CN112102762A - 一种识别led屏幕异常灯点的方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种识别LED屏幕异常灯点的方法及装置,方法包括:S1,根据屏体中各个灯点的亮度值生成亮度分布图,检查亮度分布图中是否存在低亮度值区域;S2,确定低亮度值区域中的低亮度的像素点为异常点,判断异常点构成连通域或是离散分布状态;若构成连通域,则确定异常点来源于相机的镜头;若是离散分布状态,则确定异常点为屏体的异常灯点。装置包括:相机模块,校正识别模块,连通域判断模块,异常灯点处理模块。本发明可确定出异常点是由镜头异物引起的,还是由屏体的异常灯点引起,避免校正人员作出不正确的校正,进而影响到校正效果和校正速率。

Description

一种识别LED屏幕异常灯点的方法及装置
技术领域
本发明属于LED显示屏的技术领域,具体涉及一种识别LED屏幕异常灯点的方法及装置。
背景技术
目前校正方法是通过摄像机拍取LED屏幕后得到原始亮度值图像,接着再将原始亮度值图像输入至校正软件去实现校正。其中,校正软件中可将LED屏幕中的所有灯点最原始的亮度值都反映在校正软件的显示界面中,但需根据一个平均亮度值去逐点查看每一个灯点的亮度值是否过暗(校正的亮度值调整不能超过最原始的亮度值,具体是先整体降低亮度值,再按照一个平均亮度值来调整各个灯点的亮度值),以确定过暗的灯点是否为异常点,最后再利用校正软件中的校正系数对异常点的亮度值进行调整,但是目前最大的问题就是不能判断出异常点是由LED屏幕的灯点引起的,还是由相机摄像头上的灰尘、头发等外界干扰物体引起的,该问题的存在会导致校正软件对异常点对应区域亮度值的误判,会导致校正软件生成错误的校正系数,而校正人员浪通过该校正系数作出有误的校正效果(由于灰尘等遮挡,会导致该区域的灯点的亮度值偏低,校正软件生成的校正系数过高,使用该校正系数进行校正,会导致LED屏幕上出现光斑),进而也对校正效率产生影响。因此本领域人员亟需寻找一种新的技术方案来解决上述的问题。
发明内容
为了解决上述现有技术存在的问题和不足,本发明的目的是提供一种识别LED屏幕异常灯点的方法及装置,可以判断屏体是否存在异常灯点。
为实现是上述目的,本发明首先提供一种识别LED屏幕异常灯点的方法,用于LED屏幕校正,包括以下步骤:
S1,根据屏体中各个灯点的亮度值生成亮度分布图,检查亮度分布图中是否存在低亮度值区域;
S2,确定低亮度值区域中的低亮度的像素点为异常点,判断异常点构成连通域或是离散分布状态;若构成连通域,则确定异常点来源于相机的镜头;若是离散分布状态,则确定异常点为屏体的异常灯点。
进一步地,在步骤S1之前还包括,通过相机拍摄屏体获取原始亮度值图像,并通过原始亮度值图像提取屏体各个灯点的亮度值,按照预设调整比率调整所述屏体各个灯点的亮度值。
进一步地,还包括步骤S3,获取异常灯点所在区域的平均亮度值,根据平均亮度值对异常灯点进行校正修复。
进一步地,步骤S3中,若屏体中存在亮度值为0的损坏灯点,则计算平均亮度值时,排除损坏灯点。
进一步地,步骤S2中,确定所述异常点的方法包括:亮度值低于规定值的所述像素点为异常点。
进一步地,步骤S2中,判断是否构成连通域的方法包括:若亮度分布图中存在多个亮度值相似且连通的低亮度值像素点,则判定低亮度值像素点构成了连通域。
进一步地,判断是否构成连通域的方法进一步包括:若低亮度值像素点大于或等于四个,且每个相邻的低亮度值像素点的间隔长度一致,则判定低亮度值像素点构成了连通域。
进一步地,步骤S2中,确定连通域大小和位置的方法包括:根据亮度分布图建立坐标系,获取连通域中每个低亮度值像素点的坐标,根据坐标确定连通域的大小和位置。
进一步地,步骤S3还包括,若屏体存在连通域,则提示对镜头进行清理。
本发明同时提供一种识别LED屏幕异常灯点的装置,采用上述的识别LED屏幕异常灯点的方法,包括:
相机模块,用于拍摄屏体;
校正识别模块,用于根据相机模块拍摄屏体后,生成原始亮度值图像,提取屏体的各个灯点的亮度值,生成亮度分布图,并判断亮度分布图是否存在低亮度区域;
连通域判断模块,用于根据低亮度区域判断屏体是否存在低亮度区域,且所述低亮度区域中的异常点是否构成了连通域;
异常灯点处理模块,用于根据低亮度区域的平均亮度值对存异常灯点进行校正修复。
与现有技术相比,本发的有益效果包括:当相机镜头存在异物,或屏体存在异常灯点时,会在亮度分布图中形成亮度较低的低亮度值区域,然后判断低亮度值区域中的亮度值过低的异常点是否构成了连通域;由于相机镜头存在异物时,会使亮度分布度中形成低亮度值区域,且低亮度值区域中的低亮度灯点会较为集中;而由于屏体中的异常灯点通常是离散分布的像素点,不会构成连通域。因此,当亮度分布图中的低亮度区域中存在连通域,则表明相机镜头存在异物,若是低亮度灯点是离散分布状态,则表明屏体中存在异常灯点。本发明可确定出异常点是由镜头异物引起的,还是由屏体的异常灯点引起,避免校正人员作出不正确的校正,进而影响到校正效果和校正速率。
附图说明
图1是本发明实施例一的方法步骤图;
图2是本发明实施例二的模块连接图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
实施例一:
本发明实施例一提供一种识别LED屏幕异常灯点的方法,用于LED屏幕校正,如图1所示,包括以下步骤:
S1,根据屏体中各个灯点的亮度值生成亮度分布图,检查亮度分布图中是否存在低亮度值区域;
S2,确定低亮度值区域中的低亮度的像素点为异常点,判断异常点构成连通域或是离散分布状态;若构成连通域,则确定异常点来源于相机的镜头;若是离散分布状态,则确定异常点为屏体的异常灯点。
采用上述方法,当相机镜头存在异物,或屏体存在异常灯点时,会在亮度分布图中形成亮度较低的低亮度值区域,然后判断低亮度值区域中的亮度值过低的异常点是否构成了连通域;由于相机镜头存在异物时,会使亮度分布度中形成低亮度值区域,且低亮度值区域中的低亮度灯点会较为集中;而由于屏体中的异常灯点通常是离散分布的像素点,不会构成连通域。因此,当亮度分布图中的低亮度区域中存在连通域,则表明相机镜头存在异物,若是低亮度灯点是离散分布状态,则表明屏体中存在异常灯点。本发明可确定出异常点是由镜头引起的,还是由屏体的灯点引起,避免校正人员作出不正确的校正,进而影响到校正效果和校正速率。
在步骤S1之前还包括,通过相机拍摄屏体获取原始亮度值图像,并通过原始亮度值图像提取屏体的各个灯点的亮度值,按照预设调整比率调整屏体的各个灯点的亮度值。灯点具有原始亮度值,原始亮度值不能调整;先根据灯点中最大亮度值与最小亮度值的差值,确定亮度值的调整比例,然后按调整比例降低所有灯点的亮度值,之后再上调亮度值,来保证灯点整体亮度值的一致,一般调整到最大亮度值。这样可以对所有灯点的亮度进行有效的校正。
本实施例还包括步骤S3,获取异常灯点所在区域的平均亮度值,根据平均亮度值对异常灯点进行校正修复。
步骤S3中,若屏体中存在亮度值为0的损坏灯点,则计算平均亮度值时,排除损坏灯点。因为损坏灯点亮度值为0,特征明显,很容易被确认,且调整校正系数对其并不产生任何影响;所述平均亮度值为校正系数。
步骤S2中,确定所述异常点的方法包括:亮度值低于规定值的像素点为异常点。
步骤S2中,判断是否构成连通域的方法包括:若亮度分布图中存在多个亮度值相似且连通的低亮度值像素点,则判定低亮度值像素点构成了连通域。连通域中的各个像素点是连通的。
判断是否构成连通域的方法进一步包括:若低亮度值像素点大于或等于四个,且每个相邻的低亮度值像素点的间隔长度一致,则判定低亮度值像素点构成了连通域。这样可以进一步精准的确定是否为镜头存在异物导致的。
确定连通域大小和位置的方法包括:根据亮度分布图建立坐标系,获取连通域中每个低亮度值像素点的坐标,根据坐标确定连通域的大小和位置。这样可以有效的确定连通域大小和位置,方便对镜头中对应的位置进行清理。
步骤S3还包括,若屏体存在连通域,则提示对镜头进行清理。
本实施例的具体方法如下:
首先,通过相机拍摄屏体获取原始亮度值图像,并通过原始亮度值图像提取屏体的各个灯点的亮度值,按照预设调整比率调整屏体各个灯点的亮度值。
然后,根据屏体中各个灯点的亮度值生成亮度分布图,检查亮度分布图中是否存在低亮度值区域。
判断低亮度值区域中的低亮度的像素点为异常点,判断异常点构成连通域或是离散分布状态;若构成连通域,则确定异常点来源于相机的镜头,并提示需要对镜头进行清理;若是离散分布状态,则确定异常点为屏体的异常灯点,获取异常灯点所在区域的平均亮度值,根据平均亮度值对异常灯点进行校正修复。
实施例二:
本发明实施例二提供一种识别LED屏幕异常灯点的装置,如图2所示,包括:
相机模块1,用于拍摄屏体;
校正识别模块2,用于根据相机模块1拍摄屏体后,生成原始亮度值图像,提取屏体的各个灯点的亮度值,生成亮度分布图,并判断亮度分布图是否存在低亮度区域;
连通域判断模块3,用于根据低亮度区域判断屏体是否存在低亮度区域,且低亮度区域中的异常点是否构成了连通域;
异常灯点处理模块4,用于根据低亮度区域的平均亮度值对存异常灯点进行校正修复。
本实施例二的识别LED屏幕异常灯点的装置的工作方法采用实施例一提供的识别LED屏幕异常灯点的方法,此处不再赘述。本实施例二可确定出异常点是由镜头异物引起的,还是由屏体的异常灯点引起,避免校正人员作出不正确的校正,进而影响到校正效果和校正速率。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种识别LED屏幕异常灯点的方法,用于LED屏幕校正,其特征在于,包括以下步骤:
S1,根据屏体中各个灯点的亮度值生成亮度分布图,检查所述亮度分布图中是否存在低亮度值区域;
S2,确定所述低亮度值区域中的低亮度的像素点为异常点,判断所述异常点构成连通域或是离散分布状态;若构成连通域,则确定所述异常点来源于相机的镜头;若是离散分布状态,则确定所述异常点为所述屏体的异常灯点。
2.根据权利要求1所述的识别LED屏幕异常灯点的方法,其特征在于,在步骤S1之前还包括,通过所述相机拍摄所述屏体获取原始亮度值图像,并通过所述原始亮度值图像提取所述屏体各个灯点的亮度值,按照预设调整比率调整所述屏体各个灯点的亮度值。
3.根据权利要求2所述的识别LED屏幕异常灯点的方法,其特征在于,还包括步骤S3,获取所述异常灯点所在区域的平均亮度值,根据所述平均亮度值对所述异常灯点进行校正修复。
4.根据权利要求3所述的识别LED屏幕异常灯点的方法,其特征在于,步骤S3中,若所述屏体中存在亮度值为0的损坏灯点,则计算所述平均亮度值时,排除所述损坏灯点。
5.根据权利要求1所述的识别LED屏幕异常灯点的方法,其特征在于,步骤S2中,确定所述异常点的方法包括:亮度值低于规定值的所述像素点为异常点。
6.根据权利要求1-5任一项所述的识别LED屏幕异常灯点的方法,其特征在于,步骤S2中,判断是否构成所述连通域的方法包括:若所述亮度分布图中存在多个亮度值相似且连通的低亮度值像素点,则判定所述低亮度值像素点构成了所述连通域。
7.根据权利要求6所述的识别LED屏幕异常灯点的方法,其特征在于,判断是否构成所述连通域的方法进一步包括:若所述低亮度值像素点大于或等于四个,且每个相邻的所述低亮度值像素点的间隔长度一致,则判定所述低亮度值像素点构成了所述连通域。
8.根据权利要求7所述的识别LED屏幕异常灯点的方法,其特征在于,步骤S2中,确定所述连通域大小和位置的方法包括:根据所述亮度分布图建立坐标系,获取所述连通域中每个所述低亮度值像素点的坐标,根据所述坐标确定所述连通域的大小和位置。
9.根据权利要求3所述的识别LED屏幕异常灯点的方法,其特征在于,步骤S3还包括,若所述屏体存在所述连通域,则提示对所述镜头进行清理。
10.一种识别LED屏幕异常灯点的装置,采用权利要求1-9任一项所述的识别LED屏幕异常灯点的方法,其特征在于,包括:
相机模块,用于拍摄屏体;
校正识别模块,用于根据所述相机模块拍摄所述屏体后,生成原始亮度值图像,提取屏体的各个灯点的亮度值,生成亮度分布图,并判断所述亮度分布图是否存在低亮度区域;
连通域判断模块,用于根据所述低亮度区域判断所述屏体是否存在低亮度区域,且所述低亮度区域中的异常点是否构成了连通域;
异常灯点处理模块,用于根据所述低亮度区域的平均亮度值对存所述异常灯点进行校正修复。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112884681A (zh) * 2021-04-28 2021-06-01 卡莱特云科技股份有限公司 图像阴影处理方法、装置、计算机设备和存储介质
CN113921663A (zh) * 2021-09-29 2022-01-11 东莞市中麒光电技术有限公司 一种led显示模块返修方法
CN114241959A (zh) * 2021-11-18 2022-03-25 浙江大华技术股份有限公司 异常灯点检测方法、显示装置和存储介质
CN114332016A (zh) * 2021-12-29 2022-04-12 广州绿怡信息科技有限公司 设备屏幕光斑检测方法及装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009050394A (ja) * 2007-08-24 2009-03-12 Fujifilm Corp 画像処理装置、方法及びプログラム
JP2012039263A (ja) * 2010-08-04 2012-02-23 Panasonic Corp 撮像装置
CN103792699A (zh) * 2013-09-09 2014-05-14 中华人民共和国四川出入境检验检疫局 基于B样条曲面拟合的TFT-LCD Mura缺陷机器视觉检测方法
CN104900178A (zh) * 2015-06-18 2015-09-09 西安诺瓦电子科技有限公司 亮度异常图像检测方法和led显示屏均匀性校正方法
CN109636793A (zh) * 2018-12-14 2019-04-16 中航华东光电(上海)有限公司 显示器的检测***及其检测方法
CN111210764A (zh) * 2020-01-21 2020-05-29 卡莱特(深圳)云科技有限公司 一种led屏校正方法及校正装置
CN111527539A (zh) * 2018-08-31 2020-08-11 西安诺瓦星云科技股份有限公司 全屏任意拼接的校正方法、校正装置及校正***

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009050394A (ja) * 2007-08-24 2009-03-12 Fujifilm Corp 画像処理装置、方法及びプログラム
JP2012039263A (ja) * 2010-08-04 2012-02-23 Panasonic Corp 撮像装置
CN103792699A (zh) * 2013-09-09 2014-05-14 中华人民共和国四川出入境检验检疫局 基于B样条曲面拟合的TFT-LCD Mura缺陷机器视觉检测方法
CN104900178A (zh) * 2015-06-18 2015-09-09 西安诺瓦电子科技有限公司 亮度异常图像检测方法和led显示屏均匀性校正方法
CN111527539A (zh) * 2018-08-31 2020-08-11 西安诺瓦星云科技股份有限公司 全屏任意拼接的校正方法、校正装置及校正***
CN109636793A (zh) * 2018-12-14 2019-04-16 中航华东光电(上海)有限公司 显示器的检测***及其检测方法
CN111210764A (zh) * 2020-01-21 2020-05-29 卡莱特(深圳)云科技有限公司 一种led屏校正方法及校正装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112884681A (zh) * 2021-04-28 2021-06-01 卡莱特云科技股份有限公司 图像阴影处理方法、装置、计算机设备和存储介质
CN113921663A (zh) * 2021-09-29 2022-01-11 东莞市中麒光电技术有限公司 一种led显示模块返修方法
CN114241959A (zh) * 2021-11-18 2022-03-25 浙江大华技术股份有限公司 异常灯点检测方法、显示装置和存储介质
CN114241959B (zh) * 2021-11-18 2024-05-14 浙江大华技术股份有限公司 异常灯点检测方法、显示装置和存储介质
CN114332016A (zh) * 2021-12-29 2022-04-12 广州绿怡信息科技有限公司 设备屏幕光斑检测方法及装置

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