CN112147496A - 电子开关测试装置及方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种电子开关测试装置及方法，涉及电子开关技术领域，电子开关测试装置包括：控制单元、待测开关、负载模拟单元、计数单元及冲击电流检测单元。所述控制单元用于控制所述待测开关的导通和断开状态；所述负载模拟单元用于在通过所述待测开关使所述负载模拟单元与所述电源导通时产生冲击电流；所述冲击电流检测单元用于在所述待测开关导通时，检测是否存在冲击电流，若存在，则触发所述计数单元更新当前计数值，所述当前计数值表征所述负载模拟单元与所述电源的导通次数，若不存在，则向所述控制单元发送停止测试指令。本申请通过简单易行的方式，测试了待测开关在较大冲击电流下的使用寿命。

Description

电子开关测试装置及方法

技术领域

本申请涉及电子开关的寿命检测装置技术领域，具体而言，涉及一种电子开关测试装置及方法。

背景技术

目前，电子开关已经广泛应用在各种场合的智能照明***中，其中，由于照明***中的一些灯具可能为LED(Light Emitting Diode，发光二极管)灯，LED灯具有一定的容性，在电子开关的开关瞬间会产生很大的冲击电流，导致电子开关损坏。因此，对电子开关在较大的冲击电流下的寿命检测就显得尤为重要。

发明内容

本申请提出了一种电子开关测试装置及方法，以改善上述缺陷。

第一方面，本申请实施例提供了一种电子开关测试装置，所述电子开关测试装置包括：控制单元、待测开关、负载模拟单元、计数单元、整流单元及冲击电流检测单元，所述控制单元用于控制所述待测开关的导通和断开状态；所述负载单元用于在通过所述待测开关使所述负载模拟单元与所述电源导通时产生冲击电流；所述冲击电流检测单元用于在所述待测开关导通时，检测是否存在冲击电流，若存在，则触发所述计数单元更新当前计数值，所述当前计数值表征所述负载模拟单元与所述电源的导通次数，若不存在，则向所述控制单元发送停止测试指令。

第二方面，本申请实施例还提供了一种电子开关测试方法，所述方法包括：通过控制单元控制电源的开启或关闭；在电源开启时，通过所述控制单元控制待测开关处于导通状态；通过冲击电流检测单元，检测是否存在冲击电流；若存在，则触发计数单元更新当前计数值，所述当前计数值表征负载模拟单元与电源的导通次数；若不存在，则向所述控制单元发送停止测试指令。

本申请提供的电子开关测试装置及方法，电子开关测试装置包括：控制单元、待测开关、负载模拟单元、计数单元、整流单元及冲击电流检测单元。通过控制单元控制电源的开启或关闭，在电源开启时，通过所述控制单元控制待测开关处于导通状态，并通过冲击电流检测单元，检测是否存在冲击电流，若存在，则触发计数单元更新当前计数值，所述当前计数值表征负载模拟单元与电源的导通次数，若不存在，则向所述控制单元发送停止测试指令。如此，通过简单易行的方式，测试了待测开关在较大冲击电流下的使用寿命。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了本申请一实施例提供的电子开关测试装置的结构图；

图2示出了本申请一实施例提供的电子开关测试装置的另一结构图；

图3示出了本申请一实施例提供的电子开关测试装置的又一结构图；

图4示出了本申请一实施例提供的电子开关测试装置的另一结构图；

图5示出了本申请一实施例提供的电子开关测试装置的又一结构图；

图6示出了本申请实施例提供的电子开关测试方法的流程示意图；

图7示出了图6所示S630在一种实施方式中的子步骤流程示意图；

图8示出了本申请一实施例提供的电子开关测试方法的另一流程示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

在本发明的描述中，，术语“第一”、“第二”等等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

目前，由于LED具有一定的容性，因此在电子开关开关瞬间时，电路中会产生很大的冲击电流，可能会导致电子开关失效或烧毁，无法验证在带载固定功率LED时电子开关的使用寿命。

因此，针对上述技术问题，本申请实施例提供了一种电子开关测试装置及方法，能够用于测试电子开关在很大的冲击电流下的使用寿命。

请参阅图1，图1是本申请一实施例提供的电子开关测试装置10的结构示意图。电子开关测试装置10包括控制单元110、待测开关120、负载模拟单元130、计数单元140、冲击电流检测单元150及电源160。

电源160、待测开关120以及负载模拟单元130依次串联，控制单元110与待测开关120电连接，电源160与控制单元110电连接，计数单元140与负载模拟单元130并联，冲击电流检测单元150与负载模拟单元130电连接。

本实施例中，控制单元110用于控制电子开关测试装置10在开始测试以及结束测试时的整体电路通断状态。详细地，控制单元110可以与待测开关120通过串联的方式连接，以达到控制所述待测开关120与电源160之间的导通和断开状态。控制单元110还可以仅不与待测开关120串联，仅与待测开关120电连接，以控制待测开关120与电源160之间的导通和断开状态，达到控制整个电子开关测试装置10的电路通断状态。

一种实施方式中，控制单元110与待测开关120通过串联的方式连接，请参阅图2，图2示出了本实施例提供的电子开关测试装置10的又一结构示意图，该电子开关测试装置10包括控制单元110、待测开关120、负载模拟单元130、计数单元140、冲击电流检测单元150、电源160及整流单元170。

电源160、待测开关120、整流单元170以及负载模拟单元130依次串联，控制单元110与待测开关120串联，电源160与控制单元110电连接，计数单元140与负载模拟单元130并联，冲击电流检测单元150与负载模拟单元130电连接。

本实施例中，电源160用于给整个测试电路提供稳定的电压。负载模拟单元130可以用于在通过所述待测开关120使所述负载模拟单元130与所述电源160导通时产生冲击电流。

电子开关测试装置10还可以包括一整流单元170，整流单元170与电源160、待测开关120、控制单元110串联，用于将所述电源160输出的交流电压转变成正半轴电压。

实际应用中，整流单元170可以为整流桥，整流单元170可以将电源160产生的交流电整流为直流电。一些情况下，整流单元170还可以包括整流桥和滤波电路，即对通过整流桥的直流电压还不够稳定，可以通过滤波电路对整流过的电压进行过滤达到稳定的电压。

可选地，当待测开关120处于断开状态时，负载模拟单元130可以通过待测开关120与电源160断开。当待测开关120处于导通的状态时，在负载模拟单元130与电源160导通的瞬间，负载模拟单元130中会产生冲击电流，其中，冲击电流为在给负载通电的一瞬间、电路中会产生的大电流，一般情况下，产生冲击电流的现象主要体现在容性负载中，例如电容。

如图2所示，负载模拟单元130可以包括纯阻性负载131和电容132，电容132与纯阻性负载131采用并联的方式连接。其中，纯阻性负载131可以用于模拟所述容性负载的输出负载，电容132可以用于在所述待测开关与所述电源160导通时产生所述冲击电流。可以理解，整个电路的输出负载LED可以看做两个部分，即容性部分和纯阻性部分，对应地，负载模拟单元130也包括容性部分和纯阻性部分，其中容性部分即为电容132，纯阻性部分即为纯阻性负载131。

本实施例中，当待测开关120处于导通的状态时，在负载模拟单元130中的电容132与电源导通的瞬间，电容132在这个瞬间相当于短路，即在导通的瞬间电容132会产生一个电流值较大的冲击电流。进一步地，冲击电流检测装置150用于检测该冲击电流是否为符合测试需要的冲击电流，计数单元140用于在检测到该冲击电流时更新当前计数值。在测试停止时，计数单元140中的当前计数值即为待测开关120在满足测试需求的冲击电流下的使用寿命。

本申请实施例中，纯阻性负载131的电阻值根据所述容性负载的额定功率以及所述负载模拟单元130的端电压确定。

可选地，容性负载即为原电路中的LED负载，对应到地，容性负载的额定功率即为LED负载的额定功率，根据计算电阻的公式R＝U²/P可知，纯阻性负载131的电阻值是通过容性负载的额定功率和负载模拟单元130的端电压计算得出的，负载模拟单元130的端电压即为电源160输出电压经过整流单元170得出的输出电压，对应地，经过整流单元170得出的输出电压即为负载模拟单元130的端电压。示例性地，负载模拟单元130的额定电压为220伏，额定功率为20瓦特，根据公式R＝U²/P可计算出负载模拟单元130中纯阻性负载131的电阻值为11欧姆。

与所述负载模拟单元130和计数单元140电连接且与所述控制单元110连接的冲击电流检测单元150，用于在所述待测开关120导通时，检测是否存在冲击电流，若存在，则触发所述计数单元140更新当前计数值，所述当前计数值表征所述负载模拟单元130与所述电源160的导通次数，若不存在，则向所述控制单元110发送停止测试指令。

本实施例中，负载模拟单元130与计数单元140可以采用并联的方式进行电连接，冲击电流检测单元150与负载模拟单元130电连接，连接方式可以是将负载模拟单元130的一端与冲击电流检测单元150相连，进一步地，冲击电流检测单元150可以检测负载模拟单元130所在的电路是否存在冲击电流。

另一种实施方式中，如图3所示，控制单元110仅不与待测开关120串联，仅与待测开关120电连接，请参阅图3，图3示出了本实施例提供的电子开关测试装置10的另一结构示意图，该电子开关测试装置10包括控制单元110、待测开关120、负载模拟单元130、计数单元140、冲击电流检测单元150、电源160及整流单元170。

其中，电源160、待测开关120、整流单元170及负载模拟单元130依次串联，控制单元110仅与待测开关120电连接，电源160与控制单元110电连接，计数单元140与负载模拟单元130并联，冲击电流检测单元150与负载模拟单元130电连接。

电源160用于给整个测试电路提供稳定的电压。负载模拟单元130可以用于在通过所述待测开关120使所述负载模拟单元130与所述电源160导通时产生冲击电流。整流单元170与电源160、待测开关120、控制单元110串联，用于将所述电源160输出的交流电压转变成正半轴电压。

负载模拟单元130可以包括纯阻性负载131和电容132，电容132与纯阻性负载131采用并联的方式连接。其中，纯阻性负载131可以用于模拟所述容性负载的输出负载，电容132可以用于在所述待测开关与所述电源160导通时产生所述冲击电流。

与所述负载模拟单元130和计数单元140电连接且与所述控制单元110连接的冲击电流检测单元150，用于在所述待测开关120导通时，检测是否存在冲击电流，若存在，则触发所述计数单元140更新当前计数值，所述当前计数值表征所述负载模拟单元130与所述电源160的导通次数，若不存在，则向所述控制单元110发送停止测试指令。

冲击电流检测装置150用于检测该冲击电流是否为符合测试需要的冲击电流，计数单元140用于在检测到该冲击电流时更新当前计数值。在测试停止时，计数单元140中的当前计数值即为待测开关120在满足测试需求的冲击电流下的使用寿命。

可选地，电子开关测试装置10中还包括循环测试程序，该循环测试程序用于周期性控制待测开关120、负载模拟单元130，以及所述电源160之间的导通状态和断开状态的切换。该循环测试程序可以设置在控制单元110内，也可以设置于待测开关120内。

可选地，当该循环测试程序设置在控制单元110内时，请参阅图4，图4示出了本实施例提供的电子开关测试装置10的又一结构示意图，该电子开关测试装置10包括控制单元110、待测开关120、负载模拟单元130、计数单元140、冲击电流检测单元150、电源160及整流单元170。

电源160、待测开关120、整流单元170以及负载模拟单元130依次串联，控制单元110与待测开关120串联，电源160与控制单元110电连接，计数单元140与负载模拟单元130并联，冲击电流检测单元150与负载模拟单元130电连接。本申请实施例的控制单元110与待测开关120的连接当时为串联，其连接方式也可以不选择串联，即控制单元仅与待测开关120电连接，本申请对此不作限制。

控制单元110包括循环测试程序180，对应地，当该循环测试程序180设置在控制单元110内时，控制单元110不但用于控制电子开关测试装置10在开始测试以及结束测试时的整体电路通断状态，还用于在测试过程中周期性的控制待测开关120与电源160之间的导通和断开状态的切换，如控制单元110可以通过该循环测试程序使待测开关120每隔5秒就重复间隔关断。

示例性地，在待测开关120导通的瞬间，负载模拟单元130中的电容132会产生大电流，冲击电流检测单元150可以检测该大电流是否为冲击电流，即冲击电流检测单元150可以检测该大电流的大小是否达到需测试的冲击电流的电流值的大小，例如，本实施例检测待测开关120在200安的冲击电流下的使用寿命，对应地，冲击电流检测单元150则可以检测负载模拟单元130中的电容132产生的大电流的电流值是否达到200安，若该大电流达到200安则冲击电流检测单元150判断该大电流为符合要求的冲击电流。

进一步地，冲击电流检测单元150还用于在所述待测开关120导通后的第二预设时间段内多次判断所述负载模拟单元130产生的电流是否为所述冲击电流，在第二预设时间段内只要有一次判断结果为是，冲击电流检测单元150判断在该第二预设时间段内测试电路中产生了冲击电流，对应地，在该第二时间段内负载模拟单元130每产生一次电流，计数单元140对应更新一次当前计数值。示例性地，第二预设时间段可以为15s，该循环测试程序可以控制待测开关120每5s就开关一次，即在15s内待测开关120可以开关3次，对应地，在15s内负载模拟单元130可以产生3次大电流，冲击电流检测单元150则可以一次检查3次产生的大电流的电流值是否达到冲击电流的标准值(如200A)，若冲击电流检测单元150检测到3次的大电流的电流值分别为150A、140A、201A，其中有一次的大电流的电流值达到200A，冲击电流检测单元150判断在15s内电路中产生了冲击电流，并且计数单元140在15s内对应更新3次计数值。

可选地，计数单元140用于在每检测到一次所述冲击电流时，将当前计数值累加1。基于上述例子，计数单元140的初始计数值为0，其中，初始计数值为0表示负载模拟单元130与电源160连通次数为0，负载模拟单元产生了3次大电流，则计数单元140每检测到一次该大电流，计数单元140中的数值累计1，检测到三次大电流，则计数单元140中的数值会进行三次累计，对应地，此时计数单元140中的数值为3，对应地，计数单元140中的数值3表示负载模拟单元130与电源160的导通次数为3。

本实施例中，当所述计数单元140在所述待测开关120导通后的第一预设时间段内未检测到电流时，保持当前计数值，并且向所述控制单元110发送所述停止测试指令。

进一步地，控制单元110接收到停止测试指令，控制单元110可以根据该停止测试指令停止使待测开关每隔一段时间就重复间断开关的循环测试程序180停止运行和/或控制单元110根据该停止测试指令关闭整个测试电路的电源160，停止对待测开关120的使用寿命测试。

由于计数单元140中包含霍尔电流传感器，因此计数单元140可以检测电路中是否存在电流。其中，第一预设时间段一般是小于或等于上述第二预设时间段。示例性地，第一预设时间段可以为8s，即，当计数单元140在待测开关120导通后8s内未检测到电流，则计数单元140保持当前计数值不变，并且向控制单元110发送停止测试指令，其中，停止测试指令用于控制单元110根据该停止测试指令停止对待测开关120的测试。实际应用中，8s内计数单元110都检测到电路中没有电流，这种情况可能是由于待测开关120已经损坏失效或者是负载模拟单元130损坏导致整个测试电路处于断路的状态，考虑到这种情况，对应的，计数单元140会在第一预设时间段内为检测到电流时，发送停止测试指令至控制单元110以停止测试。

对应地，控制单元110接收到计数单元140发送的停止测试指令，控制单元110可以根据该停止测试指令停止使待测开关每隔第三预设时间段就重复间断开关的循环测试程序180停止运行和/或控制单元110根据该停止测试指令关闭整个测试电路的电源160，停止对待测开关120的使用寿命测试。

冲击电流检测单元150还用于在所述待测开关120导通后的第二预设时间段内多次判断所述负载模拟单元130产生的电流是否为所述冲击电流，若在所述第二预设时间段内每次判断结果均为否，则向所述控制单元110发送所述停止测试指令，其中，所述第二预设时间段大于所述第一预设时间段，且所述第一时间段大于所述第三时间段。

示例性地，仍以第二预设时间段为15s，在15s内产生3次电流为例，若冲击电流检测单元150三次检测到的负载模拟单元130产生的电流的电流值分别为100A、150A及130A，满足测试要求的电流值达到200A才视为冲击电流，由于冲击电流检测单元150三次检测到的电流值都未达到200A，在此情况下，冲击电检测单元160则确定第二预设时间段内没有冲击电流，并且向控制单元110发送停止测试指令。

对应地，控制单元110接收到冲击电检测单元160发送的停止测试指令，控制单元110可以根据该停止测试指令停止使待测开关每隔第三时间段就重复间断开关的循环测试程序180停止运行和/或控制单元110根据该停止测试指令关闭整个测试电路的电源160，停止对待测开关120的使用寿命测试。

一种实施方式中，当该循环测试程序设置在待测开关120内时，请参阅图5，图5示出了本实施例提供的电子开关测试装置10的另一结构示意图，该电子开关测试装置10包括控制单元110、待测开关120、负载模拟单元130、计数单元140、冲击电流检测单元150、电源160及整流单元170。

电源160、待测开关120、整流单元170以及负载模拟单元130依次串联，控制单元110与待测开关120串联，电源160与控制单元110电连接，计数单元140与负载模拟单元130并联，冲击电流检测单元150与负载模拟单元130电连接。本申请实施例的控制单元110与待测开关120的连接当时为串联，其连接方式也可以不选择串联，即控制单元110仅与待测开关120电连接，本申请对此不作限制。

待测开关120包括循环测试程序180，对应地，当该循环测试程序180设置在待测开关120内时，控制单元110仅用于控制电子开关测试装置10在开始测试以及结束测试时的整体电路通断状态，而由待测开关120负责周期性控制其与电源160之间的导通和断开状态的切换，如待测开关120可以通过该循环测试程序控制本待测开关120每隔5秒就重复间隔关断。

与所述负载模拟单元130和计数单元140电连接且与所述控制单元110连接的冲击电流检测单元150，用于在所述待测开关120导通时，检测是否存在冲击电流，若存在，则触发所述计数单元140更新当前计数值，所述当前计数值表征所述负载模拟单元130与所述电源160的导通次数，若不存在，则向所述控制单元110发送停止测试指令。

控制单元110接收到停止测试指令，控制单元110可以根据该停止测试指令关闭整个测试电路的电源160，停止对待测开关120的使用寿命测试。

本实施例中，当所述计数单元140在所述待测开关120导通后的第一预设时间段内未检测到电流时，保持当前计数值，并且向所述控制单元110发送所述停止测试指令，对应地，控制单元110接收到停止测试指令，控制单元110可以根据该停止测试指令关闭整个测试电路的电源160，停止对待测开关120的使用寿命测试。

本申请实施例中，可以多次对任一待测开关进行使用寿命的测试。

可以理解，对于接入的任一待测开关120，所述计数单元140还用于在开始测试所述待测开关120之前，接收置零指令，并根据所述置零指令清除所述计数单元140中的历史计数数据。

计数单元140具有掉电保护功能，比如，在测试电路中的电源160断开时，计数单元140仍会保持当前计数值，因此，在开始对另一待测开关120测试之前可以将计数单元140的历史计数数据进行清除。其中，置零指令可以是测试人员人工按下指令按键，对应地，计数单元140接收到测试人员发出的置零指令，并根据置零指令清空计数单元140中的历史计数数据。

因此，本申请实施例提供的电子开关测试装置10，通过控制单元110控制电源160的开启或关闭，在电源160开启时，通过待测开关120处于导通状态，并通过冲击电流检测单元150，检测是否存在冲击电流，若存在，则触发计数单元140更新当前计数值，所述当前计数值表征负载模拟单元130与电源160的导通次数，若不存在，则向所述控制单元110发送停止测试指令。如此，通过简单易行的方式，测试了待测开关120在较大冲击电流下的使用寿命。

请参阅图6，图6示出了一种电子开关测试方法，该电子开关测试方法应用于上述的电子开关测试装置，具体地，该方法可以包括：S610至S650。

S610：通过控制单元110控制电源160的开启或关闭。

本实施例中，可以通过控制单元110控制整个测试电路电源160的开启或关闭。

S620：在电源160开启时，通过所述控制单元110控制待测开关120处于导通状态。

可选地，在控制单元110控制整个测试电路电源160开启时，还可以通过控制单元110控制待测开关120处于导通状态，其中，控制单元110是通过控制单元110中的循环测试程序180控制待测开关120的导通状态，即，可以通过控制单元110中的循环测试程序180使待测开关120每隔第三预设时间段(如5s)就导通一次。一个可能的例子中，还可以通过待测开关120中的循环测试程序180使本待测开关120每隔第三预设时间段就导通一次。

S630：通过冲击电流检测单元150，检测是否存在冲击电流。

可选地，可以通过冲击的冲击电流检测单元150检测在待测开关120处于导通状态下，整个测试电路中是否存在冲击电流。

可选地，检测是否存在冲击电流具体可以通过如图7所示，即，S430可以通过图7所示的步骤实现。

S631，通过所述冲击电流检测单元，在所述待测开关导通后的第二预设时间段内，多次判断检测到的电流是否是冲击电流。

本实施例中，在待测开关120导通的瞬间，负载模拟单元130会产生一个大电流，当该大电流的电流值大小达到测试要求的冲击电流的电流值时，如200A，则判断该大电流为符合条件的冲击电流。

S632，若每次判断结果均为否，则确定没有产生所述冲击电流，其中，所述第二预设时间段大于所述第一预设时间段。

示例性地，第二预设时间段可以为15s，即在15s内，负载模拟单元130可以产生3次电流，对应地，在15s内可以通过冲击电流检测单元150对三次产生的电流进行检测，例如，冲击电流检测单元150三次检测的电流值分别为110A、120A、160A，但是符合条件的冲击电流的电流值大小为200A，可以判断冲击电流检测单元150三次检测的由负载模拟单元130产生的电流均不是符合条件的冲击电流，则可以确定在第二预设时间段内没有产生冲击电流，即通过冲击电流检测单元150检测到不存在冲击电流。

S633，若任一判断结果为是，则确定产生了所述冲击电流。

本实施例中，在第二预设时间段内，通过冲击电流检测单元150检测到第二预设时间段内任一一次产生的电流符合冲击电流的条件，则判断在第二预设时间段内存在冲击电流，对应地，负载模拟单元130在该第二预设时间段内每次产生的电流均会触发计数单元140更新当前的数值，即计数单元140在该第二预设时间段内，每检测到一次电流，计数单元140中的计数值都会累加1。例如，冲击电流检测单元150三次检测的电流值分别为110A、200A、203A，其中有两次产生出的电流均符合冲击电流的条件，则可以确定在第二预设时间段内冲击电流检测单元150检测到了冲击电流，即可以将在第二预设时间段内每次产生的电流都看做冲击电流。

S640：若存在，则触发计数单元140更新当前计数值，所述当前计数值表征负载模拟单元130与电源160的导通次数。

一个可能的例子中，若通过冲击电流检测单元150检测到在待测开关120处于导通下，测试电路中存在冲击电流，则不会停止测试，并且计数单元140每检测到一次冲击电流对应更新一次当前计数值，其中，计数单元140中的计数值表示负载模拟单元130与电源160的导通次数。

S650：若不存在，则向所述控制单元110发送停止测试指令。

可选地，若通过冲击电流检测单元150检测到在待测开关120处于导通下，测试电路中不存在冲击电流，可以通过冲击电流检测单元150向控制单元110发送停止测试指令，停止整个测试，在停止测试时，计数单元140中的计数值即为待测开关120在冲击电流下的使用寿命。仍以S433中的例子为例，计数单元140中的计数值会累加3次，若计数单元140中的初始值为0，则当前计数单元140中的数值为3，代表负载模拟单元130与电源160的导通次数为3次。

请参照图8，图8示出了本申请一实施例提供的电子开关测试方法的另一流程示意图。

S810：通过所述计数单元，在所述待测开关导通后的第一预设时间段内，判断是否存在电流。

本申请实施例中，计数单元140中包括霍尔电流传感器，可以通过霍尔传感器检测在待测开关120导通后的第一预设时间段内是否存在电流，其中第一预设时间段不大于上述第二预设时间段，第一预设时间段可以为8s，即可以通过计数单元140判断在待测开关120导通后8s内是否存在电流。

S820：若判断结果为否，则所述计数单元保持当前计数值，并且向所述控制单元发送所述停止测试指令。

可选地，当计数单元140在8s内未检测到电流时，计数单元140可以向控制单元110发送停止测试指令。可以理解，当计数单元140在8s内未检测到电流，可能是由于待测开关120已损坏失效或者负载模拟单元已损坏导致整个测试电路处于断路的状态，基于这种情况下，可以通过计数单元140向控制单元110发送停止测试指令，其中，当循环测试程序180位于控制单元110内时，控制单元110可以根据该停止测试指令停止使待测开关每隔一段时间就重复间断开关的循环测试程序180停止运行和/或控制单元110根据该停止测试指令关闭整个测试电路的电源160，停止对待测开关120的使用寿命测试；当循环测试程序180位于待测开关120内时，控制单元只能根据该停止测试指令关闭整个测试电路的电源160，停止对待测开关120的使用寿命测试。停止测试时，计数单元140中的数值即为所检测到的待测开关120在冲击电流源下的使用寿命。

综上所述，本发明提供的电子开关测试装置10及方法，通过控制单元110控制电源160的开启或关闭，在电源160开启时，通过所述控制单元110控制待测开关120处于导通状态，并通过冲击电流检测单元150，检测是否存在冲击电流，若存在，则触发计数单元140更新当前计数值，所述当前计数值表征负载模拟单元130与电源160的导通次数，若不存在，则向所述控制单元110发送停止测试指令。如此，通过简单易行的方式，测试了待测开关在较大冲击电流下的使用寿命。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，也可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，附图中的流程图和框图显示了根据本发明的多个实施例的装置、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。

另外，在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不驱使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种电子开关测试装置，其特征在于，所述装置包括：

与待测开关连接的控制单元，用于控制所述待测开关的导通和断开状态；

与电源连接的待测开关；

与所述待测开关串联的负载模拟单元，用于在通过所述待测开关使所述负载模拟单元与所述电源导通时产生冲击电流；

与所述负载模拟单元并联的计数单元；以及，

与所述负载模拟单元和计数单元电连接且与所述控制单元连接的冲击电流检测单元，用于在所述待测开关导通时，检测是否存在冲击电流，若存在，则触发所述计数单元更新当前计数值，所述当前计数值表征所述负载模拟单元与所述电源的导通次数，若不存在，则向所述控制单元发送停止测试指令。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述负载模拟单元包括：

纯阻性负载，用于模拟所述容性负载的输出负载；以及，

与所述纯阻性负载并联的电容，所述电容用于在所述待测开关与所述电源导通时产生所述冲击电流。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述纯阻性负载的电阻值根据所述容性负载的额定功率以及所述负载模拟单元的端电压确定。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的装置，其特征在于，所述计数单元用于在每检测到一次所述冲击电流时，将当前计数值累加1；以及，

当所述计数单元在所述待测开关导通后的第一预设时间段内未检测到电流时，保持当前计数值，并且向所述控制单元发送所述停止测试指令。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述冲击电流检测单元还用于在所述待测开关导通后的第二预设时间段内多次判断所述负载模拟单元产生的电流是否为所述冲击电流，若在所述第二预设时间段内每次判断结果均为否，则向所述控制单元发送所述停止测试指令，其中，所述第二预设时间段大于所述第一预设时间段。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

整流单元，用于将所述电源输出的交流电压转变成正半轴电压。

7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，对于接入的任一待测开关，所述计数单元还用于在开始测试所述待测开关之前，接收置零指令，并根据所述置零指令清除所述计数单元中的历史计数数据。

8.一种检测开关寿命的方法，其特征在于，应用于权利要求1-7任意一项所述的电子开关测试装置，所述方法包括：

通过控制单元控制电源的开启或关闭；

在电源开启时，通过所述控制单元控制待测开关处于导通状态；

通过冲击电流检测单元，检测是否存在冲击电流；

若存在，则触发计数单元更新当前计数值，所述当前计数值表征负载模拟单元与电源的导通次数；

若不存在，则向所述控制单元发送停止测试指令。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

通过所述计数单元，在所述待测开关导通后的第一预设时间段内，判断是否存在电流；

若判断结果为否，则所述计数单元保持当前计数值，并且向所述控制单元发送所述停止测试指令。

10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述通过冲击电流检测单元，检测是否存在冲击电流，包括：

通过所述冲击电流检测单元，在所述待测开关导通后的第二预设时间段内，多次判断检测到的电流是否是冲击电流；

若每次判断结果均为否，则确定没有产生所述冲击电流，其中，所述第二预设时间段大于所述第一预设时间段；

若任一判断结果为是，则确定产生了所述冲击电流。

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