CN111929561B - 面向多构型***配置的适配装置 - Google Patents
面向多构型***配置的适配装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN111929561B CN111929561B CN202010437916.9A CN202010437916A CN111929561B CN 111929561 B CN111929561 B CN 111929561B CN 202010437916 A CN202010437916 A CN 202010437916A CN 111929561 B CN111929561 B CN 111929561B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- resource
- test
- simulation
- signal
- calling unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2836—Fault-finding or characterising
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2836—Fault-finding or characterising
- G01R31/2846—Fault-finding or characterising using hard- or software simulation or using knowledge-based systems, e.g. expert systems, artificial intelligence or interactive algorithms
- G01R31/2848—Fault-finding or characterising using hard- or software simulation or using knowledge-based systems, e.g. expert systems, artificial intelligence or interactive algorithms using simulation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Artificial Intelligence (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
- Telephone Function (AREA)
Abstract
本申请涉及一种面向多构型***配置的适配装置。该装置包括:测试资源调用模块,与多个测试***通信连接,用于从多个测试***调用与被试***的测试信号匹配的测试资源,其中,测试信号为针对不同型号的被试***调用不同的测试资源的信号;标准测试接口,与测试资源调用模块连接,用于接入被试***。本申请利用包括检测构型适配模块、仿真试验构型适配模块、故障注入构型适配模块、特性分析构型适配模块及接口自检模块的测试资源调用模块,通过标准测试接口和被试***连接时,在获取到被试***的测试信号的情况下从多个测试***调用该被试***需要的测试资源,实现通用适配,节约生产成本,提高了测试效率,并提高了该适配装置的便捷性。
Description
技术领域
本申请涉及自动测试技术领域,尤其涉及一种面向多构型***配置的适配装置。
背景技术
随着电子信息技术的迅速发展及电子设备集成化程度的提高,对雷达等较复杂的电子设备进行测量、仿真试验时因为待测的电路、部件种类繁多,数量庞大且接口形式千差万别,在实际操作中面临巨大困难。
自动化测试设备(ATE,Automatic Test Equipment),其测试对象是各种各样的电路单元,被测电路单元种类多,接口形式千差万别,为了克服接口与被测电路单元接口适配的问题,以往多采用一个被测单元(UUT,Unit Under Test)配置一块适配板的方式。采用这一方式,完成例如雷达这种电子装备电路板的测试,将需要配置数千块适配板,数量极其庞大,其适配成本相当的昂贵。并且这种一对一的适配方法的另一弊端就是测试流程开发时在软件平台需逐一指定适配信号,效率较低。
目前,相关技术中,已研究出接口适配通用技术,基本都通过矩阵开关实现信号的自动切换。本申请发明人在研究过程中发现,接口适配通用技术由于信号路由规模较小、自动化程度较低,同时由电路单元信号多种多样,尤其是各种数字信号及脉冲信号,对信号通道的带宽要求很高,实际情况下仍然不能很好地解决接口通用适配的问题,检测效率低,成本昂贵,严重影响自动化测试设备在电路单元测试领域的应用。
针对上述的问题,目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本申请提供了一种面向多构型***配置的适配装置,以解决上述“适配困难、测试效率低”的技术问题。
本申请提供的一种面向多构型***配置的适配装置,包括:测试资源调用模块,与多个测试***通信连接,用于从多个测试***调用与被试***的测试信号匹配的测试资源,其中,测试信号为针对不同型号的被试***调用不同的测试资源的信号;标准测试接口,与测试资源调用模块连接,用于接入被试***。
可选地,测试资源调用模块包括:检测构型适配模块,包括仿真测试资源调用单元和仿真信号模拟资源调用单元;仿真测试资源调用单元和仿真信号模拟资源调用单元通信连接;仿真测试资源调用单元、仿真信号模拟资源调用单元分别与被试***接口通信连接。
可选地,测试资源调用模块还包括:仿真试验构型适配模块,包括数据采集资源调用单元;数据采集资源调用单元通过通信连接,连接于仿真测试资源调用单元、仿真信号模拟资源调用单元与被试***接口之间。
可选地,测试资源调用模块还包括:故障注入构型适配模块,包括故障注入资源调用单元;故障注入资源调用单元通过通信连接,连接于仿真测试资源调用单元、仿真信号模拟资源调用单元与被试***接口之间。
可选地,测试资源调用模块还包括:特性分析构型适配模块,包括传感器特性分析调用单元;传感器特性分析调用单元通过通信连接,连接于仿真测试资源调用单元、仿真信号模拟资源调用单元与被试***接口之间。
可选地,测试资源调用模块还包括:接口自检模块,包括被试接口;被试接口与故障注入资源调用单元和数据采集资源调用单元通信连接。
可选地,该适配装置还包括:电连接器,连接于标准测试接口和被试***接口之间,用于该适配装置与被试***的连接。
可选地,该适配装置还包括:机笼,套设于测试资源调用模块外部;背板,与机笼和测试资源调用模块可拆卸连接,用于固定测试资源调用模块;框架,套设于机笼外部;上盖、面板,与框架可拆卸连接;接口测试适配器框,与框架可拆卸连接。
本申请实施例提供的上述技术方案与相关技术相比具有如下优点:
采用本申请的一种面向多构型***配置的适配装置,利用包括检测构型适配模块、仿真试验构型适配模块、故障注入构型适配模块、特性分析构型适配模块及接口自检模块的测试资源调用模块,通过标准测试接口和被试***连接时,在获取到被试***的测试信号的情况下从多个测试***调用该被试***需要的测试资源,实现通用适配,即实现对不同测试单元的检测,节约生产成本,提高了测试效率,代替相关技术中使用适配器与被测设备一一对应的检测方式,并提高了该适配装置的便捷性,从而普适了自动化测试设备在电路单元测试领域的应用。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本申请的实施例,并与说明书一起用于解释本申请的原理。
为了更清楚地说明本申请实施例或相关技术中的技术方案,下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为一种传统的适配结构示意图;
图2为根据本申请实施例提供的一种可选的适配结构示意图;
图3为根据本申请实施例提供的一种可选的适配装置的应用场景示意图;
图4为根据本申请实施例提供的一种可选的检测构型适配模块接口线缆连接关系示意图;
图5为根据本申请实施例提供的一种可选的仿真试验构型适配模块接口线缆连接关系示意图;
图6为根据本申请实施例提供的一种可选的故障注入构型适配模块接口线缆连接关系示意图;
图7为根据本申请实施例提供的一种可选的特性分析构型适配模块接口线缆连接关系示意图;
图8为根据本申请实施例提供的一种可选的接口自检模块接口线缆连接关系示意图;
图9为根据本申请实施例提供的一种可选的面向多构型***配置的适配装置示意图;
图10为根据本申请实施例提供的一种可选的面向多构型***配置的适配装置示意图;以及,
图11为根据本申请实施例提供的一种可选的面向多构型***配置的适配装置框图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
在后续的描述中,使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后缀仅为了有利于本申请的说明,其本身并没有特定的意义。因此,“模块”与“部件”可以混合地使用。
相关技术中,自动化测试设备中包含多个测试功能,例如检测功能、仿真试验功能、故障注入功能、特性分析功能、接口自检功能等,不同的功能采用不同的接口。对于不同的被试***,其接口的设计、标准也都大同小异。而通过矩阵开关实现信号自动切换的接口适配通用技术也存在信号路由规模较小、自动化程度较低的问题,同时由电路单元信号多种多样,尤其是各种数字信号及脉冲信号,对信号通道的带宽要求很高,实际情况下仍然不能很好地解决接口通用适配的问题。
本申请实施例提供了一种面向多构型***配置的适配装置,包括:测试资源调用模块10,与多个测试***通信连接,用于从多个测试***调用与被试***的测试信号匹配的测试资源,其中,测试信号为针对不同型号的被试***调用不同的测试资源的信号;标准测试接口20,与测试资源调用模块连接,用于接入被试***。
对于传统的适配结构,如图1所示,为了适配不同的被试单元,需要匹配对应的接口测试适配器,每个接口适配器承担一种功能即构型的适配。本申请技术方案所提供的一种面向多构型***配置的适配装置所承担的角色是提供一种通用的接口测试适配器,不仅能够适配不同的被试单元,实现对不同设备的检测,代替现有技术中使用适配器与被测设备一一对应的检测方式,还能够集成对应于自动化测试设备中的多个功能接口,替代“多对多”适配器的技术方案,如图2所示。
本申请实施例中,测试资源调用模块可以集成多个资源调用接口,针对的不是一种特定的产品形态,而是可以针对多种装备,采用一种自动测试接口和设计,称之为构型,每种构型可以完成相应的功能适配。该测试资源调用模块能够实现自动化测试设备的测试资源与被测单元的测试信号之间的物理连接关系的转接,甚至可以进行部分测试信号的信号调理、测试资源的开关阵列和适配器自动识别等,测试资源调用模块也可以称之为内部功能模块,测试资源调用模块是适配器的重要组成部分。
本申请实施例中,标准测试接口可以设置在接口测试适配器框中,作为优选,可以使用标准25槽接收器,满足该***大量通信信号、电源信号和开关信号连接的需求。通过更换不同的适配器,在几十秒的时间内就能完成不同被试单元间的测试转换,实现了对20多种不同被试单元的专用保障测试,形成通用化测试诊断平台。或者,还可以集成多种设计标准的被试单元接口,形成标准测试接口,被试单元通过电连接器直接可以一次性连接完成,电连接器可以是测试航插。
本申请实施例技术方案的应用场景示意如图3所示。
可选地,本申请实施例提供一种测试资源调用模块10包括:检测构型适配模块11,如图4所示,该检测构型适配模块11包括仿真测试资源调用单元111和仿真信号模拟资源调用单元112;仿真测试资源调用单元111和仿真信号模拟资源调用单元112通信连接;仿真测试资源调用单元111、仿真信号模拟资源调用单元112分别与被试***接口30通信连接。
本申请实施例中,检测构型的适配主要实现被试单元静态性能测试,不需要接入数据采集设备记录波形数据,只需建立仿真测试资源调用单元、仿真信号模拟资源调用单元与被试设备的连接关系,具体接口线缆连接关系如图4所示。
详细说明如下:
被试***接口的传感器激励信号连接至仿真测试资源调用单元的传感器激励信号调理资源;
被试***接口的振动传感器信号(振动传感器BIT信号)连接至仿真测试资源调用单元的电荷放大调理资源,经电荷放大调理电路处理后连接至并行模数资源(并行AD资源);
被试***接口的电流控制信号连接至仿真测试资源调用单元的电流信号采集调理资源,经调理电路处理后在集成***内部连接至并行模数资源(并行AD资源);
被试***接口的开关量状态信号连接至仿真测试资源调用单元的电压信号采集调理资源,经调理电路处理后在集成***内部连接至并行模数资源(并行AD资源);
被试***接口的通讯信号连接至仿真测试资源调用单元的通讯信号资源;
被试***接口的交叉数据链路信号1(CCDL通讯信号(被试单元1))通过切换电路实现两种连接方式,方式一是直接连接至仿真测试资源调用单元的交叉数据链路信号资源(CCDL通讯信号资源),方式二是被试单元1的交叉数据链路信号1与被试单元2的交叉数据链路信号2互连;
被试***接口的交叉数据链路信号2(CCDL通讯信号(被试单元2))通过切换电路实现两种连接方式,方式一是直接连接至仿真测试资源调用单元的交叉数据链路信号资源(CCDL通讯信号资源),方式二是被试单元2的交叉数据链路信号2与被试单元1的交叉数据链路信号1互连;
被试***接口的总线信号连接至仿真测试资源调用单元的总线资源;
被试***接口的电源信号连接至仿真测试资源调用单元的交直流供电资源;
被试***接口的传感器(反馈)信号连接至仿真信号模拟资源调用单元的传感器(反馈)信号仿真资源;
被试***接口的无源开关信号连接至仿真信号模拟资源调用单元的通用开关资源;
被试***接口的有源开关信号连接至仿真信号模拟资源调用单元的通用开关资源;
集成***内部将直流供电资源连接至通用开关。
需要说明的是,上述实施例中的连接方式均是通过扩展插槽、模条等连接器件通信连接。
可选地,基于上述实施例,本申请实施例还提供一种测试资源调用模块10,与上述实施例的一种测试资源调用模块相比,区别在于测试资源调用模块10还包括:仿真试验构型适配模块12,如图5所示,该仿真试验构型适配模块12包括数据采集资源调用单元121;数据采集资源调用单元121通过通信连接,连接于仿真测试资源调用单元111、仿真信号模拟资源调用单元112与被试***接口30之间。
本申请实施例中,仿真试验构型的适配主要实现被试单元动态仿真试验,需要建立仿真测试资源调用单元、仿真信号模拟资源调用单元及数据采集资源调用单元与被试设备的连接关系,具体接口线缆连接关系如图5所示。
详细说明如下:
被试***接口的传感器激励信号连接至仿真测试资源调用单元的传感器激励信号调理资源,同时连接至数据采集资源调用单元;
被试***接口的振动传感器信号(振动传感器BIT信号)连接至仿真测试资源调用单元的电荷放大调理资源,经电荷放大调理电路处理后连接至并行模数资源(并行AD资源),同时连接至数据采集资源调用单元;
被试***接口的电流控制信号连接至仿真测试资源调用单元的电流信号采集调理资源,经调理电路处理后在集成***内部连接至并行模数资源(并行AD资源),同时连接至数据采集资源调用单元;
被试***接口的开关量状态信号连接至仿真测试资源调用单元的电压信号采集调理资源,经调理电路处理后在集成***内部连接至并行模数资源(并行AD资源),同时连接至数据采集资源调用单元;
被试***接口的通讯信号连接至仿真测试资源调用单元的通讯信号资源;
被试***接口的交叉数据链路信号1(CCDL通讯信号(被试单元1))通过切换电路实现两种连接方式,方式一是直接连接至仿真测试资源调用单元的交叉数据链路信号资源(CCDL通讯信号资源),方式二是被试单元1的交叉数据链路信号1与被试单元2的交叉数据链路信号2互连;
被试***接口的交叉数据链路信号2(CCDL通讯信号(被试单元2))通过切换电路实现两种连接方式,方式一是直接连接至仿真测试资源调用单元的交叉数据链路信号资源(CCDL通讯信号资源),方式二是被试单元2的交叉数据链路信号2与被试单元1的交叉数据链路信号1互连;
被试***接口的总线信号连接至仿真测试资源调用单元的总线资源;
被试***接口的电源信号连接至仿真测试资源调用单元的交直流供电资源,同时连接至数据采集资源调用单元;
被试***接口的传感器(反馈)信号连接至仿真信号模拟资源调用单元的传感器(反馈)信号仿真资源,同时连接至数据采集资源调用单元;
被试***接口的无源开关信号连接至仿真信号模拟资源调用单元的通用开关资源,同时连接至数据采集资源调用单元;
被试***接口的有源开关信号连接至仿真信号模拟资源调用单元的通用开关资源,同时连接至数据采集资源调用单元;
集成***内部将直流供电资源连接至通用开关。
需要说明的是,上述实施例中的连接方式均是通过扩展插槽、模条等连接器件通信连接。
可选地,基于上述实施例,本申请实施例还提供一种测试资源调用模块10,与上述实施例的一种测试资源调用模块相比,区别在于测试资源调用模块10还包括:故障注入构型适配模块13,如图6所示,该故障注入构型适配模块13包括故障注入资源调用单元131;故障注入资源调用单元131通过通信连接,连接于仿真测试资源调用单元111、仿真信号模拟资源调用单元112与被试***接口30之间。
本申请实施例中,故障注入构型的适配建立在仿真试验构型的基础上,通过在线路上串入故障注入资源调用单元实现仿真测试过程中故障注入式的故障模拟试验。针对故障注入器本身资源通道有限的问题,构型适配器设计通道切换电路,实现有限的故障注入资源在各路需要进行故障模拟的信号线路之间切换,通过软件配置实现指定信号的故障注入模拟功能。
本申请实施例中,可以通过适配器测试端子进行测试,看故障是否注入,故障主要有物理层故障(短路、断路、串行阻抗、并行阻抗),电气层故障(电压、电流)、协议层故障、电源故障等,通过被检测对象返回结果确定某些故障。
故障信号注入的***主要由故障注入主控计算机、故障注入器、故障注入监测设备等组成。故障注入器通过“串接”方式串入回路,实现“通、断、短、噪声、阻抗变换、延时”等故障。故障注入器通过故障注入监测设备(集成在数据采集***中)实现故障注入的监测。故障注入信号直接接入适配***的故障注入模条上。
本申请实施例中,故障注入构型的适配主要实现被试单元故障注入测试,需要建立仿真测试资源调用单元、仿真信号模拟资源调用单元、故障注入资源调用单元及数据采集资源调用单元与被试设备的连接关系,具体接口线缆连接关系如图6所示。
详细说明如下:
故障注入资源调用单元的通路故障注入资源串接至被试***接口的传感器激励信号与仿真测试资源调用单元的传感器激励信号调理资源之间,传感器激励信号同时连接至数据采集资源调用单元;
被试***接口的振动传感器信号(振动传感器BIT信号)连接至仿真测试资源调用单元的电荷放大调理资源,经电荷放大调理电路处理后连接至并行模数资源(并行AD资源),同时连接至数据采集资源调用单元;
被试***接口的电流控制信号连接至仿真测试资源调用单元的电流信号采集调理资源,经调理电路处理后在集成***内部连接至并行模数资源(并行AD资源),同时连接至数据采集资源调用单元;
被试***接口的开关量状态信号连接至仿真测试资源调用单元的电压信号采集调理资源,经调理电路处理后在集成***内部连接至并行模数资源(并行AD资源),同时连接至数据采集资源调用单元;
故障注入资源调用单元的通讯故障注入资源1通过单刀双掷的方式串接至被试***接口的通讯信号与仿真测试资源调用单元的通讯信号资源之间;
故障注入资源调用单元的通讯故障注入资源2通过单刀双掷的方式串接至被试***接口的交叉数据链路信号1(CCDL通讯信号(被试单元1))与仿真测试资源调用单元的交叉数据链路信号资源(CCDL通讯信号资源)之间,并串接至被试***接口的交叉数据链路信号2(CCDL通讯信号(被试单元2))与仿真测试资源调用单元的交叉数据链路信号资源(CCDL通讯信号资源)之间;
通过切换电路,被试单元1的交叉数据链路信号1可以与被试单元2的交叉数据链路信号2互连;
被试***接口的总线信号连接至仿真测试资源调用单元的总线资源;
故障注入资源调用单元的电源故障注入资源通过单刀双掷的方式串接至被试***接口的电源信号与仿真测试资源调用单元的交直流供电资源之间,电源信号同时连接至数据采集资源调用单元;
故障注入资源调用单元的模拟信号故障注入资源与热电类信号故障注入资源并联连接后,整体串接至被试***接口的传感器(反馈)信号与仿真信号模拟资源调用单元的传感器(反馈)信号仿真资源之间,传感器(反馈)信号同时连接至数据采集资源调用单元;
故障注入资源调用单元的电源故障注入资源通过单刀双掷的方式串接至被试***接口的无源开关信号与仿真信号模拟资源调用单元的通用开关资源之间,并串接至被试***接口的有源开关信号与仿真信号模拟资源调用单元的通用开关资源之间,无源开关信号、有源开关信号同时连接至数据采集资源调用单元;
集成***内部将直流供电资源连接至通用开关。
需要说明的是,上述实施例中的连接方式均是通过扩展插槽、模条等连接器件通信连接。
可选地,基于上述实施例,本申请实施例还提供一种测试资源调用模块10,与上述实施例的一种测试资源调用模块相比,区别在于测试资源调用模块10还包括:特性分析构型适配模块14,如图7所示,该特性分析构型适配模块14包括传感器特性分析调用单元141;传感器特性分析调用单元141通过通信连接,连接于仿真测试资源调用单元111、仿真信号模拟资源调用单元112与被试***接口30之间。
本申请实施例中,特性分析构型的适配主要实现在仿真试验时,通过开关切换,选择接入专用传感器实物电气接口或者仿真器仪器接口被试单元,同时将专用传感器电气接口接入数据采集资源调用单元,实现信号的采集,具体接口线缆连接关系如图7所示。
详细说明如下:
被试***接口的传感器激励信号连接至仿真测试资源调用单元的传感器激励信号调理资源,同时连接至数据采集资源调用单元,还连接至传感器特性分析调用单元的滑油屑末传感器和滑油液位传感器;
被试***接口的振动传感器信号(振动传感器BIT信号)连接至仿真测试资源调用单元的电荷放大调理资源,经电荷放大调理电路处理后连接至并行模数资源(并行AD资源),同时连接至数据采集资源调用单元;
被试***接口的电流控制信号连接至仿真测试资源调用单元的电流信号采集调理资源,经调理电路处理后在集成***内部连接至并行模数资源(并行AD资源),同时连接至数据采集资源调用单元;
被试***接口的开关量状态信号连接至仿真测试资源调用单元的电压信号采集调理资源,经调理电路处理后在集成***内部连接至并行模数资源(并行AD资源),同时连接至数据采集资源调用单元;
被试***接口的通讯信号连接至仿真测试资源调用单元的通讯信号资源;
被试***接口的交叉数据链路信号1(CCDL通讯信号(被试单元1))通过切换电路实现两种连接方式,方式一是直接连接至仿真测试资源调用单元的交叉数据链路信号资源(CCDL通讯信号资源),方式二是被试单元1的交叉数据链路信号1与被试单元2的交叉数据链路信号2互连;
被试***接口的交叉数据链路信号2(CCDL通讯信号(被试单元2))通过切换电路实现两种连接方式,方式一是直接连接至仿真测试资源调用单元的交叉数据链路信号资源(CCDL通讯信号资源),方式二是被试单元2的交叉数据链路信号2与被试单元1的交叉数据链路信号1互连;
被试***接口的总线信号连接至仿真测试资源调用单元的总线资源;
被试***接口的电源信号连接至仿真测试资源调用单元的交直流供电资源,同时连接至数据采集资源调用单元;
被试***接口的传感器(反馈)信号连接至仿真信号模拟资源调用单元的传感器(反馈)信号仿真资源,同时连接至数据采集资源调用单元,还连接至传感器特性分析调用单元的转速传感器、振动传感器、滑油屑末传感器及滑油液位传感器;
被试***接口的无源开关信号连接至仿真信号模拟资源调用单元的通用开关资源,同时连接至数据采集资源调用单元;
被试***接口的有源开关信号连接至仿真信号模拟资源调用单元的通用开关资源,同时连接至数据采集资源调用单元;
集成***内部将直流供电资源连接至通用开关。
需要说明的是,上述实施例中的连接方式均是通过扩展插槽、模条等连接器件通信连接。
可选地,基于上述实施例,本申请实施例还提供一种测试资源调用模块10,与上述实施例的一种测试资源调用模块相比,区别在于测试资源调用模块10还包括:接口自检模块15,如图8所示,该接口自检模块15包括被试接口151;被试接口151与故障注入资源调用单元131(图8中未展示该部分整体框架)和数据采集资源调用单元121(图8中未展示该部分整体框架)通信连接。
本申请实施例中,自检构型的适配主要实现被试接口包括产品(被试单元)的接口及一些专用传感器的接口的自检,还可以是故障注入资源的自检。具体接口线缆连接关系如图8所示。
详细说明如下:
通用开关资源与开关量故障注入资源通信连接,并与万用表、矩阵开关资源连接,矩阵开关资源为数据采集资源调用单元中包含的调用接口;
交直流供电资源通过切换电路的方式与电源故障注入资源和通路故障注入资源连接;
电源故障注入资源与矩阵开关资源连接,或者负载与矩阵开关资源连接;
数模资源通过切换电路的方式与矩阵开关资源和通路故障注入资源连接,进一步的,通过切换电路与被试接口连接;
传感器(反馈)信号仿真资源通过切换电路的方式与模拟信号故障注入资源和热电类信号故障注入资源的并联连接,以及和被试接口连接;
模拟信号故障注入资源和热电类信号故障注入资源的并联与矩阵开关资源连接;
矩阵开关资源与万用表、示波器连接;
通路故障注入资源与电压信号采集调理资源、电流信号采集调理资源、传感器激励信号调理资源及并行模数资源连接;
被试接口与数据采集通道资源和被试接口面板插座连接,数据采集通道资源为数据采集资源调用单元中包含的调用接口;
通讯故障注入资源与通讯信号资源连接。
要说明的是,上述实施例中的连接方式均是通过扩展插槽、模条等连接器件通信连接。
可选地,本申请实施例提供的一种面向多构型***配置的适配装置还包括:电连接器,连接于标准测试接口和被试***接口之间,用于该适配装置与被试***的连接。
本申请实施例中,电连接器可以是测试航插,实现适配装置与被试单元的外部连接。
可选地,如图9、图10所示,本申请实施例提供的一种面向多构型***配置的适配装置还包括:机笼41,套设于测试资源调用模块10外部;背板42,与机笼41和测试资源调用模块10可拆卸连接,用于固定测试资源调用模块10;框架43,套设于机笼外部;上盖44、面板45,与框架43可拆卸连接;接口测试适配器框46,与框架43可拆卸连接。
本申请实施例中,接口测试适配器框可以是标准测试接口20的对外接口,用于通过电连接器与被试单元进行连接。
本申请实施例中,如图11所示,提供了一种面向多构型***配置的适配装置,包括测试资源调用模块10和标准测试接口20。进一步的,测试资源调用模块10包括检测构型适配模块11、仿真试验构型适配模块12、故障注入构型适配模块13、特性分析构型适配模块14及接口自检模块15。通过设计了集成多功能构型的适配装置,能够使适配装置实现多功能的效果,将仿真试验、检测、故障注入、数据采集、特性分析、接口自检等功能集成到一个适配装置中,代替相关技术中单一的测试适配器模式和“多对多”适配器的技术方案,使适配装置的功能通用性有了更大的提高。
从以上的描述中,可以看出,本申请实现了如下技术效果:
采用本申请的一种面向多构型***配置的适配装置,利用包括检测构型适配模块、仿真试验构型适配模块、故障注入构型适配模块、特性分析构型适配模块及接口自检模块的测试资源调用模块,通过标准测试接口和被试***连接时,在获取到被试***的测试信号的情况下从多个测试***调用该被试***需要的测试资源,实现通用适配,即实现对不同测试单元的检测,节约生产成本,提高了测试效率,代替相关技术中使用适配器与被测设备一一对应的检测方式,并提高了该适配装置的便捷性,从而普适了自动化测试设备在电路单元测试领域的应用。
本申请所要保护的测试资源调用模块包括检测构型适配模块、仿真试验构型适配模块、故障注入构型适配模块、特性分析构型适配模块及接口自检模块及标准测试接口、电连接器都是一种具有确定形状、构造且占据一定空间的实体产品。如电子器件;或,微处理器等可以独立运行的、具有具体硬件结构的计算机设备、终端或服务器。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的装置,可通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性或其它的形式。
以上所述仅为本申请的优选实施例而已,并不用于限制本申请,对于本领域的技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种面向多构型***配置的适配装置,其特征在于,包括:
测试资源调用模块,与多个测试***通信连接,用于从所述多个测试***调用与测试信号匹配的测试资源,其中,所述测试信号为针对不同型号的被试***调用不同的所述测试资源的信号;
标准测试接口,与所述测试资源调用模块连接,用于接入所述被试***;
所述测试资源调用模块包括:检测构型适配模块,包括仿真测试资源调用单元和仿真信号模拟资源调用单元;所述仿真测试资源调用单元和所述仿真信号模拟资源调用单元通信连接;所述仿真测试资源调用单元、所述仿真信号模拟资源调用单元分别与被试***接口通信连接,具体的:
被试***接口的传感器激励信号连接至仿真测试资源调用单元的传感器激励信号调理资源;
被试***接口的振动传感器信号连接至仿真测试资源调用单元的电荷放大调理资源,经电荷放大调理电路处理后连接至并行模数资源;
被试***接口的电流控制信号连接至仿真测试资源调用单元的电流信号采集调理资源,经调理电路处理后在集成***内部连接至并行模数资源;
被试***接口的开关量状态信号连接至仿真测试资源调用单元的电压信号采集调理资源,经调理电路处理后在集成***内部连接至并行模数资源;
被试***接口的通讯信号连接至仿真测试资源调用单元的通讯信号资源;
被试***接口的交叉数据链路信号1通过切换电路实现两种连接方式,方式一是直接连接至仿真测试资源调用单元的交叉数据链路信号资源,方式二是被试单元1的交叉数据链路信号1与被试单元2的交叉数据链路信号2互连;
被试***接口的交叉数据链路信号2通过切换电路实现两种连接方式,方式一是直接连接至仿真测试资源调用单元的交叉数据链路信号资源,方式二是被试单元2的交叉数据链路信号2与被试单元1的交叉数据链路信号1互连;
被试***接口的总线信号连接至仿真测试资源调用单元的总线资源;
被试***接口的电源信号连接至仿真测试资源调用单元的交直流供电资源;
被试***接口的传感器信号连接至仿真信号模拟资源调用单元的传感器信号仿真资源;
被试***接口的无源开关信号连接至仿真信号模拟资源调用单元的通用开关资源;
被试***接口的有源开关信号连接至仿真信号模拟资源调用单元的通用开关资源;
集成***内部将直流供电资源连接至通用开关。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述测试资源调用模块还包括:
仿真试验构型适配模块,包括数据采集资源调用单元;
所述数据采集资源调用单元通过通信连接,连接于所述仿真测试资源调用单元、所述仿真信号模拟资源调用单元与所述被试***接口之间。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述测试资源调用模块还包括:
故障注入构型适配模块,包括故障注入资源调用单元;
所述故障注入资源调用单元通过通信连接,连接于所述仿真测试资源调用单元、所述仿真信号模拟资源调用单元与所述被试***接口之间。
4.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述测试资源调用模块还包括:
特性分析构型适配模块,包括传感器特性分析调用单元;
所述传感器特性分析调用单元通过通信连接,连接于所述仿真测试资源调用单元、所述仿真信号模拟资源调用单元与所述被试***接口之间。
5.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述测试资源调用模块还包括:
接口自检模块,包括被试接口;
所述被试接口与所述故障注入资源调用单元和所述数据采集资源调用单元通信连接。
6.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述适配装置还包括:
电连接器,连接于所述标准测试接口和被试***接口之间,用于所述适配装置与所述被试***的连接。
7.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述适配装置还包括:
机笼,套设于所述测试资源调用模块外部;
背板,与所述机笼和所述测试资源调用模块可拆卸连接,用于固定所述测试资源调用模块;
框架,套设于所述机笼外部;
上盖、面板,与所述框架可拆卸连接;
接口测试适配器框,与所述框架可拆卸连接。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010437916.9A CN111929561B (zh) | 2020-05-21 | 2020-05-21 | 面向多构型***配置的适配装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010437916.9A CN111929561B (zh) | 2020-05-21 | 2020-05-21 | 面向多构型***配置的适配装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN111929561A CN111929561A (zh) | 2020-11-13 |
CN111929561B true CN111929561B (zh) | 2023-07-21 |
Family
ID=73317314
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202010437916.9A Active CN111929561B (zh) | 2020-05-21 | 2020-05-21 | 面向多构型***配置的适配装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN111929561B (zh) |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN201732154U (zh) * | 2010-08-13 | 2011-02-02 | 北京新雷能科技股份有限公司 | 一种一次电源自动测试*** |
CN102565563B (zh) * | 2010-12-29 | 2016-01-13 | 上海汽车集团股份有限公司 | 用于汽车电子电器***的自动化集成测试***和方法 |
CN105005015A (zh) * | 2015-04-23 | 2015-10-28 | 广西电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种基于硬件电路故障注入的电路故障仿真*** |
CN105067933B (zh) * | 2015-08-31 | 2018-08-31 | 中国人民解放军63908部队 | 用于电子装备测试性验证与评估的通用***及测试方法 |
CN206470364U (zh) * | 2017-01-20 | 2017-09-05 | 中国人民解放军63908部队 | 便携式电子装备测试适配器 |
CN108020773A (zh) * | 2017-11-10 | 2018-05-11 | 中国航空综合技术研究所 | 一种电子***的多用途测试性试验验证平台及其验证方法 |
CN109298317A (zh) * | 2018-10-13 | 2019-02-01 | 国营芜湖机械厂 | 一种中低频电路的智能化测试装置及其测试方法 |
CN110457168A (zh) * | 2019-07-02 | 2019-11-15 | 中国航空工业集团公司雷华电子技术研究所 | 一种用于数据处理的低速接口自检测方法 |
-
2020
- 2020-05-21 CN CN202010437916.9A patent/CN111929561B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN111929561A (zh) | 2020-11-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN109143033B (zh) | 一种整星接口自动化测试*** | |
CN202404164U (zh) | 一种供电***处理机仿真*** | |
CN106597207B (zh) | 一种综合电子设备电缆插接状态无源检测***和检测方法 | |
CN203241502U (zh) | 基于cpci总线的控制***通用测试装置 | |
CN103699112A (zh) | 基于io信号故障仿真的航电自检测验证设备及其验证方法 | |
CN210518375U (zh) | 一种汽车总线的自动化检测*** | |
CN101553741A (zh) | 用于自动半导体晶片测试的半自动多路转接*** | |
CN115856588B (zh) | 芯片测试板及测试方法 | |
CN101315411A (zh) | 用于测试电路组合的***、方法和装置 | |
CN104111416A (zh) | 用于智能功率模块的测试电路及测试方法 | |
CN111929561B (zh) | 面向多构型***配置的适配装置 | |
CN206020563U (zh) | 信号转接装置及包括信号转接装置的故障诊断*** | |
CN105589026A (zh) | 大型开关矩阵测试装置 | |
CN102916852B (zh) | 1553b总线通信器件高低温测试装置 | |
CN111707966A (zh) | 一种cpld的漏电检测方法及装置 | |
CN102411528A (zh) | Mxm接口测试连接卡及具有该测试连接卡的测试*** | |
CN218272604U (zh) | 一种资源复用的测试电路板 | |
CN101311740A (zh) | 电子组件测试*** | |
CN103116119A (zh) | 基于hm276层叠式电子产品的测试台及其测试方法 | |
CN202854605U (zh) | 汽车车身控制模块的功能测试*** | |
CN114441941A (zh) | 一种线性稳压电源芯片的老化测试*** | |
CN102759674B (zh) | 一种用于测试光耦的通用适配器 | |
CN111693754B (zh) | 通信模组pin脚电压检测装置、设备及方法 | |
CN205210211U (zh) | 航空电子通用测试平台 | |
CN113204225A (zh) | 一种汽车负载仿真装置及测试方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |