CN1117546A - 为检验织造缺陷而进行的平面织物成像及图像处理方法 - Google Patents
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Abstract
本发明方法在于:a)获得织物表面的一个初始图像,这种图像的特征至少在于有一个周期矢量(另外的为);b)同时或连续地对初始图像进行滤波以便得到经滤波的黑、白图象:b1)同时算出初始图像每个基本点的灰度NG′(P),b2)同时在基本点P上指定经前一步骤算出的灰度,b3)通过与一预定阈值S1t(另外的为S1c)进行比较而使每个基本点P的灰度变成二进制的。
Description
本发明涉及的是获得和处理纺织品织物类的周期结构平面体图象的方法,以便检验(探测)该织物的织造缺陷。
在织造领域,每一块纺织品的特征都可表现在多少有些复杂的织纹上,织纹对应于基本图案,该图案根据经纬纱的交织方式在整个纺织品中周期性地重复再现。因此,纺织品的周期结构是由织纹的尺寸(大小)和织纹重复出现的两个方向所决定的。这两个方向基本上就是构成纺织品的两股正常织造纹路的经纬纱方向。
当织造纺织品过程中出现缺陷时,该纺织品的结构中就会显示出周期性的缺陷。实际上,一旦纺织品完全织成,当进行称作验布的补充操作时就算对织造中可能出现的缺陷进行了检测,这种操作在于将一块纺织品摊在操者前面的验布桌上。操作者用目力检查该块纺织品的质量,当他看到缺陷时,就停止摊开纺织品,并将一个缺陷标记疵点置于织边上。
然而,上述的验布操作仍有失误的根源,而且不能匀速地大量处理纺织品。
为了克服这些缺陷,尤其在专利文件US.4,619,527中已经提出过,通过用自动探测一块纺织品中的织造缺陷来代替人工验布,这种自动探测的机理是获得纺织品的最初数字图象,并对该图象进行处理。在将该纺织品连续平整地摊在验布台上时,用光束以透射和/或反射方式来照射该纺织品。成象装置采用的是光电传感器,该传感器将纺织品纤维透射和/或反射的光转换成随后被数字化的模拟信号,成象装置获得纺织品表面的一个数字图象,将这样的图象进行滤波,以便滤除图象中织物的通常织法。这种通常织法与纺织品经纬纱的规则交织相关。图象滤波的基本原理是找出两种发光度值之间的差,这两种发光度数值是在对穿过两个相同窄(狭)缝的发光度求平均值而得到的,这两个窄缝或与经纱方向平行,或与纬纱方向平行。
专利文献US.4,619,597中所述的滤波方法借助于适合的滤波器完成,也可以通过从纺织物表面上获得的初始图象进行电处理完成。这种滤波方法的缺点在于没有考虑到纺织物结构的周期性。
为了考虑这种周期性,在欧洲专利申请EP.243639中已经提出对初始图象进行滤波,该图象是这样获得的,在第一阶段,对每个基本点给定一个灰度,该灰度是由所述基本点的灰度与其相邻差不多在一个周期附近的基本点的灰度进行比较而得到的,而在第二阶段,通过与预定阈值比较使该灰度变成二进制的。
在这种情况下新出现的问题是确定该滤波阈值。事实已表明,采用不同的两种纺织物,在滤波质量方面,一种指定值的滤波阈值所得的结果不同。
本申请的目的在于提供一种获得和处理周期结构平面织物图象的方法,该方法可以克服考虑到每种织物的特性所出现的缺点,并能计算出适于每种织物的滤波阈值。
用本发明的方法可以完美地达到该目的,本发明的已有技术是欧洲专利申请EP.243639所描述的,它主要在于:
a)获得一个织物表面的初始图象,这种图象的特征至少在于有一个周期矢量
(另外的为
b)同时或连续地对初始图象进行滤波,以便获得黑、白色的滤波图象;
b2)同时给基本点P指定经前一步骤计算出的灰度;
b3)通过与第一个阈值S1t(另一个为S1c)进行比较使每一个基本点P的灰度变成二进制的。
从本发明的特征上来讲,本方法有一个预备步骤,该步骤称之为最初的尝试(初验)步骤,它包括下面的连续步骤:
-获得织物部分表面的称作初验数字图象,该部分表面被证明是有缺陷的,
-把上述步骤b1)至b2用于初验图象上,
-根据滤波后的初验图象灰度矩形统计图自动计算第一个阈值S1t(另一个为S1c)
确实,由欧洲专利申请EP.496086中已知,获取被证明有缺陷的部分纺织物的初验图象,并用该初验图象来确定纺织物径向或纬向矢量。但是,该文件并未指明如何根据满足欧洲专利申请EP.0243639的说明而滤波的初验图象矩形统计图来计算滤波阈值。
最好应该注意到,一旦得到图象并将该图象存储起来,就可以对相应于上述步骤b)的初始图象进行滤波。实际上,最好也可以在获取初始图象的过程中实时进行滤波。
为了计算第一阈值S1t或S1c最好先算出经滤波的初验图象矩形统计图的灰度分布函数F(S),然后在阈值S为最小时,例如F(S)大于或等于(1-ε)时自动确定第一阈值,ε为小于1的预定系数。更具体地说,为了改善步骤b)得到的黑、白滤波图象,本发明方法最好包括如下补充步骤:c)将步骤b3)中得到的滤波黑、白第二个数字图象进行转换,方式是一方面对于所述第二图象每个基本点P计算位于基本窗孔中的基本点灰度总和,该基本窗孔的形状和尺寸均是预先确定的,它包含了基本点P,另一方面根据所述灰度总和与预定的第二阈值S2t(另一个为S2c)的比较结果,给每个基本点P的灰度指定二进制值0或1。
基本窗孔的形状和尺寸取决于人们所希望探测到的缺陷的类型。实际上,关于矩形基本窗孔,矩形宽度将与人们所希望探测到的缺陷精度有关,矩形长度将与这些缺陷长度有关。
最好当基本窗孔含有n个基本点时,通过计算下列公式而得到第二阈值S2t(另一个为S2c): 因此第二阈值S2t就是第一阈值S1t的函数。周期矢量
或
可以根据织物结构的实际周期和能够得到初始图象的装置分辨率得以确定。周期矢量
或
也可根据初验图象的灰度值外推得到。
本发明的其它特征和优点将从下面结合附图对本发明方法特殊实施例的描述中体现出来,这些实施例被用以探测纺织品织物中的织造缺陷,图中:
图1为能够实施本发明方法的具体装置的总示意图;
图2为图1装置的电子设备的方框图;
图3A和3B为滤波设备两个具体实施模式的方框图,该滤波设备用于图2电子处理设备中它可以实施本发明方法的步骤b1)至b3);
图4为初始图象的示意图,该图象是从纺织品织物表面获得的;
图5为步骤b3)所获得的部分黑、白图象示意图,这部分图象显示出了用于实施步骤c的具体基本窗孔;
图6A为用于图3A装置中的光电二极管器件发射出的光亮度信号;
图6B和6C是一些能够描述来自图6A光亮度信号回波现象的曲线;
图7A为具体的初始图象;
图7B到7F分别为根据对图7A初始图象的滤波所得到的数字图象;
图7G对应于图7A的图象,本发明方法所探测到的缺陷范围出现在该图上;
图8为初验图象的示意图,某些预定矢量示于该图上;
图9A和9B为能够计算出纺织品织物的初始图象周期矢量的工作流程图;
图9C为表示各个步骤的流程图,用这些步骤可以为所给出的周期矢量计算出第一和第二界限(阈)值。
本发明的图象获得及处理方法主要能够探测纺织品织物1中的织造缺陷,例如图1中所示的探测情况。该方法适于得到织物表面的初始数字图象(步骤a)),在获得初始图象的同时或稍后对所得到的初始数字图象进行滤波(步骤b))。可以在相干光或非相干光照射下完成初始数据图象的获得。
根据本领域普通技术人员公知的作为非限定性例子给出的图象获得的方法,连续地沿着箭头D的方向,借助走带-卷绕装置2a、2b使织物1在线性摄象机CCD前面往前移动从而完成成象步骤a。由该摄象机进行的图象拍摄与织物1的运行速度同步。
图1中示意给出的线性摄象机一方面有一个光电二极管器件3,它在每一次图象拍摄时都可以摄取织物1的一行1a,同时将织物反射和透射的光转换成称之为亮度的模拟信号8。另一方面该摄象机还有一个模拟-数字转换器4,它与钟频信号10同步地按八位码将亮度信号8编码成第一个数字信号9,其连续瞬时值构成了织物1初始数字图象基本点的灰度。由电子设备5把该第一个数字信号9转换成第二个数字信号11,其连续瞬时值构成了第二个数宇图象基本点的灰度,该第二个数字图象用显示设备6显示给操作人员,此外,显示设备为公知设备。
图7A中示出了纺织品织物1的初始图象,如果把显示设备6与第一数字信号9相连,初始图象就由该显示设备显示。在图4中也示意性地表示出了该初始图象的局部视图。该图象由许多行29a组成,而这些行又是由若干基本点29b构成的,基本点又称作pixels,每一行线29a都对应于线性摄象机的一次图象拍摄。x和y的方向分别对应于纺织品织物1的经纱和纬纱的总方向。在图4中可清楚地看到,让光电二极管器件3定向,以便平行于纬纱方向。这种特有的定向对于实施本发明的成象及处理方法并不是必需的,这是为使本方法的叙述比较简单起见所选择的。
如果考虑初始数字图象的一个具体基本点P,该点对应有分别依据矢量
和
平移变换的两个基本点A和D。同样,该基本点P也是基本点C和B的对应点,它们分别依据矢量
和
的平移变换而确定的。本发明方法步骤b)的滤波所依据的原理对于每个周期矢量t和c主要在于:根据基本点P的灰度及与其相邻近一个周期附近的基本点的灰度(即按照所涉及的周期矢量
或
的基本点A和C或B和D的灰度)算出每个初始图象的基本点P的新的灰度时,将已得的初始数字图象转变成第二个数字图象。
电子处理设备5的结构和工作性能现在将参照图2、3A和3B进行说明,该设备5可以完成本发明的滤波步骤b)。电子处理设备5的输入有四个位移寄存器13a、3b、13c和13d。这些寄存器按顺序串接在一起,寄存器13a在输入端接收第一数字信号9。将这些寄存器的大小编成程序,使寄存器13a和13d可以容纳n个字节(八位二进制数的位组),寄存器13c和13b可以容纳m个字节。此外,这些寄存器被同一钟频信号H全部同步,该钟频信号是由模拟-数字转换器4的时钟信号10组成的。这样,由模拟一数字转换器产生的并对应于初始数字图象连续基本点灰度的字节在时频信号H的每次驱动下进入由寄存器13a、13b、13c和13d所构成的一列数据中去。
m=ty.n′+tx
n=cy.n′+cx-m
图4所示的实例中,矢量
和
的各个坐标是(4,1)和(2,3),在该情况下,对寄存器13a和13d编程,以便含有2046个字节,而对寄存器13b和13c编程,从而含有1028个字节。这样,在给定的瞬间如果考虑与寄存器13b和13c相连的数字信号14具有图4上的基本点P时,由此会得出数字信号15和16分别对应于基本点A和C。同样,由位移寄存器13d在输出端输出的数字信号9和12对应于基本点D和B。
电子处理设备5还有第一和第二滤波设备17和26,它们可以并行地分别对三个信号14、15和16以及三个信号14、9和12进行处理。
第一滤波设备17的实施例详示于图3A。该设备的输入端包括第一比较器18a和19a以及第二比较器18b和19b,这些比较器在输出端分别输出信号20a和20b,这些信号分别对应于两个信号14和15之差的绝对值和两个信号14和16之差的绝对值。然后由第三个比较器21将信号20a和20b转换成信号21a,该信号值为两个信号20a和20b的最小值。然后根据信号21a值严格地低于或高于第一预定阈值s1t而将信号21a由阈限器22转换成数值为0或1的二进制信号23。
当把显示设备6直接与第一比较器18a、19a的输出端相连时,则可以根据第一实施例来实施本发明的处理方法,该第一实施例在于将下面连续的各步骤用于初始图象的每个基本点P,而每个基本点的灰度由模拟-数字转换器4产生。步骤b1)计算对应于信号20a瞬时值的灰度NG′(P),该灰度等于
本点P和A的灰度差的绝对值;步骤b2)对基本点P施以上面步骤中已算出的灰度NG′(P)。
当把显示设备6与信号20a相连来实施第一个实施例时,图7B就示出了根据图7A的初始图象所得到的经滤波的第二图象。
如果把显示设备6直接与第三比较器21的输出相连,就可以根据第二个实施例来实施本发明的处理方法,第二个实施例在于:一方面在上述步骤b1)中计算灰度NG″(P),该灰度对应于信号20b的瞬间值,并等于基本点P和C的灰度差的绝对值,另一方面,在上述步骤b2)预先进行补充步骤b′1的操作,该步骤主要在于测定对应于信号21a瞬间值的灰度NG(P),该灰度等于灰度NG′(P)和NG″(P)的最小值。图7C示出的第二个经滤波的初始图象是由图7A的第一个初始图象得到的,这是在第二个实施例的范围内。
如果把显示设备6直接与阈限器22的输出相连,就可根据第三个实施例来实施本发明的处理方法,在该实施例中,于步骤b2以后进行一个补充步骤b3的操作,该补充步骤在于:把在步骤b2中算出的灰度NG(P)变成二进制的,同时将此灰度与第一预定阈值S1t相比较。在此情况下所获得的黑、白图象示于图7D中。在该图中,适于说明缺陷的基本点呈白色,它们所对应的所有基本点的灰度NG(P)都大于第一阈值s1t。
在表示织物1表面的图7A的初始图象上,很清晰地显示出该织物的一般结构(织法),该结构对应于纺织品经纱和纬纱交织所形成的可视印花,在该初始图象中已经显示出该一般织法中的无规律性,这是由于缺少经纱造成的。在图7B所示的经滤波的图象中,纺织品的一般织法被删去了,而对应于缺少经纱的无规律性则显得更加清晰。图7C中该无规律性的轮廓更加精细,因为已将回波现象删去,现在将结合图6A、6B和6C对该回波现象作详细描述。
图6A示出了亮度信号8,例如通过在光电二极管器件3的输出端分接一个示波器就可以获得此信号。为简单起见,将纺织品的织法结构看成是沿着与经纱方向相混织的方向是周期性的。这样,图6A的亮度信号就是周期性的,其周期为p。该信号的峰值之一32a在亮度信号的周期性中呈无规律性,这是因为它的强度大于其相邻周期P的两个相邻峰值32b和32c的强度。如果对图6A曲线的每一点施加的发光强度对应于该点的发光强度和其沿x增长方向上的相邻周期相邻点的发光强度之差的绝对值的话,就可得到图6B中的由两个峰值33b和33a构成的虚线曲线。同样,如果对图6A每一点施加的发光强度对应于该点的发光强度和其沿x减少方向上的邻近周期相邻点的发光强度之差的绝对值的话,就可得到图6B上的实线曲线,该曲线的特征是有两个峰值34a和34c。在这两种情况下,由表示结构(织法)周期性中唯一缺陷的仅仅一个峰值32a,就会产生两个峰值33b和33a或34a和34c。这就是普遍称作的回波现象。对于相同横坐标上的每个点,如果只保持图6B所示两条曲线的两个值中的最小值,则得到图6C的曲线,该曲线只有一个峰值35,它与峰值32a的横坐标相同。这样就成功地消除了回波现象。将这种消除回波的同一原理用于由亮度信号8数值化产生的初始图象基本点的灰度上。
图3B中示出了第一滤波器17的第二个实施例,这些滤波器在技术上制造方便,但它不可能得到图7C的图象。
图7D的已滤波过的图象的基本点中,只有呈白色的,并充分再聚集起来的基本点才构成织物1中实际织造缺陷的特征。为了消除所有弧立的白色基本点,在步骤b3)以后实施最后一个称之为有效步骤的步骤C。该有效步骤已为本领域普通技术人员所公知。如果参照图5,对于步骤b3得到的图象30的每一基本点P来讲,该有效步骤在于:求出含有基本点P的窗孔31中的基本点灰度的和;将该总和与第二预定阈值S2t进行比较;并根据该比较结果给基本点P指定二进制值0或1。该步骤可以由本领域普通技术人员公知的第一有效设备24完成,该设备将数字信号23转换成送往显示设备6的数字信号25。窗孔31的形状和大小取决于人们希望探测到的缺陷的形状和大小。在此种情况下,窗孔为矩形,其长度L与经纱方向吻合,其宽度1与纬纱方向吻合。第一滤波设备17和第一有效设备24构成一条叫做经路的处理线路,该线路可以探测到与矢量了不共线的缺陷,特别是可以探测到经纱缺陷。这样,就可以有理由地设想;人们千方百计想探测到的缺陷在经纱方向上的形状是伸长了的,这证实了矩形窗孔31的选择。
电子处理设备5也有一条称作纬路的处理线路,它主要可探测纬纱缺陷,而且它由第二滤波设备26和第二有效设备27组成。在这种情况下,缺陷有效窗孔最好是矩形的,其长度与纬纱方向吻合。第二滤波设备26和第二有效设备27分别类似于第一滤波设备17和第一有效设备24,所不同的只有它们各自的阈值S1c和S2c。阈值S1t,S2t,S1c和S2e的确定将在下面进行描述。
根据将显示设备6与分别由第一和第二有效设备发出的数字信号25或28相连,可得到图7E或7F所示的图象。在图7E上清晰地示出了对应于缺少经纱的缺陷。在图7F上未探测到这种缺陷,只有一些对应于纬纱的很小不规则性的缺陷被探测到。可以根据图7E和7F的两个图象确定所测缺陷的边界,并使所述边界呈现在图7A的初始数字图象上。此外,这种称之为分段的本领域普通技术人员公知的操作可以得到图7G所示的图象。
作为非限定性例子已进行描述的电子处理设备5实际上可以同时获得初始图象(步骤a)和对该图象进行滤波处理(步骤b)。但也可以设计别的实施装置,滤波步骤在该装置中实施以前要先完成成象步骤的操作。在此情况下,为了滤波起见,例如可以将初始图象保存在活存储器中。
从特征上来讲,本发明的图象获得和处理的方法最好还包括所述初验的补充步骤,该步骤先于对应初始图象获得的步骤a),它主要能自动计算出周期矢量
和
该初验步骤由合适的电子处理设备7来完成,处理设备7在输入端接收第一数字信号9以及时钟信号10。现在仅从功能角度来描述电子处理设备7,而其结构方案的实施则是本领域普通技术人员所熟知的。
首先用电子处理设备7根据一块无缺陷的织物1而得到一个所述初验图象。构成该初验图象的基本点的所有灰度都被存入活存储器中,例如电子处理设备7是由一个微处理机所构成的,并被编成程序,以便能够根据该已被存储的初验图象计算出周期矢量
和
图9A和9B方框图各步骤中的内容对于这些图来是非常清楚的,因此在本描述中不打算进行重复。完成这些步骤可以根据所选择的x或y方向(图9A)自动算出周期矢量
或
的坐标(Perx,Pery)。该计算是根据若干个矢量进行的,这些矢量的坐标(Retx Rety)均由预定值(minret Maxret,K)算出的。为了说明这些矢量在X方向的计算,在图8中示意性地描述了尺寸为DIMX和DIMY的初验图象36,在该图象上示出了部分经计算的矢量。实施方框图9A和9B的各步骤就等于连续完成如下步骤:
1)在完成了上述步骤b1)到b2)的同时计算出每个预定矢量的经滤波的初验图象,
最初的尝试(初验)步骤还在于:根据与矢量
相配合的经滤波的初验图象算出阈值S1t,S2t,并且根据与周期矢量
相配合的经滤波的初验图象算出阈值S1c和S2c。图9C中示出了对应于阈值S1t和S2t计算的方框图。根据与周期矢量t相配合经滤波的初验图象,算出该图象灰度的矩形统计图H(NG)。当知道该图象含有N个基本点时,该图象灰度的分布函数为:
将阈值S1t选成最小的阈值,例如F(S1)大于或等于一个限定值1-ε。在一个确切的实施例中,ε为0.025。
至于阈值S2t,它是根据阈值S1t由下面的公式确定:
n表示基本窗孔中所含基本点的数目,该基本窗孔将用于本发明方法的步骤c)中,而且它对应于步骤b3)所得到的黑、白图象中的有效缺陷。
所描述的本发明的成象及处理方法并不局限于纺织品织物中织造缺陷的探测,它还可用来探测周期结构平面型物品结构中的非规律性。该平面型产品例如可以是针(编)织纺织品。
Claims (10)
1.为了探测(检验)织造缺陷,至少在一个方向内周期结构的纺织品织物类平面产品的成象及处理方法,该方法在于:
b)同时或连续地对初始图象进行滤波,以便获得经滤波的黑、白图象,
b2)同时给基本点P指定经前一步骤算出的灰度,
b3)还通过与第一预定阈值S1t(另一个为S1c)进行比较而使每一个基本点P的灰度变成二进制的,其特征在于它包括一个称作最初的尝试(初验)的预备步骤,该初验步骤包括下面的连续步骤:
-获得物品部分表面的称作初验数字图象,该物品部分表面被证明是有缺陷的,
-把上述步骤b1)至b2)用于初验图象上;
-根据滤波过的初验图象灰度矩形统计图自动计算第一阈值S1t(另一个为S1c)。
2.根据权利要求1的方法,其特征在于:它主要是根据经滤波过的初验图象的矩形统计图算出灰度的分布函数F(S),并从中推导出第一阈值S1t(另一个为S1c)。
3.根据权利要求2的方法,其特征在于:根据预定的小于1的系数ε计算出第一阈值S1t(另一个为S1c),该阈值对应于最小阈值S,例如F(S)大于或等于(1-ε)。
4.根据权利要求3的方法,其特征在于,ε为0.025。
5.根据权利要求1的方法,其特征在于:在步骤b)以后有一个补充步骤c),该步骤在于将得到的经滤波的黑、白图象进行转换,同时一方面算出每个基本点P在基本窗孔中的基本点的灰度和,基本窗孔的形状和尺寸均是预定的,而且它包含了基本点P,另一方面根据所述灰度和与预定第二阈值S2t(另一个为S2c)的比较结果,对每个基本点P的灰度指定二进制值0或1。
6.根据权利要求2或5的方法,其特征在于:步骤c)用的基本窗孔含有n个基本点,该方法还在于:在初验过程中,在计算下面公式
(另外的为 的同时自动测定第二阈值S2t(另一个为S2c)
8.根据权利要求7的方法,其特征在于:灰度NG(P)正比于两个灰度NG′(P)和NG″(P)的最小值。
9.根据权利要求7的方法,其特征在于:灰度NG(P)正比于两个灰度NG′(P)和NG″(P)的总和。
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- 1994-08-22 CN CN 94116161 patent/CN1117546A/zh active Pending
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |