CN112164058A - 用于滤光片的丝印区域粗定位方法、装置及存储介质 - Google Patents

用于滤光片的丝印区域粗定位方法、装置及存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其包括如下步骤:采集待测滤光片的图像,得到待测图像;对所述待测图像进行差分处理,得到差分图像;提取所述差分图像的镜面区域;对所述待测图像和镜面区域进行做差处理,得到丝印候选区域;从所述丝印候选区域中筛选获得丝印目标区域;本发明能够兼容定位不同类型的丝印区域,有效满足不同的定位要求;本发明还公开了用于滤光片的丝印区域粗定位方法及存储介质。

Description

用于滤光片的丝印区域粗定位方法、装置及存储介质
技术领域
本发明涉及自动光学检测领域领域,尤其涉及用于滤光片的丝印区域粗定位方法、装置及存储介质。
背景技术
滤光片是位于手机摄像头内部,介于镜头和传感器(sensor)之间的一种光学器件,它有多种型号,例如IR截止滤光片,窄带滤光片等。其中,IR截止滤光片是应用最广泛的一种,它用于阻止外部IR光进入到sensor上,同时IR截止滤光片也镀有增透膜,可以增加可见光进入sensor的量,是目前手机摄像头模组中不可缺少的一个关键配件。
随着目前智能手机拍照水平的提高及单台手机摄像头数量的增加,滤光片市场迎来了新的产能及品质的挑战,目前人工显微镜检测的方式从检测效率及检测效果上都无法满足现有的要求,因此,基于机器视觉的滤光片检测设备应运而生。
滤光片包含丝印区域和镜面区域,现有技术中针对滤光片的检测存在各种问题,其中一个首要问题便是滤光片丝印部分的定位。只有滤光片丝印部分定位准确后,才能进行后续丝印部分的缺陷检测。由于滤光片种类繁多,且丝印采用的油墨、工艺、形状等也是各不相同,给丝印定位带来很大的挑战。
因此,亟需用于滤光片的丝印区域粗定位方法、装置及存储介质来解决上述问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种用于滤光片的丝印区域粗定位方法,能够兼容定位不同类型的丝印区域,有效满足不同的定位要求。
本发明的又一目的是提供一种用于滤光片的丝印区域粗定位装置,能够兼容定位不同类型的丝印区域,有效满足不同的定位要求。
本发明的目的是提供一种存储介质,能够兼容定位不同类型的丝印区域,有效满足不同的定位要求。
为了实现上有目的,本发明公开了一种用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其包括如下步骤:
S1、采集待测滤光片的图像,得到待测图像;
S2、对所述待测图像进行差分处理,得到差分图像;
S3、提取所述差分图像的镜面区域;
S4、对所述待测图像和镜面区域进行做差处理,得到丝印候选区域;
S5、从所述丝印候选区域中筛选获得丝印目标区域。
与现有技术相比,本发明通过对待测图像进行差分处理得到差分图像后,对该差分图像进行提取操作以得到镜面区域,然后通过对待测图像和镜面区域进行做差处理以得到丝印候选区域,一方面,经过上述处理得到的丝印候选区域能够在待测图像上具有更高的辨识度,以供快速对待测图像中的丝印目标区域进行定位;另一方面,本发明不对待测滤光片的尺寸、材质进行检测,因此,能够兼容定位不同类型的丝印区域,有效满足不同的定位要求。
较佳地,所述步骤(2)具体包括如下步骤:
S21、对所述待测图像进行大掩模均值滤波处理,得到第一处理图像;
S22、对所述待测图像和所述第一处理图像进行相减处理,得到所述差分图像。
较佳地,所述步骤(3)具体包括如下步骤:
S31、对所述差分图像进行阈值分割处理,得到第二处理图像;
S32、对所述第二处理图像进行形态学变换处理,得到第三处理图像;
S33、依据预设的镜面区域尺寸参数,从所述第三处理图像中提取所述差分图像的镜面区域。
具体地,所述形态学变换包括开运算变换和闭运算变换。
较佳地,所述步骤(4)具体包括如下步骤:
S41、对所述待测图像和镜面区域进行做差处理,得到第一泛丝印候选区域;
S42、对所述第一泛丝印候选区域进行填充,得到第二泛丝印候选区域;
S43、对所述第二泛丝印候选区域进行开运算处理,以去除所述第二泛丝印候选区域的边缘干扰,得到第三泛丝印候选区域;
S44、依据预设的丝印区域尺寸参数,从所述第三泛丝印候选区域中提取得到所述丝印候选区域。
较佳地,所述步骤(5)具体包括如下步骤:
S51、分析所述丝印候选区域与所述镜面区域的交集,及所述丝印候选区域与所述镜面区域的相对位置,获得初步丝印目标区域;
S52、依次判断每一所述初步丝印目标区域与所述待测图像边界的距离,依据判断结果筛选获得所述丝印目标区域。
具体地,所述步骤(52)具体包括如下步骤:
S521、若当前丝印候选区域与所述待测图像边界的距离大于预设阈值,则记当前丝印候选区域为丝印目标区域;
S522、若当前丝印候选区域与所述待测图像边界的距离小于或等于预设阈值,则舍弃当前丝印候选区域为非丝印目标区域。
相应地,本发明还公开了一种用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其包括:
获取模块,用于采集待测滤光片的图像,得到待测图像;
第一处理模块,用于对所述待测图像进行差分处理,得到差分图像;
第二处理模块,用于提取所述差分图像的镜面区域;
第三处理模块,对所述待测图像和镜面区域进行做差处理,得到丝印候选区域;
第四处理模块,从所述丝印候选区域中筛选获得丝印目标区域。
相应地,本发明还公开了一种存储介质,用于存储计算机程序,所述程序被处理器执行时实现如上所述的用于滤光片的丝印区域粗定位方法。
附图说明
图1是本发明的用于滤光片的丝印区域粗定位方法的执行流程图。
图2是本发明的用于滤光片的丝印区域粗定位装置的连接框图。
具体实施方式
为详细说明本发明的技术内容、构造特征、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图详予说明。
请参阅图1所示,本实施例的用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其包括如下步骤:
S1、采集待测滤光片的图像,得到待测图像。本实施例通过相机采集待测滤光片的图像,由于现有的滤光片具有丝印区域和镜面区域,因此,相机采集到的待测图像也具有丝印区域和镜面区域,待测图像可以具有一个或者多个丝印区域和镜面区域,本实施例的目标是对其中的丝印区域进行定位。
S2、对所述待测图像进行差分处理,得到差分图像。
S3、提取所述差分图像的镜面区域。
S4、对所述待测图像和镜面区域进行做差处理,得到丝印候选区域。
S5、从所述丝印候选区域中筛选获得丝印目标区域。
较佳地,所述步骤(2)具体包括如下步骤:
S21、对所述待测图像进行大掩模均值滤波处理,得到第一处理图像。本步骤的目的是为了降低待测图像中的噪声干扰,避免因待测图像噪声干扰过大而影响检测精度。
S22、对所述待测图像和所述第一处理图像进行相减处理,得到所述差分图像。本步骤的目的是通过差分处理,使第一处理图像中的丝印区域具有较高辨析度,以便于后续检测定位。
较佳地,所述步骤(3)具体包括如下步骤:
S31、对所述差分图像进行阈值分割处理,得到第二处理图像。
S32、对所述第二处理图像进行形态学变换处理,得到第三处理图像。本步骤中的形态学变换包括开运算变换和闭运算变换,通过对第三处理图像进行开运算变换和闭运算变换,能够修正第二处理图像中的镜面区域,以便于后续更好的进行检测。
S33、依据预设的镜面区域尺寸参数,从所述第三处理图像中提取所述差分图像的镜面区域。由于不同类型的滤光片的尺寸会存在不同,其对应的镜面区域的尺寸也会不同。因此,针对不同类型的滤光片预设不同的镜面区域参数,以更好的提取对不同类型的镜面区域,从而兼容不同类型的滤光片。
较佳地,所述步骤(4)具体包括如下步骤:
S41、对所述待测图像和镜面区域进行做差处理,得到第一泛丝印候选区域。此步骤获得的第一泛丝印候选区域能够分辨出丝印区域的大概位置。
S42、对所述第一泛丝印候选区域进行填充,得到第二泛丝印候选区域。这里的填充方式可以为颜色填充或图形填充,以使第二泛丝印候选区域能够更好的进行区别辨认。
S43、对所述第二泛丝印候选区域进行开运算处理,以去除所述第二泛丝印候选区域的边缘干扰,得到第三泛丝印候选区域。
S44、依据预设的丝印区域尺寸参数,从所述第三泛丝印候选区域中提取得到所述丝印候选区域。由于不同类型的滤光片的尺寸会存在不同,其对应的丝印区域的尺寸也会不同。因此,针对不同类型的滤光片预设不同的丝印区域参数,以更好的提取对不同类型的丝印区域,从而兼容不同类型的滤光片。
较佳地,所述步骤(5)具体包括如下步骤:
S51、分析所述丝印候选区域与所述镜面区域的交集,及所述丝印候选区域与所述镜面区域的相对位置,获得初步丝印目标区域。这里的丝印候选区域与所述镜面区域的相对位置具体为丝印区域位于镜面区域的里面还是外面。
S52、依次判断每一所述初步丝印目标区域与所述待测图像边界的距离,依据判断结果筛选获得所述丝印目标区域。
具体地,所述步骤(52)具体包括如下步骤:
S521、若当前丝印候选区域与所述待测图像边界的距离大于预设阈值,则记当前丝印候选区域为丝印目标区域。此步骤的目的在于避免因当前丝印候选区域与待测图像边界的距离过小而发生误判,由于一般滤光片的丝印区域不会设在边缘位置,因此,通过上述判断,能够有效降低误判率。
S522、若当前丝印候选区域与所述待测图像边界的距离小于或等于预设阈值,则舍弃当前丝印候选区域为非丝印目标区域。
请参阅图2所示,相应地,本发明还公开了一种用于滤光片的丝印区域粗定位装置100,其包括:
获取模块10,用于采集待测滤光片的图像,得到待测图像;
第一处理模块20,用于对所述待测图像进行差分处理,得到差分图像;
第二处理模块30,用于提取所述差分图像的镜面区域;
第三处理模块40,对所述待测图像和镜面区域进行做差处理,得到丝印候选区域;
第四处理模块50,从所述丝印候选区域中筛选获得丝印目标区域。
相应地,本发明还公开了一种存储介质,用于存储计算机程序,所述程序被处理器执行时实现如上所述的用于滤光片的丝印区域粗定位方法。
结合图1和图2,本发明通过对待测图像进行差分处理得到差分图像后,对该差分图像进行提取操作以得到镜面区域,然后通过对待测图像和镜面区域进行做差处理以得到丝印候选区域,一方面,经过上述处理得到的丝印候选区域能够在待测图像上具有更高的辨识度,以供快速对待测图像中的丝印目标区域进行定位;另一方面,本发明不对待测滤光片的尺寸、材质进行检测,因此,能够兼容定位不同类型的丝印区域,有效满足不同的定位要求。
以上所揭露的仅为本发明的优选实施例而已,当然不能以此来限定本发明之权利范围,因此依本发明申请专利范围所作的等同变化,仍属本发明所涵盖的范围。

Claims (9)

1.一种用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其特征在于,包括如下步骤:
采集待测滤光片的图像,得到待测图像;
对所述待测图像进行差分处理,得到差分图像;
提取所述差分图像的镜面区域;
对所述待测图像和镜面区域进行做差处理,得到丝印候选区域;
从所述丝印候选区域中筛选获得丝印目标区域。
2.如权利要求1所述的用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其特征在于,所述对所述待测图像进行差分处理,得到差分图像,具体包括如下步骤:
对所述待测图像进行大掩模均值滤波处理,得到第一处理图像;
对所述待测图像和所述第一处理图像进行相减处理,得到所述差分图像。
3.如权利要求1所述的用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其特征在于,所述提取所述差分图像的镜面区域,具体包括如下步骤:
对所述差分图像进行阈值分割处理,得到第二处理图像;
对所述第二处理图像进行形态学变换处理,得到第三处理图像;
依据预设的镜面区域尺寸参数,从所述第三处理图像中提取所述差分图像的镜面区域。
4.如权利要求3所述的用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其特征在于:所述形态学变换包括开运算变换和闭运算变换。
5.如权利要求1所述的用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其特征在于,所述对所述待测图像和镜面区域进行做差处理,得到丝印候选区域,具体包括如下步骤:
对所述待测图像和镜面区域进行做差处理,得到第一泛丝印候选区域;
对所述第一泛丝印候选区域进行填充,得到第二泛丝印候选区域;
对所述第二泛丝印候选区域进行开运算处理,以去除所述第二泛丝印候选区域的边缘干扰,得到第三泛丝印候选区域;
依据预设的丝印区域尺寸参数,从所述第三泛丝印候选区域中提取得到所述丝印候选区域。
6.如权利要求1所述的用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其特征在于,所述从所述丝印候选区域中筛选获得丝印目标区域,具体包括如下步骤:
分析所述丝印候选区域与所述镜面区域的交集,及所述丝印候选区域与所述镜面区域的相对位置,获得初步丝印目标区域;
依次判断每一所述初步丝印目标区域与所述待测图像边界的距离,依据判断结果筛选获得所述丝印目标区域。
7.如权利要求6所述的用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其特征在于,所述依次判断每一所述丝印候选区域与所述待测图像边界的距离,依据判断结果筛选获得所述丝印目标区域,具体包括如下步骤:
若当前丝印候选区域与所述待测图像边界的距离大于预设阈值,则记当前丝印候选区域为丝印目标区域;
若当前丝印候选区域与所述待测图像边界的距离小于或等于预设阈值,则舍弃当前丝印候选区域为非丝印目标区域。
8.一种用于滤光片的丝印区域粗定位方法,其特征在于,包括:
获取模块,用于采集待测滤光片的图像,得到待测图像;
第一处理模块,用于对所述待测图像进行差分处理,得到差分图像;
第二处理模块,用于提取所述差分图像的镜面区域;
第三处理模块,对所述待测图像和镜面区域进行做差处理,得到丝印候选区域;
第四处理模块,从所述丝印候选区域中筛选获得丝印目标区域。
9.一种存储介质,用于存储计算机程序,其特征在于:所述程序被处理器执行时实现权利要求1~7中任一项所述的用于滤光片的丝印区域粗定位方法。
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