CN112259155A - Usb装置测试***和方法及sata装置测试***和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种USB装置测试***和方法及SATA装置测试***和方法。所述USB装置测试***包括：测试主机、电源装置以及多个USB HUB；多个USB HUB分别连接至测试主机的多个USB接口，每个USB HUB具有多个扩展USB接口以连接多个待测USB装置；电源装置，用于为多个USB HUB分别提供电源接口；测试主机，用于控制电源装置依次将每个USB HUB接通电源，以及，对已接通电源的当前USB HUB所连接的多个待测USB装置进行操作。本发明的USB装置测试***，可以对很多个待测USB装置分批次自动进行开卡、测试等操作，整个过程不需要频繁插拔待测USB装置，也不需要使用机械手。
Description
技术领域
本发明涉及计算机技术领域，具体涉及一种USB装置测试***和方法及SATA装置测试***和方法。
背景技术
基于USB（Universal Serial Bus，通用串行总线）接口或SATA（Serial ATA，串行ATA）接口的存储装置，例如U盘，硬件被制作出来以后，还需要进行开卡，即写入初始的引导程序，然后才能被使用。开卡后的U盘还需要进行测试，以便检出有问题的U盘。
现有技术中，采用计算机设备对***其USB接口的U盘进行开卡、测试等操作。然而，计算机设备的USB接口数量有限，因此进行开卡、测试等操作时，需要以人工方式不断的拔下操作完成的U盘，再插上新的U盘，整个过程繁琐且容易出错。
于是，现有技术中出现了机械手装置，利用机械手来插拔U盘，以代替人工。但机械手装置成本较高。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种USB装置测试***和，以解决USB装置的测试等过程中需要频繁插拔的技术问题。本发明的目的还在于提供一种SATA装置测试***和方法，以解决SATA装置的测试等过程中需要频繁插拔的技术问题。
为实现上述发明目的，本发明第一方面提供一种USB装置测试***，该***包括：测试主机、电源装置以及多个USB HUB；所述多个USB HUB分别连接至所述测试主机的多个USB接口，每个所述USB HUB具有多个扩展USB接口以连接多个待测USB装置；所述电源装置，用于为所述多个USB HUB分别提供电源接口；所述测试主机，用于控制所述电源装置依次将每个USB HUB接通电源，以及，对已接通电源的当前USB HUB所连接的多个待测USB装置进行操作。
其中，所述多个USB HUB可以全部直接连接于所述测试主机的各个USB接口。或者，所述多个USB HUB也可以采用级联方式连接，例如采用两级级联，则包括：直接连接于所述测试主机的USB接口的一级USB HUB，以及连接于所述一级USB HUB的扩展USB接口的二级USB HUB；必要时，也可以采用三级或者更多级的级联方式。
一种可能的实现方式中，所述电源装置为电源时序控制器，所述待测USB装置为基于USB接口的存储装置，例如U盘或者连接有SD卡的读卡器等。
一种可能的实现方式中，每个所述USB HUB具有不少于16个扩展USB接口。
该***将多个USB HUB连接到计算机设备，并利用电源装置对多个USB HUB进行切换控制，利用USB HUB扩展出的接口可以一次性连接非常多数量的待测USB装置，利用电源装置可以将多个USB HUB依次接通电源，于是，可以对连接的很多个待测USB装置分批次自动进行开卡、测试等操作，整个过程不需要频繁插拔待测USB装置，也不需要使用机械手。
本发明第二方面，提供一种USB装置测试方法，用于如第一方面所述的USB装置测试***，所述方法包括：测试主机发送通电指令给电源装置，以控制电源装置将多个USBHUB中的第一USB HUB接通电源；测试主机对所述第一USB HUB所连接的多个待测USB装置进行操作；测试完成后，测试主机发送断电指令给电源装置，以控制所述电源装置将所述第一USB HUB断开电源，以及，发送通电指令给电源装置，以控制所述电源装置将多个USB HUB中的第二USB HUB接通电源。
一种可能的实现方式中，测试主机对所述第一USB HUB所连接的多个待测USB装置进行操作，包括：对待测USB装置进行开卡和测试操作，所述待测USB装置为基于USB接口的存储装置，例如U盘或者连接有SD卡的读卡器等。
本发明第三方面，提供一种SATA装置测试***，包括：测试主机、电源装置以及多个SATA HUB；所述多个SATA HUB分别连接至所述测试主机的多个SATA接口，每个所述SATAHUB具有多个扩展SATA接口以连接多个待测SATA装置；所述电源装置，用于为所述多个SATAHUB分别提供电源接口；所述测试主机，用于控制所述电源装置依次将每个SATA HUB接通电源，以及，对已接通电源的当前SATA HUB所连接的多个待测SATA装置进行操作。
一种可能的实现方式中，所述多个SATA HUB包括：直接连接于所述测试主机的SATA接口的一级SATA HUB，以及连接于所述一级SATA HUB的扩展SATA接口的二级SATAHUB。
一种可能的实现方式中，所述电源装置为电源时序控制器，所述待测SATA装置为基于SATA接口的存储装置。
该***将多个SATA HUB连接到计算机设备，并利用电源装置对多个SATA HUB进行切换控制，利用SATA HUB扩展出的接口可以一次性连接非常多数量的待测SATA装置，利用电源装置可以将多个SATA HUB依次接通电源，于是，可以对连接的很多个待测SATA装置分批次自动进行开卡、测试等操作，整个过程不需要频繁插拔待测SATA装置，也不需要使用机械手。
本发明第四方面，提供一种SATA装置测试方法，用于如第三方面所述的SATA装置测试***，所述方法包括：测试主机发送通电指令给电源装置，以控制电源装置将多个SATAHUB中的第一SATA HUB接通电源；测试主机对所述第一SATA HUB所连接的多个待测SATA装置进行操作；测试完成后，测试主机发送断电指令给电源装置，以控制所述电源装置将所述第一SATA HUB断开电源，以及，发送通电指令给电源装置，以控制所述电源装置将多个SATAHUB中的第二SATA HUB接通电源。
一种可能的实现方式中，测试主机对所述第一SATA HUB所连接的多个待测SATA装置进行操作，包括：对待测SATA装置进行开卡和测试操作，所述待测SATA装置为基于SATA接口的存储装置。
从以上技术方案可以看出，本发明实施例具有以下优点：
本发明通过将多个HUB（如USB HUB或SATA HUB）连接到计算机设备，并利用电源装置对多个HUB进行切换控制，利用HUB扩展出的接口（如扩展USB接口或扩展SATA接口）可以一次性连接非常多数量的待测装置（如待测USB装置或待测SATA装置），利用电源装置可以将多个HUB依次接通电源，于是，可以对连接的很多个待测装置分批次自动进行开卡、测试等操作，整个过程不需要频繁插拔待测装置，也不需要使用机械手。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例和现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1是本发明一个实施例提供的一种USB装置测试***的结构示意图；
图2是是本发明另一实施例提供的一种USB装置测试***的结构示意图；
图3是本发明一个实施例提供的一种SATA装置测试***的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”等是用于区别不同的对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、***、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
下面通过具体实施例，分别进行详细的说明。
请参考图1，本发明的一个实施例，提供一种USB装置测试***，用于解决对待测USB装置进行开卡测试等操作时，需要频繁的插拔待测USB装置，导致的效率低下，以及与USB接口接触点经常摩擦而留下磨痕，等技术问题。
该***可包括：测试主机10、电源装置20以及多个USB HUB30（简称HUB）。
其中，所述多个USB HUB分别连接至所述测试主机的多个USB接口，每个所述USBHUB具有多个扩展USB接口以连接多个待测USB装置。通常，一台计算机设备具有大约2-10个USB接口，一个USB HUB通常具有数个至数十个扩展USB接口。本文中，优选采用具有不少于16个扩展USB接口的USB HUB。
所述待测USB装置，例如可以是U盘或者连接有SD卡的读卡器或者其基于USB接口的存储装置等。本文中又将待测USB装置称为待测样片或样片。
所述电源装置，用于为所述多个USB HUB分别提供电源接口，优选采用电源时序控制器。电源时序控制器可以提供多个电源接口分别用于各个USB HUB。电源时序控制器可以通过tcp/ip或串口等方式与测试主机连接，由测试主机控制其各个电源接口接通电源（通电）或断开电源（断电）。其它实施方式中，电源装置也可以采用继电器等实现。
所述测试主机，用于控制所述电源装置依次将每个USB HUB接通电源，以及，对已接通电源的当前USB HUB所连接的多个待测USB装置进行操作。以待测USB装置是U盘为例，所述的进行操作包括对待测USB装置进行开卡和测试等操作，其中，通过开卡写入初始的引导程序，通过测试检测是否存在问题，从而检出合格的U盘。
如图1所示，所述多个USB HUB可以全部直接连接于所述测试主机的各个USB接口。
如图2所示，所述多个USB HUB也可以采用级联方式连接，例如采用两级级联，则包括：直接连接于所述测试主机的USB接口的一级USB HUB，以及连接于所述一级USB HUB的扩展USB接口的二级USB HUB；必要时，也可以采用三级或者更多级的级联方式。
本发明***通过采用USb HUB和电源时序控制器组合方式，一台测试主机可以扩展到具有几百个扩展USB接口，以连接几百片待测USB装置，并自动对几百片样片进行开卡、测试等操作，整个过程中自动切换样片，但不需要机械手。
如图1所示，以一个主机有4个USB接口，每个USB HUB有16个扩展USB接口为例。一台测试主机可以同时接16*4=64个待测USB装置，测试主机通过控制电源时序控制器，依次将每个USB HUB通电，当执行完测试主机的程序后，再断开当前USB HUB并将下一个USB HUB通电，依靠自动轮询的方式，完成全部测试，极大降低设备成本和人力资源的投入。
如图2所示，当需要扩展待测USB装置时，只需要通过增加新一级USB HUB即可，依旧以一个主机有4个USB接口，每个USB HUB有16扩展USB解耦为例。主机的一个USB接口先接一个USB HUB，在此USB HUB的扩展USB接口上，再级联USB HUB，则可以连接更多个USB HUB。
本发明实施例还提供一种USB装置测试方法，采用如上所述的***。该方法可包括如下步骤：
S01、测试主机发送通电指令给电源装置，以控制电源装置将多个USB HUB中的第一USBHUB接通电源；
S02、测试主机对所述第一USB HUB所连接的多个待测USB装置进行操作，例如进行开卡和测试操作；
S03、测试完成后，测试主机发送断电指令给电源装置，以控制所述电源装置将所述第一USB HUB断开电源，以及，发送通电指令给电源装置，以控制所述电源装置将多个USB HUB中的第二USB HUB接通电源。
综上，本发明实施例公开了一种USB装置测试***和方法，用于解决对待测USB装置进行开卡测试等操作时，需要频繁的插拔待测USB装置，导致的效率低下，以及与USB接口接触点经常摩擦而留下磨痕，等技术问题。
本发明的USB装置测试***，将多个USB HUB连接到计算机设备，并利用电源装置对多个USB HUB进行切换控制，利用USB HUB扩展出的接口可以一次性连接非常多数量的待测USB装置，利用电源装置可以将多个USB HUB依次接通电源，于是，可以对连接的很多个待测USB装置分批次自动进行开卡、测试等操作，整个过程不需要频繁插拔待测USB装置，也不需要使用机械手。
请参考图3，本发明的一个实施例，还提供一种SATA装置测试***，用于解决对待测SATA装置进行开卡测试等操作时，需要频繁的插拔待测SATA装置，导致的效率低下，以及与SATA接口接触点经常摩擦而留下磨痕，等技术问题。
如图3所示，该***可包括：测试主机、电源装置以及多个SATA HUB（简称HUB）；所述多个SATA HUB分别连接至所述测试主机的多个SATA接口，每个所述SATA HUB具有多个扩展SATA接口以连接多个待测SATA装置；所述电源装置，用于为所述多个SATA HUB分别提供电源接口；所述测试主机，用于控制所述电源装置依次将每个SATA HUB接通电源，以及，对已接通电源的当前SATA HUB所连接的多个待测SATA装置进行操作。
一些实施方式中，所述多个SATA HUB包括：直接连接于所述测试主机的SATA接口的一级SATA HUB，以及连接于所述一级SATA HUB的扩展SATA接口的二级SATA HUB。
一些实施方式中，所述电源装置为电源时序控制器，所述待测SATA装置为基于SATA接口的存储装置。
本发明的一个实施例，还提供一种SATA装置测试方法，用于如上文所述的SATA装置测试***，所述方法包括：
测试主机发送通电指令给电源装置，以控制电源装置将多个SATA HUB中的第一SATAHUB接通电源；
测试主机对所述第一SATA HUB所连接的多个待测SATA装置进行操作；
测试完成后，测试主机发送断电指令给电源装置，以控制所述电源装置将所述第一SATA HUB断开电源，以及，发送通电指令给电源装置，以控制所述电源装置将多个SATA HUB中的第二SATA HUB接通电源。
一些实施方式中，测试主机对所述第一SATA HUB所连接的多个待测SATA装置进行操作，包括：对待测SATA装置进行开卡和测试操作，所述待测SATA装置为基于SATA接口的存储装置。
本发明的SATA装置测试***，将多个SATA HUB连接到计算机设备，并利用电源装置对多个SATA HUB进行切换控制，利用SATA HUB扩展出的接口可以一次性连接非常多数量的待测SATA装置，利用电源装置可以将多个SATA HUB依次接通电源，于是，可以对连接的很多个待测SATA装置分批次自动进行开卡、测试等操作，整个过程不需要频繁插拔待测SATA装置，也不需要使用机械手。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详细描述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
上述实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对上述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种USB装置测试***，其特征在于，包括：
测试主机、电源装置以及多个USB HUB；
所述多个USB HUB分别连接至所述测试主机的多个USB接口，每个所述USB HUB具有多个扩展USB接口以连接多个待测USB装置；
所述电源装置，用于为所述多个USB HUB分别提供电源接口；
所述测试主机，用于控制所述电源装置依次将每个USB HUB接通电源，以及，对已接通电源的当前USB HUB所连接的多个待测USB装置进行操作。
2.根据权利要求1所述的***，其特征在于，
所述多个USB HUB包括：直接连接于所述测试主机的USB接口的一级USB HUB，以及连接于所述一级USB HUB的扩展USB接口的二级USB HUB。
3.根据权利要求1所述的***，其特征在于，
所述电源装置为电源时序控制器，所述待测USB装置为基于USB接口的存储装置。
4.一种USB装置测试方法，用于如权利要求1所述的USB装置测试***，其特征在于，所述方法包括：
测试主机发送通电指令给电源装置，以控制电源装置将多个USB HUB中的第一USB HUB接通电源；
测试主机对所述第一USB HUB所连接的多个待测USB装置进行操作；
测试完成后，测试主机发送断电指令给电源装置，以控制所述电源装置将所述第一USBHUB断开电源，以及，发送通电指令给电源装置，以控制所述电源装置将多个USB HUB中的第二USB HUB接通电源。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，测试主机对所述第一USB HUB所连接的多个待测USB装置进行操作，包括：
对待测USB装置进行开卡和测试操作，所述待测USB装置为基于USB接口的存储装置。
6.一种SATA装置测试***，其特征在于，包括：
测试主机、电源装置以及多个SATA HUB；
所述多个SATA HUB分别连接至所述测试主机的多个SATA接口，每个所述SATA HUB具有多个扩展SATA接口以连接多个待测SATA装置；
所述电源装置，用于为所述多个SATA HUB分别提供电源接口；
所述测试主机，用于控制所述电源装置依次将每个SATA HUB接通电源，以及，对已接通电源的当前SATA HUB所连接的多个待测SATA装置进行操作。
7.根据权利要求6所述的***，其特征在于，
所述多个SATA HUB包括：直接连接于所述测试主机的SATA接口的一级SATA HUB，以及连接于所述一级SATA HUB的扩展SATA接口的二级SATA HUB。
8.根据权利要求6所述的***，其特征在于，
所述电源装置为电源时序控制器，所述待测SATA装置为基于SATA接口的存储装置。
9.一种SATA装置测试方法，用于如权利要求1所述的SATA装置测试***，其特征在于，所述方法包括：
测试主机发送通电指令给电源装置，以控制电源装置将多个SATA HUB中的第一SATAHUB接通电源；
测试主机对所述第一SATA HUB所连接的多个待测SATA装置进行操作；
测试完成后，测试主机发送断电指令给电源装置，以控制所述电源装置将所述第一SATA HUB断开电源，以及，发送通电指令给电源装置，以控制所述电源装置将多个SATA HUB中的第二SATA HUB接通电源。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，测试主机对所述第一SATA HUB所连接的多个待测SATA装置进行操作，包括：
对待测SATA装置进行开卡和测试操作，所述待测SATA装置为基于SATA接口的存储装置。
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| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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