CN111912349B - 显示基板的检测方法及*** - Google Patents

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Abstract

本申请公开了一种显示基板的检测方法及***,属于显示技术领域。该方法包括:获取相机拍摄的包含显示基板所显示的画面的图像;基于图像中与每个灯珠对应的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像;基于异常的灯珠图像在图像中的位置信息,确定显示基板中异常的灯珠的位置信息。无需在显示基板中设置检测单元,便能够实现对异常的灯珠的位置进行检测,简化了显示基板的结构,从而提高了该显示基板的制造效率和维护效率。

Description

显示基板的检测方法及***
技术领域
本申请涉及显示技术领域,特别涉及一种显示基板的检测方法及***。
背景技术
随着发光二极管(英文:Light Emitting Diode;简称:LED)显示技术的发展,LED显示基板因其具有能耗低、色彩还原性强寿命长等特点,已经广泛地应用于各种场合。LED显示基板具有用于显示画面的阵列排布的多个灯珠,该灯珠通常也称为LED灯珠。
目前,在LED显示基板出厂前需要对该LED显示基板进行检测,确定该LED显示基板中故障的灯珠的位置,以便后续对该故障的灯珠进行维修。
为了实现对LED显示基板的检测,需要在该LED显示基板中设置检测单元,通过该检测单元确定LED显示基板中的出现故障灯珠的位置。因此,目前的LED显示基板中需要设置额外的检测单元,导致LED显示基板的结构较为复杂。
发明内容
本申请实施例提供了一种显示基板的检测方法及***。可以解决现有技术的LED显示基板的结构较为复杂的问题,所述技术方案如下:
一方面,提供了一种显示基板的检测方法,所述方法包括:
获取相机拍摄的包含所述显示基板所显示的画面的图像,所述显示基板具有用于显示画面的阵列排布的多个灯珠;
基于所述图像中与每个所述灯珠对应的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像;
基于所述异常的灯珠图像在所述图像中的位置信息,确定所述显示基板中异常的灯珠的位置信息。
可选的,基于所述图像中与每个所述灯珠对应的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像,包括:
基于所述图像中的灯珠图像的图像信息,确定正常的灯珠图像的轮廓的正常尺寸范围;
基于所述正常尺寸范围,在所述图像中确定所述异常的灯珠图像。
可选的,基于所述正常尺寸范围,在所述图像中确定所述异常的灯珠图像,包括:
基于所述正常尺寸范围,以及所述显示基板的物理信息,确定正常间距范围,所述正常间距范围为任意两个相邻的正常的灯珠图像中一个灯珠图像的中心与另一个灯珠图像的轮廓之间的最小距离范围,所述显示基板的物理信息包括:所述显示基板的实际尺寸信息、所述显示基板的分辨率,以及所述显示基板中任意两个相邻的灯珠间距;
基于所述正常间距范围,在所述图像中确定所述异常的灯珠图像。
可选的,所述正常间距范围,在所述图像中确定所述异常的灯珠图像,包括:
基于所述正常间距范围,按照设定顺序对所述图像中的每个灯珠图像执行检测过程;
其中,对于每个所述灯珠图像,所述检测过程包括:
检测当前灯珠图像之前是否存在与所述当前灯珠图像相邻且正常的参考灯珠图像;
若所述当前灯珠图像之前存在所述参考灯珠图像,当所述参考灯珠图像的中心与所述当前灯珠图像的轮廓之间的最小间距在所述正常间距范围外时,确定所述当前灯珠图像为异常的灯珠图像。
可选的,所述检测过程还包括:
在所述检测当前灯珠图像之前是否存在与所述当前灯珠图像相邻且正常的参考灯珠图像之前,基于所述图像中的灯珠图像的图像信息,检测所述当前灯珠图像是否存在轮廓;
若所述当前灯珠图像不存在轮廓,确定所述当前灯珠图像为异常的灯珠图像。
可选的,基于所述正常尺寸范围,在所述图像中确定所述异常的灯珠图像,包括:
依次检测所述图像中每个灯珠图像的轮廓尺寸是否在所述正常尺寸范围外;
将所述图像中的轮廓尺寸在所述正常尺寸范围外的灯珠图像确定为异常的灯珠图像。
可选的,所述方法还包括:
在基于所述图像中的灯珠图像的图像信息,确定正常的灯珠图像的轮廓的正常尺寸范围之前,对所述图像中的灯珠图像进行轮廓提取处理,得到轮廓提取处理后的图像;
基于所述图像中的灯珠图像的图像信息,确定正常的灯珠图像的轮廓的正常尺寸范围,包括:
在所述轮廓提取处理后的图像中选取多个具有轮廓的灯珠图像,对所述多个具有轮廓的灯珠图像的轮廓尺寸进行平均处理,得到平均处理后的轮廓尺寸;
基于所述平均处理后的轮廓尺寸,确定所述正常尺寸范围。
可选的,基于所述图像中与每个所述灯珠对应的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像,包括:
基于所述图像中的灯珠图像的图像信息,确定正常的灯珠图像的正常灰阶范围;
依次检测所述图像中每个灯珠图像的平均灰阶是否在所述正常灰阶范围外;
将所述图像中的平均灰阶在所述正常灰阶范围外的灯珠图像确定为异常的灯珠图像。
可选的,在所述获取相机拍摄的包含所述显示基板所显示的画面的图像之前,所述方法还包括:
向所述显示基板发送参数初始化指令,所述参数初始化指令用于指示所述显示基板将参数恢复为初始参数。
可选的,在所述获取相机拍摄的包含所述显示基板所显示的画面的图像之前,所述方法还包括:
向所述显示基板发送画面显示指令,所述画面显示指令用于指示所述显示基板显示纯色的画面。
可选的,在基于所述异常的灯珠图像在所述图像中的位置信息,确定所述显示基板中异常的灯珠的位置信息之后,所述方法还包括:
基于所述显示基板中异常的灯珠的位置信息,向所述显示基板发送标记指令,所述标记指令用于指示所述显示基板显示标记图标,所述标记图标用于对所述异常的灯珠进行标记。
另一方面,提供了一种显示基板的检测***,所述***包括:检测设备和相机;
所述相机用于拍摄包含所述显示基板所显示的画面的图像,并向所述检测设备发送所述图像,所述显示基板具有用于显示画面的阵列排布的多个灯珠;
所述检测设备用于获取所述相机发送的图像,并基于所述图像中与每个所述灯珠对应的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像;
所述检测设备用于基于所述异常的灯珠图像在所述图像中的位置信息,确定所述显示基板中异常的灯珠的位置信息。
本申请实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括:
通过检测相机拍摄显示基板所显示的画面的图像中的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像,并基于该异常的灯珠图像的位置,确定显示基板中异常的灯珠的位置信息。无需在显示基板中设置检测单元,便能够实现对异常的灯珠的位置进行检测,简化了显示基板的结构,从而提高了该显示基板的制造效率和维护效率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的一种显示基板的检测方法所涉及的显示基板的检测***的框图;
图2是本申请实施例提供的一种显示基板的检测方法的流程图;
图3是本申请实施例提供的另一种显示基板的检测方法的流程图;
图4是本申请实施例提供的一种轮廓提取处理前的图像示意图;
图5是本申请实施例提供的一种轮廓提取处理后的图像示意图;
图6是本申请实施例提供的一种检测过程的流程图;
图7是本申请实施例提供的一种显示基板的检测装置的框图;
图8是本申请实施例提供的一种第一确定模块的框图;
图9是本申请实施例提供的一种第二确定单元的框图;
图10是本申请实施例提供的另一种第二确定单元的框图;
图11是本申请实施例提供的一种第一确定单元的框图;
图12是本申请实施例提供的一种第一确定模块的框图;
图13是本申请实施例提供的另一种显示基板的检测装置的框图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本申请实施方式作进一步地详细描述。
请参考图1,图1是本申请实施例提供的一种显示基板的检测方法所涉及的显示基板的检测***的框图。该显示基板的检测***100可以包括:检测设备101和相机102。
该相机102可以为具有摄像功能的设备,例如,可以为工业相机。该检测设备101可以是一个诸如电脑或手机等计算机设备,或者是一台服务器,或者由若干台服务器组成的服务器集群,或者是一个云计算服务中心。该检测设备101可以与相机102建立通信连接。
该检测设备101还需要与待检测的显示基板103建立通信连接,使得该显示基板的检测***100能够对该显示基板103进行检测,以确定该显示基板103中出现故障的灯珠的位置。该显示基板103可以为LED显示基板,该显示基板103具有用于显示画面的阵列排布的多个灯珠,该灯珠可以为LED灯珠。
需要说明的是,本申请实施例中的通信连接可以为通过有线网络或者无线网络建立的通信连接。
请参考图2,图2是本申请实施例提供的一种显示基板的检测方法的流程图。该显示基板的检测方法应用于图1示出的显示基板的检测***100中的检测设备101。该显示基板的检测方法可以包括:
步骤201、获取相机拍摄的包含显示基板所显示的画面的图像。该显示基板具有用于显示画面的阵列排布的多个灯珠。
步骤202、基于图像中与每个灯珠对应的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像。
步骤203、基于异常的灯珠图像在图像中的位置信息,确定显示基板中异常的灯珠的位置信息。
综上所述,本申请实施例提供的显示基板的检测方法,通过检测相机拍摄显示基板所显示的画面的图像中的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像,并基于该异常的灯珠图像的位置,确定显示基板中异常的灯珠的位置信息。无需在显示基板中设置检测单元,便能够实现对异常的灯珠的位置进行检测,简化了显示基板的结构,从而提高了该显示基板的制造效率和维护效率。
请参考图3,图3是本申请实施例提供的另一种显示基板的检测方法的流程图。该显示基板的检测方法应用于图1示出的显示基板的检测***100,该检测***用于对显示基板103进行检测。该显示基板的检测方法可以包括:
步骤301、检测设备向显示基板发送参数初始化指令。该参数初始化指令用于指示显示基板将参数恢复为初始参数。
在本申请实施例中,显示基板的参数异常也可能会导致该显示基板中的灯珠出现异常。因此在对该显示基板进行检测前,检测设备需要向显示基板发送参数初始化指令,以控制显示基板将该显示基板的参数恢复为初始参数。
示例的,显示基板通常包括:相互连接的发送卡与接收卡,显示基板的参数通常为接收卡中配置的参数,检测设备可以通过该发送卡与显示基板连接。因此检测设备可以向该显示基本中的发送卡发送初始化指令。
步骤302、显示基板基于该参数初始化指令将参数恢复为初始参数。
在本申请实施例中,在显示基板接收到检测设备发送的参数初始化指令后,显示基板可以根据该参数初始化指令将参数恢复为初始化参数。避免了后续在检测过程中,由于显示基板的参数异常导致该显示基板中的正常的灯珠出现异常的现象。
示例的,显示基板中的发送卡可以接收该初始化指令,并根据该参数初始化指令将接收卡中配置的参数恢复为初始参数。
步骤303、显示基板向检测设备发送参数初始化响应。
在本申请实施例中,在显示基板的参数恢复为初始参数后,可以向检测设备发送参数初始化响应。该参数初始化响应用于向检测设备指示显示基板的参数已设置初始参数。
步骤304、检测设备向显示基板发送画面显示指令。
在本申请实施例中,在显示基板显示非纯色的画面时,不利于检测该显示基板中出现的毛毛虫现象(也即,显示基板中存在一连串灯珠均异常)。因此为了便于实现对显示基板出现的毛毛虫信息进行检测,在检测设备接收到参数初始化响应后,可以向该显示基板发送画面显示指令。该画面显示指令用于指示显示基板显示纯色的画面。该画面显示指令还携带有用于指示显示基板显示画面的颜色信息,例如,该画面显示指令还携带有红色信息、绿色信息或蓝色信息。
示例的,检测设备可以向显示基板的发送卡发送画面显示指令。
步骤305、显示基板基于画面显示指令显示纯色的画面。
在本申请实施例中,显示基板在接收到画面显示指令后,可以基于该画面显示指令显示纯色的画面。更利于后续检测过程中,对该显示基板出现的毛毛虫现象进行检测。例如,由于画面显示指令还携带有红色信息、绿色信息或蓝色信息,因此,显示基板基于画面显示指令所携带的颜色信息显示红色、绿色或黄色的纯色画面。
示例的,显示基板中的发送卡可以接收画面显示指令,并根据该画面显示指令通过接收卡控制显示基板显示诸如红色、绿色或黄色的纯色画面。
步骤306、显示基板向检测设备发送画面显示响应。
在本申请实施例中,在显示基板基于画面显示指令显示纯色的画面后,可以向检测设备发送画面响应。该画面显示响应用于向检测设备指示显示基板已显示纯色的画面。
步骤307、检测设备向相机发送图像获取指令。
在本申请实施例中,检测设备在接收到画面显示响应后,可以向相机发送图像获取指令。该图像获取指令用于指示相机对显示基板所显示的画面进行拍摄。
步骤308、相机拍摄包含显示基板所显示的画面的图像。
在本申请实施例中,相机在接收到检测设备发送的图像获取指令后,可以对显示基板进行拍摄,从而到包含该显示基板所显示的画面的图像。
通常情况下,相机为了拍摄包含显示基板所显示的画面的图像,相机中的镜头需要正对于显示基板的正面(也即能够显示画面的一面),由于显示基板具有用于显示画面的阵列排布的多个灯珠,因此相机拍摄的图像中具有与每个灯珠对应的灯珠图像。
步骤309、相机向检测设备发送所拍摄的图像。
在本申请实施例中,在相机拍摄包含显示基板所显示的画面的图像后,可以向检测设备发送所拍摄的图像。
步骤310、检测设备基于该图像中与每个灯珠对应的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像。
在本申请实施例中,检测设备在接收到相机发送的图像后,可以基于该图像中与每个灯珠对应的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像。本申请实施例中检测设备基于灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像有多种可实现方式,本申请实施例以以下两种可实现方式为例进行示意性说明:
在第一种可实现方式中,灯珠图像的图像信包括:灯珠图像的轮廓,检测设备基于该图像中与每个灯珠对应的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像,可以包括以下步骤:
步骤A1、基于图像中的灯珠图像的图像信息,确定正常的灯珠图像的轮廓的正常尺寸范围。
在本申请实施例中,检测设备可以基于图像中的灯珠图像的图像信息,确定出正常的灯珠的轮廓的正常尺寸范围。该灯珠图像的图像信息可以包括:灯珠图像的轮廓,在后续基于该轮廓进行尺寸计算时,为了避免灯珠图像内部的数据对计算结果的影响,可以将灯珠图像内部的数据清除,仅保留灯珠图像的轮廓算。因此,检测设备在确定正常的灯珠图像的轮廓的正常尺寸范围之前,需要获取正常的灯珠图像的轮廓。
示例的,在基于图像中的灯珠图像的图像信息,确定正常的灯珠图像的轮廓的正常尺寸范围之前,该显示基板的检测方法还可以包括:对图像中的灯珠图像进行轮廓提取处理,得到轮廓提取处理后的灯珠图像。例如,检测设备可以采用Open CV函数库对灯珠图像进行轮廓提取处理。请参考图4和图5,图4和图5分别是轮廓提取处理前的图像和轮廓特征处理后的图像,检测设备对图4中的灯珠图像a进行轮廓提取后,可以得到图5中的轮廓b。
需要说明的是,为了能够让检测设备采用Open CV函数库对灯珠图像进行轮廓提取处理,检测设备需要预先对图像进行二值化处理,检测设备能够对二值化处理后的图像进行进一步的轮廓特征提取处理,因此,检测设备对二值化处理后的图像采用Open CV函数库对灯珠图像进行轮廓提取处理后,可以得到轮廓提取处理后的图像。
在本申请实施例中,检测设备在获取到轮廓提取处理后的图像后,检测设备可以基于该图像中的灯珠图像的轮廓,确定正常的灯珠图像的轮廓的正常尺寸范围。示例的,该步骤A1可以包括几个步骤:
步骤A11、在轮廓提取处理后的图像中选取多个具有轮廓的灯珠图像,对该多个具有轮廓的灯珠图像的轮廓尺寸进行平均处理,得到平均处理后的轮廓尺寸。
示例的,检测设备可以在轮廓提取处理后的图像中选取多个具有轮廓的灯珠图像,例如,检测设备可以选取100个具有轮廓的灯珠图像。并且,检测设备还可以计算每个具有轮廓的灯珠图像的轮廓尺寸,使得检测设备能够将该多个具有轮廓的灯珠图像的轮廓尺寸进行平均处理,得到平均处理后的轮廓尺寸。
步骤A12、基于平均处理后的轮廓尺寸,确定所述正常尺寸范围。
示例的,检测设备可以对平均处理后的轮廓尺寸增加可接受的轮廓尺寸的波动范围后,可以得到正常的灯珠图像的轮廓的正常尺寸范围。
步骤B1、基于正常尺寸范围,在图像中确定异常的灯珠图像。
在本申请实施例中,检测设备基于正常尺寸范围,在图像中确定异常的灯珠图像的实现方式有多种,本申请实施例以以下两种示意性的实现方式为例进行示意性说明:
在第一种示意性的实现方式中,检测设备基于正常尺寸范围,在图像中确定异常的灯珠图像,可以包括以下步骤:
步骤B1a1、基于正常尺寸范围,以及显示基板的物理信息,确定正常间距范围。
该正常间距范围为任意两个相邻的正常的灯珠图像中一个灯珠图像的中心与另一个灯珠图像的轮廓之间的最小距离范围。显示基板的物理信息包括:显示基板的实际尺寸信息、显示基板的分辨率,以及显示基板中任意两个相邻的灯珠间距。
需要说明的是,显示基板的物理信息可以存储的显示基板的存储器中,检测设备在基于图像中与每个灯珠对应的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像之前,检测设备还需要通过传输协议从显示基板的存储器中获取显示基板的物理信息。
示例的,该步骤B1a1可以包括几个步骤:
步骤B1a11、基于显示基板的物理信息,确定显示基板中的灯珠的实际尺寸。
示例的,该显示基板的物理信息中的实际尺寸信息包括:显示基板的实际长度和实际宽度,检测设备可以基于显示基板的实际长度和实际宽度,显示基板的分辨率,以及显示基板中任意两个相邻的灯珠间距,计算出显示基板中的灯珠的实际尺寸。
步骤B1a12、基于正常尺寸范围与灯珠的实际尺寸,以及显示基板中任意两个相邻的灯珠间距,确定正常间距范围。
示例的,检测设备可以基于正常尺寸范围与灯珠的实际尺寸,以及显示基板中任意两个相邻的灯珠间距,计算出正常间距范围。
步骤B1a2、基于正常间距范围,在图像中确定异常的灯珠图像。
在本申请实施例中,检测设备可以基于该正常间距范围,在图像中确定异常的灯珠图像。示例的,该步骤B1a2可以包括以下步骤:基于正常间距范围,按照设定顺序对图像中的每个灯珠图像执行检测过程。由于在第一种可选的实现方式中,灯珠图像的图像信息包括:灯珠图像的轮廓,因此可以基于轮廓提取处理后的图像,对每个灯珠图像执行检测过程。
需要说明的是,由于显示基板中的灯珠是阵列排布的,因此该设定顺序可以为以下两种可选的实现方式中的顺序。在第一种可选的实现方式中,可以是按照从上到下的顺序逐行对灯珠图像进行检测,在每行检测过程中,可以按照从左到右的顺序对每个灯珠图像进行检测,例如,如图5所示,在对图像中的第一行的最后一个灯珠图像b1进行检测后,下一个需要检测灯珠图像为第二行的第一个灯珠图像b2。在第二种可选的实现方式中,可以按照S型顺序依次对每个灯珠图像进行检测,例如,如图5所示,在对图像中的第一行的最后一个灯珠图像b1进行检测后,下一个需要检测灯珠图像为第二行的最后一个灯珠图像b3。
请参考图6,图6是本申请实施例提供的一种检测过程的流程图。对每个灯珠图像执行的检测过程包括:
步骤310a、基于图像中的灯珠图像的图像信息,检测当前灯珠图像是否存在轮廓。
在本申请实施例中,该灯珠图像的图像信息包括:灯珠图像的轮廓,因此,可以基于轮廓提取处理后的图像,检测当前灯珠图像是否具有轮廓。
示例的,若检测设备检测出当前灯珠图像不存在轮廓,执行步骤310b;若检测设备检测出当前灯珠图像存在轮廓,执行步骤310c。
步骤310b、确定该当前灯珠图像为异常的灯珠图像。
在本申请实施例中,当灯珠出现不亮的异常时,通过对该灯珠对应的灯珠图像进行轮廓提取后,不会得到该灯珠图像的轮廓。因此,检测设备在检测出当前灯珠图像不存在轮廓后,可以确定出该灯珠图像所对应的灯珠为异常的灯珠,可以将该灯珠图像确定为异常的灯珠图像。
步骤310c、检测当前灯珠图像之前是否存在与当前灯珠图像相邻且正常的参考灯珠图像。
在本申请实施例中,当灯珠图像进行轮廓提取后,得到该灯珠图像的轮廓时,该灯珠图像对应的灯珠可能是正常的灯珠,也可能是亮度异常的灯珠。例如,当灯珠的亮度过亮时,该灯珠对应的灯珠图像的轮廓的尺寸较大;当灯珠的亮度过暗时,该灯珠对应的灯珠图像的轮廓的尺寸较小。
因此,检测设备在检测出当前灯珠图像存在轮廓后,需要进一步的对该灯珠图像进行检测。示例的,检测设备可以检测该当前灯珠图像之前是否存在与当前灯珠图像相邻且正常的参考灯珠图像。若检测设备检测出该当前灯珠图像之前存在参考灯珠图像,执行步骤310d;若检测设备检测出该当前灯珠图像之前不存在参考灯珠图像,执行步骤310e。
步骤310d、当参考灯珠图像的中心与当前灯珠图像的轮廓之间的最小间距在正常间距范围外时,确定当前灯珠图像为异常的灯珠图像。
在本申请实施例中,若检测设备检测出该当前灯珠图像之前存在参考灯珠图像,检测设备可以计算参考灯珠图像的中心与该当前灯珠图像的轮廓之间的最小间距,并检测该最小间距是否在正常间距范围外。
当检测设备检测出参考灯珠图像的中心与该当前灯珠图像的轮廓之间的最小间距在正常间距范围外时,可以将该当前灯珠图像确定为异常的灯珠图像;当检测设备检测出参考灯珠图像的中心与该当前灯珠图像的轮廓之间的最小间距在正常间距范围内时,可以将该当前灯珠图像确定为正常的灯珠图像。
步骤310e、当该当前灯珠图像的轮廓尺寸在正常尺寸范围外时,确定当前灯珠图像为异常的灯珠图像。
在本申请实施例中,若检测设备检测出该当前灯珠图像之前不存在参考灯珠图像,也即是,该当前灯珠图像可能是图像中按照设定顺序排序的首个灯珠图像,或者,该当前灯珠图像之前的灯珠图像也可能是异常的灯珠图像。检测设备可以计算该当前灯珠的轮廓尺寸,并检测该轮廓尺寸是否在正常尺寸范围外。
当检测设备检测出该当前灯珠图像的轮廓尺寸在正常尺寸范围外时,可以将该当前灯珠图像确定为异常的灯珠图像;当检测设备检测出该当前灯珠图像的轮廓尺寸在正常尺寸范围内时,可以将该当前灯珠图像确定为正常的灯珠图像。
需要说明的是,在图像中的每个灯珠图像经过上述步骤310a至步骤310e检测后,即可将显示基板中出现异常的灯珠图像确定出来。
还需要说明的是,由于显示基板中的出现异常的灯珠的概率较小,而检测设备计算灯珠图像的轮廓尺寸较为复杂,因此在上述第一种示意性的实现方式中,检测设备同时参考了正常尺寸范围和正常间距范围,无需对每个灯珠图像的轮廓尺寸进行计算,便能够实现确定异常的灯珠图像的过程,有效的减少了检测设备的运算量。
在第二种示意性的实现方式中,检测设备基于正常尺寸范围,在图像中确定异常的灯珠图像,可以包括以下步骤:
步骤B1b1、依次检测图像中每个灯珠图像的轮廓尺寸是否在正常尺寸范围外。
在本申请实施例中,检测设备在确定出正常的灯珠图像的轮廓的正常尺寸范围后,可以依次检测每个灯珠图像的轮廓尺寸是否在正常尺寸范围外。当灯珠图像的轮廓尺寸在正常尺寸范围外时,执行步骤B1b2;当灯珠图像的轮廓尺寸在正常尺寸范围内时,执行步骤B1b3。
步骤B1b2、将图像中的轮廓尺寸在正常尺寸范围外的灯珠图像确定为异常的灯珠图像。
在本申请实施例中,检测设备可以将图像中的轮廓尺寸在正常尺寸范围外的灯珠图像确定为异常的灯珠图像。
步骤B1b3、将图像中的轮廓尺寸在正常尺寸范围内的灯珠图像确定为正常的灯珠图像。
在本申请实施例中,检测设备可以将图像中的轮廓尺寸在正常尺寸范围内的灯珠图像确定为正常的灯珠图像。
需要说明的是,当灯珠图像的图像信包括:灯珠图像的平均灰阶时,检测设备通过上述两种示意性的实现方式,可确定出图像中异常的灯珠图像。
在第二种可实现方式中,灯珠图像的图像信包括:灯珠图像的平均灰阶,检测设备基于该图像中与每个灯珠对应的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像,可以包括以下步骤:
步骤A2、基于图像中的灯珠图像的图像信息,确定正常的灯珠图像的正常的灰阶范围。
在本申请实施例中,检测设备可以基于图像中的灯珠图像的图像信息,确定正常的灯珠图像的正常的灰阶范围,可以包括以下步骤:
步骤A21、将图像进行二值化处理,得到二值化处理后的图像。
在本申请实施例中,在检测设备将图像进行二值化处理后得到的二值化处理后的图像中,每个像素点均对应有一个灰阶。
步骤A22、基于二值化处理后的图像,确定每个灯珠图像的平均灰阶。
示例的,检测设备可以在二值化处理后的图像中,获取每个灯珠图像中各个像素点的灰阶,将该各个像素点的灰阶进行计算后,可以得到每个灯珠图像的平均灰阶。
步骤A23、选取多个灯珠图像,对该多个灯珠图像的平均灰阶进行平均处理,得到平均处理后的灰阶。
在本申请实施例中,检测设备通过步骤A22可以确定出每个灯珠图像的平均灰阶后,该检测设备可以选取多个灯珠图像,例如选取100个灯珠图像,对该多个灯珠图像的平均灰阶进行平均处理后,可以得到平均处理后的灰阶。
步骤A24、基于该平均处理后的灰阶,确定正常的灯珠图像的正常的灰阶范围。
在本申请实施例中,检测设备可以对平均处理后的灰阶增加可接受的灰阶的波动范围后,可以得到正常的灯珠图像的正常灰阶范围。
步骤B2、依次检测所述图像中每个灯珠图像的平均灰阶是否在所述正常灰阶范围外。
在本申请实施例中,检测设备在确定出正常的灯珠图像的正常灰阶范围后,可以依次检测每个灯珠图像的平均灰阶是否在正常灰阶范围外。当灯珠图像的平均灰阶在正常灰阶范围外时,执行步骤C2;当灯珠图像的平均灰阶在正常灰阶范围内时,执行步骤D2。
步骤C2、将图像中的平均灰阶在正常灰阶范围外的灯珠图像确定为异常的灯珠图像。
在本申请实施例中,检测设备可以将图像中的平均灰阶在正常灰阶范围外的灯珠图像确定为异常的灯珠图像。
步骤D2、将图像中的平均灰阶在正常灰阶范围内的灯珠图像确定为正常的灯珠图像。
在本申请实施例中,检测设备可以将图像中的平均灰阶在正常灰阶范围内的灯珠图像确定为正常的灯珠图像。
需要说明的是,检测设备通过上述两种可实现方式,即可确定出图像中异常的灯珠图像。
步骤311、检测设备基于异常的灯珠图像在图像中的位置信息,确定显示基板中异常的灯珠的位置信息。
在本申请实施例中,在检测设备设备确定出图像中异常的灯珠图像后,该检测设备基于异常的灯珠图像在图像中的位置信息,确定显示基板中异常的灯珠的位置信息。
示例的,该位置信息可以包括:行数信息和列数信息,例如,在图像中位于第一行且位于第一列的灯珠图像的位置信息为(1,1),在显示基板中位于第一行且位于第一列的灯珠的位置信息也为(1,1)。检测设备可以确定出所有的异常的灯珠图像在图像中的位置信息,可以将该所有的异常的灯珠图像在图像中的位置信息确定为显示基板中异常的灯珠的位置信息。
需要说明的是,显示基板中的灯珠可能显示某个颜色的时候不会出现异常现象,而显示其他颜色的时候可能会出现异常现象。因此,检测设备需要依次控制显示基板显示红色、绿色和蓝色的画面,且每当显示基板显示一种颜色的画面后,显示基板的检测***需要对该显示基板执行一次确定异常的灯珠的位置信息的过程,也即是,需要重复执行三次上述步骤304至步骤311,即可让检测设备确定出显示基板中所有异常的灯珠的位置信息。
步骤312、检测设备基于显示基板中异常的灯珠的位置信息,向显示基板发送标记指令。
在本申请实施例中,在检测设备确定出显示基板中所有异常的灯珠的位置信息后,检测设备可以向显示基板发送标记指令。该标记指令用于指示显示基板显示标记图标,该标记图标用于对异常的灯珠进行标记。
示例的,检测设备可以向显示基板的发送卡发送标记指令。
步骤313、显示基板根据该标记指令显示标记图标。
在本申请实施例中,显示基板在接收到标记指令后,显示基板可以根据该标记指令显示标记图标。例如,该标记图标可以为十字或箭头等。该标记图标能够对该显示基板中出现异常的灯珠进行标记,使得维修人员能够根据标记图标的位置快速的寻找到出现故障的灯珠,并对该故障的灯珠进行维修。
示例的,显示基板中的发送卡可以接收标记指令,并根据该标记指令通过接收卡控制显示基板显示标记图标。
需要说明的是,本申请实施例提供的显示基板的检测方法步骤的先后顺序可以进行适当调整,步骤也可以根据情况进行相应增减,任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内,可轻易想到变化的方法,都应涵盖在本申请的保护范围之内,因此不再赘述。
综上所述,本申请实施例提供的显示基板的检测方法,通过检测相机拍摄显示基板所显示的画面的图像中的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像,并基于该异常的灯珠图像的位置,确定显示基板中异常的灯珠的位置信息。无需在显示基板中设置检测单元,便能够实现对异常的灯珠的位置进行检测,简化了显示基板的结构,从而提高了该显示基板的制造效率和维护效率。
请参考图7,图7是本申请实施例提供的一种显示基板的检测装置的框图。该显示基板的检测框图400可以包括:
获取模块401,用于获取相机拍摄的包含显示基板所显示的画面的图像。该显示基板具有用于显示画面的阵列排布的多个灯珠。
第一确定模块402,用于基于图像中与每个灯珠对应的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像。
第二确定模块403,用于基于异常的灯珠图像在图像中的位置信息,确定显示基板中异常的灯珠的位置信息。
综上所述,本申请实施例提供的显示基板的检测装置,通过检测相机拍摄显示基板所显示的画面的图像中的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像,并基于该异常的灯珠图像的位置,确定显示基板中异常的灯珠的位置信息。无需在显示基板中设置检测单元,便能够实现对异常的灯珠的位置进行检测,简化了显示基板的结构,从而提高了该显示基板的制造效率和维护效率。
可选的,请参考图8,图8是本申请实施例提供的一种第一确定模块的框图,该第一确定模块402,可以包括:
第一确定单元4021,用于基于图像中的灯珠图像的图像信息,确定正常的灯珠图像的轮廓的正常尺寸范围。
第二确定单元4022,用于基于正常尺寸范围,在图像中确定异常的灯珠图像。
可选的,请参考图9,图9是本申请实施例提供的一种第二确定单元的框图,该第二确定单元4022,可以包括:
第一确定子单元4022a,用于基于正常尺寸范围,以及显示基板的物理信息,确定正常间距范围,正常间距范围为任意两个相邻的正常的灯珠图像中一个灯珠图像的中心与另一个灯珠图像的轮廓之间的最小距离范围,显示基板的物理信息包括:显示基板的实际尺寸信息、显示基板的分辨率,以及显示基板中任意两个相邻的灯珠间距。
第二确定子单元4022b,用于基于正常间距范围,在图像中确定异常的灯珠图像。
可选的,该第二确定子单元4022b,用于基于正常距范围,按照设定顺序对图像中的每个灯珠图像执行检测过程。其中,对于每个灯珠图像,检测过程包括:
检测当前灯珠图像之前是否存在与当前灯珠图像相邻且正常的参考灯珠图像;若当前灯珠图像之前存在参考灯珠图像,当参考灯珠图像的中心与当前灯珠图像的轮廓之间的最小间距在正常间距范围外时,确定当前灯珠图像为异常的灯珠图像。
可选的,该检测过程还包括:
在检测当前灯珠图像之前是否存在与当前灯珠图像相邻且正常的参考灯珠图像之前,基于图像中的灯珠图像的图像信息,检测当前灯珠图像是否存在轮廓;若当前灯珠图像不存在轮廓,确定当前灯珠图像为异常的灯珠图像。
可选的,请参考图10,图10是本申请实施例提供的另一种第二确定单元的框图,该第二确定单元4022,可以包括:
检测子单元4022c,用于依次检测图像中每个灯珠图像的轮廓尺寸是否在正常尺寸范围外。
第三确定子单元4022d,用于将图像中的轮廓尺寸在正常尺寸范围外的灯珠图像确定为异常的灯珠图像。
可选的,该显示基板的检测装置还可以包括:轮廓提取模块,用于在基于图像中的灯珠图像的图像信息,确定正常的灯珠图像的轮廓的正常尺寸范围之前,对图像中的灯珠图像进行轮廓提取处理,得到轮廓提取处理后的图像。
请参考图11,图11是本申请实施例提供的一种第一确定单元的框图,该第一确定单元4021,可以包括:
平均处理子单元4021a,用于在轮廓提取处理后的图像中选取多个具有轮廓的灯珠图像,对多个具有轮廓的灯珠图像的轮廓尺寸进行平均处理,得到平均处理后的轮廓尺寸。
第四确定子单元4021b,用于基于平均处理后的轮廓尺寸,确定正常尺寸范围。
可选的,请参考图12,图12是本申请实施例提供的一种第一确定模块的框图,该第一确定模块402可以包括:
第三确定单元4023,用于基于图像中的灯珠图像的图像信息,确定正常的灯珠图像的正常灰阶范围。
灰阶检测单元4024,用于依次检测图像中每个灯珠图像的平均灰阶是否在正常灰阶范围外。
第四确定单元4025,用于将图像中的平均灰阶在正常灰阶范围外的灯珠图像确定为异常的灯珠图像。
可选的,请参考图13,图13是本申请实施例提供的另一种显示基板的检测装置的框图,该显示基板的检测装置400还可以包括:第一发送模块404,用于向显示基板发送参数初始化指令,参数初始化指令用于指示显示基板将参数恢复为初始参数。
可选的,该显示基板的检测装置400还可以包括:第二发送模块405,用于向显示基板发送画面显示指令,画面显示指令用于指示显示基板显示纯色的画面。
可选的,该显示基板的检测装置400还可以包括:第三发送模块406,用于基于显示基板中异常的灯珠的位置信息,向显示基板发送标记指令,标记指令用于指示显示基板显示标记图标,标记图标用于对异常的灯珠进行标记。
综上所述,本申请实施例提供的显示基板的检测装置,通过检测相机拍摄显示基板所显示的画面的图像中的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像,并基于该异常的灯珠图像的位置,确定显示基板中异常的灯珠的位置信息。无需在显示基板中设置检测单元,便能够实现对异常的灯珠的位置进行检测,简化了显示基板的结构,从而提高了该显示基板的制造效率和维护效率。
本申请实施例还提供了一种显示基板的检测***,该显示基板的检测***的结构可以参考图1。该显示基板的检测***100包括:检测设备101和相机102。图7或图13示出的显示基板的检测装置400可以集成在检测设备101上。
示例的,该显示基板的检测***中的检测设备和相机的作用如下:
相机用于拍摄包含显示基板所显示的画面的图像,并向检测设备发送图像。该显示基板具有用于显示画面的阵列排布的多个灯珠。
检测设备用于获取相机发送的图像,并基于该图像中与每个灯珠对应的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像。
检测设备用于基于异常的灯珠图像在图像中的位置信息,确定显示基板中异常的灯珠的位置信息。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的***、装置、模块、单元和子单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
本申请实施例还提供了一种计算机设备,该计算机设备可以为图1示出的显示基板的检测***100中的检测设备101。该计算机设备包括:至少一个处理器;和至少一个存储器;
其中,该至少一个存储器存储有一个或多个程序;
至少一个处理器,用于执行至少一个存储器上所存储的程序,以实现图2或图3示出的显示基板的方法。示例的,该方法可以包括:
获取相机拍摄的包含显示基板所显示的画面的图像,显示基板具有用于显示画面的阵列排布的多个灯珠;基于图像中与每个灯珠对应的灯珠图像的图像信息,确定异常的灯珠图像;基于异常的灯珠图像在图像中的位置信息,确定显示基板中异常的灯珠的位置信息。
本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质,该存储介质为非易失性存储介质,该存储介质中存储有代码指令,该代码指令由处理器执行,以执行图2或图3示出的显示基板的检测方法。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成,也可以通过程序来指令相关的硬件完成,的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。
以上仅为本申请的可选的实施例,并不用以限制本申请,凡在本申请的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种显示基板的检测方法,其特征在于,所述方法包括:
获取相机拍摄的包含所述显示基板所显示的画面的图像,所述显示基板具有用于显示画面的阵列排布的多个灯珠;
采用函数库对所述图像中的灯珠图像进行轮廓提取处理,得到轮廓提取后的灯珠图像,基于所述轮廓提取后的灯珠图像的轮廓,确定正常的灯珠图像的轮廓的正常尺寸范围;基于所述正常尺寸范围确定正常间距范围,所述正常间距范围为任意两个相邻的正常的灯珠图像中一个灯珠图像的中心与另一个灯珠图像的轮廓之间的最小距离范围;基于所述正常间距范围,按照设定顺序对所述图像中的每个灯珠图像执行检测过程,其中,对于所述每个灯珠图像,所述检测过程包括:检测当前灯珠图像之前是否存在与所述当前灯珠图像相邻且正常的参考灯珠图像;若所述当前灯珠图像之前存在所述参考灯珠图像,当所述参考灯珠图像的中心与所述当前灯珠图像的轮廓之间的最小间距在所述正常间距范围外时,确定所述当前灯珠图像为异常的灯珠图像;
基于所述异常的灯珠图像在所述图像中的位置信息,确定所述显示基板中异常的灯珠的位置信息。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述正常尺寸范围确定正常间距范围,包括:
基于所述正常尺寸范围,以及所述显示基板的物理信息,确定正常间距范围,所述显示基板的物理信息包括:所述显示基板的实际尺寸信息、所述显示基板的分辨率,以及所述显示基板中任意两个相邻的灯珠间距。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测过程还包括:
在所述检测当前灯珠图像之前是否存在与所述当前灯珠图像相邻且正常的参考灯珠图像之前,基于所述图像中的灯珠图像的图像信息,检测所述当前灯珠图像是否存在轮廓;
若所述当前灯珠图像不存在轮廓,确定所述当前灯珠图像为异常的灯珠图像。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述正常尺寸范围,在所述图像中确定所述异常的灯珠图像,包括:
依次检测所述图像中每个灯珠图像的轮廓尺寸是否在所述正常尺寸范围外;
将所述图像中的轮廓尺寸在所述正常尺寸范围外的灯珠图像确定为异常的灯珠图像。
5.根据权利要求1至4任一所述的方法,其特征在于,所述基于所述轮廓提取后的灯珠图像的轮廓,确定正常的灯珠图像的轮廓的正常尺寸范围,包括:
在所述轮廓提取处理后的图像中选取多个具有轮廓的灯珠图像,对所述多个具有轮廓的灯珠图像的轮廓尺寸进行平均处理,得到平均处理后的轮廓尺寸;
基于所述平均处理后的轮廓尺寸,确定所述正常尺寸范围。
6.根据权利要求1至4任一所述的方法,其特征在于,在所述获取相机拍摄的包含所述显示基板所显示的画面的图像之前,所述方法还包括:
向所述显示基板发送参数初始化指令,所述参数初始化指令用于指示所述显示基板将参数恢复为初始参数。
7.根据权利要求1至4任一所述的方法,其特征在于,在所述获取相机拍摄的包含所述显示基板所显示的画面的图像之前,所述方法还包括:
向所述显示基板发送画面显示指令,所述画面显示指令用于指示所述显示基板显示纯色的画面。
8.根据权利要求1至4任一所述的方法,其特征在于,在基于所述异常的灯珠图像在所述图像中的位置信息,确定所述显示基板中异常的灯珠的位置信息之后,所述方法还包括:
基于所述显示基板中异常的灯珠的位置信息,向所述显示基板发送标记指令,所述标记指令用于指示所述显示基板显示标记图标,所述标记图标用于对所述异常的灯珠进行标记。
9.一种显示基板的检测***,其特征在于,所述***包括:检测设备和相机;
所述相机用于拍摄包含所述显示基板所显示的画面的图像,并向所述检测设备发送所述图像,所述显示基板具有用于显示画面的阵列排布的多个灯珠;
所述检测设备用于采用函数库对所述图像中的灯珠图像进行轮廓提取处理,得到轮廓提取后的灯珠图像,基于所述轮廓提取后的灯珠图像的轮廓,确定正常的灯珠图像的轮廓的正常尺寸范围;基于所述正常尺寸范围确定正常间距范围,所述正常间距范围为任意两个相邻的正常的灯珠图像中一个灯珠图像的中心与另一个灯珠图像的轮廓之间的最小距离范围;基于所述正常间距范围,按照设定顺序对所述图像中的每个灯珠图像执行检测过程,其中,对于所述每个灯珠图像,所述检测过程包括:检测当前灯珠图像之前是否存在与所述当前灯珠图像相邻且正常的参考灯珠图像;若所述当前灯珠图像之前存在所述参考灯珠图像,当所述参考灯珠图像的中心与所述当前灯珠图像的轮廓之间的最小间距在所述正常间距范围外时,确定所述当前灯珠图像为异常的灯珠图像;
所述检测设备用于基于所述异常的灯珠图像在所述图像中的位置信息,确定所述显示基板中异常的灯珠的位置信息。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112464936B (zh) * 2020-12-11 2022-12-20 合肥维信诺科技有限公司 显示模组异常显示区域的定位方法和定位装置

Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH056928A (ja) * 1991-06-27 1993-01-14 Hitachi Ltd パターン検査方法及び装置
JP2004301705A (ja) * 2003-03-31 2004-10-28 Toshiba Corp パターン欠陥検査方法及びパターン欠陥検査装置
CN101937633A (zh) * 2010-08-19 2011-01-05 深圳市中庆微科技开发有限公司 一种led显示屏坏点位置定位方法和***
CN103997631A (zh) * 2014-06-09 2014-08-20 广东威创视讯科技股份有限公司 一种基于相机拍摄的led逐点位置轮廓提取方法及***
CN104217684A (zh) * 2014-09-11 2014-12-17 西安诺瓦电子科技有限公司 Led坏点处理方法及检测方法、及led显示控制方法
CN105241638A (zh) * 2015-09-09 2016-01-13 重庆平伟光电科技有限公司 基于视觉的led模块亮度均匀性快速检测方法
CN105301810A (zh) * 2015-11-24 2016-02-03 上海斐讯数据通信技术有限公司 一种屏幕缺陷检测方法及装置
CN105627920A (zh) * 2015-12-18 2016-06-01 小米科技有限责任公司 尺寸显示方法和装置
CN106409196A (zh) * 2016-11-21 2017-02-15 西安诺瓦电子科技有限公司 Led显示控制卡故障检测方法
CN107065247A (zh) * 2017-06-07 2017-08-18 惠科股份有限公司 一种显示面板检测方法、装置及***
CN107103867A (zh) * 2017-04-19 2017-08-29 西安诺瓦电子科技有限公司 显示控制卡检测方法及装置、检测***和生产线
CN107483917A (zh) * 2017-07-17 2017-12-15 深圳威特姆光电科技有限公司 显示屏坏点在线检测装置和显示屏坏点在线检测的方法
CN108489404A (zh) * 2017-12-29 2018-09-04 三英精控(天津)仪器设备有限公司 一种测量led显示屏外形尺寸的方法
CN108596908A (zh) * 2018-05-10 2018-09-28 深圳清华大学研究院 Led显示屏检测方法、装置及终端
CN108986069A (zh) * 2018-05-30 2018-12-11 哈尔滨工业大学深圳研究生院 一种amoled显示屏缺陷检测方法、***及存储介质
CN109119009A (zh) * 2017-06-26 2019-01-01 深圳回收宝科技有限公司 屏幕缺陷检测方法、检测设备、***及存储介质

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107515481B (zh) * 2017-08-29 2020-09-11 惠科股份有限公司 一种显示面板的检测方法和装置

Patent Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH056928A (ja) * 1991-06-27 1993-01-14 Hitachi Ltd パターン検査方法及び装置
JP2004301705A (ja) * 2003-03-31 2004-10-28 Toshiba Corp パターン欠陥検査方法及びパターン欠陥検査装置
CN101937633A (zh) * 2010-08-19 2011-01-05 深圳市中庆微科技开发有限公司 一种led显示屏坏点位置定位方法和***
CN103997631A (zh) * 2014-06-09 2014-08-20 广东威创视讯科技股份有限公司 一种基于相机拍摄的led逐点位置轮廓提取方法及***
CN104217684A (zh) * 2014-09-11 2014-12-17 西安诺瓦电子科技有限公司 Led坏点处理方法及检测方法、及led显示控制方法
CN105241638A (zh) * 2015-09-09 2016-01-13 重庆平伟光电科技有限公司 基于视觉的led模块亮度均匀性快速检测方法
CN105301810A (zh) * 2015-11-24 2016-02-03 上海斐讯数据通信技术有限公司 一种屏幕缺陷检测方法及装置
CN105627920A (zh) * 2015-12-18 2016-06-01 小米科技有限责任公司 尺寸显示方法和装置
CN106409196A (zh) * 2016-11-21 2017-02-15 西安诺瓦电子科技有限公司 Led显示控制卡故障检测方法
CN107103867A (zh) * 2017-04-19 2017-08-29 西安诺瓦电子科技有限公司 显示控制卡检测方法及装置、检测***和生产线
CN107065247A (zh) * 2017-06-07 2017-08-18 惠科股份有限公司 一种显示面板检测方法、装置及***
CN109119009A (zh) * 2017-06-26 2019-01-01 深圳回收宝科技有限公司 屏幕缺陷检测方法、检测设备、***及存储介质
CN107483917A (zh) * 2017-07-17 2017-12-15 深圳威特姆光电科技有限公司 显示屏坏点在线检测装置和显示屏坏点在线检测的方法
CN108489404A (zh) * 2017-12-29 2018-09-04 三英精控(天津)仪器设备有限公司 一种测量led显示屏外形尺寸的方法
CN108596908A (zh) * 2018-05-10 2018-09-28 深圳清华大学研究院 Led显示屏检测方法、装置及终端
CN108986069A (zh) * 2018-05-30 2018-12-11 哈尔滨工业大学深圳研究生院 一种amoled显示屏缺陷检测方法、***及存储介质

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
基于机器视觉的手机屏幕缺陷检测方法研究;郝仕嘉 等;《信息与电脑》;20180930(第9期);第50-53页 *

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