CN111521874A - 一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法及装置 - Google Patents

一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法及装置 Download PDF

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CN111521874A CN202010392934.XA CN202010392934A CN111521874A CN 111521874 A CN111521874 A CN 111521874A CN 202010392934 A CN202010392934 A CN 202010392934A CN 111521874 A CN111521874 A CN 111521874A
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Abstract

本发明实施例公开了一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法及装置。其中,隔离开关的静触头的回路电阻测试方法包括:获取第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,其中,第一组阻值包括:第一支撑连接部件与承载部件之间的第一回路电阻,以及第二支撑连接部件与承载部件之间的第二回路电阻,第二组阻值包括:第一支撑连接部件与静触杆之间的第三回路电阻,以及第二支撑连接部件与静触杆之间的第四回路电阻;根据第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定静触头的回路电阻是否合格。本发明实施例提供的技术方案可以准确判断静触头的回路电阻是否合格,避免在静触头一侧的软连接存在接触不良时,导致误判的情况发生。

Description

一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法及装置
技术领域
本发明涉及测试技术领域,尤其涉及一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法及装置。
背景技术
隔离开关是变电站中广泛使用的电力设备之一,可用于隔离电源、倒闸操作,在电力***中具有非常重要的作用。隔离开关可包括从上至下依次设置的静触头、主刀闸、操作瓷瓶、支撑瓷瓶、底座等。
隔离开关在生产维护过程中需要进行回路电阻的测试,回路电阻是反应隔离开关质量和运行状态的一项重要技术指标。但是,通过测量隔离开关的静触头两端的回路电阻,以判断隔离开关的静触头的回路电阻是否合格时,会存在误判的问题。
发明内容
本发明实施例提供一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法及装置,以实现准确判断静触头的回路电阻是否合格,从而避免由于静触头回路采用两个软连接并联结构,当并联的两个软连接中的一个软连接与静触杆、横担铝板连接处接触不良,而另一个软连接阻值正常,导致并联后整体的阻值与正常阻值相差不大,从而会误认为测量的静触头的整体回路电阻合格,但实际局部回路电阻不合格会引起静触头局部发热,将严重影响隔离开关的安全运行的情况的发生。
第一方面,本发明实施例提供了一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法,静触头包括:母线夹、承载部件、静触杆、第一支撑连接部件和第二支撑连接部件,母线夹固定在承载部件上,承载部件与静触杆间隔设置,承载部件的第一端与第一支撑连接部件的第一端连接,第一支撑连接部件的第二端与静触杆的第一端连接,承载部件的第二端与第二支撑连接部件的第一端连接,第二支撑连接部件的第二端与静触杆的第二端连接,测试方法包括:
获取第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,其中,第一组阻值包括:第一支撑连接部件与承载部件之间的第一回路电阻,以及第二支撑连接部件与承载部件之间的第二回路电阻,第二组阻值包括:第一支撑连接部件与静触杆之间的第三回路电阻,以及第二支撑连接部件与静触杆之间的第四回路电阻;
根据第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定静触头的回路电阻是否合格。
进一步地,获取第一组阻值和第二组阻值中的至少一组包括:获取第一组阻值;
根据第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定静触头的回路电阻是否合格包括:
若第一回路电阻和第二回路电阻中的最大值与最小值的差值与第一回路电阻和第二回路电阻中的最小值的比值大于或等于第一阈值,则确定第一回路电阻和第二回路电阻中的较大的回路电阻不合格。
进一步地,获取第一组阻值和第二组阻值中的至少一组包括:获取第二组阻值;
根据第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定静触头的回路电阻是否合格包括:
若第三回路电阻和第四回路电阻中的最大值与最小值的差值与第三回路电阻和第四回路电阻中的最小值的比值大于或等于第二阈值,则确定第三回路电阻和第四回路电阻中的较大的回路电阻不合格。
进一步地,在根据第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定静触头的回路电阻是否合格之前,还包括:
获取母线夹与静触杆之间的整体回路电阻;
相应的,若整体回路电阻在第三阈值范围内,则根据第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定静触头的回路电阻是否合格。
进一步地,还包括:若整体回路电阻不在第三阈值范围内,则确定静触头的回路电阻不合格。
进一步地,获取第一组阻值和第二组阻值中的至少一组包括:获取第一组阻值和第二组阻值;
根据第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定静触头的回路电阻是否合格包括:
若第一回路电阻和第二回路电阻中的最大值与最小值的差值与第一回路电阻和第二回路电阻中的最小值的比值小于第一阈值,且第三回路电阻和第四回路电阻中的最大值与最小值的差值与第三回路电阻和第四回路电阻中的最小值的比值小于第二阈值,则确定静触头的回路电阻合格。
进一步地,承载部件的第一端与第一支撑连接部件的第一端为可拆卸连接,第一支撑连接部件的第二端与静触杆的第一端为可拆卸连接,承载部件的第二端与第二支撑连接部件的第一端为可拆卸连接,第二支撑连接部件的第二端与静触杆的第二端为可拆卸连接。
第二方面,本发明实施例还提供了一种隔离开关的静触头的回路电阻测试装置,静触头包括:母线夹、承载部件、静触杆、第一支撑连接部件和第二支撑连接部件,母线夹固定在承载部件上,承载部件与静触杆间隔设置,承载部件的第一端与第一支撑连接部件的第一端连接,第一支撑连接部件的第二端与静触杆的第一端连接,承载部件的第二端与第二支撑连接部件的第一端连接,第二支撑连接部件的第二端与静触杆的第二端连接,测试装置包括:
第一获取模块,用于获取第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,其中,第一组阻值包括:第一支撑连接部件与承载部件之间的第一回路电阻,以及第二支撑连接部件与承载部件之间的第二回路电阻,第二组阻值包括:第一支撑连接部件与静触杆之间的第三回路电阻,以及第二支撑连接部件与静触杆之间的第四回路电阻;
确定模块,用于根据第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定静触头的回路电阻是否合格。
进一步地,第一获取模块用于获取第一组阻值;
确定模块用于若第一回路电阻和第二回路电阻中的最大值与最小值的差值与第一回路电阻和第二回路电阻中的最小值的比值大于或等于第一阈值,则确定第一回路电阻和第二回路电阻中的较大的回路电阻不合格;
或者,
第一获取模块用于获取第二组阻值;
确定模块用于若第三回路电阻和第四回路电阻中的最大值与最小值的差值与第三回路电阻和第四回路电阻中的最小值的比值大于或等于第二阈值,则确定第三回路电阻和第四回路电阻中的较大的回路电阻不合格。
进一步地,还包括:第二获取模块,用于在确定模块根据第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定静触头的回路电阻是否合格之前,获取母线夹与静触杆之间的整体回路电阻;
相应的,确定模块用于若整体回路电阻在第三阈值范围内,则根据第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定静触头的回路电阻是否合格;
第一获取模块用于获取第一组阻值和第二组阻值;
确定模块用于若第一回路电阻和第二回路电阻中的最大值与最小值的差值与第一回路电阻和第二回路电阻中的最小值的比值小于第一阈值,且第三回路电阻和第四回路电阻的差值中的最大值与最小值与第三回路电阻和第四回路电阻中的最小值的比值小于第二阈值,则确定静触头的回路电阻合格;
确定模块还用于若整体回路电阻不在第三阈值范围内,则确定静触头的回路电阻不合格。
本发明实施例的技术方案中,获取第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,其中,第一组阻值包括:第一支撑连接部件与承载部件之间的第一回路电阻,以及第二支撑连接部件与承载部件之间的第二回路电阻,第二组阻值包括:第一支撑连接部件与静触杆之间的第三回路电阻,以及第二支撑连接部件与静触杆之间的第四回路电阻;根据第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定静触头的回路电阻是否合格,可在静触头一侧存在接触不良时,准确测试出静触头的回路电阻不合格,避免测量静触头的整体回路电阻来判断是否合格,会导致误判的情况发生。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法的流程图;
图2为本发明实施例提供的一种隔离开关的结构示意图;
图3为本发明实施例提供的一种隔离开关的静触头的结构示意图;
图4为本发明实施例提供的一种隔离开关的静触头的等效电路图;
图5为本发明实施例提供的又一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法的流程图;
图6为本发明实施例提供的又一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法的流程图;
图7为本发明实施例提供的又一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法的流程图;
图8为本发明实施例提供的又一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法的流程图;
图9为本发明实施例提供的又一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法的流程图;
图10为本发明实施例提供的一种隔离开关的静触头的回路电阻测试装置的结构示意图;
图11为本发明实施例提供的又一种隔离开关的静触头的回路电阻测试装置的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明,而非对本发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
本发明实施例提供一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法。图1为本发明实施例提供的一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法的流程图。图2为本发明实施例提供的一种隔离开关的结构示意图。图3为本发明实施例提供的一种隔离开关的静触头的结构示意图。图4为本发明实施例提供的一种隔离开关的静触头的等效电路图。其中,静触头1包括:母线夹11、承载部件12、静触杆13、第一支撑连接部件14和第二支撑连接部件15,母线夹11固定在承载部件12上,承载部件12与静触杆13间隔设置,承载部件12的第一端与第一支撑连接部件14的第一端连接(对应图3中的连接处121),第一支撑连接部件14的第二端与静触杆13的第一端连接(对应图3中的连接处131),承载部件12的第二端与第二支撑连接部件15的第一端连接(对应图3中的连接处122),第二支撑连接部件15的第二端与静触杆13的第二端连接(对应图3中的连接处132)。动触头2可夹紧或松开静触杆13,以实现隔离开关的合闸或分闸。该隔离开关的静触头的回路电阻测试方法可以由隔离开关的静触头的回路电阻测试装置来执行,该装置可以由软件和/或硬件的方式实现,该装置可以集成在电阻测量仪等设备中等。该测试方法具体可包括如下步骤:
步骤110、获取第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,其中,第一组阻值包括:第一支撑连接部件与承载部件之间的第一回路电阻,以及第二支撑连接部件与承载部件之间的第二回路电阻,第二组阻值包括:第一支撑连接部件与静触杆之间的第三回路电阻,以及第二支撑连接部件与静触杆之间的第四回路电阻。
其中,承载部件12可以是横担铝板。第一支撑连接部件14和第二支撑连接部件15可以是软连接。可将电阻测量仪的两个测试端分别放置于第一支撑连接部件14和承载部件12上,以测量第一支撑连接部件14与承载部件12之间的第一回路电阻RA1。可将电阻测量仪的两个测试端分别放置于第二支撑连接部件15和承载部件12上,以测量第二支撑连接部件15与承载部件12之间的第二回路电阻RA2。可将电阻测量仪的两个测试端分别放置于第一支撑连接部件14和静触杆13上,以测量第一支撑连接部件14与静触杆13之间的第三回路电阻RB1。可将电阻测量仪的两个测试端分别放置于第二支撑连接部件15和静触杆13上,以测量第二支撑连接部件15与静触杆13之间的第四回路电阻RB2
可选的,承载部件12的第一端与第一支撑连接部件14的第一端为可拆卸连接。可选的,第一支撑连接部件14的第二端与静触杆13的第一端为可拆卸连接。可选的,承载部件12的第二端与第二支撑连接部件15的第一端为可拆卸连接。可选的,第二支撑连接部件15的第二端与静触杆13的第二端为可拆卸连接。其中,结合图2至图4所示,整个静触头1的回路电阻包括:母线夹1本身的电阻R7、第一支撑连接部件14本身的电阻R3、第二支撑连接部件15本身的电阻R4、第一支撑连接部件14与承载部件12之间的接触电阻R1(对应图3中的连接处121)、第二支撑连接部件15与承载部件12之间的接触电阻R2(对应图3中的连接处122)、第一支撑连接部件14与静触杆13之间的接触电阻R5(对应图3中的连接处131)和第二支撑连接部件15与静触杆13之间的接触电阻R6(对应图3中的连接处132)。整个静触头1的整体回路电阻R0即母线夹11和静触杆13之间的回路电阻,其中,R0=R7+(R1+R3+R5)//(R2+R4+R6),R3和R4的阻值较小,可忽略不计,其中,符号//表示并联。若静触头1的各连接处接触良好,则R1和R2大小相等或相差不大,R3和R4大小相等或相差不大,R5和R6大小相等或相差不大;第一回路电阻RA1和第二回路电阻RA2的大小相等或相差不大;第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2的大小相等或相差不大。隔离开关的型号可以是220kVGW16型。
步骤120、根据第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定静触头的回路电阻是否合格。
示例性的,若第一支撑连接部件14与承载部件12连接处存在接触不良,或,第二支撑连接部件15与承载部件12连接处存在接触不良,即静触头1的一侧存在接触不良时,将电阻测量仪的两个测试端分别放置于第一支撑连接部件14和承载部件12上,测量第一支撑连接部件14与承载部件12之间的第一回路电阻RA1,然后将电阻测量仪的两个测试端分别放置于第二支撑连接部件15和承载部件12上,测量第二支撑连接部件15与承载部件12之间的第二回路电阻RA2,第一回路电阻RA1与第二回路电阻RA2之间的差值变化明显,差值会较大,超过第四阈值,从而可知第一回路电阻RA1和第二回路电阻RA2中较大值不合格,对应的连接处(其中,第一回路电阻RA1与连接处121对应,第二回路电阻RA2与连接处122对应)存在接触不良等问题,从而避免静触头一侧存在接触不良时,将电阻测量仪的两个测试端分别放置于母线夹和静触杆上,以测量静触头的整体回路电阻来判断是否合格时,由于整体回路电阻变化不大,仍在合格范围内,会导致误判的情况发生,进而造成局部回路电阻不合格会引起静触头局部发热,严重影响隔离开关的安全运行等情况的发生,且无需拆卸一侧的支撑连接部件,以精确测量另一侧的支撑连接部件的接触电阻,从而可以降低高空作业难度,提高检修效率。其中,若将电阻测量仪的两个测试端分别放置于第一支撑连接部件14的第一端和承载部件12上,则测量得到的第一回路电阻RA1=(R1)//(R2+R4+R6+R3+R5)。若将电阻测量仪的两个测试端分别放置于第二支撑连接部件15的第一端和承载部件12上,则测量得到的第二回路电阻RA2=(R2)//(R4+R6+R1+R3+R5)。示例性的,若第一支撑连接部件14与承载部件12连接处存在接触不良,第二支撑连接部件15与承载部件12连接处接触良好,则R1远大于R2,示例性的,R1=2R2,RA1≈R1,RA2≈R2,RA1与RA2的差值近似等于R2,RA1与RA2的差值较大,远大于R0的变化量,R0的变化量为静触头一侧接触不良时的R0与接触良好时的R0的差值,R0的变化量小于R2的一半。
示例性的,若第一支撑连接部件14与静触杆13连接处存在接触不良,或,第二支撑连接部件15与静触杆13连接处存在接触不良,即静触头1一侧存在接触不良时,将电阻测量仪的两个测试端分别放置于第一支撑连接部件14与静触杆13上,测量第一支撑连接部件14与静触杆13之间的第三回路电阻RB1,然后将电阻测量仪的两个测试端分别放置于第二支撑连接部件15和静触杆13上,测量第二支撑连接部件15与静触杆13之间的第四回路电阻RB2,第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2之间的差值变化明显,差值会较大,超过第五阈值,从而可知第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2中较大值不合格,对应的连接处(其中,第三回路电阻RB1与连接处131对应,第四回路电阻RB2与连接处132对应)存在接触不良等问题,从而避免静触头一侧存在接触不良时,将电阻测量仪的两个测试端分别放置于母线夹和静触杆上,以测量静触头的整体回路电阻来判断是否合格时,由于整体回路电阻变化不大,仍在合格范围内,会导致误判的情况发生,进而造成局部回路电阻不合格会引起静触头局部发热,严重影响隔离开关的安全运行等情况的发生,且无需拆卸一侧的支撑连接部件,以精确测量另一侧的支撑连接部件的接触电阻,从而可以降低高空作业难度,提高检修效率。其中,若将电阻测量仪的两个测试端分别放置于第一支撑连接部件14的第一端和静触杆13上,则测量得到的第三回路电阻RB1=(R5+R3)//(R2+R4+R6+R1)。若将电阻测量仪的两个测试端分别放置于第二支撑连接部件15的第一端和静触杆13上,则测量得到的第四回路电阻RB2=(R4+R6)//(R2+R1+R3+R5)。
本实施例的技术方案中,获取第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,其中,第一组阻值包括:第一支撑连接部件与承载部件之间的第一回路电阻,以及第二支撑连接部件与承载部件之间的第二回路电阻,第二组阻值包括:第一支撑连接部件与静触杆之间的第三回路电阻,以及第二支撑连接部件与静触杆之间的第四回路电阻;根据第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定静触头的回路电阻是否合格,可在静触头一侧存在接触不良时,准确测试出静触头的回路电阻不合格,避免测量静触头的整体回路电阻来判断是否合格,会导致误判的情况发生。
本发明实施例提供又一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法。图5为本发明实施例提供的又一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法的流程图。在上述实施例的基础上,该测试方法包括:
步骤210、获取第一组阻值,其中,第一组阻值包括:第一支撑连接部件与承载部件之间的第一回路电阻,以及第二支撑连接部件与承载部件之间的第二回路电阻。
步骤220、若第一回路电阻和第二回路电阻中的最大值与最小值的差值与第一回路电阻和第二回路电阻中的最小值的比值大于或等于第一阈值,则确定第一回路电阻和第二回路电阻中的较大的回路电阻不合格。
其中,可通过比较第一回路电阻RA1和第二回路电阻RA2,将取值较大的记为RAmax,取值较小的记为RAmin,若(RAmax-RAmin)/RAmin大于或等于第一阈值,则确定RAmax不合格,与RAmax对应的连接处存在接触不良等问题。相比于比较RAmax-RAmin与第四阈值来判断是否合格的方式,比较(RAmax-RAmin)/RAmin与第一阈值来判断是否合格,可使多种类型的静触头共用相同的第一阈值,从而提高适用性。第一阈值的取值范围可为80%-120%,第一阈值的取值在上述范围内时,回路电阻值是否合格的判断最准确,可以避免取值裕度过小造成误判(因为回路电阻是否合格的判断本身就有一定的裕度,在一定范围内合格即可)。
本发明实施例提供又一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法。图6为本发明实施例提供的又一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法的流程图。在上述实施例的基础上,该测试方法包括:
步骤310、获取第二组阻值,其中,第二组阻值包括:第一支撑连接部件与静触杆之间的第三回路电阻,以及第二支撑连接部件与静触杆之间的第四回路电阻。
步骤320、若第三回路电阻和第四回路电阻中的最大值与最小值的差值与第三回路电阻和第四回路电阻中的最小值的比值大于或等于第二阈值,则确定第三回路电阻和第四回路电阻中的较大的回路电阻不合格。
其中,可通过比较第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2,将取值较大的记为RBmax,取值较小的记为RBmin,若(RBmax-RBmin)/RBmin大于或等于第二阈值,则确定RBmax不合格,与RBmax对应的连接处存在接触不良等问题。相比于比较RBmax-RBmin与第五阈值来判断是否合格的方式,比较(RBmax-RBmin)/RBmin与第二阈值来判断是否合格,可使多种类型的静触头共用相同的第二阈值,从而提高适用性。第二阈值的取值范围可为80%-120%,第二阈值的取值在上述范围内时,回路电阻值是否合格的判断最准确,可以避免取值裕度过小造成误判(因为回路电阻是否合格的判断本身就有一定的裕度,在一定范围内合格即可)。
本发明实施例提供又一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法。图7为本发明实施例提供的又一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法的流程图。在上述实施例的基础上,该测试方法包括:
步骤410、获取母线夹与静触杆之间的整体回路电阻。
其中,可将电阻测量仪的两个测试端分别放置于母线夹11与静触杆13上,以测量母线夹与静触杆之间的整体回路电阻R0。
步骤420、若整体回路电阻在第三阈值范围内,则获取第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,其中,第一组阻值包括:第一支撑连接部件与承载部件之间的第一回路电阻,以及第二支撑连接部件与承载部件之间的第二回路电阻,第二组阻值包括:第一支撑连接部件与静触杆之间的第三回路电阻,以及第二支撑连接部件与静触杆之间的第四回路电阻。
其中,若整体回路电阻R0在第三阈值范围内,则需要进一步判断是否存在静触头一侧接触不良的情况。可根据静触头的产品说明书,设置第三阈值范围。
步骤430、根据第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定静触头的回路电阻是否合格。
其中,可获取第一组阻值和第二组阻值;若第一回路电阻RA1和第二回路电阻RA2中的最大值RAmax与最小值RAmin的差值RAmax-RAmin与第一回路电阻RA1和第二回路电阻RA2中的最小值RAmin的比值(RAmax-RAmin)/RAmin小于第一阈值,且第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2中的最大值RBmax与最小值RBmin的差值RBmax-RBmin与第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2中的最小值RBmin的比值(RBmax-RBmin)/RBmin小于第二阈值,则确定静触头的回路电阻合格。
步骤440、若整体回路电阻不在第三阈值范围内,则确定静触头的回路电阻不合格。
其中,若整体回路电阻R0不在第三阈值范围内,则说明静触头两侧的支撑连接部件存在接触不良等问题。
本发明实施例提供又一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法。图8为本发明实施例提供的又一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法的流程图。在上述实施例的基础上,该测试方法包括:
步骤510、获取母线夹与静触杆之间的整体回路电阻。
步骤520、判断整体回路电阻是否在第三阈值范围内。
其中,若整体回路电阻在第三阈值范围内,则执行步骤530。若整体回路电阻不在第三阈值范围内,则执行步骤600。
步骤530、获取第一组阻值,其中,第一组阻值包括:第一支撑连接部件与承载部件之间的第一回路电阻,以及第二支撑连接部件与承载部件之间的第二回路电阻。
步骤540、判断第一回路电阻和第二回路电阻中的最大值与最小值的差值与第一回路电阻和第二回路电阻中的最小值的比值是否大于或等于第一阈值。
其中,若第一回路电阻RA1和第二回路电阻RA2中的最大值RAmax与最小值RAmin的差值与第一回路电阻RA1和第二回路电阻RA2中的最小值RAmin的比值(RAmax-RAmin)/RAmin大于或等于第一阈值,则说明第一支撑连接部件14与承载部件12连接处121和第二支撑连接部件15与承载部件12连接处122中的一个接触不良,具体是RAmax对应的连接处接触不良,并执行步骤580。若第一回路电阻RA1和第二回路电阻RA2中的最大值RAmax与最小值RAmin的差值与第一回路电阻RA1和第二回路电阻RA2中的最小值RAmin的比值(RAmax-RAmin)/RAmin小于第一阈值,则说明第一支撑连接部件14与承载部件12连接处121和第二支撑连接部件15与承载部件12连接处122均接触良好,还需判断第一支撑连接部件14与静触杆13连接处131和第二支撑连接部件15与静触杆13连接处132是否接触良好,并执行步骤550。
步骤550、获取第二组阻值,其中,第二组阻值包括:第一支撑连接部件与静触杆之间的第三回路电阻,以及第二支撑连接部件与静触杆之间的第四回路电阻。
步骤560、判断第三回路电阻和第四回路电阻中的最大值与最小值的差值与第三回路电阻和第四回路电阻中的最小值的比值是否大于或等于第二阈值。
其中,若第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2中的最大值RBmax与最小值RBmin的差值RBmax-RBmin与第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2中的最小值RBmin的比值(RBmax-RBmin)/RBmin大于或等于第二阈值,则第一支撑连接部件14与静触杆13连接处131和第二支撑连接部件15与静触杆13连接处132中的一个接触不良,具体是RBmax对应的连接处接触不良,并执行步骤590。若第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2中的最大值RBmax与最小值RBmin的差值RBmax-RBmin与第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2中的最小值RBmin的比值(RBmax-RBmin)/RBmin小于第二阈值,则说明第一支撑连接部件14与静触杆13连接处131和第二支撑连接部件15与静触杆13连接处132均接触良好,并执行步骤570。
步骤570、确定静触头的回路电阻合格。
步骤580、确定第一回路电阻和第二回路电阻中的较大的回路电阻不合格。
步骤590、确定第三回路电阻和第四回路电阻中的较大的回路电阻不合格。
步骤600、确定静触头的回路电阻不合格。
本发明实施例提供又一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法。图9为本发明实施例提供的又一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法的流程图。在上述实施例的基础上,该测试方法包括:
步骤610、获取母线夹与静触杆之间的整体回路电阻。
步骤620、判断整体回路电阻是否在第三阈值范围内。
其中,若整体回路电阻在第三阈值范围内,则执行步骤630。若整体回路电阻不在第三阈值范围内,则执行步骤700。
步骤630、获取第二组阻值,其中,第二组阻值包括:第一支撑连接部件与静触杆之间的第三回路电阻,以及第二支撑连接部件与静触杆之间的第四回路电阻。
步骤640、判断第三回路电阻和第四回路电阻中的最大值与最小值的差值与第三回路电阻和第四回路电阻中的最小值的比值是否大于或等于第二阈值。
其中,若第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2中的最大值RBmax与最小值RBmin的差值RBmax-RBmin与第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2中的最小值RBmin的比值(RBmax-RBmin)/RBmin大于或等于第二阈值,则执行步骤690。若第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2中的最大值RBmax与最小值RBmin的差值RBmax-RBmin与第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2中的最小值RBmin的比值(RBmax-RBmin)/RBmin小于第二阈值,则执行步骤650。
步骤650、获取第一组阻值,其中,第一组阻值包括:第一支撑连接部件与承载部件之间的第一回路电阻,以及第二支撑连接部件与承载部件之间的第二回路电阻。
步骤660、判断第一回路电阻和第二回路电阻中的最大值与最小值的差值与第一回路电阻和第二回路电阻中的最小值的比值是否大于或等于第一阈值。
其中,若第一回路电阻RA1和第二回路电阻RA2中的最大值RAmax与最小值RAmin的差值RAmax-RAmin与第一回路电阻RA1和第二回路电阻RA2中的最小值RAmin的比值(RAmax-RAmin)/RAmin大于或等于第一阈值,则执行步骤680。若第一回路电阻RA1和第二回路电阻RA2中的最大值RAmax与最小值RAmin的差值RAmax-RAmin与第一回路电阻RA1和第二回路电阻RA2中的最小值RAmin的比值(RAmax-RAmin)/RAmin小于第一阈值,则执行步骤670。
步骤670、确定静触头的回路电阻合格。
步骤680、确定第一回路电阻和第二回路电阻中的较大的回路电阻不合格。
步骤690、确定第三回路电阻和第四回路电阻中的较大的回路电阻不合格。
步骤700、确定静触头的回路电阻不合格。
本发明实施例提供一种隔离开关的静触头的回路电阻测试装置。图10为本发明实施例提供的一种隔离开关的静触头的回路电阻测试装置的结构示意图。该隔离开关的静触头的回路电阻测试装置可用于执行本发明任意实施例提供的隔离开关的静触头的回路电阻测试方法。其中,静触头1包括:母线夹11、承载部件12、静触杆13、第一支撑连接部件14和第二支撑连接部件15,母线夹11固定在承载部件12上,承载部件12与静触杆13间隔设置,承载部件12的第一端与第一支撑连接部件14的第一端连接,第一支撑连接部件14的第二端与静触杆13的第一端连接,承载部件12的第二端与第二支撑连接部件15的第一端连接,第二支撑连接部件15的第二端与静触杆13的第二端连接。测试装置包括:第一获取模块710和确定模块720。
其中,第一获取模块710用于获取第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,其中,第一组阻值包括:第一支撑连接部件14与承载部件12之间的第一回路电阻RA1,以及第二支撑连接部件15与承载部件12之间的第二回路电阻RA2,第二组阻值包括:第一支撑连接部件14与静触杆13之间的第三回路电阻RB1,以及第二支撑连接部件15与静触杆13之间的第四回路电阻RB2;确定模块720用于根据第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定静触头的回路电阻是否合格。
可选的,第一获取模块710用于获取第一组阻值;确定模块720用于若第一回路电阻RA1和第二回路电阻RA2中的最大值RAmax与最小值RAmin的差值与第一回路电阻RA1和第二回路电阻RA2中的最小值RAmin的比值(RAmax-RAmin)/RAmin大于或等于第一阈值,则确定第一回路电阻RA1和第二回路电阻RA2中的较大的回路电阻不合格。
可选的,第一获取模块710用于获取第二组阻值;确定模块720用于若第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2中的最大值RBmax与最小值RBmin的差值RBmax-RBmin与第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2中的最小值RBmin的比值(RBmax-RBmin)/RBmin大于或等于第二阈值,则确定第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2中的较大的回路电阻不合格。
可选的,在上述实施例的基础上,图11为本发明实施例提供的又一种隔离开关的静触头的回路电阻测试装置的结构示意图,隔离开关的静触头的回路电阻测试装置还包括:第二获取模块730,用于在确定模块720根据第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定静触头的回路电阻是否合格之前,获取母线夹与静触杆之间的整体回路电阻;相应的,确定模块710用于若整体回路电阻在第三阈值范围内,则根据第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定静触头的回路电阻是否合格。
可选的,在上述实施例的基础上,第一获取模块用于获取第一组阻值和第二组阻值;确定模块720用于若第一回路电阻RA1和第二回路电阻RA2中的最大值RAmax与最小值RAmin的差值RAmax-RAmin与第一回路电阻RA1和第二回路电阻RA2中的最小值RAmin的比值(RAmax-RAmin)/RAmin小于第一阈值,且第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2中的最大值RBmax与最小值RBmin的差值RBmax-RBmin与第三回路电阻RB1和第四回路电阻RB2中的最小值RBmin的比值(RBmax-RBmin)/RBmin小于第二阈值,则确定静触头的回路电阻合格。
可选的,在上述实施例的基础上,确定模块720还用于若整体回路电阻不在第三阈值范围内,则确定静触头的回路电阻不合格。
本发明实施例提供的隔离开关的静触头的回路电阻测试装置可执行本发明任意实施例提供的隔离开关的静触头的回路电阻测试方法,因此本发明实施例提供的隔离开关的静触头的回路电阻测试装置也具备上述实施例中所描述的有益效果,此处不再赘述。
注意,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种隔离开关的静触头的回路电阻测试方法,其特征在于,所述静触头包括:母线夹、承载部件、静触杆、第一支撑连接部件和第二支撑连接部件,所述母线夹固定在所述承载部件上,所述承载部件与所述静触杆相对间隔设置,所述承载部件的第一端与所述第一支撑连接部件的第一端连接,所述第一支撑连接部件的第二端与所述静触杆的第一端连接,所述承载部件的第二端与所述第二支撑连接部件的第一端连接,所述第二支撑连接部件的第二端与所述静触杆的第二端连接,所述测试方法包括:
获取第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,其中,所述第一组阻值包括:所述第一支撑连接部件与所述承载部件之间的第一回路电阻,以及所述第二支撑连接部件与所述承载部件之间的第二回路电阻,所述第二组阻值包括:所述第一支撑连接部件与所述静触杆之间的第三回路电阻,以及所述第二支撑连接部件与所述静触杆之间的第四回路电阻;
根据所述第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定所述静触头的回路电阻是否合格。
2.根据权利要求1所述的隔离开关的静触头的回路电阻测试方法,其特征在于,获取第一组阻值和第二组阻值中的至少一组包括:获取第一组阻值;
根据所述第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定所述静触头的回路电阻是否合格包括:
若所述第一回路电阻和所述第二回路电阻中的最大值与最小值的差值与所述第一回路电阻和所述第二回路电阻中的最小值的比值大于或等于第一阈值,则确定所述第一回路电阻和所述第二回路电阻中的较大的回路电阻不合格。
3.根据权利要求1所述的隔离开关的静触头的回路电阻测试方法,其特征在于,获取第一组阻值和第二组阻值中的至少一组包括:获取第二组阻值;
根据所述第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定所述静触头的回路电阻是否合格包括:
若所述第三回路电阻和所述第四回路电阻中的最大值与最小值的差值与所述第三回路电阻和所述第四回路电阻中的最小值的比值大于或等于第二阈值,则确定所述第三回路电阻和所述第四回路电阻中的较大的回路电阻不合格。
4.根据权利要求1所述的隔离开关的静触头的回路电阻测试方法,其特征在于,在根据所述第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定所述静触头的回路电阻是否合格之前,还包括:
获取所述母线夹与所述静触杆之间的整体回路电阻;
相应的,若所述整体回路电阻在第三阈值范围内,则根据所述第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定所述静触头的回路电阻是否合格。
5.根据权利要求4所述的隔离开关的静触头的回路电阻测试方法,其特征在于,还包括:若所述整体回路电阻不在第三阈值范围内,则确定所述静触头的回路电阻不合格。
6.根据权利要求4所述的隔离开关的静触头的回路电阻测试方法,其特征在于,获取第一组阻值和第二组阻值中的至少一组包括:获取第一组阻值和第二组阻值;
根据所述第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定所述静触头的回路电阻是否合格包括:
若所述第一回路电阻和所述第二回路电阻中的最大值与最小值的差值与所述第一回路电阻和所述第二回路电阻中的最小值的比值小于第一阈值,且所述第三回路电阻和所述第四回路电阻中的最大值与最小值的差值与所述第三回路电阻和所述第四回路电阻中的最小值的比值小于第二阈值,则确定所述静触头的回路电阻合格。
7.根据权利要求1所述的隔离开关的静触头的回路电阻测试方法,其特征在于,所述承载部件的第一端与所述第一支撑连接部件的第一端为可拆卸连接,所述第一支撑连接部件的第二端与所述静触杆的第一端为可拆卸连接,所述承载部件的第二端与所述第二支撑连接部件的第一端为可拆卸连接,所述第二支撑连接部件的第二端与所述静触杆的第二端为可拆卸连接。
8.一种隔离开关的静触头的回路电阻测试装置,其特征在于,所述静触头包括:母线夹、承载部件、静触杆、第一支撑连接部件和第二支撑连接部件,所述母线夹固定在所述承载部件上,所述承载部件与所述静触杆间隔设置,所述承载部件的第一端与所述第一支撑连接部件的第一端连接,所述第一支撑连接部件的第二端与所述静触杆的第一端连接,所述承载部件的第二端与所述第二支撑连接部件的第一端连接,所述第二支撑连接部件的第二端与所述静触杆的第二端连接,所述测试装置包括:
第一获取模块,用于获取第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,其中,所述第一组阻值包括:所述第一支撑连接部件与所述承载部件之间的第一回路电阻,以及所述第二支撑连接部件与所述承载部件之间的第二回路电阻,所述第二组阻值包括:所述第一支撑连接部件与所述静触杆之间的第三回路电阻,以及所述第二支撑连接部件与所述静触杆之间的第四回路电阻;
确定模块,用于根据所述第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定所述静触头的回路电阻是否合格。
9.根据权利要求8所述的隔离开关的静触头的回路电阻测试装置,其特征在于,所述第一获取模块用于获取第一组阻值;
所述确定模块用于若所述第一回路电阻和所述第二回路电阻中的最大值与最小值的差值与所述第一回路电阻和所述第二回路电阻中的最小值的比值大于或等于第一阈值,则确定所述第一回路电阻和所述第二回路电阻中的较大的回路电阻不合格;
或者,
所述第一获取模块用于获取第二组阻值;
所述确定模块用于若所述第三回路电阻和所述第四回路电阻中的最大值与最小值的差值与所述第三回路电阻和所述第四回路电阻中的最小值的比值大于或等于第二阈值,则确定所述第三回路电阻和所述第四回路电阻中的较大的回路电阻不合格。
10.根据权利要求8所述的隔离开关的静触头的回路电阻测试装置,其特征在于,还包括:第二获取模块,用于在所述确定模块根据所述第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定所述静触头的回路电阻是否合格之前,获取所述母线夹与所述静触杆之间的整体回路电阻;
相应的,所述确定模块用于若所述整体回路电阻在第三阈值范围内,则根据所述第一组阻值和第二组阻值中的至少一组,确定所述静触头的回路电阻是否合格;
所述第一获取模块用于获取第一组阻值和第二组阻值;
所述确定模块用于若所述第一回路电阻和所述第二回路电阻中的最大值与最小值的差值与所述第一回路电阻和所述第二回路电阻中的最小值的比值小于第一阈值,且所述第三回路电阻和所述第四回路电阻的差值中的最大值与最小值与所述第三回路电阻和所述第四回路电阻中的最小值的比值小于第二阈值,则确定所述静触头的回路电阻合格;
所述确定模块还用于若所述整体回路电阻不在第三阈值范围内,则确定所述静触头的回路电阻不合格。
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