CN111537518B - 电容端子的瑕疵的检测方法、装置、存储介质和处理器 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种电容端子的瑕疵的检测方法、装置、存储介质和处理器，该检测方法包括：获取基准端面图像，基准端面图像包括基准电容端子的图像以及基准预定端面的图像；获取待测电容的端面图像，端面图像包括待测电容端子的图像以及待测电容端子所在端面的图像；根据基准端面图像确定基准偏移角，根据端面图像确定实际偏移角；控制待测电容旋转预定角度，获取待测电容端子的侧面图像，预定角度为根据基准偏移角和实际偏移角计算得到的；根据侧面图像和端面图像确定待测电容端子的瑕疵，从而使得侧面图像可以呈现出电容端子的烧焦瑕疵，并且通过端面图像可以确定电容端子是否歪斜，提高了瑕疵检测的准确性。

Description

电容端子的瑕疵的检测方法、装置、存储介质和处理器

技术领域

本申请涉及电容瑕疵的检测领域，具体而言，涉及一种电容端子的瑕疵的检测方法、装置、存储介质和处理器。

背景技术

现有的电容引出端子(正负极)歪斜和烧焦的外观检测方法，是将产品固定，旋转四次(每次90°)，拍照四次，检测两个端子的每一个面的瑕疵。由于合格品中存在两个端子之间夹角不是刚好垂直90度关系的情况，而且端子歪斜是有一定的容忍度的，在规定的歪斜角度内算合格产品。这些情况的存在使得正极端子引出端朝向或者背离正极端子底端的表面和负极端子引出端的侧面无法同时在一张图像内呈现良好效果，或者使得负极端子引出端朝向或者背离负极端子底端的表面和正极端子引出端的侧面无法同时在一张图像内呈现良好效果，导致出现误判的情况，也会出现同一产品反复上机测试，得出歪斜角度不一致，偏差较大，致使判断端子歪斜的角度临界值很难确定，也会存在漏判和误判。

在背景技术部分中公开的以上信息只是用来加强对本文所描述技术的背景技术的理解，因此，背景技术中可能包含某些信息，这些信息对于本领域技术人员来说并未形成在本国已知的现有技术。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种电容端子的瑕疵的检测方法、装置、存储介质和处理器，以解决现有技术中电容端子的瑕疵监测不准确的问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种电容端子的瑕疵的检测方法，待测电容包括待测电容本体和待测电容端子，所述待测电容端子位于在所述待测电容本体的预定端面上，所述检测方法包括：获取基准端面图像，所述基准端面图像包括基准电容端子的图像以及基准预定端面的图像，基准电容包括基准电容本体和所述基准电容端子，其中，所述基准电容端子位于所述基准电容本体的所述基准预定端面上；获取所述待测电容的端面图像，所述端面图像包括所述待测电容端子的图像以及所述待测电容端子所在端面的图像；根据所述基准端面图像确定基准偏移角，根据所述端面图像确定实际偏移角；控制所述待测电容旋转预定角度，获取所述待测电容端子的侧面图像，所述预定角度为根据所述基准偏移角和所述实际偏移角计算得到的；根据所述侧面图像和所述端面图像确定所述待测电容端子的瑕疵。

可选地，所述基准电容包括第一负极端子，所述第一负极端子包括第一负极端子引出端和第一负极端子底端，所述第一负极端子底端接触地位于所述基准预定端面，第一表面为所述第一负极端子引出端的朝向所述第一负极端子底端的表面，且所述第一表面与所述基准预定端面垂直，所述基准端面图像包括第一基准端面图像，获取所述第一基准端面图像的过程包括：控制所述基准电容旋转，并获取基准侧面图像，所述基准侧面图像为所述基准电容的侧面图像；在确定所述基准侧面图像中不存在所述第一表面的阴影的情况下，控制所述基准电容停止旋转；获取基准端面图像，确定所述基准端面图像为第一基准端面图像。

可选地，根据所述基准端面图像确定基准偏移角，还包括：在所述第一基准端面图像上建立坐标系，所述坐标系的X轴与所述第一基准端面图像的第一边缘平行，所述坐标系的Y轴与所述第一基准端面图像的第二边缘平行，所述第一边缘与所述第二边缘相邻且垂直；获取第一位置点和第二位置点的连线，得到第一连线，所述第一位置点和所述第二位置点均为所述第一基准端面图像中所述第一负极端子引出端的顶面边缘上的点，所述第一位置点和所述第二位置点的位置不同；确定所述第一连线与所述X轴的夹角，得到第一基准偏移角。

可选地，所述基准电容包括第一正极端子，所述第一正极端子包括第一正极端子引出端和第一正极端子底端，所述第一正极端子底端接触地位于所述基准预定端面，第二表面为所述第一正极端子引出端的朝向所述第一正极端子底端的表面，所述基准端面图像包括第二基准端面图像，获取所述第二基准端面图像的过程包括：控制所述基准电容旋转，并获取基准侧面图像，所述基准侧面图像为所述基准电容的侧面图像；在确定所述基准侧面图像中不存在所述第二表面的阴影的情况下，控制所述基准电容停止旋转；获取基准端面图像，确定所述基准端面图像为第二基准端面图像。

可选地，根据所述基准端面图像确定基准偏移角，还包括：在所述第二基准端面图像上建立坐标系，所述坐标系的X轴与所述第二基准端面图像的第一边缘平行，所述坐标系的Y轴与所述第二基准端面图像的第二边缘平行，所述第一边缘与所述第二边缘相邻且垂直；获取第三位置点和第四位置点的连线，得到第二连线，所述第三位置点和所述第四位置点均为所述第二基准端面图像中所述第一正极端子引出端的顶面边缘上的一点，所述第三位置点和所述第四位置点的位置不同；确定所述第二连线与所述X轴的夹角，得到第二基准偏移角。

可选地，所述基准电容包括第一负极端子，所述第一负极端子包括第一负极端子引出端和第一负极端子底端，所述第一负极端子底端接触地位于所述基准预定端面，第三表面为所述第一负极端子引出端的背向所述第一负极端子底端的表面，所述基准端面图像包括第三基准端面图像，获取所述第三基准端面图像的过程包括：控制旋转所述基准电容旋转，并获取基准侧面图像，所述基准侧面图像为所述基准电容的侧面图像；在确定所述基准侧面图像中不存在所述第三表面的阴影的情况下，控制所述基准电容停止旋转；获取基准端面图像，确定所述基准端面图像为第三基准端面图像。

可选地，根据所述基准端面图像确定基准偏移角，还包括：在所述第三基准端面图像上建立坐标系，所述坐标系的X轴与所述第三基准端面图像的第一边缘平行，所述坐标系的Y轴与所述第三基准端面图像的第二边缘平行，所述第一边缘与所述第二边缘相邻且垂直；获取第五位置点和第六位置点的连线，得到第三连线，所述第五位置点和所述第六位置点均为所述第三基准端面图像中所述第一负极端子引出端的顶面边缘上的一点，所述第五位置点和所述第六位置点的位置不同；确定所述第三连线与所述X轴的夹角，得到第三基准偏移角。

可选地，所述基准电容包括第一正极端子，所述第一正极端子包括第一正极端子引出端和第一正极端子底端，所述第一正极端子底端接触地位于所述基准预定端面，第四表面为所述第一正极端子引出端的背向所述第一正极端子底端的表面，所述基准端面图像包括第四基准端面图像，获取所述第四基准端面图像的过程包括：控制所述基准电容旋转，并获取基准侧面图像，所述基准侧面图像为所述基准电容的侧面图像；在确定所述基准侧面图像中不存在所述第四表面的阴影的情况下，控制所述基准电容停止旋转；获取基准端面图像，确定所述基准端面图像为第四基准端面图像。

可选地，根据所述基准端面图像确定基准偏移角，还包括：在所述第四基准端面图像上建立坐标系，所述坐标系的X轴与所述第四基准端面图像的第一边缘平行，所述坐标系的Y轴与所述第四基准端面图像的第二边缘平行，所述第一边缘与所述第二边缘相邻且垂直；获取第七位置点和第八位置点的连线，得到第四连线，所述第七位置点和所述第八位置点均为所述第四基准端面图像中所述第一正极端子引出端的顶面边缘上的一点，所述第七位置点和所述第八位置点的位置不同；确定所述第四连线与所述X轴的夹角，得到第四基准偏移角。

可选地，根据所述端面图像确定实际偏移角，包括：在所述端面图像上建立坐标系，所述坐标系的X轴与所述端面图像的第一边缘平行，所述坐标系的Y轴与所述端面图像的第二边缘平行，所述第一边缘与所述第二边缘相邻且垂直；根据所述坐标系确定所述实际偏移角。

可选地，所述待测电容包括第二负极端子，所述第二负极端子包括第二负极端子引出端和第二负极端子底端，所述第二负极端子底端接触地位于所述预定端面，根据所述坐标系确定所述实际偏移角，包括：获取第九位置点和第十位置点的连线，得到第五连线，所述第九位置点和所述第十位置点均为所述端面图像中所述第二负极端子引出端的顶面边缘上的一点，所述第九位置点和所述第十位置点的位置不同；确定所述第五连线与所述X轴的夹角，得到第一实际偏移角。

可选地，所述待测电容包括第二正极端子，所述第二正极端子包括第二正极端子引出端和第二正极端子底端，所述第二正极端子底端接触地位于所述预定端面，根据所述坐标系确定所述实际偏移角，包括：获取第十一位置点和第十二位置点的连线，得到第六连线，所述第十一位置点和所述第十二位置点均为所述端面图像中所述第二正极端子引出端的顶面边缘上的一点，所述第十一位置点和所述第十二位置点的位置不同；确定所述第六连线与所述Y轴的夹角，得到第二实际偏移角。

可选地，将所述待测电容旋转对应的预定角度，获取所述待测电容的侧面图像，包括：将所述待测电容旋转第一预定角度，所述第一预定角度为所述第一实际偏移角减去所述第一基准偏移角得到的差值；获取所述待测电容的侧面图像，得到第一侧面图像。

可选地，在将所述待测电容旋转第一预定角度之后，将所述待测电容旋转对应的预定角度，获取所述待测电容的侧面图像，还包括：将所述待测电容旋转第二预定角度，所述第二预定角度为90°与第一差值的和，所述第一差值为第二差值减去所述第一预定角度得到的差值，所述第二差值为所述第二实际偏移角与所述第二基准偏移角的差值；获取所述待测电容的侧面图像，得到第二侧面图像。

可选地，在将所述待测电容旋转第二预定角度之后，将所述待测电容旋转对应的预定角度，获取所述待测电容的侧面图像，还包括：将所述待测电容旋转第三预定角度，所述第三预定角度为90°与第三差值的和，所述第三差值为第四差值减去所述第二差值得到的差值，所述第四差值为所述第一实际偏移角与所述第三基准偏移角的差值；获取所述待测电容的侧面图像，得到第三侧面图像。

可选地，在将所述待测电容旋转第三预定角度之后，将所述待测电容旋转对应的预定角度，获取所述待测电容的侧面图像，还包括：将所述待测电容旋转第四预定角度，所述第四预定角度为90°与第五差值的和，所述第五差值为第六差值减去所述第四差值得到的差值，所述第六差值为所述第二实际偏移角与所述第四基准偏移角的差值；获取所述待测电容的侧面图像，得到第四侧面图像。

可选地，根据所述侧面图像和所述端面图像确定所述待测电容端子的瑕疵，包括：根据所述第一侧面图像确定第五表面的烧焦瑕疵，所述第五表面为第二负极端子的朝向所述第二负极端子底端的表面；根据所述第二侧面图像确定第六表面的烧焦瑕疵，所述第六表面为第二正极端子的朝向所述第二正极端子底端的表面；根据所述第三侧面图像确定第七表面的烧焦瑕疵，所述第七表面为第二负极端子的背向所述第二负极端子底端的表面；根据所述第四侧面图像确定第八表面的烧焦瑕疵，所述第八表面为第二正极端子的背向所述第二正极端子底端的表面。

可选地，根据所述侧面图像和所述端面图像确定所述待测电容端子的瑕疵，还包括：获取第十三位置点和第十四位置点的连线，得到第七连线，所述第十三位置点和所述第十四位置点均为所述端面图像中所述第二负极端子底端的边缘上的一点，所述第二负极端子底端的边缘为所述第二负极端子底端的远离所述第二负极端子引出端的边缘，所述第十三位置点和所述第十四位置点的位置不同；确定所述第七连线与所述第五连线的夹角，得到第一夹角；确定第一距离和第二距离，所述第一距离为所述第十三位置点到所述第五连线的距离，所述第二距离为所述第十四位置点到所述第五连线的距离；根据所述第一夹角、所述第一距离和所述第二距离确定所述第二负极端子是否歪斜。

可选地，根据所述第一夹角、所述第一距离和所述第二距离确定所述第二负极端子是否歪斜，包括：在所述第一夹角在第一预定范围内、所述第一距离在第二预定范围内以及所述第二距离在第三预定范围内的情况下，确定所述第二负极端子不歪斜。

可选地，所述第二正极端子还包括第二正极端子底端，根据所述侧面图像和所述端面图像确定所述待测电容端子的瑕疵，还包括：获取第十五位置点和第十六位置点的连线，得到第八连线，所述第十五位置点和所述第十六位置点均为所述端面图像中所述第二正极端子底端的边缘上的一点，所述第二正极端子底端的边缘为所述第二正极端子底端的远离所述第二正极端子引出端的边缘，所述第十五位置点和所述第十六位置点的位置不同；确定所述第八连线与所述第六连线的夹角，得到第二夹角；确定第三距离和第四距离，所述第三距离为所述第十五位置点到所述第六连线的距离，所述第四距离为所述第十六位置点到所述第六连线的距离；根据所述第二夹角、所述第三距离和所述第四距离确定所述第二正极端子是否歪斜。

可选地，根据所述第二夹角、所述第三距离和所述第四距离确定所述第二正极端子是否歪斜，包括：在所述第二夹角在第四预定范围内、所述第三距离在第五预定范围内以及所述第四距离在第六预定范围内的情况下，确定所述第二正极端子不歪斜。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种电容端子的瑕疵的检测装置，待测电容包括待测电容本体和待测电容端子，所述待测电容端子位于在所述待测电容本体的预定端面上，所述检测装置包括：第一获取单元，用于获取基准端面图像，所述基准端面图像包括基准电容端子的图像以及基准预定端面的图像，基准电容包括基准电容本体和所述基准电容端子，其中，所述基准电容端子位于所述基准电容本体的所述基准预定端面上；第二获取单元，用于获取所述待测电容的端面图像，所述端面图像包括所述待测电容端子的图像以及所述待测电容端子所在端面的图像；第一确定单元，用于根据所述基准端面图像确定基准偏移角，根据所述端面图像确定实际偏移角；第三获取单元，用于控制所述待测电容旋转预定角度，获取所述待测电容端子的侧面图像，所述预定角度为根据所述基准偏移角和所述实际偏移角计算得到的；第二确定单元，用于根据所述侧面图像和所述端面图像确定所述待测电容端子的瑕疵。

根据本发明实施例的再一方面，还提供了一种存储介质，所述存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行任意一种所述的检测方法。

根据本发明实施例的又一方面，还提供了一种处理器，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行任意一种所述的检测方法。

在本发明实施例中，上述检测方法中，首先，获取基准端面图像，然后，获取待测电容的端面图像，之后，根据基准端面图像确定基准偏移角，根据端面图像确定实际偏移角，之后根据基准偏移角和实际偏移角计算得到的预定角度，并控制待测电容旋转预定角度，获取待测电容端子的侧面图像，最后，根据侧面图像和端面图像确定待测电容端子的瑕疵。上述方法通过基准端面图像确定基准偏移角以及通过待测电容的端面图像确定实际偏移角，从而计算得到预定角度，控制待测电容旋转预定角度后获取待测电容端子的侧面图像，使得待测电容端子的侧面图像可以呈现出电容端子的烧焦瑕疵，并且通过待测电容的端面图像中的待测电容端子的图像可以确定电容端子是否歪斜，提高了瑕疵检测的准确性，解决现有技术中电容端子的瑕疵监测不准确的问题。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1示出了根据本申请实施例的电容端子的瑕疵的检测方法的流程图；

图2示出了根据本申请的一种实施例的第一基准侧面图像的示意图；

图3示出了根据本申请的一种实施例的包含阴影的基准侧面图像的示意图；

图4示出了根据本申请的一种实施例的第一基准端面图像的示意图；

图5示出了根据本申请的一种实施例的第二基准侧面图像的示意图；

图6示出了根据本申请的一种实施例的第二基准端面图像的示意图；

图7示出了根据本申请的一种实施例的第三基准侧面图像的示意图；

图8示出了根据本申请的一种实施例的第三基准端面图像的示意图；

图9示出了根据本申请的一种实施例的第四基准侧面图像的示意图；

图10示出了根据本申请的一种实施例的第四基准端面图像的示意图；

图11示出了根据本申请的一种实施例的待测电容的端面图像的示意图；

图12示出了根据本申请的一种实施例的第一侧面图像的示意图；

图13示出了根据本申请的一种实施例的第二侧面图像的示意图；

图14示出了根据本申请的一种实施例的第三侧面图像的示意图；

图15示出了根据本申请的一种实施例的第四侧面图像的示意图；

图16示出了根据本申请的另一种实施例的待测电容的端面图像的示意图；

图17示出了根据本申请的一种实施例的电容端子的瑕疵的检测装置的示意图；

图18示出了根据本申请的一种实施例的电容端子的瑕疵的检测方法的应用场景的示意图；

图19示出了根据本申请的一种实施例的第一基准偏移角和第二基准偏移角的获取流程的流程图；

图20示出了根据本申请的一种实施例的第三基准偏移角和第四基准偏移角的获取流程的流程图；

图21示出了根据本申请的一种实施例的烧焦瑕疵检测流程的流程图；以及

图22示出了根据本申请的一种实施例的歪斜瑕疵检测流程的流程图。

其中，上述附图包括以下附图标记：

10、基准电容；11、基准电容本体；12、第一负极端子引出端；121、第一表面；122、第三表面；123、第一位置点；124、第二位置点；125、第五位置点；126、第六位置点；13、第一正极端子引出端；131、第二表面；132、第四表面；133、第三位置点；134、第四位置点；135、第七位置点；136、第八位置点；14、第一负极端子底端；15、第一正极端子底端；20、待测电容；21、待测电容本体；22、第二负极端子引出端；221、第五表面；222、第七表面；223、第九位置点；224、第十位置点；23、第二正极端子引出端；231、第六表面；232、第八表面；233、第十一位置点；234、第十二位置点；24、第二负极端子底端；241、第十三位置点；242、第十四位置点；25、第二正极端子底端；251、第十五位置点；252、第十六位置点；30、转盘；31、固定件；40、第一相机；50、第二相机；60、第三相机。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、***、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

应该理解的是，当元件(诸如层、膜、区域、或衬底)描述为在另一元件“上”时，该元件可直接在该另一元件上，或者也可存在中间元件。而且，在说明书以及权利要求书中，当描述有元件“连接”至另一元件时，该元件可“直接连接”至该另一元件，或者通过第三元件“连接”至该另一元件。

正如背景技术中所说的，现有技术中的电容端子的瑕疵监测不准确，为了解决上述问题，本申请的一种典型的实施方式中，提供了一种电容端子的瑕疵的检测方法、装置、存储介质和处理器。

根据本申请的实施例，提供了一种电容端子的瑕疵的检测方法，如图11至图16所示，待测电容20包括待测电容本体21和待测电容端子，上述待测电容端子位于在上述待测电容本体21的预定端面上。

图1是根据本申请实施例的电容端子的瑕疵的检测方法的流程图。如图1所示，该方法包括以下步骤：

步骤S101，获取基准端面图像，上述基准端面图像包括基准电容端子的图像以及基准预定端面的图像，如图2至图10所示，基准电容10包括基准电容本体11和上述基准电容端子，其中，上述基准电容端子位于上述基准电容本体11的上述基准预定端面上；

步骤S102，获取上述待测电容的端面图像，上述端面图像包括上述待测电容端子的图像以及上述待测电容端子所在端面的图像；

步骤S103，根据上述基准端面图像确定基准偏移角，根据上述端面图像确定实际偏移角；

步骤S104，控制上述待测电容旋转预定角度，获取上述待测电容端子的侧面图像，上述预定角度为根据上述基准偏移角和上述实际偏移角计算得到的；

步骤S105，根据上述侧面图像和上述端面图像确定上述待测电容端子的瑕疵。

上述检测方法中，首先，获取基准端面图像，然后，获取待测电容的端面图像，之后，根据基准端面图像确定基准偏移角，根据端面图像确定实际偏移角，之后根据基准偏移角和实际偏移角计算得到的预定角度，并控制待测电容旋转预定角度，获取待测电容端子的侧面图像，最后，根据侧面图像和端面图像确定待测电容端子的瑕疵。上述方法通过基准端面图像确定基准偏移角以及通过待测电容的端面图像确定实际偏移角，从而计算得到预定角度，控制待测电容旋转预定角度后获取待测电容端子的侧面图像，使得待测电容端子的侧面图像可以呈现出电容端子的烧焦瑕疵，并且通过待测电容的端面图像中的待测电容端子的图像可以确定电容端子是否歪斜，提高了瑕疵检测的准确性，解决现有技术中电容端子的瑕疵监测不准确的问题。

需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机***中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

本申请的一种实施例中，如图2至图10所示，上述基准电容10包括第一负极端子，上述第一负极端子包括第一负极端子引出端12和第一负极端子底端14，上述第一负极端子底端14接触地位于上述基准预定端面，第一表面121为上述第一负极端子引出端12的朝向上述第一负极端子底端14的表面，且上述第一表面121与上述基准预定端面垂直，上述基准端面图像包括第一基准端面图像，获取上述第一基准端面图像的过程包括：控制上述基准电容10旋转，并获取基准侧面图像，上述基准侧面图像为上述基准电容10的侧面图像；在确定上述基准侧面图像中不存在上述第一表面121的阴影的情况下，控制上述基准电容10停止旋转，确定上述基准侧面图像为第一基准侧面图像，如图2所示；获取基准端面图像，确定上述基准端面图像为第一基准端面图像。具体地，控制基准电容10旋转的同时，获取基准电容10的侧面图像，直至基准侧面图像中不存在第一表面121的阴影，控制基准电容10停止旋转，得到第一基准侧面图像，该第一基准侧面图像可以呈现第一表面的烧焦瑕疵，在此情况下，获取基准端面图像，该基准端面图像记为第一基准端面图像，从而通过第一基准端面图像即可确定第一表面121的偏移角。

需要说明的是，在实际的检测过程中，拍摄基准电容选择的侧面图像角度不合适，会导致侧面图像中存在基准电容端子的表面的阴影，例如，如图3所示，第一表面121上存在多个阴影。

本申请的一种实施例中，如图4所示，根据上述基准端面图像确定基准偏移角，还包括：在上述第一基准端面图像上建立坐标系，上述坐标系的X轴与上述第一基准端面图像的第一边缘平行，上述坐标系的Y轴与上述第一基准端面图像的第二边缘平行，上述第一边缘与上述第二边缘相邻且垂直；获取第一位置点123和第二位置点124的连线，得到第一连线，上述第一位置点123和上述第二位置点124均为上述第一基准端面图像中上述第一负极端子引出端的顶面边缘上的点，上述第一位置点和上述第二位置点的位置不同；确定上述第一连线与上述X轴的夹角，得到第一基准偏移角。具体地，在第一基准端面图像上建立坐标系，在第一负极端子引出端的顶面边缘上选取两个点，即第一位置点123和第二位置点124，上述顶面为第一负极端子引出端的表面中与第一负极端子底端14距离最大的表面，将两点相连，得到第一连线，计算第一连线与X轴的夹角，即可得到第一表面的偏移角，记为第一基准偏移角a，便于后续校正待测电容的旋转角度，以便于获取可以呈现电容端子烧焦瑕疵的侧面图像。

本申请的一种实施例中，如图2至图10所示，上述基准电容10包括第一正极端子，上述第一正极端子包括第一正极端子引出端13和第一正极端子底端15，上述第一正极端子底端15接触地位于上述基准预定端面，第二表面131为上述第一正极端子引出端13的朝向上述第一正极端子底端15的表面，上述基准端面图像包括第二基准端面图像，获取上述第二基准端面图像的过程包括：控制上述基准电容10旋转，并获取基准侧面图像，上述基准侧面图像为上述基准电容10的侧面图像；在确定上述基准侧面图像中不存在上述第二表面131的阴影的情况下，控制上述基准电容10停止旋转，确定上述基准侧面图像为第一基准侧面图像，如图5所示；获取基准端面图像，确定上述基准端面图像为第二基准端面图像。具体地，控制基准电容10旋转的同时，获取基准电容10的侧面图像，直至基准侧面图像中不存在第二表面131的阴影，控制基准电容10停止旋转，得到第二基准侧面图像，该第二基准侧面图像可以呈现第二表面131的烧焦瑕疵，在此情况下，获取基准端面图像，该基准端面图像记为第二基准端面图像，从而通过第二基准端面图像即可确定第二表面131的偏移角。

本申请的一种实施例中，如图6所示，根据上述基准端面图像确定基准偏移角，还包括：在上述第二基准端面图像上建立坐标系，上述坐标系的X轴与上述第二基准端面图像的第一边缘平行，上述坐标系的Y轴与上述第二基准端面图像的第二边缘平行，上述第一边缘与上述第二边缘相邻且垂直；获取第三位置点133和第四位置点134的连线，得到第二连线，上述第三位置点133和上述第四位置点134均为上述第二基准端面图像中上述第一正极端子引出端的顶面边缘上的一点，上述第三位置点133和上述第四位置点134的位置不同；确定上述第二连线与上述X轴的夹角，得到第二基准偏移角。具体地，在第二基准端面图像上建立坐标系，在第一正极端子引出端的顶面边缘上选取两个点，即第三位置点133和第四位置点134，上述顶面为第一正极端子引出端的表面中与第一正极端子底端15距离最大的表面，将两点相连，得到第二连线，计算第二连线与X轴的夹角，即可得到第二表面的偏移角，记为第二基准偏移角b，便于后续校正待测电容的旋转角度，以便于获取可以呈现端子烧焦瑕疵的侧面图像。

本申请的一种实施例中，如图2至图10所示，上述基准电容10包括第一负极端子，上述第一负极端子包括第一负极端子引出端12和第一负极端子底端14，上述第一负极端子底端14接触地位于上述基准预定端面，第三表面122为上述第一负极端子引出端12的背向上述第一负极端子底端14的表面，上述基准端面图像包括第三基准端面图像，获取上述第三基准端面图像的过程包括：控制旋转上述基准电容10旋转，并获取基准侧面图像，上述基准侧面图像为上述基准电容10的侧面图像；在确定上述基准侧面图像中不存在上述第三表面122的阴影的情况下，控制上述基准电容10停止旋转，确定上述基准侧面图像为第三基准侧面图像，如图7所示；获取基准端面图像，确定上述基准端面图像为第三基准端面图像。具体地，控制基准电容10旋转的同时，获取基准电容10的侧面图像，直至基准侧面图像中不存在第三表面122的阴影，控制基准电容10停止旋转，得到第三基准侧面图像，该第三基准侧面图像可以呈现第三表面122的烧焦瑕疵，在此情况下，获取基准端面图像，该基准端面图像记为第三基准端面图像，从而通过第三基准端面图像即可确定第三表面122的偏移角。

本申请的一种实施例中，如图8所示，根据上述基准端面图像确定基准偏移角，还包括：在上述第三基准端面图像上建立坐标系，上述坐标系的X轴与上述第三基准端面图像的第一边缘平行，上述坐标系的Y轴与上述第三基准端面图像的第二边缘平行，上述第一边缘与上述第二边缘相邻且垂直；获取第五位置点125和第六位置点126的连线，得到第三连线，上述第五位置点125和上述第六位置点126均为上述第三基准端面图像中上述第一负极端子引出端的顶面边缘上的一点，上述第五位置点125和上述第六位置点126的位置不同；确定上述第三连线与上述X轴的夹角，得到第三基准偏移角。具体地，在第三基准端面图像上建立坐标系，在第一负极端子引出端的顶面边缘上选取两个点，即第五位置点125和第六位置点126，上述顶面为第一负极端子引出端的表面中与第一负极端子底端14距离最大的表面，将两点相连，得到第三连线，计算第三连线与X轴的夹角，即可得到第三表面的偏移角，记为第三基准偏移角c，便于后续校正待测电容的旋转角度，以便于获取可以呈现端子烧焦瑕疵的侧面图像。

本申请的一种实施例中，如图2至图10所示，上述基准电容10包括第一正极端子，上述第一正极端子包括第一正极端子引出端13和第一正极端子底端15，上述第一正极端子底端15接触地位于上述基准预定端面，第四表面132为上述第一正极端子引出端13的背向上述第一正极端子底端15的表面，上述基准端面图像包括第四基准端面图像，获取上述第四基准端面图像的过程包括：控制上述基准电容10旋转，并获取基准侧面图像，上述基准侧面图像为上述基准电容10的侧面图像；在确定上述基准侧面图像中不存在上述第四表面132的阴影的情况下，控制上述基准电容10停止旋转，确定上述基准侧面图像为第四基准侧面图像，如图9所示；获取基准端面图像，确定上述基准端面图像为第四基准端面图像。具体地，控制基准电容10旋转的同时，获取基准电容10的侧面图像，直至基准侧面图像中不存在第四表面132的阴影，控制基准电容10停止旋转，得到第四基准侧面图像，该第四基准侧面图像可以呈现第四表面132的烧焦瑕疵，在此情况下，获取基准端面图像，该基准端面图像记为第四基准端面图像，从而通过第四基准端面图像即可确定第四表面132的偏移角。

本申请的一种实施例中，如图10所示，根据上述基准端面图像确定基准偏移角，还包括：在上述第四基准端面图像上建立坐标系，上述坐标系的X轴与上述第四基准端面图像的第一边缘平行，上述坐标系的Y轴与上述第四基准端面图像的第二边缘平行，上述第一边缘与上述第二边缘相邻且垂直；获取第七位置点135和第八位置点136的连线，得到第四连线，上述第七位置点135和上述第八位置点136均为上述第四基准端面图像中上述第一正极端子引出端的顶面边缘上的一点，上述第七位置点135和上述第八位置点136的位置不同；确定上述第四连线与上述X轴的夹角，得到第四基准偏移角。具体地，在第四基准端面图像上建立坐标系，在第一正极端子引出端的顶面边缘上选取两个点，即第七位置点135和第八位置点136，上述顶面为第一正极端子引出端的表面中与第一正极端子底端15距离最大的表面，将两点相连，得到第四连线，计算第四连线与X轴的夹角，即可得到第四表面的偏移角，记为第四基准偏移角d，便于后续校正待测电容的旋转角度，以便于获取可以呈现端子烧焦瑕疵的侧面图像。

本申请的一种实施例中，如图11所示，根据上述端面图像确定实际偏移角，包括：在上述端面图像上建立坐标系，上述坐标系的X轴与上述端面图像的第一边缘平行，上述坐标系的Y轴与上述端面图像的第二边缘平行，上述第一边缘与上述第二边缘相邻且垂直；根据上述坐标系确定上述实际偏移角。具体地，在待测电容的端面图像上建立坐标系，即可根据坐标系计算实际偏移角，实际偏移角包括第二负极端子引出端和第二正极端子引出端的偏移角。

本申请的一种实施例中，如图11至图16所示，上述待测电容20包括第二负极端子，上述第二负极端子包括第二负极端子引出端22和第二负极端子底端24，上述第二负极端子底端24接触地位于上述预定端面，根据上述坐标系确定上述实际偏移角，包括：获取第九位置点223和第十位置点224的连线，得到第五连线，如图11所示，上述第九位置点223和上述第十位置点224均为上述端面图像中上述第二负极端子引出端22的顶面边缘上的一点，上述第九位置点223和上述第十位置点224的位置不同；确定上述第五连线与上述X轴的夹角，得到第一实际偏移角。具体地，在第二负极端子引出端22的顶面边缘上选取两个点，即第九位置点223和上述第十位置点224，上述顶面为第二负极端子引出端22的表面中与第二负极端子底端24距离最大的表面，将两点相连，得到第五连线，计算第五连线与X轴的夹角，即可得到第二负极端子引出端22的偏移角，记为第一实际偏移角e，便于确定合适的预定角度。

本申请的一种实施例中，如图11至图16所示，上述待测电容20包括第二正极端子，上述第二正极端子包括第二正极端子引出端23和第二正极端子底端25，上述第二正极端子底端25接触地位于上述预定端面，根据上述坐标系确定上述实际偏移角，包括：获取第十一位置点233和第十二位置点234的连线，得到第六连线，如图11所示，上述第十一位置点233和上述第十二位置点234均为上述端面图像中上述第二正极端子引出端的顶面边缘上的一点，上述第十一位置点233和上述第十二位置点234的位置不同；确定上述第六连线与上述Y轴的夹角，得到第二实际偏移角。具体地，在第二正极端子引出端23的顶面边缘上选取两个点，即第十一位置点233和第十二位置点234，上述顶面为第二正极端子引出端23的表面中与第二正极端子底端25距离最大的表面，将两点相连，得到第六连线，计算第六连线与X轴的夹角，即可得到第二正极端子引出端23的偏移角，记为第二实际偏移角f，便于确定合适的预定角度。

本申请的一种实施例中，将上述待测电容旋转对应的预定角度，获取上述待测电容的侧面图像，包括：将上述待测电容旋转第一预定角度，上述第一预定角度为上述第一实际偏移角减去上述第一基准偏移角得到的差值；获取上述待测电容的侧面图像，得到第一侧面图像，如图12所示。具体地，根据第一实际偏移角e和第一基准偏移角a计算得到第一预定角度A，即A＝e-a，将待测电容旋转第一预定角度A后，获取待测电容的侧面图像，得到第一侧面图像，如图12所示，第一侧面图像可以呈现第五表面221的烧焦瑕疵，即呈现第二负极端子引出端22朝向第二负极端子底端24的表面的烧焦瑕疵。

本申请的一种实施例中，在将上述待测电容旋转第一预定角度之后，将上述待测电容旋转对应的预定角度，获取上述待测电容的侧面图像，还包括：将上述待测电容旋转第二预定角度，上述第二预定角度为90°与第一差值的和，上述第一差值为第二差值减去上述第一预定角度得到的差值，上述第二差值为上述第二实际偏移角与上述第二基准偏移角的差值；获取上述待测电容的侧面图像，得到第二侧面图像，如图13所示。具体地，根据第一实际偏移角e、第二实际偏移角f、第一基准偏移角a和第二基准偏移角b计算得到第二预定角度B，即B＝90+(e-c)-(f-b)，将待测电容旋转第二预定角度B后，获取待测电容的侧面图像，得到第二侧面图像，如图13所示，第二侧面图像可以呈现第六表面231的烧焦瑕疵，即呈现第二正极端子引出端23朝向第二正极端子底端25的表面的烧焦瑕疵。

本申请的一种实施例中，在将上述待测电容旋转第二预定角度之后，将上述待测电容旋转对应的预定角度，获取上述待测电容的侧面图像，还包括：将上述待测电容旋转第三预定角度，上述第三预定角度为90°与第三差值的和，上述第三差值为第四差值减去上述第二差值得到的差值，上述第四差值为上述第一实际偏移角与上述第三基准偏移角的差值；获取上述待测电容的侧面图像，得到第三侧面图像，如图14所示。具体地，根据第一实际偏移角e、第二实际偏移角f、第二基准偏移角b和第三基准偏移角c计算得到第三预定角度C，即C＝90+(e-c)-(f-b)，将待测电容旋转第三预定角度C后，获取待测电容的侧面图像，得到第三侧面图像，如图14所示，第三侧面图像可以呈现第七表面222的烧焦瑕疵，即呈现第二负极端子引出端22背向第二负极端子底端24的表面的烧焦瑕疵。

本申请的一种实施例中，在将上述待测电容旋转第三预定角度之后，将上述待测电容旋转对应的预定角度，获取上述待测电容的侧面图像，还包括：将上述待测电容旋转第四预定角度，上述第四预定角度为90°与第五差值的和，上述第五差值为第六差值减去上述第四差值得到的差值，上述第六差值为上述第二实际偏移角与上述第四基准偏移角的差值；获取上述待测电容的侧面图像，得到第四侧面图像，如图15所示。具体地，根据第一实际偏移角e、第二实际偏移角f、第三基准偏移角c和第四基准偏移角d计算得到第四预定角度D，即D＝90+(f-d)-(e-c)，将待测电容旋转第四预定角度D后，获取待测电容的侧面图像，得到第四侧面图像，如图15所示，第四侧面图像可以呈现第八表面232的烧焦瑕疵，即呈现第二正极端子引出端23背向第二正极端子底端25的表面的烧焦瑕疵。

本申请的一种实施例中，根据上述侧面图像和上述端面图像确定上述待测电容端子的瑕疵，包括：根据上述第一侧面图像确定第五表面的烧焦瑕疵，上述第五表面为第二负极端子的朝向上述第二负极端子底端的表面；根据上述第二侧面图像确定第六表面的烧焦瑕疵，上述第六表面为第二正极端子的朝向上述第二正极端子底端的表面；根据上述第三侧面图像确定第七表面的烧焦瑕疵，上述第七表面为第二负极端子的背向上述第二负极端子底端的表面；根据上述第四侧面图像确定第八表面的烧焦瑕疵，上述第八表面为第二正极端子的背向上述第二正极端子底端的表面。具体地，根据第一侧面图像确定第五表面的烧焦瑕疵，即通过第一侧面图像检测第二负极端子引出端22朝向第二负极端子底端24的表面的烧焦瑕疵，根据第二侧面图像确定第六表面的烧焦瑕疵，即通过第二侧面图像检测第二正极端子引出端23朝向第二正极端子底端25的表面的烧焦瑕疵，根据第三侧面图像确定第七表面的烧焦瑕疵，即通过第三侧面图像检测第二负极端子引出端22背向第二负极端子底端24的表面的烧焦瑕疵，根据第四侧面图像确定第八表面的烧焦瑕疵，即通过第四侧面图像检测第二正极端子引出端23背向第二正极端子底端25的表面的烧焦瑕疵。

本申请的一种实施例中，如图16所示，根据上述侧面图像和上述端面图像确定上述待测电容端子的瑕疵，还包括：获取第十三位置点241和第十四位置点242的连线，得到第七连线，上述第十三位置点241和上述第十四位置点242均为上述端面图像中上述第二负极端子底端24的边缘上的一点，上述第二负极端子底端的边缘为上述第二负极端子底端24的远离上述第二负极端子引出端的边缘，上述第十三位置点241和上述第十四位置点242的位置不同；确定上述第七连线与上述第五连线的夹角，得到第一夹角；确定第一距离和第二距离，上述第一距离为上述第十三位置点241到上述第五连线的距离，上述第二距离为上述第十四位置点242到上述第五连线的距离；根据上述第一夹角、上述第一距离和上述第二距离确定上述第二负极端子是否歪斜。具体地，在第二负极端子底端的边缘取两点，连线得到第七连线，在第二负极端子引出端的顶面边缘上两点的连线为第五连线，根据第一夹角、第一距离和第二距离确定第二负极端子是否歪斜，即通过第五连线与第七连线的夹角、第七连线的两端到第五连线的距离三个数据判断第二负极端子是否歪斜，提高了歪斜瑕疵检测的准确性。

本申请的一种实施例中，根据上述第一夹角、上述第一距离和上述第二距离确定上述第二负极端子是否歪斜，包括：在上述第一夹角在第一预定范围内、上述第一距离在第二预定范围内以及上述第二距离在第三预定范围内的情况下，确定上述第二负极端子不歪斜。具体地，第一夹角在第一预定范围内、第一距离在第二预定范围内以及第二距离在第三预定范围内，即第五连线与第七连线的夹角、第七连线的两端到第五连线的距离三个数据均在对应的预定范围内，才能确定第二负极端子不歪斜，进一步避免歪斜瑕疵漏检，提高了歪斜瑕疵检测的准确性。

需要说明的是，本领域技术人员可以根据实际情况选择合适的第一预定范围、第二预定范围和第三预定范围。

本申请的一种实施例中，如图16所示，上述第二正极端子还包括第二正极端子底端，根据上述侧面图像和上述端面图像确定上述待测电容端子的瑕疵，还包括：获取第十五位置点251和第十六位置点252的连线，得到第八连线，上述第十五位置点251和上述第十六位置点252均为上述端面图像中上述第二正极端子底端的边缘上的一点，上述第二正极端子底端的边缘为上述第二正极端子底端25的远离上述第二正极端子引出端的边缘，上述第十五位置点251和上述第十六位置点252的位置不同；确定上述第八连线与上述第六连线的夹角，得到第二夹角；确定第三距离和第四距离，上述第三距离为上述第十五位置点251到上述第六连线的距离，上述第四距离为上述第十六位置点252到上述第六连线的距离；根据上述第二夹角、上述第三距离和上述第四距离确定上述第二正极端子是否歪斜。具体地，在第二正极端子底端的边缘取两点，连线得到第八连线，在第二正极端子引出端的顶面边缘上两点的连线为第六连线，根据第二夹角、第三距离和第四距离确定第二正极端子是否歪斜，即通过第六连线与第八连线的夹角、第八连线的两端到第六连线的距离三个数据判断第二正极端子是否歪斜，提高了歪斜瑕疵检测的准确性。

本申请的一种实施例中，根据上述第二夹角、上述第三距离和上述第四距离确定上述第二正极端子是否歪斜，包括：在上述第二夹角在第四预定范围内、上述第三距离在第五预定范围内以及上述第四距离在第六预定范围内的情况下，确定上述第二正极端子不歪斜。具体地，第二夹角在第四预定范围内、第三距离在第五预定范围内以及第四距离在第六预定范围内，即第六连线与第八连线的夹角、第八连线的两端到第六连线的距离三个数据均在对应的预定范围内，才能确定第二正极端子不歪斜，进一步避免歪斜瑕疵漏检，提高了歪斜瑕疵检测的准确性。

需要说明的是，本领域技术人员可以根据实际情况选择合适的第四预定范围、第五预定范围和第六预定范围。

本申请实施例还提供了一种电容端子的瑕疵的检测装置，如图11至图16所示，待测电容20包括待测电容本体21和待测电容端子，上述待测电容端子位于在上述待测电容本体21的预定端面上。需要说明的是，本申请实施例的电容端子的瑕疵的检测装置可以用于执行本申请实施例所提供的用于电容端子的瑕疵的检测方法。以下对本申请实施例提供的电容端子的瑕疵的检测装置进行介绍。

图17是根据本申请实施例的电容端子的瑕疵的检测装置的示意图。如图17所示，该装置包括：

第一获取单元100，用于获取基准端面图像，上述基准端面图像包括基准电容端子的图像以及基准预定端面的图像，如图2至图10所示，基准电容10包括基准电容本体11和上述基准电容端子，其中，上述基准电容端子位于上述基准电容本体11的上述基准预定端面上；

第二获取单元200，用于获取上述待测电容的端面图像，上述端面图像包括上述待测电容端子的图像以及上述待测电容端子所在端面的图像；

第一确定单元300，用于根据上述基准端面图像确定基准偏移角，根据上述端面图像确定实际偏移角；

第三获取单元400，用于控制上述待测电容旋转预定角度，获取上述待测电容端子的侧面图像，上述预定角度为根据上述基准偏移角和上述实际偏移角计算得到的；

第二确定单元500，用于根据上述侧面图像和上述端面图像确定上述待测电容端子的瑕疵。

上述检测装置中，第一获取单元获取基准端面图像，第二获取单元获取待测电容的端面图像，第一确定单元根据基准端面图像确定基准偏移角，根据端面图像确定实际偏移角，第三获取单元根据基准偏移角和实际偏移角计算得到的预定角度，并控制待测电容旋转预定角度，获取待测电容端子的侧面图像，第二确定单元根据侧面图像和端面图像确定待测电容端子的瑕疵。上述装置通过基准端面图像确定基准偏移角以及通过待测电容的端面图像确定实际偏移角，从而计算得到预定角度，控制待测电容旋转预定角度后获取待测电容端子的侧面图像，使得待测电容端子的侧面图像可以呈现出电容端子的烧焦瑕疵，并且通过待测电容的端面图像中的待测电容端子的图像可以确定电容端子是否歪斜，提高了瑕疵检测的准确性，解决现有技术中电容端子的瑕疵监测不准确的问题。

本申请的一种实施例中，如图2至图10所示，上述基准电容10包括第一负极端子，上述第一负极端子包括第一负极端子引出端12和第一负极端子底端14，上述第一负极端子底端14接触地位于上述基准预定端面，第一表面121为上述第一负极端子引出端12的朝向上述第一负极端子底端14的表面，且上述第一表面121与上述基准预定端面垂直，上述基准端面图像包括第一基准端面图像，上述第一获取单元包括第一获取模块、第一确定模块和第二获取模块，其中，上述第一获取模块用于控制上述基准电容10旋转，并获取基准侧面图像，上述基准侧面图像为上述基准电容10的侧面图像；上述第一确定模块用于在确定上述基准侧面图像中不存在上述第一表面121的阴影的情况下，控制上述基准电容10停止旋转，确定上述基准侧面图像为第一基准侧面图像，如图2所示；上述第二获取模块用于获取基准端面图像，确定上述基准端面图像为第一基准端面图像。具体地，控制基准电容10旋转的同时，获取基准电容10的侧面图像，直至基准侧面图像中不存在第一表面121的阴影，控制基准电容10停止旋转，得到第一基准侧面图像，该第一基准侧面图像可以呈现第一表面的烧焦瑕疵，在此情况下，获取基准端面图像，该基准端面图像记为第一基准端面图像，从而通过第一基准端面图像即可确定第一表面121的偏移角。

需要说明的是，在实际的检测过程中，拍摄基准电容选择的侧面图像角度不合适，会导致侧面图像中存在基准电容端子的表面的阴影，例如，如图3所示，第一表面121上存在多个阴影。

本申请的一种实施例中，如图4所示，上述第一确定单元还包括第一处理模块、第三获取模块和第二确定模块，其中，上述第一处理模块用于在上述第一基准端面图像上建立坐标系，上述坐标系的X轴与上述第一基准端面图像的第一边缘平行，上述坐标系的Y轴与上述第一基准端面图像的第二边缘平行，上述第一边缘与上述第二边缘相邻且垂直；上述第三获取模块用于获取第一位置点123和第二位置点124的连线，得到第一连线，上述第一位置点123和上述第二位置点124均为上述第一基准端面图像中上述第一负极端子引出端的顶面边缘上的点，上述第一位置点和上述第二位置点的位置不同；上述第二确定模块用于确定上述第一连线与上述X轴的夹角，得到第一基准偏移角。具体地，在第一基准端面图像上建立坐标系，在第一负极端子引出端的顶面边缘上选取两个点，即第一位置点123和第二位置点124，上述顶面为第一负极端子引出端的表面中与第一负极端子底端14距离最大的表面，将两点相连，得到第一连线，计算第一连线与X轴的夹角，即可得到第一表面的偏移角，记为第一基准偏移角a，便于后续校正待测电容的旋转角度，以便于获取可以呈现电容端子烧焦瑕疵的侧面图像。

本申请的一种实施例中，如图2至图10所示，上述基准电容10包括第一正极端子，上述第一正极端子包括第一正极端子引出端13和第一正极端子底端15，上述第一正极端子底端15接触地位于上述基准预定端面，第二表面131为上述第一正极端子引出端13的朝向上述第一正极端子底端15的表面，上述基准端面图像包括第二基准端面图像，上述第一获取单元包括第四获取模块、第三确定模块和第五获取模块，其中，上述第四获取模块用于控制上述基准电容10旋转，并获取基准侧面图像，上述基准侧面图像为上述基准电容10的侧面图像；上述第三确定模块用于在确定上述基准侧面图像中不存在上述第二表面131的阴影的情况下，控制上述基准电容10停止旋转，确定上述基准侧面图像为第一基准侧面图像，如图5所示；上述第五获取模块用于获取基准端面图像，确定上述基准端面图像为第二基准端面图像。具体地，控制基准电容10旋转的同时，获取基准电容10的侧面图像，直至基准侧面图像中不存在第二表面131的阴影，控制基准电容10停止旋转，得到第二基准侧面图像，该第二基准侧面图像可以呈现第二表面131的烧焦瑕疵，在此情况下，获取基准端面图像，该基准端面图像记为第二基准端面图像，从而通过第二基准端面图像即可确定第二表面131的偏移角。

本申请的一种实施例中，如图6所示，上述第一确定单元还包括第二处理模块、第六获取模块和第四确定模块，其中，上述第二处理模块用于在上述第二基准端面图像上建立坐标系，上述坐标系的X轴与上述第二基准端面图像的第一边缘平行，上述坐标系的Y轴与上述第二基准端面图像的第二边缘平行，上述第一边缘与上述第二边缘相邻且垂直；上述第六获取模块用于获取第三位置点133和第四位置点134的连线，得到第二连线，上述第三位置点133和上述第四位置点134均为上述第二基准端面图像中上述第一正极端子引出端的顶面边缘上的一点，上述第三位置点133和上述第四位置点134的位置不同；上述第四确定模块用于确定上述第二连线与上述X轴的夹角，得到第二基准偏移角。具体地，在第二基准端面图像上建立坐标系，在第一正极端子引出端的顶面边缘上选取两个点，即第三位置点133和第四位置点134，上述顶面为第一正极端子引出端的表面中与第一正极端子底端15距离最大的表面，将两点相连，得到第二连线，计算第二连线与X轴的夹角，即可得到第二表面的偏移角，记为第二基准偏移角b，便于后续校正待测电容的旋转角度，以便于获取可以呈现端子烧焦瑕疵的侧面图像。

本申请的一种实施例中，如图2至图10所示，上述基准电容10包括第一负极端子，上述第一负极端子包括第一负极端子引出端12和第一负极端子底端14，上述第一负极端子底端14接触地位于上述基准预定端面，第三表面122为上述第一负极端子引出端12的背向上述第一负极端子底端14的表面，上述基准端面图像包括第三基准端面图像，上述第一获取单元包括第七获取模块、第五确定模块和第八获取模块，其中，上述第七获取模块用于控制旋转上述基准电容10旋转，并获取基准侧面图像，上述基准侧面图像为上述基准电容10的侧面图像；上述第五确定模块用于在确定上述基准侧面图像中不存在上述第三表面122的阴影的情况下，控制上述基准电容10停止旋转，确定上述基准侧面图像为第三基准侧面图像，如图7所示；上述第八获取模块用于获取基准端面图像，确定上述基准端面图像为第三基准端面图像。具体地，控制基准电容10旋转的同时，获取基准电容10的侧面图像，直至基准侧面图像中不存在第三表面122的阴影，控制基准电容10停止旋转，得到第三基准侧面图像，该第三基准侧面图像可以呈现第三表面122的烧焦瑕疵，在此情况下，获取基准端面图像，该基准端面图像记为第三基准端面图像，从而通过第三基准端面图像即可确定第三表面122的偏移角。

本申请的一种实施例中，如图8所示，上述第一确定单元还包括第三处理模块、第八获取模块和第六确定模块，其中，上述第三处理模块用于在上述第三基准端面图像上建立坐标系，上述坐标系的X轴与上述第三基准端面图像的第一边缘平行，上述坐标系的Y轴与上述第三基准端面图像的第二边缘平行，上述第一边缘与上述第二边缘相邻且垂直；上述第八获取模块用于获取第五位置点125和第六位置点126的连线，得到第三连线，上述第五位置点125和上述第六位置点126均为上述第三基准端面图像中上述第一负极端子引出端的顶面边缘上的一点，上述第五位置点125和上述第六位置点126的位置不同；上述第六确定模块用于确定上述第三连线与上述X轴的夹角，得到第三基准偏移角。具体地，在第三基准端面图像上建立坐标系，在第一负极端子引出端的顶面边缘上选取两个点，即第五位置点125和第六位置点126，上述顶面为第一负极端子引出端的表面中与第一负极端子底端14距离最大的表面，将两点相连，得到第三连线，计算第三连线与X轴的夹角，即可得到第三表面的偏移角，记为第三基准偏移角c，便于后续校正待测电容的旋转角度，以便于获取可以呈现端子烧焦瑕疵的侧面图像。

本申请的一种实施例中，如图2至图10所示，上述基准电容10包括第一正极端子，上述第一正极端子包括第一正极端子引出端13和第一正极端子底端15，上述第一正极端子底端15接触地位于上述基准预定端面，第四表面132为上述第一正极端子引出端13的背向上述第一正极端子底端15的表面，上述基准端面图像包括第四基准端面图像，上述第一获取单元包括第九获取模块、第七确定模块和第十获取模块，其中，上述第九获取模块用于控制上述基准电容10旋转，并获取基准侧面图像，上述基准侧面图像为上述基准电容10的侧面图像；上述第七确定模块用于在确定上述基准侧面图像中不存在上述第四表面132的阴影的情况下，控制上述基准电容10停止旋转，确定上述基准侧面图像为第四基准侧面图像，如图9所示；上述第十获取模块用于获取基准端面图像，确定上述基准端面图像为第四基准端面图像。具体地，控制基准电容10旋转的同时，获取基准电容10的侧面图像，直至基准侧面图像中不存在第四表面132的阴影，控制基准电容10停止旋转，得到第四基准侧面图像，该第四基准侧面图像可以呈现第四表面132的烧焦瑕疵，在此情况下，获取基准端面图像，该基准端面图像记为第四基准端面图像，从而通过第四基准端面图像即可确定第四表面132的偏移角。

本申请的一种实施例中，如图10所示，上述第一确定单元还包括第四处理模块、第十一获取模块和第八确定模块，其中，上述第四处理模块用于在上述第四基准端面图像上建立坐标系，上述坐标系的X轴与上述第四基准端面图像的第一边缘平行，上述坐标系的Y轴与上述第四基准端面图像的第二边缘平行，上述第一边缘与上述第二边缘相邻且垂直；上述十一获取模块用于获取第七位置点135和第八位置点136的连线，得到第四连线，上述第七位置点135和上述第八位置点136均为上述第四基准端面图像中上述第一正极端子引出端的顶面边缘上的一点，上述第七位置点135和上述第八位置点136的位置不同；上述第八确定模块用于确定上述第四连线与上述X轴的夹角，得到第四基准偏移角。具体地，在第四基准端面图像上建立坐标系，在第一正极端子引出端的顶面边缘上选取两个点，即第七位置点135和第八位置点136，上述顶面为第一正极端子引出端的表面中与第一正极端子底端15距离最大的表面，将两点相连，得到第四连线，计算第四连线与X轴的夹角，即可得到第四表面的偏移角，记为第四基准偏移角d，便于后续校正待测电容的旋转角度，以便于获取可以呈现端子烧焦瑕疵的侧面图像。

本申请的一种实施例中，如图11所示，上述第一确定单元还包括第五处理模块和第九确定模块，其中，上述第五处理模块用于在上述端面图像上建立坐标系，上述坐标系的X轴与上述端面图像的第一边缘平行，上述坐标系的Y轴与上述端面图像的第二边缘平行，上述第一边缘与上述第二边缘相邻且垂直；上述第九确定模块用于根据上述坐标系确定上述实际偏移角。具体地，在待测电容的端面图像上建立坐标系，即可根据坐标系计算实际偏移角，实际偏移角包括第二负极端子引出端和第二正极端子引出端的偏移角。

本申请的一种实施例中，如图11至图16所示，上述待测电容20包括第二负极端子，上述第二负极端子包括第二负极端子引出端22和第二负极端子底端24，上述第二负极端子底端24接触地位于上述预定端面，上述第九确定模块包括第一获取子模块和第一确定子模块，其中，上述第一获取子模块用于获取第九位置点223和第十位置点224的连线，得到第五连线，如图11所示，上述第九位置点223和上述第十位置点224均为上述端面图像中上述第二负极端子引出端22的顶面边缘上的一点，上述第九位置点223和上述第十位置点224的位置不同；上述第一确定子模块用于确定上述第五连线与上述X轴的夹角，得到第一实际偏移角。具体地，在第二负极端子引出端22的顶面边缘上选取两个点，即第九位置点223和上述第十位置点224，上述顶面为第二负极端子引出端22的表面中与第二负极端子底端24距离最大的表面，将两点相连，得到第五连线，计算第五连线与X轴的夹角，即可得到第二负极端子引出端22的偏移角，记为第一实际偏移角e，便于确定合适的预定角度。

本申请的一种实施例中，如图11至图16所示，上述待测电容20包括第二正极端子，上述第二正极端子包括第二正极端子引出端23和第二正极端子底端25，上述第二正极端子底端25接触地位于上述预定端面，根上述第九确定模块还包括第二获取子模块和第二确定子模块，其中，上述第二获取子模块用于获取第十一位置点233和第十二位置点234的连线，得到第六连线，如图11所示，上述第十一位置点233和上述第十二位置点234均为上述端面图像中上述第二正极端子引出端的顶面边缘上的一点，上述第十一位置点233和上述第十二位置点234的位置不同；上述第二确定子模块用于确定上述第六连线与上述Y轴的夹角，得到第二实际偏移角。具体地，在第二正极端子引出端23的顶面边缘上选取两个点，即第十一位置点233和第十二位置点234，上述顶面为第二正极端子引出端23的表面中与第二正极端子底端25距离最大的表面，将两点相连，得到第六连线，计算第六连线与X轴的夹角，即可得到第二正极端子引出端23的偏移角，记为第二实际偏移角f，便于确定合适的预定角度。

本申请的一种实施例中，上述第三获取单元包括第六处理模块和第十二获取模块，其中，上述第六处理模块用于将上述待测电容旋转第一预定角度，上述第一预定角度为上述第一实际偏移角减去上述第一基准偏移角得到的差值；上述第十二获取模块用于获取上述待测电容的侧面图像，得到第一侧面图像，如图12所示。具体地，根据第一实际偏移角e和第一基准偏移角a计算得到第一预定角度A，即A＝e-a，将待测电容旋转第一预定角度A后，获取待测电容的侧面图像，得到第一侧面图像，如图12所示，第一侧面图像可以呈现第五表面221的烧焦瑕疵，即呈现第二负极端子引出端22朝向第二负极端子底端24的表面的烧焦瑕疵。

本申请的一种实施例中，上述第三获取单元还包括第七处理模块和第十三获取模块，其中，上述第七处理模块用于在将上述待测电容旋转第一预定角度之后，将上述待测电容旋转第二预定角度，上述第二预定角度为90°与第一差值的和，上述第一差值为第二差值减去上述第一预定角度得到的差值，上述第二差值为上述第二实际偏移角与上述第二基准偏移角的差值；上述第十三获取模块用于获取上述待测电容的侧面图像，得到第二侧面图像，如图13所示。具体地，根据第一实际偏移角e、第二实际偏移角f、第一基准偏移角a和第二基准偏移角b计算得到第二预定角度B，即B＝90+(e-c)-(f-b)，将待测电容旋转第二预定角度B后，获取待测电容的侧面图像，得到第二侧面图像，如图13所示，第二侧面图像可以呈现第六表面231的烧焦瑕疵，即呈现第二正极端子引出端23朝向第二正极端子底端25的表面的烧焦瑕疵。

本申请的一种实施例中，上述第三获取单元还包括第八处理模块和第十四获取模块，其中，上述第八处理模块用于在将上述待测电容旋转第二预定角度之后，将上述待测电容旋转第三预定角度，上述第三预定角度为90°与第三差值的和，上述第三差值为第四差值减去上述第二差值得到的差值，上述第四差值为上述第一实际偏移角与上述第三基准偏移角的差值；上述第十四获取模块用于获取上述待测电容的侧面图像，得到第三侧面图像，如图14所示。具体地，根据第一实际偏移角e、第二实际偏移角f、第二基准偏移角b和第三基准偏移角c计算得到第三预定角度C，即C＝90+(e-c)-(f-b)，将待测电容旋转第三预定角度C后，获取待测电容的侧面图像，得到第三侧面图像，如图14所示，第三侧面图像可以呈现第七表面222的烧焦瑕疵，即呈现第二负极端子引出端22背向第二负极端子底端24的表面的烧焦瑕疵。

本申请的一种实施例中，上述第三获取单元还包括第九处理模块和第十五获取模块，其中，上述第九处理模块用于在将上述待测电容旋转第三预定角度之后，将上述待测电容旋转第四预定角度，上述第四预定角度为90°与第五差值的和，上述第五差值为第六差值减去上述第四差值得到的差值，上述第六差值为上述第二实际偏移角与上述第四基准偏移角的差值；上述第十五获取模块用于获取上述待测电容的侧面图像，得到第四侧面图像，如图15所示。具体地，根据第一实际偏移角e、第二实际偏移角f、第三基准偏移角c和第四基准偏移角d计算得到第四预定角度D，即D＝90+(f-d)-(e-c)，将待测电容旋转第四预定角度D后，获取待测电容的侧面图像，得到第四侧面图像，如图15所示，第四侧面图像可以呈现第八表面232的烧焦瑕疵，即呈现第二正极端子引出端23背向第二正极端子底端25的表面的烧焦瑕疵。

本申请的一种实施例中，上述第二确定单元包括第十确定模块、第十一确定模块、第十二确定模块和第十三确定模块，其中，上述第十确定模块用于根据上述第一侧面图像确定第五表面的烧焦瑕疵，上述第五表面为第二负极端子的朝向上述第二负极端子底端的表面；上述第十一确定模块用于根据上述第二侧面图像确定第六表面的烧焦瑕疵，上述第六表面为第二正极端子的朝向上述第二正极端子底端的表面；上述第十二确定模块用于根据上述第三侧面图像确定第七表面的烧焦瑕疵，上述第七表面为第二负极端子的背向上述第二负极端子底端的表面；上述第十三确定模块用于根据上述第四侧面图像确定第八表面的烧焦瑕疵，上述第八表面为第二正极端子的背向上述第二正极端子底端的表面。具体地，根据第一侧面图像确定第五表面的烧焦瑕疵，即通过第一侧面图像检测第二负极端子引出端22朝向第二负极端子底端24的表面的烧焦瑕疵，根据第二侧面图像确定第六表面的烧焦瑕疵，即通过第二侧面图像检测第二正极端子引出端23朝向第二正极端子底端25的表面的烧焦瑕疵，根据第三侧面图像确定第七表面的烧焦瑕疵，即通过第三侧面图像检测第二负极端子引出端22背向第二负极端子底端24的表面的烧焦瑕疵，根据第四侧面图像确定第八表面的烧焦瑕疵，即通过第四侧面图像检测第二正极端子引出端23背向第二正极端子底端25的表面的烧焦瑕疵。

本申请的一种实施例中，如图16所示，上述第二确定单元还包括第十六获取模块、第十四确定模块、第十五确定模块和第十六确定模块，其中，上述第十六获取模块用于获取第十三位置点241和第十四位置点242的连线，得到第七连线，上述第十三位置点241和上述第十四位置点242均为上述端面图像中上述第二负极端子底端24的边缘上的一点，上述第二负极端子底端的边缘为上述第二负极端子底端24的远离上述第二负极端子引出端的边缘，上述第十三位置点241和上述第十四位置点242的位置不同；上述第十四确定模块用于确定上述第七连线与上述第五连线的夹角，得到第一夹角；上述第十五确定模块用于确定第一距离和第二距离，上述第一距离为上述第十三位置点241到上述第五连线的距离，上述第二距离为上述第十四位置点242到上述第五连线的距离；上述第十六确定模块用于根据上述第一夹角、上述第一距离和上述第二距离确定上述第二负极端子是否歪斜。具体地，在第二负极端子底端的边缘取两点，连线得到第七连线，在第二负极端子引出端的顶面边缘上两点的连线为第五连线，根据第一夹角、第一距离和第二距离确定第二负极端子是否歪斜，即通过第五连线与第七连线的夹角、第七连线的两端到第五连线的距离三个数据判断第二负极端子是否歪斜，提高了歪斜瑕疵检测的准确性。

本申请的一种实施例中，上述第十六确定模块包括第三确定子模块，上述第三确定子模块用于在上述第一夹角在第一预定范围内、上述第一距离在第二预定范围内以及上述第二距离在第三预定范围内的情况下，确定上述第二负极端子不歪斜。具体地，第一夹角在第一预定范围内、第一距离在第二预定范围内以及第二距离在第三预定范围内，即第五连线与第七连线的夹角、第七连线的两端到第五连线的距离三个数据均在对应的预定范围内，才能确定第二负极端子不歪斜，进一步避免歪斜瑕疵漏检，提高了歪斜瑕疵检测的准确性。

需要说明的是，本领域技术人员可以根据实际情况选择合适的第一预定范围、第二预定范围和第三预定范围。

本申请的一种实施例中，如图16所示，上述第二正极端子还包括第二正极端子底端，上述第二确定单元还包括第十七获取模块、第十七确定模块、第十八确定模块和第十九确定模块，其中，上述第十七获取模块用于获取第十五位置点251和第十六位置点252的连线，得到第八连线，上述第十五位置点251和上述第十六位置点252均为上述端面图像中上述第二正极端子底端的边缘上的一点，上述第二正极端子底端的边缘为上述第二正极端子底端25的远离上述第二正极端子引出端的边缘，上述第十五位置点251和上述第十六位置点252的位置不同；上述第十七确定模块用于确定上述第八连线与上述第六连线的夹角，得到第二夹角；上述第十八确定模块用于确定第三距离和第四距离，上述第三距离为上述第十五位置点251到上述第六连线的距离，上述第四距离为上述第十六位置点252到上述第六连线的距离；上述第十九确定模块用于根据上述第二夹角、上述第三距离和上述第四距离确定上述第二正极端子是否歪斜。具体地，在第二正极端子底端的边缘取两点，连线得到第八连线，在第二正极端子引出端的顶面边缘上两点的连线为第六连线，根据第二夹角、第三距离和第四距离确定第二正极端子是否歪斜，即通过第六连线与第八连线的夹角、第八连线的两端到第六连线的距离三个数据判断第二正极端子是否歪斜，提高了歪斜瑕疵检测的准确性。

本申请的一种实施例中，上述第十九确定模块包括第四确定子模块，上述第四确定子模块用于在上述第二夹角在第四预定范围内、上述第三距离在第五预定范围内以及上述第四距离在第六预定范围内的情况下，确定上述第二正极端子不歪斜。具体地，第二夹角在第四预定范围内、第三距离在第五预定范围内以及第四距离在第六预定范围内，即第六连线与第八连线的夹角、第八连线的两端到第六连线的距离三个数据均在对应的预定范围内，才能确定第二正极端子不歪斜，进一步避免歪斜瑕疵漏检，提高了歪斜瑕疵检测的准确性。

需要说明的是，本领域技术人员可以根据实际情况选择合适的第四预定范围、第五预定范围和第六预定范围。

为了使得本领域技术人员能够更加清楚地了解本申请的技术方案，以下将结合具体的实施例来说明本申请的技术方案。

实施例

如图18所示，电容端子的瑕疵的检测方法的应用场景中，包括转盘30、第一相机40、第二相机50和第三相机60，上述转盘30包括固定件31，电容通过固定件31固定在转盘30上，使得固定后的电容可以随转盘30旋转，还可以自旋转，上述转盘30的与第一相机对应的工位为第一工位，上述转盘30的与第二相机对应的工位为第二工位，上述转盘30的与第三相机对应的工位为第三工位。

采用上述应用场景实施电容端子的瑕疵的检测方法的过程包括第一基准偏移角和第二基准偏移角的获取流程、第三基准偏移角和第四基准偏移角的获取流程、歪斜瑕疵检测流程以及烧焦瑕疵检测流程。直至基准侧面图像中不存在阴影，控制基准电容停止旋转

如图19所示，第一基准偏移角和第二基准偏移角的获取流程包括以下步骤：将基准电容移动至第二工位，控制上述基准电容旋转，控制第二相机获取基准侧面图像，上述基准侧面图像为上述基准电容的侧面图像，在确定上述基准侧面图像中不存在上述第一表面的阴影的情况下，控制上述基准电容停止旋转，确定上述基准侧面图像为第一基准侧面图像，控制转盘旋转，使得基准电容移动至第一工位，控制第一相机获取基准端面图像，确定上述基准端面图像为第一基准端面图像，在上述第一基准端面图像上建立坐标系，上述坐标系的X轴与上述第一基准端面图像的第一边缘平行，上述坐标系的Y轴与上述第一基准端面图像的第二边缘平行，上述第一边缘与上述第二边缘相邻且垂直，获取第一位置点和第二位置点的连线，得到第一连线，上述第一位置点和上述第二位置点均为上述第一基准端面图像中上述第一负极端子引出端的顶面边缘上的点，上述第一位置点和上述第二位置点的位置不同，确定上述第一连线与上述X轴的夹角，得到第一基准偏移角。

第一基准偏移角和第二基准偏移角的获取流程还包括以下步骤：控制转盘旋转，使得基准电容移动至第二工位，控制上述基准电容旋转，控制第二相机获取基准侧面图像，上述基准侧面图像为上述基准电容的侧面图像，在确定上述基准侧面图像中不存在上述第二表面的阴影的情况下，控制上述基准电容停止旋转，确定上述基准侧面图像为第一基准侧面图像，控制转盘旋转，使得基准电容移动至第一工位，控制第一相机获取基准端面图像，确定上述基准端面图像为第二基准端面图像，在上述第二基准端面图像上建立坐标系，上述坐标系的X轴与上述第二基准端面图像的第一边缘平行，上述坐标系的Y轴与上述第二基准端面图像的第二边缘平行，上述第一边缘与上述第二边缘相邻且垂直，获取第三位置点和第四位置点的连线，得到第二连线，上述第三位置点和上述第四位置点均为上述第二基准端面图像中上述第一正极端子引出端的顶面边缘上的一点，上述第三位置点和上述第四位置点的位置不同，确定上述第二连线与上述X轴的夹角，得到第二基准偏移角。

如图20所示，第三基准偏移角和第四基准偏移角的获取流程包括以下步骤：控制转盘旋转，使得基准电容移动至第三工位，控制旋转上述基准电容旋转，控制第三相机获取基准侧面图像，上述基准侧面图像为上述基准电容的侧面图像，在确定上述基准侧面图像中不存在上述第三表面的阴影的情况下，控制上述基准电容停止旋转，确定上述基准侧面图像为第三基准侧面图像，控制转盘旋转，使得基准电容移动至第一工位，控制第一相机获取基准端面图像，确定上述基准端面图像为第三基准端面图像，在上述第三基准端面图像上建立坐标系，上述坐标系的X轴与上述第三基准端面图像的第一边缘平行，上述坐标系的Y轴与上述第三基准端面图像的第二边缘平行，上述第一边缘与上述第二边缘相邻且垂直，获取第五位置点和第六位置点的连线，得到第三连线，上述第五位置点和上述第六位置点均为上述第三基准端面图像中上述第一负极端子引出端的顶面边缘上的一点，上述第五位置点和上述第六位置点的位置不同，确定上述第三连线与上述X轴的夹角，得到第三基准偏移角。

第三基准偏移角和第四基准偏移角的获取流程还包括以下步骤：控制转盘旋转，使得基准电容移动至第三工位，控制上述基准电容旋转，控制第三相机获取基准侧面图像，上述基准侧面图像为上述基准电容的侧面图像，在确定上述基准侧面图像中不存在上述第四表面的阴影的情况下，控制上述基准电容停止旋转，确定上述基准侧面图像为第四基准侧面图像，控制转盘旋转，使得基准电容移动至第一工位，控制第一相机获取基准端面图像，确定上述基准端面图像为第四基准端面图像，在上述第四基准端面图像上建立坐标系，上述坐标系的X轴与上述第四基准端面图像的第一边缘平行，上述坐标系的Y轴与上述第四基准端面图像的第二边缘平行，上述第一边缘与上述第二边缘相邻且垂直，获取第七位置点和第八位置点的连线，得到第四连线，上述第七位置点和上述第八位置点均为上述第四基准端面图像中上述第一正极端子引出端的顶面边缘上的一点，上述第七位置点和上述第八位置点的位置不同，确定上述第四连线与上述X轴的夹角，得到第四基准偏移角。

如图21所示，烧焦瑕疵检测流程包括以下步骤：在上述端面图像上建立坐标系，上述坐标系的X轴与上述端面图像的第一边缘平行，上述坐标系的Y轴与上述端面图像的第二边缘平行，上述第一边缘与上述第二边缘相邻且垂直，获取第九位置点和第十位置点的连线，得到第五连线，上述第九位置点和上述第十位置点均为上述端面图像中上述第二负极端子引出端的顶面边缘上的一点，上述第九位置点和上述第十位置点的位置不同，确定上述第五连线与上述X轴的夹角，得到第一实际偏移角，获取第十一位置点和第十二位置点的连线，得到第六连线，上述第十一位置点和上述第十二位置点均为上述端面图像中上述第二正极端子引出端的顶面边缘上的一点，上述第十一位置点和上述第十二位置点的位置不同，确定上述第六连线与上述Y轴的夹角，得到第二实际偏移角。

烧焦瑕疵检测流程还包括以下步骤：控制转盘旋转，使得基准电容移动至第二工位，将上述待测电容旋转第一预定角度，上述第一预定角度为上述第一实际偏移角减去上述第一基准偏移角得到的差值，控制第二相机获取上述待测电容的侧面图像，得到第一侧面图像，将上述待测电容旋转第二预定角度，上述第二预定角度为90°与第一差值的和，上述第一差值为第二差值减去上述第一预定角度得到的差值，上述第二差值为上述第二实际偏移角与上述第二基准偏移角的差值，控制第二相机获取上述待测电容的侧面图像，得到第二侧面图像，控制转盘旋转，使得基准电容移动至第三工位，将上述待测电容旋转第三预定角度，上述第三预定角度为90°与第三差值的和，上述第三差值为第四差值减去上述第二差值得到的差值，上述第四差值为上述第一实际偏移角与上述第三基准偏移角的差值，控制第三相机获取上述待测电容的侧面图像，得到第三侧面图像，将上述待测电容旋转第四预定角度，上述第四预定角度为90°与第五差值的和，上述第五差值为第六差值减去上述第四差值得到的差值，上述第六差值为上述第二实际偏移角与上述第四基准偏移角的差值，控制第三相机获取上述待测电容的侧面图像，得到第四侧面图像。

烧焦瑕疵检测流程还包括以下步骤：根据上述第一侧面图像确定第五表面的烧焦瑕疵，上述第五表面为第二负极端子的朝向上述第二负极端子底端的表面，根据上述第二侧面图像确定第六表面的烧焦瑕疵，上述第六表面为第二正极端子的朝向上述第二正极端子底端的表面，根据上述第三侧面图像确定第七表面的烧焦瑕疵，上述第七表面为第二负极端子的背向上述第二负极端子底端的表面，根据上述第四侧面图像确定第八表面的烧焦瑕疵，上述第八表面为第二正极端子的背向上述第二正极端子底端的表面。

如图22所示，歪斜瑕疵检测流程包括以下步骤：获取第十三位置点和第十四位置点的连线，得到第七连线，上述第十三位置点和上述第十四位置点均为上述端面图像中上述第二负极端子底端的边缘上的一点，上述第二负极端子底端的边缘为上述第二负极端子底端的远离上述第二负极端子引出端的边缘，上述第十三位置点和上述第十四位置点的位置不同，确定上述第七连线与上述第五连线的夹角，得到第一夹角，确定第一距离和第二距离，上述第一距离为上述第十三位置点到上述第五连线的距离，上述第二距离为上述第十四位置点到上述第五连线的距离，在上述第一夹角在第一预定范围内、上述第一距离在第二预定范围内以及上述第二距离在第三预定范围内的情况下，确定上述第二负极端子不歪斜，否则，确定第二负极端子歪斜。

歪斜瑕疵检测流程还包括以下步骤：获取第十五位置点和第十六位置点的连线，得到第八连线，上述第十五位置点和上述第十六位置点均为上述端面图像中上述第二正极端子底端的边缘上的一点，上述第二正极端子底端的边缘为上述第二正极端子底端的远离上述第二正极端子引出端的边缘，上述第十五位置点和上述第十六位置点的位置不同，确定上述第八连线与上述第六连线的夹角，得到第二夹角，确定第三距离和第四距离，上述第三距离为上述第十五位置点到上述第六连线的距离，上述第四距离为上述第十六位置点到上述第六连线的距离，在上述第二夹角在第四预定范围内、上述第三距离在第五预定范围内以及上述第四距离在第六预定范围内的情况下，确定上述第二正极端子不歪斜，否则，确定上述第二正极端子歪斜。

上述检测装置包括处理器和存储器，上述第一获取单元、第二获取单元、第一确定单元、第三获取单元和第二确定单元等均作为程序单元存储在存储器中，由处理器执行存储在存储器中的上述程序单元来实现相应的功能。

处理器中包含内核，由内核去存储器中调取相应的程序单元。内核可以设置一个或以上，通过调整内核参数来解决现有技术中电容端子的瑕疵监测不准确的问题。

存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)，存储器包括至少一个存储芯片。

本发明实施例提供了一种存储介质，其上存储有程序，该程序被处理器执行时实现上述检测方法。

本发明实施例提供了一种处理器，上述处理器用于运行程序，其中，上述程序运行时执行上述检测方法。

本发明实施例提供了一种设备，设备包括处理器、存储器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序，处理器执行程序时实现至少以下步骤：

步骤S101，获取基准端面图像，上述基准端面图像包括基准电容端子的图像以及基准预定端面的图像，基准电容包括基准电容本体和上述基准电容端子，其中，上述基准电容端子位于上述基准电容本体的上述基准预定端面上；

步骤S102，获取上述待测电容的端面图像，上述端面图像包括上述待测电容端子的图像以及上述待测电容端子所在端面的图像；

步骤S103，根据上述基准端面图像确定基准偏移角，根据上述端面图像确定实际偏移角；

步骤S104，控制上述待测电容旋转预定角度，获取上述待测电容端子的侧面图像，上述预定角度为根据上述基准偏移角和上述实际偏移角计算得到的；

步骤S105，根据上述侧面图像和上述端面图像确定上述待测电容端子的瑕疵。

本文中的设备可以是服务器、PC、PAD、手机等。

本申请还提供了一种计算机程序产品，当在数据处理设备上执行时，适于执行初始化有至少如下方法步骤的程序：

步骤S101，获取基准端面图像，上述基准端面图像包括基准电容端子的图像以及基准预定端面的图像，基准电容包括基准电容本体和上述基准电容端子，其中，上述基准电容端子位于上述基准电容本体的上述基准预定端面上；

步骤S102，获取上述待测电容的端面图像，上述端面图像包括上述待测电容端子的图像以及上述待测电容端子所在端面的图像；

步骤S103，根据上述基准端面图像确定基准偏移角，根据上述端面图像确定实际偏移角；

步骤S104，控制上述待测电容旋转预定角度，获取上述待测电容端子的侧面图像，上述预定角度为根据上述基准偏移角和上述实际偏移角计算得到的；

步骤S105，根据上述侧面图像和上述端面图像确定上述待测电容端子的瑕疵。

在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如上述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。

上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

上述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例上述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

从以上的描述中，可以看出，本申请上述的实施例实现了如下技术效果：

1)、本申请的检测方法中，首先，获取基准端面图像，然后，获取待测电容的端面图像，之后，根据基准端面图像确定基准偏移角，根据端面图像确定实际偏移角，之后根据基准偏移角和实际偏移角计算得到的预定角度，并控制待测电容旋转预定角度，获取待测电容端子的侧面图像，最后，根据侧面图像和端面图像确定待测电容端子的瑕疵。上述方法通过基准端面图像确定基准偏移角以及通过待测电容的端面图像确定实际偏移角，从而计算得到预定角度，控制待测电容旋转预定角度后获取待测电容端子的侧面图像，使得待测电容端子的侧面图像可以呈现出电容端子的烧焦瑕疵，并且通过待测电容的端面图像中的待测电容端子的图像可以确定电容端子是否歪斜，提高了瑕疵检测的准确性，解决现有技术中电容端子的瑕疵监测不准确的问题。

2)、本申请的检测装置中，第一获取单元获取基准端面图像，第二获取单元获取待测电容的端面图像，第一确定单元根据基准端面图像确定基准偏移角，根据端面图像确定实际偏移角，第三获取单元根据基准偏移角和实际偏移角计算得到的预定角度，并控制待测电容旋转预定角度，获取待测电容端子的侧面图像，第二确定单元根据侧面图像和端面图像确定待测电容端子的瑕疵。上述装置通过基准端面图像确定基准偏移角以及通过待测电容的端面图像确定实际偏移角，从而计算得到预定角度，控制待测电容旋转预定角度后获取待测电容端子的侧面图像，使得待测电容端子的侧面图像可以呈现出电容端子的烧焦瑕疵，并且通过待测电容的端面图像中的待测电容端子的图像可以确定电容端子是否歪斜，提高了瑕疵检测的准确性，解决现有技术中电容端子的瑕疵监测不准确的问题。

以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (14)

1.一种电容端子的瑕疵的检测方法，其特征在于，待测电容包括待测电容本体和待测电容端子，所述待测电容端子位于在所述待测电容本体的预定端面上，所述检测方法包括：

获取基准端面图像，所述基准端面图像包括基准电容端子的图像以及基准预定端面的图像，基准电容包括基准电容本体和所述基准电容端子，其中，所述基准电容端子位于所述基准电容本体的所述基准预定端面上；

获取所述待测电容的端面图像，所述端面图像包括所述待测电容端子的图像以及所述待测电容端子所在端面的图像；

根据所述基准端面图像确定基准偏移角，根据所述端面图像确定实际偏移角；

控制所述待测电容旋转预定角度，获取所述待测电容端子的侧面图像，所述预定角度为根据所述基准偏移角和所述实际偏移角计算得到的；

根据所述侧面图像和所述端面图像确定所述待测电容端子的瑕疵，所述基准电容包括第一负极端子，所述第一负极端子包括第一负极端子引出端和第一负极端子底端，所述第一负极端子底端接触地位于所述基准预定端面，第一表面为所述第一负极端子引出端的朝向所述第一负极端子底端的表面，且所述第一表面与所述基准预定端面垂直，所述基准端面图像包括第一基准端面图像，获取所述第一基准端面图像的过程包括：控制所述基准电容旋转，并获取基准侧面图像，所述基准侧面图像为所述基准电容的侧面图像；在确定所述基准侧面图像中不存在所述第一表面的阴影的情况下，控制所述基准电容停止旋转；获取基准端面图像，确定所述基准端面图像为第一基准端面图像，根据所述基准端面图像确定基准偏移角，还包括：在所述第一基准端面图像上建立坐标系，所述坐标系的X轴与所述第一基准端面图像的第一边缘平行，所述坐标系的Y轴与所述第一基准端面图像的第二边缘平行，所述第一边缘与所述第二边缘相邻且垂直；获取第一位置点和第二位置点的连线，得到第一连线，所述第一位置点和所述第二位置点均为所述第一基准端面图像中所述第一负极端子引出端的顶面边缘上的点，所述第一位置点和所述第二位置点的位置不同；确定所述第一连线与所述X轴的夹角，得到第一基准偏移角，根据所述端面图像确定实际偏移角，包括：在所述端面图像上建立坐标系，所述坐标系的X轴与所述端面图像的第一边缘平行，所述坐标系的Y轴与所述端面图像的第二边缘平行，所述第一边缘与所述第二边缘相邻且垂直；根据所述坐标系确定所述实际偏移角，所述待测电容包括第二负极端子，所述第二负极端子包括第二负极端子引出端和第二负极端子底端，所述第二负极端子底端接触地位于所述预定端面，根据所述坐标系确定所述实际偏移角，包括：获取第九位置点和第十位置点的连线，得到第五连线，所述第九位置点和所述第十位置点均为所述端面图像中所述第二负极端子引出端的顶面边缘上的一点，所述第九位置点和所述第十位置点的位置不同；确定所述第五连线与所述X轴的夹角，得到第一实际偏移角，将所述待测电容旋转对应的预定角度，获取所述待测电容的侧面图像，包括：将所述待测电容旋转第一预定角度，所述第一预定角度为所述第一实际偏移角减去所述第一基准偏移角得到的差值；获取所述待测电容的侧面图像，得到第一侧面图像，根据所述第一侧面图像确定第五表面的烧焦瑕疵，所述第五表面为所述第二负极端子的朝向所述第二负极端子底端的表面，根据所述侧面图像和所述端面图像确定所述待测电容端子的瑕疵，还包括：获取第十三位置点和第十四位置点的连线，得到第七连线，所述第十三位置点和所述第十四位置点均为所述端面图像中所述第二负极端子底端的边缘上的一点，所述第二负极端子底端的边缘为所述第二负极端子底端的远离所述第二负极端子引出端的边缘，所述第十三位置点和所述第十四位置点的位置不同；确定所述第七连线与所述第五连线的夹角，得到第一夹角；确定第一距离和第二距离，所述第一距离为所述第十三位置点到所述第五连线的距离，所述第二距离为所述第十四位置点到所述第五连线的距离；根据所述第一夹角、所述第一距离和所述第二距离确定所述第二负极端子是否歪斜，所述基准电容包括第一正极端子，所述第一正极端子包括第一正极端子引出端和第一正极端子底端，所述第一正极端子底端接触地位于所述基准预定端面，第二表面为所述第一正极端子引出端的朝向所述第一正极端子底端的表面，所述基准端面图像包括第二基准端面图像，获取所述第二基准端面图像的过程包括：控制所述基准电容旋转，并获取基准侧面图像，所述基准侧面图像为所述基准电容的侧面图像；在确定所述基准侧面图像中不存在所述第二表面的阴影的情况下，控制所述基准电容停止旋转；获取基准端面图像，确定所述基准端面图像为第二基准端面图像，根据所述基准端面图像确定基准偏移角，还包括：在所述第二基准端面图像上建立坐标系，所述坐标系的X轴与所述第二基准端面图像的第一边缘平行，所述坐标系的Y轴与所述第二基准端面图像的第二边缘平行，所述第一边缘与所述第二边缘相邻且垂直；获取第三位置点和第四位置点的连线，得到第二连线，所述第三位置点和所述第四位置点均为所述第二基准端面图像中所述第一正极端子引出端的顶面边缘上的一点，所述第三位置点和所述第四位置点的位置不同；确定所述第二连线与所述X轴的夹角，得到第二基准偏移角，所述待测电容包括第二正极端子，所述第二正极端子包括第二正极端子引出端和第二正极端子底端，所述第二正极端子底端接触地位于所述预定端面，根据所述坐标系确定所述实际偏移角，包括：获取第十一位置点和第十二位置点的连线，得到第六连线，所述第十一位置点和所述第十二位置点均为所述端面图像中所述第二正极端子引出端的顶面边缘上的一点，所述第十一位置点和所述第十二位置点的位置不同；确定所述第六连线与所述Y轴的夹角，得到第二实际偏移角，在将所述待测电容旋转第一预定角度之后，将所述待测电容旋转对应的预定角度，获取所述待测电容的侧面图像，还包括：将所述待测电容旋转第二预定角度，所述第二预定角度为90°与第一差值的和，所述第一差值为第二差值减去所述第一预定角度得到的差值，所述第二差值为所述第二实际偏移角与所述第二基准偏移角的差值；获取所述待测电容的侧面图像，得到第二侧面图像。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述基准电容包括第一负极端子，所述第一负极端子包括第一负极端子引出端和第一负极端子底端，所述第一负极端子底端接触地位于所述基准预定端面，第三表面为所述第一负极端子引出端的背向所述第一负极端子底端的表面，所述基准端面图像包括第三基准端面图像，获取所述第三基准端面图像的过程包括：

控制旋转所述基准电容旋转，并获取基准侧面图像，所述基准侧面图像为所述基准电容的侧面图像；

在确定所述基准侧面图像中不存在所述第三表面的阴影的情况下，控制所述基准电容停止旋转；

获取基准端面图像，确定所述基准端面图像为第三基准端面图像。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，根据所述基准端面图像确定基准偏移角，还包括：

在所述第三基准端面图像上建立坐标系，所述坐标系的X轴与所述第三基准端面图像的第一边缘平行，所述坐标系的Y轴与所述第三基准端面图像的第二边缘平行，所述第一边缘与所述第二边缘相邻且垂直；

获取第五位置点和第六位置点的连线，得到第三连线，所述第五位置点和所述第六位置点均为所述第三基准端面图像中所述第一负极端子引出端的顶面边缘上的一点，所述第五位置点和所述第六位置点的位置不同；

确定所述第三连线与所述X轴的夹角，得到第三基准偏移角。

4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述基准电容包括第一正极端子，所述第一正极端子包括第一正极端子引出端和第一正极端子底端，所述第一正极端子底端接触地位于所述基准预定端面，第四表面为所述第一正极端子引出端的背向所述第一正极端子底端的表面，所述基准端面图像包括第四基准端面图像，获取所述第四基准端面图像的过程包括：

控制所述基准电容旋转，并获取基准侧面图像，所述基准侧面图像为所述基准电容的侧面图像；

在确定所述基准侧面图像中不存在所述第四表面的阴影的情况下，控制所述基准电容停止旋转；

获取基准端面图像，确定所述基准端面图像为第四基准端面图像。

5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，根据所述基准端面图像确定基准偏移角，还包括：

在所述第四基准端面图像上建立坐标系，所述坐标系的X轴与所述第四基准端面图像的第一边缘平行，所述坐标系的Y轴与所述第四基准端面图像的第二边缘平行，所述第一边缘与所述第二边缘相邻且垂直；

获取第七位置点和第八位置点的连线，得到第四连线，所述第七位置点和所述第八位置点均为所述第四基准端面图像中所述第一正极端子引出端的顶面边缘上的一点，所述第七位置点和所述第八位置点的位置不同；

确定所述第四连线与所述X轴的夹角，得到第四基准偏移角。

6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，在将所述待测电容旋转第二预定角度之后，将所述待测电容旋转对应的预定角度，获取所述待测电容的侧面图像，还包括：

将所述待测电容旋转第三预定角度，所述第三预定角度为90°与第三差值的和，所述第三差值为第四差值减去所述第二差值得到的差值，所述第四差值为所述第一实际偏移角与所述第三基准偏移角的差值；

获取所述待测电容的侧面图像，得到第三侧面图像。

7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，在将所述待测电容旋转第三预定角度之后，将所述待测电容旋转对应的预定角度，获取所述待测电容的侧面图像，还包括：

将所述待测电容旋转第四预定角度，所述第四预定角度为90°与第五差值的和，所述第五差值为第六差值减去所述第四差值得到的差值，所述第六差值为所述第二实际偏移角与所述第四基准偏移角的差值；

获取所述待测电容的侧面图像，得到第四侧面图像。

8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，根据所述侧面图像和所述端面图像确定所述待测电容端子的瑕疵，包括：

根据所述第一侧面图像确定第五表面的烧焦瑕疵，所述第五表面为第二负极端子的朝向所述第二负极端子底端的表面；

根据所述第二侧面图像确定第六表面的烧焦瑕疵，所述第六表面为第二正极端子的朝向所述第二正极端子底端的表面；

根据所述第三侧面图像确定第七表面的烧焦瑕疵，所述第七表面为第二负极端子的背向所述第二负极端子底端的表面；

根据所述第四侧面图像确定第八表面的烧焦瑕疵，所述第八表面为第二正极端子的背向所述第二正极端子底端的表面。

9.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，根据所述第一夹角、所述第一距离和所述第二距离确定所述第二负极端子是否歪斜，包括：

在所述第一夹角在第一预定范围内、所述第一距离在第二预定范围内以及所述第二距离在第三预定范围内的情况下，确定所述第二负极端子不歪斜。

10.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述第二正极端子还包括第二正极端子底端，根据所述侧面图像和所述端面图像确定所述待测电容端子的瑕疵，还包括：

获取第十五位置点和第十六位置点的连线，得到第八连线，所述第十五位置点和所述第十六位置点均为所述端面图像中所述第二正极端子底端的边缘上的一点，所述第二正极端子底端的边缘为所述第二正极端子底端的远离所述第二正极端子引出端的边缘，所述第十五位置点和所述第十六位置点的位置不同；

确定所述第八连线与所述第六连线的夹角，得到第二夹角；

确定第三距离和第四距离，所述第三距离为所述第十五位置点到所述第六连线的距离，所述第四距离为所述第十六位置点到所述第六连线的距离；

根据所述第二夹角、所述第三距离和所述第四距离确定所述第二正极端子是否歪斜。

11.根据权利要求10所述的检测方法，其特征在于，根据所述第二夹角、所述第三距离和所述第四距离确定所述第二正极端子是否歪斜，包括：

在所述第二夹角在第四预定范围内、所述第三距离在第五预定范围内以及所述第四距离在第六预定范围内的情况下，确定所述第二正极端子不歪斜。

12.一种电容端子的瑕疵的检测装置，其特征在于，待测电容包括待测电容本体和待测电容端子，所述待测电容端子位于在所述待测电容本体的预定端面上，所述检测装置包括：

第一获取单元，用于获取基准端面图像，所述基准端面图像包括基准电容端子的图像以及基准预定端面的图像，基准电容包括基准电容本体和所述基准电容端子，其中，所述基准电容端子位于所述基准电容本体的所述基准预定端面上；

第二获取单元，用于获取所述待测电容的端面图像，所述端面图像包括所述待测电容端子的图像以及所述待测电容端子所在端面的图像；

第一确定单元，用于根据所述基准端面图像确定基准偏移角，根据所述端面图像确定实际偏移角；

第三获取单元，用于控制所述待测电容旋转预定角度，获取所述待测电容端子的侧面图像，所述预定角度为根据所述基准偏移角和所述实际偏移角计算得到的；

第二确定单元，用于根据所述侧面图像和所述端面图像确定所述待测电容端子的瑕疵，所述基准电容包括第一负极端子，所述第一负极端子包括第一负极端子引出端和第一负极端子底端，所述第一负极端子底端接触地位于所述基准预定端面，第一表面为所述第一负极端子引出端的朝向所述第一负极端子底端的表面，且所述第一表面与所述基准预定端面垂直，所述基准端面图像包括第一基准端面图像，所述第一获取单元包括第一获取模块、第一确定模块和第二获取模块，其中，所述第一获取模块用于控制所述基准电容旋转，并获取基准侧面图像，所述基准侧面图像为所述基准电容的侧面图像；所述第一确定模块用于在确定所述基准侧面图像中不存在所述第一表面的阴影的情况下，控制所述基准电容停止旋转，确定所述基准侧面图像为第一基准侧面图像；所述第二获取模块用于获取基准端面图像，确定所述基准端面图像为第一基准端面图像，所述第一确定单元还包括第一处理模块、第三获取模块和第二确定模块，其中，所述第一处理模块用于在所述第一基准端面图像上建立坐标系，所述坐标系的X轴与所述第一基准端面图像的第一边缘平行，所述坐标系的Y轴与所述第一基准端面图像的第二边缘平行，所述第一边缘与所述第二边缘相邻且垂直；所述第三获取模块用于获取第一位置点和第二位置点的连线，得到第一连线，所述第一位置点和所述第二位置点均为所述第一基准端面图像中所述第一负极端子引出端的顶面边缘上的点，所述第一位置点和所述第二位置点的位置不同；所述第二确定模块用于确定所述第一连线与所述X轴的夹角，得到第一基准偏移角，所述第一确定单元还包括第五处理模块和第九确定模块，其中，所述第五处理模块用于在所述端面图像上建立坐标系，所述坐标系的X轴与所述端面图像的第一边缘平行，所述坐标系的Y轴与所述端面图像的第二边缘平行，所述第一边缘与所述第二边缘相邻且垂直；所述第九确定模块用于根据所述坐标系确定所述实际偏移角，所述待测电容包括第二负极端子，所述第二负极端子包括第二负极端子引出端和第二负极端子底端，所述第二负极端子底端接触地位于所述预定端面，所述第九确定模块包括第一获取子模块和第一确定子模块，其中，所述第一获取子模块用于获取第九位置点和第十位置点的连线，得到第五连线，所述第九位置点和所述第十位置点均为所述端面图像中所述第二负极端子引出端的顶面边缘上的一点，所述第九位置点和所述第十位置点的位置不同；所述第一确定子模块用于确定所述第五连线与所述X轴的夹角，得到第一实际偏移角，所述第三获取单元包括第六处理模块和第十二获取模块，其中，所述第六处理模块用于将所述待测电容旋转第一预定角度，所述第一预定角度为所述第一实际偏移角减去所述第一基准偏移角得到的差值；所述第十二获取模块用于获取所述待测电容的侧面图像，得到第一侧面图像，根据所述第一侧面图像确定第五表面的烧焦瑕疵，所述第五表面为所述第二负极端子的朝向所述第二负极端子底端的表面，所述第二确定单元还包括第十六获取模块、第十四确定模块、第十五确定模块和第十六确定模块，其中，所述第十六获取模块用于获取第十三位置点和第十四位置点的连线，得到第七连线，所述第十三位置点和所述第十四位置点均为所述端面图像中所述第二负极端子底端的边缘上的一点，所述第二负极端子底端的边缘为所述第二负极端子底端的远离所述第二负极端子引出端的边缘，所述第十三位置点和所述第十四位置点的位置不同；所述第十四确定模块用于确定所述第七连线与所述第五连线的夹角，得到第一夹角；所述第十五确定模块用于确定第一距离和第二距离，所述第一距离为所述第十三位置点到所述第五连线的距离，所述第二距离为所述第十四位置点到所述第五连线的距离；所述第十六确定模块用于根据所述第一夹角、所述第一距离和所述第二距离确定所述第二负极端子是否歪斜，所述基准电容包括第一正极端子，所述第一正极端子包括第一正极端子引出端和第一正极端子底端，所述第一正极端子底端接触地位于所述基准预定端面，第二表面为所述第一正极端子引出端的朝向所述第一正极端子底端的表面，所述基准端面图像包括第二基准端面图像，所述第一获取单元包括第四获取模块、第三确定模块和第五获取模块，其中，所述第四获取模块用于控制所述基准电容旋转，并获取基准侧面图像，所述基准侧面图像为所述基准电容的侧面图像；所述第三确定模块用于在确定所述基准侧面图像中不存在所述第二表面的阴影的情况下，控制所述基准电容停止旋转，确定所述基准侧面图像为第二基准侧面图像，所述第一确定单元还包括第二处理模块、第六获取模块和第四确定模块，其中，所述第二处理模块用于在所述第二基准端面图像上建立坐标系，所述坐标系的X轴与所述第二基准端面图像的第一边缘平行，所述坐标系的Y轴与所述第二基准端面图像的第二边缘平行，所述第一边缘与所述第二边缘相邻且垂直；所述第六获取模块用于获取第三位置点和第四位置点的连线，得到第二连线，所述第三位置点和所述第四位置点均为所述第二基准端面图像中所述第一正极端子引出端的顶面边缘上的一点，所述第三位置点和所述第四位置点的位置不同；所述第四确定模块用于确定所述第二连线与所述X轴的夹角，得到第二基准偏移角，所述待测电容包括第二正极端子，所述第二正极端子包括第二正极端子引出端和第二正极端子底端，所述第二正极端子底端接触地位于所述预定端面，根所述第九确定模块还包括第二获取子模块和第二确定子模块，其中，所述第二获取子模块用于获取第十一位置点和第十二位置点的连线，得到第六连线，所述第十一位置点和所述第十二位置点均为所述端面图像中所述第二正极端子引出端的顶面边缘上的一点，所述第十一位置点和所述第十二位置点的位置不同；所述第二确定子模块用于确定所述第六连线与所述Y轴的夹角，得到第二实际偏移角，所述第三获取单元还包括第七处理模块和第十三获取模块，其中，所述第七处理模块用于在将所述待测电容旋转第一预定角度之后，将所述待测电容旋转第二预定角度，所述第二预定角度为90°与第一差值的和，所述第一差值为第二差值减去所述第一预定角度得到的差值，所述第二差值为所述第二实际偏移角与所述第二基准偏移角的差值；所述第十三获取模块用于获取所述待测电容的侧面图像，得到第二侧面图像。

13.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行权利要求1至11中任意一项所述的检测方法。

14.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至11中任意一项所述的检测方法。