CN111668804B - 过流保护方法、装置和电子设备 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种过流保护方法、装置和电子设备，该方法包括：获得电子设备的采样周期及与该采样周期对应的采样方式；至少基于该采样周期和与该采样周期对应的采样方式确定采样时刻，在确定的采样时刻获得电源输出的电流值；根据该采样周期内各采样时刻获得的电流值是否满足过流保护条件，执行或不执行过流保护操作；其中，该采样方式为该采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔不完全相同。本申请的方案可以提高电源过流保护的可靠性。

Description

过流保护方法、装置和电子设备

技术领域

本申请涉及信息处理技术领域，更具体地说，涉及一种过流保护方法、装置和电子设备。

背景技术

为了保证工作站、服务器等电子设备的供电安全，需要对电子设备进行电源过流保护。

在电源过流保护过程中，需要设定一个最高电流值，并检测电源在一个电流采样周期内输出的电流是否超过该最高电流值。如果电流输出的电流在一个电流采样周期内超过该最高电流值，则会切换电源供电，以保护电源。然而，在电子设备具备一些高性能的图形显卡或者其他瞬时电流较高的器件的情况下，则很容易出现过流误判，无法可靠的实现电源过流保护。

发明内容

本申请提供了一种过流保护方法、装置和电子设备。

其中，一种过流保护方法包括：

获得电子设备的采样周期及与所述采样周期对应的采样方式；

至少基于所述采样周期和与所述采样周期对应的采样方式确定采样时刻，在确定的采样时刻获得电源输出的电流值；

根据所述采样周期内各采样时刻获得的电流值是否满足过流保护条件，执行或不执行过流保护操作；

其中，所述采样方式为所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔不完全相同。

优选的，所述至少基于所述采样周期和与所述采样周期对应的采样方式确定采样时刻，包括：

确定所述采样周期的数值类型，至少基于所述采样周期的数值类型确定对应的采样方式，根据确定的采样方式从所述采样周期中确定采样时刻；

或，

确定所述采样周期的数值，根据所述数值所属的数值范围从预定采样时刻集合中确定与所述采样周期对应的采样时刻。

优选的，确定所述采样周期的数值类型，至少基于所述采样周期的数值类型确定对应的采样方式，根据确定的采样方式从所述采样周期中确定采样时刻，包括：

在确定所述采样周期为质数的情况下，按照第一采样方式将所述采样周期中数值为质数的第一时刻确定为所述采样时刻；且/或，

在确定所述采样周期为合数的情况下，按照第二采样方式将所述采样周期中数值为合数的第二时刻确定为所述采样时刻；

或，

在确定所述采样周期为质数或合数的情况下，按照第三采样方式将所述时间间隔为质数或合数时对应的第三时刻确定为所述采样时刻。

优选的，其中，确定所述采样周期的数值，根据所述数值所属的数值范围从预定采样时刻集合中确定与所述采样周期对应的采样时刻，包括：

在确定所述采样周期的数值处于第一数值范围内的情况下，将所述预定采样时刻集合中的第一采样时刻集合内各采样时刻确定为与所述采样周期对应的采样时刻；和/或，

在确定所述采样周期的数值处于第二数值范围内的情况下，将所述预定采样时刻集合中的第二采样时刻集合内各采样时刻确定为与所述采样周期对应的采样时刻；

其中，采样时刻集合中采样时刻的个数与所述采样周期的数值所处的数值范围具有第一对应关系。

优选的，所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔不完全相同，包括：

所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔均不相同；

或者，所述采样周期内相同时长的时间间隔的占比小于第一阈值，所述时间间隔为相邻两采样时刻之间的时长间隔。

优选的，所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔按照确定的第四采样方式增大或减小；且/或，

所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔与显卡的电流输出频率具有第二对应关系。

优选的，所述根据所述采样周期内各采样时刻获得的电流值是否满足过流保护条件，执行或不执行过流保护操作，包括：

在所述采样周期内各采样时刻的电流值均达到电流阈值的情况下，执行过流保护操作；或，

在所述采样周期内达到电流阈值的采样时刻的个数大于第二阈值的情况下，执行过流保护操作。

优选的，所述电子设备的采样周期基于所述电子设备的处理器的处理任务量和/或处理能力确定。

其中，一种过流保护装置，包括：

信息获得单元，用于获得电子设备的采样周期及与所述采样周期对应的采样方式；

电流采样单元，用于至少基于所述采样周期和与所述采样周期对应的采样方式确定采样时刻，在确定的采样时刻获得电源输出的电流值，其中，所述采样方式为所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔不完全相同；

过流保护单元，用于根据所述采样周期内各采样时刻获得的电流值是否满足过流保护条件，执行或不执行过流保护操作。

其中，一种电子设备，包括：

处理器和存储器；

其中，所述处理器用于执行如上权利要求1至8任一项所述的过电流保护方法；

所述存储器用于存储所述处理器执行操作所需的程序。

通过以上方案可知，在本申请实施例中，基于采样周期内对应的采样方式，在该采样周期内确定出的任意相邻两采样时刻的时间间隔不完全相同，在此基础上，在每个采样周期内可以按照非固定频率对电源输出的电流进行采。在该种情况下，即使电子设备中存在瞬时电流过高但是平均电流不高的器件，也可以减少采样周期内每个采样时刻均采样到瞬时电流峰值的情况，从而可以减少由于采样周期内每个采样时刻均采样到瞬时电流峰值而导致误判出存在过电流的情况，进而提高了过电流保护的可靠性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请中电子设备中一个器件的电流的周期性波形示意图；

图2为本申请实施例提供的一种过流保护方法一个实施例的流程示意图；

图3为本申请实施例提供的一种过流保护方法又一个实施例的流程示意图；

图4为本申请实施例提供的一种过流保护方法又一个实施例的流程示意图；

图5为本申请实施例提供的一种过流保护装置一个实施例的组成结构示意图；

图6示出了本申请一种电子设备的组成架构示意图。

说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”“第四”等(如果存在)是用于区别类似的部分，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示的以外的顺序实施。

具体实施方式

本申请的过流保护方法适用于任意电子设备，尤其适用于服务器和工作站等电子设备。

本申请的发明人经过电子设备的电源输出电流以及过流保护过程进行研究发现：电子设备的过流保护的目的是避免在一个采样周期内电源输出电流过高而导致损坏电子设备。而电子设备中有些器件(如显卡等)可能会存在瞬时电流过高但是平均电流并不高的情况，因此，在电源为这些器件正常供电的情况下，并不会出现由于电流过高而损坏电子设备的情况。

但是，发明人经过研究发现，目前的过流保护方案中，每个采样周期内都是按照固定频率进行采样，在该种情况下，很容易出现采样周期内的多个采样时刻甚至每个采样时刻均与器件存在瞬时电流过高的时刻重叠，从而导致采样周期内采样到多个过高的电流值或者每个采样时刻采集到的电流值均过高，从而导致电子设备启动过流保护。然而，实际上器件在采样周期内出现瞬时电流过高，并不代表整个采样周期内电源输出的电流值过高，从而导致误判，使得过流保护的可靠性低。

为了便于理解，以电子设备具有高性能的显卡为例说明，显卡会存在瞬时电流较高的情况，但是在一个采样周期内，显示的平均电流并不高。如，参见图1，其示出了电子设备中显卡的电流变化波形图。在图3中，横坐标为时间轴，纵坐标为显卡的电流值。

由图1可以看出，显卡各个时刻的电流，即瞬时电流呈现出周期性波形。而且，可能存在某个瞬间的电流值很高，但是整体的平均电流并不算太高。如图1中瞬时电流超过30A的时间其实比较短。

由于显卡的电流变化呈现周期性，因此，如果采样周期内各个采样时刻也按照固定频率，那就可能会出现采样周期内每个采样时刻恰好与显卡具有最高电流值的时刻重合，从而使得一个采样周期内采集到的电源输出的电流值均处于最高值，进而可能误判出需要执行过流保护。

发明人进一步研究发现：虽然通过调整过流保护的电流阈值可以降低上面提到的误判的情况，但是调高过流保护的电流阈值意味着需要设计并更换电子设备的电源，既增加了复杂度，也导致了较多的资源耗费。

基于此，本申请提出了一种复杂度低，且能够提高过流保护的可靠性的过流保护方法。

下面结合流程图对本申请的过流保护方法进行介绍。

如图2所示，其示出了本申请一种过流保护方法一个实施例的流程示意图，本实施例的方法可以应用于前面提到的电子设备，本实施例的方法可以包括：

S201，获得电子设备的采样周期及与该采样周期对应的采样方式。

可以理解的是，在过电流保护中，电子设备会周期性采集并判断每个周期内是否满足过流保护条件。因此，电子设备在每个周期都会采集电子设备的电源输出的电流值并进行相应的判断，而这个周期就是采样周期。可见，采样周期是指采集电子设备的电源输出的电流值的周期，也是判断是否满足过流保护所对应的周期。

其中，采样周期的时长可以根据需要设定。如，采样周期可以为50毫秒或者20毫秒等。

在一种可能的实现方式中，电子设备的采样周期可以基于该电子设备的处理器的处理任务量，和/或，电子设备的处理能力确定。如，处理器的处理任务量较少，和/或者处理能力较高的情况下，可以将电子设备的采样周期的时长设置的相对较长；反之，如果处理器的处理任务量相对较多，和/或处理能力较低，则采样周期的时长可以相对较长。

其中，处理器的处理任务量可以是处理器当前运行的进程数量或者执行的数据处理的任务的数量。该电子设备的处理能力可以与电子设备的硬件有关，处理能力可以反映电子设备的运行性能或者数据处理效率等。

其中，采样周期对应的采样方式为在该采样周期内采集电源的电流值的具体方式。通过该采样周期的采样方式可以确定在该采样周期内的哪些时刻采集电源的电流值。

如，获得的与采样周期对应的采样方式可以是包括不同采样周期所适用的具体采样规则，如，不同类型的采样周期各自适用的采样规则，采样规则中可以包括用于确定采样周期内采样时刻的规则。

又如，与采样周期对应的采样方式还可以包括：适用于不同采样周期的采样时刻集合，每个采样时刻集合包括多个采样时刻。

其中，采样周期对应的采样方式可以存储在电子设备中；也可以是存储在指定云端或者服务器中，电子设备可以定时或者不定时从云端或者服务器获得与采样周期对应的采样方式，这样，云端或者服务器侧更新采样方式，而电子设备也可能获得与采样周期对应的最新的采样方式。

S202，至少基于该采样周期和与该采样周期对应的采样方式确定采样时刻，在确定的采样时刻获得电源输出的电流值。

其中，不同采样周期所适用的采样方式可能相同，也可能不同，但是，在采样周期确定后，采样周期所适用的采样方式也就是唯一固定的。因此，针对任意一个采样周期，需要结合采样周期的信息以及获得的采样周期对应的采样方式，确定该采样周期内各采样时刻。

如，可以结合采样周期所属的周期数或者周期数的数值类型等等，来确定适用于该采样周期的具体采样方式等。后续会以几种可能情况为例进行详细介绍，在此不再赘述。

与现有的电流采样不同，本申请实施例中，与采样周期对应的采样方式为采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔不完全相同。其中，每个采样周期内包含由多个采样时刻分割出的至少两个时间间隔，每个时间间隔为采样周期内相邻采样时刻之间的间隔时长。也就是说，基于与该采样周期对应的采样方式确定出的采样周期内相邻采样时刻之间的时间间隔不完全相同。

在一种可能的实现方式中，采样周期内时间间隔不完全相同可以为采样周期内相邻采样时刻的时间间隔均不相同。如，基于采样周期确定出的采样时刻依次包括：时刻1、时刻2、时刻3和时刻4，其中，时刻1和时刻2之间存在时间间隔1，时刻2与时刻3之间存在时间间隔2，而时刻2与时刻4之间存在时间间隔3，则该采样周期对应的采样方式使得时间间隔1、时间间隔2与时间间隔3的时长均不同。

在又一种可能的实现方式中，采样周期内时间间隔不完全相同还可以为：采样周期内相同时长的时间间隔的占比小于第一阈值，该时间间隔为相邻两采样时刻之间的时长间隔。如，采样周期内存在6个由相邻采样时刻构成的时间间隔，假设该第一阈值为1/2，那么该采样周期内最多只能有三个时间间隔的时长相同。

可以理解的是，针对任意一个采样周期而言，确定该采样周期内的采样时刻可以在到达该采样周期之前执行，具体实现过程并不加限制。

如，可以在到达该采样周期之前最近一个采样周期中最后一个采样时刻时，确定该采样周期的采样时刻，例如，对于第2个采样周期而言，在执行第1个采样周期内最后一个采样时刻的电流时，会确定该第2个采样周期内各采样时刻。

又如，还可以每隔一定时间段执行一次确定该时间段内涉及到的采样周期内的采样时刻。比如，以小时为单位，确定出当前时刻之后最近一个小时内涉及到的采样周期后，还可以按照采样周期的顺序，依次确定采样周期的采样时刻。

相应的，在到达该采样周期时，则可以在到达采样周期内各采样时刻时分别进行电流采样。

S203，根据该采样周期内各采样时刻获得的电流值是否满足过流保护条件，执行或不执行过流保护操作。

其中，针对每个采样周期，可以利用该采样周期内各采样时刻采集到的电流值来判断是否满足过电流保护条件，并在满足过电流保护条件的情况下，执行过电流保护操作。

如，在一种可能的情况中，在采样周期内各个采样周期的电流值均达到电流阈值的情况下，执行过流保护操作。例如，假设电流阈值为30A，那么采样周期内每个采样时刻采样到的电源输出电流均达到(等于或者超过)30A，则会执行过流保护操作。

在又一种可能的情况中，可以在采样周期内达到电流阈值的采样时刻的个数大于第二阈值的情况下，执行过流保护操作。如，仍以电流阈值为30A为例，并假设采样周期内具有6个采样时刻，而该第二阈值为4，那么如果采样周期内有超过4个采样时刻采集到的电流值超过30A，则执行过流保护。

当然，以上是过流保护条件的两种情况为例说明，在实际应用中过流保护条件还可以有其他可能，对此不加限制。

其中，执行过流保护的目的是控制中断电源的供电输出，以避免电源输出电流过高导致电子设备的损坏。

可见，在本申请实施例中，基于采样周期内对应的采样方式，在该采样周期内确定出的任意相邻两采样时刻的时间间隔不完全相同，在此基础上，在每个采样周期内可以按照非固定频率对电源输出的电流进行采。在该种情况下，即使电子设备中存在瞬时电流过高但是平均电流不高的器件，也可以减少采样周期内每个采样时刻均采样到瞬时电流峰值的情况，从而可以减少由于采样周期内每个采样时刻均采样到瞬时电流峰值而导致误判出存在过电流的情况，进而提高了过电流保护的可靠性。

为了便于理解本申请的方案，下面以基于采样周期及其对应的采样方式确定采样时刻的不同方式分别进行介绍。

在一种可能的情况中，可以针对采样周期的数值类型设置相应的采样方式，其中，采样周期的数值类型不同，采样方式也会有所差别。相应的，在确定采样周期内的采样时刻时，可以先确定该采样周期的数值类型，然后，至少基于该采样周期的数值类型对应的采样方式，并根据确定的采样方式从采样周期中确定采样时刻。

可以理解的是，采样周期一般都会通过周期序号或者周期数来唯一标识采样周期，因此，每个采样周期实际上都对应有一标识该采样周期的数值。相应的，采样周期的数值类型实际上就是采样周期的周期序号或者周期数等唯一表示采样周期的数值所属的数值类型。

如，采样周期可以通过周期序号表示，例如，采样周期可以为采样周期1、采样周期2、采样周期3等等，相应的，采样周期1对应的数值类型实际上就是1对应的数值类型。

又如，采样周期也可以通过周期数表示，如，采样周期依次为第1个、第2个、第3个等等采样周期。例如，对于第10个采样周期，该采样周期的数值类型实际上就是10的数值类型。

其中，数值类型的分类可以有多种，如，数值类型可以分为奇数和偶数。又如，数值类型可以分为质数和合数等。

为了便于理解，以数值类型包括质数和合数为例进行说明，如，参见图3，其示出了本申请一种过流保护方法又一个实施例的流程示意图，本实施例的方法可以包括：

S301，获得电子设备的采样周期及与该采样周期对应的采样方式。

在本申请实施例中，获得的与采样周期对应的采样方式包括数值类型属于质数的采样周期的采样方式，和/或，数值类型属于合数的采样周期的采样方式。

其中，在采样周期的数值类型为质数的情况下，该采样周期对应的采样方式为第一采样方式。其中，该第一采样方式为采样周期中数值为质数的时刻为采样时刻。

在采样周期的数值类型为合数的情况下，采样周期对应的采样方式为第二采样方式。在该第二采样方式为采样周期中数值为合数的时刻为采样时刻。

S302，在确定采样周期为质数的情况下，按照第一采样方式将采样周期中数值为质数的第一时刻确定为采样时刻。

其中，质数是指大于1的自然数中，除了1和它本身以外不再有其他因数的自然数。

在该采样周期的数值类型为质数的情况下，还需要分析采样周期内各个时刻的数值类型是否为质数某个时刻，相应的，可以得到采样周期内数值为质数的各个时刻。其中，为了便于区分，将采样周期内数值为质数的时刻称为第一时刻。

可以理解的是，由于质数属于自然数，因此，采样周期内数值为质数的时刻也是采样周期内具有整数值的时刻。也就是说，采样周期内各个时刻实际上是与该采样周期具有相同时间单位的时刻，即采样周期内的该第一时刻是指与采样周期具有相同时间单位的时刻。

如，采样周期的时长是以毫秒为时间单位的，那么需要先确定采样周期内毫秒单位的各个整数时刻。例如，采样周期的时长为20毫秒，则采样周期内的毫秒级时刻依次为0毫秒、1毫秒、2毫秒、3毫秒……20毫秒。

可以理解的是，由于采样周期内属于数值为质数的时刻所对应的质数是按照从小到大顺序排列，而任意相邻两个质数之间的差值并不完全相同，因此，将采样周期内数值为质数的时刻确定为采样时刻，可以保证采样周期内由相邻两个采样时刻间隔出的各个时间间隔可能会不完全相同，甚至会完全不同。

举例说明，仍以上面采样周期为20毫秒为例，那么，0毫秒对应的数值为0，1毫秒对应的数值为1，依此类推。在此基础上，该采样周期内数值为质数的第一时刻(即采样时刻)为2毫秒、3毫秒、5毫秒、7毫秒、11毫秒、13毫秒、17毫秒和19毫秒。由此可见，2毫秒这一采样时刻与3毫秒这一采样时刻之间的时间间隔为1毫秒，而3毫秒这一采样时刻与5毫秒这一采样时刻之间的时间间隔为2毫秒，而7毫秒与11毫秒这两个时刻间的时间间隔为3毫秒，由此可见采样周期内由采样时刻分割出的各个时间间隔并不完全相同。

S303，在确定该采样周期为合数的情况下，按照第二采样方式将该采样周期中数值为合数的第二时刻确定为该采样周期内的采样时刻。

其中，指合数是指在大于1的整数中除了能被1和本身整除外，还能被其他数(0除外)整除的数。

与采样周期为质数的情况相似，为了便于区分，将采样周期内数值为合数的时刻称为第二时刻。相应的，此处提到的采样周期内的时刻也是采样周期内具有整数值的时刻，也就是说第二时刻是与该采样周期具有相同时间单位的时刻。

相应的，将采样周期内数值为合数的时刻确定为采样时刻，可以保证采样周期内由相邻两个采样时刻间隔出的各个时间间隔会不完全相同。

仍以采样周期的时长为20毫秒为例，那么该采样周期内数值为合数的第二时刻，即采样时刻依次为：4毫秒、6毫秒、9毫秒、10毫秒、12毫秒、14毫秒、15毫秒、16毫秒、18毫秒和20毫秒。由此可见，4毫秒这一采样时刻与6毫秒这一采样时刻的时间间隔为2毫秒，而6毫秒与9毫秒这一采样时刻的时间间隔为3毫秒，而9毫秒与10毫秒这两个时刻的时间间隔为1毫秒，因此，采样周期内由采样时刻分割出的各个时间间隔并不完全相同。

由于，1既不属于质数也不属于合数，因此，对于采样周期的数值为1的情况，与该采样周期对应的采样方式并不加限制，也可以采样第一采样方式或者第二采样方式，也可以是预先设定该采样周期内各个采样时刻，还可以设定与第一采样方式和第二采样方式不同的其他采样方式。

需要说明的是，本实施例是以采样周期的数值类型分为质数和合数两种情况为例。在实际应用中，与采样周期对应的采样方式也可以仅仅包含采样周期为质数情况下的第一采样方式，而对于不属于质数的采样周期，也可以在采样周期对应的采样方式中包含设定的各个采样时刻，或者是其他能够保证采样周期内各个时间间隔不完全相同即可。相应的，与采样周期对应的采样方式也可以仅仅包含采样周期为合数情况下的第二采样方式，而对于不属于合数的采样周期对应的采样方式可以不加限制。

S304，针对任意一个采样周期，在该采样周期内确定的采样时刻采集电源输出的电流值。

S305，根据该采样周期内各采样时刻获得的电流值是否满足过流保护条件，执行或不执行过流保护操作。

该步骤S304和S305可以参见前面实施例的相关介绍，在此不再赘述。

可以理解的是，图3实施例仅仅是至少基于该采样周期的数值类型对应的采样方式确定采样时刻的两种方式进行介绍，在实际应用中，还可以有其他可能。

如，在确定采样周期为质数或合数的情况下，还可以按照第三采样方式将时间间隔为质数或合数时对应的第三时刻确定为采样周期内的采样时刻。其中，时间间隔为质数或者合数对应的第三时刻是指与最近一个采样时刻之间的时间间隔的时长对应数值为质数或者合数的时刻。

举例说明，假设采样周期内第一个采样时刻为第0毫秒，那么如第0毫秒之间间隔的时长为2毫秒(2为质数)的时刻为第2毫秒，则第2毫秒为该采样周期内的一个采样时刻，相应的，距离第2毫秒之后2毫秒、3毫秒或者5毫秒等质数对应时长的时刻可以确定为下一个采样时刻，以此类推。需要注意的是，为了保证不同时间间隔所对应的时长不完全相同，不同时间间隔的时长所对应的质数或合数也不完全相同，如，第一个采样时刻与第二个采样时刻之间的时间间隔的时长可以为2毫秒(一个质数)，而第二个采样时刻与第三个采样时刻之间的时间间隔的时长则可以为3毫秒(另一个质数)。

下面以与采样周期对应的采样方式的另一种可能情况进行说明。

在又一种可能情况中，与采样周期对应的采样方式还可以是与采样周期的数值所属的数值范围有关。相应的，确定采样周期内的采样时刻可以为：确定采样周期的数值，根据该数值所属的数值范围从预定采样时刻集合中确定与该采样周期对应的采样时刻。

其中，采样周期的数值与前面确定采样周期的数值类型所依据的数值相同，如采样周围的数值为采样周期的周期序号或者周期数，如，第一个采样周期的数值为1，而第二个采样周期的数值为2。

采样周期的数值所可能划归的数值范围可以根据需要设定。相应的，预定采样时刻集合可以包含采样周期的数值所属的数值范围所适用的采样时刻集合。其中，采样时刻集合中包括多个采样时刻。

下面以一种实现方式为例对该种情况进行介绍。

如，参见图4，其示出了本申请一种过流保护方法又一个实施例的流程示意图，本实施例的方法可以包括：

S401，获得电子设备的采样周期及与该采样周期对应的采样方式。

在本实施例中，与采样周期对应的采样方式包括：与采样周期的数值所属的数值范围对应的采样时刻集合。

S402，在确定该采样周期的数值处于第一数值范围内的情况下，将该预定采样时刻集合中的第一采样时刻集合内各采集时刻确定为与该采样周期对应的采样时刻。

S403，在确定该采样周期的数值处于第二数值范围内的情况下，将该预定采样时刻集合中的第二采样时刻集合内各采样时刻确定为与该采样周期对应的采样时刻。

其中，采集时刻集合中采样时刻的个数与采样周期的数值所处的数值范围具有第一对应关系。即，第一采样时刻集合内的采样时刻的个数与第一数值范围具有第一对应关系，第二采样时刻集合内的采样时刻的个数与第二数值范围具有第一对应关系。

其中，该第一对应关系可以为正相关或者负相关，也可以是其他对应关系。

如，以第一对应关系为正相关为例，对于任意一个采样时刻集合和该采样时刻集合对应的数据范围而言，采样时刻集合对应的数值范围越大(如数值范围覆盖的整数数值的个数越多，或者说，数值范围内覆盖的数值越大)，该采样时刻集合内采样时刻的个数也相对越多。相应的，如果第二数值范围大于第一数值范围，那么第二采样时刻集合中包含的采样时刻的个数要多于该第一采样时刻集合中包含的采样时刻的个数。

举例说明，假设以30秒为一个统计周期，并假设每个采样周期的时长为50毫秒，那么一分钟内会涉及到60个采样周期，即依次为第一个采样周期、第二个采样周期……，直到第60个采样周期。这样，第一数值范围可以为1到30，第二数值范围为31到60，相应的，对于第1到30个采样周期，第一采样时刻集合中包含的采样时刻的个数可以包括10个，而第二采样时刻中包含采样时刻的个数为15个。

此处是以第一数值范围和第二数值范围均包括一个连续的数值范围为例，在实际应用中第一数值范围和第二数值范围也可以是包括的数值集合。如，第一数值范围可以包括：1-5、11-15以及21-25，而第二数值范围包括不超过60的整数中不属于第一数值范围的数值，在该种情况下，第一数值范围内的数值总体小于第二数值范围内的数值，因此，第一采样时刻集合内采样时刻的个数也可以多于第二采样时刻集合内的采样时刻的个数。当然，还可以有其他可能情况，对此不再赘述。

其中，采样时刻集合内的采样时刻为采样点所在的时刻点，如，采样时刻集合中采样时刻为第1秒、第3秒、第6秒以及第8秒等等，则按照该采样时刻集合可以将采样周期内第1秒、第3秒、第6秒以及第8秒等等确定为采集电源输出电流的采样时刻。

需要说明的是，在本实施例是以采样周期的数值所属的数值范围分为第一数值范围和第二数值范围两种为例。在实际应用中，采样周期对应的数值范围也可以仅仅是包括第一数值范围和第二数值范围中的一种，而对于采样周期的数值范围不属于设定的第一数值范围或者第二数值范围的情况，则可以采用其他采样方式，只要满足确定出的采样周期内各个采样时刻所划分出的时间间隔不完全相同即可。

S404，针对任意一个采样周期，在该采样周期内确定的采样时刻采集电源输出的电流值。

S405，根据该采样周期内各采样时刻获得的电流值是否满足过流保护条件，执行或不执行过流保护操作。

该步骤S404和S405可以参见前面实施例的相关介绍，在此不再赘述。

以上介绍的几种与采样周期对应的采样方式中直接规定了采样周期内具体的采样时刻或者采样周期内作为采样时刻的时刻所满足的条件。在本申请中，与采样周期对应的采样方式还可以限制采样周期内由采样时刻所分割出的各个时间间隔所需满足的具体条件。

如，与采样周期对应的采样方式包括：采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔按照确定的第四采样方式增大或者减少。可以理解的是，由于采样周期内由采样时刻所划分出的时间间隔是逐渐增大或者减小的，因此，采样周期内各个时间间隔必然不相同。

相应的，在采样周期内第一个采样时刻以及第一个时间间隔确定的情况下，便可以基于采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔按照确定的第四采样方式增大或者减少的规则，依次确定出采样周期内各个采样时刻。

其中，采样周期内各时间间隔按照该第四采样方式增大或者减小可以有多种可能。

如，在一种可能的情况中，可以按照设定的步进数增大或者减小。例如，步进数为1秒，那么采样周期内相邻两个时间间隔差值为1秒。

以该种情况的一种实现方式为例说明：将采样周期的起始时刻确定为该采样周期内首个采样时刻，并按照设定的首个时间间隔，确定出与该首个采样时刻的时长距离为该首个时间间隔的第二个采样时刻；然后，按照该第二采样时刻以及该首个时间间隔，并按照时间间隔以设定的步进数增大(或者减少)的规则，依次确定采样周期位于该第二采样时刻之后的各个采样时刻。

例如，假设采样周期内，第一个采样时刻为采样周期的第0毫秒，同时假设第一个采样时刻与第二个采样时刻之间时间间隔(即采样周期内的首个时间间隔)为5毫秒，那么以按照1毫秒为步进数递增时间间隔，则可以确定该采样周期内第三个采样时刻与该第二个采样时刻之间的时间间隔应为6毫秒，由此可知，第三个采样时刻为11毫秒；类似的，该采样周期内第四个采样时刻与该第三个采样时刻之间的时间间隔应该为7毫秒，则第四个采样时刻为采样周期的第18毫秒这一时刻。依此类推，可以得到该采样周期内各个采样时刻。

在又一种可能的情况中，采样周期内具有先后顺序的各个时间间隔的时长数值为逐渐增大或者减小的数值序列。该数值序列可以为数值增大或者减小可以符合特定规律，也可以不符合特定规律。如，数值序列可以为按照质数(或者合数)从小到大的顺序排列的数值序列。

相应的，在按照此规则，可以依次确定采样周期内各个采样时刻，使得由相邻采样时刻构成时间间隔符合该规则。

例如，以逐渐增大的数值序列为2、3、5、7、9为例，那么采样周期内第一个采样时刻与第二个采样时刻之间的时间间隔的时长为1，而第二个采样时刻与第三个采样时刻之间的时间间隔为4秒，依此类推。在此基础上，基于该采样周期内时间间隔的增大规律，可以得到采样周期内的采样时刻可以为第0秒，第1秒、第5秒，第10秒、第17秒，第9秒。

可以理解的是，采样周期内各时间间隔按照该第四采样方式增大或者减小仅仅是采样周期内各个时间间隔的一种时长变化规则，在实际应用中，只要能够保证采样周期内各个时间间隔的时长不完全相同即可，对于其他时长变化规则也同样适用于本实施例。

在又一种可能的实现方式中，采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔也可以不是逐渐增大或者减少，还可以是具体设置采样周期内各个采样时刻间隔出的时间间隔的具体时长。如，采样周期内各个时间间隔的时长所对应的数值分别为不同的质数或者合数。

举例说明，假设采样周期内具有5个采样时刻，相应的，采样周期内具有由采样时刻间隔出的4个时间间隔，那么采样方式可以固定这4个时间间隔对应的时长依次为2毫秒、5毫秒、3毫秒和7毫秒。其中，2、5、3和7均为质数。相应的，如果将采样周期的0毫秒作为一个采样时刻，那么根据设定的该采样周期内各个时间间隔的时长，可知，第2毫秒为一个采样时刻，相应的，第2毫秒之后5毫秒对应的第7毫秒为一个采样时刻；类似的，第10毫秒为一个采样时刻，第17毫秒为一个采样时刻。

可以理解的是，本申请中采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔不完全相同是为了避免采样周期内各个采样时刻均与电子设备中具有瞬时高电流的器件周期性输出瞬时高电流的时刻相重合，从而导致出现过电流误判。

而为了避免采样周期内各个采样时刻均与电子设备中具有瞬时高电流的器件周期性输出瞬时高电流的时刻相重合，本申请中采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔可以与电子设备中具有周期性输出瞬时高电流的器件的电流输出频率具有第二对应关系。

其中，该第二对应关系可以为采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔均与电子设备中具有周期性输出瞬时高电流的器件的电流输出频率的变化周期不同。

如，采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔可以与电子设备中显卡的电流输出频率具有第二对应关系。如结合图1可见，显卡输出的电流是呈现周期性变化的，该电流变化周期就是显卡的电流输出频率对应的周期。假设显卡的电流输出频率对应的电流输出周期为3毫秒，那么采样周期内各个时间间隔可以均不3毫秒。

可以理解的是，在实际应用中，采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔可以与电子设备中显卡(或者具有周期性输出瞬时高电流的器件)的电流输出频率具有第二对应关系可以与前面限定采样周期内各个时间间隔不完全相同的其他实现方式相结合。

对应本申请的一种过流保护方法，本申请还提供了一种过流保护装置，如图5所示，其示出了本申请一种过流保护装置一个实施例的组成结构示意图，本实施例的装置可以包括：

信息获得单元501，用于获得电子设备的采样周期及与所述采样周期对应的采样方式。

电流采样单元502，用于至少基于所述采样周期和与所述采样周期对应的采样方式确定采样时刻，在确定的采样时刻获得电源输出的电流值，其中，所述采样方式为所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔不完全相同；

过流保护单元503，用于根据所述采样周期内各采样时刻获得的电流值是否满足过流保护条件，执行或不执行过流保护操作。

可选的，该电流采样单元中所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔不完全相同，包括：

所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔均不相同；

或者，所述采样周期内相同时长的时间间隔的占比小于第一阈值，所述时间间隔为相邻两采样时刻之间的时长间隔。

可选的，电子设备的采样周期基于所述电子设备的处理器的处理任务量和/或处理能力确定。

在一种可能的情况中，该电流采样单元，包括：

第一时刻确定单元，用于确定所述采样周期的数值类型，至少基于所述采样周期的数值类型确定对应的采样方式，根据确定的采样方式从所述采样周期中确定采样时刻；

或，

第二时刻确定单元，用于确定所述采样周期的数值，根据所述数值所属的数值范围从预定采样时刻集合中确定与所述采样周期对应的采样时刻；

电流采样单元还包括：采样执行单元，用于在确定的采样时刻获得电源输出的电流值。

可选的，该第一时刻确定单元，包括：

质数时刻确定单元，用于在确定所述采样周期为质数的情况下，按照第一采样方式将所述采样周期中数值为质数的第一时刻确定为所述采样时刻；且/或，

合数时刻确定单元，用于在确定所述采样周期为合数的情况下，按照第二采样方式将所述采样周期中数值为合数的第二时刻确定为所述采样时刻；

或，

综合时刻确定单元，用于在确定所述采样周期为质数或合数的情况下，按照第三采样方式将所述时间间隔为质数或合数时对应的第三时刻确定为所述采样时刻。

可选的，第二时刻确定单元，包括：

第一时刻匹配单元，用于在确定所述采样周期的数值处于第一数值范围内的情况下，将所述预定采样时刻集合中的第一采样时刻集合内各采样时刻确定为与所述采样周期对应的采样时刻；和/或，

第二时刻匹配单元，用于在确定所述采样周期的数值处于第二数值范围内的情况下，将所述预定采样时刻集合中的第二采样时刻集合内各采样时刻确定为与所述采样周期对应的采样时刻；

其中，采样时刻集合中采样时刻的个数与所述采样周期的数值所处的数值范围具有第一对应关系。

可选的，所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔按照确定的第四采样方式增大或减小；且/或，

所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔与显卡的电流输出频率具有第二对应关系。

在又一种可能的实现方式中，所述过流保护单元，包括：

第一保护单元，用于在所述采样周期内各采样时刻的电流值均达到电流阈值的情况下，执行过流保护操作；或，

第二保护单元，用于在所述采样周期内达到电流阈值的采样时刻的个数大于第二阈值的情况下，执行过流保护操作。

又一方面，本申请还提供了一种电子设备，该电子设备可以为服务器、工作站，还可以为其他计算机设备。

如图6所示，其示出了本申请一种电子设备的组成结构示意图，本实施例的电子设备至少包括处理器601和存储器602。

当然，该电子设备还包括电源603。电源、处理器和存储器之间可以通过通信总线604相连。

其中，该处理器601用于执行如上任意一个实施例中提到的过电流保护方法；

该存储器602用于存储该处理器执行操作所需的程序。

当然，图6仅仅是电子设备的示意图，在实际应用中，该电子设备还可能会包括显示器、输入单元等等器件，对此不加限制。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (9)

1.一种过流保护方法，包括：

获得电子设备的采样周期及与所述采样周期对应的采样方式；

至少基于所述采样周期和与所述采样周期对应的采样方式确定采样时刻，在确定的采样时刻获得电源输出的电流值；

根据所述采样周期内各采样时刻获得的电流值是否满足过流保护条件，执行或不执行过流保护操作；

其中，所述采样方式为所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔不完全相同；

其中，所述至少基于所述采样周期和与所述采样周期对应的采样方式确定采样时刻，包括：

确定所述采样周期的数值类型，至少基于所述采样周期的数值类型确定对应的采样方式，根据确定的采样方式从所述采样周期中确定采样时刻；

或，

确定所述采样周期的数值，根据所述数值所属的数值范围从预定采样时刻集合中确定与所述采样周期对应的采样时刻。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，确定所述采样周期的数值类型，至少基于所述采样周期的数值类型确定对应的采样方式，根据确定的采样方式从所述采样周期中确定采样时刻，包括：

在确定所述采样周期为质数的情况下，按照第一采样方式将所述采样周期中数值为质数的第一时刻确定为所述采样时刻；且/或，

在确定所述采样周期为合数的情况下，按照第二采样方式将所述采样周期中数值为合数的第二时刻确定为所述采样时刻；

或，

在确定所述采样周期为质数或合数的情况下，按照第三采样方式将所述时间间隔为质数或合数时对应的第三时刻确定为所述采样时刻。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，确定所述采样周期的数值，根据所述数值所属的数值范围从预定采样时刻集合中确定与所述采样周期对应的采样时刻，包括：

在确定所述采样周期的数值处于第一数值范围内的情况下，将所述预定采样时刻集合中的第一采样时刻集合内各采样时刻确定为与所述采样周期对应的采样时刻；和/或，

在确定所述采样周期的数值处于第二数值范围内的情况下，将所述预定采样时刻集合中的第二采样时刻集合内各采样时刻确定为与所述采样周期对应的采样时刻；

其中，采样时刻集合中采样时刻的个数与所述采样周期的数值所处的数值范围具有第一对应关系。

4.根据权利要求1所述的方法，所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔不完全相同，包括：

所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔均不相同；

或者，所述采样周期内相同时长的时间间隔的占比小于第一阈值，所述时间间隔为相邻两采样时刻之间的时长间隔。

5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其中，所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔按照确定的第四采样方式增大或减小；且/或，

所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔与显卡的电流输出频率具有第二对应关系。

6.根据权利要求1所述的方法，所述根据所述采样周期内各采样时刻获得的电流值是否满足过流保护条件，执行或不执行过流保护操作，包括：

在所述采样周期内各采样时刻的电流值均达到电流阈值的情况下，执行过流保护操作；或，

在所述采样周期内达到电流阈值的采样时刻的个数大于第二阈值的情况下，执行过流保护操作。

7.根据权利要求1所述的方法，所述电子设备的采样周期基于所述电子设备的处理器的处理任务量和/或处理能力确定。

8.一种过流保护装置，包括：

信息获得单元，用于获得电子设备的采样周期及与所述采样周期对应的采样方式；

电流采样单元，用于至少基于所述采样周期和与所述采样周期对应的采样方式确定采样时刻，在确定的采样时刻获得电源输出的电流值，其中，所述采样方式为所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔不完全相同；

过流保护单元，用于根据所述采样周期内各采样时刻获得的电流值是否满足过流保护条件，执行或不执行过流保护操作；

其中，至少基于所述采样周期和与所述采样周期对应的采样方式确定采样时刻，包括：

确定所述采样周期的数值类型，至少基于所述采样周期的数值类型确定对应的采样方式，根据确定的采样方式从所述采样周期中确定采样时刻；

或，

确定所述采样周期的数值，根据所述数值所属的数值范围从预定采样时刻集合中确定与所述采样周期对应的采样时刻。

9.一种电子设备，包括：

处理器和存储器；

其中，所述处理器用于执行如上权利要求1至7任一项所述的过电流保护方法；

所述存储器用于存储所述处理器执行操作所需的程序。

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