CN112242177A - 存储器测试方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备 - Google Patents

Abstract

本公开实施例公开了一种存储器测试方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备，其中，该方法包括：获取功能数据；基于功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据；确定待测试数据与参考数据的比较结果；基于比较结果，确定对存储器的测试结果。本公开实施例有效地利用了功能数据，实时地对存储器进行测试，提高了测试存储器的效率，由于功能数据的类型多样，从而可以更全面地对存储器进行测试。

Description

存储器测试方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备

技术领域

本公开涉及计算机技术领域，尤其是一种存储器测试方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备。

背景技术

目前的各种电子电路设计(例如片上***设计)中，大量使用了存储器(例如FIFO(先进先出，First Input First Output)存储器)，这些存储器在运行的时候，诸如读指针、写指针等可能会发生错误，造成数据读写错误。因此，需要在存储器运行时，对存储器进行高效地测试。

发明内容

本公开的实施例提供了一种存储器测试方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备。

本公开的实施例提供了一种存储器测试方法，该方法包括：获取功能数据；基于功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据；确定待测试数据与参考数据的比较结果；基于比较结果，确定对存储器的测试结果。

根据本公开实施例的另一个方面，提供了一种存储器测试装置，该装置包括：获取模块，用于获取功能数据；第一确定模块，用于基于功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据；第二确定模块，用于确定待测试数据与参考数据的比较结果；第三确定模块，用于基于比较结果，确定对存储器的测试结果。

根据本公开实施例的另一个方面，提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序用于执行上述存储器测试方法。

根据本公开实施例的另一个方面，提供了一种电子设备，电子设备包括：处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；处理器，用于从存储器中读取可执行指令，并执行指令以实现上述存储器测试方法。

基于本公开上述实施例提供的存储器测试方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备，通过基于存储器的功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据，再比较待测试数据与参考数据，根据比较结果，确定对存储器的测试结果，从而有效地利用了功能数据，实时地对存储器进行测试，提高了测试存储器的效率，由于功能数据的类型多样，从而可以更全面地对存储器进行测试。

下面通过附图和实施例，对本公开的技术方案做进一步的详细描述。

附图说明

通过结合附图对本公开实施例进行更详细的描述，本公开的上述以及其他目的、特征和优势将变得更加明显。附图用来提供对本公开实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本公开实施例一起用于解释本公开，并不构成对本公开的限制。在附图中，相同的参考标号通常代表相同部件或步骤。

图1是本公开所适用的集成电路结构图。

图2是本公开一示例性实施例提供的存储器测试方法的流程示意图。

图3A是本公开另一示例性实施例提供的存储器测试方法的流程示意图。

图3B是本公开一示例性实施例提供的执行图3A对应方法的示例性电路结构图。

图4A是本公开另一示例性实施例提供的存储器测试方法的流程示意图。

图4B是本公开一示例性实施例提供的执行图4A对应方法的示例性电路结构图。

图5A是本公开另一示例性实施例提供的存储器测试方法的流程示意图。

图5B是本公开一示例性实施例提供的执行图5A对应方法的示例性电路结构图。

图6是本公开一示例性实施例提供的数据处理装置的结构示意图。

图7是本公开另一示例性实施例提供的数据处理装置的结构示意图。

图8是本公开一示例性实施例提供的电子设备的结构图。

具体实施方式

下面，将参考附图详细地描述根据本公开的示例实施例。显然，所描述的实施例仅仅是本公开的一部分实施例，而不是本公开的全部实施例，应理解，本公开不受这里描述的示例实施例的限制。

应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本公开的范围。

本领域技术人员可以理解，本公开实施例中的“第一”、“第二”等术语仅用于区别不同步骤、设备或模块等，既不代表任何特定技术含义，也不表示它们之间的必然逻辑顺序。

还应理解，在本公开实施例中，“多个”可以指两个或两个以上，“至少一个”可以指一个、两个或两个以上。

还应理解，对于本公开实施例中提及的任一部件、数据或结构，在没有明确限定或者在前后文给出相反启示的情况下，一般可以理解为一个或多个。

另外，本公开中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本公开中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

还应理解，本公开对各个实施例的描述着重强调各个实施例之间的不同之处，其相同或相似之处可以相互参考，为了简洁，不再一一赘述。

同时，应当明白，为了便于描述，附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本公开及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

本公开实施例可以应用于终端设备、计算机***、服务器等电子设备，其可与众多其它通用或专用计算***环境或配置一起操作。适于与终端设备、计算机***、服务器等电子设备一起使用的众所周知的终端设备、计算***、环境和/或配置的例子包括但不限于：个人计算机***、服务器计算机***、瘦客户机、厚客户机、手持或膝上设备、基于微处理器的***、机顶盒、可编程消费电子产品、网络个人电脑、小型计算机***、大型计算机***和包括上述任何***的分布式云计算技术环境，等等。

终端设备、计算机***、服务器等电子设备可以在由计算机***执行的计算机***可执行指令(诸如程序模块)的一般语境下描述。通常，程序模块可以包括例程、程序、目标程序、组件、逻辑、数据结构等等，它们执行特定的任务或者实现特定的抽象数据类型。计算机***/服务器可以在分布式云计算环境中实施，分布式云计算环境中，任务是由通过通信网络链接的远程处理设备执行的。在分布式云计算环境中，程序模块可以位于包括存储设备的本地或远程计算***存储介质上。

申请概述

目前的各种电子电路设计(例如片上***设计)中，大量使用了存储器(例如FIFO(先进先出，First Input First Output)存储器)，这些存储器在运行的时候，诸如读指针、写指针等可能会发生错误，造成数据读写错误。因此，需要在存储器运行时，对存储器进行高效地测试。通常，可以使用软件的方式对存储器进行测试，但是，软件测试方式需要占用处理器的资源，测试时间较长，无法做到测试的实时性，并且测试的种类较少，无法全面地对存储器进行测试。

示例性***

图1示出了可以应用本公开实施例的集成电路结构图100。

如图1(a)所示，集成电路结构图100可以包括存储器101和测试模块102。

存储器101可以为各种存储器，例如FIFO存储器。

测试模块102可以用于对存储器的存储状态进行测试。测试模块102可以向存储器写入数据或从存储器读取数据，还可以从存储器获取功能数据(例如数据读指针、数据写指针、空满标志等)，并基于功能数据，对存储器进行测试，得到测试结果(例如输出警告信息)。

需要说明的是，存储器101和测试模块102可以分别为独立的电子设备，也可以集成在一个电子设备中。

如图1(b)所示，其示出了测试模块102包括的示例性电路结构图，测试模块102可以包括存储数据测试子模块1021、数据读指针测试模块1022、数据写指针测试子模块1023、空满标志测试子模块1024、编码验证子模块1025。其中，存储数据测试子模块1021可以在测试数据模式开启的情况下，选择器选择测试读指针，利用测试读指针读取存储器101中的数据进行测试。数据读指针测试模块1022可以对数据读指针进行复制操作，得到数据读指针副本，再利用比较器比较数据读指针和数据读指针副本。数据写指针测试子模块1023可以对数据写指针进行复制操作，得到数据写指针副本，再利用比较器比较数据读指针和数据读指针副本。空满标志测试子模块1024可以对空满标志进行复制操作，得到空满标志副本，再利用比较器比较空满标志和空满标志副本。编码验证子模块1025可以利用预设编码方法对写入存储器的数据进行编码，利用该预设编码方法对从存储器中读取的数据进行验证。上述各个子模块均可以在测试结果表征存储器非正常的情况下，输出警告信息。

示例性方法

图2是本公开一示例性实施例提供的存储器测试方法的流程示意图。本实施例可应用在如图1所示的测试模块102上，如图2所示，包括如下步骤：

步骤201，获取功能数据。

在本实施例中，测试模块102可以从存储器获取功能数据。其中，功能数据是存储器用来执行特定的功能的数据。例如，功能数据可以包括如下至少一种：数据读指针、数据写指针、空满标志等。

步骤202，基于功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据。

在本实施例中，测试模块102可以基于功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据。其中，待测试数据可以是当前时刻存储器中的各种待测试的数据，例如，当前时刻的数据写指针、数据读指针、当前时刻存储的数据等。参考数据可以是用于与待测试数据进行比较的数据，例如，复制的数据写指针、复制的数据读指针、复制的空满标志等。

步骤203，确定待测试数据与参考数据的比较结果。

在本实施例中，测试模块102可以确定待测试数据与参考数据的比较结果。其中，比较结果可以用于表征待测试数据与参考数据相同或不同。

步骤204，基于比较结果，确定对存储器的测试结果。

在本实施例中，测试模块102可以基于比较结果，确定对存储器的测试结果。

其中，测试结果可以包括输出警告信息，警告信息可以用于提示用户当前时刻存储器发生了数据读取错误。

本公开的上述实施例提供的方法，通过基于存储器的功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据，再比较待测试数据与参考数据，根据比较结果，确定对存储器的测试结果，从而有效地利用了功能数据，实时地对存储器进行测试，提高了测试存储器的效率，由于功能数据的类型多样，从而可以更全面地对存储器进行测试。

进一步参考图3A，示出了存储器测试方法的又一个实施例的流程示意图。如图3A所示，在上述图2所示实施例的基础上，步骤202可包括如下步骤：

步骤20211，响应于测试数据模式开启，且确定功能数据为测试读指针，控制存储器停止数据读指针的更新。

具体地，测试数据模式是用于对写入存储器的数据进行测试的状态。通常测试模块102可以自动或由用户手动触发开启测试数据模式。通常，存储器正常工作时，存储器中的数据读指针会在读取一次数据后产生更新，从而准备下一次读取数据，在写入一次数据后，数据写指针产生更新，从而准备下一次写入数据。上述测试读指针是用于从存储器中读取数据以进行测试的指针。测试读指针可以根据用户手动设置，或由测试模块102自动设置(例如在向存储器写入一个数据后，更新测试读指针，该测试读指针指向最近一次写入存储的数据的地址)。

在测试数据模式开启的时间段内，存储器的数据读指针停止更新。即在测试数据模式开启的时间段，不再根据数据读指针从存储器中持续地读取数据，而是根据测试读指针从存储器中读取数据进行测试。

步骤20212，基于测试读指针，读取写入存储器的数据作为待测试数据。

步骤20213，获取待测试数据对应的原始数据作为参考数据。

其中，原始数据为写入存储器之前的数据。例如，数据A在写入存储器之前为原始数据，数据A在写入存储器之后，基于测试读指针读取的数据为与数据A对应的待测试数据。

如图3B所示，存储数据测试子模块1021可以执行本实施例，存储数据测试子模块1021包括选择器，当测试数据模式开启时，选择器选择测试数据读指针从存储器101中读取数据进行测试。

在一些可选的实现方式中，基于上述步骤20211-步骤20213，上述步骤204可以包括：

若比较结果表示测试数据与参考数据不同，确定存储器的测试结果为输出第一警告信息。其中，第一警告信息用于表征写入存储器的数据与读取出的数据不同，即存储器发生错误，导致存入的数据发生了改变。第一警告信息的形式可以包括但不限于以下至少一种：文字、声音、图像等。

在一些可选的实现方式中，测试模块102还可以响应于测试数据模式关闭，控制存储器更新数据读指针。

上述图3A对应实施例提供的方法，突出了基于在存储器中设置的测试读指针确定待测试数据的步骤，从而可以根据测试读指针有针对性地读取存储器中的数据进行测试。

进一步参考图4A，示出了存储器测试方法的又一个实施例的流程示意图。如图4A所示，在上述图2所示实施例的基础上，步骤202可包括如下步骤：

步骤20221，响应于确定功能数据为以下任一种：数据读指针、数据写指针、空满标志，将功能数据确定为待测试数据。

其中，数据读指针用于指示读取的数据的地址，数据写指针用于指示写入的数据的地址，空满标志用于指示存储器为空或存储器已满。

步骤20222，复制功能数据，得到功能副本数据，将功能副本数据作为参考数据。

通常，测试模块可以在上述各种功能数据更新的时刻，复制功能数据，以使功能副本数据与更新时的功能数据相同。

如图4B所示，数据读指针测试模块1022、数据写指针测试子模块1023、空满标志测试子模块1024用于执行本实施例。其中，数据写指针、数据读指针、空满标志为功能数据，数据写指针副本、数据读指针副本，空满标志副本为功能副本数据，上述三个子模块均包括比较器，用于比较功能数据和功能副本数据。

在一些可选的实现方式中，基于上述步骤20221-步骤20222，上述步骤204可以包括：

首先，将功能数据和功能副本数据输入功能数据比较器。其中，数据比较器可以是硬件也可以是软件，采用硬件时，由于不需要处理器的参与，因此可以提高比较数据的速度，从而有助于提高测试存储器的效率。

然后，在目标周期内，通过比较器确定功能数据和功能副本数据之间的比较结果。其中，目标周期可以是当前的数据读操作或数据写操作所对应的时钟周期。通常，在一个读周期内，读出一个数据，下一个读周期到来时，读出另一数据。上述比较结果用于表征功能数据与功能副本数据相同或不同。

最后，如果比较结果表示功能数据和功能数据副本不同，确定存储器的测试结果为输出第二警告信息。

其中，第二警告信息用于表征当前的功能数据与功能副本数据不同，即存储器发生错误，导致功能数据发生了变化。第二警告信息的形式可以包括但不限于以下至少一种：文字、声音、图像等。通过执行本可选的实现方式，可以实时地确定存储器是否发生了故障，导致上述各种功能数据发生变化，从而提高测试存储器的准确性和针对性。

上述图4A对应实施例提供的方法，突出了将复制功能数据所得到的功能副本数据作为参考数据的步骤，从而可以实现实时地确定功能数据是否发生了变化，有助于更全面、准确地对存储器进进行测试。

进一步参考图5A，示出了存储器测试方法的又一个实施例的流程示意图。如图5A所示，在上述图2所示实施例的基础上，步骤202可包括如下步骤：

步骤20231，响应于向存储器写入数据，确定写入的数据为功能数据。

其中，上述写入的数据是当前时刻写入的数据。

步骤20232，对功能数据进行编码，得到第一编码数据作为待测试数据。

具体地，测试模块可以按照各种编码方法对功能数据进行编码。例如奇偶校验算法。作为示例，可以采用ECC(Error Correcting Code，错误检查和纠正)编码方法对功能数据进行编码。其中，ECC编码方法可以确定数据中发送错误的位，并且将该位纠正。

步骤20233，响应于从存储器读出写入的数据，对读出的数据进行编码，得到第二编码数据作为参考数据。

其中，本步骤中的编码方法与步骤20232中的编码方法相同。上述读出的数据是从存储上述写入的数据的地址中读出的。

需要说明的是，上述编码方法可以是由软件实现，也可以由硬件实现，例如使用ECC编码电路，将写入的数据输入该ECC编码电路，输出第一编码数据，从而可以实现无需电子设备的处理器参与进行验证，提高了数据验证的速度，从而有助于提高测试存储器的效率。

如图5B所示，编码验证子模块1025可以用于执行本实施例。其中，编码验证子模块1025可以为硬件，在将数据写入存储器101时，同时将数据发送到编码验证子模块1025进行编码，在将数据从存储器101读出时，同时将数据发送到编码验证子模块1025进行验证，当验证结果表征写入的数据和读出的数据不相同时，输出警告信息。

在一些可选的实现方式中，基于上述步骤20231-步骤20233，上述步骤204可以包括：

首先，基于待测试数据和参考数据的比较结果，确定写入的数据和读出的数据是否相同。

然后，如果不同，确定存储器的测试结果为输出第三警告信息。其中，第三警告信息用于表征写入的数据与读出的数据不同，即存储器发生了故障，导致从某一存储单元读出的数据相比于写入时发生了变化。本实现可选的实现方式，可以实现在从存储器中读出数据时，验证读出的数据是否与写入的数据相同，从而更全面、准确地测试存储器。

在一些可选的实现方式中，测试模块102如果确定写入的数据和读出的数据不同的位数小于预设位数，确定存储器的测试结果为输出包括第一数据位错误警告的第三警告信息。具体地，作为示例，上述预设位数可以为2，当采用上述ECC验证方法时，可以确定发生错误的数据位。

测试模块102如果确定写入的数据和读出的数据不同的位数大于或等于预设位数，确定存储器的测试结果为输出包括第二数据位错误警告的第三警告信息。

在一些可选的实现方式中，测试模块102如果确定写入的数据和读出的数据不同的位数小于预设位数，可以输出包括第一数据位错误警告的第三警告信息，以及纠正发生错误的数据位。作为示例，当采用上述ECC编码方法时，如果写入的数据和读出的数据不同的位数小于预设位数，可以将发生错误的数据位纠正；如果写入的数据和读出的数据不同的位数大于或等于预设位数，则无法纠正错误，只能输出第二数据位错误警告。

上述图5A对应实施例提供的方法，突出了对写入的数据和读出的数据进行编码以验证数据是否出错的步骤，从而可以准确地验证数据存储到存储器中是否出错，提高了测试存储器的准确性和针对性。

示例性装置

图6是本公开一示例性实施例提供的存储器测试装置的结构示意图。本实施例可应用在电子设备上，如图6所示，存储器测试装置包括：获取模块601，用于获取功能数据；第一确定模块602，用于基于功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据；第二确定模块603，用于确定待测试数据与参考数据的比较结果；第三确定模块604，用于基于比较结果，确定对存储器的测试结果。

在本实施例中，获取模块601可以从存储器获取功能数据。其中，功能数据是存储器用来执行特定的功能的数据。例如，功能数据可以包括如下至少一种：数据读指针、数据写指针、空满标志等。

在本实施例中，第一确定模块602可以基于功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据。其中，待测试数据可以是当前时刻存储器中的各种待测试的数据，例如，当前时刻的数据写指针、数据读指针、当前时刻存储的数据等。参考数据可以是用于与待测试数据进行比较的数据，例如，复制的数据写指针、复制的数据读指针、复制的空满标志等。

在本实施例中，第二确定模块603可以确定待测试数据与参考数据的比较结果。其中，比较结果可以用于表征待测试数据与参考数据相同或不同。

在本实施例中，第三确定模块604可以基于比较结果，确定对存储器的测试结果。

其中，测试结果可以包括输出警告信息，警告信息可以用于提示用户当前时刻存储器发生了数据读取错误。

参照图7，图7是本公开另一示例性实施例提供的存储器测试装置的结构示意图。

在一些可选的实现方式中，第一确定模块602包括：第一控制单元6021，用于响应于测试数据模式开启，且确定功能数据为测试读指针，控制存储器停止数据读指针的更新；读取单元6022，用于基于测试读指针，读取写入存储器的数据作为待测试数据；获取单元6023，用于获取待测试数据对应的原始数据作为参考数据。

在一些可选的实现方式中，第三确定模块604可以包括：第一输出单元6041，用于若比较结果表示测试数据与参考数据不同，确定存储器的测试结果为输出第一警告信息。

在一些可选的实现方式中，第一控制单元6021进一步用于：响应于测试数据模式关闭，控制存储器更新数据读指针。

在一些可选的实现方式中，第一确定模块602包括：第一确定单元6024，用于响应于确定功能数据为以下任一种：数据读指针、数据写指针、空满标志，将功能数据确定为待测试数据；复制单元6025，用于复制功能数据，得到功能副本数据，将功能副本数据作为参考数据。

在一些可选的实现方式中，第三确定模块604包括：输入单元6042，用于将功能数据和功能副本数据输入功能数据比较器；比较单元6043，用于在目标周期内，通过比较器确定功能数据和功能副本数据之间的比较结果；第二输出单元6044，用于如果比较结果表示功能数据和功能数据副本不同，确定存储器的测试结果为输出第二警告信息。

在一些可选的实现方式中，第一确定模块602包括：第二确定单元6026，用于响应于向存储器写入数据，确定写入的数据为功能数据；第一编码单元6027，对功能数据进行编码，得到第一编码数据作为待测试数据；第二编码单元6028，用于响应于从存储器读出写入的数据，对读出的数据进行编码，得到第二编码数据作为参考数据。

在一些可选的实现方式中，第三确定模块604可以包括：第三确定单元6045，用于基于待测试数据和参考数据的比较结果，确定写入的数据和读出的数据是否相同；第三输出单元6046，用于如果不同，确定存储器的测试结果为输出第三警告信息。

在一些可选的实现方式中，第三输出单元6046包括：第一确定子模块60461，用于如果写入的数据和读出的数据不同的位数小于预设位数，确定存储器的测试结果为输出包括第一数据位错误警告的第三警告信息；第二确定子模块60462，用于如果写入的数据和读出的数据不同的位数大于或等于预设位数，确定存储器的测试结果为输出包括第二数据位错误警告的第三警告信息。

在一些可选的实现方式中，第一确定子模块60461进一步用于：如果写入的数据和读出的数据不同的位数小于或等于预设位数，输出包括第一数据位错误警告的第三警告信息，以及纠正发生错误的数据位。

本公开上述实施例提供的存储器测试装置，通过基于存储器的功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据，再比较待测试数据与参考数据，根据比较结果，确定对存储器的测试结果，从而有效地利用了功能数据，实时地对存储器进行测试，提高了测试存储器的效率，由于功能数据的类型多样，从而可以更全面地对存储器进行测试。

示例性电子设备

下面，参考图8来描述根据本公开实施例的电子设备。图8图示了根据本公开实施例的电子设备的框图。

如图8所示，电子设备800包括一个或多个处理器801和存储器802。

处理器801可以是中央处理单元(CPU)或者具有数据处理能力和/或指令执行能力的其他形式的处理单元，并且可以控制电子设备800中的其他组件以执行期望的功能。

存储器802可以包括一个或多个计算机程序产品，计算机程序产品可以包括各种形式的计算机可读存储介质，例如易失性存储器和/或非易失性存储器。易失性存储器例如可以包括随机存取存储器(RAM)和/或高速缓冲存储器(cache)等。非易失性存储器例如可以包括只读存储器(ROM)、硬盘、闪存等。在计算机可读存储介质上可以存储一个或多个计算机程序指令，处理器701可以运行程序指令，以实现上文的本公开的各个实施例的存储器测试方法以及/或者其他期望的功能。在计算机可读存储介质中还可以存储诸如输入信号、信号分量、噪声分量等各种内容。

在一个示例中，电子设备800还可以包括：输入装置803和输出装置804，这些组件通过总线***和/或其他形式的连接机构(未示出)互连。

例如，该输入装置803可以是鼠标、键盘等设备，用于输入数据、命令等。

该输出装置804可以向外部输出各种信息，包括确定出的类别信息。该输出设备804可以包括例如显示器、扬声器、打印机、以及通信网络及其所连接的远程输出设备等等。

当然，为了简化，图8中仅示出了该电子设备800中与本公开有关的组件中的一些，省略了诸如总线、输入/输出接口等等的组件。除此之外，根据具体应用情况，电子设备800还可以包括任何其他适当的组件。

示例性计算机程序产品和计算机可读存储介质

除了上述方法和设备以外，本公开的实施例还可以是计算机程序产品，其包括计算机程序指令，所述计算机程序指令在被处理器运行时使得所述处理器执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本公开各种实施例的存储器测试方法中的步骤。

所述计算机程序产品可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本公开实施例操作的程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言，诸如Java、C++等，还包括常规的过程式程序设计语言，诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。

此外，本公开的实施例还可以是计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令在被处理器运行时使得所述处理器执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本公开各种实施例的存储器测试方法中的步骤。

所述计算机可读存储介质可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以包括但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的***、装置或器件，或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。

以上结合具体实施例描述了本公开的基本原理，但是，需要指出的是，在本公开中提及的优点、优势、效果等仅是示例而非限制，不能认为这些优点、优势、效果等是本公开的各个实施例必须具备的。另外，上述公开的具体细节仅是为了示例的作用和便于理解的作用，而非限制，上述细节并不限制本公开为必须采用上述具体的细节来实现。

本说明书中各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似的部分相互参见即可。对于***实施例而言，由于其与方法实施例基本对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

本公开中涉及的器件、装置、设备、***的方框图仅作为例示性的例子并且不意图要求或暗示必须按照方框图示出的方式进行连接、布置、配置。如本领域技术人员将认识到的，可以按任意方式连接、布置、配置这些器件、装置、设备、***。诸如“包括”、“包含”、“具有”等等的词语是开放性词汇，指“包括但不限于”，且可与其互换使用。这里所使用的词汇“或”和“和”指词汇“和/或”，且可与其互换使用，除非上下文明确指示不是如此。这里所使用的词汇“诸如”指词组“诸如但不限于”，且可与其互换使用。

可能以许多方式来实现本公开的方法和装置。例如，可通过软件、硬件、固件或者软件、硬件、固件的任何组合来实现本公开的方法和装置。用于所述方法的步骤的上述顺序仅是为了进行说明，本公开的方法的步骤不限于以上具体描述的顺序，除非以其它方式特别说明。此外，在一些实施例中，还可将本公开实施为记录在记录介质中的程序，这些程序包括用于实现根据本公开的方法的机器可读指令。因而，本公开还覆盖存储用于执行根据本公开的方法的程序的记录介质。

还需要指出的是，在本公开的装置、设备和方法中，各部件或各步骤是可以分解和/或重新组合的。这些分解和/或重新组合应视为本公开的等效方案。

提供所公开的方面的以上描述以使本领域的任何技术人员能够做出或者使用本公开。对这些方面的各种修改对于本领域技术人员而言是非常显而易见的，并且在此定义的一般原理可以应用于其他方面而不脱离本公开的范围。因此，本公开不意图被限制到在此示出的方面，而是按照与在此公开的原理和新颖的特征一致的最宽范围。

为了例示和描述的目的已经给出了以上描述。此外，此描述不意图将本公开的实施例限制到在此公开的形式。尽管以上已经讨论了多个示例方面和实施例，但是本领域技术人员将认识到其某些变型、修改、改变、添加和子组合。

Claims (13)

1.一种存储器测试方法，包括：

获取功能数据；

基于所述功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据；

确定所述待测试数据与所述参考数据的比较结果；

基于所述比较结果，确定对所述存储器的测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述基于所述功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据，包括：

响应于测试数据模式开启，且确定所述功能数据为测试读指针，控制所述存储器停止数据读指针的更新；

基于所述测试读指针，读取写入所述存储器的数据作为待测试数据；

获取所述待测试数据对应的原始数据作为参考数据。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述基于所述比较结果，确定对所述存储器的测试结果，包括：

若所述比较结果表示所述测试数据与所述参考数据不同，确定所述存储器的测试结果为输出第一警告信息。

4.根据权利要求2所述的方法，其中，所述方法还包括：

响应于所述测试数据模式关闭，控制所述存储器更新数据读指针。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述基于所述功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据，包括：

响应于确定所述功能数据为以下任一种：数据读指针、数据写指针、空满标志，将所述功能数据确定为待测试数据；

复制所述功能数据，得到功能副本数据，将所述功能副本数据作为参考数据。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述基于所述比较结果，确定对所述存储器的测试结果，包括：

将所述功能数据和所述功能副本数据输入功能数据比较器；

在目标周期内，通过所述比较器确定所述功能数据和所述功能副本数据之间的比较结果；

如果所述比较结果表示所述功能数据和所述功能数据副本不同，确定所述存储器的测试结果为输出第二警告信息。

7.根据权利要求1-6之一所述的方法，其中，所述基于所述功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据，包括：

响应于向所述存储器写入数据，确定写入的数据为功能数据；

对所述功能数据进行编码，得到第一编码数据作为待测试数据；

响应于从所述存储器读出所述写入的数据，对读出的数据进行编码，得到第二编码数据作为参考数据。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述基于所述比较结果，确定对所述存储器的测试结果，包括：

基于所述待测试数据和所述参考数据的比较结果，确定所述写入的数据和所述读出的数据是否相同；

如果不同，确定所述存储器的测试结果为输出第三警告信息。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，所述确定所述存储器的测试结果为输出第三警告信息，包括：

如果所述写入的数据和所述读出的数据不同的位数小于预设位数，确定所述存储器的测试结果为输出包括第一数据位错误警告的第三警告信息；

如果所述写入的数据和所述读出的数据不同的位数大于或等于所述预设位数，确定所述存储器的测试结果为输出包括第二数据位错误警告的第三警告信息。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述方法还包括：

如果所述写入的数据和所述读出的数据不同的位数小于或等于预设位数，输出包括第一数据位错误警告的第三警告信息，以及纠正发生错误的数据位。

11.一种存储器测试装置，包括：

获取模块，用于获取功能数据；

第一确定模块，用于基于所述功能数据的类型，确定待测试数据与参考数据；

第二确定模块，用于确定所述待测试数据与所述参考数据的比较结果；

第三确定模块，用于基于所述比较结果，确定对所述存储器的测试结果。

12.一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序用于执行上述权利要求1-10任一所述的方法。

13.一种电子设备，所述电子设备包括：

处理器；

用于存储所述处理器可执行指令的存储器；

所述处理器，用于从所述存储器中读取所述可执行指令，并执行所述指令以实现上述权利要求1-10任一所述的方法。

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