CN111737066A - 一种usb信号测试***及方法 - Google Patents
一种usb信号测试***及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN111737066A CN111737066A CN202010471527.8A CN202010471527A CN111737066A CN 111737066 A CN111737066 A CN 111737066A CN 202010471527 A CN202010471527 A CN 202010471527A CN 111737066 A CN111737066 A CN 111737066A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- usb
- test
- tested
- vid
- pid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 275
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 11
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 238000013515 script Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
- G06F11/221—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test buses, lines or interfaces, e.g. stuck-at or open line faults
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Information Transfer Systems (AREA)
Abstract
本申请公开了一种USB信号测试***及方法,***包括设置有USB接口的硬件工具、USB测试夹具、示波器、设置有待测USB接口的待测设备,其中:硬件工具,用于接收与待测试码型对应的测试指令,根据预存的对应关系设置对应的VID和PID的组合;对应关系为测试指令、VID和PID的组合及测试码型间的对应关系;待测设备,用于识别VID和PID的组合,根据对应关系发出对应的待测试码型;USB测试夹具,用于引出待测试码型至示波器,以通过示波器对待测USB接口进行测试。本申请公开的上述技术方案,可以摆脱不同CPU和不同转换芯片的限制,以使得USB测试具有比较高的通用性,且可以降低USB测试的开发难度。
Description
技术领域
本申请涉及信号测试技术领域,更具体地说,涉及一种USB信号测试***及方法。
背景技术
USB 2.0 High Speed,速率可以达到480MB/s,且其信号完整性测试必须通过USB2.0协会规定的各种码型来进行信号测试。
目前,在ARM平台(以某国产ARM CPU平台服务器主板为例),主要是通过直接修改相应芯片的寄存器来实现,且主要是通过以下两种方式实现USB 2.0测试:一种是从CPU引出USB 2.0接口,其需要联系该CPU厂商,共同定制出测试USB 2.0寄存器的发包脚本,才能发出USB 2.0测试码型进行信号测试;另一种是CPU通过PCIE转USB 2.0的芯片以及USB 2.0hub芯片引出USB 2.0接口,这些芯片引出的USB 2.0接口除了跟平台CPU相关外,还需要相应的芯片厂商配合提供相应的寄存器,才能发出USB 2.0测试码型进行信号测试。
在上述实现过程中,对于不同的CPU厂商,都需要重新开发出一套发包脚本,工作量比较大,开发出的工具的通用性比较差,且在不同主板上使用不同的PCIE转USB 2.0的芯片以及USB 2.0 hub时,还需要对应的芯片厂商提供相应的寄存器修改,因此,则进一步降低了测试的通用性,且进一步提高了开发难度。
综上所述,如何提高USB测试的通用性,降低USB测试的开发难度,是目前本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
有鉴于此,本申请的目的是提供一种USB信号测试***及方法,用于提高USB测试的通用性,降低USB测试的开发难度。
为了实现上述目的,本申请提供如下技术方案:
一种USB信号测试***,包括设置有USB接口的硬件工具、通过所述USB接口与所述硬件工具相连的USB测试夹具、与所述USB测试夹具相连的示波器、设置有待测USB接口且通过所述待测USB接口与所述USB测试夹具相连的待测设备,其中:
所述硬件工具,用于接收与待测试码型对应的测试指令,并根据预存的对应关系设置与所述测试指令对应的VID和PID的组合;所述对应关系为测试指令、VID和PID的组合及测试码型间的对应关系;
所述待测设备,用于识别所述VID和PID的组合,并根据所述对应关系发出与所述VID和PID的组合对应的所述待测试码型;
所述USB测试夹具,用于引出所述待测试码型至所述示波器,以通过所述示波器对所述待测USB接口进行测试。
优选的,所述硬件工具包括多路开关、与所述多路开关相连的CPU、与所述CPU相连且设置有所述USB接口的USB控制器,相应地,所述对应关系为开关档位、VID和PID的组合及测试码型间的对应关系,其中:
所述多路开关,用于接收所述测试指令,并处于与所述测试指令对应的开关档位;
所述CPU,用于检测所述多路开关的所述开关档位,并根据所述开关档位及所述对应关系设置所述USB控制器的所述VID和PID的组合。
优选的,所述CPU和所述USB控制器利用从所述USB测试夹具传输来的电能进行运行。
优选的,所述硬件工具还包括电源开关,其中:
当所述电源开关闭合时,所述CPU和所述USB控制器运行;当所述电源开关断开时,所述CPU和所述USB控制器停止运行。
优选的,所述CPU还用于在所述电源开关闭合时进行初始化。
优选的,所述待测USB接口通过USB Cable与所述USB测试夹具相连。
优选的,所述USB测试夹具上设置有TP D+-信号测试点和TP D-信号测试点,其中,所述TP D+信号测试点连接所述示波器的探棒的正极,所述TP D-信号测试点连接所述示波器的探棒的负极。
一种USB信号测试方法,基于如上述任一项所述的USB信号测试***,包括:
硬件工具接收与待测试码型对应的测试指令,并根据预存的对应关系设置与所述测试指令对应的VID和PID的组合;其中,所述对应关系为测试指令、VID和PID的组合及测试码型间的对应关系;
待测设备识别所述硬件工具设置的所述VID和PID的组合,并根据所述对应关系发出与所述VID和PID的组合对应的所述待测试码型;
USB测试夹具引出所述待测试码型至所述示波器,以通过所述示波器对待测USB接口进行测试。
优选的,当所述硬件工具包括多路开关、与所述多路开关相连的CPU、与所述CPU相连且设置有USB接口的USB控制器时,所述对应关系为开关档位、VID和PID的组合及测试码型间的对应关系,且硬件工具接收与待测试码型对应的测试指令,并根据预存的对应关系设置与所述测试指令对应的VID和PID的组合,包括:
所述多路开关接收所述测试指令,并处于与所述测试指令对应的开关档位;
所述CPU检测所述多路开关的所述开关档位,并根据所述开关档位及所述对应关系设置所述USB控制器的所述VID和PID的组合。
优选的,在所述CPU检测所述多路开关的所述开关档位之前,还包括:
所述CPU进行初始化。
本申请提供了一种USB信号测试***及方法,其中,该***包括设置有USB接口的硬件工具、通过USB接口与硬件工具相连的USB测试夹具、与USB测试夹具相连的示波器、设置有待测USB接口且通过待测USB接口与USB测试夹具相连的待测设备,其中:硬件工具,用于接收与待测试码型对应的测试指令,并根据预存的对应关系设置与测试指令对应的VID和PID的组合;对应关系为测试指令、VID和PID的组合及测试码型间的对应关系;待测设备,用于识别VID和PID的组合,并根据对应关系发出与VID和PID的组合对应的待测试码型;USB测试夹具,用于引出待测试码型至示波器,以通过示波器对待测USB接口进行测试。
本申请公开的上述技术方案,设置带有USB接口且通过USB接口与USB测试夹具相连的硬件工具,其中,该硬件工具可以接收与待测试码型对应的测试指令,根据预存的对应关系设置VID和PID的组合,并由待测设备发出与VID和PID的组合对应的待测试码型,且由USB测试夹具将待测试码型引出至示波器,以实现对待测USB接口的测试,由于其仅需使硬件工具接收测试指令并根据预存的对应关系设置对应的VID和PID的组合,然后,由该对应关系及VID和PID的组合即可使待测设备发出测试码型进行测试,而并不受CPU厂商、芯片厂商等的限制,因此,则使得USB测试具有比较高的通用性,且通过上述过程可以较为容易地实现不同测试码型的测试,因此,则可以降低USB测试的开发难度。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的一种USB接口测试***的结构示意图;
图2为本申请实施例提供的CPU程序执行流程图;
图3为本申请实施例提供的一种USB信号测试方法的流程图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
参见图1,其示出了本申请实施例提供的一种USB接口测试***的结构示意图,本申请实施例提供的一种USB信号测试***,可以包括设置有USB接口的硬件工具1、通过USB接口与硬件工具1相连的USB测试夹具2、与USB测试夹具2相连的示波器3、设置有待测USB接口且通过待测USB接口与USB测试夹具2相连的待测设备4,其中:
硬件工具1,用于接收与待测试码型对应的测试指令,并根据预存的对应关系设置与测试指令对应的VID和PID的组合;对应关系为测试指令、VID和PID的组合及测试码型间的对应关系;
待测设备4,用于识别VID和PID的组合,并根据对应关系发出与VID和PID的组合对应的待测试码型;
USB测试夹具2,用于引出待测试码型至示波器3,以通过示波器3对待测USB接口进行测试。
考虑到现有USB测试中的其中一种需要不同的CPU厂商都重新开发出一套发包脚本,其工作量比较大,通用性比较差,而现有USB测试中的另一种不仅需要用于进行USB接口转换的芯片厂商和平台CPU厂商配合,还需要这些芯片厂商配合提供相应的寄存器修改,其开发难度比较大,而且通用性比较差,为此,本申请提供一种USB信号测试***,以提高USB测试的通用性,并降低USB测试的开发难度:
本申请所提供的USB信号测试***包括硬件工具1、USB测试夹具2、待测设备4和示波器3,其中,硬件工具1上设置有USB接口,且硬件工具1通过USB接口连接到USB测试夹具2,该USB接口的作用是使待测设备4可以发出各种测试码型;待测设备4上设置有待测USB接口,该待测设备4通过待测USB接口与USB测试夹具2相连;USB测试夹具2还与示波器3相连,以引出待测设备4发出的待测试码型至示波器3,以对待测USB接口进行测试,即通过示波器3进行波形测试和分析。
具体地,在本申请所提供的USB信号测试***中,当需要对待测设备4的待测USB接口进行测试时,用户可以获知该待测USB接口对应的待测试码型,并可以通过预先设置的对应关系(具体为测试指令、VID和PID的组合、测试码型间的对应关系)得到与待测试码型对应的测试指令,之后,可以向硬件工具1发送与待测试码型对应的测试指令。硬件工具1在接收到与待测试码型对应的测试指令之后,可以根据预先存储的上述提及的对应关系及测试指令识别出与测试指令对应的VID(Vendor ID,供应商ID)和PID(Product ID,产品识别码)的组合,并在USB接口上设置对应的VID和PID组合。
在待测设备4启动后,其可以识别硬件工具1所设置的VID和PID的组合,并可以对这个VID和PID组合做出响应,即根据上述提及的对应关系发出与所识别到的VID和PID的组合对应的待测试码型。与待测设备4相连的USB测试夹具2在接收到待测设备4发出的待测试码型之后,可以将其引出到示波器3上,以通过示波器3完成测试。
由于本申请所提供的USB测试***只需要硬件工具1能够接收测试指令、存储上述提及的对应关系、设置与测试指令对应的VID和PID的组合,然后,通过待测设备4发出与VID和PID的组合对应的待测试码型,并由USB测试夹具2将待测试码型引出到示波器3即可完成USB信号测试,而不需要如现有技术一样需要USB接口对应的不同CPU厂商开发不同的发包脚本,且并不需要用于进行USB接口转换的芯片厂商配合CPU厂商,同时不需要用于进行USB接口转换的芯片厂商提供相应的寄存器修改,因此,则可以降低USB信号测试的开发难度,且可以轻松实现不同测试码型间的切换和测试,以节省专门开发测试码型发出软件的人力成本和时间成本,同时,使用本申请所提供的USB信号测试***可以摆脱不同CPU和不同芯片的限制,因此,则使得本申请的USB信号测试***具有比较高的通用性。
另外,需要说明的是,本申请所提供的USB信号测试***不仅可以应用于ARM平台,还可以应用于x86平台、MIPS平台等。
本申请公开的上述技术方案,设置带有USB接口且通过USB接口与USB测试夹具相连的硬件工具,其中,该硬件工具可以接收与待测试码型对应的测试指令,根据预存的对应关系设置VID和PID的组合,并由待测设备发出与VID和PID的组合对应的待测试码型,且由USB测试夹具将待测试码型引出至示波器,以实现对待测USB接口的测试,由于其仅需使硬件工具接收测试指令并根据预存的对应关系设置对应的VID和PID的组合,然后,由该对应关系及VID和PID的组合即可使待测设备发出测试码型进行测试,而并不受CPU厂商、芯片厂商等的限制,因此,则使得USB测试具有比较高的通用性,且通过上述过程可以较为容易地实现不同测试码型的测试,因此,则可以降低USB测试的开发难度。
本申请实施例提供的一种USB信号测试***,硬件工具1可以包括多路开关11、与多路开关11相连的CPU12、与CPU12相连且设置有USB接口的USB控制器13,相应地,对应关系为开关档位、VID和PID的组合及测试码型间的对应关系,其中:
多路开关11,用于接收测试指令,并处于与测试指令对应的开关档位;
CPU12,用于检测多路开关11的开关档位,并根据开关档位及对应关系设置USB控制器13的VID和PID的组合。
在本申请所提供的USB信号测试***中,硬件工具1具体可以包括多路开关11、CPU12和USB控制器13,其中,多路开关11与CPU12相连,CPU12与USB控制器13相连,硬件工具1的USB接口设置在USB控制器13上,相对应地,上述所提及的对应关系具体可以指多路开关11的开关档位、VID和PID的组合及测试码型间的对应关系。
对于上述提及的硬件工具1,用户可以先确定待测USB接口对应的待测试码型,并可以根据对应关系确定多路开关11的开关档位,然后,可以调整多路开关11至与待测试码型对应的开关档位,即可以发送测试指令(给多路开关11,以使多路开关11处于与测试指令对应的开关档位,其中,这里提及的测试指令具体即指调整多路开关11的位置,以使多路开关11可以处于相应的开关档位。在多路开关11处于对应的开关档位之后,CPU12可以检测多路开关11的档位,并可以根据对应关系及多路开关11的开关档位设置USB控制器13的VID和PID的组合,以使得待测设备4可以识别VID和PID的组合,并根据上述提及的对应关系发出与VID和PID的组合对应的待测试码型而便于完成对待测USB接口的测试。
对于上述形式的硬件工具1,其中的多路开关11可以便于用户直接对其进行操作而实现测试指令的发出,其中的CPU12则便于快速、简单地实现待测USB接口的测试。
本申请实施例提供的一种USB信号测试***,CPU12和USB控制器13利用从USB测试夹具2传输来的电能进行运行。
在本申请所提供的USB信号测试***中,CPU12和USB控制器13的供电可以是从USB测试夹具2间接传输来的,且其具体可以为5V供电,以无需再额外设置专门的供电线路来为CPU12和USB控制器13进行供电,从而便于降低USB信号测试***的复杂度。
本申请实施例提供的一种USB信号测试***,硬件工具1还可以包括电源开关14,其中:
当电源开关14闭合时,CPU12和USB控制器13运行;当电源开关14断开时,CPU12和USB控制器13停止运行。
本申请所提供的硬件工具1中还可以包括电源开关14,通过该电源开关14的闭合和断开可以实现对CPU12和USB控制器13运行与否的控制,从而便于实现对USB信号测试的控制。
具体地,当电源开关14打开时,CPU12和USB控制器13才可以从USB测试夹具2那里获取电能并进行运行,当电源开关14断开时,CPU12和USB控制器13可以停止运行。
本申请实施例提供的一种USB信号测试***,CPU12还用于在电源开关14闭合时进行初始化。
当硬件工具1中的电源开关14闭合时且在CPU12检测多路开关11的开关档位之前,CPU12可以进行初始化,以便于提高多路开关11的开关档位检测的准确性,从而便于提高USB信号测试的准确性。即可以初始化CPU12,之后,CPU12则可以检测多路开关11的开关档位,并可以根据检测到的开关档位配置USB控制器13的VID和PID,其过程具体可以参见图2,其示出了本申请实施例提供的CPU程序执行流程图。
本申请实施例提供的一种USB信号测试***,待测USB接口通过USB Cable与USB测试夹具2相连。
在本申请所提供的USB信号测试***中,待测设备4的待测USB接口可以通过USBCable(USB电缆)与USB测试夹具2相连,以便于通过USB Cable将待测设备4所发送的测试码型发送到USB测试夹具2,并由USB测试夹具2将其引出至示波器3。其中,USB Cable的长度可以为30cm,以实现待测USB接口与USB测试夹具2之间的短接。
本申请实施例提供的一种USB信号测试***,USB测试夹具2上设置有TP D+-信号测试点和TP D-信号测试点,其中,TP D+信号测试点连接示波器3的探棒的正极,TP D-信号测试点连接示波器3的探棒的负极。
在本申请所提供的USB信号测试***中,USB测试夹具2上设置有信号测试点(TestPoint),其可以直接与示波器3的探棒相连,以进行测试码型的引出和实现对待测USB接口的测试。
其中,USB测试夹具2上的信号测试点具体可以分为TP D+-信号测试点和TP D-信号测试点:TP D+-信号测试点与示波器3探棒的正极相连,TP D-信号测试点与示波器3探棒的负极相连,以便于顺利地将测试码型引出至示波器3上,从而进行波形测试和分析。
需要说明的是,硬件工具1在进行USB测试时,可以自动设置USB控制器13的VID为固定值(可以固定为0x01A0A),此时,VID和PID的组合中的VID即为固定不变的值。为了更详细地对上述过程进行说明,则以多路开关11包括8个开关档位且VID固定为0x1A0A为例进行详细描述,此时,本申请所提及的对应关系具体可以参见表1,其为开关档位、PID及测试码型间的对应关系表,其中,VID固定为0x01A0A,其并未在表1中示出:
表1开关档位、PID及测试码型间的对应关系表
开关档位 | PID | 测试码型 |
1 | 0x0101 | TEST_SE0_NAK |
2 | 0x0102 | TEST_J |
3 | 0x0103 | TEST_K |
4 | 0x0104 | TEST_PACKET |
5 | 0x0105 | RESERVED |
6 | 0x0106 | HS_HOST_PORT_SUSPEND_RESUME |
7 | 0x0107 | SINGLE_STEP_GET_DEV_DESC |
8 | 0x0108 | SINGLE_STEP_SET_FEATURE |
相应的,USB信号测试过程如下:
1)将待测设备4的待测USB接口按照图1的设置进行连接,示波器3探棒的正极接在USB测试夹具2的TP D+信号测试点上,示波器3探棒的负极接在USB测试夹具2的TP D-信号测试点上,并接上硬件工具1,以形成USB信号测试***;
2)高速信号质量测试(眼图):
a)调整多路开关11至4的位置;
b)打开硬件工具1中的电源开关14,CPU12和USB控制器13开始工作,CPU12检测到多路开关11的位置为4,CPU12根据4对应的PID,设置USB控制的USB接口为USB 2.0HighSpeed,VID:0x01A0A,PID:0x0104;
c)待测设备4启动后通过识别对这个VID和PID的组合做出响应,持续发出TEST_PACKET测试码型,通过USB测试夹具2被示波器3捕捉,完成信号的测试和分析。
3)待测设备4Package Parameters Test:
a)按照1)连接,并调整多路开关11至7的位置;
b)打开硬件工具1中的电源开关14,CPU12和USB控制器13开始工作,CPU12检测到多路开关11的位置为7,CPU12根据7对应的PID,设置USB控制的USB接口为USB 2.0HighSpeed,VID:0x01A0A,PID:0x0107;
c)待测设备4启动后通过识别对这个VID和PID的组合做出响应,持续发出SINGLE_STEP_GET_DEV_DESC测试码型,通过USB测试夹具2被示波器3捕捉,完成信号的测试和分析。
4)可以按照1)至3)的步骤规律完成其他测试码型对应的测试和分析。
本申请实施例还提供了一种USB信号测试方法,基于上述任一种USB信号测试***,参见图3,其示出了本申请实施例提供的一种USB信号测试方法的流程图,可以包括:
S31:硬件工具接收与待测试码型对应的测试指令,并根据预存的对应关系设置与测试指令对应的VID和PID的组合;其中,对应关系为测试指令、VID和PID的组合及测试码型间的对应关系;
S32:待测设备识别硬件工具设置的VID和PID的组合,并根据对应关系发出与VID和PID的组合对应的待测试码型;
S33:USB测试夹具引出待测试码型至示波器,以通过示波器对待测USB接口进行测试。
本申请实施例提供的一种USB信号测试方法,当硬件工具包括多路开关、与多路开关相连的CPU、与CPU相连且设置有USB接口的USB控制器时,对应关系为开关档位、VID和PID的组合及测试码型间的对应关系,且硬件工具接收与待测试码型对应的测试指令,并根据预存的对应关系设置与测试指令对应的VID和PID的组合,可以包括:
多路开关接收测试指令,并处于与测试指令对应的开关档位;
CPU检测多路开关的开关档位,并根据开关档位及对应关系设置USB控制器的VID和PID的组合。
本申请实施例提供的一种USB信号测试方法,在CPU检测多路开关的开关档位之前,还可以包括:
CPU进行初始化。
本申请实施例提供的一种USB信号测试方法中相关部分的说明可以参见本申请实施例提供的一种USB信号测试***中对应部分的详细描述,在此不再赘述。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。另外,本申请实施例提供的上述技术方案中与现有技术中对应技术方案实现原理一致的部分并未详细说明,以免过多赘述。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (10)
1.一种USB信号测试***,其特征在于,包括设置有USB接口的硬件工具、通过所述USB接口与所述硬件工具相连的USB测试夹具、与所述USB测试夹具相连的示波器、设置有待测USB接口且通过所述待测USB接口与所述USB测试夹具相连的待测设备,其中:
所述硬件工具,用于接收与待测试码型对应的测试指令,并根据预存的对应关系设置与所述测试指令对应的VID和PID的组合;所述对应关系为测试指令、VID和PID的组合及测试码型间的对应关系;
所述待测设备,用于识别所述VID和PID的组合,并根据所述对应关系发出与所述VID和PID的组合对应的所述待测试码型;
所述USB测试夹具,用于引出所述待测试码型至所述示波器,以通过所述示波器对所述待测USB接口进行测试。
2.根据权利要求1所述的USB信号测试***,其特征在于,所述硬件工具包括多路开关、与所述多路开关相连的CPU、与所述CPU相连且设置有所述USB接口的USB控制器,相应地,所述对应关系为开关档位、VID和PID的组合及测试码型间的对应关系,其中:
所述多路开关,用于接收所述测试指令,并处于与所述测试指令对应的开关档位;
所述CPU,用于检测所述多路开关的所述开关档位,并根据所述开关档位及所述对应关系设置所述USB控制器的所述VID和PID的组合。
3.根据权利要求2所述的USB信号测试***,其特征在于,所述CPU和所述USB控制器利用从所述USB测试夹具传输来的电能进行运行。
4.根据权利要求3所述的USB信号测试***,其特征在于,所述硬件工具还包括电源开关,其中:
当所述电源开关闭合时,所述CPU和所述USB控制器运行;当所述电源开关断开时,所述CPU和所述USB控制器停止运行。
5.根据权利要求4所述的USB信号测试***,其特征在于,所述CPU还用于在所述电源开关闭合时进行初始化。
6.根据权利要求1所述的USB信号测试***,其特征在于,所述待测USB接口通过USBCable与所述USB测试夹具相连。
7.根据权利要求1所述的USB信号测试***,其特征在于,所述USB测试夹具上设置有TPD+-信号测试点和TP D-信号测试点,其中,所述TP D+信号测试点连接所述示波器的探棒的正极,所述TP D-信号测试点连接所述示波器的探棒的负极。
8.一种USB信号测试方法,其特征在于,基于如权利要求1至7任一项所述的USB信号测试***,包括:
硬件工具接收与待测试码型对应的测试指令,并根据预存的对应关系设置与所述测试指令对应的VID和PID的组合;其中,所述对应关系为测试指令、VID和PID的组合及测试码型间的对应关系;
待测设备识别所述硬件工具设置的所述VID和PID的组合,并根据所述对应关系发出与所述VID和PID的组合对应的所述待测试码型;
USB测试夹具引出所述待测试码型至所述示波器,以通过所述示波器对待测USB接口进行测试。
9.根据权利要求8所述的USB信号测试方法,其特征在于,当所述硬件工具包括多路开关、与所述多路开关相连的CPU、与所述CPU相连且设置有USB接口的USB控制器时,所述对应关系为开关档位、VID和PID的组合及测试码型间的对应关系,且硬件工具接收与待测试码型对应的测试指令,并根据预存的对应关系设置与所述测试指令对应的VID和PID的组合,包括:
所述多路开关接收所述测试指令,并处于与所述测试指令对应的开关档位;
所述CPU检测所述多路开关的所述开关档位,并根据所述开关档位及所述对应关系设置所述USB控制器的所述VID和PID的组合。
10.根据权利要求9所述的USB信号测试***,其特征在于,在所述CPU检测所述多路开关的所述开关档位之前,还包括:
所述CPU进行初始化。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010471527.8A CN111737066A (zh) | 2020-05-29 | 2020-05-29 | 一种usb信号测试***及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010471527.8A CN111737066A (zh) | 2020-05-29 | 2020-05-29 | 一种usb信号测试***及方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN111737066A true CN111737066A (zh) | 2020-10-02 |
Family
ID=72646504
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202010471527.8A Withdrawn CN111737066A (zh) | 2020-05-29 | 2020-05-29 | 一种usb信号测试***及方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN111737066A (zh) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112684319A (zh) * | 2020-12-16 | 2021-04-20 | 海光信息技术股份有限公司 | 一种芯片检验追踪方法及装置 |
CN113204452A (zh) * | 2021-04-23 | 2021-08-03 | 山东英信计算机技术有限公司 | 一种测量高速信号的方法、***及介质 |
CN113535496A (zh) * | 2021-07-30 | 2021-10-22 | 北京奕斯伟计算技术有限公司 | 芯片验证***及方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW201122803A (en) * | 2009-12-21 | 2011-07-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Method and system for testing USB peripheral module of electronic device |
CN103218280A (zh) * | 2013-04-15 | 2013-07-24 | 飞天诚信科技股份有限公司 | 一种usb设备的硬件通用测试方法 |
US20150074312A1 (en) * | 2013-09-09 | 2015-03-12 | International Business Machines Corporation | Multi-channel universal serial bus (usb) to subrate channel systems and methods |
CN106844268A (zh) * | 2017-02-15 | 2017-06-13 | 深圳怡化电脑股份有限公司 | 一种usb设备测试***、测试方法及测试装置 |
CN107783871A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-03-09 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种usb信号一致性码型切换器、测试*** |
CN109388528A (zh) * | 2017-08-04 | 2019-02-26 | 神讯电脑(昆山)有限公司 | Usb测试方法及usb装置的测试治具 |
US20190114242A1 (en) * | 2017-10-12 | 2019-04-18 | Getac Technology Corporation | Usb-testing method and testing fixture board for usb device |
-
2020
- 2020-05-29 CN CN202010471527.8A patent/CN111737066A/zh not_active Withdrawn
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW201122803A (en) * | 2009-12-21 | 2011-07-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Method and system for testing USB peripheral module of electronic device |
CN103218280A (zh) * | 2013-04-15 | 2013-07-24 | 飞天诚信科技股份有限公司 | 一种usb设备的硬件通用测试方法 |
US20150074312A1 (en) * | 2013-09-09 | 2015-03-12 | International Business Machines Corporation | Multi-channel universal serial bus (usb) to subrate channel systems and methods |
CN106844268A (zh) * | 2017-02-15 | 2017-06-13 | 深圳怡化电脑股份有限公司 | 一种usb设备测试***、测试方法及测试装置 |
CN109388528A (zh) * | 2017-08-04 | 2019-02-26 | 神讯电脑(昆山)有限公司 | Usb测试方法及usb装置的测试治具 |
US20190114242A1 (en) * | 2017-10-12 | 2019-04-18 | Getac Technology Corporation | Usb-testing method and testing fixture board for usb device |
CN107783871A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-03-09 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种usb信号一致性码型切换器、测试*** |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112684319A (zh) * | 2020-12-16 | 2021-04-20 | 海光信息技术股份有限公司 | 一种芯片检验追踪方法及装置 |
CN113204452A (zh) * | 2021-04-23 | 2021-08-03 | 山东英信计算机技术有限公司 | 一种测量高速信号的方法、***及介质 |
CN113204452B (zh) * | 2021-04-23 | 2023-01-10 | 山东英信计算机技术有限公司 | 一种测量高速信号的方法、***及介质 |
CN113535496A (zh) * | 2021-07-30 | 2021-10-22 | 北京奕斯伟计算技术有限公司 | 芯片验证***及方法 |
CN113535496B (zh) * | 2021-07-30 | 2024-03-29 | 北京奕斯伟计算技术股份有限公司 | 芯片验证***及方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN111737066A (zh) | 一种usb信号测试***及方法 | |
US6842865B2 (en) | Method and system for testing microprocessor based boards in a manufacturing environment | |
US20080133165A1 (en) | Test apparatus and device interface | |
KR101933723B1 (ko) | 프로그램가능 프로토콜 발생기 | |
US4835459A (en) | Automatic fault insertion system (AFIS) | |
CN111026596A (zh) | 一种电脑主板标准的测试平台架构及方法 | |
CN104268052A (zh) | 一种基于ITP工具的Memory Rank Spare测试方法 | |
US4183459A (en) | Tester for microprocessor-based systems | |
EP0120446A2 (en) | Digital equipment tester | |
TWI761653B (zh) | 用於測試電腦系統之裝置及方法 | |
CN113204456A (zh) | 一种服务器vpp接口的测试方法、治具、装置及设备 | |
CN115904849B (zh) | Pcie链路信号测试方法、***、计算机设备及介质 | |
CN106406154B (zh) | 侦错***及其控制方法 | |
CN211529146U (zh) | 一种电脑主板固件更新的标准测试平台架构 | |
CN111221684B (zh) | 伺服器的检测方法 | |
TWI675293B (zh) | 主機開機檢測方法及其系統 | |
CN116203292A (zh) | 一种测试方法、设备及机台 | |
US6490694B1 (en) | Electronic test system for microprocessor based boards | |
CN113611348A (zh) | 打点方法、装置、电子设备及存储介质 | |
CN118245311B (zh) | 芯片检测方法、芯片检测装置 | |
WO2019109284A1 (zh) | 调试器以及芯片调试方法 | |
WO1981000475A1 (en) | Testor for microprocessor-based systems | |
CN113760612B (zh) | 服务器侦错方法 | |
CN213302377U (zh) | 键盘仿真装置 | |
CN117370214B (zh) | 一种控制器的程序调试方法、装置和存储介质 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
WW01 | Invention patent application withdrawn after publication | ||
WW01 | Invention patent application withdrawn after publication |
Application publication date: 20201002 |