CN111596203A - 一种芯片测试装置、平台及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种芯片测试装置、平台及方法。其中，平台包括：控制单元、设备单元、转接单元、烧录单元以及报告书单元；本发明的芯片测试评价方法，通过总结多种类芯片的大量实机测试业务，提取并建立通用的列表命令，通过***的控制单元解析为测试函数，向其他单元发送操控指令来调度测试动作，并在***运行的同步生成报告书，实现了芯片测试全程自动化，从而节省了人力成本，减轻了测试人员的操作压力，同时提高了芯片测试的效率和质量。

Description

一种芯片测试装置、平台及方法
技术领域
本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种芯片测试装置、平台及方法。
背景技术
芯片硬件的功能和性能测试评价，是指由于个体的差异和设计的不完备，流片之后要针对设计的硬件功能进行功能的正确性和性能指标进行的测试。这种测试需要针对多颗芯片进行多次测试才能保证其准确性。
芯片的软件测试，是指芯片配套的驱动软件和***软件开发后，要针对各个功能的正确性进行测试。随着软件版本的不断修改和升级，需要进行多次重复的测试才能保证其准确性。
目前，在普遍的芯片测试过程中，由于测试编译工具的操作、设备的配置连接、环境的搭建、数据的比对及结果的判断都需要人工参与，而且，芯片测试评价工作对从业人员的仪器使用和调试能力要求较高，导致芯片测试时间长、效率低、结果不稳定，影响整体芯片研发工作的进度和质量。
发明内容
本发明提供一种芯片测试装置、平台及方法，以克服上述技术问题。
本发明的芯片测试装置，包括：
控制单元和接口单元；所述接口单元，包括：转接模块、调试模块及设备单元指令模块；
所述控制单元，用于根据被测芯片名称调取测试case列表中所述被测芯片名称对应的测试项名称、测试函数、测试项流程，所述测试函数包括设备单元的多个功能，所述设备单元的多个功能对应设备单元的多个型号；
根据所述case列表的测试项流程向所述接口单元发送连接指令，并将建立连接指令发送至报告书单元；根据所述case列表的测试项名称向所述接口单元发送测试指令；根据所述case列表的测试项对应的测试设备和测试函数向所述接口单元发送设备单元的参数配置、开启/关闭指令，并将参数配置和开启/关闭指令发送至报告书单元；根据case列表中的所述测试函数读取所述设备单元的测量读数，并将所述设备单元的读数发送至报告书单元；根据所述设备单元的读数判断芯片是否通过测试，并将测试判定结果信息发送至报告书单元；
所述转接模块，接收所述控制单元发送的所述连接指令，接口单元的转接模块根据所述连接指令与所述设备单元建立连接；
所述调试模块，用于根据所述测试指令将所述测试指令对应的测试内容烧录至被测芯片，并将烧录指令发送至报告书单元；
所述设备单元指令模块，用于接收所述控制单元发送的设备单元参数配置、开启/关闭指令，控制所述设备单元开启/关闭，所述参数配置、开启/关闭指令发送至所述设备单元，并将所述参数配置、开启/关闭指令发送至报告书单元。
进一步地，所述控制单元还具体用于：
根据测试要求确定多个设备单元，并根据***环境配置要求确定所述多个设备单元对应的设备型号；
根据所述任一设备单元某一型号对应的多个底层函数确定一个接口函数；
根据所述设备单元的多个型号对应的多个接口函数确定case列表中所述设备单元的标准函数；
根据所述测试内容和所述标准函数建立case列表；
所述接口单元具体还用于：
接口单元根据测试功能将测试函数进行拆分，得到设备单元/被测试芯片对应的标准函数；
所述接口单元根据测试设备对所述标准函数进行拆分，得到设备单元/被测试芯片对应的接口函数；
所述接口单元将所述接口函数发送至所述设备单元/被测试芯片。
进一步地，还包括：
报告书单元，所述报告书单元用于接收测试执行过程中所述控制单元发送的被测芯片的测试内容和测试结果，并同步生成报告书。
进一步地，所述接口单元还包括：
云端网络接口模块，用于提供网络连接所需的硬件支撑及网络通信协议。
本发明还提供一种芯片测试评价平台，包括：
所述芯片测试装置及设备单元；
所述设备单元包括多个用于测试被测芯片参数的测试设备和供电设备，所述测试设备用于接收所述控制单元发送的测试指令，并根据所述测试指令对被测芯片输出信号进行测量，所述供电设备用于接收所述控制单元发送的开启/关闭指令，并根据所述开启/关闭指令进行开启/关闭。
本发明还提供一种芯片测试评价方法，包括：
控制单元根据测试项名称调取测试case列表中所述被测芯片名称对应的测试项名称、测试功能、测试函数以及测试项流程，所述测试功能对应多个设备单元，所述测试函数对应多个标准函数，所述标准函数对应多个设备单元的接口函数；
所述控制单元根据所述case列表的测试项流程向所述接口单元发送连接指令，并将建立连接指令发送至报告书单元；
所述接口单元接收所述控制单元发送的所述连接指令，接口单元的转接模块根据所述连接指令与所述设备单元建立连接；
所述控制单元根据所述case列表的测试项名称向所述接口单元发送测试指令，所述接口单元的调试模块根据所述测试指令将所述测试指令对应的测试内容烧录至被测芯片，并将烧录指令发送至报告书单元；
所述控制单元根据所述case列表的测试项对应的测试设备和测试函数向所述接口单元发送设备单元的参数配置、开启/关闭指令，并将参数配置和开启/关闭指令发送至报告书单元；
所述接口单元的设备指令模块接收所述参数配置、开启/关闭指令，并将所述参数配置、开启/关闭指令发送至所述设备单元，并将所述参数配置、开启/关闭指令发送至报告书单元；
所述设备单元接收所述接口单元的参数配置、开启/关闭指令，并根据所述参数配置、开启/关闭指令进行参数配置和开启/关闭，并将参数配置和开启/关闭指令发送至报告书单元；
所述控制单元根据case列表中的所述测试函数读取所述设备单元的测量读数，并将所述设备单元的读数发送至报告书单元；
所述控制单元根据所述设备单元的读数判断芯片是否通过测试，并将测试判定结果信息发送至报告书单元。
进一步地，所述控制单元根据被测芯片名称调取测试case列表中所述被测芯片名称对应的测试项名称、测试函数、测试项流程以及测试项对应的测试设备之前，还包括：
根据测试要求确定多个设备单元，并根据***环境配置要求确定所述多个设备单元对应的设备型号；
根据所述任一设备单元某一型号对应的多个底层函数确定一个接口函数；
根据所述设备单元的多个型号对应的多个接口函数确定case列表中所述设备单元的标准函数；
根据所述测试内容和所述标准函数建立case列表；
进一步地，所述控制单元根据所述case列表的测试项对应的测试设备和测试函数向所述接口单元发送设备单元的参数配置、开启/关闭指令，并将参数配置和开启/关闭指令发送至报告书单元，包括：
接口单元根据测试功能将测试函数进行拆分，得到设备单元/被测试芯片对应的标准函数；
所述接口单元根据测试设备对所述标准函数进行拆分，得到设备单元/被测试芯片对应的接口函数；
所述接口单元将所述接口函数发送至所述设备单元/被测试芯片。
进一步地，所述控制单元根据所述设备单元的读数判断芯片是否通过测试之后，还包括：
所述报告书单元根据所述控制单元发送的测试判定结果和日志信息，同步生成测试报告。
本发明的芯片测试评价方法，通过总结多种类芯片的大量实机测试业务，提取并建立通用的列表命令，通过***的控制单元解析为测试函数，向其他单元发送操控指令来调度测试动作，并在***运行的同步生成报告书，实现了芯片测试全程自动化，从而节省了人力成本，减轻了测试人员的操作压力，同时提高了芯片测试的效率和质量。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明芯片测试装置结构示意图；
图2是本发明芯片测试装置另一结构示意图；
图3是本发明芯片测试平台架构图；
图4是本发明实现自动烧录中模拟鼠标点击事件示意图；
图5是本发明芯片测试评价方法流程图；
图6是本发明芯片测试评价平台程序执行流程图；
图7是本发明报告书示意图；
图8是本发明脉冲函数任意波形发生器测试基本操作通用化接口动作封装示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
一、***单元实现：
图1是本发明芯片测试装置结构示意图，如图1所示，本实施例的装置包括：
控制单元101和接口单元102；所述接口单元，包括：转接模块103、调试模块104及设备单元指令模块105；
所述控制单元，用于根据被测芯片名称调取测试case列表中所述被测芯片名称对应的测试项名称、测试函数、测试项流程以及测试项对应的测试设备，所述测试函数包括设备单元的多个功能，所述设备单元的多个功能对应设备单元的多个型号；根据所述case列表的测试项流程向所述接口单元发送连接指令，并将建立连接指令发送至报告书单元；根据所述case列表的测试项名称向所述接口单元发送测试指令；根据所述case列表的测试项对应的测试设备和测试函数向所述接口单元发送设备单元的参数配置、开启/关闭指令，并将参数配置和开启/关闭指令发送至报告书单元；根据case列表中的所述测试函数读取所述设备单元的测量读数，并将所述设备单元的读数发送至报告书单元；根据所述设备单元的读数判断芯片是否通过测试，并将测试判定结果信息发送至报告书单元；
所述转接模块，接收所述控制单元发送的所述连接指令，接口单元的转接模块根据所述连接指令与所述设备单元建立连接；
所述调试模块，用于根据所述测试指令将所述测试指令对应的测试内容烧录至被测芯片，并将烧录指令发送至报告书单元；
所述设备单元指令模块，用于接收所述控制单元发送的设备单元参数配置、开启/关闭指令，控制所述设备单元开启/关闭，所述参数配置、开启/关闭指令发送至所述设备单元，并将所述参数配置、开启/关闭指令发送至报告书单元。
具体而言，本实施例的芯片测试装置包括控制单元和接口单元，其中，接口单元，包括：***接口、中间层转换接口，以及底层接口；
所述***接口是所述控制单元与所述转接模块、调试模块、设备单元指令模块、通信模块、云端网络接口模块之间的软件接口；
所述中间层转换接口是所述接口单元与所述设备单元、被测芯片、云端网络之间的软、硬件接口；
所述底层接口是设备单元指令模块，实现了接口单元与设备单元之间的底层数据连接。
在测试项目开始之前，所述控制单元还具体用于：
根据测试要求确定多个设备单元；
根据所述任一设备单元某一型号对应的多个底层函数确定一个接口函数；
根据所述设备单元的多个型号对应的多个接口函数确定case列表中所述设备单元的标准函数；
根据所述测试内容和所述标准函数建立case列表；
建立case列表的的具体过程如下：
由于芯片种类多，工作环境复杂，操作设备数量多。如何从众多的测试项目中抽取通用的控制方法是件困难的事。本发明总结了不同环境各种芯片的通用测试项目一览，从而通过这种控制方法实现各种环境下的测试评价项目。如表1芯片整体测试项目表所示。
表1
Figure BDA0002516922180000071
针对不同型号芯片的整体测试评价项目通常包括：功能评价、输入输出特性评价、ADC、MOSC、SOSC、PLL、HOCO、消耗电流、DAC、TSN、VDC、VBAT，表1是芯片功能评价的整体测试内容，包括：Security、TIMER、RTC、DMA功能评价。
针对这些测试项目，通过分析人工手动测试时的操作手法，进行任务总结和层次提升，提取并建立通用的接口控制指令。本实施例仅以脉冲函数任意波形发生器为例，说明提升指令的方法。
如图8所示，根据测试要求，选定此次测试评价所需的示波器、可调电源、万用表、波形发生器中的几个设备单元。图8中列举了采用波形发生器进行测试时的基本操作，包含了23项操作动作，将此23项操作动作封装为5项通用化接口函数，通过调用此5项接口函数，可以应用多型号设备单元实现对应通用化操作动作。将可对应多个型号设备单元执行具体测试动作的接口函数，如：输出目的类型正弦波，再次提升为更加上位的计算机可执行操作的标准函数，如：OSCP_INQUIRE_OUTPUT_TYPE查询输出类型。
通过上述步骤，可以根据测试内容和标准函数建立出case列表。表2为采用case列表测试实例表。本实施例循环次数为100次。
表2
Figure BDA0002516922180000081
Figure BDA0002516922180000091
如表2和图6所示，控制单元根据case列表的测试项001中流程(4)至(6)对应的测试设备和测试函数向接口单元发送设备单元的参数配置、开启/关闭指令，并将参数配置和开启/关闭指令发送至报告书单元；
接口单元的设备指令模块接收参数配置(SRC1,10.00,50,3,1,0)、(SRC1,10.00,50,3,1,0)指令，并该将参数配置、开启/关闭指令发送至设备单元和报告书单元；设备单元接收该参数配置、开启/关闭指令，并根据参数配置、开启/关闭指令进行参数配置和开启/关闭，并将参数配置和开启/关闭指令发送至报告书单元；控制单元根据case列表中的测试函数读取设备单元的测量读数，并将设备单元的读数发送至报告书单元；控制单元根据设备单元的读数判断芯片是否通过测试，并将测试判定结果信息发送至报告书单元。控制设备单元开启，逐条读取测试项，若测试项内容不为空，继续执行以下步骤；若测试项内容为空，测试程序终止。
所述接口单元具体还用于：接口单元根据测试功能将测试函数进行拆分，得到设备单元/被测试芯片对应的标准函数；所述接口单元根据测试设备对所述标准函数进行拆分，得到设备单元/被测试芯片对应的接口函数；所述接口单元将所述接口函数发送至所述设备单元/被测试芯片。
本实施例装置的接口单元除上述功能之外，如图2所示，还包括：云端网络接口模块106，用于提供网络连接所需的硬件支撑及网络通信协议。该云端网络接口模块可以实现本发明的测试后的报告书的存储和测试功能的远程控制。
具体而言，设置云端网络接口模块可以提高测试过程中人机的交互性和易检性，根据测试需求下载、上传文件和数据，提高测试工作效率。
如图3所示，一种芯片测试评价平台，包括：芯片测试装置及设备单元；设备单元包括多个用于测试被测芯片参数的测试设备和供电设备，测试设备用于接收控制单元发送的测试指令，并根据测试指令对被测芯片输出信号进行测量，供电设备用于接收控制单元发送的开启/关闭指令，并根据开启/关闭指令进行开启/关闭。
控制单元实现case列表的具体过程如下：
第一步：解析测试case列表文件。
控制单元读取测试case列表文件，将列表内容按顺序解析生成控制流。
第二步：连接设备单元。
按照测试环境要求顺序挂载设备单元，通过转接板连接各个设备单元的硬件接口。
第三步：配置设备单元参数实现所需环境。
1.根据配置参数，通过命令控制转接板将数字示波器的通道1接口自动连接到芯片PC1引脚的接口上。
2.根据配置参数，通过命令控制示波器将水平主时基时间分辨率设置为50ms，打开示波器通道1，并设置通道1的为垂直电压分辨率1V，触发电平值为2.7V。
3.根据配置参数，通过命令控制可编程高精度直流稳压电源的输出电压值为3.3V。
第四步：烧录指定的测试程序。
通过命令控制烧录软件，进行如表2中“001”的测试程序代码编译，编译成功后将测试程序烧录到测试芯片中。
第五步：控制外设加入激励，并测取实际的信号量。
1.通过命令控制可编程高精度直流稳压电源断开电源供给。使测试对象处于等待上电重启的状态。
2.通过命令控制示波器模式处于“SINGLE”模式，准备等待波形的产生。
3.通过命令控制可编程高精度直流稳压电源开启电源供给。测试对象上电重启，开始执行测试程序。
4.如果示波器5秒内接收到波形测量出波形周期值，则向PC机传递测量值；否则，***则向PC机传递失败的信息。
5.通过命令控制示波器，则将示波器显示画面截取保存到指定文件路径下。
第六步：分析测试信号量和期待参数范围，做出结果判定。
PC机将接收设备单元发送的周期值的信号量与命令传递来-5％～5％的20毫秒期待值参数进行处理比较，生成判定结果。
第七步：保存测试项目的日志，生成报告书。
上述第二步至第七步的具体实现方法如下：
其中，第二步，设备单元自动化连接的实现方法如下：
控制单元根据case列表的测试项，向接口单元发送与示波器连接指令，并将建立连接指令发送至报告书单元；接口单元接收控制单元发送的与示波器连接指令后，接口单元的转接模块与示波器建立连接；本实施例转接模块为内嵌MCU芯片的转接板，该MCU芯片搭载8选1专用通道选择器，可以实现64通道选择连通。转接模块实现了控制单元和设备单元之间的中继作用。当控制单元通过UART数据发送命令数据包至转接模块的MCU芯片，MCU芯片分析数据包，打开对应通道，转接模块的两端接口分别连接测试芯片引脚接口和设备单元的各个接口，使测试芯片与外部设备建立连接。
第三步中，控制单元对设备单元实现控制的具体方法如下：
控制单元封装了控制外部设备所需的SCPI命令，通过发送测试函数中指定的测试动作指令并匹配SCPI命令，实现对设备单元的控制。将手动测试时测试设备需要的操作进行封装和通用化，设置为中间层接口控制指令，通过向相应接口下达指令，可以控制设备单元进行参数配置、开启/关闭及相应的测试动作。可以根据不同的测试内容选取不同的测试设备。所述控制单元封装了针对不同设备的通用化的标准接口。不同设备型号、设备接口形式和设备接口指令可能不同。
本发明将不同设备单元的接口函数封装成标准函数，实现了设备接口通用化，解决了每次更换设备都需要重新配置设备信息，或者重新开发接口的问题。实现了芯片测试的兼容性。
具体而言：本实施例设备单元中选择设备的具体操作：可以在控制单元的config.ini文件中，输入示波器型号、电源型号、波器型号、烧录单元名称和版本等必要配置信息，这样在根据测试函数配置设备单元参数时，可以使***快速找到匹配项。
抽取配置文件的每行数据并记录，确认配置。
Figure BDA0002516922180000122
具体而言：根据config.ini得到的示波器配置信息OSCP_config，在平台运行至示波器相关操作时，会根据OSCP_config的信息选择对应的程序进行运行，下述详细情况：
以选择示波器DS2102系列为例:
当OSCP_config＝”DS2102”时
Figure BDA0002516922180000121
上述程序对应为OSCP_Choose就被选择为DS2102系列示波器的类对象。即可完成仪器选取。”DS2102()”为对应的示波器指令库。
***配置环境设备后，调用的示波器函数
OSCP_Choose.OSCP_H_PULSE_WID_MEASURE(chanl1,0.5)。
第四步中，自动烧录的具体实现方法如下：
本实施例使用python封装用户所需烧录软件的相关按键的键盘操作，以及鼠标操作，可以自动化控制测试文件烧录；其中，自动控制键盘操作烧录软件的方法是使用该软件自带的快捷键方式控制，或者软件自带接口，进行操作指令封装；自动控制鼠标操作烧录软件的方法是模拟鼠标移动并点击事件，在指定屏幕分辨率的条件下，获取工具窗口最大化后的各个按键的所在位置和坐标后，封装坐标点信息，再调用函数进行模拟的鼠标操作。
本实施例采用IAR编程软件举例说明：自动烧录可以采用以下两种方式实现：
方式1：使用该软件自带的快捷键方式控制，或者软件自带接口，进行操作指令封装。
模拟键盘按下“最大化”后按“F7”按键，实现快捷键软件烧录案件指令如下：
Figure BDA0002516922180000131
函数封装如下：
Figure BDA0002516922180000132
方式2：模拟鼠标移动并点击事件，用以控制IAR的编译功能。
IAR软件在16：9比例1920*1080分辨率下，窗口最大化后的各个按键的所在位置和坐标：
获取到各个坐标点后，即可进行封装，具体代码如下：
self.batch_build ＝668,60 #编译按键坐标
self.download ＝720,60 #下载按键坐标
调用函数进行模拟的鼠标操作，移动至编译按钮并单击执行。
def key_rebuild(self,t):
pyautogui.moveTo(self.soft.rebuild,duration＝t)
pyautogui.click(button＝self.soft.button_l)
在不同分辨率下，坐标换算方法如下：
如图4所示，例如编译按钮在1920*1080分辨率下坐标为(668,60)，则可以通过比例换算，假设屏幕分辨率为1366*768，则编译按钮的坐标为(1366/1920*668,768/1080*60)，即可得到当前分辨率下的实际坐标。
在***启用前输入所述设备单元的配置信息，所述控制单元将此配置信息解析录入测试函数。
第五步中，控制外设加入激励，并测取实际的信号量的具体实现方法如下，表3为示波器动作的case列表。
表3
Figure BDA0002516922180000141
如表3所示，以采用示波器测试为例，测试中，通常需要对示波器进行主时基精度设置、触发类型设置、周期查询、脉宽检测等操作，针对此测试内容，case列表中定义了示波器的测试动作及动作命令。以查询波形正脉宽时间为例，当控制单元通过发送动作命令实现测试动作时，测试函数的调用方法如下：
1、调用标准函数。控制单元抓取到测试case列表中对应查询波形正脉宽时间的命令和参数后，调用同名的标准函数。(对应的查询正脉宽时间的标准函数为：OSCP_H_PULSE_WID_MEASURE，参数为：channel示波器通道n选择、waittime需要等待的时间)。
2、接口函数实现。调用底层函数，打开通道的正脉宽测量功能，并返回底层函数方法返回的测量结果。
3、底层函数实现。接口单元将此底层函数打开通道的正脉宽测量功能发送至示波器，底层函数封装了查询波形正脉宽时间的方法，通过底层函数实现对示波器查询波形正脉宽时间的具体执行，并返回查询值。
例：标准函数OSCP_H_PULSE_WID_MEASURE实现方法
def OSCP_H_PULSE_WID_MEASURE(self,channel,waittime):#查询正脉宽时间
#打开通道的正脉宽测量功能，并返回测量结果
return_value＝oscp.oscp_h_pulse_wid(channel)
time.sleep(waittime)
return(return_value)
其中，接口函数“def oscp_h_pulse_wid(self,channel):#查询正脉宽时间”：
Figure BDA0002516922180000151
其中，底层函数pulse_wid函数为封装的命令，具体结构如下：
def pulse_wid(self,channel):
h_pulse_wid＝":MEASure:PWIDth？"+channel
return(h_pulse_wid)
使用pulse_wid(self,channel)将SCPI命令“:MEASure:PWIDth？”进行封装，用于查询示波器的正脉宽时间，并返回一个值给到上层的pulse_time，此条命令即可获取当前的示波器抓取到的正脉宽时间。
对于其他设备单元或工具选择皆采用上述相同方法，在此不再赘述。
第六步：分析测试信号量和期待参数范围，判定测试的结果。
上述第五步测量得到的实际信号量，与期待值和期待误差范围进行比较。如果实际信号量在期待范围内，则判定正确，否则判定为错误。将判定结果和实际信号值，期待值区间信息发送给报告书单元。
第七步，保存测试项目的日志，生成报告书的具体结果如图7所示，本实施报告书单元根据控制单元测试过程中发送的测试内容和测试结果，同步生成报告书。汇总反馈信息生成总体结果报告和Log文件等，报告书中测试结果一列中实时显示当前测试情况，通过报告书单元可以同步掌握芯片环境状况，测试执行步骤等信息，便于问题的追溯及分析解决。
二、***方法实现：
如图5所示芯片测试评价方法和流程包括如下步骤：
步骤501、控制单元根据测试项名称调取测试case列表中被测芯片名称对应的测试项名称、测试功能、测试函数以及测试项流程，测试功能对应多个设备单元，测试函数对应多个标准函数，标准函数对应多个设备单元的接口函数；
步骤502、控制单元根据case列表的测试项流程向接口单元发送连接指令，并将建立连接指令发送至报告书单元；
步骤503、接口单元接收控制单元发送的连接指令，接口单元的转接模块根据连接指令与设备单元建立连接；
步骤504、控制单元根据case列表的测试项名称向接口单元发送测试指令，接口单元的调试模块根据测试指令将测试指令对应的测试内容烧录至被测芯片，并将烧录指令发送至报告书单元；
步骤505、控制单元根据case列表的测试项对应的测试设备和测试函数向接口单元发送设备单元的参数配置、开启/关闭指令，并将参数配置和开启/关闭指令发送至报告书单元；
步骤506、接口单元的设备指令模块接收参数配置、开启/关闭指令，并将参数配置、开启/关闭指令发送至设备单元，并将参数配置、开启/关闭指令发送至报告书单元；
步骤507、设备单元接收接口单元的参数配置、开启/关闭指令，并根据参数配置、开启/关闭指令进行参数配置和开启/关闭，并将参数配置和开启/关闭指令发送至报告书单元；
步骤508、控制单元根据case列表中的测试函数读取设备单元的测量读数，并将设备单元的读数发送至报告书单元；
步骤509、控制单元根据设备单元的读数判断芯片是否通过测试，并将测试判定结果信息发送至报告书单元。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (9)

1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：
控制单元和接口单元；所述接口单元，包括：转接模块、调试模块及设备单元指令模块；
所述控制单元，用于根据被测芯片名称调取测试case列表中所述被测芯片名称对应的测试项名称、测试函数、测试项流程，所述测试函数包括设备单元的多个功能，所述设备单元的多个功能对应设备单元的多个型号；
根据所述case列表的测试项流程向所述接口单元发送连接指令，并将建立连接指令发送至报告书单元；根据所述case列表的测试项名称向所述接口单元发送测试指令；根据所述case列表的测试项对应的测试设备和测试函数向所述接口单元发送设备单元的参数配置、开启/关闭指令，并将参数配置和开启/关闭指令发送至报告书单元；根据case列表中的所述测试函数读取所述设备单元的测量读数，并将所述设备单元的读数发送至报告书单元；根据所述设备单元的读数判断芯片是否通过测试，并将测试判定结果信息发送至报告书单元；
所述转接模块，接收所述控制单元发送的所述连接指令，接口单元的转接模块根据所述连接指令与所述设备单元建立连接；
所述调试模块，用于根据所述测试指令将所述测试指令对应的测试内容烧录至被测芯片，并将烧录指令发送至报告书单元；
所述设备单元指令模块，用于接收所述控制单元发送的设备单元参数配置、开启/关闭指令，并根据所述参数配置、开启/关闭指令控制所述设备单元。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于，所述控制单元还具体用于：
根据测试要求确定多个设备单元，并根据***环境配置要求确定所述多个设备单元对应的设备型号；
根据所述任一设备单元某一型号对应的多个底层函数确定一个接口函数；
根据所述设备单元的多个型号对应的多个接口函数确定case列表中所述设备单元的标准函数；
根据所述测试内容和所述标准函数建立case列表；
所述接口单元具体还用于：
接口单元根据测试功能将测试函数进行拆分，得到设备单元/被测试芯片对应的标准函数；
所述接口单元根据测试设备对所述标准函数进行拆分，得到设备单元/被测试芯片对应的接口函数；
所述接口单元将所述接口函数发送至所述设备单元/被测试芯片。
3.根据权利要求1或2所述的一种芯片测试装置，其特征在于，还包括：
报告书单元，所述报告书单元用于接收测试执行过程中所述控制单元发送的被测芯片的测试内容和测试结果，并同步生成报告书。
4.根据权利要求3所述的一种芯片测试装置，其特征在于，所述接口单元还包括：
云端网络接口模块，用于提供网络连接所需的硬件支撑及网络通信协议。
5.一种芯片测试评价平台，其特征在于，包括：
所述芯片测试装置及设备单元；
所述设备单元包括多个用于测试被测芯片参数的测试设备和供电设备，所述测试设备用于接收所述控制单元发送的测试指令，并根据所述测试指令对被测芯片输出信号进行测量，所述供电设备用于接收所述控制单元发送的开启/关闭指令，并根据所述开启/关闭指令进行开启/关闭。
6.一种芯片测试评价方法，其特征在于，包括：
控制单元根据测试项名称调取测试case列表中所述被测芯片名称对应的测试项名称、测试功能、测试函数以及测试项流程，所述测试功能对应多个设备单元，所述测试函数对应多个标准函数，所述标准函数对应多个设备单元的接口函数；
所述控制单元根据所述case列表的测试项流程向所述接口单元发送连接指令，并将建立连接指令发送至报告书单元；
所述接口单元接收所述控制单元发送的所述连接指令，接口单元的转接模块根据所述连接指令与所述设备单元建立连接；
所述控制单元根据所述case列表的测试项名称向所述接口单元发送测试指令，所述接口单元的调试模块根据所述测试指令将所述测试指令对应的测试内容烧录至被测芯片，并将烧录指令发送至报告书单元；
所述控制单元根据所述case列表的测试项对应的测试设备和测试函数向所述接口单元发送设备单元的参数配置、开启/关闭指令，并将参数配置和开启/关闭指令发送至报告书单元；
所述接口单元的设备指令模块接收所述参数配置、开启/关闭指令，并将所述参数配置、开启/关闭指令发送至所述设备单元，并将所述参数配置、开启/关闭指令发送至报告书单元；
所述设备单元接收所述接口单元的参数配置、开启/关闭指令，并根据所述参数配置、开启/关闭指令进行参数配置和开启/关闭，并将参数配置和开启/关闭指令发送至报告书单元；
所述控制单元根据case列表中的所述测试函数读取所述设备单元的测量读数，并将所述设备单元的读数发送至报告书单元；
所述控制单元根据所述设备单元的读数判断芯片是否通过测试，并将测试判定结果信息发送至报告书单元。
7.根据权利要求6所述的一种芯片测试评价方法，其特征在于，所述控制单元根据被测芯片名称调取测试case列表中所述被测芯片名称对应的测试项名称、测试函数、测试项流程以及测试项对应的测试设备之前，还包括：
根据测试要求确定多个设备单元，并根据***环境配置要求确定所述多个设备单元对应的设备型号；
根据所述任一设备单元某一型号对应的多个底层函数确定一个接口函数；
根据所述设备单元的多个型号对应的多个接口函数确定case列表中所述设备单元的标准函数；
根据所述测试内容和所述标准函数建立case列表。
8.根据权利要求7所述的一种芯片测试评价方法，其特征在于，所述控制单元根据所述case列表的测试项对应的测试设备和测试函数向所述接口单元发送设备单元的参数配置、开启/关闭指令，并将参数配置和开启/关闭指令发送至报告书单元，包括：
接口单元根据测试功能将测试函数进行拆分，得到设备单元/被测试芯片对应的标准函数；
所述接口单元根据测试设备对所述标准函数进行拆分，得到设备单元/被测试芯片对应的接口函数；
所述接口单元将所述接口函数发送至所述设备单元/被测试芯片。
9.根据权利要求6所述的一种芯片测试评价方法，其特征在于，所述控制单元根据所述设备单元的读数判断芯片是否通过测试之后，还包括：
所述报告书单元根据所述控制单元发送的测试判定结果和日志信息，同步生成测试报告。
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Denomination of invention: A chip testing device, platform, and method

Effective date of registration: 20231114

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Pledgee: China Construction Bank Corporation Dalian Ganjingzi New Area sub branch

Pledgor: Dalian ZhuoZhi Chuangxin Technology Co.,Ltd.

Registration number: Y2023980065671

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