CN111665421A - 气体绝缘变电站金属微粒检测方法 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种气体绝缘变电站金属微粒检测方法。所述方法用于检测气体绝缘变电站的金属微粒，所述气体绝缘变电站包括并列的第一母线和第二母线，以及连接于所述第一母线和第二母线之间的第一断路器，所述方法包括：对所述气体绝缘变电站进行局部放电检测，得到操动前局放信号；对所述第一母线和所述第二母线进行充电；操动所述第一断路器，并在操动所述第一断路器之后的预设时长内，对所述气体绝缘变电站进行局部放电检测，得到操动后局放信号；根据所述操动前局放信号和所述操动后局放信号，确定所述气体绝缘变电站是否存在金属微粒。本申请提供的方法检测金属微粒过程中，不会损伤气体绝缘变电站的绝缘性能，实用性强。

Description

气体绝缘变电站金属微粒检测方法

技术领域

本申请涉及电力设备领域，特别是涉及一种气体绝缘变电站金属微粒检测方法。

背景技术

气体绝缘变电站(Gas Insulated Substation，GIS)，是由断路器、母线、隔离开关、电压互感器、电流互感器、避雷器、套管等高压电器组合而成的高压配电装置。GIS以占地空间小、轻量化、绝缘性能好及不受环境干扰等优点，得到越来越广泛的应用。随着GIS的广泛应用，其安全运行对维持电网稳定的重要性愈发明显。

统计结果表明金属微粒缺陷是导致GIS最终绝缘失效的主要原因。在GIS的生产、装配和运行过程中，金属微粒的产生是不可避免的，如：生产过程中因壳体内部清理不善而残存的金属碎屑，运输过程中挤压摩擦产生的金属碎屑，运行中触头插接造成的机械摩擦以及放电烧蚀产生的金属微粒等。这些金属微粒在电场的作用下极易在GIS内运动，并使微粒周围的电场产生畸变，严重威胁到GIS的运行安全。

传统技术中，对于GIS内的金属微粒的检测主要是采用绝缘试验的方法，该方法是利用运动的金属微粒会造成GIS绝缘破坏这一特点，对GIS施加高压电，并检测GIS的设备击穿电压，若设备击穿电压明显下降，则说明GIS内存在较多金属微粒。

然而，采用这种方法进行检测时，若GIS存在较多金属微粒，则检测过程会导致GIS设备的击穿，对GIS造成绝缘损伤。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种气体绝缘变电站金属微粒检测方法。

一种气体绝缘变电站金属微粒检测方法，用于检测气体绝缘变电站的金属微粒，所述气体绝缘变电站包括并列的第一母线和第二母线，以及连接于所述第一母线和第二母线之间的第一断路器，所述方法包括：

对所述气体绝缘变电站进行局部放电检测，得到操动前局放信号；

对所述第一母线和所述第二母线进行充电；

操动所述第一断路器，并在操动所述第一断路器之后的预设时长内，对所述气体绝缘变电站进行局部放电检测，得到操动后局放信号；

根据所述操动前局放信号和所述操动后局放信号，确定所述气体绝缘变电站是否存在金属微粒。

在其中一个实施例中，所述根据所述操动前局放信号和所述操动后局放信号，确定所述气体绝缘变电站是否存在金属微粒，包括：

根据所述操动前局放信号，确定操动所述第一断路器之前所述气体绝缘变电站的局部放电量，得到操动前局放量；

根据所述操动后局放信号，确定操动所述第一断路器之后所述气体绝缘变电站的局部放电量，得到操动后局放量；

根据所述操动前局放量和所述操动后局放量，确定所述气体绝缘变电站是否存在金属微粒。

在其中一个实施例中，所述根据所述操动前局放量和所述操动后局放量，确定所述气体绝缘变电站是否存在金属微粒，包括：

若所述操动后局放量大于所述操动前局放量，则确定所述气体绝缘变电站存在金属微粒；

若所述操动后局放量等于所述操动前局放量，则确定所述气体绝缘变电站不存在金属微粒。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

若所述气体绝缘变电站存在金属微粒，则根据所述操动前局放量和所述操动后局放量确定是否需要对所述气体绝缘变电站进行金属微粒清理。

在其中一个实施例中，所述根据所述操动前局放量和所述操动后局放量确定是否需要对所述气体绝缘变电站进行金属微粒清理，包括：

若所述操动后局放量与所述操动前的局放量之间的差值大于预设阈值，则确定需要对所述气体绝缘变电站进行金属微粒清理。

在其中一个实施例中，对所述第一母线和所述第二母线进行充电时，所述第一断路器为断开状态。

在其中一个实施例中，所述对所述第一母线和所述第二母线进行充电，包括：

对所述第一母线和所述第二母线进行充电，以使所述第一母线的电压和所述第二母线的电压相同。

在其中一个实施例中，所述对所述第一母线和所述第二母线进行充电，包括：

通过电网对所述第一母线和所述第二母线进行充电。

在其中一个实施例中，所述气体绝缘变电站还包括第二断路器，所述第二断路器连接于所述第一母线与所述电网之间，且所述第二断路器连接于所述第二母线与所述电网之间，所述通过电网对所述第一母线和所述第二母线进行充电，包括：

保持所述第二断路器为连接状态，以通过所述电网对所述第一母线和所述第二母线进行充电。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

若所述气体绝缘变电站存在金属微粒，则根据所述操动后局放信号，确定金属微粒对所述气体绝缘变电站的影响程度。

在其中一个实施例中，所述根据所述操动后局放信号，确定金属微粒对所述气体绝缘变电站的影响程度，包括：

根据所述操动后局放信号，确定操动所述第一断路器之后所述气体绝缘变电站的最大局放值，得到操动后局放值；

根据所述操动后局放值确定金属微粒对所述气体绝缘变电站的影响程度。

上述气体绝缘变电站金属微粒检测方法，在操动所述第一断路器之前，对所述气体绝缘变电站进行局部放电检测，得到操动前局放信号；对所述第一母线和所述第二母线进行充电后，操动所述第一断路器，使得所述气体绝缘变电站内的金属微粒起跳或滚动，从而被所述局放检测设备检测，得到所述操动后局放信号；基于操动前后的局放信号，确定所述气体绝缘变电站是否存在金属微粒。上述方法通过检测和对比操动所述第一断路器前后的局放信号，确定所述气体绝缘变电站是否存在金属微粒，无需向所述气体绝缘变电站施加高压电，不会对所述气体绝缘变电站造成绝缘损伤，提高了设备的安全性。同时，所述方法通过操动所述第一断路器激励所述气体绝缘变电站内的金属微粒，使得金属微粒起跳或滚动，从而所述局放检测设备充分检测，提高对金属微粒检测的准确性。另外，通过对比操动前后的局放信号，能够排出干扰信号，进一步提高检测结果的准确性。此外，通过操动所述第一断路器激励所述气体绝缘变电站内的金属微粒，相较于人工通过力锤等设备激励金属微粒来说，激励更大，能够使金属微粒充分运动，提高对金属微粒的检测准确度，且操动所述第一断路器不会对气体绝缘变电站外壳造成损伤，操作简单，安全性高。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请一个实施例提供的气体绝缘变电站金属微粒检测方法应用场景示意图；

图2为本申请一个实施例提供的气体绝缘变电站金属微粒检测方法流程示意图；

图3为本申请另一个实施例提供的气体绝缘变电站金属微粒检测方法流程示意图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下通过实施例，并结合附图，对本申请的气体绝缘变电站金属微粒检测方法进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。在本申请的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

目前气体绝缘变电站(下称GIS)金属微粒的检测手段主要分为两大类：

第一类：绝缘试验

绝缘试验是针对金属微粒对GIS的绝缘危害而提出的检测方法。该方法利用运动的金属微粒会造成GIS绝缘破坏这一特点，向GIS施加高压电，若GIS的设备击穿电压出现明显下降时，说明GIS内有较多的金属微粒。该方法中，向GIS施加的高压电可以是交流电，可以是直流电，也可以是三角波、直流叠加冲击等形式的电。

第二类：局放测量

局部放电测量简称局放测量。局放测量是针对金属微粒所产生的局部放电而提出的检测方法。局放测量利用运动的金属微粒会在高压导杆或接地外壳之间发生局部放电这一特点，通过局放信号的特征在反映GIS内是否有较多的金属微粒。

目前这两类检测方法存在的问题如下：

绝缘试验会导致GIS设备击穿，对GIS造成绝缘损伤；且绝缘试验必须停电检测，实用性差。

局放检测虽然可以不停电检测，但是，对于GIS中一些运动不剧烈，但会影响到GIS绝缘性能的金属微粒，该方法无法检测，因此存在金属微粒检测精确度不高的问题。

虽然有人提出利用力锤敲击GIS外壳来激励GIS中金属微粒使其运动加剧，从而使局放信号更加明显。但是，这种方法会对GIS外壳造成损伤，且操作繁琐，试验人员的安全性也得不到保证。

因此，急需一种安全、有效、便捷可在线测试的GIS金属微粒检测方法。本申请实施例提供的GIS金属微粒检测方法旨在解决该问题。以下结合实施例，对所述GIS金属微粒检测方法进行进一步详细说明。

请参见图1，在一个实施例中，所述GIS金属微粒检测方法用于检测如图1所示的GIS的金属微粒情况。GIS包括并列的第一母线100和第二母线200，所述第一母线100和所述第二母线200之间连接有第一断路器300。所述第一断路器300为母联断路器，用于实现所述第一母线100和所述第二母线200的接通和断开。当然，所述第一断路器300和所述第一母线100之间还可以连接有隔离开关QS，所述第一断路器300和所述第二母线200之间也可以连接有隔离开关QS。

在一个实施例中，所述GIS还包括第二断路器400。所述第二断路器400连接于所述第一母线100与电网20之间，且所述第二断路器400连接于所述第二母线200与所述电网20之间，即，所述第二断路器400连接于所述第一母线100和所述第二母线200的公共连接线与所述电网20之间。所述第二断路器400用于控制所述第一母线100和所述第二母线200与所述电网20之间的断开与连通。当然，所述第一母线100与所述第二断路器400之间还可以连接有隔离开关QS，所述第二母线200与所述第二断路器400之间也可以连接有隔离开关QS。

在一个实施例中，所述GIS还可以进一步包括局放检测设备500。所述局放检测设备500可以设置于所述GIS的内部或外部，用于检测GIS的局放信号。

请参见图2，在一个实施例中，所述GIS金属微粒检测方法包括：

S10，对所述GIS进行局部放电检测，得到操动前局放信号。

在一个实施例中，可以通过所述局放检测设备500对所述GIS进行局部放电检测。操动所述第一断路器300之前进行局部放电检测得到的信号命名为操动前局放信号。

S20，对所述第一母线100和所述第二母线200进行充电。

对所述第一断路器300两侧的所述第一母线100和所述第二母线200进行充电。可选的，可以通过将所述第一母线100和所述第二母线200连接于电源，通过该电源向所述第一母线100和所述第二母线200进行充电。在一个实施例中，可以通过两个电源分别连接所述第一母线100和所述第二母线200，对二者进行充电，也可以通过同一电源同时对所述第一母线100和所述第二母线200进行充电。

S30，操动所述第一断路器300，并在操动所述第一断路器300之后的预设时长内，对所述GIS进行局部放电检测，得到操动后局放信号。

操动所述第一断路器300是指操作所述第一断路器300，使得所述第一断路器300的状态发生改变，由连通状态操作为断开状态，或者由断开状态操作为连通状态。对于所述第一断路器300的操动，可以通过人工手动操动，也可以通过操动机构操动。操动所述第一断路器300之后的预设时长内，可以通过所述局放检测设备500进行局部放电检测，检测得到的局部放电信号命名为操动后局放信号。

在对所述第一母线100和所述第二母线200充电之后，操动所述第一断路器300，会造成所述GIS剧烈振动，使得原本附着于GIS外壳内壁、绝缘子和高压导杆等上面的金属微粒脱落，并在所述第一母线100和所述第二母线200充电后形成的电场作用下，在高压导杆和接地外壳之间发生局部放电，被所述局放检测设备500识别和检测。操动所述第一断路器300产生的加速度可以高达50g，相较于人工通过力锤等设备激励金属微粒来说，激励更大，能够使金属微粒充分运动，提高对金属微粒的检测准确度。同时，操动所述第一断路器300不会对GIS外壳造成损伤，操作简单，且安全性高。

所述预设时长是指根据所述GIS内的金属微粒能够运动的最长时长确定的时长，金属微粒能够运动的最长时长也即从所述GIS内的金属微粒开始起跳或滚动，到结束运动恢复静止状态的时长。所述预设时长可以等于金属微粒能够运动的最长时长，也可以小于金属微粒能够运动的最长时长。所述预设时长可以参考向所述第一母线100和所述第二母线200充电的电压值进行设定。所述预设时长也可以根据实验得到。在操动所述第一断路器300之后的预设时长内对气体绝缘变电站进行局部放电检测，保证了局部放电检测时金属微粒处于运动状态，使得检测结果更加准确。

S40，根据所述操动前局放信号和所述操动后局放信号，确定所述GIS是否存在金属微粒。

如上描述，操动所述第一断路器300能够使得金属微粒运动，因此，若所述GIS内存在金属微粒，则操动所述第一断路器300前后检测到的局放信号会发生变化。对比操动前局放信号和操动后局放信号，依据操动所述第一断路器300前后的局放信号的变化情况，确定所述GIS是否存在金属微粒。

本实施例中，在操动所述第一断路器300之前，对所述GIS进行局部放电检测，得到操动前局放信号；对所述第一母线100和所述第二母线200进行充电后，操动所述第一断路器300，使得所述GIS内的金属微粒起跳或滚动，从而被所述局放检测设备500检测，得到所述操动后局放信号；基于操动前后的局放信号，确定所述GIS是否存在金属微粒。本实施例提供的方法通过检测和对比操动所述第一断路器300前后的局放信号，确定所述GIS是否存在金属微粒，无需向所述GIS施加高压电，不会对所述GIS造成绝缘损伤，提高了设备的安全性。同时，本实施例提供的所述方法通过操动所述第一断路器300激励所述GIS内的金属微粒，使得金属微粒起跳或滚动，从而所述局放检测设备500充分检测，提高对金属微粒检测的准确性。另外，通过对比操动前后的局放信号，能够排出干扰信号，进一步提高检测结果的准确性。此外，通过操动所述第一断路器300激励所述GIS内的金属微粒，相较于人工通过力锤等设备激励金属微粒来说，激励更大，能够使金属微粒充分运动，提高对金属微粒的检测准确度，且操动所述第一断路器300不会对GIS外壳造成损伤，操作简单，安全性高。

在一个实施例中，对所述第一母线100和所述第二母线200进行充电时，可以选择通过直流电源进行充电，也可以通过交流电源进行充电。当通过直流电源向所述第一母线100和所述第二母线200进行充电时，更有助于金属微粒振动起跳，使得对金属微粒的检测更加准确。

在一个实施例中，对所述第一母线100和所述第二母线200进行充电时电源的电压可以根据金属微粒的起跳电压去设置，电源的电压大于或等于金属微粒的起跳电压，使得所述GIS中的金属微粒可以充分起跳或滚动，提高对金属微粒检测的准确性。在一个具体的实施例中，金属微粒的起跳电压可以通过以下公式计算得到：

式中，U_dc表示球形金属微粒起跳电压，单位V；R₁表示所述GIS的高压导杆外半径，单位m；R₂表示所述GIS的接地外壳内半径，单位m；r表示球形金属微粒半径，单位m；ρ表示金属微粒密度，单位kg/m³；g表示重力加速度，g＝9.8m/s²；ε表示气体介电常数，ε＝8.85×10^-12F/m。

在一个实施例中，S20，对所述第一母线100和所述第二母线200进行充电，包括：

对所述第一母线100和所述第二母线200进行充电，以使所述第一母线100的电压和所述第二母线200的电压相同。

也就是说，充电后，所述第一母线100和所述第二母线200的电压相同。其中，电压相同是指电压幅值和方向均相同。具体的，可以采用同一电源对所述第一母线100和所述第二母线200进行充电，以使充电后二者的电压相同；也可以通过不同的电源分别对所述第一母线100和所述第二母线200件充电，但二者的电源的电压幅值、方向均相同，以使充电后二者的电压相同。本实施例中，通过对所述第一母线100和所述第二母线200进行充电，以使所述第一母线100和所述第二母线200的电压相同，这样能够最大程度的减小对所述第一断路器300的损伤，且能够避免电弧的产生，避免电弧对局部放电检测的干扰，提高对金属微粒检测的准确性。

在一个实施例中，S20，对所述第一母线100和所述第二母线200进行充电，包括：

通过电网20对所述第一母线100和所述第二母线200充电。

所述电网20也即所述GIS的输入端。通过所述电网20对所述第一母线100和所述第二母线200进行充电也即使用网侧电压对所述第一母线100和所述第二母线200进行充电。在一个具体的实施例中，可以通过保持所述第二断路器400为连接状态，以通过所述电网20对所述第一母线100和所述第二母线200进行充电。保持所述第二断路器400为连接状态，即保持所述第一母线100和所述第二母线200持续接入所述电网20，保持所述GIS为在线状态。

本实施例中，通过所述电网20对所述第一母线100和所述第二母线200充电，不仅使得所述第一母线100和所述第二母线200充电后的电压相同，避免对所述第一断路器300的损伤，避免电弧的产生；同时，基于所述电网20对所述第一母线100和所述第二母线200进行充电，充分利用了所述GIS设备与电网20的关系，无需额外增加电源进行充电，简化了金属微粒检测方法；且通过所述电网20进行充电，也即将GIS的所述第一母线100和所述第二母线200接入电网20***中，这样能够实现金属微粒的在线检测，也就是说，进行金属微粒检测时无需断电，实用性强。

在一个实施例中，对所述第一母线100和所述第二母线200进行充电时，所述第一断路器300为断开状态，这样能够避免操动所述第一断路器300时产生电弧，避免电弧干扰局部放电检测，提高局部放电检测的准确性，进而提高金属微粒检测的准确性；同时，还可以降低操作所述第一断路器300时损伤所述第一断路器300，提高设备的安全性。

请参见图3，在一个实施例中，S40，根据所述操动前局放信号和所述操动后局放信号，确定所述气体绝缘变电站是否存在金属微粒，包括：

S410，根据所述操动前局放信号，确定操动所述第一断路器300之前所述气体绝缘变电站的局部放电量，得到操动前局放量；

S420，根据所述操动后局放信号，确定操动所述第一断路器300之后所述气体绝缘变电站的局部放电量，得到操动后局放量；

S430，根据所述操动前局放量和所述操动后局放量，确定所述气体绝缘变电站是否存在金属微粒。

单位时间内，可能发生多次局部放电。所述局部放电量是指单位时间内，所有局部放电所产生的电荷总量。局部放电量的单位可以为皮库伦(PC)。所述操动前局放量用于表征操动所述第一断路器300之前的局部放电量，可以直接或间接的从所述操动前局放信号中获取得到。所述操动后局放量用于表征操动所述第一断路器300之后的局部放电量，可以直接或间接的从所述操动后局放信号中获取得到。局部放电量越大，说明金属微粒越多。

通过所述操动前局放量和所述操动后局放量反映操动所述第一断路器300前后的局部放电情况，从而确定操动所述第一断路器300前后局部放电的变化情况，进而确定所述GIS是否存在金属微粒。在一个实施例中，若所述操动后局放量大于所述操动前局放量，则确定所述GIS存在金属微粒；若所述操动后局放量等于所述操动前局放量，则确定所述GIS不存在金属微粒。也就是说，操动所述第一断路器300之后，局部放电量增大，说明所述GIS存在金属微粒。

在一个实施例中，进一步的，所述方法还可以包括：若所述GIS存在金属微粒，还可以根据所述操动前局放量和所述操动后局放量确定是否需要对所述GIS进行金属微粒清理。所述GIS中的金属微粒如果过多，局部放电量就会较大，所述操动后局放量就会较大，所述操动后局放量与所述操动前局放量的差值就会越大。根据该差值，可以确定是否需要对所述GIS进行金属微粒清理。具体的，可以设置一个操动前后局部放电量的差值的阈值，若所述操动后局放量与所述操动前的局放量之间的差值大于预设阈值，则确定需要对所述GIS进行金属微粒清理。本实施例中，根据所述操动前的局放量与所述操动后局放量确定是否需要对所述GIS进行金属微粒清理，在金属微粒较多时及时清理，能够避免金属微粒损伤所述GIS的绝缘性能，有效保护所述GIS。

在一个实施例中，进一步的，所述方法还可以包括：若所述GIS存在金属微粒，则根据所述操动后局放信号，确定金属微粒对所述GIS的影响程度。金属微粒越多，对所述GIS的影响程度越大。可以通过操动所述第一断路器300后局部放电的单次放电量来评价金属微粒对所述GIS的影响程度，也可以通过最大局放值来评价金属微粒对所述GIS的影响程度。其中，所述单次放电量是指发生一次局部放电的电荷量。所述最大局放值指示预设时间段内产生最多电荷的一次局部放电所对应的局部放电量。在一个具体的实施例中，可以根据所述操动后局放信号，确定操动所述第一断路器300之后所述GIS的最大局放值，得到操动后局放值；根据所述操动后局放值确定金属微粒对所述GIS的影响程度。所述操动最大局放值越大，金属微粒对所述GIS的影响程度越大。具体的，可以设置所述操动局放值与影响等级的对应关系，根据该对应关系，确定金属微粒对所述GIS的影响等级，以表征金属微粒对所述GIS的影响程度。可以理解，也可以根据金属微粒对所述GIS的影响程度确定是否需要对所述GIS进行金属微粒清理。

本实施例提供的方法，不仅能够定性的确定所述GIS是否存在金属微粒，且在存在金属微粒时，进一步根据所述操动后局放信号确定金属微粒对所述气体绝缘变电站的影响程度，便于根据金属微粒的影响程度确定进一步的处理方案，实用性强。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (11)

1.一种气体绝缘变电站金属微粒检测方法，其特征在于，用于检测气体绝缘变电站的金属微粒，所述气体绝缘变电站包括并列的第一母线和第二母线，以及连接于所述第一母线和第二母线之间的第一断路器，所述方法包括：

对所述气体绝缘变电站进行局部放电检测，得到操动前局放信号；

对所述第一母线和所述第二母线进行充电；

操动所述第一断路器，并在操动所述第一断路器之后的预设时长内，对所述气体绝缘变电站进行局部放电检测，得到操动后局放信号；

根据所述操动前局放信号和所述操动后局放信号，确定所述气体绝缘变电站是否存在金属微粒。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述操动前局放信号和所述操动后局放信号，确定所述气体绝缘变电站是否存在金属微粒，包括：

根据所述操动前局放信号，确定操动所述第一断路器之前所述气体绝缘变电站的局部放电量，得到操动前局放量；

根据所述操动后局放信号，确定操动所述第一断路器之后所述气体绝缘变电站的局部放电量，得到操动后局放量；

根据所述操动前局放量和所述操动后局放量，确定所述气体绝缘变电站是否存在金属微粒。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述操动前局放量和所述操动后局放量，确定所述气体绝缘变电站是否存在金属微粒，包括：

若所述操动后局放量大于所述操动前局放量，则确定所述气体绝缘变电站存在金属微粒；

若所述操动后局放量等于所述操动前局放量，则确定所述气体绝缘变电站不存在金属微粒。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若所述气体绝缘变电站存在金属微粒，则根据所述操动前局放量和所述操动后局放量确定是否需要对所述气体绝缘变电站进行金属微粒清理。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述操动前局放量和所述操动后局放量确定是否需要对所述气体绝缘变电站进行金属微粒清理，包括：

若所述操动后局放量与所述操动前的局放量之间的差值大于预设阈值，则确定需要对所述气体绝缘变电站进行金属微粒清理。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述第一母线和所述第二母线进行充电时，所述第一断路器为断开状态。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述第一母线和所述第二母线进行充电，包括：

对所述第一母线和所述第二母线进行充电，以使所述第一母线的电压和所述第二母线的电压相同。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述第一母线和所述第二母线进行充电，包括：

通过电网对所述第一母线和所述第二母线进行充电。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述气体绝缘变电站还包括第二断路器，所述第二断路器连接于所述第一母线与所述电网之间，且所述第二断路器连接于所述第二母线与所述电网之间，所述通过电网对所述第一母线和所述第二母线进行充电，包括：

保持所述第二断路器为连接状态，以通过所述电网对所述第一母线和所述第二母线进行充电。

10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若所述气体绝缘变电站存在金属微粒，则根据所述操动后局放信号，确定金属微粒对所述气体绝缘变电站的影响程度。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述根据所述操动后局放信号，确定金属微粒对所述气体绝缘变电站的影响程度，包括：

根据所述操动后局放信号，确定操动所述第一断路器之后所述气体绝缘变电站的最大局放值，得到操动后局放值；

根据所述操动后局放值确定金属微粒对所述气体绝缘变电站的影响程度。

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