CN111989579A - 元件处理器 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种元件处理器，包括：X‑Y工作台(110)，以X‑Y方向移动装载多个元件(10)的测试板(20)；一对缓冲袋部(210、220)，以在X‑Y工作台(110)的上侧设定的拾取及放置位置(P)为中心配置在两侧，并临时装载元件(10)；一对托盘部(310、320)，包括一个以上的常规托盘(30)，所述一个以上的常规托盘(30)分别与一对缓冲袋部(210、220)相对应地相邻设置，并且装载多个元件(10)；分类托盘部(330)，在装载于测试板(20)完成检查的元件(10)中分类除了优质以外赋予分类等级的元件(10)来装载于托盘(30)；其中，测试板(20)设置有以m×n的排列配置的多个测试插座(21)；测试插座(21)包括：主体部(910)，结合于测试板(20)并且通过插座加压件(45)的加压固定安装在元件安装部的元件(10)或者解除固定；盖部件(920)，与主体部(910)铰链结合并且通过铰链旋转向外部开放或者关闭所述元件安装部；盖部件开放部(590)，从主体部(910)开放盖部件(920)，以在测试插座(21)的元件安装部拾取或者放置元件(10)；盖部件关闭部(580)，在针对测试插座(21)的元件安装部拾取或者放置元件(10)之后，针对主体部(910)关闭所述盖部件(920)。

Description

元件处理器
技术领域
本发明涉及元件处理器，更详细地说，涉及从第一部件拾取元件并将元件装载到第二部件或者从第一部件拾取元件将另一元件装载于空位置的元件处理器。
背景技术
半导体元件(以下，称为“元件”)在完成封装工艺之后经过各种检查，诸如针对电特性、热或者压力的可靠性检查等。
这种针对半导体元件的检查中有老化测试(Burn-in Test)，老化测试为将多个元件***于预烧板，将该预烧板收纳于老化测试装置内并施加预定时间期间的热或者压力之后分辨在元件是否出现缺陷的测试。
老化测试用元件处理器通常是指根据优质、不合格品等各个元件的检查结果从装载有完成老化测试的元件的预烧板向各个托盘分类(卸载)元件，同时在元件所在的预烧板的空位置(插座)重新***(装载)待执行老化测试的新的元件。
另一方面，如上所述的元件处理器的性能是由每单位时间分类个数(UPH:UnitsPer Hour)来评价，UPH取决于在构成元件处理器的各个构件之间运送元件、预烧板的运送所需时间。
从而，为了提高UPH，即元件处理器的性能，有必要改善功能、改善各个构件的结构、配置等。
如上所述，作为用于提供UPH的元件处理器有韩国授权专利第10-1133188号(专利文献1)、韩国授权专利第10-1177319号(专利文献2)、韩国公开专利第10-2016-48628号(专利文献3)等。
另一方面，SDRAM(同步动态随机存取内存)、近来NAND闪存等规格化元件的市场规模的扩大，增加扩大大量生产。
然后，在元件的大量生产中，对元件的检查需求也在增加，因此作为后续工艺有必要设置多个根据检查结果来分类元件的元件处理器。
据此，在元件处理器中，由于设备的占地面积根据诸如托盘、板之类的设备内部的物流供应结构而变化，因此该装置的托盘、板的供应结构等在装置的配置中是非常重要的元素。
另外，根据BGA等元件的端子结构，若在预烧板上元件安装错误，则也作用于故障乃至检查错误的原因，因此在预烧板等测试板上装载时元件位于准确的位置也非常重要。
另外，根据元件检查的种类，设置在用于检查元件的测试板的测试插座为可铰链结合在装载元件之后进行覆盖的盖部件920，在该情况下，盖部件的开放和关闭对UPH(元件处理器的性能)产生很大的影响。
发明内容
(要解决的问题)
本发明的目的在于提供一种元件处理器，考虑到如上所述的观点，在针对测试板执行元件的装载/卸载时可将元件快速且准确的装载于测试板的测试插座。
(解决问题的手段)
本发明是为了达到如上所述的目的而提出的，本发明公开了一种元件处理器，包括：X-Y工作台110，以X-Y方向移动装载多个元件10的测试板20；一对缓冲袋部210、220，以在X-Y工作台110的上侧设定的拾取及放置位置P为中心配置在两侧，并临时装载元件10；一对托盘部310、320，包括一个以上的常规托盘30，所述一个以上的常规托盘30分别与一对缓冲袋部210、220相对应地相邻设置，并且装载多个元件10；分类托盘部330，在装载于测试板20完成检查的元件10中分类除了优质以外赋予分类等级的元件10来装载于托盘30；其中，测试板20设置有以m×n的排列配置的多个测试插座21；测试插座21包括：主体部910，结合于测试板20并且通过插座加压件45的加压固定安装在元件安装部的元件10或者解除固定；盖部件920，与主体部910铰链结合并且通过铰链旋转向外部开放或者关闭所述元件安装部；盖部件开放部590，从主体部910开放盖部件920，以在测试插座21的元件安装部拾取或者放置元件10；盖部件关闭部580，在针对测试插座21的元件安装部拾取或者放置元件10之后，针对主体部910关闭所述盖部件920。
(发明的效果)
本发明的元件处理器为在设置在测试板的测试插座具有可铰链旋转的盖部件时，通过针对构成测试插座的主体部开放盖部件的开放过程、在开放过程之后拾取及/或者放置元件的拾取放置过程、在拾取放置过程之后针对主体部关闭盖部件的关闭过程来执行元件的拾取放置工作，进而具有能够大幅度提高每时间单位分类个数(UPH:Units Per Hour)的优点。
附图说明
图1是示出本发明的元件处理器的一示例的平面配置图。
图2是示出本发明的元件处理器的另一示例的平面配置图。
图3是示出在图1及图2的元件处理器中的盖部件的开放、元件的拾取放置及盖部件关闭过程的概图。
图4示出在图3的概念图中测试插座的运作过程的扩大概念图。
图5、图2(a)至图2(c)是分别在图1或者图2中测试板、缓冲袋及常规托盘上的元件的平面尺寸对比安装槽的误差的剖面图。
具体实施方式
以下，参照附图如下说明本发明的元件处理器。
如图1及图2所示，本发明的元件处理器包括：X-Y工作台110，以X-Y方向移动装载多个元件10的测试板20；一对缓冲袋部210、220，以在X-Y工作台110上侧设定的拾取及放置位置P为中心配置在两侧，并且临时装载元件10；一对托盘部310、320，与一对缓冲袋部210、220分别相对应地相邻设置，并且包括装载多个元件10的一个以上的常规托盘30；分类托盘部330，在装载于测试板20并完成检查的元件10中，分类除了优质以外赋予分类等级的元件10来装载于托盘30。
所述测试板20作为设置有测试插座21以测试元件10的板，可以是用于老化测试的预烧板等。
作为一示例，所述测试板20作为预烧板，具有形成有分别***元件10的插座安装部(未示出)的测试插座21，以在高温下能够执行针对电特性、信号特性的测试。
另一方面，插座加压件45设置在后述的X-Y工作台110上，所述插座加压件45为在所述测试插座21装载及导出元件20时开放插座21。
所述测试板20根据操作模式，即只装载操作模式、只卸载操作模式、装载/卸载操作模式等可卸载搭载于元件处理器的X-Y工作台110的完成测试的元件10或者可装载待执行测试的元件10。
尤其是，如图3及图4所示，所述测试插座21可包括：主体部910，结合于测试板20并且通过插座加压件45的加压对安装在元件安装部的元件10进行固定或者解除固定；盖部件920，与主体部910铰链结合，通过铰链旋转向外部开放或者关闭元件安装部。
所述主体部910作为结合于测试板20并且通过插座加压件45的加压对安装在元件安装部的元件10进行固定或者解除固定的结构，可具有各种结构。
尤其是，所述主体部910为设置有端子连接部和元件固定部等，所述端子连接部用于与设置在测试板20上的端子部(未示出)电连接，所述元件固定部通过插座加压件45的加压固定安装在元件安装部的元件10或者或者解除固定，根据端子连接部、元件固定部等的结构可具有各种结构。
所述盖部件920作为与主体部910铰链结合通过铰链旋转以向外部开放或者关闭元件安装部的结构，根据结合结构可具有各种结构。
作为一示例，所述盖部件920可设置锁扣部921，所述锁扣部921为以水平方向为基准在一侧与主体部910铰链结合，在另一侧在关闭元件安装部的状态下与主体部910保持结合状态。
尤其是，所述盖部件920为可结合于弹性部件(未示出)与主体部910结合的铰链部分，所述弹性部件以针对主体部910开放盖部件920的方向施加弹力，以通过后述的盖部件开放部590的操作能够进行开放。
此时，优选为，所述盖部件920针对主体部910的上面旋转90°以上，以不妨碍后述的插座加压件45的动作、第一主运送工具510及第二主运送工具520的移动。
所述X-Y工作台110作为以X-Y方向移动装载多个元件10的测试板20的结构，可具有各种结构。
然后，所述X-Y工作台110包括预烧板交换装置(未示出)，以从外部接收测试板20或者向外部排出测试板20。
然后，所述X-Y工作台110结构如下：通过X-Y工作台驱动部(未示出)驱动使测试板20移动，进而通过第一主运送工具510及/或者第二主运送工具520可在测试板20的测试插座21的空位置***元件10或者从测试板20导出元件10。
所述X-Y工作台驱动部为与第一主运送工具510及第二主运送工具520联动，根据操作模式(只装载操作模式、只卸载操作模式、装载/卸载操作模式)以进行装载测试板20的X-Y工作台110的X-Y移动或者X-Y-θ移动等，以使第一主运送工具510及第二主运送工具520容易从测试板20导出元件10或者装载元件10，可具有各种结构。
例如，装载/卸载操作模式的情况下，X-Y工作台驱动部可构成为，移动X-Y工作台110，以与第一主运送工具510联动以从测试板20导出元件10，同时与第二主运送工具520联动将元件10***到测试板20的空位置，若完成在测试板20***元件10，则可使X-Y工作台110移动到板交换位置。
另一方面，所述X-Y工作台110设置在构成本发明的元件处理器的主体，主体可包括上板1，所述上板1形成有开口部1a，以用于第一主运送工具510及第二主运送工具520从测试板20导出元件10或者装载元件10。
然后，在所述X-Y工作台110的上侧设置有插座加压件45，所述插座加压件45加压设置在测试板20的插座21，以便于从测试板20导出元件及装载元件。
所述插座加压件45使插在测试板20的插座的元件能够导出或者能够装载，并且根据测试板20的插座的结构可具有各种结构。
所述一对缓冲袋部210、220作为以设定在X-Y工作台110上侧的拾取及放置位置P为中心配置在两侧并临时装载元件10的结构，可具有各种结构。
作为一示例，所述缓冲袋部210、220可具有多个口袋231，所述多个口袋231与构成第一主运送工具510及第二主运送工具520的拾取器的数量相对应来临时放置元件10。
然后，所述缓冲袋部210、220优选结构为针对在安装的元件10中除了优质以外的分类等级的元件10移动到分类工具550可拾取的分类位置，以通过后述的分类工具550可装载到分类托盘部330的托盘30。
此时，所述缓冲袋部210、220可构成为使多个口袋231全部移动到分类位置或者在多个口袋231中只使形成安装有赋予分类等级的元件10的口袋231的块部件230移动到分类位置。
另一方面，所述缓冲袋部210、220作为在从常规托盘30接收元件10来传递至测试板20之前临时装置或者从测试板20接收元件10来传递至常规托盘30之前临时装载的托盘，根据只装载操作模式、只卸载操作模式、装载/卸载操作模式等操作模式可临时装载元件10。
以供参考，将从常规托盘30向测试板20装载待执行测试的元件10的过程可定义为只装载操作模式、将从测试板20向常规托盘30装载完成测试的元件10的过程可定义为只卸载操作模式，将从测试板20向常规托盘30装载完成测试的元件10的同时在从第一托盘部310向测试板10导出元件10的测试板20上的插座装载元件10的过程可定义为装载/卸载操作模式。
本发明的元件处理器为，在图1及图2示出的元件处理器的情况下，作为操作模式可选择性执行只装载操作模式、只卸载操作模式、装载/卸载操作模式中的一种模式。在此，在图2示出的元件处理器的情况为最适合于装载/卸载操作模式的配置。
另一方面，如图5(a)至图5(c)所示，所述缓冲袋部210、220在从常规托盘30接收元件10来传递至测试板20之间临时装载的情况下，形成在缓冲托盘230的元件安装槽231的平面尺寸对比元件10的平面尺寸的误差Δx2、Δy2优选为小于在常规托盘30安装元件10的元件安装槽31的平面尺寸对比元件10的平面尺寸的误差Δx1、Δy1。
该原因是近来随着元件10变得小型化或者BGA等的种类及规格变得多样化，在测试插座21更加准确安装元件10非常重要。
尤其是，在BGA的情况下，当今趋势为形成细间距，所以需要准确对准元件10端子及测试插座21中的测试端子之间，为此有必要将元件10准确装载于测试插座21上。
然而，在以往常规托盘30的情况下，元件10的平面尺寸对比测试插座21的元件安装部22的尺寸偏差Δx3、Δy3大，因此存在难以准确对准元件10的端子及测试插座21中的测试端子之间的问题。
据此，利用与常规托盘30不同规格的其他单独的块部件230，进而减小元件10对比平面尺寸的误差Δx、Δy来安装在测试板20的测试插座21，进而在测试插座21能够更加准确地安装元件10。
另一方面，所述缓冲袋部210、220可包括以在X-Y工作台110上侧设定的拾取及放置位置P为中心相互面对设置的第一缓冲袋部210及第二缓冲袋部220。
所述一对托盘部310、320作为包括分别与一对缓冲袋部210、220相对应地相邻设置来装载多个元件10的一个以上的常规托盘30的结构，可具有各种结构。
作为一示例，所述托盘部310、320可包括：第一托盘部310，设置有一个以上的常规托盘30，所述一个以上的常规托盘30与第一缓冲袋部210相邻设置并且装载多个元件10；第二托盘部320，设置有一个以上的常规托盘30，所述一个以上的常规托盘30与第二缓冲袋部210相邻设置并且装载多个元件10。
另一方面，所述托盘部310、320可设置2D扫描仪(未示出)，所述2D扫描仪设置在常规托盘30上部，以用于检查托盘盖、常规托盘30本身、装载于常规托盘30的元件10等、识别QR码等。
对于所述托盘部310、320，与专利文献1至3相同，通常构成为包括引导部、驱动部(未示出)，所述引导部引导常规托盘30移动，所述驱动部用于移动常规托盘30。
然而，所述托盘部310、320也可以是一个常规托盘30暴露在外部，而剩余图片装载在主体(未示出)内可被单独的托盘运送装置运送。
另一方面，本发明的元件处理器可包括分类托盘部330，所述分类托盘部330为根据分类基准设置托盘30，可根据检查结果从位于预定位置的缓冲袋部210、220分类装载在操作模式中的只卸载操作模式及装载/卸载操作模式的情况下从测试板20导出的元件20。
尤其是，所述分类托盘部330根据位置可进行多样的配置，诸如在图1示出的元件处理器、在图2示出元件处理器。
所述分类托盘部330作为根据分类标准(根据不合格标准，有BIN#1、#2)等设置托盘30以根据检查结果分类装载从测试板20导出的元件20的结构，可具有各种结构。
作为一示例，如图1所示，所述分类托盘部330可设置在第一托盘部310及第二托盘部320之间。
具体地说，所述分类托盘部330可由沿着第一托盘部310及第二托盘部320的配置方向、后述的第一主运送工具510及第二主运送工具520的移动路线配置的多个托盘30构成。
在此，所述各个托盘30为根据分类标准(根据不合格标准，有BIN#1、#2等)设置其数字。
然后，针对所述分类托盘部330供应及排出托盘30可通过各种方法执行运送，诸如通过设置在主体内部或者设置在上侧的托盘运送装置(未示出)运送。
另一方面，针对在所述缓冲袋部210、220安装的元件10中除了优质以外的分类等级的元件10移动到分类工具550可拾取的分类位置，以通过后述的分类工具550装载到分类托盘部330的托盘30；位于分类位置的元件10被分类工具550拾取，根据分类等级运送到分类托盘部330的托盘30。
此时，所述分类工具550根据元件10的移动路径能够以各种移动路径移动，诸如以X轴方向移动、Y轴方向移动、X-Y轴方向移动等。
另一方面，与所述分类托盘部330相邻地还可设置空托盘部391、托盘旋转部392，所述空托盘部391临时装载空托盘30，所述托盘旋转部392旋转托盘30移除可残留的元件10。
作为另一示例，如图2所示，所述分类托盘部330可设置在第一托盘部310及第二托盘部320的一侧，作为一示例可设置在第二托盘部320的一侧。
尤其是，所述分类托盘部330可与上述的托盘部310、330相同或者类似地构成。
即，所述分类托盘部330与专利文献1至3相同，可构成为包括引导部、驱动部(未示出)，所述引导部引导常规托盘30移动，所述驱动部用于移动常规托盘30。
另一方面，针对在所述缓冲袋部210、220安装的元件10中除了优质以外的分类等级的元件10移动到分类工具550可拾取的分类位置，以通过后述的分类工具550装载到分类托盘部330的托盘30；位于分类位置的元件10被分类工具550拾取，根据分类等级运送到分类托盘部330的托盘30。
此时，与图1示出的元件处理器不同，所述分类工具550能够以X轴方向移动。
另一方面，在所述分类托盘部330的最外角侧可设置临时装载空出来的托盘30的空托盘部。
所述空托盘部作为临时装置空出的托盘30的结构，与专利文献1至3相同，可构成为包括引导部、驱动部(未示出)，所述引导部引导常规托盘30移动，所述驱动部用于移动常规托盘30。
另一方面，所述空托盘部、托盘部310、320、分类托盘部330可使用共同的常规托盘30，并且在前方侧及后方侧中的至少一侧可设置运送托盘的托盘运送装置(未示出)，以在空托盘部、托盘部310、320、分类托盘部330之间运送托盘。
另外，在所述运行模式中，执行装载/卸载操作模式时，第一托盘部310可由装载装有待执行检查的元件10的托盘30的装载部构成，第二托盘部320可由卸载部构成，所述卸载部装载待装载在装载于测试板20完成检查的元件10中分类为优质的元件10的托盘30。
此时，在所述第一托盘部310的一侧配置临时装载待传递至装载部的托盘30的装载缓冲部311，在第二托盘部320的一侧可配置临时装载待传递至卸载部的托盘30的装载缓冲部311。
另外，在所述第二托盘部320的一侧可配置盖托盘部301，所述盖托盘部301为在开始装载时临时装载多个托盘30中位于最上侧的盖托盘。
在此，所述盖托盘作为在开始装载时在多个托盘30中位于最上边的盖或者在完成卸载时在层叠的多个托盘30中待位于最上边的盖，可具有RFID、QR码等各种标记，以实现物流自动化。
另一方面，在图2示出的元件处理器为，与用于对元件处理器自动供应托盘30的物流线连接，将一个以上的托盘以物流单位引入或者向外部排出。
在此，在所述物流单位的托盘需要调换前方及后方来供应或者排出的情况下，在图2示出的元件处理器的一侧可设置翻转部610，所述翻转部610通过旋转翻转物流单位的托盘的前方及后方。
在此，在所述翻转部610及元件处理器之间可设置诸如传送带的运送线620，用于交换物流单位的托盘。
所述翻转部610作为设置在元件处理器的一侧通过旋转来翻转物流单位的托盘的结构，可具有各种结构，在可设定翻转后运送物流单位的托盘的运送路线611。
另一方面，为了运送所述元件10，本发明的元件处理器包括：一个以上的主运送工具510、520，在缓冲袋部210、220及拾取及放置位置P之间沿着引导线路591移动来运送元件10；一个以上的元件运送工具530、540，在托盘部310、320及缓冲袋部210、220的正侧位置之间运送元件10；一个以上的分类工具550，在分类托盘部330及缓冲袋部210、220的分类位置之间运送元件10。
所述一个以上的主运送工具510、520作为在缓冲袋部210、220及拾取及放置位置P之间沿着引导线路591移动来运送元件10的结构，可具有各种结构。
作为一示例，所述主运送工具510、520可包括：第一主运送工具510，在第一缓冲袋部210及测试板20之间运送元件10；第二主运送工具520，在第二缓冲袋部220及测试板20之间运送元件10。
然后，所述一个以上的分类工具550作为在分类托盘部330及缓冲袋部210、220的分类位置之间运送元件10的结构，可具有各种结构。
所述元件运送工具530、540作为在托盘部310、320及缓冲袋部210、220的正侧位置之间运送元件10的结构，可具有各种结构。
作为一示例，所述元件运送工具530、540可包括：第一元件运送工具530，在第一托盘部310及第一缓冲袋部210之间运送元件10；第二元件运送工具520，在第二托盘部320及第二缓冲袋部220之间运送元件10。
另一方面，所述运送工具510、520、530、540、550为用于运送元件10的结构，根据各个结构的配置可具有各种结构。
例如，所述第一主运送工具510根据操作模式可从测试板20导出元件10或者可向测试板20装载元件10。
所述第二主运送工具520根据操作模式可从测试板20导出元件10，或者可向测试板20装载元件10。
另一方面，装载于所述测试板20的元件10的排列与装载于托盘部310、320等的常规托盘30的元件10的排列相互不同，测试板20上的排列相对较多。
从而，向所述测试板20运送元件10或者导出元件10的第一主运送工具510及第二主运送工具520优选构成为相比于剩余运送工具运送数量相对较多的元件10。例如，第一主运送工具510及第二主运送工具520为5×2，而剩余运送工具可以是4×1等。
如上所述构成运送工具的情况下，除了需要运送数量相对较多的元件10的位置以外，在需要运送数量相对较少的元件10的位置能够使用运送少量元件10的运送工具，进而在节省制造成本的同时可提高装置的尺寸及稳定性。
另一方面，所述第一主运送工具510及第二主运送工具520可构成为考虑到根据操作模式交替执行在测试板20上装载及导出元件10彼此可一体地移动。
另外，所述第一主运送工具510及第二主运送工具520的拾取器的横向个数为，考虑到元件10的效率，可与缓冲托盘230中用于装载元件10的元件收容槽(未示出)的横向个数相同。
另一方面，所述第一副运送工具530及第二副运送工具540优选构成为考虑到分别与第一主运送工具510及第二主运送工具520相对应来运送元件10，第一主运送工具510及第二主运送工具520的拾取器的横向个数相同。
另一方面，通常所述测试板20上的元件10之间的间距和常规托盘30上的元件10之间的间距相互不同(2倍)，为此所述“第一主运送工具510及第二主运送工具520”及“第一元件运送工具530及第二元件运送工具540”中的一组优选构成为改变由拾取器拾取的元件10之间的间距。
另一方面，所述运送工具510、520、530、540、550分别可包括：一个以上的拾取器，在末端具有吸附头，所述吸附头通过真空压吸附元件10；拾取器运送装置，用于以X-Z、Y-Z或者X-Y-Z方向移动拾取器。
尤其是，所述运送工具510、520、530、540、550为拾取器可排成一列，或者可配置成多列，诸如5×2、4×2等。
另一方面，如图1及图2所示，本发明的元件处理器包括板装载器800，所述板装载器800设置在一侧能够持续接收测试板20。
所述板装载器800为从外部接收装载有元件10的测试板20并将测试板20传递至所述X-Y工作台110，以及从所述X-Y工作台110接收完成元件10装载的测试板20向外部排出测试板20的结构，即作为用于X-Y工作台110持续交换测试板20的结构，可具有各种结构，诸如由在专利文献3公开的板装载器800构成等。
尤其是，所述板装载器800还可包括安装状态***，所述安装状态***为在从X-Y工作台110接收完成元件10装载的测试板20并向外部排出测试板20之前检查在测试板20上安装元件10的安装状态。
尤其是，若所述板装载器800与托盘部310、320相邻设置，则在与装载部100的托盘运送方向垂直的方向为Y轴时，优选为针对托盘部310、320以X轴方向结合。
此时，通过如上所述的板装载器800的结合装载有测试板20的支架50在装置的右侧，尤其是与装载部100相邻能够以X轴方向导入或者排出。
另外，在所述板装载器800及装载部100之间或者板装载器800可设置用于针对测试板20识别QR码等的2D扫描仪(未示出)等。
尤其是，所述2D扫描仪优选设置在板装载器800及装载部100之间，以在从板装载器800到X-Y工作台110之间传递测试板20的传递过程中识别QR码等。
另一方面，如上所述，所述测试板20设置有以m×n(m及n为2以上的自然数)的排列配置的多个测试插座21，测试插座21可包括：主体部910，结合于测试板20并且通过插座加压件45的加压固定安装在元件安装部的元件10或者解除固定；盖部件920，与主体部910铰链结合，通过铰链旋转向外部开放或者关闭所述元件安装部。
在该情况下，在执行元件10的拾取或者放置时，有必要在测试插座21开放并关闭盖部件920。
据此，本发明的元件处理器可包括：盖部件开放部590，从主体部910开放盖部件920，以在测试插座21的元件安装部拾取或者放置元件10；盖部件关闭部580，在针对测试插座21的元件安装部拾取或者放置元件10之后针对主体部910关闭盖部件920。
所述盖部件开放部590作为从主体部910开放盖部件920以在测试插座21的元件安装部拾取或者放置元件10的结构，可具有各种结构。
尤其是，所述盖部件开放部590根据针对主体部910的盖部件920的结合结构可具有各种结构。
作为一示例，所述盖部件开放部590通过X轴方向移动、Y轴方向移动、Z轴方向移动及θ旋转中的至少一种移动可开放结合于主体部910的盖部件920。
所述盖部件关闭部580作为在针对测试插座21的元件安装部拾取或者放置元件10之后针对主体部910关闭盖部件920的结构，可具有各种结构。
尤其是，所述盖部件关闭部580根据针对主体部910的盖部件920的结合结构可具有各种结构。
作为一示例，所述盖部件关闭部580通过X轴方向移动、Y轴方向移动、Z轴方向移动及θ旋转中的至少一种的移动可开放结合于主体部910的盖部件920。
另一方面，如图3及图4所示，针对所述测试插座21的元件10的拾取及放置过程以开放盖部件920、拾取及放置元件10、关闭盖部件920的顺序执行。
据此，所述盖部件开放部590及盖部件关闭部580优选为以执行元件10的拾取及放置的第一主运送工具510及第二主运送工具520的移动路径为基准，以通过第一主运送工具510及第二主运送工具520拾取及放置元件10的位置为中心相互面对配置。
此时，所述盖部件开放部590及盖部件关闭部580的配置间隔优选为在测试插座21位于第一主运送工具510及第二主运送工具520的移动路径时彼此隔着测试板20上的一个以上的测试插座21间隔配置。
通过如上所述的结构，在测试插座21配置盖部件920的情况下，具有元件10的拾取及放置工作快速执行可大幅度增加每单位时间分类个数(UPH:Units Per Hour)的优点。
以上仅是对可由本发明实现的优选实施例的一部分进行了说明，因此众所周知本发明的范围不得限定于上述的实施例来进行解释，以上说明的本发明的技术思想及其根本的技术思想全部包括在本发明的范围内。

Claims (1)

1.一种元件处理器，包括：
X-Y工作台(110)，以X-Y方向移动装载多个元件(10)的测试板(20)；
一对缓冲袋部(210、220)，以在X-Y工作台(110)的上侧设定的拾取及放置位置(P)为中心配置在两侧，并临时装载元件(10)；
一对托盘部(310、320)，包括一个以上的常规托盘(30)，所述一个以上的常规托盘(30)分别与所述一对缓冲袋部(210、220)相对应地相邻设置，并且装载多个元件(10)；
分类托盘部(330)，在装载于所述测试板(20)完成检查的元件(10)中分类除了优质以外赋予分类等级的元件(10)来装载于托盘(30)；
其中，所述测试板(20)设置有以m×n的排列配置的多个测试插座(21)；
所述测试插座(21)包括：主体部(910)，结合于所述测试板(20)并且通过插座加压件(45)的加压固定安装在元件安装部的元件(10)或者解除固定；盖部件(920)，与主体部(910)铰链结合并且通过铰链旋转向外部开放或者关闭所述元件安装部；
盖部件开放部(590)，从所述主体部(910)开放盖部件(920)，以在所述测试插座(21)的元件安装部拾取或者放置元件(10)；
盖部件关闭部(580)，在针对所述测试插座(21)的元件安装部拾取或者放置元件(10)之后，针对所述主体部(910)关闭所述盖部件(920)。
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