CN112275657A - 一种多面尺寸测量方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种多面尺寸测量方法，将被测产品放置在第一tray盘上，自动依次控制进行上表面外形尺寸测量、侧面外形尺寸测量，在侧面外形尺寸测量前还先进行下表面外形尺寸测量，其中在侧面外形尺寸测量过程中，被测产品被控制进行旋转，针对其不同侧面分别进行侧面外形尺寸测量，至此被测产品的六个外表面均完成尺寸测量，测量效率快，适合批量生产中的全检工作；且对于测量结果不一样的被测产品实施分类管理，不会窜料，保证输向下游的tray盘上的产品质量一致。

Description

一种多面尺寸测量方法
技术领域
本发明属于电子产品尺寸测量流程技术领域，尤其涉及一种多面尺寸测量方法。
背景技术
在3C电子产品领域需要对物料的外形轮廓尺寸、斜面角度尺寸或外形圆弧尺寸等进行多方位的测量，包括顶面、背面和四个侧面，对每个面的测量结果进行判断，进而提升生产的质量。
随着对此类3C电子产品的生产质量要求越来越高，很多产品在生产时均会要求对其多个面进行尺寸测量，但是目前的测量方法主要是采用二次元与三次元测量仪器分开独立测量的方法，针对每个面的测量需要在不同的测量设备上完成，测量步骤比较分散，在不同设备之间的移料也容易对产品造成额外的人为伤害；在此测量方法的基础上，测量速度非常慢，只能作为工厂生产活动中的QC首件确认与IPQC抽检使用，且随着操作员的技术熟练程度与测量方法差异会导致测量结果不一致，存在测量错误的风险，因此这种测量方法无法实现一次性的多面尺寸测量目的，无法适应批量生产中的全检工作。
发明内容
本发明的目的在于克服上述现有技术存在的不足，提供一种多面尺寸测量方法，解决了现有技术中无法对被测产品实施一次性多面尺寸测量的瓶颈问题，克服了测量效率低，测量误差大的问题。
为了实现上述目的，本发明提供一种多面尺寸测量方法，包括以下步骤：
步骤S1：将装有被测产品的第一tray盘放置在上料机上，控制第一提取装置提取至少一个被测产品、并将被测产品放置于第一测试平台，控制第一测量装置对被测产品的上表面进行外形尺寸测量；
步骤S2：控制第一提取装置将上表面测量合格的被测产品放回第一tray盘上，控制第一tray盘输向第二提取装置；
步骤S3：控制第二提取装置提取被测产品、并将被测产品放置于第二测试平台，控制第二测量装置对被测产品的侧面进行外形尺寸测量；
步骤S4：控制第三提取装置将侧面测量合格的被测产品放在良品tray盘上，控制良品tray盘输向下料机。
进一步地，在步骤S3中：
第二提取装置提取被测产品后，先经过第三测量装置，所述第三测量装置被配置为对被测产品的下表面进行外形尺寸测量，下表面测量后再将被测产品放置在第二测试平台。
进一步地，在步骤S1中，第一提取装置提取被测产品后，将被测产品按顺时针旋转90°后再放置在第一测试平台上。
进一步地，在步骤S2中，所述第一测量装置逐个对被测产品的上表面进行外形尺寸测量，将每个被测产品的测量结果发送至控制器，控制器控制与被测产品对应的第一提取装置将上表面测量合格的被测产品放回第一tray盘上、将上表面测量不合格的被测产品放至第二tray盘上。
进一步地，在步骤S3中，控制所述第二测试平台带动被测产品进行沿同一顺时针或者逆时针方向的多次90°旋转，对于被测产品的每个侧面，通过第二测量装置对其进行外形尺寸测量。
进一步地，在步骤S4中，所述第二测量装置将被测产品的侧面测量结果发送至控制器，控制器控制与被测产品对应的第三提取装置将侧面测量合格的被测产品放在良品tray盘上、将侧面测量不合格的被测产品放在不良品tray盘上。
进一步地，在步骤S2之后还包括步骤S201：将空的第一tray盘输送至所述第三提取装置的下料区，所述下料区分为良品下料区和不良品下料区，第三提取装置将侧面测量合格的被测产品放在良品下料区上的第一tray盘、即良品tray盘上，第三提取装置将侧面测量不合格的被测产品放在不良品下料区上的第一tray盘、即不良品tray盘上。
进一步地，所述第一测量装置依次对放置在第一测试平台上的被测产品上表面进行外形尺寸测量。
进一步地，所述第三测量装置依次对第二提取装置所提取的被测产品下表面进行外形尺寸测量。
进一步地，所述第二测量装置同时对放置在第二测试平台上的被测产品侧面进行外形尺寸测量。
本发明的有益效果：
本发明提供一种多面尺寸测量方法，将被测产品放置在第一tray盘上，自动依次控制进行上表面外形尺寸测量、侧面外形尺寸测量，在侧面外形尺寸测量前还先进行下表面外形尺寸测量，其中在侧面外形尺寸测量过程中，被测产品被控制进行旋转，针对其不同侧面分别进行侧面外形尺寸测量，至此被测产品的六个外表面均完成尺寸测量，测量效率快，适合批量生产中的全检工作。
在进行上表面外形尺寸测量时，测量合格的被测产品放回第一tray盘上，测量不合格的被测产品放至第二tray盘上，先进行针对上表面尺寸的质量分类，再对第一tray盘上的被测产品进行后续的下表面和侧面尺寸测量，最终全部测量过程结束后，将测量合格的被测产品放在良品tray盘上，测量不合格的被测产品放在不良品tray盘，实现对于被测产品测量结果的分类管理，不会窜料，保证输向下游的tray盘上的产品质量一致。
附图说明
利用附图对本发明作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本发明的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。
图1是本发明提供的一种多面尺寸测量方法中实施例1的流程框架示意图。
图2是本发明提供的一种多面尺寸测量方法中实施例2的流程框架示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
实施例1：
参照图1，本实施例1提供一种多面尺寸测量方法，包括以下步骤：
步骤S1：将装有被测产品的第一tray盘放置在上料机上，控制第一提取装置提取至少一个被测产品、并将被测产品放置于第一测试平台，控制第一测量装置对被测产品的上表面进行外形尺寸测量；
步骤S2：控制第一提取装置将上表面测量合格的被测产品放回第一tray盘上，控制第一tray盘输向第二提取装置；
步骤S3：控制第二提取装置提取被测产品、并将被测产品放置于第二测试平台，控制第二测量装置对被测产品的侧面进行外形尺寸测量；
步骤S4：控制第三提取装置将侧面测量合格的被测产品放在良品tray盘上，控制良品tray盘输向下料机。
需要说明的是，第一tray盘上装满了被测产品，由第一提取装置一次性提取三个被测产品，并将三个被测产品依次放置在第一测试平台，然后第一测试平台定距地向第一测量装置移动，逐个完成被测产品的上表面外形尺寸测量，根据此测量结果，第一提取装置将上表面测量合格的被测产品放回第一tray盘上，直至第一tray盘的被测产品全部经过上表面外形尺寸的筛选之后，将上表面外形尺寸测量不合格的剔除掉，仅留下上表面外形尺寸测量合格的被测产品，然后再输向第二提取装置。
第二提取装置一次性提取三个被测产品，并将三个被测产品依次放置在第二测试平台，利用第二测量装置同时对被测产品的侧面进行外形尺寸测量，第三提取装置根据此测量结果，将侧面测量合格的被测产品放在良品tray盘上，待良品tray盘上装满测量合格的被测产品时，即输向下料机，完成被测产品的外形测量过程。
实施例2：
参照图2，在本实施例2中，为了满足对被测产品下表面的测量，在实施例的步骤S3中增加以下测量方法：
第二提取装置提取被测产品后，先经过第三测量装置，第三测量装置被配置为对被测产品的下表面进行外形尺寸测量，其中第三测量装置的测量方向为向上，当被测产品被第二提取装置提取起来后，其下表面朝下，因此在移动过程中，在经过第三测量装置时，第三测量装置依次完成三个被测产品的下表面外形尺寸测量，此期间无需对被测产品进行翻转或者角度调整，测量方便，下表面测量后再将被测产品放置在第二测试平台。
需要说明的是，第一测量装置包括有两个测量通道，其中一个是包括第一相机、第一镜头和第一同轴光源，组成一套第一子设备，精准拍摄被测产品外形轮廓2D图；另一个是包括第一线激光测量仪，通过线激光扫描件原理扫描被测产品后直接生成产品3D立体图形。第二测量装置包括三套第二子设备，每一套均包括第二相机、第二镜头和第二同轴光源，每套第二子设备可分别独立地同时地对被测产品进行测量，精准拍摄被测产品外形轮廓2D图。第三测量装置同样存在两个测量通道，其中一个是包括第三相机、第三镜头和第三同轴光源，组成一套第三子设备，精准拍摄被测产品外形轮廓2D图；另一个是包括第三线激光测量仪，通过线激光扫描件原理扫描被测产品后直接生成产品3D立体图形。
其中，第一测量装置依次对放置在第一测试平台上的被测产品上表面进行外形尺寸测量；第三测量装置依次对第二提取装置所提取的被测产品下表面进行外形尺寸测量；第二测量装置同时对放置在第二测试平台上的被测产品侧面进行外形尺寸测量。
作为一种优选方式，在步骤S1中，第一提取装置提取被测产品后，将被测产品按顺时针旋转90°后再放置在第一测试平台上，通过调整一定角度，方便第一测量装置的测量，针对不同产品，可以旋转不同的角度。
在本实施例中，在步骤S2中，第一测量装置逐个对被测产品的上表面进行外形尺寸测量，将每个被测产品的测量结果发送至控制器，由于被测产品和第一提取装置上具体的提取机构是一一对应的关系，控制器控制与被测产品对应的第一提取装置的提取机构将上表面测量合格的被测产品放回第一tray盘上、将上表面测量不合格的被测产品放至第二tray盘上；举个例子，现有第一被测产品、第二被测产品和第三被测产品，经过第一测量装置的依次测量后，发现第一被测产品测量结果为不合格，第二被测产品和第三被测产品的测量结果为合格，将此测量结果发送至控制器后，控制器控制第一提取装置中的第一提取机构提取第一被测产品，并将其放置在第二tray盘上；控制第一提取装置中的第二提取机构提取第二被测产品、第三提取机构提取第三被测产品，并将其放置在第一tray盘上，实现测量结果的类别分离，只有经过上表面外形尺寸测量合格的被测产品才会被输向第二提取装置。
在本实施例中，对于需要进行多个侧面进行外形尺寸测量的被测产品，在步骤S3中，控制第二测试平台带动被测产品进行沿同一顺时针或者逆时针方向的多次90°旋转，对于被测产品的每个侧面，通过第二测量装置对其进行外形尺寸测量，其中，当被测产品放置在第二测试平台上时，第二测量装置先进行第一次测量，然后第二测试平台旋转90°，再进行第二次测量，然后第二测试平台旋转90°，再进行第三次测量，然后第二测试平台旋转90°，再进行第四次测量，一共旋转三次，就将被测产品的四个侧面测量完毕，此过程无需人手调整角度和位置，由第二测试平台自动旋转完成，减少测量误差，提高测量效率。
在本实施例中，在步骤S4中，第二测量装置将被测产品的侧面测量结果发送至控制器，由于被测产品和第三提取装置上具体的提取机构是一一对应的关系，控制器控制与被测产品对应的第三提取装置的提取机构将侧面测量合格的被测产品放在良品tray盘上、将侧面测量不合格的被测产品放在不良品tray盘上；举个例子，现有第四被测产品、第五被测产品和第六被测产品，经过第二测量装置的同步测量后，发现第四被测产品测量结果为不合格，第五被测产品和第六被测产品的测量结果为合格，将此测量结果发送至控制器后，控制器控制第三提取装置中的第四提取机构提取第四被测产品，并将其放置在不良品tray盘上；控制第三提取装置中的第五提取机构提取第五被测产品、第六提取机构提取第六被测产品，并将其放置在良品tray盘上，实现测量结果的类别分离，只有经过上表面、下表面、四个侧面外形尺寸测量合格的被测产品才会被放至良品tray盘上，并输向下料机，完成整个测量过程。
作为一种优选方式，在步骤S2之后还包括步骤S201：当装有被测产品的第一tray盘输送至第二提取装置后，随着第一tray盘上的被测产品逐渐被提取完毕，仅剩一个空的第一tray盘，此时将空的第一tray盘输送至第三提取装置的下料区，下料区分为良品下料区和不良品下料区，第三提取装置将侧面测量合格的被测产品放在良品下料区上的第一tray盘、即良品tray盘上，第三提取装置将侧面测量不合格的被测产品放在不良品下料区上的第一tray盘、即不良品tray盘上，实现了tray盘的循环利用，无需人手去挑选和分配，而且输送到第三提取装置下料区的tray盘是空的，不会导致被测产品的混料，最终向操作者输出的是装满全是测量合格的被测产品的良品tray盘，还有装满测量不合格的被测产品的不良品tray盘，种类管理清晰明了，不会混乱。
相对于现有技术，本发明提供一种多面尺寸测量方法，将被测产品放置在第一tray盘上，自动依次控制进行上表面外形尺寸测量、侧面外形尺寸测量，在侧面外形尺寸测量前还先进行下表面外形尺寸测量，其中在侧面外形尺寸测量过程中，被测产品被控制进行旋转，针对其不同侧面分别进行侧面外形尺寸测量，至此被测产品的六个外表面均完成尺寸测量，测量效率快，适合批量生产中的全检工作。
在进行上表面外形尺寸测量时，测量合格的被测产品放回第一tray盘上，测量不合格的被测产品放至第二tray盘上，先进行针对上表面尺寸的质量分类，再对第一tray盘上的被测产品进行后续的下表面和侧面尺寸测量，最终全部测量过程结束后，将测量合格的被测产品放在良品tray盘上，测量不合格的被测产品放在不良品tray盘，实现对于被测产品测量结果的分类管理，不会窜料，保证输向下游的tray盘上的产品质量一致。
最后需要强调的是，本发明不限于上述实施方式，以上仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种多面尺寸测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤S1：将装有被测产品的第一tray盘放置在上料机上，控制第一提取装置提取至少一个被测产品、并将被测产品放置于第一测试平台，控制第一测量装置对被测产品的上表面进行外形尺寸测量；
步骤S2：控制第一提取装置将上表面测量合格的被测产品放回第一tray盘上，控制第一tray盘输向第二提取装置；
步骤S3：控制第二提取装置提取被测产品、并将被测产品放置于第二测试平台，控制第二测量装置对被测产品的侧面进行外形尺寸测量；
步骤S4：控制第三提取装置将侧面测量合格的被测产品放在良品tray盘上，控制良品tray盘输向下料机。
2.如权利要求1所述的一种多面尺寸测量方法，其特征在于，在步骤S3中：
第二提取装置提取被测产品后，先经过第三测量装置，所述第三测量装置被配置为对被测产品的下表面进行外形尺寸测量，下表面测量后再将被测产品放置在第二测试平台。
3.如权利要求2所述的一种多面尺寸测量方法，其特征在于，在步骤S1中，第一提取装置提取被测产品后，将被测产品按顺时针旋转90°后再放置在第一测试平台上。
4.如权利要求3所述的一种多面尺寸测量方法，其特征在于，在步骤S2中，所述第一测量装置逐个对被测产品的上表面进行外形尺寸测量，将每个被测产品的测量结果发送至控制器，控制器控制与被测产品对应的第一提取装置将上表面测量合格的被测产品放回第一tray盘上、将上表面测量不合格的被测产品放至第二tray盘上。
5.如权利要求4所述的一种多面尺寸测量方法，其特征在于，在步骤S3中，控制所述第二测试平台带动被测产品进行沿同一顺时针或者逆时针方向的多次90°旋转，对于被测产品的每个侧面，通过第二测量装置对其进行外形尺寸测量。
6.如权利要求5所述的一种多面尺寸测量方法，其特征在于，在步骤S4中，所述第二测量装置将被测产品的侧面测量结果发送至控制器，控制器控制与被测产品对应的第三提取装置将侧面测量合格的被测产品放在良品tray盘上、将侧面测量不合格的被测产品放在不良品tray盘上。
7.如权利要求6所述的一种多面尺寸测量方法，其特征在于，在步骤S2之后还包括步骤S201：将空的第一tray盘输送至所述第三提取装置的下料区，所述下料区分为良品下料区和不良品下料区，第三提取装置将侧面测量合格的被测产品放在良品下料区上的第一tray盘、即良品tray盘上，第三提取装置将侧面测量不合格的被测产品放在不良品下料区上的第一tray盘、即不良品tray盘上。
8.如权利要求2至7任一项所述的一种多面尺寸测量方法，其特征在于，所述第一测量装置依次对放置在第一测试平台上的被测产品上表面进行外形尺寸测量。
9.如权利要求8所述的一种多面尺寸测量方法，其特征在于，所述第三测量装置依次对第二提取装置所提取的被测产品下表面进行外形尺寸测量。
10.如权利要求9所述的一种多面尺寸测量方法，其特征在于，所述第二测量装置同时对放置在第二测试平台上的被测产品侧面进行外形尺寸测量。
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