心 | 一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN112284533A (zh) | 2021-01-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN102901516B (zh) | 一种基于绝对辐射定标的多光谱影像辐射校正方法 | |
| CN110006463B (zh) | 一种光学遥感卫星的在轨绝对辐射定标方法及*** | |
| Wilbert | Determination of circumsolar radiation and its effect on concentrating solar power | |
| CN108955885A (zh) | 卫星遥感器在轨定标的光谱辐射观测与自校准方法 | |
| CN109932341B (zh) | 野外环境下典型目标的双向反射分布函数测量方法 | |
| Wang et al. | Water vapor retrievals from near-infrared channels of the advanced Medium Resolution Spectral Imager instrument onboard the Fengyun-3D satellite | |
| CN108120510A (zh) | 一种光学遥感器基于反射镜阵列的在轨绝对辐射定标方法 | |
| CN112284533B (zh) | 一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计 | |
| CN106769895A (zh) | 一种标定测量整层大气光谱透过率的方法 | |
| CN109632643B (zh) | 一种多角度偏振探测仪在轨定标方法及装置 | |
| LeBohec et al. | The cosmic ray background as a tool for relative calibration of atmospheric Cherenkov telescopes | |
| CN210513419U (zh) | 一种用于遥感器在轨大气校正的辐射计 | |
| CN103411896B (zh) | 低轨空间碎片超低色散光谱特征获取方法 | |
| CN105737980A (zh) | 辐射定标方法及装置 | |
| CN214667266U (zh) | 一种用于遥感器在轨辐射定标的积分球比辐射计 | |
| EP3799620B1 (en) | System for the real-time high precision measurement of the atmospheric attenuation of electromagnetic radiation | |
| Sánchez et al. | High-accuracy real-time monitoring of solar radiation attenuation in commercial solar towers | |
| Cahuantzi et al. | Geometric optimisation of an accurate cosine correcting optic fibre coupler for solar spectral measurement | |
| Lübcke et al. | On the absolute calibration of SO 2 cameras. | |
| CN114200670B (zh) | 一种用于太阳直接辐射测量的自由曲面反射镜的设计方法 | |
| KR102542100B1 (ko) | 회전 프리즘을 적용한 반사도 측정 장치 | |
| Korevaar et al. | Measuring the Sun the components of Solar Radiation, traceability of measurements, and PV panel soiling | |
| Rafique et al. | Field Deployable Mirror Soiling Detection Based on Polarimetric Imaging | |
| Ye et al. | A Dynamic Range Analysis of Remote Sensor Based on PcModWin | |
| CN115950538A (zh) | 一种基于水陆表协同观测的场地定标***和方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| CB02 | Change of applicant information |
Address after: 226200 building 11, Jinmeng Pioneer Park, 101 Nanhai Road, high tech Zone, Qidong City, Nantong City, Jiangsu Province Applicant after: Qidong Zhongke photoelectric remote sensing center Address before: 226200 building 11, Jinmeng Pioneer Park, 101 Nanhai Road, high tech Zone, Qidong City, Nantong City, Jiangsu Province Applicant before: QIDONG PHOTOELECTRIC AND REMOTE SENSING CENTER, SHANGHAI INSTITUTE OF TECHNICAL PHYSICS OF THE CHINESE ACADEMY OF SCIENCES |
|
| CB02 | Change of applicant information | ||
| TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20240116 Address after: 200083 No. 500, Yutian Road, Shanghai, Hongkou District Applicant after: SHANGHAI INSTITUTE OF TECHNICAL PHYSICS, CHINESE ACADEMY OF SCIENCE Applicant after: Qidong Zhongke photoelectric remote sensing center Address before: 226200 building 11, Jinmeng Pioneer Park, 101 Nanhai Road, high tech Zone, Qidong City, Nantong City, Jiangsu Province Applicant before: Qidong Zhongke photoelectric remote sensing center |
|
| TA01 | Transfer of patent application right | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |