CN112240824A - 测试装置 - Google Patents

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Abstract

一种测试装置，包括定位组件及测试组件，定位组件包括固定座，固定座设有收容槽以收容工件，测试组件用于检测工件，固定座包括相连的第一定位面与第二定位面，定位组件还包括侧推杆及驱动件，驱动件驱动侧推杆沿收容槽方向移动，侧推杆包括相连的第一推抵面及第二推抵面，第一推抵面与第二推抵面推抵工件的相邻两侧以将工件的另外相邻两侧与第一定位面及第二定位面接触以进行定位，减少了定位所需的时间，测试装置还包括驱动组件及供光组件，驱动组件驱动供光组件靠近或远离工件以供光测试，提升了检测效率。

Description

测试装置
技术领域
本发明涉及一种测试装置。
背景技术
一般相机的工件测试前，需要进行精准的定位后才能进行测试,而传统测试装置自动化程度低,效率低下,人力需求较大。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种测试效率更高的测试装置。
一种测试装置，包括定位组件及测试组件，定位组件包括固定座，固定座设有收容槽以收容工件，测试组件用于检测工件，固定座包括相连的第一定位面与第二定位面，定位组件还包括侧推杆及驱动件，驱动件驱动侧推杆沿收容槽的对角线方向移动，侧推杆包括相连的第一推抵面及第二推抵面，第一推抵面与第二推抵面推抵工件的相邻两侧以将工件的另外相邻两侧与第一定位面及第二定位面接触以进行定位。
进一步地，定位组件还包括导向件,导向件固定在固定座上，导向件设有侧推杆孔，侧推杆可滑动地穿设于侧推杆孔。
进一步地，定位组件还包括滑轨及推动器，侧推杆安设于推动器上，推动器可动地设于滑轨上，驱动件驱动推动器在滑轨上移动。
进一步地，固定座还包括与第一定位面相连的第一侧壁及与第二定位面相连的第二侧壁,侧推杆朝向固定座移动时,第一侧壁与第二侧壁抵持侧推杆以对其限位。
进一步地，侧推杆设有避让槽，避让槽位于第一推抵面及第二推抵面之间，避让槽用于避让工件。
进一步地，工件为镜片，测试装置还包括供光组件及感光件，供光组件与感光件分别安设于固定座的两侧，供光组件用于照射工件，感光件用于感应光线能否通过工件。
进一步地，测试装置还包括驱动组件，驱动组件包括水平驱动器及竖直驱动器,水平驱动器包括水平基座及水平活动块，竖直驱动器包括竖直基座及竖直活动块，水平活动块可动地安设于水平基座上，竖直基座固定于水平活动块上，竖直活动块可动地安设于竖直基座上，供光组件安设于竖直活动块上，驱动组件驱动供光组件靠近或远离工件。
进一步地，供光组件包括盖板、盒体、光源及挡板，盒体安设于竖直活动块上，光源安设于盒体内部用于供光，盖板安设于盒体上方，盒体底部设有通光孔，挡板安设于盒体下方，挡板设有光源孔，光源孔与通光孔对齐设置。
进一步地，供光组件还包括定位销，定位组件还包括定位孔，定位销安设于盒体下方，驱动组件驱动定位销插进定位孔以使光源孔对准工件。
进一步地，测试装置还包括测试组件，测试组件包括处理器,处理器安设于感光件下方，处理器与感光件连接以接收、传输测试数据。
进一步地，测试组件还包括处理器、高频信号延长线及测试盒，处理器一端安设于固定座下方以接收测试数据，另一端通过高频信号延长线连接测试盒，测试数据由处理器通过高频信号延长线传输到测试盒。
进一步地，定位组件设有多个固定座及收容槽以同时检测多个工件。
相较于现有技术，上述测试装置利用侧推杆、导向件、第一定位面及第二定位面，更方便工件的定位，减少了定位所需的时间，提高了检测效率。
附图说明
图1为本发明的实施方式中测试装置的立体示意图。
图2为定位组件及处理器的立体示意图。
图3为定位组件的部分分解示意图。
图4为供光组件的分解示意图。
图5为驱动组件的立体示意图。
主要元件符号说明
测试装置 100
工件 200
定位组件 10
供光组件 20
驱动组件 30
测试组件 40
总基座 50
固定座 11
收容槽 111
第一定位面 112
第二定位面 113
第一侧壁 114
第二侧壁 115
侧推杆 12
第一推抵面 121
第二推抵面 122
避让槽 123
推动器 13
侧推杆槽 131
导向件 14
侧推杆孔 141
滑轨 15
定位基座 16
定位孔 161
盖板 21
盒体 22
通光孔 221
光源 23
挡板 24
光源孔 241
定位销 25
水平驱动器 31
竖直驱动器 32
水平基座 311
水平活动块 312
竖直基座 321
竖直活动块 322
处理器 41
高频信号延长线 42
测试盒 43
感光件 44
具体实施方式
下面将结合本发明实施方式中的附图，对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅仅是本发明一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本发明中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本发明保护的范围。
需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“或/及”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
下面结合附图，对本发明的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施方式及实施方式中的特征可以相互组合。
请参阅图1，测试装置100用于检测工件200。测试装置100包括定位组件10、供光组件20、驱动组件30、测试组件40及总基座50。总基座50放置于地面。定位组件10、驱动组件30测试组件40固定于总基座50上。供光组件20安设于驱动组件30上。
请参阅图1及图2，定位组件10用于收容及定位工件200。测试组件40设于定位组件10上用于测试工件200。定位组件10包括固定座11、侧推杆12、推动器13、导向件14、滑轨15及定位基座16。定位基座16安设于总基座50上。测试组件40包括处理器41、高频信号延长线42、测试盒43及感光件44。感光件44安设于固定座11正下方用于测试，处理器41安设于感光件44下方用于传输数据。处理器41一端安设于定位组件10接收测试数据，另一端通过高频信号延长线42连接到测试盒43用于传输并处理测试数据。
请参阅图3，一实施方式中，工件200大致呈长方体状。固定座11设有收容槽111，收容槽111大致呈长方形形状，与工件200形状相同，体积略大于工件200，收容槽111用于收容工件200并使工件200与下方的感光件44对齐用于检测。固定座11包括两相连的第一定位面112及第二定位面113，用于作为测试基准面以定位工件200，工件200的一个角需要与第一定位面112与第二定位面113充分接触用于定位，定位后进行测试。滑轨15安设于总基座50上，朝向第一定位面112与第二定位面113的方向安置。定位组件10还包括驱动件(图中未显示)，驱动件驱动推动器13于滑轨15上移动。推动器13设有侧推杆槽131，方向与滑轨15滑动方向相同，用于收容侧推杆12。导向件14以垂直于滑轨15滑动方向固定在固定座11上，以固定侧推杆12的移动方向。导向件14设有侧推杆孔141，用于穿设侧推杆12。侧推杆12可动地穿设于导向件14的侧推杆孔141，其一端安设于侧推杆槽131内，另一端设有两相连的第一推抵面121及第二推抵面122，用于抵住工件200使其与第一定位面112及第二定位面113充分接触，以定位工件200。侧推杆12还设有避让槽123，避让槽123位于第一推抵面121及第二推抵面122之间，避让槽123用于避让工件200的直角。固定座11还包括与第一定位面112相连的第一侧壁114及与第二定位面113相连的第二侧壁115,当侧推杆12朝向固定座11移动时,第一侧壁114与第二侧壁115抵持侧推杆12以对其限位。定位基座16设有多个定位孔161用于定位供光组件20。
请参阅图4，供光组件20包括盖板21、盒体22、光源23、挡板24及定位销25。盒体22安设于驱动组件30上。光源23安设于盒体22内部用于供光，盖板21安设于盒体22上方盖住光源23。盒体22底部设有通光孔221,用于透光。挡板24安设于盒体22下方。挡板24设有光源孔241，用于透光。光源孔241与通光孔221对齐设置，用于透过光源23产生的光并照射到工件200上以进行测试。定位销25安设于盒体22下方，大小与定位基座16的定位孔161相对应。定位销25插进定位孔161，用于将供光组件20(光源孔241与通光孔221)定位到工件200正上方，以更准确供光进行测试。
请参阅图5，驱动组件30用于驱动供光组件20盖住或离开定位组件10。驱动组件30包括水平驱动器31及竖直驱动器32。水平驱动器31包括水平基座311及水平活动块312，竖直驱动器32包括竖直基座321及竖直活动块322。水平基座311固定于总基座50上，并位于定位基座16下方以减少占有空间，水平活动块312可动地安设于水平基座311上。竖直基座321固定于水平活动块312上，竖直活动块322可动地安设于竖直基座321上。供光组件20的盒体22安设于竖直活动块322上。水平基座311驱动水平活动块312沿水平方向移动，同时水平活动块312带动竖直基座321、竖直活动块322及供光组件20沿水平方向移动，竖直基座321驱动竖直活动块322沿竖直方向移动，同时竖直活动块322带动供光组件20沿竖直方向移动。
测试装置100在使用时：当工件200放入固定座11的收容槽111时，驱动件(图中未显示)驱动推动器13沿滑轨15向前移动，推动侧推杆12的第一推抵面121及第二推抵面122朝着第一定位面112与第二定位面113的方向抵推工件200，使工件200的与第一定位面112与第二定位面113充分接触，用于定位工件200。定位后，驱动组件30的水平基座311驱动水平活动块312向靠近工件200方向水平移动，同时竖直基座321驱动竖直活动块322向靠近工件200方向竖直移动，使供光组件20移动到固定座11上方并盖住工件200，同时定位销25插进定位孔161将供光组件20定位。感光件44进行测试，处理器41接收测试数据后，通过高频信号延长线42将数据传输到测试盒43用于处理数据。测试后，驱动组件30的水平基座311驱动水平活动块312向远离工件200方向水平移动，同时竖直基座321驱动竖直活动块322向远离工件200方向竖直移动，使驱动供光组件20离开固定座11及工件200。推动器13沿滑轨15向后移动，并驱动侧推杆12松开工件200，工件200被取走。
在本实施方式中，一共有五个固定座11、侧推杆12及导向件14，用于同时检测五个工件200。在其他实施方式中，可以有其他数量的固定座11、侧推杆12及导向件14。
可以理解，在其他实施例中，滑轨15、导向件14、推动器13可以省略，只通过驱动器驱动侧推杆12；第一侧壁114、第二侧壁115、避让槽123可以省略，只要第一推抵面121及第二推抵面122充分抵推工件200；驱动组件30也可以以其他形式驱动供光组件20。
相较于现有技术，本发明利用侧推杆12、第一定位面112及第二定位面113，更方便了工件200的定位,驱动组件30与供光组件20提供了自动供光检测,并可满足低、中、高不同影像点亮速率的要求，并可一次检测多个工件200，提高了检测效率。
以上实施方式仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照以上较佳实施方式对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换都不应脱离本发明技术方案的精神和范围。本领域技术人员还可在本发明精神内做其它变化等用在本发明的设计，只要其不偏离本发明的技术效果均可。这些依据本发明精神所做的变化，都应包含在本发明所要求保护的范围之内。

Claims (10)

1.一种测试装置，包括定位组件及测试组件，所述定位组件包括固定座，所述固定座设有收容槽以收容工件，所述测试组件用于检测所述工件，其特征在于：所述固定座包括相连的第一定位面与第二定位面，所述定位组件还包括侧推杆及驱动件，所述驱动件驱动所述侧推杆沿所述收容槽方向移动，所述侧推杆包括相连的第一推抵面及第二推抵面，所述第一推抵面与所述第二推抵面推抵所述工件的相邻两侧以将所述工件的另外相邻两侧与所述第一定位面及所述第二定位面接触以进行定位。
2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述定位组件还包括导向件,所述导向件固定在所述固定座上，所述导向件设有侧推杆孔，所述侧推杆可滑动地穿设于所述侧推杆孔。
3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述定位组件还包括滑轨及推动器，所述侧推杆安设于所述推动器上，所述推动器可动地设于所述滑轨上，所述驱动件驱动所述推动器在所述滑轨上移动。
4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述固定座还包括与所述第一定位面相连的第一侧壁及与所述第二定位面相连的第二侧壁,所述侧推杆朝向所述固定座移动时,所述第一侧壁与所述第二侧壁抵持所述侧推杆以对其限位。
5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述侧推杆设有避让槽，所述避让槽位于所述第一推抵面及所述第二推抵面之间，所述避让槽用于避让所述工件。
6.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述工件为镜片，所述测试装置还包括供光组件及感光件，所述供光组件与所述感光件分别安设于所述固定座的两侧，所述供光组件用于照射所述工件，所述感光件用于感应光线能否通过所述工件。
7.如权利要求6所述的测试装置，其特征在于：所述测试装置还包括驱动组件，所述驱动组件包括水平驱动器及竖直驱动器,所述水平驱动器包括水平基座及水平活动块，所述竖直驱动器包括竖直基座及竖直活动块，所述水平活动块可动地安设于所述水平基座上，所述竖直基座固定于所述水平活动块上，所述竖直活动块可动地安设于所述竖直基座上，所述供光组件安设于所述竖直活动块上，所述驱动组件驱动所述供光组件靠近或远离所述工件。
8.如权利要求7所述的测试装置，其特征在于：所述供光组件包括盖板、盒体、光源及挡板，所述盒体安设于所述竖直活动块上，所述光源安设于所述盒体内部用于供光，所述盖板安设于所述盒体上方，所述盒体底部设有通光孔，所述挡板安设于所述盒体下方，所述挡板设有光源孔，所述光源孔与所述通光孔对齐设置。
9.如权利要求8所述的测试装置，其特征在于：所述供光组件还包括定位销，所述定位组件还包括定位孔，所述定位销安设于所述盒体下方，所述驱动组件驱动所述定位销插进所述定位孔以使所述光源孔对准所述工件。
10.如权利要求6所述的测试装置，其特征在于：所述测试装置还包括测试组件，所述测试组件包括处理器,所述处理器安设于所述感光件下方，所述处理器与所述感光件连接以接收、传输测试数据。
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