CN112099929A - 一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法,包括如下过程:(1)首先进行指标体系划分;(2)以各个指标体系为测试节点组成测试序列环,且每个测试节点均设置各自的体系锁;(3)分别从各个不同测试节点开始,同时启动测试线程;(4)测试线程完成当前测试节点的指标体系测试后立即释放体系锁,其他测试线程可对释放的指标体系重新进行锁定测试;(5)各测试线程沿测试序列环的同一个方向依次完成各个指标体系的测试。本发明所公开的方法将测试资源循环、交错使用,可以实现射频芯片的高速并行测试,在降低软件设计难度的前提下具有极高的硬件资源利用率,并具有开发维护过程便捷、资源成本低等特点。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试资源调度管理方法,特别涉及一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法。
背景技术
射频芯片是工业设计、生产过程中较为常用的一类芯片,社会需求量大。为确保芯片指标,芯片在出厂前需要进行详细指标测试,以一款射频功率放大芯片为例,测试指标一般包括输入输出驻波、增益、压缩点、功率、效率等。测试过程中,一般需要多Site并行测试,测试效率要求较高。
传统测试一般采用两种方式实现并行测试,第一种方式是多套硬件资源堆砌,单套软件调度,这种方式存在明显的资源浪费问题。第二种方式是单套硬件资源,单套软件实时动态调度,这种方式往往存在软件复杂程度高、维护成本高、测试指标依赖顺序不可控等问题。种种问题导致并行测试难度较大,成本较高。
发明内容
为解决上述技术问题,本发明提供了一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法,可以实现射频芯片的高速并行测试,并具有开发维护过程便捷、资源成本低等特点。
为达到上述目的,本发明的技术方案如下:
一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法,包括如下过程:
(1)首先按照射频芯片测试指标所需硬件资源进行指标体系划分,使各个指标体系的硬件之间无耦合;
(2)以各个指标体系为测试节点组成测试序列环,且每个测试节点均设置各自的体系锁;
(3)分别从各个不同测试节点开始,同时启动测试线程,启动瞬间各个测试线程分别执有当前测试节点的体系锁;
(4)各测试线程沿测试序列环的同一个方向依次进行各个测试节点的测试,各测试线程完成对当前测试节点的指标体系测试后,立即释放该测试节点的体系锁;下一测试线程获取该测试节点的体系锁后,锁定并完成该测试节点的指标体系测试;否则下一测试线程无法获取该测试节点的体系锁,并处于挂起等待状态;
(5)各个测试线程依次按照步骤(4)的方法沿着测试序列环的同一个方向完成各个指标体系的测试。
上述方案中,所述指标体系包括频谱指标体系、功率指标体系、噪声指标体系、S参数指标体系和功耗指标体系。
进一步的技术方案中,所述体系锁包括频谱锁、功率锁、噪声锁、S参数锁和功耗锁。
通过上述技术方案,本发明提供的一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法具有如下有益效果:
1、本发明采用单套硬件,单套软件的测试技术,将测试资源循环、交错使用,在降低软件设计难度的前提下具有极高的硬件资源利用率;
2、本发明以指标体系为单位的体系锁,解决了指标间的依赖测试关系,相较于资源锁定简化了软件复杂程度,提高了后期的可维护性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
图1为本发明实施例所公开的测试序列环示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
本发明提供了一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法,包括如下过程:
(1)首先按照射频芯片测试指标所需硬件资源进行指标体系划分,使各个指标体系的硬件之间无耦合,本实施例的指标体系包括频谱指标体系、功率指标体系、噪声指标体系、S参数指标体系和功耗指标体系,共5个指标体系。
(2)以各个指标体系为测试节点组成测试序列环,如图1所示,且每个测试节点均设置各自的体系锁,具体包括频谱锁、功率锁、噪声锁、S参数锁和功耗锁,共5个体系锁。
(3)分别从5个测试节点开始,同时启动测试线程,启动瞬间5个测试线程分别执有频谱锁、功率锁、噪声锁、S参数锁和功耗锁;由于不同指标体系间不存在硬件耦合,故当前不需要考虑硬件争用及锁定问题。测试线程如附表1所示:
表1测试线程
(4)5个测试线程沿着测试序列环的同一个方向执行对各个测试节点的测试,若测试线程2执行完功耗指标体系的测试后则释放功耗锁,此时,若测试线程1尚未完成频谱指标体系,依然持有频谱锁。此时测试线程2无法获取频谱锁,则处于挂起等待状态;直到测试线程1释放频谱锁,测试线程2才可执行频谱指标体系测试。
(5)5个测试线程依次按照步骤(4)的方法沿着测试序列环的同一个方向完成各个指标体系的测试。
本发明以指标体系为单位进行体系锁定简化了常规的以硬件为单位的资源锁定。
通过测试序列环实现的循环、交错测试提高了资源利用率,在指标体系测试耗时相当的前提下,测试时间相比于串行测试缩短70%左右。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (3)
1.一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法,其特征在于,包括如下过程:
(1)首先按照射频芯片测试指标所需硬件资源进行指标体系划分,使各个指标体系的硬件之间无耦合;
(2)以各个指标体系为测试节点组成测试序列环,且每个测试节点均设置各自的体系锁;
(3)分别从各个不同测试节点开始,同时启动测试线程,启动瞬间各个测试线程分别执有当前测试节点的体系锁;
(4)各测试线程沿测试序列环的同一个方向依次进行各个测试节点的测试,各测试线程完成对当前测试节点的指标体系测试后,立即释放该测试节点的体系锁;下一测试线程获取该测试节点的体系锁后,锁定并完成该测试节点的指标体系测试;否则下一测试线程无法获取该测试节点的体系锁,并处于挂起等待状态;
(5)各个测试线程依次按照步骤(4)的方法沿着测试序列环的同一个方向完成各个指标体系的测试。
2.根据权利要求1所述的一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法,其特征在于,所述指标体系包括频谱指标体系、功率指标体系、噪声指标体系、S参数指标体系和功耗指标体系。
3.根据权利要求2所述的一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法,其特征在于,所述体系锁包括频谱锁、功率锁、噪声锁、S参数锁和功耗锁。
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