CN111897682A - 一种测试结果记录方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例公开了一种测试结果记录方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：对测试存储块进行PEC编程‑擦除循环测试；当所有的测试存储块均完成对应的PEC测试时，对所述测试存储块进行读取操作，得到读数据；将所述读数据与编程源数据进行比对，以统计测试存储块的错误位信息；将所述错误位信息存储在预设存储块；其中，所述预设存储块不参与PEC测试。通过采用上述技术方案，实现了在PEC测试过程中对错误位信息的可靠记录。

Description

一种测试结果记录方法、装置、电子设备及存储介质
技术领域
本发明实施例涉及闪存技术领域，尤其涉及一种测试结果记录方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
EMMC(Embedded Multi Media Card，嵌入式多媒体卡)是MMC协会订立的，主要针对手机或者平板电脑等产品的内嵌式存储器标准规格，由一个嵌入式存储解决方案组成，带有MMC多媒体接口、快闪存储器(例如nand flash)以及EMMC控制器。越来越多的移动设备采用EMMC芯片作为存储单元。
EMMC的PEC(Program Erase Cycle，编程-擦除循环)测试是指针对nand的存储块进行编程-擦除设定次数的循环之后，读取所述存储块中存储的数据，并将读取的数据与原始编程数据进行比对，以确定错误位。通常每个存储页中每1K的数据需要统计一次错误位的总和，由于nand的存储页有很多，对应的错误位信息的数据量也很大，而错误位信息对于分析nand的性能非常重要，因此对所述错误位信息进行可靠的记录非常有必要。
现有技术中，通常是通过总线将运行nand芯片的板子与电脑连接，利用windows下的工具SecureCRT记录所述错误位信息，并打印所述错误位信息。但是由于总线容易松动，导致运行nand芯片的板子与电脑之间的连接不稳定，进而干扰SecureCRT对所述错误位信息的记录，且电脑在PEC测试过程中经常会出现打印乱码或者死机的现象，进而影响PEC测试效率。
发明内容
本发明实施例提供一种测试结果记录方法、装置、电子设备及存储介质，通过所述方法实现了在PEC测试过程中对错误位信息的可靠记录。
第一方面，本发明实施例提供了一种测试结果记录方法，所述方法包括：
对测试存储块进行PEC编程-擦除循环测试；
当所有的测试存储块均完成对应的PEC测试时，对所述测试存储块进行读取操作，得到读数据；
将所述读数据与编程源数据进行比对，以统计测试存储块的错误位信息；
将所述错误位信息存储在预设存储块；
其中，所述预设存储块不参与PEC测试。
第二方面，本发明实施例提供了一种测试结果记录装置，所述装置包括：
测试模块，用于对测试存储块进行PEC编程-擦除循环测试；
读取模块，用于当所有的测试存储块均完成对应的PEC测试时，对所述测试存储块进行读取操作，得到读数据；
统计模块，用于将所述读数据与编程源数据进行比对，以统计测试存储块的错误位信息；
存储模块，用于将所述错误位信息存储在预设存储块；
其中，所述预设存储块不参与PEC测试。
第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7任一项所述的测试结果记录方法。
第四方面，本发明实施例提供了一种包含计算机可执行指令的存储介质，所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时实现如权利要求1-7任一项所述的测试结果记录方法。
本发明实施例提供的一种测试结果记录方法，通过对测试存储块进行PEC编程-擦除循环测试；当所有的测试存储块均完成对应的PEC测试时，对所述测试存储块进行读取操作，得到读数据；将所述读数据与编程源数据进行比对，以统计测试存储块的错误位信息；将所述错误位信息存储在预设存储块；其中，所述预设存储块不参与PEC测试的技术手段，实现了对PEC测试过程中错误位信息的可靠记录。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对本发明实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据本发明实施例的内容和这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例一提供的一种测试结果记录方法流程示意图；
图2为本发明实施例一提供的一种存储单元阵列的结构示意图；
图3为本发明实施例二提供的一种测试结果记录方法流程示意图；
图4为本发明实施例二提供的一种测试方法的流程示意图；
图5为本发明实施例三提供的一种测试结果记录装置的结构示意图；
图6为本发明实施例四提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面将结合附图对本发明实施例的技术方案作进一步的详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一
图1为本发明实施例一提供的一种测试结果记录方法流程示意图。本实施例公开的测试结果记录方法可以由测试结果记录装置来执行，其中该装置可由软件和/或硬件实现，并一般集成在芯片中，例如EMMC芯片等。具体参见图1所示，该方法包括如下步骤：
步骤110、对测试存储块进行PEC编程-擦除循环测试。
其中，PEC编程-擦除循环测试是指针对nand的存储块进行设定次数的“编程-擦除-编程-擦除”循环之后，读取所述存储块中存储的数据，并将读取的数据与编程源数据进行比对，以确定错误位的过程。所述测试存储块具体指参与PEC测试的存储块，nand的全部存储块可划分为测试存储块和预设存储块两类，其中，预设存储块是专门用于存储测试结果的存储块，其不参与PEC测试。具体的划分方式不限，例如可随机指定哪些存储块为预设存储块，哪些存储块为测试存储块。
示例性的，对测试存储块进行PEC编程-擦除循环测试，包括：
确定不同梯度的测试循环值对应的测试存储块，使不同梯度的测试循环值对应的测试存储块均匀分布在闪存的存储空间；
基于各测试存储块的测试循环值对各测试存储块进行测试操作。
其中，所述测试循环值具体指进行测试循环的次数，即进行擦写循环的次数。测试循环值的梯度依据nand芯片的功能进行设置。为了提高测试效果，优选的，不同梯度的测试循环值对应的测试存储块均匀分布在nand的各个存储区域。具体的，参见图2所示的一种存储单元阵列的结构示意图，存储块的大小以及个数由nand存储空间的大小决定。为了方便后续对各存储块进行描述，本实施例对nand的各存储块依次进行标号，从上到下(或者从下到上)依次记为1号存储块，2号存储块，3号存储块……。假设将前20个存储块确定为预设存储块，专门用于存储测试结果，其不参与PEC测试，为了使不同梯度的测试循环值对应的测试存储块均匀分布在剩余的存储块，可按照如下方式分别确定各梯度的测试循环值对应的测试存储块：
当前m个存储块为所述预设存储块时，所述确定不同梯度的测试循环值对应的测试存储块，使不同梯度的测试循环值对应的测试存储块均匀分布在闪存的存储空间，包括：
将标号为m*(N+n)的存储块确定为第n梯度的测试循环值对应的测试存储块；
其中，m为预设常数，且m不等于0，n为正整数，N＝0、nmax、2nmax、3nmax……，nmax为n的最大取值。
举例说明上述确定不同梯度的测试循环值对应的测试存储块的过程：
假设在一次PEC测试中共设置了6组不同梯度的测试循环值，第1梯度的测试循环值为1000、第2梯度的测试循环值为2000、第3梯度的测试循环值为3000、第4梯度的测试循环值为4000、第5梯度的测试循环值为5000、第6梯度的测试循环值为6000。即n的最大取值为6，nmax＝6，则N的可能取值为6的整数倍，即0、6、12、18、24……。设定m为20，即将前20个存储块确定为所述预设存储块，当n＝1时，则将标号为20*(N+1)的存储块确定为第1梯度的测试循环值1000对应的测试存储块，即将标号为20、140、260、380、……的存储块确定为第1梯度的测试循环值1000对应的测试存储块。当n＝2时，则将标号为20*(N+2)的存储块确定为第2梯度的测试循环值2000对应的测试存储块，即将标号为40、160、280、400、……的存储块确定为第2梯度的测试循环值2000对应的测试存储块。当n＝3时，则将标号为20*(N+3)的存储块确定为第3梯度的测试循环值3000对应的测试存储块，即将标号为60、180、300、420、……的存储块确定为第3梯度的测试循环值3000对应的测试存储块。按照上述规则，分别确定第4梯度的测试循环值4000对应的测试存储块、第5梯度的测试循环值5000对应的测试存储块以及第6梯度的测试循环值6000对应的测试存储块。具体参见表1所示的各梯度的测试循环值对应的测试存储块的标号。
表1：各梯度的测试循环值对应的测试存储块的标号
测试存储块的标号 测试循环值
20、140、……、20*(N+1) 1000
40、160、……、20*(N+2) 2000
60、180、……、20*(N+3) 3000
80、200、……、20*(N+4) 4000
100、220、……、20*(N+5) 5000
120、240、……、20*(N+6) 6000
按照上述确定方法即可实现使不同梯度的测试循环值对应的测试存储块均匀分布在闪存的存储空间。
所述基于各测试存储块的测试循环值对各测试存储块进行测试操作，具体可以是，基于各测试存储块的测试循环值对各测试存储块依次进行测试操作，即从排在最前面的测试存储块开始进行测试，当排在最前面的测试存储块完成其设定次数的擦除-编程循环测试之后，再对下一个测试存储块进行测试，直到所有的测试存储块依次完成各自设定次数的擦除-编程循环测试。这种测试方法存在的问题是，当最后一个测试存储块完成测试之后，最后一个测试存储块存储的数据较新，而排在前面的测试存储块存储的数据相对较旧，如此再将读取的数据整体与编程源数据进行比对时，会掺杂进数据滞留对测试存储块存储数据的影响，进而导致读取的数据不准确，那么得到的比对结果也是不准确的，影响测试效果。基于此，所述基于各测试存储块的测试循环值对各测试存储块进行测试操作，还可以是采用一定的测试规则对各测试存储块进行测试操作，使各测试存储块同时完成测试。
步骤120、当所有的测试存储块均完成对应的PEC测试时，对所述测试存储块进行读取操作，得到读数据。
具体的，可通过向所述测试存储块施加对应的读电压实现所述读操作，得到读出结果，即所述读数据，所述读数据的实质为当前存储在所述测试存储块的数据。
步骤130、将所述读数据与编程源数据进行比对，以统计测试存储块的错误位信息。
所述编程源数据即为向所述测试存储块写入的数据，通过将读出的数据与写入的数据进行比对，可发现读出的数据中哪些与当初写入的数据不同，将与当初写入的数据不同的数据确定为错误数据，存储该错误数据的存储单元确定为错误位单元；通常还需要统计每个存储页的每1K的数据中错误数据量的总和；所述错误位信息包括所述错误位单元以及错误数据量的总和。
步骤140、将所述错误位信息存储在预设存储块。
其中，所述预设存储块是预先指定的，nand中专门用于存储测试结果的存储块，该存储块不参与PEC测试。通过将所述错误位信息存储在预设存储块，实现了即使掉电所述错误位信息也不会丢失的目的，实现了对所述错误位信息的可靠存储，为分析nand芯片的存储性能提供了有力依据。
进一步的，所述方法还包括：将所述预设存储块中存储的所述错误位信息读取至电脑端，以基于所述错误位信息进行数据分析。
本实施例提供的一种测试结果记录方法，通过将测试过程中得到的错误位信息存储至预设的存储块，实现了即使掉电所述错误位信息也不会丢失的目的，进而实现了对所述错误位信息的可靠存储，为分析nand芯片的存储性能提供了有力依据。
实施例二
图3为本发明实施例二提供的一种测试结果记录方法流程示意图。在上述实施例的基础上，本实施例对步骤“基于各测试存储块的测试循环值对各测试存储块进行测试操作”进行了优化，优化的好处是可以实现对所有测试存储块的同步测试，使所有测试存储块同时完成测试，避免了由于数据滞留导致的存储数据不稳定的问题，提高了测试效果。具体参见图3所示，该方法包括如下步骤：
步骤310、确定不同梯度的测试循环值对应的测试存储块，使不同梯度的测试循环值对应的测试存储块均匀分布在闪存的存储空间。
步骤320、设置测试变量，所述测试变量用于记录对各测试存储块进行测试操作的总次数。
步骤330、基于测试变量的值确定当前进行测试操作的目标测试存储块，并对所述目标测试存储块进行一次测试操作，以使所有的测试存储块被同时测试完毕。
具体的，参见图4所示的一种测试方法的流程示意图，当所述不同梯度的测试循环值分别为：1000、2000、3000、4000、5000和6000时，所述基于测试变量的值确定当前进行测试操作的目标测试存储块，并对所述目标测试存储块进行一次测试操作，包括：
步骤410、判断测试变量的值是否小于6001，当所述测试变量的值小于6001时，继续执行步骤420，否则结束流程。
步骤420、判断所述测试变量的值与6的取余结果是否等于0，若所述测试变量的值与6的取余结果等于0，则继续执行步骤430，否则执行步骤460。
步骤430、将测试循环值为1000、测试循环值为4000以及测试循环值为6000的测试存储块确定为所述目标测试存储块，继续执行步骤440。
步骤440、对所述测试循环值为1000、测试循环值为4000以及测试循环值为6000的测试存储块进行一次测试操作，继续执行步骤450。
步骤450、将所述测试变量的值增加1，返回执行步骤410。
步骤460、判断所述测试变量的值与3的取余结果是否等于0，若所述测试变量的值与3的取余结果等于0，则继续执行步骤470，否则执行步骤490。
步骤470、将测试循环值为2000、测试循环值为5000以及测试循环值为6000的测试存储块确定为所述目标测试存储块，继续执行步骤480。
步骤480、对所述测试循环值为2000、测试循环值为5000以及测试循环值为6000的测试存储块进行一次测试操作，继续执行步骤450。
步骤490、判断所述测试变量的值与2的取余结果是否等于0，若所述测试变量的值与2的取余结果等于0，则继续执行步骤4100，否则执行步骤4120。
步骤4100、将测试循环值为3000、测试循环值为4000、测试循环值为5000以及测试循环值为6000的测试存储块确定为所述目标测试存储块，继续执行步骤4110。
步骤4110、对所述测试循环值为3000、测试循环值为4000、测试循环值为5000以及测试循环值为6000的测试存储块进行一次测试操作，继续执行步骤450。
步骤4120、将测试循环值为6000的测试存储块确定为所述目标测试存储块，继续执行步骤4130。
步骤4130、对所述测试循环值为6000的测试存储块进行一次测试操作，继续执行步骤450。
按照上述步骤410-4130，当测试变量的值从1增加到6的过程中，测试变量的值与6的取余结果等于0的情况出现了1次，测试变量的值与3的取余结果等于0的情况出现了2次，测试变量的值与2的取余结果等于0的情况出现了3次，因此，当测试变量的值从1增加到6的过程中，对测试循环值为1000的测试存储块进行了1次测试操作，对测试循环值为2000的测试存储块进行了2次测试操作，对测试循环值为3000的测试存储块进行了3次测试操作，对测试循环值为4000的测试存储块进行了4次测试操作，对测试循环值为5000的测试存储块进行了5次测试操作，对测试循环值为6000的测试存储块进行了6次测试操作，实现了在相同时间段内对不同测试循环值对应的测试存储块进行测试操作的比例一致，均为1/1000。按照上述方法继续循环，当测试变量的值等于6000时，即可同时完成对所有梯度的测试循环值对应的测试存储块的测试操作。
其中，对测试存储块进行一次测试操作的实质为：对测试存储块执行一次“擦除-编程”循环，对测试存储块执行擦除操作通过向测试存储块的控制栅极施加擦除电压实现，对测试存储块执行编程操作通过向测试存储块的控制栅极施加编程电压实现。
步骤340、当所有的测试存储块均完成对应的PEC测试时，对所述测试存储块进行读取操作，得到读数据。
步骤350、将所述读数据与编程源数据进行比对，以统计测试存储块的错误位信息。
步骤360、将所述错误位信息存储在预设存储块。
本实施例提供的一种测试结果记录方法，通过分别将测试变量的值与6、3以及2的取余结果作为判断条件，实现了基于各测试存储块的测试循环值对各测试存储块进行测试操作，使所有的测试存储块被同时测试完毕的目的，避免了由于数据滞留导致的存储数据不稳定的问题，提高了测试效果。
实施例三
图5为本发明实施例三提供的一种测试结果记录装置结构示意图。参见图5所示，所述装置包括：测试模块510、读取模块520、统计模块530和存储模块540；
其中，测试模块510，用于对测试存储块进行PEC编程-擦除循环测试；读取模块520，用于当所有的测试存储块均完成对应的PEC测试时，对所述测试存储块进行读取操作，得到读数据；统计模块530，用于将所述读数据与编程源数据进行比对，以统计测试存储块的错误位信息；存储模块540，用于将所述错误位信息存储在预设存储块；其中，所述预设存储块不参与PEC测试。
进一步的，所述装置还包括：分析模块，用于将所述预设存储块中存储的所述错误位信息读取至电脑端，以基于所述错误位信息进行数据分析。
进一步的，测试模块510包括：
确定单元，用于确定不同梯度的测试循环值对应的测试存储块，使不同梯度的测试循环值对应的测试存储块均匀分布在闪存的存储空间；
测试单元，用于基于各测试存储块的测试循环值对各测试存储块进行测试操作。
进一步的，当前m个存储块为所述预设存储块时，所述确定单元具体用于：
将标号为m*(N+n)的存储块确定为第n梯度的测试循环值对应的测试存储块；
其中，m为预设常数，且m不等于0，n为正整数，N＝0、nmax、2nmax、3nmax……，nmax为n的最大取值。
进一步的，所述测试单元具体用于：
基于各测试存储块的测试循环值依次对各测试存储块进行测试操作。
进一步的，所述测试单元包括：
设置子单元，用于设置测试变量，所述测试变量用于记录对各测试存储块进行测试操作的总次数；
确定子单元，用于基于测试变量的值确定当前进行测试操作的目标测试存储块，并对所述目标测试存储块进行一次测试操作，以使所有的测试存储块被同时测试完毕。
进一步的，当所述不同梯度的测试循环值分别为：1000、2000、3000、4000、5000和6000时，所述确定子单元具体用于：
判断所述测试变量的值与6的取余结果是否等于0；
若所述测试变量的值与6的取余结果等于0，则将测试循环值为1000、测试循环值为4000以及测试循环值为6000的测试存储块确定为所述目标测试存储块；
对所述测试循环值为1000、测试循环值为4000以及测试循环值为6000的测试存储块进行一次测试操作；
若所述测试变量的值与6的取余结果不等于0，则判断所述测试变量的值与3的取余结果是否等于0；
若所述测试变量的值与3的取余结果等于0，则将测试循环值为2000、测试循环值为5000以及测试循环值为6000的测试存储块确定为所述目标测试存储块；
对所述测试循环值为2000、测试循环值为5000以及测试循环值为6000的测试存储块进行一次测试操作；
若所述测试变量的值与3的取余结果不等于0，则判断所述测试变量的值与2的取余结果是否等于0；
若所述测试变量的值与2的取余结果等于0，则将测试循环值为3000、测试循环值为4000、测试循环值为5000以及测试循环值为6000的测试存储块确定为所述目标测试存储块；
对所述测试循环值为3000、测试循环值为4000、测试循环值为5000以及测试循环值为6000的测试存储块进行一次测试操作；
若所述测试变量的值与2的取余结果不等于0，则将测试循环值为6000的测试存储块确定为所述目标测试存储块；
对所述测试循环值为6000的测试存储块进行一次测试操作。
本实施例提供的测试结果记录装置，通过将测试过程中得到的错误位信息存储至预设的存储块，实现了即使掉电所述错误位信息也不会丢失的目的，进而实现了对所述错误位信息的可靠存储，为分析nand芯片的存储性能提供了有力依据。
本发明实施例所提供的测试结果记录装置可执行本发明任意实施例所提供的测试结果记录方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。未在上述实施例中详尽描述的技术细节，可参见本发明任意实施例所提供的测试结果记录方法。
实施例四
图6为本发明实施例四提供的一种电子设备的结构示意图。图6示出了适于用来实现本发明实施方式的示例性电子设备12的框图。图6显示的电子设备12仅仅是一个示例，不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。
如图6所示，电子设备12以通用计算设备的形式表现。电子设备12的组件可以包括但不限于：一个或者多个处理器或者处理单元16，***存储器28，连接不同***组件(包括***存储器28和处理单元16)的总线18。
总线18表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储器总线或者存储器控制器，***总线，图形加速端口，处理器或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。举例来说，这些体系结构包括但不限于工业标准体系结构(ISA)总线，微通道体系结构(MAC)总线，增强型ISA总线、视频电子标准协会(VESA)局域总线以及***组件互连(PCI)总线。
电子设备12典型地包括多种计算机***可读介质。这些介质可以是任何能够被电子设备12访问的可用介质，包括易失性和非易失性介质，可移动的和不可移动的介质。
***存储器28可以包括易失性存储器形式的计算机***可读介质，例如随机存取存储器(RAM)30和/或高速缓存存储器32。电子设备12可以进一步包括其它可移动/不可移动的、易失性/非易失性计算机***存储介质。仅作为举例，存储***34可以用于读写不可移动的、非易失性磁介质(图6未显示，通常称为“硬盘驱动器”)。尽管图6中未示出，可以提供用于对可移动非易失性磁盘(例如“软盘”)读写的磁盘驱动器，以及对可移动非易失性光盘(例如CD-ROM,DVD-ROM或者其它光介质)读写的光盘驱动器。在这些情况下，每个驱动器可以通过一个或者多个数据介质接口与总线18相连。存储器28可以包括至少一个程序产品，该程序产品具有一组(例如测试结果记录装置的测试模块510、读取模块520、统计模块530和存储模块540)程序模块，这些程序模块被配置以执行本发明各实施例的功能。
具有一组(例如测试结果记录装置的测试模块510、读取模块520、统计模块530和存储模块540)程序模块42的程序/实用工具40，可以存储在例如存储器28中，这样的程序模块42包括但不限于操作***、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。程序模块42通常执行本发明所描述的实施例中的功能和/或方法。
电子设备12也可以与一个或多个外部设备14(例如键盘、指向设备、显示器24等)通信，还可与一个或者多个使得用户能与该电子设备12交互的设备通信，和/或与使得该电子设备12能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如网卡，调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口22进行。并且，电子设备12还可以通过网络适配器20与一个或者多个网络(例如局域网(LAN)，广域网(WAN)和/或公共网络，例如因特网)通信。如图所示，网络适配器20通过总线18与电子设备12的其它模块通信。应当明白，尽管图中未示出，可以结合电子设备12使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID***、磁带驱动器以及数据备份存储***等。
处理单元16通过运行存储在***存储器28中的程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，例如实现本发明实施例所提供的测试结果记录方法，该方法包括：
对测试存储块进行PEC编程-擦除循环测试；
当所有的测试存储块均完成对应的PEC测试时，对所述测试存储块进行读取操作，得到读数据；
将所述读数据与编程源数据进行比对，以统计测试存储块的错误位信息；
将所述错误位信息存储在预设存储块；
其中，所述预设存储块不参与PEC测试。
处理单元16通过运行存储在***存储器28中的程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，例如实现本发明实施例所提供的测试结果记录方法。
当然，本领域技术人员可以理解，处理器还可以实现本发明任意实施例所提供的测试结果记录方法的技术方案。
实施例五
本发明实施例五还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如本发明实施例所提供的测试结果记录方法，该方法包括：
对测试存储块进行PEC编程-擦除循环测试；
当所有的测试存储块均完成对应的PEC测试时，对所述测试存储块进行读取操作，得到读数据；
将所述读数据与编程源数据进行比对，以统计测试存储块的错误位信息；
将所述错误位信息存储在预设存储块；
其中，所述预设存储块不参与PEC测试。
当然，本发明实施例所提供的一种计算机可读存储介质，其上存储的计算机程序不限于如上所述的方法操作，还可以执行本发明任意实施例所提供的测试结果记录方法中的相关操作。
本发明实施例的计算机存储介质，可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的***、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本文件中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行***、装置或者器件使用或者与其结合使用。
计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行***、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。
计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括——但不限于无线、电线、光缆、RF等等，或者上述的任意合适的组合。
可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本发明操作的计算机程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、Smalltalk、C++，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如”C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种测试结果记录方法，其特征在于，包括：
对测试存储块进行PEC编程-擦除循环测试；
当所有的测试存储块均完成对应的PEC测试时，对所述测试存储块进行读取操作，得到读数据；
将所述读数据与编程源数据进行比对，以统计测试存储块的错误位信息；
将所述错误位信息存储在预设存储块；
其中，所述预设存储块不参与PEC测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：将所述预设存储块中存储的所述错误位信息读取至电脑端，以基于所述错误位信息进行数据分析。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述对测试存储块进行PEC编程-擦除循环测试，包括：
确定不同梯度的测试循环值对应的测试存储块，使不同梯度的测试循环值对应的测试存储块均匀分布在闪存的存储空间；
基于各测试存储块的测试循环值对各测试存储块进行测试操作。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，当前m个存储块为所述预设存储块时，所述确定不同梯度的测试循环值对应的测试存储块，使不同梯度的测试循环值对应的测试存储块均匀分布在闪存的存储空间，包括：
将标号为m*(N+n)的存储块确定为第n梯度的测试循环值对应的测试存储块；
其中，m为预设常数，且m不等于0，n为正整数，N＝0、nmax、2nmax、3nmax……，nmax为n的最大取值。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于各测试存储块的测试循环值对各测试存储块进行测试操作，包括：
基于各测试存储块的测试循环值依次对各测试存储块进行测试操作。
6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于各测试存储块的测试循环值对各测试存储块进行测试操作，包括：
设置测试变量，所述测试变量用于记录对各测试存储块进行测试操作的总次数；
基于测试变量的值确定当前进行测试操作的目标测试存储块，并对所述目标测试存储块进行一次测试操作，以使所有的测试存储块被同时测试完毕。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，当所述不同梯度的测试循环值分别为：1000、2000、3000、4000、5000和6000时，所述基于测试变量的值确定当前进行测试操作的目标测试存储块，并对所述目标测试存储块进行一次测试操作，包括：
判断所述测试变量的值与6的取余结果是否等于0；
若所述测试变量的值与6的取余结果等于0，则将测试循环值为1000、测试循环值为4000以及测试循环值为6000的测试存储块确定为所述目标测试存储块；
对所述测试循环值为1000、测试循环值为4000以及测试循环值为6000的测试存储块进行一次测试操作；
若所述测试变量的值与6的取余结果不等于0，则判断所述测试变量的值与3的取余结果是否等于0；
若所述测试变量的值与3的取余结果等于0，则将测试循环值为2000、测试循环值为5000以及测试循环值为6000的测试存储块确定为所述目标测试存储块；
对所述测试循环值为2000、测试循环值为5000以及测试循环值为6000的测试存储块进行一次测试操作；
若所述测试变量的值与3的取余结果不等于0，则判断所述测试变量的值与2的取余结果是否等于0；
若所述测试变量的值与2的取余结果等于0，则将测试循环值为3000、测试循环值为4000、测试循环值为5000以及测试循环值为6000的测试存储块确定为所述目标测试存储块；
对所述测试循环值为3000、测试循环值为4000、测试循环值为5000以及测试循环值为6000的测试存储块进行一次测试操作；
若所述测试变量的值与2的取余结果不等于0，则将测试循环值为6000的测试存储块确定为所述目标测试存储块；
对所述测试循环值为6000的测试存储块进行一次测试操作。
8.一种测试结果记录装置，其特征在于，所述装置包括：
测试模块，用于对测试存储块进行PEC编程-擦除循环测试；
读取模块，用于当所有的测试存储块均完成对应的PEC测试时，对所述测试存储块进行读取操作，得到读数据；
统计模块，用于将所述读数据与编程源数据进行比对，以统计测试存储块的错误位信息；
存储模块，用于将所述错误位信息存储在预设存储块；
其中，所述预设存储块不参与PEC测试。
9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7中任一项所述的测试结果记录方法。
10.一种包含计算机可执行指令的存储介质，所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的测试结果记录方法。
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