CN112040224A - 校验摄像头模组性能测试设备的方法、介质和电子设备 - Google Patents

校验摄像头模组性能测试设备的方法、介质和电子设备 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种校验摄像头模组性能测试设备的方法、介质和电子设备，所述校验摄像头模组性能测试设备的方法，包括，获取第一组SFR值和第二组SFR值，其中，所述第一组SFR值为基于摄像头模组多个不同物距下待校验测试设备获得的测试图像得到，所述第二组SFR值为基于所述摄像头模组多个不同物距下标准测试设备获得的测试图像获得；根据所述第一组SFR值和所述第二组SFR值获得所述待校验测试设备与所述标准测试设备的峰值测试偏差值；根据所述峰值测试偏差值校正所述待校验测试设备的SFR值与物距的关系式。该方法，在摄像头模组产品出现离焦的情况下，可以提高待校验测试设备的校验精度。

Description

校验摄像头模组性能测试设备的方法、介质和电子设备
技术领域
本发明涉及摄像头模组技术领域，尤其是涉及一种校验摄像头模组性能测试设备的方法，以及一种非临时性计算机存储介质和电子设备。
背景技术
相关技术中，对于摄像头模组性能测试设备的校验，校验方法较为普通，例如，在保证人料、方法、环境一样的前提下，选用一台标准设备，获取被效验设备与标准设备测试分值的差异，最后可通过调整被校验设备或补偿测试分值差异来减少被校验设备与标准设备之间的差异。
但是，此方法在合致样品合致过程中因释放应力而出现离焦的特殊情况下，可能会出现两种错误：被校验设备没有测试分值误差而被判定为有问题，或者被校验设备有测试分值误差而被判定为没有问题。无法对被校验设备进行准确校验。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明的一个目的在于提出一种校验摄像头模组性能测试设备的方法，该方法，在摄像头模组产品出现离焦的情况下，可以提高待校验测试设备的校验精度。
本发明的目的之二在于提出一种非临时性计算机存储介质。
本发明的目的之三在于提出一种电子设备。
为了解决上述问题，本发明第一方面实施例提供的校验摄像头模组性能测试设备的方法，包括，获取第一组SFR(spatial frequency response，空间频率响应)值和第二组SFR值，其中，所述第一组SFR值为基于摄像头模组多个不同物距下待校验测试设备获得的测试图像得到，所述第二组SFR值为基于所述摄像头模组多个不同物距下标准测试设备获得的测试图像获得；根据所述第一组SFR值和所述第二组SFR值获得所述待校验测试设备与所述标准测试设备的峰值测试偏差值；根据所述峰值测试偏差值校正所述待校验测试设备的SFR值与物距的关系式。
根据本发明实施例的校验摄像头模组性能测试设备的方法，通过分别获取待校验测试设备和标准测试设备在多个不同物距下的SFR值，并根据第一组SFR值与物距的对应关系以及根据第二组SFR值与物距的对应关系，以对待校验测试设备与标准测试设备进行对比，即本发明实施例采用多段物距测试及多方位对比测试数据的方式，来获取峰值测试偏差值，从而可以减少摄像头模组离焦情况下待校验测试设备的调试误差问题，使得待校验测试设备可以获得精准的调试，提高待校验测试设备的校验精度。
在一些实施例中，根据所述第一组SFR值和所述第二组SFR值获得所述待校验测试设备与所述标准测试设备的峰值测试偏差值，包括，基于所述第一组SFR值和所述摄像头模组多个不同物距拟合出所述待校验测试设备的第一SFR拟合曲线，基于所述第二组SFR值和所述摄像头模组多个不同物距拟合出所述标准测试设备的第二SFR拟合曲线；获得所述第一SFR拟合曲线的第一最大峰值和所述第二SFR拟合曲线的第二最大峰值，以及获得所述第一最大峰值对应的第一物距值和所述第二最大峰值对应的第二物距值；计算所述第一最大峰值与所述第二最大峰值的最大峰值差，以及计算所述第一物距值与所述第二物距值的物距差，所述最大峰值差和所述物距差作为所述测试偏差值。即将待校验测试设备与标准测试设备的测试数据以拟合曲线的方式进行比对，以便于观察曲线峰值处的差异，为补偿待校验测试设备提供支持。
在一些实施例中，根据所述峰值测试偏差值校正所述待校验测试设备的SFR值与物距的关系式，包括，根据所述最大峰值差补偿所述第一SFR拟合曲线中的SFR值，以及根据所述物距差补偿所述第一SFR拟合曲线中的物距值，以获得调整后所述待校验测试设备的SFR值与物距的关系式，从而为待校验测试设备根据该关系式补偿峰值测试偏差提供支持。
在一些实施例中，根据所述最大峰值差补偿所述第一SFR拟合曲线中的SFR值，以及根据所述物距差补偿所述第一SFR拟合曲线中的物距值，包括：所述最大峰值差为零值，所述第一SFR拟合曲线中的SFR值保持原SFR值；所述物距差为非零值，将所述第一SFR拟合曲线中的物距值与所述物距差进行减法。从而通过对待校验测试设备的最大峰值处对应的物距值进行补偿，即可降低待校验测试设备与标准测试设备之间的测试误差。
在一些实施例中，根据所述最大峰值差补偿所述第一SFR拟合曲线中的SFR值，以及根据所述物距差补偿所述第一SFR拟合曲线中的物距值，包括：所述物距差为零值，所述第一SFR拟合曲线中的物距值保持原物距值；所述最大峰值差为非零值，将所述第一SFR拟合曲线中的SFR值与所述最大峰值差进行减法。从而通过对待校验测试设备的SFR值进行补偿，即可降低待校验测试设备与标准测试设备之间的测试误差。
在一些实施例中，根据所述最大峰值差补偿所述第一SFR拟合曲线中的SFR值，以及根据所述物距差补偿所述第一SFR拟合曲线中的物距值，包括：所述最大峰值差和所述物距差均为非零值，将所述第一SFR拟合曲线中的SFR值与所述最大峰值差进行减法，将所述第一SFR拟合曲线中的物距值与所述物距差进行减法。从而通过对待校验测试设备的SFR值和物距值进行补偿，即可降低待校验测试设备与标准测试设备之间的测试误差。
在一些实施例中，获取第一组SFR值和第二组SFR值，包括：每隔预设时间，获取所述第一组SFR值和所述第二组SFR值，以便于对待校验测试设备重新进行误差调试，提高待校验测试设备的精准度。
在一些实施例中，所述方法还包括：将校正后所述待校验测试设备的SFR值与物距的关系式发送给所述待校验测试设备，从而使待校验测试设备根据该关系式补偿峰值测试偏差值，以使待校验测试设备在多段物距下与标准测试设备保持一致。
本发明第二方面实施例提供一种非临时性计算机存储介质，其上存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被处理器执行时实现上述实施例所述的校验摄像头模组性能测试设备的方法，从而可以减少摄像头模组离焦情况下待校验测试设备的调试误差问题，使得待校验测试设备可以获得精准的调试，提高待校验测试设备的校验精度。
本发明第三方面实施例提供一种电子设备，所述电子设备在校正所述摄像头模组性能测试设备时，适于与待校正测试设备的测试图像处理端、标准测试设备的测试图像处理端分别连接，所述电子设备包括：处理器；与所述处理器通信的存储器；其中，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现上述实施例所述的校验摄像头模组性能测试设备的方法。
根据本发明实施例的电子设备，通过处理器执行上述实施例提供的校验摄像头模组性能测试设备的方法，可以提高待校验测试设备的校验精度。
本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1是根据本发明一个实施例的校验摄像头模组性能测试设备的方法的流程图；
图2是根据本发明一个实施例的改变摄像头模组物距的示意图；
图3是根据本发明一个实施例的待校验测试设备与标准测试设备的峰值测试偏差值的示意图；
图4是根据本发明另一个实施例的待校验测试设备与标准测试设备的峰值测试偏差值的示意图；
图5是根据本发明一个实施例的电子设备的结构框图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，参考附图描述的实施例是示例性的，下面详细描述本发明的实施例。
为了解决上述问题，下面参考附图描述根据本发明第一方面实施例提出的校验摄像头模组性能测试设备的方法，该方法，在摄像头模组产品出现离焦的情况下，可以提高待校验测试设备的校验精度。
图1所示为本发明实施例提供的校验摄像头模组性能测试设备的方法，如图1所示，本发明实施例的方法至少包括步骤S1-S3。
步骤S1，获取第一组SFR值和第二组SFR值。
其中，第一组SFR值为基于摄像头模组多个不同物距下待校验测试设备获得的测试图像得到，第二组SFR值为基于摄像头模组多个不同物距下标准测试设备获得的测试图像获得。
在实施例中，通过将摄像头模组分别放置在待校验测试设备和标准测试设备进行测试，基于测试设备内部可以调节chart高度，实现多个不同物距下测试的目的，即本发明实施例的方法采用多段物距测试的方式，分别获取待校验测试设备和标准测试设备在不同物距下对应的SFR值，以便于多方位对比待校验测试设备与标准测试设备的测试差异，从而可以减少摄像头模组离焦情况下待校验测试设备的调试误差问题，利于使待校验测试设备获得更加精准的调试，提高待校验测试设备的校验精度。
具体地，通过改变摄像头模组的物距进行测试，获取不同物距下输出的测试图像，通过软件算法获取每个物距下输出测试图像的解像度即SFR值，从而也就获得多个不同物距与SFR值的对应关系，执行步骤S2。其中，所说的软件算法为本领域技术人员知晓的技术内容，对此不再作详细说明。
举例说明，如图2所示，以最佳对焦35cm物距为例，改变测试物体到摄像头模组的距离即改变物距，物距范围可以是24cm-57cm，其中，在24cm-35cm范围内，可以采用每间隔2cm获取一次SFR值；在35cm-57cm范围内，采用每间隔5cm获取一次SFR值。其中，对于分段规则可以根据实际情况进行设定，对此不作限制，可以理解的是其分段距离越小，则获取的测试分值即SFR值就越多，其对待校验测试设备的调试结果也更加准确。
步骤S2，根据第一组SFR值和第二组SFR值获得待校验测试设备与标准测试设备的峰值测试偏差值。
在实施例中，基于待校验测试设备与标准测试设备均设有独立的图像处理端，可以将获取的第一组SFR值和第二组SFR值传输给对应测试设备的图像处理端，以进行数据处理，进而将待校验测试设备与标准测试设备的测试数据进行比对，若峰值测试偏差值大于一定的误差阈值，则执行步骤S3。
步骤S3，根据峰值测试偏差值校正待校验测试设备的SFR值与物距的关系式。
在实施例中，待校验测试设备的图像处理端可以反馈其测试SFR值与标准测试设备之间的差异即峰值测试偏差值，根据峰值测试偏差值以矫正待校验测试设备的SFR值与物距的关系式，为待校验测试设备根据该关系式补偿测试误差即补偿峰值测试偏差提供支持。
根据本发明实施例的校验摄像头模组性能测试设备的方法，通过分别获取待校验测试设备和标准测试设备在多个不同物距下的SFR值，并根据第一组SFR值与物距的对应关系以及根据第二组SFR值与物距的对应关系，对待校验测试设备与标准测试设备进行对比，即本发明实施例采用多段物距测试及多方位对比测试数据的方式，来获取峰值测试偏差值，从而可以减少摄像头模组离焦情况下待校验测试设备的调试误差问题，利于实现精准调试待校验测试设备的目的。
在一些实施例中，本发明实施例的方法中，对于根据第一组SFR值和第二组SFR值获得待校验测试设备与标准测试设备的峰值测试偏差值，可以包括，基于第一组SFR值和摄像头模组多个不同物距拟合出待校验测试设备的第一SFR拟合曲线，以及基于第二组SFR值和摄像头模组多个不同物距拟合出标准测试设备的第二SFR拟合曲线，进而获取第一SFR拟合曲线的第一最大峰值和第二SFR拟合曲线的第二最大峰值，以及获取第一最大峰值对应的第一物距值和第二最大峰值对应的第二物距值，计算第一最大峰值与第二最大峰值的最大峰值差，以及计算第一物距值与第二物距值的物距差，最大峰值差和物距差作为测试偏差值。也就是，根据第一组SFR值和第二组SFR值，可以通过二阶或者高阶方程对测试结果进行拟合，获取SFR值与不同物距的关系曲线，即第一SFR拟合曲线和第二SFR拟合曲线，进而将第一SFR拟合曲线和第二SFR拟合曲线进行比对，记录最大峰值以及最大峰值处对应的物距，以根据两条拟合曲线的峰值差异和物距差异，对待校验测试设备进行补偿。
在一些实施例中，本发明实施例的方法中，对于根据峰值测试偏差值校正待校验测试设备的SFR值与物距的关系式，可以包括，根据最大峰值差补偿第一SFR拟合曲线中的SFR值，以及根据物距差补偿第一SFR拟合曲线中的物距值，以获得调整后待校验测试设备的SFR值与物距的关系式。
在一些实施例中，本发明实施例的方法中，对于根据最大峰值差补偿第一SFR拟合曲线中的SFR值，以及根据物距差补偿第一SFR拟合曲线中的物距值，可以包括，最大峰值差为零值，第一SFR拟合曲线中的SFR值保持原SFR值；物距差为非零值，将第一SFR拟合曲线中的物距值与物距差进行减法。
举例说明，如图3所示，以35cm物距最佳对焦摄像头模组为例，标准测试设备在35cm最佳物距下处测试平均SFR为0.63，此时待效验测试设备为0.61，即待效验测试设备与标准测试设备在物距为35cm处SFR值有2％的差异，若按照现有的合致方式则会对待校验测试设备进行2％的补偿，但采用本发明实施例的方法通过多段物距测试可以发现，待效验测试设备与标准测试设备的最大峰值差为零值，而物距差为非零值，即待校验测试设备的摄像头模组出现4.5cm的离焦，从而通过补偿待校验测试设备的物距，即可消除该模组的离焦误差，使得两台设备测试分值无差异。
在一些实施例中，本发明实施例的方法中，对于根据最大峰值差补偿第一SFR拟合曲线中的SFR值，以及根据物距差补偿第一SFR拟合曲线中的物距值，可以包括，物距差为零值，第一SFR拟合曲线中的物距值保持原物距值；最大峰值差为非零值，将第一SFR拟合曲线中的SFR值与最大峰值差进行减法。也就是，采用本发明实施例的方法通过多段物距测试可以发现，待效验测试设备与标准测试设备的物距差为零值，而最大峰值为非零值，从而通过补偿待校验测试设备的SFR值，即可消除待校验测试设备的测试误差，使得两台设备测试分值无差异。
在一些实施例中，本发明实施例的方法中，对于根据最大峰值差补偿第一SFR拟合曲线中的SFR值，以及根据物距差补偿第一SFR拟合曲线中的物距值，可以包括，最大峰值差和物距差均为非零值，将第一SFR拟合曲线中的SFR值与最大峰值差进行减法，将第一SFR拟合曲线中的物距值与物距差进行减法。
举例说明，如图4所示，以35cm物距最佳对焦模组为例，标准测试设备在35cm最佳物距下处测试平均SFR为0.63，此时待效验测试设备也为0.63。若按照现有的合致方式则会认为待校验测试设备无需进行补偿，但采用本发明实施例的方法通过多段物距测试可以发现，待效验测试设备与标准测试设备的最大峰值差与物距差均为非零值，如图4所示，待校验测试设备的摄像头模组出现9cm的离焦，并在补偿该离焦量后待校验测试设备的SFR值相较于标准测试设备仍偏高6％，即在该情况下，待校验测试设备出现了两个误差，若按照现有的合致方式两种误差叠加后会隐藏待校验测试设备的测试误差，无法对待校验测试设备进行准确调试，但采用本发明实施例的方法，基于多段物距测试及多方位对比测试数据的方式，可以避免这种测试误差问题，实现精准调试待校验测试设备的目的。
在一些实施例中，本发明实施例的方法中，对于获取第一组SFR值和第二组SFR值，可以包括，每隔预设时间，获取第一组SFR值和第二组SFR值，以便于对待校验测试设备重新进行误差调试，提高待校验测试设备的精准度。
在一些实施例中，本发明实施例的方法还包括，将校正后待校验测试设备的SFR值与物距的关系式发送给待校验测试设备，使待校验测试设备根据该关系式补偿峰值测试偏差值，以使待校验测试设备在多段物距下与标准测试设备保持一致。
下面以图4为例，对本发明实施例中对根据峰值测试偏差值校正待校验测试设备的SFR值与物距的关系式进行详细说明，图4为标准测试设备和待校验测试设备针对SFR值在一定物距范围内进行拟合得到的曲线图，根据第一SFR拟合曲线和第二SFR拟合曲线分别获得解像度与物距的关系式。
举例说明，标准测试设备的SFR值与物距的关系式为：
Y0＝-7E-07X4+0.0001X3-0.0096X2+0.2935X-2.6373(X取值范围：10cm-60cm)
待校验测试设备的SFR值与物距的关系式为：
Y1＝-7E-07X4+0.0001X3-0.0063X2+0.1516X-0.6293(X取值范围：10cm-60cm)
通过计算可以获得，Y0(x)的曲线的最大峰值为Y0_max＝0.63，Y1(x)的曲线的最大峰值为Y1_max＝0.68，所以最大峰值差△y＝Y1_max-Y0_max＝0.05。进而，根据最大峰值处对应的物距值可以获得，Y0(x)的曲线对应最大峰值的物距为X(Y0_max)＝35，Y1(x)的曲线对应最大峰值的物距为X(Y1_max)＝26，所以物距差△x＝X(Y1_max)-X(Y0_max)＝-9。因此，对待校验测试设备进行补偿计算，需要将Y1补偿至Y0相一致的水平，即需要对Y1进行相应的调整，调整后为Y1-0.05＝-7E-07(x+9)4+0.0001(x+9)3-0.0063(x+9)2+0.1516(x+9)-0.6293，输入该程式至待校验测试设备以对不同的物距进行补偿，使待校验测试设备在多段物距下与标准测试设备保持一致，实现精准调试待校验测试设备的目的。
因此，根据本发明实施例的方法，将标准测试设备与待校验测试设备进行样品合致，通过采用多段物距测试，对比MTF拟合曲线于最佳物距处的分值，并多方位精确对比最大峰值及最大峰值处物距的测试数据，以获取两个设备之间的测试差异，进而通过拟合曲线利用校正后的SFR值与物距的关系式，来补偿待校验测试设备的物距、离焦量等差异，使待校验测试设备适用于任何物距以及任何离焦产品的对比，从而使待校验测试设备得到更加精准的调试。
本发明第二方面实施例提供一种非临时性计算机存储介质，其上存储有计算机程序，其中，计算机程序被处理器执行时实现上述实施例提供的校验摄像头模组性能测试设备的方法。
本发明第三方面实施例提供一种电子设备，电子设备在校正摄像头模组性能测试设备时，适于与待校正测试设备的测试图像处理端、标准测试设备的测试图像处理端分别连接，如图5所示，本发明实施例的电子设备1包括处理器3以及与处理器3通信的存储器2。
其中，存储器2中存储有计算机程序，处理器3执行计算机程序时，实现上述实施例提供的校验摄像头模组性能测试设备的方法。
根据本发明实施例的电子设备，通过处理器3执行上述实施例提供的校验摄像头模组性能测试设备的方法，可以提高摄像头模组性能测试设备的精准度。
在本说明书的描述中，流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现定制逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行***、装置或设备(如基于计算机的***、包括处理器的***或其他可以从指令执行***、装置或设备取指令并执行指令的***)使用，或结合这些指令执行***、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行***、装置或设备或结合这些指令执行***、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(RAM)，只读存储器(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。
应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行***执行的软件或固件来实现。如，如果用硬件来实现和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。
本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。
此外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。
上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种校验摄像头模组性能测试设备的方法，其特征在于，所述方法包括：
获取第一组SFR值和第二组SFR值，其中，所述第一组SFR值为基于摄像头模组多个不同物距下待校验测试设备获得的测试图像得到，所述第二组SFR值为基于所述摄像头模组多个不同物距下标准测试设备获得的测试图像获得；
根据所述第一组SFR值和所述第二组SFR值获得所述待校验测试设备与所述标准测试设备的峰值测试偏差值；
根据所述峰值测试偏差值校正所述待校验测试设备的SFR值与物距的关系式。
2.根据权利要求1所述的校验摄像头模组性能测试设备的方法，其特征在于，根据所述第一组SFR值和所述第二组SFR值获得所述待校验测试设备与所述标准测试设备的峰值测试偏差值，包括：
基于所述第一组SFR值和所述摄像头模组多个不同物距拟合出所述待校验测试设备的第一SFR拟合曲线，基于所述第二组SFR值和所述摄像头模组多个不同物距拟合出所述标准测试设备的第二SFR拟合曲线；
获得所述第一SFR拟合曲线的第一最大峰值和所述第二SFR拟合曲线的第二最大峰值，以及获得所述第一最大峰值对应的第一物距值和所述第二最大峰值对应的第二物距值；
计算所述第一最大峰值与所述第二最大峰值的最大峰值差，以及计算所述第一物距值与所述第二物距值的物距差，所述最大峰值差和所述物距差作为所述测试偏差值。
3.根据权利要求2所述的校验摄像头模组性能测试设备的方法，其特征在于，根据所述峰值测试偏差值校正所述待校验测试设备的SFR值与物距的关系式，包括：
根据所述最大峰值差补偿所述第一SFR拟合曲线中的SFR值，以及根据所述物距差补偿所述第一SFR拟合曲线中的物距值，以获得调整后所述待校验测试设备的SFR值与物距的关系式。
4.根据权利要求3所述的校验摄像头模组性能测试设备的方法，其特征在于，根据所述最大峰值差补偿所述第一SFR拟合曲线中的SFR值，以及根据所述物距差补偿所述第一SFR拟合曲线中的物距值，包括：
所述最大峰值差为零值，所述第一SFR拟合曲线中的SFR值保持原SFR值；
所述物距差为非零值，将所述第一SFR拟合曲线中的物距值与所述物距差进行减法。
5.根据权利要求3所述的校验摄像头模组性能测试设备的方法，其特征在于，根据所述最大峰值差补偿所述第一SFR拟合曲线中的SFR值，以及根据所述物距差补偿所述第一SFR拟合曲线中的物距值，包括：
所述物距差为零值，所述第一SFR拟合曲线中的物距值保持原物距值；
所述最大峰值差为非零值，将所述第一SFR拟合曲线中的SFR值与所述最大峰值差进行减法。
6.根据权利要求3所述的校验摄像头模组性能测试设备的方法，其特征在于，根据所述最大峰值差补偿所述第一SFR拟合曲线中的SFR值，以及根据所述物距差补偿所述第一SFR拟合曲线中的物距值，包括：
所述最大峰值差和所述物距差均为非零值，将所述第一SFR拟合曲线中的SFR值与所述最大峰值差进行减法，将所述第一SFR拟合曲线中的物距值与所述物距差进行减法。
7.根据权利要求1所述的校验摄像头模组性能测试设备的方法，其特征在于，获取第一组SFR值和第二组SFR值，包括：每隔预设时间，获取所述第一组SFR值和所述第二组SFR值。
8.根据权利要求1-7任一项所述的校验摄像头模组性能测试设备的方法，其特征在于，所述方法还包括：
将校正后所述待校验测试设备的SFR值与物距的关系式发送给所述待校验测试设备。
9.一种非临时性计算机存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-8任一项所述的校验摄像头模组性能测试设备的方法。
10.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备在校正所述摄像头模组性能测试设备时，适于与待校正测试设备的测试图像处理端、标准测试设备的测试图像处理端分别连接，所述电子设备包括：
处理器；
与所述处理器通信的存储器；
其中，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现权利要求1-8任一项所述的校验摄像头模组性能测试设备的方法。
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